JPH08320257A - 赤外線検出装置 - Google Patents
赤外線検出装置Info
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- JPH08320257A JPH08320257A JP7128538A JP12853895A JPH08320257A JP H08320257 A JPH08320257 A JP H08320257A JP 7128538 A JP7128538 A JP 7128538A JP 12853895 A JP12853895 A JP 12853895A JP H08320257 A JPH08320257 A JP H08320257A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】簡単な構成により測定時間の短縮が図れる赤外
線検出装置を提供する。 【構成】４つのサーミスタＴｈ1 〜Ｔｈ4 をブリッジ接
続してボロメータブリッジ１が構成してある。ボロメー
タブリッジ１と抵抗Ｒａとの直列回路を直流電源２の両
端に接続してある。ボロメータブリッジ１のブリッジ間
電圧を検出するブリッジ間電圧検出回路３と、抵抗Ｒａ
の両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路４とが設け
てある。すなわち、ブリッジ間電圧検出回路３によるボ
ロメータブリッジ１のブリッジ間電圧の検出と、抵抗両
端電圧検出回路４による抵抗Ｒａの両端電圧の検出とを
同時に行なうことができ、簡単な構成により測定時間の
短縮が図れる。
線検出装置を提供する。 【構成】４つのサーミスタＴｈ1 〜Ｔｈ4 をブリッジ接
続してボロメータブリッジ１が構成してある。ボロメー
タブリッジ１と抵抗Ｒａとの直列回路を直流電源２の両
端に接続してある。ボロメータブリッジ１のブリッジ間
電圧を検出するブリッジ間電圧検出回路３と、抵抗Ｒａ
の両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路４とが設け
てある。すなわち、ブリッジ間電圧検出回路３によるボ
ロメータブリッジ１のブリッジ間電圧の検出と、抵抗両
端電圧検出回路４による抵抗Ｒａの両端電圧の検出とを
同時に行なうことができ、簡単な構成により測定時間の
短縮が図れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サーミスタを用いたボ
ロメータブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外線
検出装置に関するものである。
ロメータブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外線
検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、サーミスタを用いたボロメー
タブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外線検出装
置は、対象物の温度を非接触で測定できる放射温度計に
応用される場合があった。上記赤外線検出装置によって
対象物の温度測定を行なう場合には、対象物から放射さ
れてボロメータブリッジに入射される赤外線量の測定
と、入射赤外線によるサーミスタの抵抗値変化に基づく
ボロメータブリッジの温度測定との２つの測定を行なう
必要があった。すなわち、図４に示すようなボロメータ
たるサーミスタＴｈ1 〜Ｔｈ4 をブリッジ接続して成る
ボロメータブリッジ１と抵抗Ｒｂ1 〜Ｒｂ3 とのブリッ
ジ回路を直流電源２の両端に接続した回路構成におい
て、ブリッジ回路のブリッジ間電圧を電圧検出回路１０
により検出してボロメータブリッジ１の抵抗値を求める
