JPH0830795A - マスクデ―タのアウトライン化装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、複雑な画像に対しても２次元画像に
展開することなくアウトライン情報を最小のメモリ―消
費量で高速度に抽出して、画像が変倍、変形されても画
像クリッピングマスクがジャギ―にならず滑らかに表現
できるようにマスクデ―タをアウトラインで表記するこ
とを最も主要な目的としている。 【構成】本発明は、ランレングス圧縮された切り抜きマ
スクデ―タをアウトラインで表記する装置において、ラ
ンレングス圧縮された切り抜きマスクデ―タを、始点カ
ラム座標、終点カラム座標、ライン座標、始点通過フラ
グ、終点通過フラグに変換し正規化する正規化手段と、
正規化手段により正規化された座標情報と通過フラグの
状態を調べることにより２次元の画像に復元しないで展
開アウトライン情報を抽出する抽出手段とを備えて成る
ことを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コンピュ―タ上で画像
を切り抜いて表示、印刷するために作成された切り抜き
マスクデ―タをアウトライン表記する装置に係り、特に
ランレングス圧縮されて画像とは別に保存されている切
り抜きマスクデ―タに対して、ＥＰＳＦ等で規定されて
いる画像のクリッピングパスの表記方法であるアウトラ
インデ―タに変換し、画像が変倍、変形されても画像ク
リッピングマスクがジャギ―にならず滑らかに表現が可
能なようにマスクデ―タをアウトラインで表記できるよ
うにしたマスクデ―タのアウトライン化装置に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、コンピュ―タ上で画像の切り抜
きマスクデータを作成する場合には、画像をモニタ―ス
クリ―ン上に表示して、オ―バ―レイ等の画像プレ―ン
とは別プレ―ン上で、不必要な部分をある単色の画像で
塗りつぶしを行なって２値画像を作成し、最終的にこの
２値画像のマスクデ―タと画像デ―タの各画素を論理演
算することにより、切り抜き画像が得られることにな
る。

【０００３】ところが、このマスクデ―タの記述は、処
理系によって一定ではなく、ＤＴＰで一般に用いられる
ＥＰＳＦフォ―マット等では、マスクデ―タはクリッピ
ングパスというアウトラインデ―タで記述することにな
っており、アウトラインデ―タの並び方等によってアウ
トラインデ―タで示された閉領域の内側が、下の画像を
透過させるのか、それともマスクするのかを指定するよ
うになっている。

【０００４】そして、このようにアウトラインでクリッ
ピングパスという形でマスクデ―タを扱えば、画像を変
倍、変形した時にも、マスクを滑らかに変倍、変形する
ことが可能である。

【０００５】一方、２値画像のマスクデ―タは、ベタ部
分が多いため、一般的にはランレングス圧縮という圧縮
方法で、ベタの始まる始点座標とそのベタが続く長さと
いう形で表わされることが多い。

【０００６】そして、この２値画像のマスクデ―タをア
ウトライン化する手法としては、例えば一度２次元の元
画像に復元した状態で、８×８程度のアパチャ―を用い
て微小領域で輪郭を抽出し、微小ベクトルをつないでア
ウトライン化する方法や、あるいは“特開昭６２−６９
３６９号公報”に示されるように、ランと呼ばれている
ランレングスの一つのデ―タに対して、接続関係がある
たびに新生ラン情報、リンク情報デ―タを作って、全ラ
ンレングスデ―タの接続マップを一度作り出し、そのマ
ップを用いて特定色の輪郭を抽出していくという方法が
ある。

【０００７】しかしながら、上記“特開昭６２−６９３
６９号公報”に示されるような方法の場合には、目的が
画像のベクトル表現であり、隣合うランデ―タがどのラ
ンデ―タにつながるかが記述されるだけで、アウトライ
ンにした場合に入れ子状態になるド―ナツの場合等に、
一番外側のアウトラインは内側が透過で下の画像が使わ
れ、内側のド―ナツの穴のアウトラインは内側がマスク
という情報が必要になるのであるが、“特開昭６２−６
９３６９号公報”の方法では、各ランの始点、終点がど
のランの始点、もしくは終点にどうつながるかについて
の方法は記述されておらず、単にどのランにつながるか
だけ記述できるようになっており、結局一番外側のアウ
トラインのみしかトレ―スできないことを示している。

【０００８】これは、“特開昭６２−６９３６９号公
報”の方法が、もともと画像を切り絵で重ね貼りして絵
を作るために提案されたものであり、切り絵の一つの部
品を切り出すことしかできず、８の字やド―ナツや梯子
等のように、切り抜きマスクが入れ子になっていくつも
内包されている場合等に、入れ子になって内包されてい
るアウトラインのトレ―ス、トレ―スしたアウトライン
の内側がマスクなのか透過なのかを判断することは考慮
されていないことによるものである。

