JPH0831215B2 - 光学式ヘッド装置 - Google Patents
光学式ヘッド装置Info
- Publication number
- JPH0831215B2 JPH0831215B2 JP60057382A JP5738285A JPH0831215B2 JP H0831215 B2 JPH0831215 B2 JP H0831215B2 JP 60057382 A JP60057382 A JP 60057382A JP 5738285 A JP5738285 A JP 5738285A JP H0831215 B2 JPH0831215 B2 JP H0831215B2
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- Japan
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- objective lens
- head device
- beam splitter
- optical
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［技術分野］ 本発明は、光学的に情報を記録もしくは再生する光学
式ヘッド装置に関する。
式ヘッド装置に関する。
［従来技術］ 近年レーザ光を使用した光学式ディスク装置は、コン
ピュータ用外部メモリ、ビデオ、オーディオ装置等の多
方面に使用されるようになってきた。このような装置に
使用される記録もしくは再生ヘッド装置は、情報記録媒
体であるディスクに対し、相対的に移動する必要があ
り、また、精密な位置の制御とともにフォーカス制御や
トラッキング制御等の制御も行なわれ、ヘッド装置自体
を小型で軽量にする必要があるとともに、光学系には高
い位置精度及び芯出し精度が要求される。
ピュータ用外部メモリ、ビデオ、オーディオ装置等の多
方面に使用されるようになってきた。このような装置に
使用される記録もしくは再生ヘッド装置は、情報記録媒
体であるディスクに対し、相対的に移動する必要があ
り、また、精密な位置の制御とともにフォーカス制御や
トラッキング制御等の制御も行なわれ、ヘッド装置自体
を小型で軽量にする必要があるとともに、光学系には高
い位置精度及び芯出し精度が要求される。
このような光学式読取用ヘッド装置の従来技術は特開
昭51−97402号公報で説明されている。この従来技術を
第４図に基づいて説明する。図示しないHe−Neレーザ等
の光源からのビームは機枠の開口102を通して直進し、
ハーフミラー103で直角に曲げられ、さらに全反射鏡104
で直角に反射され、回転によりトラッキングを行なうよ
うにした可動反射鏡105で直角に垂直上方向に曲げられ
る。そして、光学素子取付用のブロック体111の機枠上
の２次元方向対物レンズ用駆動アクチュエータに取り付
けられたビーム集束装置106を通して高速でモータ110に
より回転される記録情報媒体のディスク107の表面をス
ポット光で照射するように構成されている。このディス
ク107の表面からの反射光は再びビーム集束装置106を通
ってコリメートされて平行ビームとなり、可動反射鏡10
5、全反射鏡104でそれぞれ反射された後、ハーフミラー
103の半透過面を透過して光検出器108に入射させるよう
になっている。上述のプリズム103、ミラー104、可動反
射鏡105、ビーム集束装置106および光検知器108はこれ
らを取り付けたブロック体と一体化してブロックを構成
してヘッド装置を形成している。
昭51−97402号公報で説明されている。この従来技術を
第４図に基づいて説明する。図示しないHe−Neレーザ等
の光源からのビームは機枠の開口102を通して直進し、
ハーフミラー103で直角に曲げられ、さらに全反射鏡104
で直角に反射され、回転によりトラッキングを行なうよ
うにした可動反射鏡105で直角に垂直上方向に曲げられ
る。そして、光学素子取付用のブロック体111の機枠上
の２次元方向対物レンズ用駆動アクチュエータに取り付
けられたビーム集束装置106を通して高速でモータ110に
より回転される記録情報媒体のディスク107の表面をス
ポット光で照射するように構成されている。このディス
ク107の表面からの反射光は再びビーム集束装置106を通
ってコリメートされて平行ビームとなり、可動反射鏡10
5、全反射鏡104でそれぞれ反射された後、ハーフミラー
103の半透過面を透過して光検出器108に入射させるよう
