JPH0830657A - 論理シミュレーション装置 - Google Patents
論理シミュレーション装置Info
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- JPH0830657A JPH0830657A JP6167914A JP16791494A JPH0830657A JP H0830657 A JPH0830657 A JP H0830657A JP 6167914 A JP6167914 A JP 6167914A JP 16791494 A JP16791494 A JP 16791494A JP H0830657 A JPH0830657 A JP H0830657A
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- signal
- collision point
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- logic
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 信号衝突箇所を含む回路部分の動作が正常で
あるか否かを判定する。 【構成】 論理シミュレーション部2は論理シミュレー
ションを実行し、その結果を出力する。信号衝突箇所抽
出部4は信号衝突箇所に信号を出力するドライブ素子を
選び出し、そのドライブ素子ノード番号5を出力する。
ドライブ素子サイズ抽出部6は論理回路図データ1に含
まれる回路素子のサイズに関するデータから、ドライブ
素子のサイズを抽出する。β値計算部8はサイズにもと
づいてドライブ素子のβ値を算出する。ラッチ内ドライ
ブ素子判断部10は、ラッチ回路の信号保持ループを構
成するドライブ素子を特定する。β値比較部12は特定
された素子のβ値がその他の素子のβ値よりも小さけれ
ば、エラー信号を出力する。 【効果】 エラー信号によって信号衝突箇所を含むラッ
チ回路の動作異常を直接に判断可能である。
あるか否かを判定する。 【構成】 論理シミュレーション部2は論理シミュレー
ションを実行し、その結果を出力する。信号衝突箇所抽
出部4は信号衝突箇所に信号を出力するドライブ素子を
選び出し、そのドライブ素子ノード番号5を出力する。
ドライブ素子サイズ抽出部6は論理回路図データ1に含
まれる回路素子のサイズに関するデータから、ドライブ
素子のサイズを抽出する。β値計算部8はサイズにもと
づいてドライブ素子のβ値を算出する。ラッチ内ドライ
ブ素子判断部10は、ラッチ回路の信号保持ループを構
成するドライブ素子を特定する。β値比較部12は特定
された素子のβ値がその他の素子のβ値よりも小さけれ
ば、エラー信号を出力する。 【効果】 エラー信号によって信号衝突箇所を含むラッ
チ回路の動作異常を直接に判断可能である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、論理シミュレーショ
ン装置に関する。
ン装置に関する。
【0002】
【従来の技術】回路の動作を検証するための有力な技術
として、論理シミュレーションと回路シミュレーション
とが知られる。論理シミュレーションは、デジタル回路
を構成する各回路素子の論理演算機能にもとづいてその
動作を模擬(シミュレーション)し、そのことによっ
て、デジタル回路の論理演算動作を検証するものであ
る。一方、回路シミュレーションは、回路素子のサイズ
(例えば、回路素子の出力段を構成するFET素子のチ
ャネル幅、チャネル長さ等)およびその他の特性をも考
慮して、各回路素子の動作を模擬し、そのことによっ
て、アナログ的な動作をも含めた回路動作を検証するも
のである。
として、論理シミュレーションと回路シミュレーション
とが知られる。論理シミュレーションは、デジタル回路
を構成する各回路素子の論理演算機能にもとづいてその
動作を模擬(シミュレーション)し、そのことによっ
て、デジタル回路の論理演算動作を検証するものであ
る。一方、回路シミュレーションは、回路素子のサイズ
(例えば、回路素子の出力段を構成するFET素子のチ
ャネル幅、チャネル長さ等)およびその他の特性をも考
慮して、各回路素子の動作を模擬し、そのことによっ
て、アナログ的な動作をも含めた回路動作を検証するも
のである。
【0003】したがって、回路シミュレーションでは、
論理シミュレーションでは対象外とされる回路素子の出
力の過渡特性等をも含めた広範囲にわたる回路動作の検
証が可能であるという利点がある一方、例えばLSI
(大規模集積回路)などの多数の回路素子を有する回路
を検証するには、多大な実行時間、労力等を要するとい
う欠点がある。これに対して、論理シミュレーション
は、多数の回路素子を備える回路に対しても、短時間、
少ない労力、低コストで検証が可能であるという利点が
ある。このため、検査対象とされる回路に応じて、双方
を適宜使い分けることによって、回路動作の検証が行わ
れる。
論理シミュレーションでは対象外とされる回路素子の出
力の過渡特性等をも含めた広範囲にわたる回路動作の検
証が可能であるという利点がある一方、例えばLSI
(大規模集積回路)などの多数の回路素子を有する回路
を検証するには、多大な実行時間、労力等を要するとい
う欠点がある。これに対して、論理シミュレーション
は、多数の回路素子を備える回路に対しても、短時間、
少ない労力、低コストで検証が可能であるという利点が
ある。このため、検査対象とされる回路に応じて、双方
を適宜使い分けることによって、回路動作の検証が行わ
れる。
【0004】図9は、従来の論理シミュレーション装置
の主要部の構成を示すブロック図である。図9におい
て、2は論理シミュレーションを実行する装置部分であ
る論理シミュレーション部、1は論理シミュレーション
を実行するのに必要な入力データであり、論理シミュレ
ーション部2へ入力される論理回路図データ、3は論理
シミュレーション部2によって実行された論理シミュレ
ーションの結果を表現する論理シミュレーション出力デ
ータ3である。論理回路図データ1は、検証対象とされ
る回路(検証対象回路)を構成する各回路素子の論理演
算機能に関するデータ、および各回路素子の接続に関す
るデータ(接続情報)などで構成されている。
の主要部の構成を示すブロック図である。図9におい
て、2は論理シミュレーションを実行する装置部分であ
る論理シミュレーション部、1は論理シミュレーション
を実行するのに必要な入力データであり、論理シミュレ
ーション部2へ入力される論理回路図データ、3は論理
シミュレーション部2によって実行された論理シミュレ
ーションの結果を表現する論理シミュレーション出力デ
ータ3である。論理回路図データ1は、検証対象とされ
る回路(検証対象回路)を構成する各回路素子の論理演
算機能に関するデータ、および各回路素子の接続に関す
るデータ(接続情報)などで構成されている。
【0005】ところで、検証対象回路には回路素子の出
力信号線同士が短絡する信号衝突箇所が存在する場合が
少なくない。信号衝突箇所が存在する回路を検証対象と
する場合には、例えば特開平3-232065号公報に開示され
るように、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の出
力強度すなわちドライブ能力に関するデータを、論理回
路図データ1の中に組み込むとともに、出力強度の高い
回路素子の出力論理値を優先的に選択することによっ
て、論理シミュレーションが実行されていた。
力信号線同士が短絡する信号衝突箇所が存在する場合が
少なくない。信号衝突箇所が存在する回路を検証対象と
する場合には、例えば特開平3-232065号公報に開示され
るように、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の出
力強度すなわちドライブ能力に関するデータを、論理回
路図データ1の中に組み込むとともに、出力強度の高い
回路素子の出力論理値を優先的に選択することによっ
て、論理シミュレーションが実行されていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
論理シミュレーション装置では、論理シミュレーション
の結果から信号衝突箇所の論理値が正しく得られている
か否か、すなわち信号衝突箇所に関わる回路部分の動作
が正常に動作するか否かに関する判断は、論理シミュレ
ーションの結果から人手を通じて間接的に判断する他な
いという問題点があった。