【０００９】そして、もしこれを実現しようとすると、
“特開昭６２−６９３６９号公報”の方法とは全く別の
処理を行なわなければならず、リンク情報、新生ラン情
報が大量に必要なこと等から、切り抜きマスクデータを
アウトライン化するには、メモリ―も大量に消費される
し、処理時間も長くかかってしまうという問題がある。

【００１０】また、切り抜きマスク画像を一度２次元の
画像に復元する方法では、印刷用のデ―タの場合、切り
抜きマスクデ―タの解像度が９８ｄｏｔ／ｍｍ程度まで
使用されるため、２値であっても１０ｃｍ×１０ｃｍの
画像サイズで１２ＭＢの容量になってしまい、これを上
記アパチャ―でスキャンして、短いベクタ―を保存しつ
つ最後にベクタ―をつないで行なった場合には、大量の
作業用メモリ―の消費と処理速度の低下を招いてしまう
というのが実情である。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
切り抜きマスクデータをアウトライン化する方法におい
ては、メモリ―が大量に消費されるし、処理時間も長く
かかってしまうという問題があった。

【００１２】本発明は、上記のような問題点を解消する
ために成されたもので、複雑な画像に対しても２次元画
像に展開することなくアウトライン情報を最小のメモリ
―消費量で高速度に抽出して、画像が変倍、変形されて
も画像クリッピングマスクがジャギ―にならず滑らかに
表現できるようにマスクデ―タをアウトラインで表記す
ることが可能なマスクデ―タのアウトライン化装置を提
供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明では、ランレングス圧縮された切り抜きマス
クデ―タをアウトラインで表記する装置において、ラン
レングス圧縮された切り抜きマスクデ―タを、始点カラ
ム座標、終点カラム座標、ライン座標、始点通過フラ
グ、終点通過フラグに変換し正規化する正規化手段と、
正規化手段により正規化された座標情報と通過フラグの
状態を調べることにより、２次元の画像に復元しないで
ベクトル状態のままでアウトライン情報を抽出する抽出
手段とを備えて成る。

【００１４】ここで、特に上記正規化手段としては、ラ
ンレングスデ―タの透過ベクタ―を示すランレングスデ
―タのみを抽出する手段と、当該抽出手段により抽出さ
れたランレングス透過ベクタ―に、始点座標、終点座
標、ライン座標、始点通過フラグと終点通過フラグを追
加し正規化する手段とから成り、また上記抽出手段とし
ては、各ランレングス透過ベクタ―の前後に重なるラン
レングス透過ベクタ―を判断して連続するアウトライン
の座標を出力する手段から成る。

【００１５】さらに、上記座標を出力する手段として
は、一度通過したランレングス透過ベクタ―の始点もし
くは終点に始点通過フラグもしくは終点通過フラグを立
てて一つのアウトラインのトレ―スが終了した時点で各
ランレングス透過ベクタ―の通過フラグをスキャンして
次にトレ―スすべきアウトラインの最初のランレングス
透過ベクタ―を知る手段と、通過フラグの状態からアウ
トラインが入れ子状態になっているかどうかとアウトラ
インの内部が透過であるかマスクであるかを判断する手
段とから成る。

【００１６】

【作用】従って、本発明のマスクデ―タのアウトライン
化装置においては、２次元画像に復元することなく、ラ
ンレングスマスクデ―タをアウトライン化することがで
き、しかも入れ子状態のような複雑なものであっても、
処理が可能である。

【００１７】具体的には、ランベクトルのうち透過ベク
トル部分だけを取り出し、座標情報と共に始点、終点の
通過フラグを設けて正規化し、一度トレ―スされた点は
フラグを立てて２度とトレ―スされないようにすると共
に、一つのトレ―スが終了した場合に全ての通過フラグ
の組み合わせをスキャンして、次にトレ―スするアウト
ラインが入れ子状態なのか、内部が透過であるのか、マ
スクであるのかを判断することにより、正規化ベクトル
情報のみで、すなわち最小のメモリ―使用量でかつ高速
度にアウトライントレ―スを行ないつつ、同時に作成さ
れたアウトラインの属性まで求めることができる。

【００１８】これにより、デザイン画像をアウトライン
化してスケ―ラブルデ―タに展開したり、ＥＰＳＦの画
像のクリッピングパスに変換したり、変倍、変形して
も、形の崩れない美しい曲線を得ることができる。