ことによるボロメータブリッジ１の温度測定と、図５に
示すような直流電源２の両端にボロメータブリッジ１を
接続した回路構成において、ボロメータブリッジ１のブ
リッジ間電圧をブリッジ間電圧検出回路１１によって検
出することによる入射赤外線量の測定との２つの測定が
必要であった。
タブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外線検出装
置は、対象物の温度を非接触で測定できる放射温度計に
応用される場合があった。上記赤外線検出装置によって
対象物の温度測定を行なう場合には、対象物から放射さ
れてボロメータブリッジに入射される赤外線量の測定
と、入射赤外線によるサーミスタの抵抗値変化に基づく
ボロメータブリッジの温度測定との２つの測定を行なう
必要があった。すなわち、図４に示すようなボロメータ
たるサーミスタＴｈ1 〜Ｔｈ4 をブリッジ接続して成る
ボロメータブリッジ１と抵抗Ｒｂ1 〜Ｒｂ3 とのブリッ
ジ回路を直流電源２の両端に接続した回路構成におい
て、ブリッジ回路のブリッジ間電圧を電圧検出回路１０
により検出してボロメータブリッジ１の抵抗値を求める
ことによるボロメータブリッジ１の温度測定と、図５に
示すような直流電源２の両端にボロメータブリッジ１を
接続した回路構成において、ボロメータブリッジ１のブ
リッジ間電圧をブリッジ間電圧検出回路１１によって検
出することによる入射赤外線量の測定との２つの測定が
必要であった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来構
成においては、２つの測定を行なうためには、図４に示
す回路構成と図５に示す回路構成とをそれぞれ別々に備
えるか、あるいは２つの回路構成を切り換える切換手段
を設ける必要があり、回路構成が複雑になったり、ある
いは２つの測定を順次行なうために最終的な対象物の温
度測定に時間がかかるという問題があった。
成においては、２つの測定を行なうためには、図４に示
す回路構成と図５に示す回路構成とをそれぞれ別々に備
えるか、あるいは２つの回路構成を切り換える切換手段
を設ける必要があり、回路構成が複雑になったり、ある
いは２つの測定を順次行なうために最終的な対象物の温
度測定に時間がかかるという問題があった。
【０００４】本発明は上記問題点の解決を目的とするも
のであり、簡単な構成により測定時間の短縮が図れる赤
外線検出装置を提供しようとするものである。
のであり、簡単な構成により測定時間の短縮が図れる赤
外線検出装置を提供しようとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、上記
目的を達成するために、サーミスタを用いたボロメータ
ブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外線検出装置
であって、ボロメータブリッジと抵抗部の直列回路を直
流電源の両端に接続し、ボロメータブリッジのブリッジ
間電圧を検出するブリッジ間電圧検出回路と、抵抗部の
両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路とを設けて成
ることを特徴とする。
目的を達成するために、サーミスタを用いたボロメータ
ブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外線検出装置
であって、ボロメータブリッジと抵抗部の直列回路を直
流電源の両端に接続し、ボロメータブリッジのブリッジ
間電圧を検出するブリッジ間電圧検出回路と、抵抗部の
両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路とを設けて成
ることを特徴とする。
【０００６】請求項２の発明は、請求項１の発明におい