論理シミュレーション装置では、論理シミュレーション
の結果から信号衝突箇所の論理値が正しく得られている
か否か、すなわち信号衝突箇所に関わる回路部分の動作
が正常に動作するか否かに関する判断は、論理シミュレ
ーションの結果から人手を通じて間接的に判断する他な
いという問題点があった。
【0007】この発明は、従来の装置における上記した
問題点を解消するためになされたもので、信号衝突箇所
に関わる回路部分の動作が正常であるか否かが人手を介
することなく直接に判断可能な論理シミュレーション装
置を提供することを目的とする。
問題点を解消するためになされたもので、信号衝突箇所
に関わる回路部分の動作が正常であるか否かが人手を介
することなく直接に判断可能な論理シミュレーション装
置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる請求項
1に記載の論理シミュレーション装置は、検証対象回路
の論理シミュレーションを実行する論理シミュレーショ
ン装置において、前記検証対象回路内に存在する信号衝
突箇所において正常な論理値が得られるか否かを判定す
るとともにその結果を出力する判定手段を備えることを
特徴とする。
1に記載の論理シミュレーション装置は、検証対象回路
の論理シミュレーションを実行する論理シミュレーショ
ン装置において、前記検証対象回路内に存在する信号衝
突箇所において正常な論理値が得られるか否かを判定す
るとともにその結果を出力する判定手段を備えることを
特徴とする。
【0009】この発明にかかる請求項2に記載の論理シ
ミュレーション装置は、請求項1に記載の装置におい
て、前記判定手段が、前記信号衝突箇所に信号を出力す
る回路素子のサイズに関するデータにもとづいて当該回
路素子のβ値を算出し、さらに、当該回路素子の中でラ
ッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子のβ値が
他の回路素子のβ値以上であるか否かにもとづいて、前
記信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否か
を判定することを特徴とする。
ミュレーション装置は、請求項1に記載の装置におい
て、前記判定手段が、前記信号衝突箇所に信号を出力す
る回路素子のサイズに関するデータにもとづいて当該回
路素子のβ値を算出し、さらに、当該回路素子の中でラ
ッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子のβ値が
他の回路素子のβ値以上であるか否かにもとづいて、前
記信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否か
を判定することを特徴とする。
【0010】この発明にかかる請求項3に記載の論理シ
ミュレーション装置は、請求項1に記載の装置におい
て、前記判定手段が、前記信号衝突箇所に信号を出力す
る回路素子の出力論理値を算出するとともに、当該回路
素子の出力強度に関するデータにもとづいて前記信号衝
突箇所の論理値を算出し、さらに、前記回路素子の中で
ラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子の出力
論理値と前記信号衝突箇所の論理値とを比較し、双方の
論理値が一致するか否かにもとづいて、前記信号衝突箇
所における論理値が正常に得られるか否かを判定するこ
とを特徴とする。
ミュレーション装置は、請求項1に記載の装置におい
て、前記判定手段が、前記信号衝突箇所に信号を出力す
る回路素子の出力論理値を算出するとともに、当該回路
素子の出力強度に関するデータにもとづいて前記信号衝
突箇所の論理値を算出し、さらに、前記回路素子の中で
ラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子の出力
論理値と前記信号衝突箇所の論理値とを比較し、双方の
論理値が一致するか否かにもとづいて、前記信号衝突箇
所における論理値が正常に得られるか否かを判定するこ
とを特徴とする。
【0011】この発明にかかる請求項4に記載の論理シ
ミュレーション装置は、請求項1に記載の装置におい
て、前記判定手段が、前記検証対象回路中の信号衝突箇
所を含む回路部分に対して、当該回路部分を構成する回
路素子のサイズに関するデータを含む当該回路素子の特
性に関するデータにもとづいて、回路シミュレーション
を実行するとともに、当該回路シミュレーションによっ
て得られる前記回路部分の動作特性を表現する変数を、
あらかじめ設定される所定の基準値と比較し、その結果
にもとづいて、前記信号衝突箇所における論理値が正常
に得られるか否かを判定することを特徴とする。
ミュレーション装置は、請求項1に記載の装置におい
て、前記判定手段が、前記検証対象回路中の信号衝突箇
所を含む回路部分に対して、当該回路部分を構成する回
路素子のサイズに関するデータを含む当該回路素子の特
性に関するデータにもとづいて、回路シミュレーション
を実行するとともに、当該回路シミュレーションによっ
て得られる前記回路部分の動作特性を表現する変数を、
あらかじめ設定される所定の基準値と比較し、その結果
にもとづいて、前記信号衝突箇所における論理値が正常
に得られるか否かを判定することを特徴とする。
【0012】この発明にかかる請求項5に記載の論理シ
ミュレーション装置は、請求項2または請求項4に記載
の装置において、前記回路素子のサイズに関する前記デ
ータが、レイアウトデータから得られることを特徴とす
る。
ミュレーション装置は、請求項2または請求項4に記載
の装置において、前記回路素子のサイズに関する前記デ
ータが、レイアウトデータから得られることを特徴とす
る。
【0013】
【作用】請求項1に記載の論理シミュレーション装置で
は、信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否
かが判定され、その結果が出力されるので、信号衝突箇
所の論理値が正常に得られるか否かを直接に判断するこ
とが可能である。
は、信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否
かが判定され、その結果が出力されるので、信号衝突箇
所の論理値が正常に得られるか否かを直接に判断するこ
とが可能である。
【0014】請求項2に記載の論理シミュレーション装
置では、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の中
で、ラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子の
β値が他の回路素子のβ値以上であるか否かにもとづい
て、信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否
かを判定する。ラッチ回路の信号保持ループを構成する
回路素子のβ値が他の回路素子のβ値よりも低いときに
は、ラッチ回路は正常に動作せず、逆に、信号保持ルー
プを構成する回路素子のβ値が他の回路素子のβ値以上
であれば正常に動作するので、この装置による判定は、
信号衝突箇所を有するラッチ回路の動作が正常であるか
否か、すなわち信号衝突箇所における論理値が正常に得
られるか否かを表現する。
置では、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の中
で、ラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子の
β値が他の回路素子のβ値以上であるか否かにもとづい
て、信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否
かを判定する。ラッチ回路の信号保持ループを構成する
回路素子のβ値が他の回路素子のβ値よりも低いときに
は、ラッチ回路は正常に動作せず、逆に、信号保持ルー
プを構成する回路素子のβ値が他の回路素子のβ値以上
であれば正常に動作するので、この装置による判定は、
信号衝突箇所を有するラッチ回路の動作が正常であるか
否か、すなわち信号衝突箇所における論理値が正常に得
られるか否かを表現する。
【0015】請求項3に記載の論理シミュレーション装
置では、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の中
で、ラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子の