【００１９】

【実施例】本発明では、ランレングスデ―タで透過を示
すベクトルのみ抽出し、カラム方向の始点座標、終点座
標、ライン座標、始点通過フラグ、終点通過フラグから
なる正規化デ―タ表現のランレングスデ―タに変換し、
始点をもし下方向にトレ―スしたらどんな場合でも、始
点は下方向に、終点は上方向にトレ―スされることに注
目して、始点フラグ、終点フラグの組み合わせが未通過
のフラグを０、通過済のフラグを１としたら、（０，
０）のランレングスデ―タの始点からスタ―トし、下方
向で現在のランレングスデ―タが示すランベクトルに重
なるランベクトルがあるかどうかを判断しながらトレ―
スを行ない、下に重なるランベクトルがなければ上方向
のランベクトルトレ―スに切り替え、同様に上方向に重
なるランベクトルがあるかどうかで同様にトレ―スを行
ない、通過した点はフラグを１セットしながらその座標
をメモリ―に順次書き出していき、スタ―ト地点に戻れ
ば一つのアウトライントレ―スが終了する。

【００２０】引き続き、始点通過フラグと終点通過フラ
グをスキャンして、組み合わせとして（０，０）が残っ
ていれば、その最初のランベクトルの始点から上記同様
のスキャンを開始する。

【００２１】この場合、始点通過フラグと終点通過フラ
グをスキャンして、組み合わせが（０，０）から始まる
トレ―スは、内側が透過であるアウトラインであること
を示し、始点通過フラグと終点通過フラグをスキャンし
て、組み合わせが（０，０）がなくなるまでトレ―スを
続け、次に始点通過フラグと終点通過フラグをスキャン
して、組み合わせが（０，１）もしくは（１，０）であ
るランベクトルがあるかをスキャンする。

【００２２】そして、始点通過フラグと終点通過フラグ
をスキャンして、組み合わせが（０，１）もしくは
（１，０）というランベクトルは、０がついている側に
内側がマスクであるアウトラインで、内部が透過のアウ
トラインに内包されたアウトラインであることを示す。

【００２３】以上の処理を、全て始点通過フラグと終点
通過フラグの組み合わせが、（１，１）になるまで繰り
返すことにより、全ての入れ子を含んだアウトラインと
その属性情報を同時に抽出するものである。

【００２４】以下、上記のような考え方に基づく本発明
の一実施例について、図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本実施例によるマスクデ―タのアウトライン化
装置の構成例を示すハードブロック図である。

【００２５】すなわち、本実施例のマスクデ―タのアウ
トライン化装置は、図１に示すように、データ入力装置
１と、記憶装置２と、表示装置３と、中央処理装置（Ｃ
ＰＵ）４と、データ出力装置５とから構成している。

【００２６】ここで、データ入力装置１は、ランレング
ス圧縮された切り抜きマスクデ―タを読み込むためのも
のである。また、記憶装置２は、例えばハードディスク
からなり、マスクデ―タ、および中央処理装置４で実行
するためのマスクデ―タのアウトライン化処理機能を持
つプログラムを記憶しているものである。

【００２７】すなわち、このアウトライン化処理プログ
ラムは、 （ａ）ランレングス圧縮された切り抜きマスクデ―タ
を、始点カラム座標、終点カラム座標、ライン座標、始
点通過フラグ、終点通過フラグに変換し正規化する正規
化機能 （ｂ）正規化機能により正規化された座標情報と通過フ
ラグの状態を調べることにより、一度も２次元の画像に
復元しないでベクトル状態のままでアウトライン情報を
抽出する抽出機能 を、プログラムとして記憶しているものである。

【００２８】ここで、正規化機能としては、ランレング
スデ―タの透過ベクタ―を示すランレングスデ―タのみ
を抽出する機能と、この抽出機能により抽出されたラン
レングス透過ベクタ―に、始点座標、終点座標、ライ
ン、始点通過フラグと終点通過フラグを追加し正規化す
る機能とから成り、また抽出機能としては、各ランレン
グス透過ベクタ―の前後に重なるランレングス透過ベク
タ―を判断して連続するアウトラインの座標を出力する
機能から成る。

【００２９】さらに、座標を出力する機能としては、一
度通過したランレングス透過ベクタ―の始点もしくは終
点に始点通過フラグもしくは終点通過フラグを立てて一
つのアウトラインのトレ―スが終了した時点で各ランレ
ングス透過ベクタ―の通過フラグをスキャンして次にト
レ―スすべきアウトラインの最初のランレングス透過ベ
クタ―を知る機能と、通過フラグの状態からアウトライ
ンが入れ子状態になっているかどうかとアウトラインの
内部が透過であるかマスクであるかを判断する機能とか
ら成る。

【００３０】さらに、記憶装置２は、実行中のプログラ
ム、データ入力装置１により読み込まれたマスクデ―タ
や、中央処理装置４で実行された処理結果のアウトライ
ンデータを、一時的に保存するためのＲＡＭを含む。