になっている。上述のプリズム103、ミラー104、可動反
射鏡105、ビーム集束装置106および光検知器108はこれ
らを取り付けたブロック体と一体化してブロックを構成
してヘッド装置を形成している。
このような光学式記録再生装置のヘッド装置では、光
学素子数が多くなり、各部におけるユニットの温度によ
るずれが生じてディスク面上で非点収差やコマ収差が発
生する不都合が生じてしまう。
学素子数が多くなり、各部におけるユニットの温度によ
るずれが生じてディスク面上で非点収差やコマ収差が発
生する不都合が生じてしまう。
また、光学素子の数が多くなり、装置全体が大型にな
ると共に、高価格となる欠点がある。更に光学部材を分
離してブロックに組込む場合、組立調整に時間がかかる
欠点がある。また、出射光をビーム集束装置106方向
に、反射光を全反射鏡104方向に反射させる可動反射鏡1
05は、ブロック本体111への組付作業および製作コスト
の面からも不都合が多い。
ると共に、高価格となる欠点がある。更に光学部材を分
離してブロックに組込む場合、組立調整に時間がかかる
欠点がある。また、出射光をビーム集束装置106方向
に、反射光を全反射鏡104方向に反射させる可動反射鏡1
05は、ブロック本体111への組付作業および製作コスト
の面からも不都合が多い。
［目的］ 本発明は上記欠点を除去した光学式ヘッド装置を提供
することを目的とする。
することを目的とする。
［概要］ 本発明の光学式、光源である半導体レーザと、この半
導体レーザからの出射光を記録媒体上に集光させる対物
レンズと、前記半導体レーザと前記対物レンズとの光路
中に配置され前記出射光と記録媒体からの反射光とを分
離するビームスプリッタと、前記反射光を受光する光検
出器と、少なくとも前記ビームスプリッタを搭載するブ
ロック本体とを有し、前記記録媒体のトラッキング方向
に移動可能とする光学式ヘッド装置において、 前記ビームスプリッタと前記対物レンズとの間に介在
し、かつ前記対物レンズの光軸上に形成され、前記出射
光を前記対物レンズに対し垂直に、前記反射光を直接、
前記ビームスプリッタにそれぞれ全反射させる傾斜平面
と、前記ビームスプリッタを取り付ける取付座とを前記
ブロック本体と共に一体的に成形したことを特徴とす
る。
導体レーザからの出射光を記録媒体上に集光させる対物
レンズと、前記半導体レーザと前記対物レンズとの光路
中に配置され前記出射光と記録媒体からの反射光とを分
離するビームスプリッタと、前記反射光を受光する光検
出器と、少なくとも前記ビームスプリッタを搭載するブ
ロック本体とを有し、前記記録媒体のトラッキング方向
に移動可能とする光学式ヘッド装置において、 前記ビームスプリッタと前記対物レンズとの間に介在
し、かつ前記対物レンズの光軸上に形成され、前記出射
光を前記対物レンズに対し垂直に、前記反射光を直接、
前記ビームスプリッタにそれぞれ全反射させる傾斜平面
と、前記ビームスプリッタを取り付ける取付座とを前記
ブロック本体と共に一体的に成形したことを特徴とす
る。
［実施例］ 本発明の光学記録再生装置のヘッド装置の一実施例を
第１図に基づいて説明する。
第１図に基づいて説明する。
光学ヘッド装置10のブロック本体11は、合成樹脂又は
ダイカスト等で一体成形されたもので、中央には半透過
面を有するプリズム１の取付座12が、その左右にはそれ
ぞれ所望の傾斜角度で全反射部２および臨界角プリズム
３が配置されている。また、中間部分は凹状の切欠き部
15,15が形成されている。取付座12,14にはプリズム１、
臨界角プリズム３がそれぞれ接着剤により貼り付け固定
されるようになっている。
ダイカスト等で一体成形されたもので、中央には半透過
面を有するプリズム１の取付座12が、その左右にはそれ
ぞれ所望の傾斜角度で全反射部２および臨界角プリズム
３が配置されている。また、中間部分は凹状の切欠き部
15,15が形成されている。取付座12,14にはプリズム１、
臨界角プリズム３がそれぞれ接着剤により貼り付け固定
されるようになっている。
ブロック本体11の反射部２の上方には図示しない２次
元方向対物レンズ用駆動アクチュエータの機枠に取付け
られる対物レンズ５とλ/4板６が、同じくプリズム１の
上方にはコリメータレンズ4,λ/2板９、コリメータレン
ズ４および半導体レーザ７が、同じく臨界角プリズム３
の上方には光検出器８がそれぞれ配設されて取付けられ
る。
元方向対物レンズ用駆動アクチュエータの機枠に取付け
られる対物レンズ５とλ/4板６が、同じくプリズム１の
