JPH08306271A - 遮断器の合成試験装置 - Google Patents
遮断器の合成試験装置Info
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- JPH08306271A JPH08306271A JP10930795A JP10930795A JPH08306271A JP H08306271 A JPH08306271 A JP H08306271A JP 10930795 A JP10930795 A JP 10930795A JP 10930795 A JP10930795 A JP 10930795A JP H08306271 A JPH08306271 A JP H08306271A
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- gap
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Abstract
(57)【要約】
【目的】波形調整器のコンデンサのキャパシタンスの値
が小さい場合でも、回復電圧が定格電圧の90%以上を
5サイクル以上維持するという規格に指定された条件を
満足するようにする。 【構成】始動ギャップ34に並列に補助スイッチ40を
設けて始動ギャップ34に印加するトリガパルスをこの
補助スイッチ40の投入指令信号とする。トリガパルス
が印加されて始動ギャップ34が「開」から「閉」にな
る時点から所定の時間遅れて補助スイッチ40を「開」
から「閉」にすることによって、補助スイッチ40を介
して電圧源コンデンサ31から波形調整器36に電流が
流れて波形調整用のコンデンサ362を充電して供試遮
断器1の印加電圧である回復電圧vr の電圧を減衰前の
値に回復させることから、所定の値以上の電圧値を長時
間にわたって維持することができる。
が小さい場合でも、回復電圧が定格電圧の90%以上を
5サイクル以上維持するという規格に指定された条件を
満足するようにする。 【構成】始動ギャップ34に並列に補助スイッチ40を
設けて始動ギャップ34に印加するトリガパルスをこの
補助スイッチ40の投入指令信号とする。トリガパルス
が印加されて始動ギャップ34が「開」から「閉」にな
る時点から所定の時間遅れて補助スイッチ40を「開」
から「閉」にすることによって、補助スイッチ40を介
して電圧源コンデンサ31から波形調整器36に電流が
流れて波形調整用のコンデンサ362を充電して供試遮
断器1の印加電圧である回復電圧vr の電圧を減衰前の
値に回復させることから、所定の値以上の電圧値を長時
間にわたって維持することができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、電力系統の保護装置
として設けられる遮断器の大電流遮断性能を検証するた
めに、高電圧の供給と大電流の供給とを別の回路で行っ
て経済的な試験装置を構成した遮断器の合成試験装置に
関する。
として設けられる遮断器の大電流遮断性能を検証するた
めに、高電圧の供給と大電流の供給とを別の回路で行っ
て経済的な試験装置を構成した遮断器の合成試験装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】図11は従来の合成試験装置の回路図で
ある。この図において、1は供試遮断器、2は電流源装
置、3は電圧源装置である。電流源装置2は発電機2
1、インダクタ22及び補助開閉器23の直列回路から
なり、その両端が供試遮断器1の両端子に接続されてい
る。図示の下側の線は接地されている。また、電流源装
置2が供給する電流を測定する手段としての変流器24
と、この変流器24の出力信号が入力されて所定の時点
で始動ギャップ34を「閉」にするトリガパルスを出力
するトリガパルス発生回路25が設けられている。
ある。この図において、1は供試遮断器、2は電流源装
置、3は電圧源装置である。電流源装置2は発電機2
1、インダクタ22及び補助開閉器23の直列回路から
なり、その両端が供試遮断器1の両端子に接続されてい
る。図示の下側の線は接地されている。また、電流源装
置2が供給する電流を測定する手段としての変流器24
と、この変流器24の出力信号が入力されて所定の時点
で始動ギャップ34を「閉」にするトリガパルスを出力
するトリガパルス発生回路25が設けられている。
【0003】電圧源装置3は整流器32で充電される電
圧源コンデンサ31、インダクタ33及び、電圧印加用
のトリガ付ギャップである始動ギャップ34の直列回路
と、この直列回路に並列接続されている抵抗361とコ
ンデンサ362の直列回路である波形調整器36とから
なり、供試遮断器1の両端子に接続されている。波形調
整器36は電圧源装置3によって印加される電圧の波形
を調整するものである。同じく並列接続されている分圧
器37は供試遮断器1の端子間電圧を測定するための電
圧測定手段である。
圧源コンデンサ31、インダクタ33及び、電圧印加用
のトリガ付ギャップである始動ギャップ34の直列回路
と、この直列回路に並列接続されている抵抗361とコ
ンデンサ362の直列回路である波形調整器36とから
なり、供試遮断器1の両端子に接続されている。波形調
整器36は電圧源装置3によって印加される電圧の波形
を調整するものである。同じく並列接続されている分圧
器37は供試遮断器1の端子間電圧を測定するための電
圧測定手段である。
【0004】電流源装置2が供給する電流it は変流器
24によって測定されてオシログラフなどで目視されま
た記録されるとともに、この測定信号がトリガパルス発
生器25に入力されて電流it の所定の位相になる時点
でトリガパルスを発生させて始動ギャップ34に印加さ
れる。この図ではトリガパルス発生器25と始動ギャッ
プ34との間を単に線で接続してあるが、実際にはトリ
ガパルス発生器25からは光パルスが出力されて光ファ
イバで始動ギャップ34まで伝送されて図示しない光─
電気変換器によって電気パルスに変換した上で実際のト
リガパルスとして必要な電圧値に増幅した上で始動ギャ
ップ34のトリガ電極に印加されるのが実際である。以
下にこの図の合成試験装置の動作については述べる。
24によって測定されてオシログラフなどで目視されま
た記録されるとともに、この測定信号がトリガパルス発
生器25に入力されて電流it の所定の位相になる時点
でトリガパルスを発生させて始動ギャップ34に印加さ
れる。この図ではトリガパルス発生器25と始動ギャッ
プ34との間を単に線で接続してあるが、実際にはトリ
ガパルス発生器25からは光パルスが出力されて光ファ
イバで始動ギャップ34まで伝送されて図示しない光─
電気変換器によって電気パルスに変換した上で実際のト
リガパルスとして必要な電圧値に増幅した上で始動ギャ
ップ34のトリガ電極に印加されるのが実際である。以
下にこの図の合成試験装置の動作については述べる。
【0005】図12は図11の合成試験装置の動作説明
をするための波形図を含むタイムチャートである。左側