【００３１】一方、表示装置３は、メニュー画面、指示
画面、結果表示画面等の各種画面を表示し、オペレータ
とのインターフェースをとるためのものである。また、
中央処理装置４は、記憶装置２に記憶されたアウトライ
ン化処理プログラムを実行することにより、マスクデ―
タのアウトライン化処理を行なうものである。

【００３２】さらに、データ出力装置５は、中央処理装
置４で実行された処理結果のアウトラインデータを、後
処理系に出力するためのものである。次に、以上のよう
に構成した本実施例によるマスクデ―タのアウトライン
化装置における切り抜きマスクデ―タのアウトライン化
方法について、図２に示すフローチャートを用いながら
説明する。なお、図２は、本実施例の全体的な処理内容
を示すフローチャートである。

【００３３】まず、図３は、ラスタ―状態での切り抜き
マスクデータの一例を示す概念図である。すなわち、図
３において、破線１−１で示される部分が透過を示すベ
クトルで、下にある画像が見えるようになり、また実線
１−２で示される部分がマスク部分で、下の画像は見え
ないように扱われる。１−４は、座標のスケ―ルであ
る。

【００３４】通常、マスクデ―タは、透過、マスクの２
つの状態のみを持つので、２値画像と同様な形で、ラス
タ―毎にランレングス圧縮された形で扱われる場合が多
い。一方、図４は、ランレングス圧縮された切り抜きマ
スクデ―タの一例を示す図であり、図３における１−３
ラインのデ―タをランレングス圧縮したものである。

【００３５】すなわち、図４において、ランレングス
は、状態を示すフラグと、そのデ―タが続く長さで示さ
れ、図３の１−３ラインでは１−４の座標スケ―ルで示
されるように、０から１００までがマスクで、１０１か
ら１２２までが透過、１２３から１３５までがマスク、
１３６から１６２が透過、１６３から３００までがマス
クとなっている。

【００３６】これをランレングス形式で示すと、図４に
示すようになり、２−１はマスクが１０１ドット分続く
ことを示し、２−２は透過が２３ドット分続くことを示
している。つまり、透過２−２の開始位置はマスク２−
１の最後の次という具合に、スタック式で計算して求め
られる。

【００３７】次に、上記のようにしてランレングス圧縮
された切り抜きマスクデ―タは、以下のようにしてアウ
トライン化される。すなわち、図２に示すように、ま
ず、データ入力装置１により、ランレングス圧縮された
切り抜きマスクデ―タ、すなわち生の状態のランレング
スデ―タが読み込まれる（ステップＳ８−１）。

【００３８】次に、中央処理装置４により、透過部分で
あることを示すランレングスのみが抽出される（ステッ
プＳ８−２）。次に、これを基に、透過ランレングスデ
―タが、始点カラム座標、終点カラム座標、ライン座
標、始点通過フラグ、終点通過フラグを持つ正規化ラン
レングスデ―タに正規化される（ステップＳ８−３）。

【００３９】まず、現在どの正規化ランレングスデ―タ
を指しているかを示すベクトルポインタ―ＶＰに０が代
入され（ステップＳ８−４）、ポインタ―が初期化され
る。次に、アウトライン属性が、内部が透過モ―ドにセ
ットされ（ステップＳ８−５）、ＶＰで示されるベクト
ルの始点からトレ―スが開始される（ステップＳ８−
６）。

【００４０】そして、一つのアウトラインのトレ―スが
終了したら、正規化ランレングスデ―タの通過フラグが
スキャンされて（ステップＳ８−７）、始点通過フラグ
と終点通過フラグの組み合わせが（０、０）であるもの
が探される（ステップＳ８−８）。

【００４１】この結果、もし始点通過フラグと終点通過
フラグの組み合わせとして（０、０）であるものが存在
すれば、まだ内部が透過のアウトラインが存在すること
を示しており、（０、０）を持つベクトルのうち、一番
若いインデックスを持つベクトルのインデックスがＶＰ
に代入され（ステップＳ８−９）、同様の処理が始点通
過フラグと終点通過フラグの組み合わせとして（０、
０）の組み合わせがなくなるまで続けられる。

【００４２】一方、上記において、始点通過フラグと終
点通過フラグの組み合わせとして（０、０）であるもの
がない場合には（ステップＳ８−８）、始点通過フラグ
と終点通過フラグの組み合わせとして（１、０）または
（０、１）のものがあるかどうかがスキャンされる（ス
テップＳ８−１０）。