上方にはコリメータレンズ4,λ/2板９、コリメータレン
ズ４および半導体レーザ７が、同じく臨界角プリズム３
の上方には光検出器８がそれぞれ配設されて取付けられ
る。
ここでブロック体11の傾斜面に配置された反射部２は
ブロック体11の傾斜面に直接多層膜反射面をコートする
ことにより形成する。また切欠き部16′の底部は小さな
凹凸の散光面からなる発散面に形成してある。かかる発
散面により臨界角プリズム３によって生じる迷光を発散
させるようにしてある。
ブロック体11の傾斜面に直接多層膜反射面をコートする
ことにより形成する。また切欠き部16′の底部は小さな
凹凸の散光面からなる発散面に形成してある。かかる発
散面により臨界角プリズム３によって生じる迷光を発散
させるようにしてある。
今、半導体レーザ７からレーザ光が発射されると、こ
の光はコリメータレンズ４により平行光にされ、λ/2板
９を通りプリズム１の45度傾斜した半透過面で直角に右
方向に反射され、反射部２で垂直上方向に直角に曲げら
れ、λ/4板６を通り対物レンズ５により収束されて、ス
ポット光としてディスク23の面上を照射するようになっ
ている。そして、このディスク23から反射した光は再び
対物レンズ５により平行光となり、λ/4板６を通って反
射部２で直角に左方向に曲げられ、プリズム１の半透過
面を透過して臨界角プリズム３に入射する。この臨界角
プリズム３内で３回のくり返し反射した後、その射出面
から平行光として光検出器８に射出し、同光検出器８で
光電変換された信号は再生出力信号やフォーカシング誤
差信号等として出力されるようになっている。
の光はコリメータレンズ４により平行光にされ、λ/2板
９を通りプリズム１の45度傾斜した半透過面で直角に右
方向に反射され、反射部２で垂直上方向に直角に曲げら
れ、λ/4板６を通り対物レンズ５により収束されて、ス
ポット光としてディスク23の面上を照射するようになっ
ている。そして、このディスク23から反射した光は再び
対物レンズ５により平行光となり、λ/4板６を通って反
射部２で直角に左方向に曲げられ、プリズム１の半透過
面を透過して臨界角プリズム３に入射する。この臨界角
プリズム３内で３回のくり返し反射した後、その射出面
から平行光として光検出器８に射出し、同光検出器８で
光電変換された信号は再生出力信号やフォーカシング誤
差信号等として出力されるようになっている。
このように形成されたヘッド装置10のブロック体11の
検査方法は以下の様にして行うことができる。
検査方法は以下の様にして行うことができる。
第２図の基準ブロック30は光学ガラスで、ブロック体
11の上面上の凹部形状に充当する台形状に形成され、上
下面は完全に平行で、臨界角プリズムの傾斜角の面30a
と全反射鏡の傾斜角の面30bとを正確に角度出しされて
形成されている。そして面30a側の上部の面に反射鏡31
が取り付けられている。
11の上面上の凹部形状に充当する台形状に形成され、上
下面は完全に平行で、臨界角プリズムの傾斜角の面30a
と全反射鏡の傾斜角の面30bとを正確に角度出しされて
形成されている。そして面30a側の上部の面に反射鏡31
が取り付けられている。
今、この基準ブロック30をヘッド装置10のブロック体
11の中央の凹状部に挿入し、傾斜面30bに上方から半導
体レーザ33からの光をコリメートレンズ32で平行光にし
て入射させる。すると、この光束は傾斜面30bで直角に
左方向に反射し、さらに傾斜面30aで垂直上方向に曲げ
られて反射鏡31に入射する。そして反射鏡31からの反射
光は再び傾斜面30a,30bで反射しコリメータレンズ32を
通って半導体レーザ33にモニター光として戻ってくる。
この光を半導体レーザ33の光軸上の背部にあるモニター
光検出器34で検出することにより、オートコリメーショ
ンの原理で判別する。即ち精度が完全に出ている場合に
は、このモニター光検出器34の出力が最大となるので、
これにより判別できる。
11の中央の凹状部に挿入し、傾斜面30bに上方から半導
体レーザ33からの光をコリメートレンズ32で平行光にし
て入射させる。すると、この光束は傾斜面30bで直角に
左方向に反射し、さらに傾斜面30aで垂直上方向に曲げ
られて反射鏡31に入射する。そして反射鏡31からの反射
光は再び傾斜面30a,30bで反射しコリメータレンズ32を
通って半導体レーザ33にモニター光として戻ってくる。
この光を半導体レーザ33の光軸上の背部にあるモニター
光検出器34で検出することにより、オートコリメーショ