の番号は図11の回路要素の符号である。この図におい
て、時点t1 の前の期間で電流源装置2は所定の周波数
と波高値を持つ正弦波交流電圧Vg を発生しており、電
圧源コンデンサ31は整流器32によって電圧EC に充
電されている。補助開閉器23は「閉」、供試遮断器1
は「開」、始動ギャップ34は「開」の状態にある。以
下図に示す時点に応じて動作の説明をする。 時点t1 と時点t2 までの期間 時点t1 で供試遮断器1が投入されて「閉」になる。そ
の結果、電流源装置2の発電機21からインダクタ2
2、補助開閉器23を介して試験電流it が供試遮断器
1に供給される。供試遮断器1によって短絡されたこと
になるので供試遮断器1の電圧Vg は実質的に零にな
る。 時点t2 と時点t3 までの期間 時点t2 で供試遮断器1の遮断動作が始まり開極を開始
する。しかし、試験電流it が零になる時点までは極間
はアークでつながって電気的に「閉」の状態を維持し試
験電流it が流れ続ける。 時点t3 と時点t4 までの期間 時点t3 で補助開閉器23を「開」動作するが、この補
助開閉器23も供試遮断器1と同様に極間がアークでつ
ながっていて電気的には「閉」の状態を維持する。 時点t4 と時点t5 までの期間 トリガパルス発生回路25からトリガパルスが供給され
て始動ギャップ34は「閉」になる。その結果、電圧源
装置3の電流iC がインダクタ33を介して試験電流i
t と重畳して供試遮断器1に流れる。電流iC は電圧源
コンデンサ31とインダクタ33と共振した正弦波状の
波形である。電圧源コンデンサ31の電圧VC は+EC
から急激に減少する。図では直線で示してあるが実際は
余弦波である。 時点t5 と時点t6 までの期間 時点t5 で試験電流it が零になるので補助開閉器23
が電気的にも「開」になる。供試遮断器1には電流iC
が流れているのでこの時点では電気的には「閉」のまま
である。 時点t6 以降 時点t6 で電流iC が零になるので供試遮断器1は電気
的に「開」の状態になる。したがって、電流iC は半波
だけ流れる。
をするための波形図を含むタイムチャートである。左側
の番号は図11の回路要素の符号である。この図におい
て、時点t1 の前の期間で電流源装置2は所定の周波数
と波高値を持つ正弦波交流電圧Vg を発生しており、電
圧源コンデンサ31は整流器32によって電圧EC に充
電されている。補助開閉器23は「閉」、供試遮断器1
は「開」、始動ギャップ34は「開」の状態にある。以
下図に示す時点に応じて動作の説明をする。 時点t1 と時点t2 までの期間 時点t1 で供試遮断器1が投入されて「閉」になる。そ
の結果、電流源装置2の発電機21からインダクタ2
2、補助開閉器23を介して試験電流it が供試遮断器
1に供給される。供試遮断器1によって短絡されたこと
になるので供試遮断器1の電圧Vg は実質的に零にな
る。 時点t2 と時点t3 までの期間 時点t2 で供試遮断器1の遮断動作が始まり開極を開始
する。しかし、試験電流it が零になる時点までは極間
はアークでつながって電気的に「閉」の状態を維持し試
験電流it が流れ続ける。 時点t3 と時点t4 までの期間 時点t3 で補助開閉器23を「開」動作するが、この補
助開閉器23も供試遮断器1と同様に極間がアークでつ
ながっていて電気的には「閉」の状態を維持する。 時点t4 と時点t5 までの期間 トリガパルス発生回路25からトリガパルスが供給され
て始動ギャップ34は「閉」になる。その結果、電圧源
装置3の電流iC がインダクタ33を介して試験電流i
t と重畳して供試遮断器1に流れる。電流iC は電圧源
コンデンサ31とインダクタ33と共振した正弦波状の
波形である。電圧源コンデンサ31の電圧VC は+EC
から急激に減少する。図では直線で示してあるが実際は
余弦波である。 時点t5 と時点t6 までの期間 時点t5 で試験電流it が零になるので補助開閉器23
が電気的にも「開」になる。供試遮断器1には電流iC
が流れているのでこの時点では電気的には「閉」のまま
である。 時点t6 以降 時点t6 で電流iC が零になるので供試遮断器1は電気
的に「開」の状態になる。したがって、電流iC は半波
だけ流れる。
【0006】時点t4 と時点t6 との間隔は電圧源コン
デンサ31とインダクタ33との直列共振の共振周波数
での半周期の長さになる。この周波数は電圧Vg の周波
数の約10倍の値が採用される。時点t6 で電圧源コン
デンサ31の電圧VC は逆充電されて当初の符号が反転
して−EC になる。供試遮断器1が電気的に「開」にな
ると、電圧源コンデンサ31とインダクタ33に流れて
いた電流は波形調整器36に転流し、電圧源コンデンサ
31と362との直列キャパシタンスとインダクタ33
のインダクタンスで決まる共振周波数で振動しながら抵
抗361で決まる減衰時定数で振動成分が減衰してゆ
き、電圧源コンデンサ31と362との分圧比で決まる
電圧に収束する。実際には電圧源コンデンサ31のキャ
パシタンス値はコンデンサ362のそれに比べてはるか
に小さいので回復電圧vr は電圧源コンデンサ31と同
じ−EC になるとしてよい。時点t6 以降に発生して供
試遮断器1の極間に印加される電圧は回復電圧と呼ば
れ、その最初の部分の振動成分を含む部分は過渡電圧
(vr )、略してTRVと呼ばれる。
デンサ31とインダクタ33との直列共振の共振周波数
での半周期の長さになる。この周波数は電圧Vg の周波
数の約10倍の値が採用される。時点t6 で電圧源コン
デンサ31の電圧VC は逆充電されて当初の符号が反転
して−EC になる。供試遮断器1が電気的に「開」にな
ると、電圧源コンデンサ31とインダクタ33に流れて
いた電流は波形調整器36に転流し、電圧源コンデンサ
31と362との直列キャパシタンスとインダクタ33
のインダクタンスで決まる共振周波数で振動しながら抵
抗361で決まる減衰時定数で振動成分が減衰してゆ
き、電圧源コンデンサ31と362との分圧比で決まる
電圧に収束する。実際には電圧源コンデンサ31のキャ
パシタンス値はコンデンサ362のそれに比べてはるか
に小さいので回復電圧vr は電圧源コンデンサ31と同
じ−EC になるとしてよい。時点t6 以降に発生して供
試遮断器1の極間に印加される電圧は回復電圧と呼ば
れ、その最初の部分の振動成分を含む部分は過渡電圧
(vr )、略してTRVと呼ばれる。
【0007】この試験において、時点t6 でアークが切
れて実質的に供試遮断器1が「開」となって回復電圧v
r が発生し、しかも供試遮断器1が再点弧しなかったと
きが合格である。始動ギャップ34が「閉」となる時点
t4 は、試験電流it が零となる時点t 5 が時点t4 か
ら半周期後の時点t6 との間になるように設定される。
このように設定することによって供試遮断器1のアーク
が消える直後に回復電圧vr が発生することになって実
際の電力系統において事故電流を遮断するときを模擬す
ることができる。
れて実質的に供試遮断器1が「開」となって回復電圧v
r が発生し、しかも供試遮断器1が再点弧しなかったと