出力論理値と信号衝突箇所の論理値とを比較する。信号
衝突箇所における論理値がラッチ回路の信号保持ループ
を構成する回路素子の出力論理値に一致しないときに
は、ラッチ回路は正常に動作せず、逆に、一致するとき
には正常に動作する。このため、両者が一致するか否か
にもとづく判定は、信号衝突箇所を有するラッチ回路の
動作が正常であるか否か、すなわち信号衝突箇所におけ
る論理値が正常に得られるか否かを表現する。
置では、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の中
で、ラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素子の
出力論理値と信号衝突箇所の論理値とを比較する。信号
衝突箇所における論理値がラッチ回路の信号保持ループ
を構成する回路素子の出力論理値に一致しないときに
は、ラッチ回路は正常に動作せず、逆に、一致するとき
には正常に動作する。このため、両者が一致するか否か
にもとづく判定は、信号衝突箇所を有するラッチ回路の
動作が正常であるか否か、すなわち信号衝突箇所におけ
る論理値が正常に得られるか否かを表現する。
【0016】請求項4に記載の論理シミュレーション装
置では、信号衝突箇所を含む回路部分に回路シミュレー
ションが実行され、それによって得られた回路部分の動
作特性を表現する変数(例えば遅延時間など)をその基
準値と比較する。この変数は、回路部分の動作が正常で
あるか否かによって変動する。したがって、この変数を
適切に設定された基準値と比較することによって、回路
部分の動作が正常であるか否かを判定することが可能で
ある。
置では、信号衝突箇所を含む回路部分に回路シミュレー
ションが実行され、それによって得られた回路部分の動
作特性を表現する変数(例えば遅延時間など)をその基
準値と比較する。この変数は、回路部分の動作が正常で
あるか否かによって変動する。したがって、この変数を
適切に設定された基準値と比較することによって、回路
部分の動作が正常であるか否かを判定することが可能で
ある。
【0017】請求項5に記載の論理シミュレーション装
置では、回路素子のサイズに関するデータがレイアウト
データから得られる。すなわち、回路素子のサイズに関
するデータを新たに作成することなく、一連の回路設計
の流れのなかで必然的に生じるレイアウトデータが用い
られる。レイアウトデータは最終的に確定された回路素
子のサイズに関する情報を有するので、最終的に確定さ
れた回路についての検証が行われる。
置では、回路素子のサイズに関するデータがレイアウト
データから得られる。すなわち、回路素子のサイズに関
するデータを新たに作成することなく、一連の回路設計
の流れのなかで必然的に生じるレイアウトデータが用い
られる。レイアウトデータは最終的に確定された回路素
子のサイズに関する情報を有するので、最終的に確定さ
れた回路についての検証が行われる。
【0018】
<第1実施例>図1は、第1実施例の論理シミュレーシ
ョン装置の構成を示すブロック図である。なお以下の図
において、図9に示した従来装置と同一部分には同一符
号を付して、その詳細な説明を略する。
ョン装置の構成を示すブロック図である。なお以下の図
において、図9に示した従来装置と同一部分には同一符
号を付して、その詳細な説明を略する。
【0019】この実施例の論理シミュレーション装置で
は、論理回路図データ1には検査対象とされる回路を構
成する各回路素子の論理演算機能に関するデータ、各回
路素子の接続情報等に加えて、各回路素子のチャネル
幅、チャネル長などのサイズに関するデータが含まれて
いる。回路素子のサイズに関するこのデータは、回路図
を作成するという設計の上流段階(上流設計レベル)に
おいて、設計者が所望の値を付与したものである。
は、論理回路図データ1には検査対象とされる回路を構
成する各回路素子の論理演算機能に関するデータ、各回
路素子の接続情報等に加えて、各回路素子のチャネル
幅、チャネル長などのサイズに関するデータが含まれて
いる。回路素子のサイズに関するこのデータは、回路図
を作成するという設計の上流段階(上流設計レベル)に
おいて、設計者が所望の値を付与したものである。
【0020】図1において、4は論理シミュレーション
出力データ3に基づいて、検証対象回路中に存在する信
号衝突箇所を選び出すとともに、信号衝突箇所に信号を
出力する回路素子を特定し、そのノード番号をドライブ
素子ノード番号として出力する信号衝突箇所抽出部、5
は信号衝突箇所抽出部4からの出力データであるドライ
ブ素子ノード番号、6はドライブ素子ノード番号5が指
定する回路素子のチャネル幅とチャネル長などのサイズ
を論理回路図データ1にもとづいて抽出し、ドライブ素
子サイズとして出力するドライブ素子サイズ抽出部、7
はドライブ素子サイズ抽出部6からの出力データである
ドライブ素子サイズ、8はドライブ素子サイズ7にもと
づいて回路素子のβ値を算出するβ値計算部、9はβ値
計算部8からの出力データであるβ値、10は論理回路
図データ1にもとづいて、ドライブ素子ノード番号5に
リストアップされたドライブ素子の中からラッチループ
すなわちラッチ回路の信号保持ループを構成するものを
抽出し、そのノード番号をラッチ内ドライブ素子ノード
番号として出力するラッチ内ドライブ素子判断部、11
はラッチ内ドライブ素子判断部10から出力されるラッ
チ内ドライブ素子ノード番号、そして、12はβ値9と
ラッチ内ドライブ素子ノード番号11とにもとづいて、
ラッチ内ドライブ素子のβ値を他のβ値と比較し、前者
が後者よりも小さければエラー信号を出力するβ値比較
部である。
出力データ3に基づいて、検証対象回路中に存在する信
号衝突箇所を選び出すとともに、信号衝突箇所に信号を
出力する回路素子を特定し、そのノード番号をドライブ
素子ノード番号として出力する信号衝突箇所抽出部、5
は信号衝突箇所抽出部4からの出力データであるドライ
ブ素子ノード番号、6はドライブ素子ノード番号5が指
定する回路素子のチャネル幅とチャネル長などのサイズ
を論理回路図データ1にもとづいて抽出し、ドライブ素
子サイズとして出力するドライブ素子サイズ抽出部、7
はドライブ素子サイズ抽出部6からの出力データである
ドライブ素子サイズ、8はドライブ素子サイズ7にもと
づいて回路素子のβ値を算出するβ値計算部、9はβ値
計算部8からの出力データであるβ値、10は論理回路
図データ1にもとづいて、ドライブ素子ノード番号5に
リストアップされたドライブ素子の中からラッチループ
すなわちラッチ回路の信号保持ループを構成するものを
抽出し、そのノード番号をラッチ内ドライブ素子ノード
番号として出力するラッチ内ドライブ素子判断部、11
はラッチ内ドライブ素子判断部10から出力されるラッ
チ内ドライブ素子ノード番号、そして、12はβ値9と
ラッチ内ドライブ素子ノード番号11とにもとづいて、
ラッチ内ドライブ素子のβ値を他のβ値と比較し、前者
が後者よりも小さければエラー信号を出力するβ値比較
部である。
【0021】図2は、検証対象回路中の信号衝突箇所を
有する回路部分の一例を示す回路図である。この回路部
分はラッチ回路に相当する。図2において、INV1〜
3はインバータ素子、14はドライブ素子A、15はド
ライブ素子B、そして、13はドライブ素子Aの出力と
ドライブ素子Bの出力とが衝突している信号衝突箇所1
3である。以下において、図2に示される回路を例とし
て、図1に示した論理シミュレーション装置の動作を説
明する。
有する回路部分の一例を示す回路図である。この回路部
分はラッチ回路に相当する。図2において、INV1〜
3はインバータ素子、14はドライブ素子A、15はド
ライブ素子B、そして、13はドライブ素子Aの出力と
ドライブ素子Bの出力とが衝突している信号衝突箇所1
3である。以下において、図2に示される回路を例とし
て、図1に示した論理シミュレーション装置の動作を説
明する。
【0022】信号衝突箇所抽出部4は、論理シミュレー
ション部2が出力した論理シミュレーション出力データ
3にもとづいて、図2の回路における信号衝突箇所13
を抽出する。同時に、信号衝突箇所13に信号を出力し
ている素子、すなわちドライブ素子A、Bを特定し、こ
れらの素子のノード番号をドライブ素子ノード番号5と
して出力する。検査対象回路を構成する各素子のノード
番号は、論理回路図データ1の中にあらかじめ付与され
ている。
ション部2が出力した論理シミュレーション出力データ