【００４３】この結果、始点通過フラグと終点通過フラ
グの組み合わせとして（１、０）または（０、１）のも
のがなければ、全トレ―スが終了し、また存在すれば、
内部がマスクであるアウトラインが存在することを示
し、（１、０）または（０、１）を持つベクトルのう
ち、一番若いインデックスを持つベクトルのインデック
スがＶＰに代入されて（ステップＳ８−１１）、同様の
処理が始点通過フラグと終点通過フラグの組み合わせと
して（１、０）または（０、１）の組み合わせがなくな
るまで続けられる。

【００４４】そして、始点通過フラグと終点通過フラグ
の組み合わせとして（１、０）または（０、１）のベク
トルが全て無くなれば、その時点でトレ―スが終了す
る。次に、上記ステップＳ８−３における透過ランレン
グスデ―タの正規化について具体的に述べる。

【００４５】すなわち、アウトラインのトレ―スを行な
う場合、必要なのは画像の部分だけであるので、一度画
像の部分を示す透過ベクトルだけ抜き出し、同時に上記
のように生のランレングスデ―タでは、始点座標やライ
ン位置が含まれていないので、始点カラム座標、終点カ
ラム座標、ライン座標、始点通過フラグ、終点通過フラ
グに一度正規化して保存し直される。

【００４６】このようにすることにより、不要なマスク
部分のランレングス情報が破棄され、透過部分のマスク
デ―タだけ作り直すことにより透過部分の情報は増える
が、通常、マスク部分の方が領域が広い分だけ、全体の
メモリ―使用量は結果的に通常削減される。

【００４７】図５は、正規化されたランレングスデ―タ
の一例を示す概念図である。図５において、３−１が始
点カラム座標、３−２が終点カラム座標、３−３がライ
ン座標情報、３−４が始点通過フラグ、３−５が終点通
過フラグをそれぞれ示している。

【００４８】次に、上記ステップＳ８−６におけるにア
ウトラインのトレ―ス方法について、図６を用いて具体
的に述べる。アウトラインのトレ―スは、正規化された
透過ベクトルの始点カラム座標、終点カラム座標、ライ
ン座標から、現在作業中のベクトルの前後のラインで現
在の作業中ベクトルに重なっているかどうかで判定が行
なわれる。

【００４９】この場合、重なり判定は、現在作業中のベ
クトルの始点と終点のカラム座標の間に前後のラインに
ある透過ベクトルのうち、始点か終点がどちらかが入っ
ているかどうかだけで判定できる。

【００５０】すなわち、図６における６−２の位置が現
在の位置であるとすると、下方向に重なるベクトルがな
ければ無条件に折り返しで、次のアウトライン座標は現
在作業中のベクトルの終点に移り、トレ―ス方向は上に
なる。

【００５１】また、６−３の場合は、簡単なトレ―ス条
件であるが、現在作業中のベクトルの下側に重なるベク
トルから上を見て現在作業中のベクトルが一番左である
場合である。

【００５２】さらに、６−４の場合は、現在作業中の下
に重なるベクトルから上を見て現在作業中のベクトル以
外に上に重なるベクトルがあり、しかも現在作業中のベ
クトルがそのうちに一番左ではない場合である。

【００５３】さらにまた、６−５，６−６，６−７の上
方向トレ―スの場合は、上下左右が逆になっただけで、
上記６−２，６−３，６−４の場合と、その理屈は同様
である。

【００５４】すなわち、図６のトレ―ス方法において、
６−２は現在の位置より下に重なるランベクトルが無い
場合＝折り返し、６−３は現在の位置より下に重なるベ
クトルがある場合、そのベクトルから見て上に重なるベ
クトルのうち現在位置のベクトル（自分自身）が一番左
にある場合、６−４は現在の位置より下に重なるベクト
ルがある場合、それらのベクトルのうち一番左にあるベ
クトルから見て上に重なるベクトルのうち現在位置のベ
クトル（自分自身）が一番左でない場合、６−５は現在
の位置より上に重なるランベクトルが無い場合＝折り返
し、６−６は現在の位置より上に重なるベクトルがある
場合、そのベクトルから見て下に重なるベクトルのうち
現在位置のベクトル（自分自身）が一番右にある場合、
６−７は現在の位置より上に重なるベクトルがある場
合、それらのベクトルのうち一番右にあるベクトルから
見て下に重なるベクトルのうち現在位置のベクトル（自
分自身）が一番右でない場合をそれぞれ示している。

【００５５】以上のトレ―ス方法では、いつも現在作業
中のベクトルのＩＤ（始点カラム、終点カラム、ライン
座標）とトレ―ス方向が現在何かを常に参照するだけ
で、現在作業中のベクトルの前後の１ラインのデ―タを
処理するだけでトレ―スが行なえるので、処理速度は大
変高速であり、メモリ―使用量も極めて少なくて済むと
いうメリットがある。

