JPH0471448B2 - - Google Patents
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- JPH0471448B2 JPH0471448B2 JP4800585A JP4800585A JPH0471448B2 JP H0471448 B2 JPH0471448 B2 JP H0471448B2 JP 4800585 A JP4800585 A JP 4800585A JP 4800585 A JP4800585 A JP 4800585A JP H0471448 B2 JPH0471448 B2 JP H0471448B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
- G01J5/22—Electrical features thereof
- G01J5/24—Use of specially adapted circuits, e.g. bridge circuits
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、物体から放射される赤外線のエネ
ルギー量を計測して物体の温度を非接触的に測定
する放射温度計に係り、特に赤外線検出素子に熱
型赤外線検出素子を用い、かつ、常温付近の正確
な温度測定が可能である、いわゆる低温用の放射
温度計の回路に関する。
ルギー量を計測して物体の温度を非接触的に測定
する放射温度計に係り、特に赤外線検出素子に熱
型赤外線検出素子を用い、かつ、常温付近の正確
な温度測定が可能である、いわゆる低温用の放射
温度計の回路に関する。
周知のように、ステフアン・ボルツマンの法則
（下記参照）により、物体から放射される赤外線
のエネルギー量は、絶対温度の４乗に比例する。
（下記参照）により、物体から放射される赤外線
のエネルギー量は、絶対温度の４乗に比例する。
Ｗ＝εσT4
Ｗ：物体の単位面積から単位時間に放射される
赤外線のエネルギー量（Ｗcm-2） ε：放射率 σ：ステフアン・ボルツマン定数（5.67×
10-2Wcm-2K-4） Ｔ：絶対温度 以下、説明の都合上、ε（放射率）は１と仮定
する。
赤外線のエネルギー量（Ｗcm-2） ε：放射率 σ：ステフアン・ボルツマン定数（5.67×
10-2Wcm-2K-4） Ｔ：絶対温度 以下、説明の都合上、ε（放射率）は１と仮定
する。
熱型赤外線検出素子（サーモパイル、サーミス
タボロメータ等）は、自身の温度と測定対象物の
温度が異なる場合に、検出信号を発生する。すな
わち、測定対象物の温度を測定する際には、熱型
赤外線検出素子の温度を測定し、得られた熱型赤
外線検出素子自身の温度の検出信号と測定対象部
から放射される赤外線による検出信号とを演算す
ることにより、測定対象部の温度を測定すること
ができる。これを以下に記す。
タボロメータ等）は、自身の温度と測定対象物の
温度が異なる場合に、検出信号を発生する。すな
わち、測定対象物の温度を測定する際には、熱型
赤外線検出素子の温度を測定し、得られた熱型赤
外線検出素子自身の温度の検出信号と測定対象部
から放射される赤外線による検出信号とを演算す
ることにより、測定対象部の温度を測定すること
ができる。これを以下に記す。
ステフアン・ボルツマンの法則により、
W1＝σT1 4
W2＝σT2 4
W1：測定対象物から放射される赤外線のエネ
ルギー量 W2：熱型赤外線検出素子自身から放射される
赤外線のエネルギー量 T1：測定対象物の温度 T2：熱型赤外線検出素子の温度 したがつて、熱型赤外線検出素子の出力Ｖは、 Ｖ＝Ｋ（W1−W2）＝Kσ（T1 4−T2 4） Ｋ：光学系および熱型赤外線検出素子の感度等
により定まる係数 以上のことから明らかなように、熱型赤外線検
出素子の温度T2が判明すれば、測定対象物の温
度T1も判明する。しかし、測定環境の温度変化
により、熱型赤外線検出素子の温度T2が変動す
るので、正確な測定対象物の温度測定を行うため
には、温度補償をする必要がある。この場合に、
測定対象物の温度T1の信号の４乗特性に合致す
る熱型赤外線検出素子の温度T2の信号が得られ
るならば、正確な測定対象物の温度測定が可能で
ある。
ルギー量 W2：熱型赤外線検出素子自身から放射される
赤外線のエネルギー量 T1：測定対象物の温度 T2：熱型赤外線検出素子の温度 したがつて、熱型赤外線検出素子の出力Ｖは、 Ｖ＝Ｋ（W1−W2）＝Kσ（T1 4−T2 4） Ｋ：光学系および熱型赤外線検出素子の感度等