3にもとづいて、図2の回路における信号衝突箇所13
を抽出する。同時に、信号衝突箇所13に信号を出力し
ている素子、すなわちドライブ素子A、Bを特定し、こ
れらの素子のノード番号をドライブ素子ノード番号5と
して出力する。検査対象回路を構成する各素子のノード
番号は、論理回路図データ1の中にあらかじめ付与され
ている。
【0023】つぎに、ドライブ素子サイズ抽出部6が、
ドライブ素子ノード番号5が指定するドライブ素子A、
Bのサイズをドライブ素子サイズ7として出力する。β
値計算部8は、このドライブ素子サイズ7にもとづい
て、ドライブ素子A、Bのβ値を算出する。β値は、チ
ャネル幅W、チャネル長Lにもとづいて、計算式:β=
α・W/Lに従って算出される。この計算式において、
αは回路の製造プロセスに依存する定数である。算出さ
れたドライブ素子A,Bのβ値をそれぞれβA,βBとす
る。β値9は、これらのβA、βBを含んでいる。
ドライブ素子ノード番号5が指定するドライブ素子A、
Bのサイズをドライブ素子サイズ7として出力する。β
値計算部8は、このドライブ素子サイズ7にもとづい
て、ドライブ素子A、Bのβ値を算出する。β値は、チ
ャネル幅W、チャネル長Lにもとづいて、計算式:β=
α・W/Lに従って算出される。この計算式において、
αは回路の製造プロセスに依存する定数である。算出さ
れたドライブ素子A,Bのβ値をそれぞれβA,βBとす
る。β値9は、これらのβA、βBを含んでいる。
【0024】つぎに、ラッチ内ドライブ素子判断部10
は、ドライブ素子ノード番号5が指定するドライブ素子
A、Bの中で、ラッチループを構成するドライブ素子す
なわちドライブ素子Bを抽出し、そのノード番号をラッ
チ内ドライブ素子ノード番号11として出力する。
は、ドライブ素子ノード番号5が指定するドライブ素子
A、Bの中で、ラッチループを構成するドライブ素子す
なわちドライブ素子Bを抽出し、そのノード番号をラッ
チ内ドライブ素子ノード番号11として出力する。
【0025】つぎに、β値比較部12は、β値9の中か
ら信号衝突箇所13に信号を出力する2つのドライブ素
子A、Bのβ値であるβAとβBを選択し、それらの間で
の比較を行う。これらの中で、ラッチ内ドライブ素子ノ
ード番号11が指定するドライブ素子Bのβ値すなわち
βBが他方のβAよりも小さい、すなわちβB(ラッチ
内)<βAであれば、エラー信号が出力され、βBがβA
よりも小さくない、すなわちβB(ラッチ内)≧βAであ
れば、エラー信号は出力されない。βB<βAであればド
ライブ素子Aが出力する信号がそのまま出力に通過する
のでドライブ素子Bを含むラッチ回路は正常に動作せ
ず、逆にβB≧βAであれば正常に動作する。このため、
エラー信号は、ラッチ回路が正常に動作するか否かを正
当に表現している。
ら信号衝突箇所13に信号を出力する2つのドライブ素
子A、Bのβ値であるβAとβBを選択し、それらの間で
の比較を行う。これらの中で、ラッチ内ドライブ素子ノ
ード番号11が指定するドライブ素子Bのβ値すなわち
βBが他方のβAよりも小さい、すなわちβB(ラッチ
内)<βAであれば、エラー信号が出力され、βBがβA
よりも小さくない、すなわちβB(ラッチ内)≧βAであ
れば、エラー信号は出力されない。βB<βAであればド
ライブ素子Aが出力する信号がそのまま出力に通過する
のでドライブ素子Bを含むラッチ回路は正常に動作せ
ず、逆にβB≧βAであれば正常に動作する。このため、
エラー信号は、ラッチ回路が正常に動作するか否かを正
当に表現している。
【0026】以上のように、この実施例の論理シミュレ
ーション装置では、論理回路図データ1に回路素子のサ
イズに関するデータが付与され、このデータにもとづい
て信号衝突箇所のドライブ素子のβ値同士を比較するこ
とによって、信号衝突箇所を有する回路部分の動作が正
常であるか否かの判定が行われる。エラー信号によって
この判定の結果が直接に得られるので、信号衝突箇所の
論理値が正常に得られるか否かを論理シミュレーション
の結果から人手で間接的に判定するという手間を要しな
い。さらに、信号衝突箇所に関わる回路素子のサイズに
関するデータが参照されるので、評価の精度が高いとい
う利点がある。
ーション装置では、論理回路図データ1に回路素子のサ
イズに関するデータが付与され、このデータにもとづい
て信号衝突箇所のドライブ素子のβ値同士を比較するこ
とによって、信号衝突箇所を有する回路部分の動作が正
常であるか否かの判定が行われる。エラー信号によって
この判定の結果が直接に得られるので、信号衝突箇所の
論理値が正常に得られるか否かを論理シミュレーション
の結果から人手で間接的に判定するという手間を要しな
い。さらに、信号衝突箇所に関わる回路素子のサイズに
関するデータが参照されるので、評価の精度が高いとい
う利点がある。
【0027】<第2実施例>図3は、第2実施例の論理
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では、論理回路図データ1には検査対象とさ
れる回路を構成する各回路素子の論理演算機能に関する
データ、各回路素子の接続情報等に加えて、各回路素子
の出力強度すなわちドライブ能力の序列を規定するデー
タが含まれている。この出力強度に関するデータ(信号
強度データ)は、上流設計レベルにおいて、設計者が所
望の値を付与したものである。
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では、論理回路図データ1には検査対象とさ
れる回路を構成する各回路素子の論理演算機能に関する
データ、各回路素子の接続情報等に加えて、各回路素子
の出力強度すなわちドライブ能力の序列を規定するデー
タが含まれている。この出力強度に関するデータ(信号
強度データ)は、上流設計レベルにおいて、設計者が所
望の値を付与したものである。
【0028】この実施例では、論理シミュレーション部
2は、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の出力論
理値を算出すると同時に、信号強度データを参照するこ
とによって信号衝突箇所の論理値をも算出し、これらを
含めて論理シミュレーション出力データ3として出力す
る。ドライブ素子ノード出力論理値検出部16では、ド
ライブ素子ノード番号5に相当する回路素子の出力論理
値を論理シミュレーション出力データ3から抽出し、こ
れをドライブ素子ノード出力論理値17として出力す
る。信号衝突箇所出力論理値検出部18は、ドライブ素
子ノード番号5を参照することによって信号衝突箇所の
論理値を論理シミュレーション出力データ3から抽出
し、これを衝突箇所出力論理値19として出力する。
2は、信号衝突箇所に信号を出力する回路素子の出力論
理値を算出すると同時に、信号強度データを参照するこ
とによって信号衝突箇所の論理値をも算出し、これらを
含めて論理シミュレーション出力データ3として出力す
る。ドライブ素子ノード出力論理値検出部16では、ド
ライブ素子ノード番号5に相当する回路素子の出力論理
値を論理シミュレーション出力データ3から抽出し、こ
れをドライブ素子ノード出力論理値17として出力す
る。信号衝突箇所出力論理値検出部18は、ドライブ素
子ノード番号5を参照することによって信号衝突箇所の
論理値を論理シミュレーション出力データ3から抽出
し、これを衝突箇所出力論理値19として出力する。
【0029】論理値検証部20は、ラッチ内ドライブ素
子ノード番号11に相当するラッチ内ドライブ素子の出
力論理値をドライブ素子ノード出力論理値17から抽出
するとともに、このラッチ内ドライブ素子との信号衝突
箇所における論理値を衝突箇所出力論理値19から抽出
する。論理値検証部20はさらに、これらの2つの論理
値の間の比較を行い、互いに値が等しくなければエラー
信号を出力する。
子ノード番号11に相当するラッチ内ドライブ素子の出
力論理値をドライブ素子ノード出力論理値17から抽出
するとともに、このラッチ内ドライブ素子との信号衝突
箇所における論理値を衝突箇所出力論理値19から抽出
する。論理値検証部20はさらに、これらの2つの論理
値の間の比較を行い、互いに値が等しくなければエラー
信号を出力する。
【0030】つぎに図2に示した回路部分を有する回路
を検証対象とした場合を例として、この図3に示した論
理シミュレーション装置の動作を説明する。論理シミュ
レーション部2は、信号衝突箇所13に信号を出力する
ドライブ素子A、Bの出力論理値XA、XBに加えて、信