きが合格である。始動ギャップ34が「閉」となる時点
t4 は、試験電流it が零となる時点t 5 が時点t4 か
ら半周期後の時点t6 との間になるように設定される。
このように設定することによって供試遮断器1のアーク
が消える直後に回復電圧vr が発生することになって実
際の電力系統において事故電流を遮断するときを模擬す
ることができる。
【0008】図13は図12の時点t6 以降の一部の波
形を時間軸を拡大して示す波形図である。この図におけ
る時間軸の原点は回復電圧vr が発生する図12の時点
t6である。この図の最上の電圧源コンデンサ31の電
圧vc は前述のように−ECのまま実質的に変化しない
で推移する。回復電圧vr は、当初は減衰振動成分を含
む直流、時点t7 から指数関数的に減衰する成分からな
っている。時点t7 は回復電流ir が小さくなって始動
ギャップ34が「開」になってしまった時点であり、時
点t7 までは、電圧源コンデンサ31から電流が供給さ
れていたのに対して時点t7 以降はこの電流供給がなく
なるので、コンデンサ362に蓄積されていた電荷は分
圧器37及び回路の漏れ抵抗(以下これらの複合の抵抗
を減衰抵抗Re とする)を介して放電して図示のように
減衰する。
形を時間軸を拡大して示す波形図である。この図におけ
る時間軸の原点は回復電圧vr が発生する図12の時点
t6である。この図の最上の電圧源コンデンサ31の電
圧vc は前述のように−ECのまま実質的に変化しない
で推移する。回復電圧vr は、当初は減衰振動成分を含
む直流、時点t7 から指数関数的に減衰する成分からな
っている。時点t7 は回復電流ir が小さくなって始動
ギャップ34が「開」になってしまった時点であり、時
点t7 までは、電圧源コンデンサ31から電流が供給さ
れていたのに対して時点t7 以降はこの電流供給がなく
なるので、コンデンサ362に蓄積されていた電荷は分
圧器37及び回路の漏れ抵抗(以下これらの複合の抵抗
を減衰抵抗Re とする)を介して放電して図示のように
減衰する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前述のよう
な合成試験は交流遮断器に関する規格(電気学会 電気
規格調査会標準規格JEC2300「交流遮断器」)に
基づいて行われるものであり、この規格の中で回復電圧
vr には守らなければならない諸条件がある。定格電圧
が84kv以下の遮断器の場合であるが、回復電圧vr
の最初の部分の過渡振動成分の周波数やその波高値など
が指定され、また、回復電圧は、定格電圧の90%以上
の持続時間が5サイクル(50Hzの場合100ミリ秒)
以上であること、などである。
な合成試験は交流遮断器に関する規格(電気学会 電気
規格調査会標準規格JEC2300「交流遮断器」)に
基づいて行われるものであり、この規格の中で回復電圧
vr には守らなければならない諸条件がある。定格電圧
が84kv以下の遮断器の場合であるが、回復電圧vr
の最初の部分の過渡振動成分の周波数やその波高値など
が指定され、また、回復電圧は、定格電圧の90%以上
の持続時間が5サイクル(50Hzの場合100ミリ秒)
以上であること、などである。
【0010】時点t7 以降の減衰の時定数(以下これを
Te とする)が小さいとこの条件を満足することができ
ないことになる。この時定数Te はコンデンサ362の
キャパシタンス(以下これをCe とする)と前述の減衰
抵抗Re との積である。したがって、キャパシタンスC
e が小さすぎると時定数Te が小さ過ぎて5サイクルの
時間を経過する前に減衰してしまって前述の条件を満足
できなくなるという問題が生ずる。TRVが実際の電力
系統の過渡回復電圧に近い周波数と減衰時定数になるよ
うに前述のように指定され、これに基づいてインダクタ
33や抵抗361とともにキャパシタンスCe の値が設
定されるのであるが、周波数が高い場合にはキャパシタ
ンスCe の値を小さい値に設定せざるを得ないことがあ
り、そのために、時定数Te が小さくなって前述のよう
な問題が生ずる。
Te とする)が小さいとこの条件を満足することができ
ないことになる。この時定数Te はコンデンサ362の
キャパシタンス(以下これをCe とする)と前述の減衰
抵抗Re との積である。したがって、キャパシタンスC
e が小さすぎると時定数Te が小さ過ぎて5サイクルの
時間を経過する前に減衰してしまって前述の条件を満足
できなくなるという問題が生ずる。TRVが実際の電力
系統の過渡回復電圧に近い周波数と減衰時定数になるよ
うに前述のように指定され、これに基づいてインダクタ
33や抵抗361とともにキャパシタンスCe の値が設
定されるのであるが、周波数が高い場合にはキャパシタ
ンスCe の値を小さい値に設定せざるを得ないことがあ
り、そのために、時定数Te が小さくなって前述のよう
な問題が生ずる。
【0011】この発明はこのような問題を解決して、波
形調整器36のコンデンサ362のキャパシタンスCe
の値が小さい場合でも、回復電圧vr が定格電圧の90
%以上を5サイクル以上維持するという条件を満足する
ことのできる遮断器の合成試験装置を提供することにあ
る。
形調整器36のコンデンサ362のキャパシタンスCe
の値が小さい場合でも、回復電圧vr が定格電圧の90
%以上を5サイクル以上維持するという条件を満足する
ことのできる遮断器の合成試験装置を提供することにあ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
にこの発明によれば、供試遮断器の遮断動作時に、所定
の試験電流を供給する電流源装置と所定の電圧を印加す
る電圧源装置とからなり、電圧源装置が、整流器によっ
て充電される電圧源コンデンサ、インダクタ及び電圧印
加用のトリガ付ギャップからなる始動ギャップの直列回
路と、この直列回路に並列に接続される抵抗とコンデン
サの直列回路からなる波形調整器とからなり、電流源装
置に、この電流源装置が供給する電流が零点を切る時点
から所定の時間前にトリガパルスを出力し始動ギャップ
に印加するトリガパルス発生回路を備えた遮断器の合成
試験装置において、始動ギャップに並列に補助スイッチ
が設けられ、始動ギャップと同じトリガパルスが印加さ
れて始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時間遅
れて補助スイッチが「開」から「閉」になるものとす
る。また、補助スイッチに直列に振動抑制抵抗が接続さ
れてなるものとする。
にこの発明によれば、供試遮断器の遮断動作時に、所定
の試験電流を供給する電流源装置と所定の電圧を印加す
る電圧源装置とからなり、電圧源装置が、整流器によっ
て充電される電圧源コンデンサ、インダクタ及び電圧印
加用のトリガ付ギャップからなる始動ギャップの直列回
路と、この直列回路に並列に接続される抵抗とコンデン
サの直列回路からなる波形調整器とからなり、電流源装
置に、この電流源装置が供給する電流が零点を切る時点
から所定の時間前にトリガパルスを出力し始動ギャップ