により定まる係数 以上のことから明らかなように、熱型赤外線検
出素子の温度T2が判明すれば、測定対象物の温
度T1も判明する。しかし、測定環境の温度変化
により、熱型赤外線検出素子の温度T2が変動す
るので、正確な測定対象物の温度測定を行うため
には、温度補償をする必要がある。この場合に、
測定対象物の温度T1の信号の４乗特性に合致す
る熱型赤外線検出素子の温度T2の信号が得られ
るならば、正確な測定対象物の温度測定が可能で
ある。
熱型赤外線検出素子の温度測定のために、精密
型と簡易型と呼ばれる２つの方式が用いられてい
る。精密型とは、恒温槽を内蔵し、この中に熱型
赤外線検出素子を収納して、常に内部が一定の温
度になるように構成されたものである。この方式
によれば、測定環境の温度変化が生じても、熱型
赤外線検出素子の温度T2は変動しないので、温
度補償を行う必要がなく正確な温度測定が可能で
ある。しかし、この方式では、恒温槽が温まるま
では、即時の温度測定が不可能な点、およびヒー
タを備える必要があるので、装置が大型化すると
いう問題点があつた。一方、簡易型とは、恒温槽
を内蔵しないものであり、熱型赤外線検出素子の
温度測定を行うサーミスタ、測温抵抗体、ダイオ
ード等から、ほぼ温度に比例して出力される熱型
赤外線検出素子の温度信号にいろいろ操作を加え
て、温度補償を行う方式のものである。
型と簡易型と呼ばれる２つの方式が用いられてい
る。精密型とは、恒温槽を内蔵し、この中に熱型
赤外線検出素子を収納して、常に内部が一定の温
度になるように構成されたものである。この方式
によれば、測定環境の温度変化が生じても、熱型
赤外線検出素子の温度T2は変動しないので、温
度補償を行う必要がなく正確な温度測定が可能で
ある。しかし、この方式では、恒温槽が温まるま
では、即時の温度測定が不可能な点、およびヒー
タを備える必要があるので、装置が大型化すると
いう問題点があつた。一方、簡易型とは、恒温槽
を内蔵しないものであり、熱型赤外線検出素子の
温度測定を行うサーミスタ、測温抵抗体、ダイオ
ード等から、ほぼ温度に比例して出力される熱型
赤外線検出素子の温度信号にいろいろ操作を加え
て、温度補償を行う方式のものである。
この簡易型には、次のような４つの方式が用い
られている。まず、第１の方式は、アナログ・デ
ジタル変換を用いた方式であり、マイクロプロセ
ツサを使用して演算してやり、熱型赤外線検出素
子の温度信号を、測定対象物の温度信号と同じ４
乗特性にする方式である。しかし、この方式で
は、マイクロプロセツサを必要とするため、装置
自体が大型化する欠点があつた。第２の方式は、
関数発生回路を用いる方式であり、熱型赤外線検
出素子の温度信号を回路構成により、４乗特性に
するものである。ところが、この方式は温度特性
が悪く、かつ、特別な部品で回路構成をする必要
があるので、高価になるという欠点があつた。第
３の方式は、特公昭53−10467号公報に開示され
ているように、ダイオードが組み込まれた回路の
利用により、熱型赤外線検出素子の温度信号を１
点ないし数点で折曲させ、４乗特性に近似させる
方式である。しかし、この方式は、ダイオードを
回路に組み込んだために、回路自身がこのダイオ
ードの温度特性の影響を強く受け、測定環境の温
度変化が激しい際には、熱型赤外線検出素子の前
記温度信号の折曲点の位置がずれてしまい、所望
の４乗特性が得られず、正確な温度測定が不可能
になるという問題点があつた。
られている。まず、第１の方式は、アナログ・デ
ジタル変換を用いた方式であり、マイクロプロセ
ツサを使用して演算してやり、熱型赤外線検出素
子の温度信号を、測定対象物の温度信号と同じ４
乗特性にする方式である。しかし、この方式で
は、マイクロプロセツサを必要とするため、装置
自体が大型化する欠点があつた。第２の方式は、
関数発生回路を用いる方式であり、熱型赤外線検
出素子の温度信号を回路構成により、４乗特性に
するものである。ところが、この方式は温度特性
が悪く、かつ、特別な部品で回路構成をする必要
があるので、高価になるという欠点があつた。第
３の方式は、特公昭53−10467号公報に開示され
ているように、ダイオードが組み込まれた回路の
利用により、熱型赤外線検出素子の温度信号を１
点ないし数点で折曲させ、４乗特性に近似させる
方式である。しかし、この方式は、ダイオードを