て、抵抗値を可変できる上記抵抗部と、上記抵抗両端電
圧検出回路の検出出力に応じて上記抵抗部の抵抗値を可
変する制御回路とを設けて成ることを特徴とする。
て、抵抗値を可変できる上記抵抗部と、上記抵抗両端電
圧検出回路の検出出力に応じて上記抵抗部の抵抗値を可
変する制御回路とを設けて成ることを特徴とする。
【０００７】
【作用】請求項１の発明の構成では、ボロメータブリッ
ジと抵抗部の直列回路を直流電源の両端に接続し、ボロ
メータブリッジのブリッジ間電圧を検出するブリッジ間
電圧検出回路と、抵抗部の両端電圧を検出する抵抗両端
電圧検出回路とを設けたので、対象物の温度を非接触で
測定する場合に、ブリッジ間電圧検出回路による赤外線
量測定と、抵抗両端電圧検出回路によるボロメータブリ
ッジの温度測定とを同時に行なうことができ、簡単な構
成により対象物の温度の測定時間を短縮することができ
る。
ジと抵抗部の直列回路を直流電源の両端に接続し、ボロ
メータブリッジのブリッジ間電圧を検出するブリッジ間
電圧検出回路と、抵抗部の両端電圧を検出する抵抗両端
電圧検出回路とを設けたので、対象物の温度を非接触で
測定する場合に、ブリッジ間電圧検出回路による赤外線
量測定と、抵抗両端電圧検出回路によるボロメータブリ
ッジの温度測定とを同時に行なうことができ、簡単な構
成により対象物の温度の測定時間を短縮することができ
る。
【０００８】請求項２の発明の構成では、抵抗値を可変
できる上記抵抗部と、上記抵抗両端電圧検出回路の検出
出力に応じて上記抵抗部の抵抗値を可変する制御回路と
を設けたので、ボロメータブリッジを構成するサーミス
タに対する測定時の雰囲気温度の影響を低減し、対象物
の温度測定の精度を高めることができる。
できる上記抵抗部と、上記抵抗両端電圧検出回路の検出
出力に応じて上記抵抗部の抵抗値を可変する制御回路と
を設けたので、ボロメータブリッジを構成するサーミス
タに対する測定時の雰囲気温度の影響を低減し、対象物
の温度測定の精度を高めることができる。
【０００９】
（実施例１）図１は本発明の第１の実施例を示す回路構
成図であり、基本的な構成は従来例と共通であるので共
通する部分には同一の符号を付して説明は省略し、本実
施例の特徴となる部分についてのみ説明する。
成図であり、基本的な構成は従来例と共通であるので共
通する部分には同一の符号を付して説明は省略し、本実
施例の特徴となる部分についてのみ説明する。
【００１０】本実施例は、ボロメータブリッジ１と抵抗
Ｒａとの直列回路を直流電源２の両端に接続し、ボロメ
ータブリッジ１のブリッジ間電圧（同図におけるａ−ｂ
間電圧）を検出するブリッジ間電圧検出回路３と、抵抗
Ｒａの両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路４とを
設けた点に特徴がある。なお、ブリッジ間電圧検出回路
３及び抵抗両端電圧検出回路４は２点間の電圧を測定す
る周知の構成を有するものであり、その構成は本発明の
要旨ではないので説明は省略する。
Ｒａとの直列回路を直流電源２の両端に接続し、ボロメ
ータブリッジ１のブリッジ間電圧（同図におけるａ−ｂ
間電圧）を検出するブリッジ間電圧検出回路３と、抵抗
Ｒａの両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路４とを
設けた点に特徴がある。なお、ブリッジ間電圧検出回路
３及び抵抗両端電圧検出回路４は２点間の電圧を測定す
る周知の構成を有するものであり、その構成は本発明の
要旨ではないので説明は省略する。
【００１１】すなわち、本実施例の構成によれば、ブリ
ッジ間電圧検出回路３によるボロメータブリッジ１のブ
リッジ間電圧の検出と、抵抗両端電圧検出回路４による
抵抗Ｒａの両端電圧の検出とを同時に行なうことができ