号衝突箇所13の論理値Yをドライブ素子A、Bの出力
強度データにもとづいて算出する。したがって、論理シ
ミュレーション出力データ3は、出力論理値XA、XBお
よび論理値Yを含んでいる。
を検証対象とした場合を例として、この図3に示した論
理シミュレーション装置の動作を説明する。論理シミュ
レーション部2は、信号衝突箇所13に信号を出力する
ドライブ素子A、Bの出力論理値XA、XBに加えて、信
号衝突箇所13の論理値Yをドライブ素子A、Bの出力
強度データにもとづいて算出する。したがって、論理シ
ミュレーション出力データ3は、出力論理値XA、XBお
よび論理値Yを含んでいる。
【0031】信号衝突箇所抽出部4では、ドライブ素子
A、Bが抽出され、その結果、ドライブ素子ノード番号
5はこれらのドライブ素子A、Bのノード番号を含んで
いる。ラッチ内ドライブ素子判断部10では、ラッチ内
ドライブ素子としてドライブ素子Bを特定する。すなわ
ち、ラッチ内ドライブ素子ノード番号11はドライブ素
子Bのノード番号を含んでいる。
A、Bが抽出され、その結果、ドライブ素子ノード番号
5はこれらのドライブ素子A、Bのノード番号を含んで
いる。ラッチ内ドライブ素子判断部10では、ラッチ内
ドライブ素子としてドライブ素子Bを特定する。すなわ
ち、ラッチ内ドライブ素子ノード番号11はドライブ素
子Bのノード番号を含んでいる。
【0032】また、ドライブ素子ノード出力論理値検出
部16は、ドライブ素子ノード番号5に相当するドライ
ブ素子A、Bの出力論理値である出力論理値XA、XBを
論理シミュレーション出力データ3の中から抽出する。
したがって、ドライブ素子ノード出力論理値17は、出
力論理値XA、XBを含んでいる。さらに、信号衝突箇所
出力論理値検出部18は、信号衝突箇所の論理値である
論理値Yを論理シミュレーション出力データ3の中から
抽出する。したがって、衝突箇所出力論理値19は論理
値Yを含んでいる。
部16は、ドライブ素子ノード番号5に相当するドライ
ブ素子A、Bの出力論理値である出力論理値XA、XBを
論理シミュレーション出力データ3の中から抽出する。
したがって、ドライブ素子ノード出力論理値17は、出
力論理値XA、XBを含んでいる。さらに、信号衝突箇所
出力論理値検出部18は、信号衝突箇所の論理値である
論理値Yを論理シミュレーション出力データ3の中から
抽出する。したがって、衝突箇所出力論理値19は論理
値Yを含んでいる。
【0033】これらの結果、論理値検証部20では、ラ
ッチ内ドライブ素子ノード番号11に相当するドライブ
素子Bの出力論理値XBがドライブ素子ノード出力論理
値17の中から選ばれるとともに、これと比較すべき論
理値Yが衝突箇所出力論理値19の中から選ばれる。そ
うして、これらの論理値が互いに比較される。比較の結
果、論理値Yが出力論理値XBに等しい、すなわちY=
XBであれば、論理値検証部20からエラー信号は出力
されず、逆に論理値Yが出力論理値XBに一致しない、
すなわちY≠XBであればエラー信号が出力される。
ッチ内ドライブ素子ノード番号11に相当するドライブ
素子Bの出力論理値XBがドライブ素子ノード出力論理
値17の中から選ばれるとともに、これと比較すべき論
理値Yが衝突箇所出力論理値19の中から選ばれる。そ
うして、これらの論理値が互いに比較される。比較の結
果、論理値Yが出力論理値XBに等しい、すなわちY=
XBであれば、論理値検証部20からエラー信号は出力
されず、逆に論理値Yが出力論理値XBに一致しない、
すなわちY≠XBであればエラー信号が出力される。
【0034】Y≠XBであれば信号衝突箇所がラッチ内
ドライブ素子によってドライブされていないことを意味
するので、図2に示したラッチ回路は正常に動作せず、
逆にY=XBであればラッチ回路は正常に動作する。こ
のため、エラー信号は、ラッチ回路が正常に動作するか
否かを正当に表現している。
ドライブ素子によってドライブされていないことを意味
するので、図2に示したラッチ回路は正常に動作せず、
逆にY=XBであればラッチ回路は正常に動作する。こ
のため、エラー信号は、ラッチ回路が正常に動作するか
否かを正当に表現している。
【0035】以上のように、この実施例の論理シミュレ
ーション装置では、論理回路図データ1に回路素子の出
力強度に関するデータが付与され、このデータにもとづ
いて信号衝突箇所のラッチ内ドライブ素子の出力論理値
と、信号衝突箇所の論理値とを比較することによって、
信号衝突箇所を有する回路部分の動作が正常であるか否
かの判定が行われる。エラー信号によってこの判定の結
果が直接に得られるので、信号衝突箇所の論理値が正常
に得られるか否かを論理シミュレーションの結果から人
手で間接的に判定するという手間を要しない。
ーション装置では、論理回路図データ1に回路素子の出
力強度に関するデータが付与され、このデータにもとづ
いて信号衝突箇所のラッチ内ドライブ素子の出力論理値
と、信号衝突箇所の論理値とを比較することによって、
信号衝突箇所を有する回路部分の動作が正常であるか否
かの判定が行われる。エラー信号によってこの判定の結
果が直接に得られるので、信号衝突箇所の論理値が正常
に得られるか否かを論理シミュレーションの結果から人
手で間接的に判定するという手間を要しない。
【0036】さらに、回路素子のサイズに関するデータ
を使用することなく、信号強度に関するデータを使用す
るので、短時間でシミュレーションを実行することがで
きる。また、論理回路図データ1に回路素子のサイズに
関するデータを盛り込む必要がなく、より単純な信号強
度に関するデータを盛り込めばよいので、論理回路図デ
ータ1を準備する手間も簡略化される。
を使用することなく、信号強度に関するデータを使用す
るので、短時間でシミュレーションを実行することがで
きる。また、論理回路図データ1に回路素子のサイズに
関するデータを盛り込む必要がなく、より単純な信号強
度に関するデータを盛り込めばよいので、論理回路図デ
ータ1を準備する手間も簡略化される。
【0037】<第3実施例>図4は、第3実施例の論理
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では第1、第2実施例とは異なり、論理回路
図データ1には各回路素子のサイズに関するデータは必
要とされない。また、この実施例では、信号衝突箇所抽
出部4は、ドライブ素子ノード番号5の代わりに、回路
図上で信号衝突箇所の周辺に位置する回路素子のノード
を、信号衝突箇所周辺ノードとして出力する。
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では第1、第2実施例とは異なり、論理回路
図データ1には各回路素子のサイズに関するデータは必
要とされない。また、この実施例では、信号衝突箇所抽
出部4は、ドライブ素子ノード番号5の代わりに、回路
図上で信号衝突箇所の周辺に位置する回路素子のノード
を、信号衝突箇所周辺ノードとして出力する。
【0038】図4において、21は信号衝突箇所抽出部
4から出力された信号衝突箇所周辺ノード、33は論理
回路図データ1と並んで回路シミュレーション用に準備
されたもう一つの入力データである回路シミュレーショ
ン用回路図データ、22は信号衝突箇所周辺ノード21
に対応した回路素子で構成される回路部分の回路図デー
タを、回路シミュレーション用回路図データ33の中か
ら抜き出し、回路シミュレーション用部分回路図として
出力する回路シミュレーション用部分回路図抽出部、2
3は回路シミュレーション用部分回路図抽出部22から
出力される回路シミュレーション用部分回路図データ、
24は回路シミュレーション用部分回路図データ23に
もとづいて信号衝突箇所周辺の回路部分の回路シミュレ
ーションを実行する回路シミュレーション部、25は回
路シミュレーション部24の出力データである回路シミ
ュレーション出力データ、27はあらかじめ準備される
さらに別の入力データであり、回路シミュレーション出
力データ25の比較対象とされる基準値データ27、そ
して、26は回路シミュレーション出力データ25を基
準値データ27と比較することによって、信号衝突箇所
周辺の回路部分の動作の正常/異常を判定し、異常が判
定されるとエラー信号を出力する回路シミュレーション
結果検証部である。
4から出力された信号衝突箇所周辺ノード、33は論理
回路図データ1と並んで回路シミュレーション用に準備
されたもう一つの入力データである回路シミュレーショ
ン用回路図データ、22は信号衝突箇所周辺ノード21