に印加するトリガパルス発生回路を備えた遮断器の合成
試験装置において、始動ギャップに並列に補助スイッチ
が設けられ、始動ギャップと同じトリガパルスが印加さ
れて始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時間遅
れて補助スイッチが「開」から「閉」になるものとす
る。また、補助スイッチに直列に振動抑制抵抗が接続さ
れてなるものとする。
【0013】前述の補助スイッチを設ける代わりに、供
試遮断器に印加される電圧を測定する分圧器の出力信号
が入力されてこの信号の絶対値が所定の値以下になった
ときにパルスを出力するパルス発生回路が設けられ、こ
のパルス発生回路の出力信号を始動ギャップに印加する
ものとする。また、始動ギャップに直列に、短絡スイッ
チを並列に接続した振動抑制抵抗が挿入され、短絡スイ
ッチを、始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時
間遅れて「閉」から「開」にするものとする。
試遮断器に印加される電圧を測定する分圧器の出力信号
が入力されてこの信号の絶対値が所定の値以下になった
ときにパルスを出力するパルス発生回路が設けられ、こ
のパルス発生回路の出力信号を始動ギャップに印加する
ものとする。また、始動ギャップに直列に、短絡スイッ
チを並列に接続した振動抑制抵抗が挿入され、短絡スイ
ッチを、始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時
間遅れて「閉」から「開」にするものとする。
【0014】前述の補助スイッチに代えてトリガ付ギャ
ップからなる補助ギャップが設けられ、供試遮断器に印
加される電圧を測定する分圧器の出力信号が入力されて
この信号の絶対値が所定の値以下になったときにパルス
を出力するパルス発生回路が設けられ、このパルス発生
回路が生成するパルスをトリガパルスとして補助ギャッ
プに印加するものとする。また、補助ギャップに直列に
振動抑制抵抗が設けられてなるものとする。
ップからなる補助ギャップが設けられ、供試遮断器に印
加される電圧を測定する分圧器の出力信号が入力されて
この信号の絶対値が所定の値以下になったときにパルス
を出力するパルス発生回路が設けられ、このパルス発生
回路が生成するパルスをトリガパルスとして補助ギャッ
プに印加するものとする。また、補助ギャップに直列に
振動抑制抵抗が設けられてなるものとする。
【0015】
【作用】この発明の構成において、始動ギャップに並列
に補助スイッチを設けてこれに始動ギャップのトリガパ
ルスを印加して始動ギャップが「開」から「閉」になる
時点から所定の時間遅れて補助スイッチを「開」から
「閉」にすることによって、補助スイッチを介して電圧
源コンデンサから波形調整器に電流が流れて波形調整用
のコンデンサを充電して供試遮断器の印加電圧である回
復電圧vr の電圧を減衰前の値に回復させることから、
所定の値以上の電圧値を長時間にわたって維持すること
ができる。また、この補助スイッチに振動抑制抵抗を接
続することによって、補助スイッチが投入されたときに
生ずる過渡振動成分を小さくするかなくすことができ
る。
に補助スイッチを設けてこれに始動ギャップのトリガパ
ルスを印加して始動ギャップが「開」から「閉」になる
時点から所定の時間遅れて補助スイッチを「開」から
「閉」にすることによって、補助スイッチを介して電圧
源コンデンサから波形調整器に電流が流れて波形調整用
のコンデンサを充電して供試遮断器の印加電圧である回
復電圧vr の電圧を減衰前の値に回復させることから、
所定の値以上の電圧値を長時間にわたって維持すること
ができる。また、この補助スイッチに振動抑制抵抗を接
続することによって、補助スイッチが投入されたときに
生ずる過渡振動成分を小さくするかなくすことができ
る。
【0016】補助スイッチを設ける代わりに、供試遮断
器に並列に接続されている分圧器の出力信号を基に、回
復電圧vr の絶対値が所定の値以下になったときに始動
ギャップをトリガするパルスを発生するパルス発生回路
を設けることによって、回復電圧vr が設定された電圧
の絶対値よりも小さくなると始動ギャップが「閉」にな
って電圧源コンデンサから電流が供給されて回復電圧が
上昇して設定値以下に低下することがない。また、始動
ギャップに直列に、短絡スイッチを並列に接続した振動
抑制抵抗を挿入し、短絡スイッチを、始動ギャップが
「閉」になる時点から所定の時間遅れて「閉」から
「開」にすることによって、パルス発生回路が生成した
パルスによって始動ギャップが「閉」になった後に生ず
る振動成分が抑制される。
器に並列に接続されている分圧器の出力信号を基に、回
復電圧vr の絶対値が所定の値以下になったときに始動
ギャップをトリガするパルスを発生するパルス発生回路
を設けることによって、回復電圧vr が設定された電圧
の絶対値よりも小さくなると始動ギャップが「閉」にな
って電圧源コンデンサから電流が供給されて回復電圧が
上昇して設定値以下に低下することがない。また、始動
ギャップに直列に、短絡スイッチを並列に接続した振動
抑制抵抗を挿入し、短絡スイッチを、始動ギャップが
「閉」になる時点から所定の時間遅れて「閉」から
「開」にすることによって、パルス発生回路が生成した
パルスによって始動ギャップが「閉」になった後に生ず
る振動成分が抑制される。
【0017】前述の補助スイッチに代えてトリガ付ギャ
ップからなる補助ギャップを設け、前述の始動ギャップ
にパルス発生回路が生成したパルスを印加するのと同様
に、回復電圧vr の絶対値が所定の値以下になったとき
に補助ギャップにパルスを印加して「閉」にし、電圧源
コンデンサから電流を供給するようにすると、前述の始
動ギャップにパルス発生回路が生成したパルスをトリガ
パルスとして印加する場合と同様に、回復電圧vr の絶
対値が所定の値より小さくなることはない。また、補助
ギャップに振動抑制抵抗を直列に接続すれば前述の振動
抑制抵抗を設けた場合と同様に補助ギャップが「閉」に
なった直後に生ずる振動成分を小さくするかなくすこと
ができる。
ップからなる補助ギャップを設け、前述の始動ギャップ
にパルス発生回路が生成したパルスを印加するのと同様
に、回復電圧vr の絶対値が所定の値以下になったとき
に補助ギャップにパルスを印加して「閉」にし、電圧源
コンデンサから電流を供給するようにすると、前述の始
動ギャップにパルス発生回路が生成したパルスをトリガ
パルスとして印加する場合と同様に、回復電圧vr の絶
対値が所定の値より小さくなることはない。また、補助
ギャップに振動抑制抵抗を直列に接続すれば前述の振動
抑制抵抗を設けた場合と同様に補助ギャップが「閉」に
なった直後に生ずる振動成分を小さくするかなくすこと
ができる。
【0018】
【実施例】以下この発明を実施例に基づいて説明する。
図1はこの発明の第1の実施例を示す遮断器の合成試験
装置の回路図であり、図11と同じ回路要素には同じ符
号を付けて重複する説明を省く。図1の図11に対する