【００５６】次に、図７は上記図６を用いて説明したト
レ―ス原理をフロ―チャ―トで示したもので、正規化さ
れたランレングス透過ベクトルデ―タから一つのアウト
ラインをトレ―スする過程を示している。なお、図７に
おいて、ステップＳ７−１，…，ステップＳ７−１７
は、各処理工程をそれぞれ示している。

【００５７】すなわち、まず、これからスタ―トする始
点のベクトルのポインタ―ＶＰがセットされる（ステッ
プＳ７−１）。次に、始点カラム座標、ライン座標がメ
モリ―に出力されて、始点通過フラグがセットされ（ス
テップＳ７−２）、トレ―ス方向が下向きにセットされ
る（ステップＳ７−３）。

【００５８】次に、ＶＰで示される現在作業中のベクト
ルの下に重なるベクトルがあるかどうかが判断される
（ステップＳ７−５）。その結果、もし下で重なるベク
トルで一番左のベクトルから上に重なるベクトルを見
て、ＶＰで示される現在作業中のベクトルが一番左であ
れば（ステップＳ７−６）、次のアウトライン座標とし
て上記ＶＰで示される現在作業中のベクトルの下で重な
るベクトルで一番左のベクトルの始点が出力されて、始
点通過フラグがセットされる（ステップＳ７−７）。

【００５９】また、もし下で重なるベクトルで一番左の
ベクトルから上に重なるベクトルを見て、ＶＰで示され
る現在作業中のベクトルが一番左でなければ、ＶＰで示
される現在作業中のベクトルと同じライン上にある一つ
左のベクトルの終点が、次のアウトラインの座標として
終点カラム座標、ライン座標メモリ―に出力されて、終
点通過フラグがセットされ（ステップＳ７−８）、トレ
―ス方向が上向きにセットされる（ステップＳ７−１
０）。

【００６０】一方、トレ―ス方向が上に変わったなら
ば、今度は各ベクトルの終点がトレ―スの基準となり、
ＶＰで示される現在作業中のベクトルから上に重なるベ
クトルがあるかないかが判断されていく。

【００６１】すなわち、下方向の場合同様に、ＶＰで示
される現在作業中のベクトルの上に重なるベクトルがあ
るかどうかが判断される（ステップＳ７−１１）。その
結果、もし上で重なるベクトルで一番右のベクトルから
下に重なるベクトルを見て、ＶＰで示される現在作業中
のベクトルが一番右であれば（ステップＳ７−１２）、
次のアウトライン座標として上記ＶＰで示される現在作
業中のベクトルの上で重なるベクトルで一番右のベクト
ルの終点が出力されて、終点通過フラグがセットされる
（ステップＳ７−１３）。

【００６２】また、もし上で重なるベクトルで一番右の
ベクトルから下に重なるベクトルを見て、ＶＰで示され
る現在作業中のベクトルが一番右でなければ、ＶＰで示
される現在作業中のベクトルと同じライン上にある一つ
右のベクトルの始点が、次のアウトラインの座標として
始点カラム座標、ライン座標メモリ―に出力されて、始
点通過フラグがセットされて（ステップＳ７−１５）、
トレ―ス方向が下向きにセットされる（ステップＳ７−
１６）。

【００６３】一方、もしアウトラインの座標が始点に戻
ったならば、一つのアウトライントレ―スが終了する
（ステップＳ７−１７）。図８は、切り抜きマスクデー
タのトレ―スの一例を示す概念図である。

【００６４】図８において、、ｖ１，ｖ２…で示される
ベクトルが、透過ベクトルを仮想的に２次元平面にマッ
ピングした時のものであり、切り抜きマスクデータのア
ウトラインデ―タとしては、４−１，４−２，４−３，
４−４，４−５に示すように、独立したデ―タが必要と
なる。

【００６５】すなわち、ＥＰＳＦ等のフォ―マットによ
れば、図中のアウトラインの方向を示すように、アウト
ラインの中が透過を示すアウトラインは反時計回り、ア
ウトラインの中がマスクを示すアウトラインであれば時
計回りであることが必要であり、後処理系に存在しない
ためにも、アウトラインの属性は判別する必要がある。

【００６６】図８中では、４−１，４−２，４−５が内
部が透過で、４−３，４−４が内部がマスクであるとい
う識別を行なわなければならない。次に、入れ子になっ
たマスクデ―タをトレ―スした場合の通過フラグの遷移
にについて、図９を用いて説明する。

【００６７】図９において、５−１は一番外側のアウト
ライン５−４のトレ―スが終了した時の状態で、トレ―
スは始点をいつも下向きにトレ―スするという論理で反
時計回りのアウトラインが生成されたとする。一度通過
した点はフラグが立っており、”１”で示してあり、”
０”は未だ未通過であることを示している。