る。次に、本実施例の赤外線検出装置を用いて対象物の
温度を非接触にて測定する原理について説明する。
ッジ間電圧検出回路３によるボロメータブリッジ１のブ
リッジ間電圧の検出と、抵抗両端電圧検出回路４による
抵抗Ｒａの両端電圧の検出とを同時に行なうことができ
る。次に、本実施例の赤外線検出装置を用いて対象物の
温度を非接触にて測定する原理について説明する。
【００１２】まず、ボロメータブリッジ１を構成するサ
ーミスタＴｈ1 …の抵抗値Ｒと、サーミスタＴｈ1 …の
温度との間には下式のような関係がある。 Ｒ＝Ｒ0 ｅｘｐ｛Ｂ（１／Ｔ−１／Ｔ0 ）｝ 但し、Ｂ ：サーミスタのＢ定数 Ｒ0 ：温度Ｔ0 におけるサーミスタＴｈ1 …の抵抗値 したがって、このときの抵抗Ｒａの両端電圧をＶ1 、ボ
ロメータブリッジ間電圧をＶ2 、電源電圧をＶ3 、サー
ミスタＴｈ1 …の抵抗値をＲ1 とすると、ボロメータブ
リッジ１を構成する１つのサーミスタ（例えば、サーミ
スタＴｈ1 ）の温度Ｔ1 は次式にて表される。
ーミスタＴｈ1 …の抵抗値Ｒと、サーミスタＴｈ1 …の
温度との間には下式のような関係がある。 Ｒ＝Ｒ0 ｅｘｐ｛Ｂ（１／Ｔ−１／Ｔ0 ）｝ 但し、Ｂ ：サーミスタのＢ定数 Ｒ0 ：温度Ｔ0 におけるサーミスタＴｈ1 …の抵抗値 したがって、このときの抵抗Ｒａの両端電圧をＶ1 、ボ
ロメータブリッジ間電圧をＶ2 、電源電圧をＶ3 、サー
ミスタＴｈ1 …の抵抗値をＲ1 とすると、ボロメータブ
リッジ１を構成する１つのサーミスタ（例えば、サーミ
スタＴｈ1 ）の温度Ｔ1 は次式にて表される。
【００１３】
【式１】
【００１４】但し、Ｒ1 ＝（Ｖ3 ／Ｖ1 −１）Ｒａ（Ｒ
ａは抵抗Ｒａの抵抗値）であり、対象物以外の周囲から
の入射赤外線によるサーミスタＴｈ1 の温度変化は非常
に小さく、よってサーミスタＴｈ1 の抵抗値変化に対す
る入射赤外線の影響はほとんど無視できる。いま、温度
を測定しようとする対象物から放射される赤外線をボロ
メータブリッジ１を構成する１つのサーミスタＴｈ1 に
入射させると、入射赤外線によってサーミスタＴｈ1 の
温度が変化してその抵抗値がＲ1 からＲ2 へと変化す
る。ここで、サーミスタＴｈ1 の温度をＴ2 、赤外線が
入射されない他のサーミスタＴｈ2 〜Ｔｈ4 の温度をＴ
1 及びその抵抗値をＲ1 とすると、赤外線が入射された
サーミスタＴｈ1 の温度Ｔ2 は次式にて表される。
ａは抵抗Ｒａの抵抗値）であり、対象物以外の周囲から
の入射赤外線によるサーミスタＴｈ1 の温度変化は非常
に小さく、よってサーミスタＴｈ1 の抵抗値変化に対す
る入射赤外線の影響はほとんど無視できる。いま、温度
を測定しようとする対象物から放射される赤外線をボロ
メータブリッジ１を構成する１つのサーミスタＴｈ1 に
入射させると、入射赤外線によってサーミスタＴｈ1 の
温度が変化してその抵抗値がＲ1 からＲ2 へと変化す
る。ここで、サーミスタＴｈ1 の温度をＴ2 、赤外線が
入射されない他のサーミスタＴｈ2 〜Ｔｈ4 の温度をＴ
1 及びその抵抗値をＲ1 とすると、赤外線が入射された
サーミスタＴｈ1 の温度Ｔ2 は次式にて表される。
【００１５】
【式２】
【００１６】但し、Ｒ2 ／Ｒ1 ＝（Ｖ1 −２Ｖ2 −
Ｖ3 ）／（Ｖ1 ＋２Ｖ2 −Ｖ3 ）である。一方、サーミ
スタＴｈ1 に照射される赤外線量Ｑは、放射率をε、ス
テファン・ボルツマン定数をσ、測定面積（照射面積）
をＳ、対象物の温度をＴａとすれば次式で表される。 Ｑ＝εσＳ（Ｔａ4 −Ｔ1 4 ） また、サーミスタＴｈ1 の熱容量をＣとすると下式の関
係が成立する。
Ｖ3 ）／（Ｖ1 ＋２Ｖ2 −Ｖ3 ）である。一方、サーミ
スタＴｈ1 に照射される赤外線量Ｑは、放射率をε、ス
テファン・ボルツマン定数をσ、測定面積（照射面積）