回路に組み込んだために、回路自身がこのダイオ
ードの温度特性の影響を強く受け、測定環境の温
度変化が激しい際には、熱型赤外線検出素子の前
記温度信号の折曲点の位置がずれてしまい、所望
の４乗特性が得られず、正確な温度測定が不可能
になるという問題点があつた。
次に、第４の方式は、直線近似と呼ばれている
方式であり、熱型赤外線検出素子の温度信号のう
ち、４乗特性に近似する１部分を温度補償範囲と
するものである。この方式は安価であり、回路自
体の温度特性がないという利点がある。以下、こ
の方式について詳細に説明する。
方式であり、熱型赤外線検出素子の温度信号のう
ち、４乗特性に近似する１部分を温度補償範囲と
するものである。この方式は安価であり、回路自
体の温度特性がないという利点がある。以下、こ
の方式について詳細に説明する。
第３図に示すように、測定対象物から放射され
る赤外線８が、レンズ９を透過して熱型赤外線検
出素子１０に到達されると、熱型赤外線検出素子
１０は検出信号を発生する。この検出信号は、増
幅器１１により増幅されたのち、演算器１２に送
られる。一方、熱型赤外線検出素子１０自身の温
度は、温度測定回路１３を構成している抵抗ブリ
ツジ回路２により測定され、信号として送られ
る。温度測定回路１３は、第４図に示すような構
成をしている。抵抗ブリツジ回路２の１つの接続
点が、直流電源に接続されている。この抵抗ブリ
ツジ回路２の各辺は、抵抗R3，R4，R5と測温抵
抗体３からなつている。抵抗ブリツジ回路２は、
他の３つの接続点のうち１つの接続点が接地され
ている。残余の接続点は、各々抵抗R6，R7を介
してオペアンプ５に接続されている。オペアンプ
５には抵抗R9が負帰還されている。また、抵抗
R6は、抵抗R8を介して接地されている。以上の
構成からなる温度測定回路１３は、前記演算器１
２（第３図参照）に接続されており、演算器１２
は、増幅器１１および温度測定回路１３から送ら
れてくる信号を演算することにより、測定対象物
の温度測定を行つている。
る赤外線８が、レンズ９を透過して熱型赤外線検
出素子１０に到達されると、熱型赤外線検出素子
１０は検出信号を発生する。この検出信号は、増
幅器１１により増幅されたのち、演算器１２に送
られる。一方、熱型赤外線検出素子１０自身の温
度は、温度測定回路１３を構成している抵抗ブリ
ツジ回路２により測定され、信号として送られ
る。温度測定回路１３は、第４図に示すような構
成をしている。抵抗ブリツジ回路２の１つの接続
点が、直流電源に接続されている。この抵抗ブリ
ツジ回路２の各辺は、抵抗R3，R4，R5と測温抵
抗体３からなつている。抵抗ブリツジ回路２は、
他の３つの接続点のうち１つの接続点が接地され
ている。残余の接続点は、各々抵抗R6，R7を介
してオペアンプ５に接続されている。オペアンプ
５には抵抗R9が負帰還されている。また、抵抗
R6は、抵抗R8を介して接地されている。以上の
構成からなる温度測定回路１３は、前記演算器１
２（第３図参照）に接続されており、演算器１２
は、増幅器１１および温度測定回路１３から送ら
れてくる信号を演算することにより、測定対象物
の温度測定を行つている。
しかし、この方式では、温度測定回路により得
られた熱型赤外線検出素子の温度信号のうち、測
定対象物の放射する赤外線のエネルギー量を示
す。測定対象物の温度信号の４乗特性に近似した
部分しか利用することができず、極めて限られた
温度範囲しか補償できないという問題点があつ
た。また、近似しているといつても、実際には前
記４乗特性と同一ではないので、どうしても誤差
が生じる。この誤差は特に、温度が低いか、ある
いは、逆に高い状態においては相当な程度にな
り、温度補償を行つても正確な温度測定は不可能
であるという問題点があつた。
られた熱型赤外線検出素子の温度信号のうち、測
定対象物の放射する赤外線のエネルギー量を示
す。測定対象物の温度信号の４乗特性に近似した
部分しか利用することができず、極めて限られた
温度範囲しか補償できないという問題点があつ
た。また、近似しているといつても、実際には前
記４乗特性と同一ではないので、どうしても誤差
が生じる。この誤差は特に、温度が低いか、ある
いは、逆に高い状態においては相当な程度にな
り、温度補償を行つても正確な温度測定は不可能
であるという問題点があつた。
この発明は、上記問題点に鑑みてなされたもの
であり、この問題点を解決するための具体的手段