【００６８】このように、内部が入れ子になっている場
合には、ある一番外側に始点を持つ透過ベクトルでも、
終点が未通過である状態が発生する。次に、一つのトレ
―スが終了した時点で、透過ベクトルの通過フラグがス
キャンされ、始点通過フラグと終点通過フラグの組み合
わせとして（０，０）であるものが探される。

【００６９】その結果、始点通過フラグと終点通過フラ
グの組み合わせとして（０，０）であるものが存在すれ
ば、それは５−５に示すような内部が透過であるアウト
ラインであることを示しており、これは入れ子の場合で
も図８の４−１に示すように独立した場合でも適用でき
る。

【００７０】このようにして、始点通過フラグと終点通
過フラグの組み合わせとして（０，０）の通過フラグが
全て無くなるまでトレ―スが繰り返されると、入れ子が
ある場合に５−２に示す状態のように、（１，０）と
（０，１）を持つベクトルのみが残ることになり、次の
アウトライントレ―スは５−６に示すように、内部がマ
スクであることが判明する。

【００７１】また、図８でも明らかであるが、各ベクト
ルの始点（ベクトルの左端）は下方向にトレ―スすると
いうル―ルにすれば、閉図形であるので終点は上方向の
トレ―スとなり、内部が透過であれば反時計回りのアウ
トラインとなり、入れ子で内部がマスクの場合には、論
理反転で時計回りのアウトラインが作成できる。

【００７２】以上のような方法を用いることにより、通
過フラグから次にトレ―スするアウトラインの属性は簡
単に知ることができ、トレ―ス結果も時計回り、反時計
回りと、自動的にル―ル付けすることができる。

【００７３】上述したように、本実施例によるマスクデ
―タのアウトライン化装置においては、ランレングスデ
―タで透過を示すベクトルのみ抽出し、カラム方向の始
点座標、終点座標、ライン座標、始点通過フラグ、終点
通過フラグからなる正規化デ―タ表現のランレングスデ
―タに変換し、始点をもし下方向にトレ―スしたらどん
な場合でも、始点は下方向に、終点は上方向にトレ―ス
されることに注目して、始点フラグ、終点フラグの組み
合わせが未通過のフラグを０、通過済のフラグを１とし
たら、（０，０）のランレングスデ―タの始点からスタ
―トし、下方向で現在のランレングスデ―タが示すラン
ベクトルに重なるランベクトルがあるかどうかを判断し
ながらトレ―スを行ない、下に重なるランベクトルがな
ければ上方向のランベクトルトレ―スに切り替え、同様
に上方向に重なるランベクトルがあるかどうかで同様に
トレ―スを行ない、通過した点はフラグを１セットしな
がらその座標をメモリ―に順次書き出していき、スタ―
ト地点に戻った時点で一つのアウトライントレ―スを終
了し、引き続き、始点通過フラグと終点通過フラグをス
キャンして、組み合わせとして（０，０）が残っていれ
ば、その最初のランベクトルの始点から上記同様のスキ
ャンを開始し、この場合始点通過フラグと終点通過フラ
グをスキャンして、組み合わせが（０，０）から始まる
トレ―スは、内側が透過であるアウトラインであること
を示し、始点通過フラグと終点通過フラグをスキャンし
て、組み合わせが（０，０）がなくなるまでトレ―スを
続け、次に始点通過フラグと終点通過フラグをスキャン
して、組み合わせが（０，１）もしくは（１，０）であ
るランベクトルがあるかをスキャンし、始点通過フラグ
と終点通過フラグをスキャンして、組み合わせが（０，
１）もしくは（１，０）というランベクトルは、０がつ
いている側に内側がマスクであるアウトラインで、内部
が透過のアウトラインに内包されたアウトラインである
ことを示し、以上の処理を、全て始点通過フラグと終点
通過フラグの組み合わせが、（１，１）になるまで繰り
返すことにより、全ての入れ子を含んだアウトラインと
その属性情報を同時に抽出するようにしたものである。

【００７４】従って、ランレングス圧縮された切り抜き
マスクデ―タの透過ベクタ―だけを抽出してデ―タ量を
削減した後正規化し、複雑な画像に対しても２次元画像
に展開することなく、ランデ―タのリンク情報等を一度
も作成することなく、ダイレクトにアウトライン情報、
アウトラインの内側が透過かマスクかを、一度に最小の
メモリ―消費量で高速に抽出することができる、すなわ
ちランレングス圧縮された切り抜きマスクデ―タを、最
も少ないメモリ―使用量で高速度に、しかも一度にアウ
トライン属性を得ながら、どのような複雑な入れ子状態
のマスクでもアウトライントレ―スを行なうことが可能
となる。