をＳ、対象物の温度をＴａとすれば次式で表される。 Ｑ＝εσＳ（Ｔａ4 −Ｔ1 4 ） また、サーミスタＴｈ1 の熱容量をＣとすると下式の関
係が成立する。
【００１７】 εσＳ（Ｔａ4 −Ｔ1 4 ）＝Ｃ（Ｔ2 −Ｔ1 ） 従って、これらの式から対象物の温度Ｔａは次式により
求めることができる。
求めることができる。
【００１８】
【式３】
【００１９】なお、上記各式に対応した演算は、図示し
ない演算処理手段（例えば、マイクロコンピュータな
ど）で実行すればよい。上記構成によれば、赤外線検出
装置を使って対象物の温度測定を行なう際に、入射赤外
線量Ｑの測定（抵抗Ｒａの両端電圧Ｖ1 の測定）と、ボ
ロメータブリッジ１の温度測定（ブリッジ間電圧Ｖ2 の
測定）とを同時に行なうことができ、従来例に比較して
簡単な構成により対象物の温度の測定時間を短縮するこ
とができる。なお、検出精度を高めるためにはボロメー
タブリッジ１のブリッジ間電圧Ｖ 2 は高い方が望まし
く、そのためにはボロメータブリッジ１に印加される電
源電圧Ｖ3 を大きくする必要があり、ボロメータブリッ
ジ１に直列に接続される抵抗Ｒａの抵抗値はサーミスタ
Ｔｈ1 …の抵抗値に比較して小さいことが望ましい。
ない演算処理手段（例えば、マイクロコンピュータな
ど）で実行すればよい。上記構成によれば、赤外線検出
装置を使って対象物の温度測定を行なう際に、入射赤外
線量Ｑの測定（抵抗Ｒａの両端電圧Ｖ1 の測定）と、ボ
ロメータブリッジ１の温度測定（ブリッジ間電圧Ｖ2 の
測定）とを同時に行なうことができ、従来例に比較して
簡単な構成により対象物の温度の測定時間を短縮するこ
とができる。なお、検出精度を高めるためにはボロメー
タブリッジ１のブリッジ間電圧Ｖ 2 は高い方が望まし
く、そのためにはボロメータブリッジ１に印加される電
源電圧Ｖ3 を大きくする必要があり、ボロメータブリッ
ジ１に直列に接続される抵抗Ｒａの抵抗値はサーミスタ
Ｔｈ1 …の抵抗値に比較して小さいことが望ましい。
【００２０】（実施例２）図２は本発明の第２の実施例
を示す回路構成図である。なお、本実施例の基本構成は
実施例１と共通であり、共通する部分には同一の符号を
付して説明は省略し、本実施例の特徴となる部分につい
てのみ説明する。一般に、赤外線検出装置においては検
出感度を高くするためにボロメータブリッジ１を構成す
るサーミスタＴｈ1 …には、できる限り抵抗値の温度変
化が大きいものを用いている。従って、測定環境の雰囲
気温度によるサーミスタＴｈ1 …の抵抗値の温度変化が
大きくなり、雰囲気温度の変化に対して抵抗両端電圧検
出回路３の検出出力も大きく変化してしまうことにな
る。例えば、サーミスタＴｈ 1 …の抵抗値Ｒ1 の１％の
変化に対して、抵抗両端電圧検出回路３の検出出力Ｖ 1
の変化ΔＶ1 は次式にて表される。
を示す回路構成図である。なお、本実施例の基本構成は
実施例１と共通であり、共通する部分には同一の符号を
付して説明は省略し、本実施例の特徴となる部分につい
てのみ説明する。一般に、赤外線検出装置においては検
出感度を高くするためにボロメータブリッジ１を構成す
るサーミスタＴｈ1 …には、できる限り抵抗値の温度変
化が大きいものを用いている。従って、測定環境の雰囲
気温度によるサーミスタＴｈ1 …の抵抗値の温度変化が
大きくなり、雰囲気温度の変化に対して抵抗両端電圧検
出回路３の検出出力も大きく変化してしまうことにな
る。例えば、サーミスタＴｈ 1 …の抵抗値Ｒ1 の１％の
変化に対して、抵抗両端電圧検出回路３の検出出力Ｖ 1
の変化ΔＶ1 は次式にて表される。
【００２１】
【式４】
【００２２】従って、抵抗Ｒａの抵抗値Ｒａとサーミス
タＴｈ1 …の抵抗値Ｒ1 との抵抗比に対してΔＶ1 は下
表のように大きな差が生じることになる。
タＴｈ1 …の抵抗値Ｒ1 との抵抗比に対してΔＶ1 は下