は、測定対象物から放射される赤外線を検出する
赤外線検出素子と、この赤外線検出素子自身の温
度測定を行う温度測定回路を有し、前記赤外線検
出素子と前記温度測定回路の両出力を演算処理す
ることにより温度補償を行う放射温度計におい
て、前記温度測定回路を、直流電源と、第１のオ
ペアンプと、前記直流電源に接続されかつこの第
１のオペアンプの負入力側に接続された抵抗と、
前記第１のオペアンプに負帰還をかける抵抗から
なる加算・増幅器と、 この加算・増幅器の出力側に接続され、かつ、
一辺の抵抗のみが測温抵抗体である抵抗ブリツジ
回路と、 第２のオペアンプと、前記抵抗ブリツジ回路に
接続されかつこの第２のオペアンプの正・負入力
側にそれぞれ接続された抵抗と、この第２のオペ
アンプの正入力側に接続された抵抗に接続されか
つ接地された抵抗と、前記第２のオペアンプに負
帰還をかける抵抗からなる差動増幅器とから構成
して、前記第１のオペアンプの正入力側に前記第
２のオペアンプの出力側を接続するようにしたこ
とである。
であり、この問題点を解決するための具体的手段
は、測定対象物から放射される赤外線を検出する
赤外線検出素子と、この赤外線検出素子自身の温
度測定を行う温度測定回路を有し、前記赤外線検
出素子と前記温度測定回路の両出力を演算処理す
ることにより温度補償を行う放射温度計におい
て、前記温度測定回路を、直流電源と、第１のオ
ペアンプと、前記直流電源に接続されかつこの第
１のオペアンプの負入力側に接続された抵抗と、
前記第１のオペアンプに負帰還をかける抵抗から
なる加算・増幅器と、 この加算・増幅器の出力側に接続され、かつ、
一辺の抵抗のみが測温抵抗体である抵抗ブリツジ
回路と、 第２のオペアンプと、前記抵抗ブリツジ回路に
接続されかつこの第２のオペアンプの正・負入力
側にそれぞれ接続された抵抗と、この第２のオペ
アンプの正入力側に接続された抵抗に接続されか
つ接地された抵抗と、前記第２のオペアンプに負
帰還をかける抵抗からなる差動増幅器とから構成
して、前記第１のオペアンプの正入力側に前記第
２のオペアンプの出力側を接続するようにしたこ
とである。
この発明は、前述のような手段を採つたので次
のような作用がもたらされる。
のような作用がもたらされる。
すなわち、直流電源により、加算・増幅器を通
してバイアス電圧を抵抗ブリツジ回路に印加する
ことによつて、測温抵抗体を有する抵抗ブリツジ
回路から生じた放射温度計の熱型赤外線検出素子
の温度信号は、第２のオペアンプと抵抗を有する
差動増幅器により増幅される。増幅された前記信
号は、第１のオペアンプの正側に入力され、この
第１のオペアンプと抵抗を有する加算・増幅器に
よつて、さらに増幅されて再び抵抗ブリツジ回路
に伝達される。加算・増幅器、抵抗ブリツジ回路
および差動増幅器からなるループにおいて、検出
信号はますます増幅される。そして、ある一定の
値で平衡する。この時、得られた熱型赤外線検出
素子の温度信号の特性は、３点を随意設定するこ
とにより、測定対象物の放射する赤外線のエネル
ギーの４乗特性と合致する。
してバイアス電圧を抵抗ブリツジ回路に印加する
ことによつて、測温抵抗体を有する抵抗ブリツジ
回路から生じた放射温度計の熱型赤外線検出素子
の温度信号は、第２のオペアンプと抵抗を有する
差動増幅器により増幅される。増幅された前記信
号は、第１のオペアンプの正側に入力され、この
第１のオペアンプと抵抗を有する加算・増幅器に
よつて、さらに増幅されて再び抵抗ブリツジ回路
に伝達される。加算・増幅器、抵抗ブリツジ回路
および差動増幅器からなるループにおいて、検出
信号はますます増幅される。そして、ある一定の
値で平衡する。この時、得られた熱型赤外線検出
素子の温度信号の特性は、３点を随意設定するこ
とにより、測定対象物の放射する赤外線のエネル
ギーの４乗特性と合致する。
以下、この発明を１実施例をあらわす図面に基
づいて詳しく説明する。なお、従来例と同一の部
分は説明を簡略化する。
づいて詳しく説明する。なお、従来例と同一の部
分は説明を簡略化する。
第２図に示すように、放射温度計の回路構成は
第３図に示した従来例と殆ど同じである。ただ、
従来例の温度測定回路１３が、４乗特性発現回路
７に変更されている。
第３図に示した従来例と殆ど同じである。ただ、
従来例の温度測定回路１３が、４乗特性発現回路
７に変更されている。
この４乗特性発現回路７の１実施例を第１図に
示す。直流電源の負側に接続された抵抗R1が、