違いは、補助スイッチ40を始動ギャップ34に並列に
設けた点である。この補助スイッチ40は固定接点と可
動接点を持つ通常の開閉器である。補助スイッチ40に
は始動ギャップ34へ印加されるトリガパルスが投入指
令信号として入力される。補助スイッチ40には投入指
令信号が入力されて実際に「閉」になるには一定の時間
遅れがある。この実施例ではこの時間遅れを利用して始
動ギャップ34が「閉」になり再度「開」になった後、
補助スイッチ40を「閉」にして電圧源コンデンサ31
から波形調整器36へ電流を供給することによって回復
電圧vr の減衰を補うものである。
図1はこの発明の第1の実施例を示す遮断器の合成試験
装置の回路図であり、図11と同じ回路要素には同じ符
号を付けて重複する説明を省く。図1の図11に対する
違いは、補助スイッチ40を始動ギャップ34に並列に
設けた点である。この補助スイッチ40は固定接点と可
動接点を持つ通常の開閉器である。補助スイッチ40に
は始動ギャップ34へ印加されるトリガパルスが投入指
令信号として入力される。補助スイッチ40には投入指
令信号が入力されて実際に「閉」になるには一定の時間
遅れがある。この実施例ではこの時間遅れを利用して始
動ギャップ34が「閉」になり再度「開」になった後、
補助スイッチ40を「閉」にして電圧源コンデンサ31
から波形調整器36へ電流を供給することによって回復
電圧vr の減衰を補うものである。
【0019】図2は図1の動作を説明するための波形図
であり、図13と類似なので重複する説明を省く。図2
の図13との違いは、過渡電流が小さくなって始動ギャ
ップ34の電極間のアークが持続することができなくな
って「開」の状態になった時点t7 から更に進んだ時点
t8 において補助スイッチ40が「閉」になって電圧源
コンデンサ31から波形調整器36に電流が供給されて
時点t7 から時点t8の間に減衰した回復電圧vr が再
び電圧−EC の一定値まで上昇する点である。
であり、図13と類似なので重複する説明を省く。図2
の図13との違いは、過渡電流が小さくなって始動ギャ
ップ34の電極間のアークが持続することができなくな
って「開」の状態になった時点t7 から更に進んだ時点
t8 において補助スイッチ40が「閉」になって電圧源
コンデンサ31から波形調整器36に電流が供給されて
時点t7 から時点t8の間に減衰した回復電圧vr が再
び電圧−EC の一定値まで上昇する点である。
【0020】時点t8 では、時点t6 で始動ギャップ3
4が「閉」になったときと同様に過渡振動が発生する。
補助スイッチ40は電流の値に関係なしに遮断指令を受
けない限り「閉」の状態を維持するので前述の減衰抵抗
Re を通ってのコンデンサ362の放電は電圧源コンデ
ンサ31からの充電に補われることから、回復電圧v r
は一定の値−EC を維持する。
4が「閉」になったときと同様に過渡振動が発生する。
補助スイッチ40は電流の値に関係なしに遮断指令を受
けない限り「閉」の状態を維持するので前述の減衰抵抗
Re を通ってのコンデンサ362の放電は電圧源コンデ
ンサ31からの充電に補われることから、回復電圧v r
は一定の値−EC を維持する。
【0021】補助スイッチ40は対地電圧、極間電圧と
も供試遮断器1と同等の絶縁強度を持つものであること
が必要であり、また、トリガパルスによる投入指令の後
「閉」になるまでの遅れ時間がある程度小さいことが必
要である。遅れ時間を大きくするにはパルス処理回路に
遅延回路を挿入することで対処できるが、補助スイッチ
40だけで決まる遅れ時間よりも小さくすることはでき
ないからである。投入専用のスイッチの場合、20ミリ
秒程度のものがあるので、これよりも大きな遅れ時間で
よい場合にこの実施例を実際に採用することができる。
この実施例では補助スイッチ40の投入指令信号をトリ
ガパルス発生回路25の出力信号を流用することができ
るという利点を持っている 図3はこの発明の第2の実施例を示す合成試験装置の回
路図であり、図1と同じ回路要素に同じ符号を付けて重
複する説明を省く。この図の図1と異なる点は振動抑制
抵抗41を補助スイッチ40に直列に挿入した点であ
る。図2に示すように、補助スイッチ40が「閉」にな
って電流ir が流れ始めるときに回復電圧vr 、電流i
r ともに過渡振動が生ずる。これは図2、図4の時間軸
の原点である時点t6 で始動ギャップ34が「閉」にな
ったときに振動成分が生ずるように回路を構成している
ことから生ずるものである。図3のように振動抑制抵抗
41を挿入すれば、この振動抑制抵抗41は補助スイッ
チ40が「閉」になったときだけ有効に働き始動ギャッ
プ34が「閉」になったときの回路構成に関係しない。
振動抑制抵抗41の抵抗値は周知の計算式に基づいて波
形調整器36のキャパシタンスと抵抗及びインダクタ3
3のインダクタンスの値から容易に求めることができ
る。
も供試遮断器1と同等の絶縁強度を持つものであること
が必要であり、また、トリガパルスによる投入指令の後
「閉」になるまでの遅れ時間がある程度小さいことが必
要である。遅れ時間を大きくするにはパルス処理回路に
遅延回路を挿入することで対処できるが、補助スイッチ
40だけで決まる遅れ時間よりも小さくすることはでき
ないからである。投入専用のスイッチの場合、20ミリ
秒程度のものがあるので、これよりも大きな遅れ時間で
よい場合にこの実施例を実際に採用することができる。
この実施例では補助スイッチ40の投入指令信号をトリ
ガパルス発生回路25の出力信号を流用することができ
るという利点を持っている 図3はこの発明の第2の実施例を示す合成試験装置の回
路図であり、図1と同じ回路要素に同じ符号を付けて重
複する説明を省く。この図の図1と異なる点は振動抑制
抵抗41を補助スイッチ40に直列に挿入した点であ
る。図2に示すように、補助スイッチ40が「閉」にな
って電流ir が流れ始めるときに回復電圧vr 、電流i
r ともに過渡振動が生ずる。これは図2、図4の時間軸
の原点である時点t6 で始動ギャップ34が「閉」にな
ったときに振動成分が生ずるように回路を構成している
ことから生ずるものである。図3のように振動抑制抵抗
41を挿入すれば、この振動抑制抵抗41は補助スイッ
チ40が「閉」になったときだけ有効に働き始動ギャッ
プ34が「閉」になったときの回路構成に関係しない。
振動抑制抵抗41の抵抗値は周知の計算式に基づいて波
形調整器36のキャパシタンスと抵抗及びインダクタ3
3のインダクタンスの値から容易に求めることができ
る。
【0022】図4は図3の動作を説明するための波形図
であり、図2と類似なので重複する説明を省く。図4の
図2に対する違いは、補助スイッチ40が「閉」になる
時点t8 の後で生ずる振動成分が回復電圧vr 、電流i
r ともになくなっていることである。回復電圧vr は絶
対値がEC まで単純増加する。図5はこの発明の第3の
実施例を示す遮断器の合成試験装置の回路図であり、図
11と同じ回路要素には同じ符号を付けて重複する説明
を省く。この図の図11と異なる点は、分圧器37の出
力信号が入力されて始動ギャップ34に印加されるトリ