表のように大きな差が生じることになる。
【００２３】
【表１】
【００２４】このように、抵抗両端電圧検出回路３の出
力電圧Ｖ1 が測定環境の雰囲気温度の変化によって大き
く変化し、サーミスタＴｈ1 …の抵抗値Ｒ1 が雰囲気温
度の変化によって大きくなると、上記出力電圧Ｖ1 の変
化量ΔＶ1 が小さくなり、赤外線検出装置としての検出
感度が低下してしまう。そこで、本実施例は上述のよう
な測定環境の雰囲気温度の変化による検出感度の低下を
防止することを目的として、実施例１の抵抗Ｒａの代わ
りに、抵抗値の相異なる複数の抵抗Ｒａ1 〜Ｒａ4 を並
列接続して成る抵抗アレイ５と、これら抵抗アレイ４の
抵抗Ｒａ1 〜Ｒａ4 のうちの少なくとも１つを選択的に
ボロメータブリッジ１に切換接続するためのスイッチン
グ回路６とをボロメータブリッジ１に直列に接続すると
ともに、スイッチング回路６によってボロメータブリッ
ジ１に切換接続された抵抗Ｒａ1 …の両端電圧を検出す
る抵抗両端電圧検出回路３の検出出力に応じて、スイッ
チング回路６による切り換えを制御する制御回路７を設
けた点に特徴がある。
力電圧Ｖ1 が測定環境の雰囲気温度の変化によって大き
く変化し、サーミスタＴｈ1 …の抵抗値Ｒ1 が雰囲気温
度の変化によって大きくなると、上記出力電圧Ｖ1 の変
化量ΔＶ1 が小さくなり、赤外線検出装置としての検出
感度が低下してしまう。そこで、本実施例は上述のよう
な測定環境の雰囲気温度の変化による検出感度の低下を
防止することを目的として、実施例１の抵抗Ｒａの代わ
りに、抵抗値の相異なる複数の抵抗Ｒａ1 〜Ｒａ4 を並
列接続して成る抵抗アレイ５と、これら抵抗アレイ４の
抵抗Ｒａ1 〜Ｒａ4 のうちの少なくとも１つを選択的に
ボロメータブリッジ１に切換接続するためのスイッチン
グ回路６とをボロメータブリッジ１に直列に接続すると
ともに、スイッチング回路６によってボロメータブリッ
ジ１に切換接続された抵抗Ｒａ1 …の両端電圧を検出す
る抵抗両端電圧検出回路３の検出出力に応じて、スイッ
チング回路６による切り換えを制御する制御回路７を設
けた点に特徴がある。
【００２５】本実施例においては、測定環境の雰囲気温
度によるサーミスタＴｈ1 …の抵抗値変化に対応して変
化する抵抗両端電圧検出回路３の出力電圧Ｖ1 を制御回
路７に取り込み、この出力電圧Ｖ1 を予め設定された基
準電圧と比較するとともに比較結果に応じて制御回路７
がスイッチング回路６を制御してボロメータブリッジ１
に接続される抵抗Ｒａ1 〜Ｒａ4 を切り換え、測定環境
の雰囲気温度の変化に対してΔＶ1 が略一定に保たれる
ようにしている。
度によるサーミスタＴｈ1 …の抵抗値変化に対応して変
化する抵抗両端電圧検出回路３の出力電圧Ｖ1 を制御回
路７に取り込み、この出力電圧Ｖ1 を予め設定された基
準電圧と比較するとともに比較結果に応じて制御回路７
がスイッチング回路６を制御してボロメータブリッジ１
に接続される抵抗Ｒａ1 〜Ｒａ4 を切り換え、測定環境
の雰囲気温度の変化に対してΔＶ1 が略一定に保たれる
ようにしている。
【００２６】図３は制御回路７の一例を示す回路図であ
り、電源電圧ＶDDを分圧して基準電圧Ｖｒ1 ，Ｖｒ2 を
得る分圧抵抗ｒ1 〜ｒ3 と、抵抗両端電圧検出回路３の
出力電圧Ｖ1 を基準電圧Ｖｒ1 ，Ｖｒ2 とそれぞれ比較
するコンパレータＣＰ1 ，ＣＰ2 とを備えている。ここ
で、基準電圧Ｖｒ1 ，Ｖｒ2 はそれぞれ次式にて表され
る。
り、電源電圧ＶDDを分圧して基準電圧Ｖｒ1 ，Ｖｒ2 を
得る分圧抵抗ｒ1 〜ｒ3 と、抵抗両端電圧検出回路３の
出力電圧Ｖ1 を基準電圧Ｖｒ1 ，Ｖｒ2 とそれぞれ比較
するコンパレータＣＰ1 ，ＣＰ2 とを備えている。ここ
で、基準電圧Ｖｒ1 ，Ｖｒ2 はそれぞれ次式にて表され
る。