に対応した回路素子で構成される回路部分の回路図デー
タを、回路シミュレーション用回路図データ33の中か
ら抜き出し、回路シミュレーション用部分回路図として
出力する回路シミュレーション用部分回路図抽出部、2
3は回路シミュレーション用部分回路図抽出部22から
出力される回路シミュレーション用部分回路図データ、
24は回路シミュレーション用部分回路図データ23に
もとづいて信号衝突箇所周辺の回路部分の回路シミュレ
ーションを実行する回路シミュレーション部、25は回
路シミュレーション部24の出力データである回路シミ
ュレーション出力データ、27はあらかじめ準備される
さらに別の入力データであり、回路シミュレーション出
力データ25の比較対象とされる基準値データ27、そ
して、26は回路シミュレーション出力データ25を基
準値データ27と比較することによって、信号衝突箇所
周辺の回路部分の動作の正常/異常を判定し、異常が判
定されるとエラー信号を出力する回路シミュレーション
結果検証部である。
【0039】回路シミュレーション用回路図データ33
には、検証対象回路を構成する回路素子の各種特性に関
するデータとともにサイズに関するデータが含まれてい
る。この回路素子のサイズに関するデータは、第1実施
例の論理回路図データ1に含まれる回路素子のサイズに
関するデータと同様に、上流設計レベルで設定される。
には、検証対象回路を構成する回路素子の各種特性に関
するデータとともにサイズに関するデータが含まれてい
る。この回路素子のサイズに関するデータは、第1実施
例の論理回路図データ1に含まれる回路素子のサイズに
関するデータと同様に、上流設計レベルで設定される。
【0040】図5は、検証対象回路中の信号衝突箇所周
辺の回路部分の一例を示す回路図である。この回路部分
はラッチ回路に相当する。図5において、TG1,2は
トランスミッションゲート素子、Cは信号衝突箇所、C
LKAはTG1,2の一方のゲート電極へ入力される制
御信号、CLKBはTG1,2の他方のゲート電極へ入
力されるもう一つの制御信号、そして、INはこの回路
部分に入力される入力信号である。以下において、図5
に示される回路部分を例として、図4に示した論理シミ
ュレーション装置の動作を説明する。
辺の回路部分の一例を示す回路図である。この回路部分
はラッチ回路に相当する。図5において、TG1,2は
トランスミッションゲート素子、Cは信号衝突箇所、C
LKAはTG1,2の一方のゲート電極へ入力される制
御信号、CLKBはTG1,2の他方のゲート電極へ入
力されるもう一つの制御信号、そして、INはこの回路
部分に入力される入力信号である。以下において、図5
に示される回路部分を例として、図4に示した論理シミ
ュレーション装置の動作を説明する。
【0041】信号衝突箇所抽出部4では、図5に示した
信号衝突箇所Cの周辺に位置する回路素子であるTG
1,2、およびINV4,5が抽出される。したがっ
て、信号衝突箇所周辺ノード21は、これらのTG1,
2、INV4,5のノードを有している。回路シミュレ
ーション用部分回路図抽出部22では、信号衝突箇所周
辺ノード21にもとづいて、回路シミュレーション用回
路図データ33から、図5の回路部分に関する回路シミ
ュレーション用部分回路図データが抽出される。したが
って、回路シミュレーション部24が出力する回路シミ
ュレーション出力データ25は、図5の回路部分に関す
る回路シミュレーション結果を含んでいる。
信号衝突箇所Cの周辺に位置する回路素子であるTG
1,2、およびINV4,5が抽出される。したがっ
て、信号衝突箇所周辺ノード21は、これらのTG1,
2、INV4,5のノードを有している。回路シミュレ
ーション用部分回路図抽出部22では、信号衝突箇所周
辺ノード21にもとづいて、回路シミュレーション用回
路図データ33から、図5の回路部分に関する回路シミ
ュレーション用部分回路図データが抽出される。したが
って、回路シミュレーション部24が出力する回路シミ
ュレーション出力データ25は、図5の回路部分に関す
る回路シミュレーション結果を含んでいる。
【0042】図6は、図5の回路部分に関する回路シミ
ュレーションの結果を模式的に示すグラフである。TG
1、2はいずれも、制御信号CLKAと制御信号CLK
Bのいずれかがハイレベル(以下において「H」と略記
する)であるときに、入力信号を出力に通過させ、いず
れの制御信号もロウレベル(以下において「L」と略記
する)であるときに限って、入力と出力の間を遮断す
る。
ュレーションの結果を模式的に示すグラフである。TG
1、2はいずれも、制御信号CLKAと制御信号CLK
Bのいずれかがハイレベル(以下において「H」と略記
する)であるときに、入力信号を出力に通過させ、いず
れの制御信号もロウレベル(以下において「L」と略記
する)であるときに限って、入力と出力の間を遮断す
る。
【0043】したがって、入力信号INがLからHへと
変化した後、制御信号CLKA、CLKBの双方が短時
間(例えば2ナノ秒)にLとなるが、それまでラッチル
ープが保持していた信号はこのときに保持を解除され、
その後新たな保持信号へと移行する。このラッチ回路の
動作が正常であれば、遅延時間tで評価される立ち上が
りの速度は相当に速いものとなる。逆に、立ち上がりが
過度に緩慢であれば動作は異常と判断し得る。また、ラ
ッチ回路の動作が正常であれば、信号の変化量Vcは相
当に大きいものとなり、逆に変化量Vcが過度に小さけ
れば動作は異常と判断し得る。回路シミュレーション結
果検証部26は、これらのことを利用して図5の回路部
分の正常/異常を判定する。
変化した後、制御信号CLKA、CLKBの双方が短時
間(例えば2ナノ秒)にLとなるが、それまでラッチル
ープが保持していた信号はこのときに保持を解除され、
その後新たな保持信号へと移行する。このラッチ回路の
動作が正常であれば、遅延時間tで評価される立ち上が
りの速度は相当に速いものとなる。逆に、立ち上がりが
過度に緩慢であれば動作は異常と判断し得る。また、ラ
ッチ回路の動作が正常であれば、信号の変化量Vcは相
当に大きいものとなり、逆に変化量Vcが過度に小さけ
れば動作は異常と判断し得る。回路シミュレーション結
果検証部26は、これらのことを利用して図5の回路部
分の正常/異常を判定する。
【0044】すなわち、基準値データ27は図5の回路
部分における遅延時間tおよび変化量Vcと比較すべき
基準値を含んでおり、回路シミュレーション結果検証部
26では、遅延時間tが遅延時間の基準値tdよりも大
きい(すなわちt>td)か、または、変化量Vcが変
化量の基準値Vdよりも小さい(すなわちVc<Vd)
であれば、図5の回路部の動作は異常であると判断し、
異常信号を出力する。逆に、t≦tdであり、しかも、
Vc≧Vdである場合には、正常であると判断する。
部分における遅延時間tおよび変化量Vcと比較すべき
基準値を含んでおり、回路シミュレーション結果検証部
26では、遅延時間tが遅延時間の基準値tdよりも大
きい(すなわちt>td)か、または、変化量Vcが変
化量の基準値Vdよりも小さい(すなわちVc<Vd)
であれば、図5の回路部の動作は異常であると判断し、
異常信号を出力する。逆に、t≦tdであり、しかも、
Vc≧Vdである場合には、正常であると判断する。
【0045】基準値td、Vdには、回路部分の正常/
異常を判定するのに適切な値があらかじめ選ばれる。こ
のため、エラー信号は、図5の回路部分が正常に動作す
るか否かを正当に表現している。
異常を判定するのに適切な値があらかじめ選ばれる。こ
のため、エラー信号は、図5の回路部分が正常に動作す
るか否かを正当に表現している。
【0046】以上のように、この実施例の論理シミュレ
ーション装置では、論理回路図データ1に加えて、回路
シミュレーション用回路図データ33、および基準値デ
ータ27があらかじめ準備され、信号衝突箇所を含む回
路部分に限って回路シミュレーションが実行され、その
結果を基準値データ27と比較する。そのことによっ
て、信号衝突箇所を有する回路部分の動作が正常である
か否かの判定が行われる。エラー信号によってこの判定
の結果が直接に得られるので、信号衝突箇所の論理値が
正常に得られるか否かを論理シミュレーションの結果か
ら人手で間接的に判定するという手間を要しない。
ーション装置では、論理回路図データ1に加えて、回路
シミュレーション用回路図データ33、および基準値デ
ータ27があらかじめ準備され、信号衝突箇所を含む回
路部分に限って回路シミュレーションが実行され、その