第１のオペアンプ１の負入力側に接続されてい
る。第１のオペアンプ１には、抵抗R2が負帰還
をかけている。上記抵抗R1，R2および第１のオ
ペアンプ１によつて、加算・増幅器Ａが形成され
ている。第１のオペアンプ１の出力側に、抵抗ブ
リツジ回路２が接続されている。抵抗ブリツジ回
路２は、抵抗R3，R4，R5および測温抵抗体３か
ら構成されている。抵抗R4と測温抵抗体３の接
続点４は、抵抗R6を介して第２のオペアンプ５
の正入力側に接続されている。一方、抵抗R3と
R5の接続点６は、抵抗R7を介して第２のオペア
ンプ５の負入力側に接続されている。また、測温
抵抗体３と抵抗R5の接続点１４は、接地されて
いる。また、前記抵抗R6は、抵抗R8を介して接
地されている。第２のオペアンプ５は、抵抗R9
が負帰還をかけている。上記抵抗R6，R7，R8，
R9および第２のオペアンプ５によつて、差動増
幅器Ｂが形成されている。そして、第２のオペア
ンプ５の出力側は、前記第１のオペアンプ１の正
入力側に接続されている。
示す。直流電源の負側に接続された抵抗R1が、
第１のオペアンプ１の負入力側に接続されてい
る。第１のオペアンプ１には、抵抗R2が負帰還
をかけている。上記抵抗R1，R2および第１のオ
ペアンプ１によつて、加算・増幅器Ａが形成され
ている。第１のオペアンプ１の出力側に、抵抗ブ
リツジ回路２が接続されている。抵抗ブリツジ回
路２は、抵抗R3，R4，R5および測温抵抗体３か
ら構成されている。抵抗R4と測温抵抗体３の接
続点４は、抵抗R6を介して第２のオペアンプ５
の正入力側に接続されている。一方、抵抗R3と
R5の接続点６は、抵抗R7を介して第２のオペア
ンプ５の負入力側に接続されている。また、測温
抵抗体３と抵抗R5の接続点１４は、接地されて
いる。また、前記抵抗R6は、抵抗R8を介して接
地されている。第２のオペアンプ５は、抵抗R9
が負帰還をかけている。上記抵抗R6，R7，R8，
R9および第２のオペアンプ５によつて、差動増
幅器Ｂが形成されている。そして、第２のオペア
ンプ５の出力側は、前記第１のオペアンプ１の正
入力側に接続されている。
以上のように構成された、放射温度計の熱型赤
外線検出素子の温度補償を行う４乗特性発現回路
７において、測温抵抗体３が熱型赤外線検出素子
１０（第２図参照）の温度を検知すると、抵抗ブ
リツジ回路２は検出信号を発生する。この検出信
号は、差動増幅器Ｂに入力され、増幅される。増
幅された検出信号は、加算・増幅器Ａに伝達さ
れ、抵抗ブリツジ回路２に伝達される。以下、同
様にして、抵抗ブリツジ回路２、差動増幅器Ｂお
よび加算・増幅器Ａによつて構成されるループに
おいて、正帰還がかかり、ますます前記検出信号
は増幅される。そして、ある一定の値で平衡す
る。この時、得られた熱型赤外線検出素子１０の
温度信号の特性は、任意の３点を設定してやるこ
とにより、４乗特性と合致する。
外線検出素子の温度補償を行う４乗特性発現回路
７において、測温抵抗体３が熱型赤外線検出素子
１０（第２図参照）の温度を検知すると、抵抗ブ
リツジ回路２は検出信号を発生する。この検出信
号は、差動増幅器Ｂに入力され、増幅される。増
幅された検出信号は、加算・増幅器Ａに伝達さ
れ、抵抗ブリツジ回路２に伝達される。以下、同
様にして、抵抗ブリツジ回路２、差動増幅器Ｂお
よび加算・増幅器Ａによつて構成されるループに
おいて、正帰還がかかり、ますます前記検出信号
は増幅される。そして、ある一定の値で平衡す
る。この時、得られた熱型赤外線検出素子１０の
温度信号の特性は、任意の３点を設定してやるこ
とにより、４乗特性と合致する。
この実施例においては、加算・増幅器Ａの抵抗
R1は直流電源の負側に接続されていたが、正側
に接続しても得られる４乗特性には差異がない。
R1は直流電源の負側に接続されていたが、正側
に接続しても得られる４乗特性には差異がない。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、この発明にか
かる放射温度計は、測定対象物から放射される赤
外線のエネルギーの４乗特性に合致する温度補償
を、極めて簡単な構成の回路を用いることにより
達成しているので、部品点数を増加させることも
なく、しかも高価な部品を使用することもなく、
測定対象物の正確な温度測定が可能である。ま
た、環境温度の変化に対して特性が変化するダイ
オード等の要素を用いずに回路構成を行つている