ガパルスを出力するパルス発生回路38が設けられてい
る点である。分圧器37は供試遮断器1に並列に挿入さ
れていて供試遮断器1の電圧すなわち電流源装置2によ
って印加される電圧vg や回復電圧vr を測定するため
のものであり、その出力信号は図11でも図示しないオ
シロスコープなどに入力されてその波形の観測や記録に
使用されるものである。パルス発生回路38はこの分圧
器37の出力信号が入力されて、回復電圧vr の絶対値
が所定の値以下に低下したときにパルスを発生させ出力
するものである。このパルスは始動ギャップ34のトリ
ガパルスとしてトリガパルス発生回路25が出力したト
リガパルスと同様に始動ギャップ34に印加される。パ
ルス発生回路38もトリガパルス発生回路ではあるが、
トリガパルス発生回路25と区別するために単にパルス
発生回路と呼ぶことにする。同様にしてパルス発生回路
38が出力するパルスもトリガパルスであるが、トリガ
パルス発生回路25が出力するトリガパルスと区別する
ために単にパルスと呼ぶことにする。
であり、図2と類似なので重複する説明を省く。図4の
図2に対する違いは、補助スイッチ40が「閉」になる
時点t8 の後で生ずる振動成分が回復電圧vr 、電流i
r ともになくなっていることである。回復電圧vr は絶
対値がEC まで単純増加する。図5はこの発明の第3の
実施例を示す遮断器の合成試験装置の回路図であり、図
11と同じ回路要素には同じ符号を付けて重複する説明
を省く。この図の図11と異なる点は、分圧器37の出
力信号が入力されて始動ギャップ34に印加されるトリ
ガパルスを出力するパルス発生回路38が設けられてい
る点である。分圧器37は供試遮断器1に並列に挿入さ
れていて供試遮断器1の電圧すなわち電流源装置2によ
って印加される電圧vg や回復電圧vr を測定するため
のものであり、その出力信号は図11でも図示しないオ
シロスコープなどに入力されてその波形の観測や記録に
使用されるものである。パルス発生回路38はこの分圧
器37の出力信号が入力されて、回復電圧vr の絶対値
が所定の値以下に低下したときにパルスを発生させ出力
するものである。このパルスは始動ギャップ34のトリ
ガパルスとしてトリガパルス発生回路25が出力したト
リガパルスと同様に始動ギャップ34に印加される。パ
ルス発生回路38もトリガパルス発生回路ではあるが、
トリガパルス発生回路25と区別するために単にパルス
発生回路と呼ぶことにする。同様にしてパルス発生回路
38が出力するパルスもトリガパルスであるが、トリガ
パルス発生回路25が出力するトリガパルスと区別する
ために単にパルスと呼ぶことにする。
【0023】図6は図5の動作を説明するための波形図
であり、図2と類似なので重複する説明を省く。図6で
は電圧源コンデンサの電圧vC の波形の図示を省略して
ある。図13、図2、図4と同じく電圧vC は一定の電
圧値−EC を維持している。この図において、パルス発
生回路38の内部で設定される値に対応する回復電圧v
r の設定電圧ES は供試遮断器1の定格電圧の90%以
上、電圧EC の値以下の適当な値に設定される。
であり、図2と類似なので重複する説明を省く。図6で
は電圧源コンデンサの電圧vC の波形の図示を省略して
ある。図13、図2、図4と同じく電圧vC は一定の電
圧値−EC を維持している。この図において、パルス発
生回路38の内部で設定される値に対応する回復電圧v
r の設定電圧ES は供試遮断器1の定格電圧の90%以
上、電圧EC の値以下の適当な値に設定される。
【0024】時点t7 の後、回復電圧vr が低下してそ
の絶対値が設定電圧ES になるとパルス発生回路38が
パルスを出力して始動ギャップ34を「閉」にする。そ
の結果、図1の場合と同じように回復電圧vr の絶対値
は上昇しこれに伴い始動ギャップ34からの電流が小さ
くなり電極間のアークを維持できなくなった時点t9で
「開」になる。この後時点t7 と時点t8 との間と同じ
ように回復電圧vr は減衰するが絶対値が設定電圧ES
になった時点t10で再度パルスが出力されて始動ギャッ
プ34は「閉」になる。このような現象を繰り返して、
回復電圧vr の絶対値を設定電圧ES 以上に維持する。
の絶対値が設定電圧ES になるとパルス発生回路38が
パルスを出力して始動ギャップ34を「閉」にする。そ
の結果、図1の場合と同じように回復電圧vr の絶対値
は上昇しこれに伴い始動ギャップ34からの電流が小さ
くなり電極間のアークを維持できなくなった時点t9で
「開」になる。この後時点t7 と時点t8 との間と同じ
ように回復電圧vr は減衰するが絶対値が設定電圧ES
になった時点t10で再度パルスが出力されて始動ギャッ
プ34は「閉」になる。このような現象を繰り返して、
回復電圧vr の絶対値を設定電圧ES 以上に維持する。
【0025】第1の実施例では補助スイッチ40を従来
の電圧源装置3に追加する必要があるのに対して、この
第3の実施例ではパルス発生回路38を追加する必要は
あるが補助スイッチ40は不要であるという利点があ
る。図7はこの発明の第4の実施例を示す遮断器の合成
試験装置の回路図であり、図5と同じ回路要素には同じ
符号を付けて重複する説明を省く。図7の図5と異なる
点は振動抑制抵抗41とこれに並列に接続された短絡ス
イッチ42を設けてある点である。
の電圧源装置3に追加する必要があるのに対して、この
第3の実施例ではパルス発生回路38を追加する必要は
あるが補助スイッチ40は不要であるという利点があ
る。図7はこの発明の第4の実施例を示す遮断器の合成
試験装置の回路図であり、図5と同じ回路要素には同じ
符号を付けて重複する説明を省く。図7の図5と異なる
点は振動抑制抵抗41とこれに並列に接続された短絡ス
イッチ42を設けてある点である。
【0026】図8は図7の動作説明のための波形図であ
り、図6と類似なので重複説明を省く。短絡スイッチ4
2は当初は「閉」の状態にある。したがって、時点t6
以降の電圧源コンデンサ31から電流が流れ出すときに
は短絡スイッチ42を通って振動抑制抵抗41は通らな
い。図1の補助スイッチ40と同じようにトリガパルス
発生回路25が出力するトリガパルスが遮断信号になっ
て一定時間遅れて図8の時点t7 から時点t8 の間で
「開」になる。したがって、その後の時点t8 、時点t
10で始動ギャップ34が「閉」になったときに電流ir
は振動抑制抵抗41を通るのでこの抵抗の振動抑制効果
が働いて図示のように振動がなくなる。
り、図6と類似なので重複説明を省く。短絡スイッチ4
2は当初は「閉」の状態にある。したがって、時点t6
以降の電圧源コンデンサ31から電流が流れ出すときに
は短絡スイッチ42を通って振動抑制抵抗41は通らな
い。図1の補助スイッチ40と同じようにトリガパルス
発生回路25が出力するトリガパルスが遮断信号になっ
て一定時間遅れて図8の時点t7 から時点t8 の間で
「開」になる。したがって、その後の時点t8 、時点t
10で始動ギャップ34が「閉」になったときに電流ir