【００２７】 Ｖｒ1 ＝（ｒ2 ＋ｒ3 ）／（ｒ1 ＋ｒ2 ＋ｒ3 ）・ＶDD Ｖｒ2 ＝ｒ3 ／（ｒ1 ＋ｒ2 ＋ｒ3 ）・ＶDD そして、この制御回路７は、測定環境における雰囲気温
度が上昇することで抵抗両端電圧検出回路３の出力電圧
Ｖ1 が基準電圧Ｖｒ1 より大きくなれば、コンパレータ
ＣＰ1 の出力がＨレベルとなってスイッチング回路６を
切り換え制御して抵抗アレイ５の抵抗値を減少させ、反
対に、測定環境における雰囲気温度が下降することで抵
抗両端電圧検出回路３の出力電圧Ｖ1 が基準電圧Ｖｒ2
より小さくなれば、コンパレータＣＰ2 の出力がＬレベ
ルとなってスイッチング回路６を切り換え制御して抵抗
アレイ５の抵抗値を増大させるように動作する。
度が上昇することで抵抗両端電圧検出回路３の出力電圧
Ｖ1 が基準電圧Ｖｒ1 より大きくなれば、コンパレータ
ＣＰ1 の出力がＨレベルとなってスイッチング回路６を
切り換え制御して抵抗アレイ５の抵抗値を減少させ、反
対に、測定環境における雰囲気温度が下降することで抵
抗両端電圧検出回路３の出力電圧Ｖ1 が基準電圧Ｖｒ2
より小さくなれば、コンパレータＣＰ2 の出力がＬレベ
ルとなってスイッチング回路６を切り換え制御して抵抗
アレイ５の抵抗値を増大させるように動作する。
【００２８】上記構成によれば、測定環境の雰囲気温度
による抵抗両端電圧検出回路３の出力電圧Ｖ1 の変化に
基づいて、制御回路７によりスイッチング回路６を切り
換え制御してボロメータブリッジ１に接続される抵抗ア
レイ５の抵抗値を可変するようにしたので、測定環境の
雰囲気温度の変化に対するボロメータブリッジ１への影
響を低減し、対象物の温度測定に用いる場合にその測定
精度を高めることができる。
による抵抗両端電圧検出回路３の出力電圧Ｖ1 の変化に
基づいて、制御回路７によりスイッチング回路６を切り
換え制御してボロメータブリッジ１に接続される抵抗ア
レイ５の抵抗値を可変するようにしたので、測定環境の
雰囲気温度の変化に対するボロメータブリッジ１への影
響を低減し、対象物の温度測定に用いる場合にその測定
精度を高めることができる。
【００２９】
【発明の効果】請求項１の発明は、サーミスタを用いた
ボロメータブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外
線検出装置であって、ボロメータブリッジと抵抗部の直
列回路を直流電源の両端に接続し、ボロメータブリッジ
のブリッジ間電圧を検出するブリッジ間電圧検出回路
と、抵抗部の両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路
とを設けたので、対象物の温度を非接触で測定する場合
に、ブリッジ間電圧検出回路による赤外線量測定と、抵
抗両端電圧検出回路によるボロメータブリッジの温度測
定とを同時に行なうことができ、簡単な構成により対象
物の温度の測定時間を短縮することができるという効果
がある。
ボロメータブリッジにより入射赤外線量を検出する赤外
線検出装置であって、ボロメータブリッジと抵抗部の直
列回路を直流電源の両端に接続し、ボロメータブリッジ
のブリッジ間電圧を検出するブリッジ間電圧検出回路
と、抵抗部の両端電圧を検出する抵抗両端電圧検出回路
とを設けたので、対象物の温度を非接触で測定する場合
に、ブリッジ間電圧検出回路による赤外線量測定と、抵
抗両端電圧検出回路によるボロメータブリッジの温度測
定とを同時に行なうことができ、簡単な構成により対象
物の温度の測定時間を短縮することができるという効果
がある。
【００３０】請求項２の発明は、抵抗値を可変できる上
記抵抗部と、上記抵抗両端電圧検出回路の検出出力に応
じて上記抵抗部の抵抗値を可変する制御回路とを設けた
ので、ボロメータブリッジを構成するサーミスタに対す
る測定時の雰囲気温度の影響を低減し、対象物の温度測