ので、温度変化の激しい環境下においても正確な
温度測定が可能である。
かる放射温度計は、測定対象物から放射される赤
外線のエネルギーの４乗特性に合致する温度補償
を、極めて簡単な構成の回路を用いることにより
達成しているので、部品点数を増加させることも
なく、しかも高価な部品を使用することもなく、
測定対象物の正確な温度測定が可能である。ま
た、環境温度の変化に対して特性が変化するダイ
オード等の要素を用いずに回路構成を行つている
ので、温度変化の激しい環境下においても正確な
温度測定が可能である。
第１図はこの発明の４乗特性発現回路の１実施
例の回路図、第２図はこの発明にかかる放射温度
計の簡略した温度補償のブロツク図、第３図は従
来例の簡略した温度補償のブロツク図、第４図は
従来例の温度測定回路の回路図である。 １…第１のオペアンプ、２…抵抗ブリツジ回
路、３…測温抵抗体、４…接続点、５…第２のオ
ペアンプ、６…接続点、７…４乗特性発現回路、
１０…赤外線検出素子、１２…演算器、１４…接
続点、Ａ…加算・増幅器、Ｂ…差動増幅器。
例の回路図、第２図はこの発明にかかる放射温度
計の簡略した温度補償のブロツク図、第３図は従
来例の簡略した温度補償のブロツク図、第４図は
従来例の温度測定回路の回路図である。 １…第１のオペアンプ、２…抵抗ブリツジ回
路、３…測温抵抗体、４…接続点、５…第２のオ
ペアンプ、６…接続点、７…４乗特性発現回路、
１０…赤外線検出素子、１２…演算器、１４…接
続点、Ａ…加算・増幅器、Ｂ…差動増幅器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 測定対象物から放射される赤外線を検出する
赤外線検出素子と、この赤外線検出素子自身の温
度測定を行う温度測定回路を有し、前記赤外線検
出素子と前記温度測定回路の両出力を演算処理す
ることにより温度補償を行う放射温度計におい
て、 前記温度測定回路が、 直流電源と、 第１のオペアンプと、前記直流電源に接続され
かつこの第１のオペアンプの負入力側に接続され
た抵抗と、前記第１のオペアンプに負帰還をかけ
る抵抗からなる加算・増幅器と、 この加算・増幅器の出力側に接続され、かつ、
一辺の抵抗のみが測温抵抗体である抵抗ブリツジ
回路と、 第２のオペアンプと、前記抵抗ブリツジ回路に
接続されかつこの第２のオペアンプの正・負入力
側にそれぞれ接続された抵抗と、この第２のオペ
アンプの正入力側に接続された抵抗に接続されか
つ接地された抵抗と、前記第２のオペアンプに負
帰還をかける抵抗からなる差動増幅器とから構成
されていて、前記第１のオペアンプの正入力側に
前記第２のオペアンプの出力側が接続されている
ことを特徴とする放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4800585A JPS61207934A (ja) | 1985-03-11 | 1985-03-11 | 放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4800585A JPS61207934A (ja) | 1985-03-11 | 1985-03-11 | 放射温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61207934A JPS61207934A (ja) | 1986-09-16 |
| JPH0471448B2 true JPH0471448B2 (ja) | 1992-11-13 |
Family
ID=12791182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4800585A Granted JPS61207934A (ja) | 1985-03-11 | 1985-03-11 | 放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61207934A (ja) |
-
1985
- 1985-03-11 JP JP4800585A patent/JPS61207934A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61207934A (ja) | 1986-09-16 |
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