は振動抑制抵抗41を通るのでこの抵抗の振動抑制効果
が働いて図示のように振動がなくなる。
【0027】図9はこの発明の第5の実施例を示す遮断
器の合成試験装置の回路図、図10は図9の動作説明の
ための波形図であり、図9は図3と類似であり同じ回路
要素には同じ符号を付けて詳しい説明を省く。また、図
10は図8と実質的に同じである。図9の図3との違い
は補助スイッチ40の代わりにトリガ付ギャップからな
る補助ギャップ44を設けたことであり、この補助ギャ
ップ44は図5、図7の第3,第4の実施例と同様にパ
ルス発生回路38が出力するパルスが印加されて「閉」
になる。補助ギャップ44を「閉」にすることによって
電圧源コンデンサ31から波形調整器36に電流を供給
する構成であり、このときの電流は振動抑制抵抗41を
通るので現象的には図7のそれと殆ど同じになることか
ら図10の波形図は図8と同じになる。勿論、振動抑制
抵抗41がなくてもよい場合がある。図9の振動抑制抵
抗41がない場合の波形図は図6と同じになる。
器の合成試験装置の回路図、図10は図9の動作説明の
ための波形図であり、図9は図3と類似であり同じ回路
要素には同じ符号を付けて詳しい説明を省く。また、図
10は図8と実質的に同じである。図9の図3との違い
は補助スイッチ40の代わりにトリガ付ギャップからな
る補助ギャップ44を設けたことであり、この補助ギャ
ップ44は図5、図7の第3,第4の実施例と同様にパ
ルス発生回路38が出力するパルスが印加されて「閉」
になる。補助ギャップ44を「閉」にすることによって
電圧源コンデンサ31から波形調整器36に電流を供給
する構成であり、このときの電流は振動抑制抵抗41を
通るので現象的には図7のそれと殆ど同じになることか
ら図10の波形図は図8と同じになる。勿論、振動抑制
抵抗41がなくてもよい場合がある。図9の振動抑制抵
抗41がない場合の波形図は図6と同じになる。
【0028】第5の実施例は、図1、図3の補助スイッ
チ40の代わりにトリガ付ギャップとしての補助ギャッ
プ44を使用し、そのためにパルス発生回路38が必要
になったものであるが、一般に補助スイッチ40として
使用される開閉器に比べてトリガ付ギャップの方が安価
なのが普通であり、供試遮断器1の電圧が高いほどその
差は大きいのが実際である。また、第5の実施例の場
合、第3、第4の実施例と同様に装置本来の「開」又は
「閉」の指令から実際に「開」又は「閉」になる時点ま
での遅れ時間がこの発明を適用する上での制約になる
が、トリガ付ギャップの場合にはミリ秒レベルの現象に
対しては殆ど遅れがないとしてよいので、このような制
約はない。
チ40の代わりにトリガ付ギャップとしての補助ギャッ
プ44を使用し、そのためにパルス発生回路38が必要
になったものであるが、一般に補助スイッチ40として
使用される開閉器に比べてトリガ付ギャップの方が安価
なのが普通であり、供試遮断器1の電圧が高いほどその
差は大きいのが実際である。また、第5の実施例の場
合、第3、第4の実施例と同様に装置本来の「開」又は
「閉」の指令から実際に「開」又は「閉」になる時点ま
での遅れ時間がこの発明を適用する上での制約になる
が、トリガ付ギャップの場合にはミリ秒レベルの現象に
対しては殆ど遅れがないとしてよいので、このような制
約はない。
【0029】
【発明の効果】この発明は前述のように、始動ギャップ
に並列に補助スイッチを設け、始動ギャップと同じトリ
ガパルスを印加して所定の時間遅れて「閉」にすること
によって、補助スイッチを介して電圧源コンデンサから
電流が流れて回復電圧vr を減衰前の値に回復させるこ
とから、所定の値以上の電圧値を長時間にわたって維持
することができるので、規格に定められた条件を満足す
ることができるという効果が得られる。また、この補助
スイッチに振動抑制抵抗を直列に接続することによっ
て、補助スイッチが「閉」になるときに発生する過渡振
動成分が小さくするかなくなるという効果が得られる。
に並列に補助スイッチを設け、始動ギャップと同じトリ
ガパルスを印加して所定の時間遅れて「閉」にすること
によって、補助スイッチを介して電圧源コンデンサから
電流が流れて回復電圧vr を減衰前の値に回復させるこ
とから、所定の値以上の電圧値を長時間にわたって維持
することができるので、規格に定められた条件を満足す
ることができるという効果が得られる。また、この補助
スイッチに振動抑制抵抗を直列に接続することによっ
て、補助スイッチが「閉」になるときに発生する過渡振
動成分が小さくするかなくなるという効果が得られる。
【0030】補助スイッチの代わりに、パルス発生回路
を設けて、回復電圧vr の絶対値が設定電圧ES になる
と始動ギャップが「閉」になるように構成することによ
って、過渡回復電圧は設定電圧以下になることはないこ
とから、設定電圧を定格電圧の90%以上に設定すれば
要求される条件が容易に達成されるという効果が得られ
る。また、始動ギャップに直列に、短絡スイッチを並列
に接続した振動抑制抵抗を挿入し、短絡スイッチを最初
は「閉」にしておき、前述の補助スイッチと同じように
始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時間遅れて
「開」にすることによって、パルス発生回路が生成した
パルスによって始動ギャップが「閉」になった後に生ず
る振動成分が抑制されるという効果が得られる。
を設けて、回復電圧vr の絶対値が設定電圧ES になる
と始動ギャップが「閉」になるように構成することによ
って、過渡回復電圧は設定電圧以下になることはないこ
とから、設定電圧を定格電圧の90%以上に設定すれば
要求される条件が容易に達成されるという効果が得られ
る。また、始動ギャップに直列に、短絡スイッチを並列
に接続した振動抑制抵抗を挿入し、短絡スイッチを最初
は「閉」にしておき、前述の補助スイッチと同じように
始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時間遅れて
「開」にすることによって、パルス発生回路が生成した
パルスによって始動ギャップが「閉」になった後に生ず
る振動成分が抑制されるという効果が得られる。
【0031】前述の補助スイッチに代えてトリガ付ギャ
ップからなる補助ギャップを設けて始動ギャップにパル
ス発生回路が生成したパルスを印加するのと同じよう
に、補助ギャップにパルスを印加する構成を採用するこ
とによっても回復電圧vr を設定電圧以上に維持するこ
とができる。このとき、補助ギャップに直列に振動抑制
抵抗を接続すれば前述の振動抑制抵抗を設けた場合と同
様に振動成分をなくすか小さくすることができる。
ップからなる補助ギャップを設けて始動ギャップにパル
ス発生回路が生成したパルスを印加するのと同じよう
に、補助ギャップにパルスを印加する構成を採用するこ
とによっても回復電圧vr を設定電圧以上に維持するこ
とができる。このとき、補助ギャップに直列に振動抑制
抵抗を接続すれば前述の振動抑制抵抗を設けた場合と同
様に振動成分をなくすか小さくすることができる。
【図1】この発明の第1の実施例を示す遮断器の合成試