結果を基準値データ27と比較する。そのことによっ
て、信号衝突箇所を有する回路部分の動作が正常である
か否かの判定が行われる。エラー信号によってこの判定
の結果が直接に得られるので、信号衝突箇所の論理値が
正常に得られるか否かを論理シミュレーションの結果か
ら人手で間接的に判定するという手間を要しない。
【0047】さらに、信号衝突箇所の周辺回路部分に限
って回路シミュレーションが行われるので、回路シミュ
レーションを検査対象回路全体に実行した場合に得られ
る高い精度での判定が、低コストで効率よく行われると
いう利点がある。
って回路シミュレーションが行われるので、回路シミュ
レーションを検査対象回路全体に実行した場合に得られ
る高い精度での判定が、低コストで効率よく行われると
いう利点がある。
【0048】<第4実施例>図7は、第4実施例の論理
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では、論理回路図データ1とは別にレイアウ
トデータ31を準備しておき、ドライブ素子サイズ抽出
部6はこのレイアウトデータ31からドライブ素子ノー
ド番号5に相当するドライブ素子のサイズを抽出する点
が第1実施例とは特徴的に異なる。このため第1実施例
とは異なり、論理回路図データ1には各回路素子のサイ
ズに関するデータは必要とされない。
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では、論理回路図データ1とは別にレイアウ
トデータ31を準備しておき、ドライブ素子サイズ抽出
部6はこのレイアウトデータ31からドライブ素子ノー
ド番号5に相当するドライブ素子のサイズを抽出する点
が第1実施例とは特徴的に異なる。このため第1実施例
とは異なり、論理回路図データ1には各回路素子のサイ
ズに関するデータは必要とされない。
【0049】レイアウトデータ31は、回路設計上、回
路パターンを設計するという設計の下流段階(下流設計
レベル)で必然的に作成されるものであり、しかも、最
終的に確定された回路素子のサイズに関する情報が盛り
込まれている。この実施例の装置は、回路素子のサイズ
に関するデータを新たに作成することなく、一連の回路
設計の流れのなかで必然的に生じるレイアウトデータ3
1を用いるので、回路の検証に要する手間を省くことが
できる。しかも、レイアウトデータ31は最終的に確定
された回路素子のサイズに関する情報を有するので、こ
の実施例の装置を用いることによって、最終的に確定さ
れた回路についての検証が可能である。すなわち、検証
結果の精度、信頼度が高いという利点がある。
路パターンを設計するという設計の下流段階(下流設計
レベル)で必然的に作成されるものであり、しかも、最
終的に確定された回路素子のサイズに関する情報が盛り
込まれている。この実施例の装置は、回路素子のサイズ
に関するデータを新たに作成することなく、一連の回路
設計の流れのなかで必然的に生じるレイアウトデータ3
1を用いるので、回路の検証に要する手間を省くことが
できる。しかも、レイアウトデータ31は最終的に確定
された回路素子のサイズに関する情報を有するので、こ
の実施例の装置を用いることによって、最終的に確定さ
れた回路についての検証が可能である。すなわち、検証
結果の精度、信頼度が高いという利点がある。
【0050】<第5実施例>図8は、第5実施例の論理
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では、第3実施例において回路シミュレーシ
ョン用回路図データ33の代わりにレイアウトデータ3
1が準備され、回路シミュレーション用部分回路図抽出
部22は、このレイアウトデータ31の中から信号衝突
箇所周辺ノード21に対応した回路素子で構成される回
路部分のデータを抜き出し、回路シミュレーション用部
分回路図を作成して出力する。
シミュレーション装置の構成を示すブロック図である。
この実施例では、第3実施例において回路シミュレーシ
ョン用回路図データ33の代わりにレイアウトデータ3
1が準備され、回路シミュレーション用部分回路図抽出
部22は、このレイアウトデータ31の中から信号衝突
箇所周辺ノード21に対応した回路素子で構成される回
路部分のデータを抜き出し、回路シミュレーション用部
分回路図を作成して出力する。
【0051】この実施例の装置は、回路シミュレーショ
ン用回路図データ33を新たに作成することなく、一連
の回路設計の流れのなかで必然的に生じるレイアウトデ
ータ31を用いるので、回路の検証に要する手間を省く
ことができる。しかも、レイアウトデータ31は最終的
に確定された素子の特性、サイズ等に関する情報を有す
るので、この実施例の装置を用いることによって、最終
的に確定された回路についての検証が可能である。すな
わち、検証結果の精度、信頼度が高いという利点があ
る。
ン用回路図データ33を新たに作成することなく、一連
の回路設計の流れのなかで必然的に生じるレイアウトデ
ータ31を用いるので、回路の検証に要する手間を省く
ことができる。しかも、レイアウトデータ31は最終的
に確定された素子の特性、サイズ等に関する情報を有す
るので、この実施例の装置を用いることによって、最終
的に確定された回路についての検証が可能である。すな
わち、検証結果の精度、信頼度が高いという利点があ
る。
【0052】<変形例>第5実施例において、論理回路
図データ1およびレイアウトデータ31とともに、回路
シミュレーション用回路図データ33をも準備してお
き、回路シミュレーション用部分回路図抽出部22は、
レイアウトデータ31と回路シミュレーション用回路図
データ33の双方から回路シミュレーション用部分回路
図データ23を作成してもよい。
図データ1およびレイアウトデータ31とともに、回路
シミュレーション用回路図データ33をも準備してお
き、回路シミュレーション用部分回路図抽出部22は、
レイアウトデータ31と回路シミュレーション用回路図
データ33の双方から回路シミュレーション用部分回路
図データ23を作成してもよい。
【0053】すなわち、回路シミュレーション用部分回
路図抽出部22は、回路シミュレーション用回路図デー
タ33の中から信号衝突箇所周辺ノード21に相当する
回路素子で構成される回路部分の回路図データを抜き出
すとともに、特に、それらの回路素子のサイズに関する
データだけはレイアウトデータ31から抜き出す。そう
することによって、回路シミュレーション用部分回路図
抽出部22における回路シミュレーション用部分回路図
データ23を作成する処理が簡単かつ短時間で行い得
る。また、第5実施例と同様に、最終的に確定された回
路素子のサイズにもとづいて検証が行われるので、検証
結果の精度、信頼度が高いという利点がある。
路図抽出部22は、回路シミュレーション用回路図デー
タ33の中から信号衝突箇所周辺ノード21に相当する
回路素子で構成される回路部分の回路図データを抜き出
すとともに、特に、それらの回路素子のサイズに関する
データだけはレイアウトデータ31から抜き出す。そう
することによって、回路シミュレーション用部分回路図
抽出部22における回路シミュレーション用部分回路図
データ23を作成する処理が簡単かつ短時間で行い得
る。また、第5実施例と同様に、最終的に確定された回
路素子のサイズにもとづいて検証が行われるので、検証
結果の精度、信頼度が高いという利点がある。
【0054】
【発明の効果】請求項1に記載の論理シミュレーション
装置では、信号衝突箇所における論理値が正常に得られ
るか否かが判定され、その結果が出力されるので、論理
シミュレーションの結果から信号衝突箇所の論理値が正
常に得られるか否かを人手で間接的に判定する手間を要
しない。
装置では、信号衝突箇所における論理値が正常に得られ
るか否かが判定され、その結果が出力されるので、論理
シミュレーションの結果から信号衝突箇所の論理値が正
常に得られるか否かを人手で間接的に判定する手間を要
しない。
【0055】請求項2に記載の論理シミュレーション装
置では、信号衝突箇所における論理値が正常に得られる
か否かを判定するのにβ値が用いられ、しかもこのβ値
は、信号衝突箇所に関わる回路素子のサイズに関するデ
ータにもとづいて算出されるので、判定の精度が高いと
いう利点がある。
置では、信号衝突箇所における論理値が正常に得られる
か否かを判定するのにβ値が用いられ、しかもこのβ値
は、信号衝突箇所に関わる回路素子のサイズに関するデ