【００７５】これにより、例えばパ―ソナルコンピュ―
タ等の安価で低速度なマシンでも、十分な処理速度を得
ることができ、他のフォ―マットへ変換する場合でも、
最初からアウトラインのトレ―ス方向と属性が分けられ
てくるので、総合的な処理速度向上と簡素化を実現する
ことができる。

【００７６】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ラ
ンレングス圧縮された切り抜きマスクデ―タをアウトラ
インで表記する装置において、ランレングス圧縮された
切り抜きマスクデ―タを、始点カラム座標、終点カラム
座標、ライン座標、始点通過フラグ、終点通過フラグに
変換し正規化する正規化手段と、正規化手段により正規
化された座標情報と通過フラグの状態を調べることによ
り、２次元の画像に復元しないでベクトル状態のままで
アウトライン情報を抽出する抽出手段とを備えるように
したので、複雑な画像に対しても２次元画像に展開する
ことなくアウトライン情報を最小のメモリ―消費量で高
速度に抽出して、画像が変倍、変形されても画像クリッ
ピングマスクがジャギ―にならず滑らかに表現できるよ
うにマスクデ―タをアウトラインで表記することが可能
なマスクデ―タのアウトライン化装置が提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるマスクデ―タのアウトライン化装
置の一実施例を示すハードブロック図。

【図２】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
におけるアウトライン化処理の内容を説明するためのフ
ロ―チャ―ト。

【図３】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
に適用する切り抜きマスクデ―タの一例を示す概念図。

【図４】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
に適用するランレングスデ―タの一例を示す図。

【図５】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
における正規化されたランレングスデ―タの一例を示す
概念図。

【図６】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
におけるアウトラインのトレ―ス方法を説明するための
原理図。

【図７】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
における一つのアウトラインのトレ―ス方法を説明する
ためのフロ―チャ―ト。

【図８】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
における切り抜きマスクのトレ―ス方法の一例を説明す
るための概念図。

【図９】同実施例のマスクデ―タのアウトライン化装置
における入れ子になったマスクをトレ―スした場合の通
過フラグの遷移の一例を説明するための概念図。

【符号の説明】

１…データ入力装置、２…記憶装置、３…表示装置、４
…中央処理装置（ＣＰＵ）、５…データ出力装置、１−
１…透過部分を示すベクトル、１−２…マスク部分を示
すベクトル、３−１…始点カラム座標、３−２…終点カ
ラム座標、３−３…ライン座標、３−４…始点通過フラ
グ、３−５…終点通過フラグ、４−１，４−２…独立し
た内部が透過のアウトライン、４−５…入れ子になった
内部が透過のアウトライン、４−３，４−４…入れ子に
なった内部がマスクのアウトライン。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ランレングス圧縮された切り抜きマスク
   デ―タをアウトラインで表記する装置において、 前記ランレングス圧縮された切り抜きマスクデ―タを、
   始点カラム座標、終点カラム座標、ライン座標、始点通
   過フラグ、終点通過フラグに変換し正規化する正規化手
   段と、 前記正規化手段により正規化された座標情報と通過フラ
   グの状態を調べることによりアウトライン情報を抽出す
   る抽出手段と、 を備えて成ることを特徴とするマスクデ―タのアウトラ
   イン化装置。
2. 【請求項２】 前記正規化手段としては、ランレングス
   デ―タの透過ベクタ―を示すランレングスデ―タのみを
   抽出する手段と、当該抽出手段により抽出されたランレ
   ングス透過ベクタ―に、始点座標、終点座標、ライン座
   標、始点通過フラグと終点通過フラグを追加し正規化す
   る手段とから成り、 前記抽出手段としては、前記各ランレングス透過ベクタ
   ―の前後に重なるランレングス透過ベクタ―を判断して
   連続するアウトラインの座標を出力する手段から成るこ
   とを特徴とする請求項１に記載のマスクデ―タのアウト
   ライン化装置。
3. 【請求項３】 前記座標を出力する手段としては、一度
   通過したランレングス透過ベクタ―の始点もしくは終点
   に始点通過フラグもしくは終点通過フラグを立てて一つ
   のアウトラインのトレ―スが終了した時点で前記各ラン
   レングス透過ベクタ―の通過フラグをスキャンして次に
   トレ―スすべきアウトラインの最初のランレングス透過
   ベクタ―を知る手段と、前記通過フラグの状態からアウ
   トラインが入れ子状態になっているかどうかとアウトラ
   インの内部が透過であるかマスクであるかを判断する手
   段とから成ることを特徴とする請求項２に記載のマスク
   デ―タのアウトライン化装置。