験装置の回路図
験装置の回路図
【図2】図1の動作を説明するための波形図
【図3】この発明の第2の実施例を示す遮断器の合成試
験装置の回路図
験装置の回路図
【図4】図3の動作を説明するための波形図
【図5】この発明の第3の実施例を示す遮断器の合成試
験装置の回路図
験装置の回路図
【図6】図5の動作を説明するための波形図
【図7】この発明の第4の実施例を示す遮断器の合成試
験装置の回路図
験装置の回路図
【図8】図7の動作を説明するための波形図
【図9】この発明の第5の実施例を示す遮断器の合成試
験装置の回路図
験装置の回路図
【図10】図9の動作を説明するための波形図
【図11】遮断器の従来の合成試験装置の回路図
【図12】図11の動作説明のための波形図を含むタイ
ムチャート
ムチャート
【図13】図12の一部の波形を時間軸を拡大して示す
波形図
波形図
1…供試遮断器、2…電流源装置、21…発電機、22
…インダクタ、23…補助開閉器、24…変流器(電流
測定手段)、25…トリガパルス発生回路、3…電圧源
装置、31…電圧源コンデンサ、32…整流器、33…
インダクタ、34…始動ギャップ、36…波形調整器、
37…分圧器(電圧測定手段)、38…パルス発生器、
40…補助スイッチ、41…振動抑制抵抗、42…短絡
スイッチ、44…補助ギャップ
…インダクタ、23…補助開閉器、24…変流器(電流
測定手段)、25…トリガパルス発生回路、3…電圧源
装置、31…電圧源コンデンサ、32…整流器、33…
インダクタ、34…始動ギャップ、36…波形調整器、
37…分圧器(電圧測定手段)、38…パルス発生器、
40…補助スイッチ、41…振動抑制抵抗、42…短絡
スイッチ、44…補助ギャップ
Claims (6)
- 【請求項1】供試遮断器の遮断動作時に、所定の試験電
流を供給する電流源装置と所定の電圧を印加する電圧源
装置とからなり、 電圧源装置が、整流器によって充電される電圧源コンデ
ンサ、インダクタ及び電圧印加用のトリガ付ギャップか
らなる始動ギャップの直列回路と、この直列回路に並列
に接続される抵抗とコンデンサの直列回路からなる波形
調整器とからなり、電流源装置に、この電流源装置が供
給する電流が零点を切る時点から所定の時間前にトリガ
パルスを出力し始動ギャップに印加するトリガパルス発
生回路を備えた遮断器の合成試験装置において、始動ギ
ャップに並列に補助スイッチが設けられ、始動ギャップ
と同じトリガパルスが印加されて始動ギャップが「閉」
になる時点から所定の時間遅れて補助スイッチが「開」
から「閉」になることを特徴とする遮断器の合成試験装
置。 - 【請求項2】補助スイッチに直列に振動抑制抵抗が接続
されてなることを特徴とする請求項1記載の遮断器の合
成試験装置。 - 【請求項3】請求項1記載の補助スイッチを設ける代わ
りに、供試遮断器に印加される電圧を測定する分圧器の
出力信号が入力されてこの信号の絶対値が所定の値以下
になったときにパルスを出力するパルス発生回路が設け
られ、このパルス発生回路の出力信号を始動ギャップに
印加することを特徴とする遮断器の合成試験装置。 - 【請求項4】始動ギャップに直列に、短絡スイッチを並
列に接続した振動抑制抵抗が挿入され、短絡スイッチ
を、始動ギャップが「閉」になる時点から所定の時間遅
れて「閉」から「開」にすることを特徴とする請求項3
記載の遮断器の合成試験装置。 - 【請求項5】請求項1記載の補助スイッチに代えてトリ
ガ付ギャップからなる補助ギャップが設けられ、供試遮
断器に印加される電圧を測定する分圧器の出力信号が入
力されてこの信号の絶対値が所定の値以下になったとき
にパルスを出力するパルス発生回路が設けられ、このパ
ルス発生回路が生成するパルスをトリガパルスとして補
助ギャップに印加することを特徴とする遮断器の合成試
験装置。 - 【請求項6】補助ギャップに直列に振動抑制抵抗が設け
られてなることを特徴とする請求項5記載の遮断器の合
成試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10930795A JPH08306271A (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | 遮断器の合成試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10930795A JPH08306271A (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | 遮断器の合成試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08306271A true JPH08306271A (ja) | 1996-11-22 |
Family
ID=14506889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10930795A Pending JPH08306271A (ja) | 1995-05-08 | 1995-05-08 | 遮断器の合成試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08306271A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103344913A (zh) * | 2013-07-30 | 2013-10-09 | 中国人民解放军第二炮兵装备研究院第三研究所 | 一种电磁继电器检测设备及方法 |
| CN108196177A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-06-22 | 华北电力大学 | 一种半导体组件性能测试系统 |
| CN109459688A (zh) * | 2018-12-03 | 2019-03-12 | 中国电力科学研究院有限公司 | 提升并评价真空断路器性能的试验电路及装置 |
| CN114062909A (zh) * | 2021-07-12 | 2022-02-18 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种用于触发间隙开关的直流大电流通流试验回路 |
| CN115859088A (zh) * | 2022-12-23 | 2023-03-28 | 广东电网有限责任公司江门供电局 | 一种高压断路器振动信号特征提取方法 |
-
1995
- 1995-05-08 JP JP10930795A patent/JPH08306271A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN114062909A (zh) * | 2021-07-12 | 2022-02-18 | 中国电力科学研究院有限公司 | 一种用于触发间隙开关的直流大电流通流试验回路 |
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