ータにもとづいて算出されるので、判定の精度が高いと
いう利点がある。
【0056】請求項3に記載の論理シミュレーション装
置では、回路素子のサイズに関するデータを使用するこ
となく、信号強度に関するデータを使用するので、短時
間でシミュレーションを実行することができる。また、
素子サイズに関するデータを準備する必要がなく、より
単純な信号強度に関するデータを準備すればよいので、
データの準備に要する手間も簡略化される。
置では、回路素子のサイズに関するデータを使用するこ
となく、信号強度に関するデータを使用するので、短時
間でシミュレーションを実行することができる。また、
素子サイズに関するデータを準備する必要がなく、より
単純な信号強度に関するデータを準備すればよいので、
データの準備に要する手間も簡略化される。
【0057】請求項4に記載の論理シミュレーション装
置では、信号衝突箇所を含む回路部分に対して回路シミ
ュレーションが行われるので、回路シミュレーションを
検証対象回路全体に実行した場合に得られる高い精度で
の判定が、低コストで効率よく行われるという利点があ
る。
置では、信号衝突箇所を含む回路部分に対して回路シミ
ュレーションが行われるので、回路シミュレーションを
検証対象回路全体に実行した場合に得られる高い精度で
の判定が、低コストで効率よく行われるという利点があ
る。
【0058】請求項5に記載の論理シミュレーション装
置では、回路素子のサイズに関するデータを新たに作成
することなく、一連の回路設計の流れのなかで必然的に
生じるレイアウトデータを用いるので、回路の検証に要
する手間を省くことができる。しかも、レイアウトデー
タは最終的に確定された素子サイズに関する情報を有す
るので、最終的に確定された回路についての検証が行わ
れる。すなわち、検証の効率がよく、しかも、検証結果
の精度、信頼度が高いという効果がある。
置では、回路素子のサイズに関するデータを新たに作成
することなく、一連の回路設計の流れのなかで必然的に
生じるレイアウトデータを用いるので、回路の検証に要
する手間を省くことができる。しかも、レイアウトデー
タは最終的に確定された素子サイズに関する情報を有す
るので、最終的に確定された回路についての検証が行わ
れる。すなわち、検証の効率がよく、しかも、検証結果
の精度、信頼度が高いという効果がある。
【図1】 第1実施例の論理シミュレーション装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図2】 第1実施例の論理シミュレーション装置の検
証対象回路における信号衝突箇所を含む回路部分の一例
を示す回路図である。
証対象回路における信号衝突箇所を含む回路部分の一例
を示す回路図である。
【図3】 第2実施例の論理シミュレーション装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図4】 第3実施例の論理シミュレーション装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図5】 第3実施例の論理シミュレーション装置の検
証対象回路における信号衝突箇所を含む回路部分の一例
を示す回路図である。
証対象回路における信号衝突箇所を含む回路部分の一例
を示す回路図である。
【図6】 第3実施例の論理シミュレーション装置の動
作を説明するグラフである。
作を説明するグラフである。
【図7】 第4実施例の論理シミュレーション装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図8】 第5実施例の論理シミュレーション装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図9】 従来の論理シミュレーション装置のブロック
図である。
図である。
13,C 信号衝突箇所、Y 論理値、XA,XB 出力
論理値。
論理値。
Claims (5)
- 【請求項1】 検証対象回路の論理シミュレーションを
実行する論理シミュレーション装置において、前記検証
対象回路内に存在する信号衝突箇所において正常な論理
値が得られるか否かを判定するとともにその結果を出力
する判定手段を備えることを特徴とする論理シミュレー
ション装置。 - 【請求項2】 前記判定手段が、前記信号衝突箇所に信
号を出力する回路素子のサイズに関するデータにもとづ
いて当該回路素子のβ値を算出し、さらに、当該回路素
子の中でラッチ回路の信号保持ループを構成する回路素
子のβ値が他の回路素子のβ値以上であるか否かにもと
づいて、前記信号衝突箇所における論理値が正常に得ら
れるか否かを判定することを特徴とする請求項1に記載
の論理シミュレーション装置。 - 【請求項3】 前記判定手段が、前記信号衝突箇所に信
号を出力する回路素子の出力論理値を算出するととも
に、当該回路素子の出力強度に関するデータにもとづい
て前記信号衝突箇所の論理値を算出し、さらに、前記回
路素子の中でラッチ回路の信号保持ループを構成する回
路素子の出力論理値と前記信号衝突箇所の論理値とを比
較し、双方の論理値が一致するか否かにもとづいて、前
記信号衝突箇所における論理値が正常に得られるか否か
を判定することを特徴とする請求項1に記載の論理シミ
ュレーション装置。 - 【請求項4】 前記判定手段が、前記検証対象回路中の
信号衝突箇所を含む回路部分に対して、当該回路部分を
構成する回路素子のサイズに関するデータを含む当該回
路素子の特性に関するデータにもとづいて、回路シミュ
レーションを実行するとともに、当該回路シミュレーシ
ョンによって得られる前記回路部分の動作特性を表現す
る変数を、あらかじめ設定される所定の基準値と比較
し、その結果にもとづいて、前記信号衝突箇所における
論理値が正常に得られるか否かを判定することを特徴と
する請求項1に記載の論理シミュレーション装置。 - 【請求項5】 前記回路素子のサイズに関する前記デー
タが、レイアウトデータから得られることを特徴とする
請求項2または請求項4に記載の論理シミュレーション
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6167914A JPH0830657A (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 論理シミュレーション装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6167914A JPH0830657A (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 論理シミュレーション装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0830657A true JPH0830657A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=15858396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6167914A Pending JPH0830657A (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 論理シミュレーション装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0830657A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5931963A (en) * | 1996-11-28 | 1999-08-03 | Mitsubishi Electric Semiconductor Software Co., Ltd. | Fault simulation apparatus |
-
1994
- 1994-07-20 JP JP6167914A patent/JPH0830657A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5931963A (en) * | 1996-11-28 | 1999-08-03 | Mitsubishi Electric Semiconductor Software Co., Ltd. | Fault simulation apparatus |
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