ンの原理で判別する。即ち精度が完全に出ている場合に
は、このモニター光検出器34の出力が最大となるので、
これにより判別できる。
例えば、プリズム取付座12が少し上方に出張った状態
であるとすると、基準ブロック30は完全に挿入されずに
浮くような状態となりモニター光の位置ずれが生じるか
らである。また、傾斜面30a,30bの角度は基準ブロック3
0により機械的光学的に測定される。
であるとすると、基準ブロック30は完全に挿入されずに
浮くような状態となりモニター光の位置ずれが生じるか
らである。また、傾斜面30a,30bの角度は基準ブロック3
0により機械的光学的に測定される。
このような簡単な方法でブロック体11をす速く検査す
ることができ、取付座の位置や角度の正確に形成されて
いるブロック体11にプリズム等の光学素子を接着剤で貼
るだけ、もしくは反射面を形成することによって、芯出
しされて位置調整された精度のよいヘッド装置を容易に
製作することができる。
ることができ、取付座の位置や角度の正確に形成されて
いるブロック体11にプリズム等の光学素子を接着剤で貼
るだけ、もしくは反射面を形成することによって、芯出
しされて位置調整された精度のよいヘッド装置を容易に
製作することができる。
上記の検査方法は、半導体レーザ33に戻る光によって
生ずる自己結合効果を利用したものであるが、光検出器
34を半導体レーザ33とは別の位置に配置して行ってもよ
い。この例を第３図に基づいて説明する。基準ブロック
40のプリズム取付座12に対応する中央部に半透過面40c
が設けられている点以外は基準ブロック40の構成は第２
図のものと同じである。そして、この半透過面40cの上
部にモニター光検出器34を配置する。
生ずる自己結合効果を利用したものであるが、光検出器
34を半導体レーザ33とは別の位置に配置して行ってもよ
い。この例を第３図に基づいて説明する。基準ブロック
40のプリズム取付座12に対応する中央部に半透過面40c
が設けられている点以外は基準ブロック40の構成は第２
図のものと同じである。そして、この半透過面40cの上
部にモニター光検出器34を配置する。
今、この基準ブロック40をブロック体11の凹状部に挿
入し、半導体レーザ33からの光をコリメートレンズ32で
平行光にして傾斜面40bに入射させると、傾斜面40bで直
角に左方向に曲げられた光束は半透過面40cを透過し、
さらに傾斜面40aで垂直上方向に反射して反射鏡31に平
行光として入射する。この反射鏡31からの反射光束は再
び傾斜面40aで右方向に曲げられ半透過面40cで反射さ
れ、直角に垂直方向の下側に向い、プリズム取付座12に
設けられた穴19を通って、ブロック体11の底部に配設さ
れた反射鏡35で反射され、再び半透過面40cを透過して
モニター光検出器34に入射し、同検出器34に測定され
る。
入し、半導体レーザ33からの光をコリメートレンズ32で
平行光にして傾斜面40bに入射させると、傾斜面40bで直
角に左方向に曲げられた光束は半透過面40cを透過し、
さらに傾斜面40aで垂直上方向に反射して反射鏡31に平
行光として入射する。この反射鏡31からの反射光束は再
び傾斜面40aで右方向に曲げられ半透過面40cで反射さ
れ、直角に垂直方向の下側に向い、プリズム取付座12に
設けられた穴19を通って、ブロック体11の底部に配設さ
れた反射鏡35で反射され、再び半透過面40cを透過して
モニター光検出器34に入射し、同検出器34に測定され
る。
［発明の効果］ 以上述べたように本発明の光学式ヘッド装置によれ
ば、取付座をブロック本体と共にダイカスト等で一体成
形したので、ビームスプリッタ等の光学素子の組付け作
業および位置調整が簡単になる。また、出射光を対物レ
ンズに入射させ、反射光をビームスプリッタに直接入射
させる傾斜平面を、ブロック本体と共にダイカスト等で
一体成形したので、製作コストを低減することができ
る。
ば、取付座をブロック本体と共にダイカスト等で一体成
形したので、ビームスプリッタ等の光学素子の組付け作
業および位置調整が簡単になる。また、出射光を対物レ
ンズに入射させ、反射光をビームスプリッタに直接入射
させる傾斜平面を、ブロック本体と共にダイカスト等で
一体成形したので、製作コストを低減することができ
る。
第１図は、本発明の第１実施例を示すヘッド装置の概略
断面図、 第２図は、本発明のヘッド装置の検査方法を説明するた
めの検査装置の概略断面図、 第３図は、上記第４図と異なる検査方法を説明するため