定の精度を高めることができるという効果がある。
記抵抗部と、上記抵抗両端電圧検出回路の検出出力に応
じて上記抵抗部の抵抗値を可変する制御回路とを設けた
ので、ボロメータブリッジを構成するサーミスタに対す
る測定時の雰囲気温度の影響を低減し、対象物の温度測
定の精度を高めることができるという効果がある。
【図１】実施例１を示す回路図である。
【図２】実施例２を示す回路図である。
【図３】同上の要部を示す回路図である。
【図４】従来例を示す回路図である。
【図５】同上の他の例を示す回路図である。
１ ボロメータブリッジ ２ 直流電源 ３ ブリッジ間電圧検出回路 ４ 抵抗両端電圧検出回路 Ｔｈ1 〜Ｔｈ4 サーミスタ Ｒａ 抵抗
Claims (2)
- 【請求項１】 サーミスタを用いたボロメータブリッジ
により入射赤外線量を検出する赤外線検出装置であっ
て、ボロメータブリッジと抵抗部の直列回路を直流電源
の両端に接続し、ボロメータブリッジのブリッジ間電圧
を検出するブリッジ間電圧検出回路と、抵抗部の両端電
圧を検出する抵抗両端電圧検出回路とを設けて成ること
を特徴とする赤外線検出装置。 - 【請求項２】 抵抗値を可変できる上記抵抗部と、上記
抵抗両端電圧検出回路の検出出力に応じて上記抵抗部の
抵抗値を可変する制御回路とを設けて成ることを特徴と
する請求項１記載の赤外線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7128538A JPH08320257A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 赤外線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7128538A JPH08320257A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 赤外線検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08320257A true JPH08320257A (ja) | 1996-12-03 |
Family
ID=14987238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7128538A Withdrawn JPH08320257A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 赤外線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08320257A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2348488A (en) * | 1999-03-27 | 2000-10-04 | Lg Electronics Inc | Resistive bolometer sensor |
-
1995
- 1995-05-26 JP JP7128538A patent/JPH08320257A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2348488A (en) * | 1999-03-27 | 2000-10-04 | Lg Electronics Inc | Resistive bolometer sensor |
| GB2348488B (en) * | 1999-03-27 | 2001-05-16 | Lg Electronics Inc | Resistive Bolometer sensor |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020806 |