の検査装置の概略断面図、 第４図は、従来のヘッド装置を示す概略斜視図である。 ５……対物レンズ ７……半導体レーザ 10……ヘッド装置 11……ブロック体 12,14……取付座
断面図、 第２図は、本発明のヘッド装置の検査方法を説明するた
めの検査装置の概略断面図、 第３図は、上記第４図と異なる検査方法を説明するため
の検査装置の概略断面図、 第４図は、従来のヘッド装置を示す概略斜視図である。 ５……対物レンズ ７……半導体レーザ 10……ヘッド装置 11……ブロック体 12,14……取付座
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅原 一健 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (72)発明者 中村 剛明 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭57−200001（ＪＰ，Ａ) 実公 昭57−58576（ＪＰ，Ｙ１)
Claims (1)
- 【請求項１】光源である半導体レーザと、この半導体レ
ーザからの出射光を記録媒体上に集光させる対物レンズ
と、前記半導体レーザと前記対物レンズとの光路中に配
置され前記出射光と記録媒体からの反射光とを分離する
ビームスプリッタと、前記反射光を受光する光検出器
と、少なくとも前記ビームスプリッタを搭載するブロッ
ク本体とを有し、前記記録媒体のトラッキング方向に移
動可能とする光学式ヘッド装置において、 前記ビームスプリッタと前記対物レンズとの間に介在
し、かつ前記対物レンズの光軸上に形成され、前記出射
光を前記対物レンズに対し垂直に、前記反射光を直接、
前記ビームスプリッタにそれぞれ全反射させる傾斜平面
と、前記ビームスプリッタを取り付ける取付座とを前記
ブロック本体と共に一体的に成形したことを特徴とする
光学式ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60057382A JPH0831215B2 (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 光学式ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60057382A JPH0831215B2 (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 光学式ヘッド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61214139A JPS61214139A (ja) | 1986-09-24 |
| JPH0831215B2 true JPH0831215B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=13054053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60057382A Expired - Fee Related JPH0831215B2 (ja) | 1985-03-19 | 1985-03-19 | 光学式ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0831215B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014142982A (ja) * | 2013-01-24 | 2014-08-07 | Hitachi Ltd | 光ピックアップ |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5758576U (ja) * | 1980-09-26 | 1982-04-06 | ||
| JPS57200001A (en) * | 1981-06-02 | 1982-12-08 | Toshiba Corp | Optical record information reader |
-
1985
- 1985-03-19 JP JP60057382A patent/JPH0831215B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61214139A (ja) | 1986-09-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |