JPH08330959A - Ａ−ｄ入力回路の故障検出方法 - Google Patents
Ａ−ｄ入力回路の故障検出方法Info
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- JPH08330959A JPH08330959A JP13375795A JP13375795A JPH08330959A JP H08330959 A JPH08330959 A JP H08330959A JP 13375795 A JP13375795 A JP 13375795A JP 13375795 A JP13375795 A JP 13375795A JP H08330959 A JPH08330959 A JP H08330959A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路規模を大きくすることなく、しかも、Ａ
−Ｄ入力回路の故障検出能力の向上を図れるＡ−Ｄ入力
回路の故障検出方法を提供する。 【構成】 複数のアナログ入力１０を有するマルチプレ
クサ１とバイナリーコード出力のＡ−Ｄコンバータ３と
で構成されるＡ−Ｄ入力回路の前記マルチプレクサ１の
２つのアナログ入力１０を、それぞれ電源電圧Ｖccとグ
ランド電圧Ｅとに接続し、前記マルチプレクサ１を切換
えてその出力をＡ−Ｄコンバータ３に入力する。その
際、電源電圧Ｖccの変換出力は全てのビットが「１」と
なるので「０」のビットを検出することにより、ビット
「０」の固着を検出する。また、グランド電圧Ｅの変換
出力は全てのビットが「０」となるので「１」のビット
を検出することによりビット「１」の固着を検出するこ
とができる。したがって、回路規模を大きくすることな
く、しかも故障を許容範囲や入力信号の時間変位に依ら
ずに故障を検出できるので故障検出の精度の向上が計れ
る。
−Ｄ入力回路の故障検出能力の向上を図れるＡ−Ｄ入力
回路の故障検出方法を提供する。 【構成】 複数のアナログ入力１０を有するマルチプレ
クサ１とバイナリーコード出力のＡ−Ｄコンバータ３と
で構成されるＡ−Ｄ入力回路の前記マルチプレクサ１の
２つのアナログ入力１０を、それぞれ電源電圧Ｖccとグ
ランド電圧Ｅとに接続し、前記マルチプレクサ１を切換
えてその出力をＡ−Ｄコンバータ３に入力する。その
際、電源電圧Ｖccの変換出力は全てのビットが「１」と
なるので「０」のビットを検出することにより、ビット
「０」の固着を検出する。また、グランド電圧Ｅの変換
出力は全てのビットが「０」となるので「１」のビット
を検出することによりビット「１」の固着を検出するこ
とができる。したがって、回路規模を大きくすることな
く、しかも故障を許容範囲や入力信号の時間変位に依ら
ずに故障を検出できるので故障検出の精度の向上が計れ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばＡＢＳ（アンチ
ロックブレーキシステム）電子制御ユニットにおけるＧ
センサ入力部などに応用されるＡ−Ｄ入力回路の故障検
出方法に関するものである。
ロックブレーキシステム）電子制御ユニットにおけるＧ
センサ入力部などに応用されるＡ−Ｄ入力回路の故障検
出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】アナログ量とデジタル量とのインターフ
ェースとして図１１に示すように、センサ４などのアナ
ログ出力回路とＣＰＵ５等のデジタル回路間に設けられ
るＡ−Ｄ入力回路は、例えばマルチプレクサ１、サンプ
ル／ホールド回路２及びＡ−Ｄコンバータ３とで構成さ
れ、センサ４から出力されるアナログ量をＣＰＵ５の扱
えるデジタル量に変換する。
ェースとして図１１に示すように、センサ４などのアナ
ログ出力回路とＣＰＵ５等のデジタル回路間に設けられ
るＡ−Ｄ入力回路は、例えばマルチプレクサ１、サンプ
ル／ホールド回路２及びＡ−Ｄコンバータ３とで構成さ
れ、センサ４から出力されるアナログ量をＣＰＵ５の扱
えるデジタル量に変換する。
【０００３】すなわち、センサ４からのアナログ信号
は、増幅器６により増幅され、ＣＰＵ５からの入力コン
トロール切換え信号（マルチプレクサ制御信号）により
選択され、サンプル／ホールド回路２に入力される。サ
ンプル／ホールド回路２では、入力された信号をサンプ
リングし、Ａ−Ｄコンバータ３がＡ−Ｄ変換の動作を完
了するまでの間サンプリングした信号レベルを保持す
る。また、このサンプル／ホールド出力は、Ａ−Ｄコン
バータ３のアナログ入力へ印加されており、Ａ−Ｄコン
バータ３は、この信号をＡ−Ｄ変換してパラレル出力に
より出力バッファ７を介してＣＰＵ５に入力するか、あ
るいは、シリアル出力によりＣＰＵ５に入力する。図１
１中符号８はＡ−Ｄコンバータの基準電圧源であり、符
号９はＡ−ＤコンバータのＡ−Ｄ変換動作を制御する制
御ロジックである。
は、増幅器６により増幅され、ＣＰＵ５からの入力コン
トロール切換え信号（マルチプレクサ制御信号）により
選択され、サンプル／ホールド回路２に入力される。サ
ンプル／ホールド回路２では、入力された信号をサンプ
リングし、Ａ−Ｄコンバータ３がＡ−Ｄ変換の動作を完
了するまでの間サンプリングした信号レベルを保持す
る。また、このサンプル／ホールド出力は、Ａ−Ｄコン
バータ３のアナログ入力へ印加されており、Ａ−Ｄコン
バータ３は、この信号をＡ−Ｄ変換してパラレル出力に
より出力バッファ７を介してＣＰＵ５に入力するか、あ
るいは、シリアル出力によりＣＰＵ５に入力する。図１
１中符号８はＡ−Ｄコンバータの基準電圧源であり、符
号９はＡ−ＤコンバータのＡ−Ｄ変換動作を制御する制
御ロジックである。
【０００４】ところで、このようなＡ−Ｄ入力回路で
は、Ａ−Ｄコンバータ３のデジタル出力の特定のビット
が「０」または「１」に固着するなどの故障の起きるこ
とがあり、問題となっている。
は、Ａ−Ｄコンバータ３のデジタル出力の特定のビット
が「０」または「１」に固着するなどの故障の起きるこ
とがあり、問題となっている。
【０００５】この問題を解決する１つの方法として例え
ば、車のアンチロックブレーキシステムの、電子制御ユ
ニットのＧセンサ（加速度センサ）検出回路では、図１
２に示すように、Ａ−Ｄ入力回路（なお、簡単のため、
図１２では、サンプル／ホールド回路２を省略してあ
る。）を２重系にして双方のＡ−Ｄ入力回路から得られ
た結果を照合比較することにより、故障の検出が行なえ
るようにしている。
ば、車のアンチロックブレーキシステムの、電子制御ユ
ニットのＧセンサ（加速度センサ）検出回路では、図１
２に示すように、Ａ−Ｄ入力回路（なお、簡単のため、
図１２では、サンプル／ホールド回路２を省略してあ
る。）を２重系にして双方のＡ−Ｄ入力回路から得られ
た結果を照合比較することにより、故障の検出が行なえ
るようにしている。
【０００６】他の方法として、例えば特開平２−１４５
０７２２号公報には図１３に示すように、Ａ−Ｄコンバ
ータ３出力に接続された制御回路２０の出力を平滑回路
２１を介してＡ−Ｄコンバータ３入力にフィードバック
したＡ−Ｄコンバータ３の試験装置が記載されている。
０７２２号公報には図１３に示すように、Ａ−Ｄコンバ
ータ３出力に接続された制御回路２０の出力を平滑回路
２１を介してＡ−Ｄコンバータ３入力にフィードバック
したＡ−Ｄコンバータ３の試験装置が記載されている。
【０００７】この装置では、制御回路２０は、Ａ−Ｄコ
ンバータ３出力を一時記憶するＤ出力コードメモリと、
そのメモリから読み出されたコードとＡ−Ｄコンバータ
３から出力された変換コードとを比較し、ＨまたはＬ出
力の制御信号（Ａ−Ｄコンバータ＞Ｄ出力コードメモリ
→Ｈ、Ａ−Ｄコンバータ＜Ｄ出力コードメモリ→Ｌ）Ｃ
0 を平滑回路２１に出力する比較回路を有し、メモリ制
御回路により、比較回路の出力Ｃ0 がＨレベルのとき
は、Ａ−Ｄコンバータ３の出力コードをＤ出力コードメ
モリでラッチしたのち、順次比較回路に出力し、一方、
比較回路の出力Ｃ0 がＬレベルのときには、出力がＨレ
ベルに変化するまで、Ａ−Ｄコンバータ３の出力コード
をＤ出力コードメモリで保持することによって、例えば
試験中にＡ−Ｄコンバータ３出力がコード飛び等を起こ
し、コード出力が所定のコードより増加や減少を起こす
と、制御回路２０から平滑回路２１に出力される制御信
号Ｃ0 がＨとＬとを繰り返して出力され、その制御信号
の入力された平滑回路２１出力が図１４のＤinに示すよ
うに変化して、Ａ−Ｄコンバータ３から、図１４のＤ
out 出力に示すように、同じコード出力が繰り返し出力
されるようにしたものがある。
ンバータ３出力を一時記憶するＤ出力コードメモリと、
そのメモリから読み出されたコードとＡ−Ｄコンバータ
３から出力された変換コードとを比較し、ＨまたはＬ出
力の制御信号（Ａ−Ｄコンバータ＞Ｄ出力コードメモリ
→Ｈ、Ａ−Ｄコンバータ＜Ｄ出力コードメモリ→Ｌ）Ｃ
0 を平滑回路２１に出力する比較回路を有し、メモリ制
御回路により、比較回路の出力Ｃ0 がＨレベルのとき
は、Ａ−Ｄコンバータ３の出力コードをＤ出力コードメ
モリでラッチしたのち、順次比較回路に出力し、一方、
比較回路の出力Ｃ0 がＬレベルのときには、出力がＨレ
ベルに変化するまで、Ａ−Ｄコンバータ３の出力コード
をＤ出力コードメモリで保持することによって、例えば
試験中にＡ−Ｄコンバータ３出力がコード飛び等を起こ
し、コード出力が所定のコードより増加や減少を起こす
と、制御回路２０から平滑回路２１に出力される制御信
号Ｃ0 がＨとＬとを繰り返して出力され、その制御信号
の入力された平滑回路２１出力が図１４のＤinに示すよ
うに変化して、Ａ−Ｄコンバータ３から、図１４のＤ
out 出力に示すように、同じコード出力が繰り返し出力
されるようにしたものがある。
【０００８】また、これら以外の方法として、変換出力
の電圧値の許容範囲や入力信号の時間変移をあらかじめ
設定しておき、これらの設定値と変換出力とを比較し、
設定値の特性と一致しない場合故障と判定するなどの方
法が行なわれている。
の電圧値の許容範囲や入力信号の時間変移をあらかじめ
設定しておき、これらの設定値と変換出力とを比較し、
設定値の特性と一致しない場合故障と判定するなどの方
法が行なわれている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
Ａ−Ｄ入力回路を２重系としたものでは、故障の検出精
度は比較的高いが、回路規模が大きくなり、コスト高に
なるという問題がある。
Ａ−Ｄ入力回路を２重系としたものでは、故障の検出精
度は比較的高いが、回路規模が大きくなり、コスト高に
なるという問題がある。
【００１０】また、制御回路の出力を平滑回路を介して
Ａ−Ｄコンバータ入力にフィードバックしたものでは、
誤りコードが繰り返し出力されるという特長を有する
が、メモリ制御回路によるＤ出力コードメモリと比較回
路に対する複雑なタイミング制御が必要となり、そのた
め、部品点数も多くなることが考えられるため、Ａ−Ｄ
入力回路を２重系とした上述のものと同様に、回路規模
が大きくなり、コスト高になるという問題がある。
Ａ−Ｄコンバータ入力にフィードバックしたものでは、
誤りコードが繰り返し出力されるという特長を有する
が、メモリ制御回路によるＤ出力コードメモリと比較回
路に対する複雑なタイミング制御が必要となり、そのた
め、部品点数も多くなることが考えられるため、Ａ−Ｄ
入力回路を２重系とした上述のものと同様に、回路規模
が大きくなり、コスト高になるという問題がある。
【００１１】一方、変換出力が本来の特性から外れたか
どうかによって故障を判定する方法では、検出の感度
（精度）を高めようと変換出力の電圧値の許容範囲を狭
く、入力信号の時間変移を検出する周期を短くすると、
応答性は良くなるが正常な変換でも故障と判定してしま
う誤検出が増加する欠点がある。そのため、逆に変換出
力の電圧値の許容範囲を広く、入力信号の時間変移を検
出する周期を長くすると、検出の感度（精度）が低く、
応答特性も悪くなることから、設定がクリティカルで難
しく検出能力の向上に限界があるという問題がある。
どうかによって故障を判定する方法では、検出の感度
（精度）を高めようと変換出力の電圧値の許容範囲を狭
く、入力信号の時間変移を検出する周期を短くすると、
応答性は良くなるが正常な変換でも故障と判定してしま
う誤検出が増加する欠点がある。そのため、逆に変換出
力の電圧値の許容範囲を広く、入力信号の時間変移を検
出する周期を長くすると、検出の感度（精度）が低く、
応答特性も悪くなることから、設定がクリティカルで難
しく検出能力の向上に限界があるという問題がある。
【００１２】そこで、この発明の課題は、Ａ−Ｄ入力回
路を２重系とするような回路規模を大きくすることな
く、しかも、Ａ−Ｄ入力回路の故障検出精度の向上を計
ることのできるＡ−Ｄ入力回路の故障検出方法を提供す
ることである。
路を２重系とするような回路規模を大きくすることな
く、しかも、Ａ−Ｄ入力回路の故障検出精度の向上を計
ることのできるＡ−Ｄ入力回路の故障検出方法を提供す
ることである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、第１の発明では、複数のアナログ入力を有するマル
チプレクサを備え、そのマルチプレクサを切換えて１つ
のＡ−Ｄコンバータで複数のアナログ入力信号をバイナ
リーコード信号に変換するＡ−Ｄ入力回路の前記マルチ
プレクサのアナログ入力に、Ａ−Ｄ入力回路の電源電
圧、基準グランド電圧に相当する信号を入力し、マルチ
プレクサを切換えてその出力をＡ−Ｄコンバータに入力
し、その際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル
出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するとい
う方法を採用したのである。
め、第１の発明では、複数のアナログ入力を有するマル
チプレクサを備え、そのマルチプレクサを切換えて１つ
のＡ−Ｄコンバータで複数のアナログ入力信号をバイナ
リーコード信号に変換するＡ−Ｄ入力回路の前記マルチ
プレクサのアナログ入力に、Ａ−Ｄ入力回路の電源電
圧、基準グランド電圧に相当する信号を入力し、マルチ
プレクサを切換えてその出力をＡ−Ｄコンバータに入力
し、その際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル
出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するとい
う方法を採用したのである。
【００１４】このとき、第２の発明では、上記マルチプ
レクサのアナログ入力に接続したＡ−Ｄ入力回路の電源
電圧、基準グランド電圧に相当する信号入力を、上記マ
ルチプレクサのアナログ入力に交互に接続するスイッチ
手段を介して接続し、そのスイッチ手段を切換えて、上
記基準となる信号入力をマルチプレクサに接続し、その
際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル出力に基
づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するという方法を
採用することができる。
レクサのアナログ入力に接続したＡ−Ｄ入力回路の電源
電圧、基準グランド電圧に相当する信号入力を、上記マ
ルチプレクサのアナログ入力に交互に接続するスイッチ
手段を介して接続し、そのスイッチ手段を切換えて、上
記基準となる信号入力をマルチプレクサに接続し、その
際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル出力に基
づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するという方法を
採用することができる。
【００１５】同様に、第３の発明では、上記切換え手段
に２種類の基準電圧切換え時の過渡電圧を平滑化するロ
ーパスフィルタを備え、その切換え手段を切換えて上記
基準となる信号入力をマルチプレクサに接続し、その
際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル出力に基
づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するという方法を
採用することもできる。
に２種類の基準電圧切換え時の過渡電圧を平滑化するロ
ーパスフィルタを備え、その切換え手段を切換えて上記
基準となる信号入力をマルチプレクサに接続し、その
際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル出力に基
づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するという方法を
採用することもできる。
【００１６】第４の発明では、複数のアナログ入力を有
する複数個のマルチプレクサと、１つのＡ−Ｄコンバー
タとを前記複数個のマルチプレクサ出力のいずれか１つ
をＡ−Ｄコンバータと接続する切換え手段を介して接続
し、そのマルチプレクサと接続されたＡ−Ｄコンバータ
にＡ−Ｄコンバータの出力するデジタル出力を記憶すル
チプレクサからのアナログ入力のＡ−Ｄ変換出力データ
によって更新されるＡ−Ｄ入力回路の、前記複数のマル
チプレクサの内の１つのマルチプレクサのアナログ入力
の２入力に、それぞれ前記Ａ−Ｄ入力回路の電源電圧、
基準グランド電圧に相当する信号を入力し、この２入力
の変換結果が格納される出力レジスタを更新する他のマ
ルチプレクサの２入力に、同じアナログ入力信号を並列
に接続し、マルチプレクサを切換えて前記出力をマルチ
プレクサに入力し、その際、Ａ−Ｄコンバータから前記
レジスタに出力されるデジタル変換出力から出力レジス
タと前記切り換え手段の故障を検出するという方法を採
用したのである。
する複数個のマルチプレクサと、１つのＡ−Ｄコンバー
タとを前記複数個のマルチプレクサ出力のいずれか１つ
をＡ−Ｄコンバータと接続する切換え手段を介して接続
し、そのマルチプレクサと接続されたＡ−Ｄコンバータ
にＡ−Ｄコンバータの出力するデジタル出力を記憶すル
チプレクサからのアナログ入力のＡ−Ｄ変換出力データ
によって更新されるＡ−Ｄ入力回路の、前記複数のマル
チプレクサの内の１つのマルチプレクサのアナログ入力
の２入力に、それぞれ前記Ａ−Ｄ入力回路の電源電圧、
基準グランド電圧に相当する信号を入力し、この２入力
の変換結果が格納される出力レジスタを更新する他のマ
ルチプレクサの２入力に、同じアナログ入力信号を並列
に接続し、マルチプレクサを切換えて前記出力をマルチ
プレクサに入力し、その際、Ａ−Ｄコンバータから前記
レジスタに出力されるデジタル変換出力から出力レジス
タと前記切り換え手段の故障を検出するという方法を採
用したのである。
【００１７】
【作用】上記のように構成される第１の発明では、マル
チプレクサにＡ−Ｄコンバータに与えている電源電圧＋
Ｖccと正確に一致する電圧を入力し、変換を行なった場
合、Ａ−Ｄコンバータの変換出力のデジタルデータの全
てのビットを「１」にすることができる。また、グラン
ド電圧Ｅを入力した場合は全てのビットを「０」にする
ことができる（但し、厳密にはノイズの影響などによ
り、下位のビットが異なった値となる可能性があり、こ
の場合は、故障検出の対象から外すなどの処理をす
る）。
チプレクサにＡ−Ｄコンバータに与えている電源電圧＋
Ｖccと正確に一致する電圧を入力し、変換を行なった場
合、Ａ−Ｄコンバータの変換出力のデジタルデータの全
てのビットを「１」にすることができる。また、グラン
ド電圧Ｅを入力した場合は全てのビットを「０」にする
ことができる（但し、厳密にはノイズの影響などによ
り、下位のビットが異なった値となる可能性があり、こ
の場合は、故障検出の対象から外すなどの処理をす
る）。
【００１８】上記の内容より電源電圧Ｖccの変換値でい
ずれかのビットが「０」の場合、及びグランド電圧Ｅの
変換値でいずれかのビットが「１」の場合は故障と判定
することができる。このことにより、複数入力を共通に
Ａ−Ｄコンバートする部分での、特定のビットが「０」
または「１」に固着するなどの故障検出ができる。
ずれかのビットが「０」の場合、及びグランド電圧Ｅの
変換値でいずれかのビットが「１」の場合は故障と判定
することができる。このことにより、複数入力を共通に
Ａ−Ｄコンバートする部分での、特定のビットが「０」
または「１」に固着するなどの故障検出ができる。
【００１９】第２の発明では、切換え手段を切換えるこ
とにより、マルチプレクサの一つのアナログ入力を使用
してＡ−Ｄコンバータに上記電源電圧、グランド電圧を
印加して故障の検出ができる。
とにより、マルチプレクサの一つのアナログ入力を使用
してＡ−Ｄコンバータに上記電源電圧、グランド電圧を
印加して故障の検出ができる。
【００２０】第３の発明では、上記切換え手段を切換え
てローパスフィルタにより、時間の経過とともに前記電
圧が上昇あるいは下降する過渡波形を入力し、その波形
をＡ−Ｄコンバータに変換させる。このとき、変換が正
常に行なわれると出力されるデータは連続したものとな
るはずなので、この出力データの連続性を検討すること
により、ビット固着を検出することができる。
てローパスフィルタにより、時間の経過とともに前記電
圧が上昇あるいは下降する過渡波形を入力し、その波形
をＡ−Ｄコンバータに変換させる。このとき、変換が正
常に行なわれると出力されるデータは連続したものとな
るはずなので、この出力データの連続性を検討すること
により、ビット固着を検出することができる。
【００２１】第４の発明では、例えば複数個あるマルチ
プレクサの一つのマルチプレクサの２つの入力に電源電
圧、グランド電圧などの変換データの全てのビットを
「１」または「０」にする電圧を入力し、それぞれの入
力に対応するレジスタに変換データを書き込む。このと
き、２つのレジスタの内容は、一方のレジスタのビット
は全て「１」で、他方のレジスタのビットは全て「０」
となっているはずなので、ビット「１」または「０」の
固着の検出ができる。
プレクサの一つのマルチプレクサの２つの入力に電源電
圧、グランド電圧などの変換データの全てのビットを
「１」または「０」にする電圧を入力し、それぞれの入
力に対応するレジスタに変換データを書き込む。このと
き、２つのレジスタの内容は、一方のレジスタのビット
は全て「１」で、他方のレジスタのビットは全て「０」
となっているはずなので、ビット「１」または「０」の
固着の検出ができる。
【００２２】一方、この検出の際、例えば切換え手段が
間違って他のマルチプレクサを選択した場合には、他の
マルチプレクサの２入力に同じアナログ信号を入力した
ことにより、前記レジスタの内容が二つとも同じ内容と
なるため、切換え手段の故障の検出が行なえる。しか
も、このとき、アナログ入力の変換出力データのビット
が全て「１」の「０」の場合でもレジスタの内容が同じ
内容となることから故障の検出が行なえる。
間違って他のマルチプレクサを選択した場合には、他の
マルチプレクサの２入力に同じアナログ信号を入力した
ことにより、前記レジスタの内容が二つとも同じ内容と
なるため、切換え手段の故障の検出が行なえる。しか
も、このとき、アナログ入力の変換出力データのビット
が全て「１」の「０」の場合でもレジスタの内容が同じ
内容となることから故障の検出が行なえる。
【００２３】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。
明する。
【００２４】図１に第１の発明に係るＡ−Ｄ入力回路の
ブロック図を示す。
ブロック図を示す。
【００２５】このＡ−Ｄ入力回路は、複数のアナログ入
力１０を有するマルチプレクサ１とバイナリーコード出
力のＡ−Ｄコンバータ３とで構成され、図では、簡単の
ため、サンプル／ホールド回路２は省略してある。
力１０を有するマルチプレクサ１とバイナリーコード出
力のＡ−Ｄコンバータ３とで構成され、図では、簡単の
ため、サンプル／ホールド回路２は省略してある。
【００２６】また、マルチプレクサ１のアナログ入力１
０の２入力には、電圧源としてそれぞれＡ−Ｄコンバー
タ３に印加される電源電圧Ｖccとグランド電圧Ｅとが接
続してある。
０の２入力には、電圧源としてそれぞれＡ−Ｄコンバー
タ３に印加される電源電圧Ｖccとグランド電圧Ｅとが接
続してある。
【００２７】この実施例は、以上のように構成されてお
り、次にこの回路を用いて第１の発明に係る故障検出方
法について説明する。
り、次にこの回路を用いて第１の発明に係る故障検出方
法について説明する。
【００２８】このＡ−Ｄ入力回路では、マルチプレクサ
１を切換えて電源電圧ＶccとグラントＥ電圧とをＡ−Ｄ
コンバータ３に入力すると、図２に示すように、Ａ−Ｄ
コンバータ３が電源電圧Ｖcc入力に対する変換を行なっ
た場合は、変換結果のデジタルデータの全てのビットが
「１」になり、グランドＥ電圧に対する変換を行なった
場合には全ビットが「０」になる。
１を切換えて電源電圧ＶccとグラントＥ電圧とをＡ−Ｄ
コンバータ３に入力すると、図２に示すように、Ａ−Ｄ
コンバータ３が電源電圧Ｖcc入力に対する変換を行なっ
た場合は、変換結果のデジタルデータの全てのビットが
「１」になり、グランドＥ電圧に対する変換を行なった
場合には全ビットが「０」になる。
【００２９】このため、電源電圧Ｖccを入力した場合
は、いずれかのビットに「０」が出力されているか、い
ないかを検出し、このとき、「０」のビットが検出され
ると、ビットが固着していることが考えられるので、異
常として判定する。同様に、グランド電圧Ｅを入力した
場合には、いずれかのビットに「１」が検出されている
か、いないかを検出し、もし、「１」のビットが検出さ
れると、ビットが固着していることが考えられるので異
常として判定する。
は、いずれかのビットに「０」が出力されているか、い
ないかを検出し、このとき、「０」のビットが検出され
ると、ビットが固着していることが考えられるので、異
常として判定する。同様に、グランド電圧Ｅを入力した
場合には、いずれかのビットに「１」が検出されている
か、いないかを検出し、もし、「１」のビットが検出さ
れると、ビットが固着していることが考えられるので異
常として判定する。
【００３０】このようにして、ビットの「１」と「０」
とを検出することにより、簡単にＡ−Ｄコンバータ３の
ビット固着に関する故障を検出することができる。
とを検出することにより、簡単にＡ−Ｄコンバータ３の
ビット固着に関する故障を検出することができる。
【００３１】図３に第２実施例として第２の発明に係る
Ａ−Ｄ入力回路を示す。
Ａ−Ｄ入力回路を示す。
【００３２】この実施例のＡ−Ｄ入力回路は、図３に示
すように、第１実施例のＡ−Ｄ入力回路のマルチプレク
サ１のアナログ入力１０にトランジスタスイッチ回路１
１を介して電源電圧Ｖccと基準グランド電圧Ｅとを接続
したもので、マルチプレクサ１のアナログ入力１０の１
つと接続したトランジスタスイッチ回路１１のコレクタ
回路Ｃを負荷抵抗を介して電源電圧Ｖccと接続し、エミ
ッタ回路ｅをグランド電圧Ｅに接続してベース回路６
を、例えばＣＰＵ５（図示せず）と接続することによ
り、切換え信号を出力させて、図４に示すように、Ａ−
Ｄ入力回路の電源電圧Ｖccとグランド電圧Ｅを上記マル
チプレクサ１のアナログ入力１０に交互に接続する。そ
して、その際、出力されるデジタル出力に基づいてＡ−
Ｄコンバータ３の故障を検出するようにしたものであ
る。
すように、第１実施例のＡ−Ｄ入力回路のマルチプレク
サ１のアナログ入力１０にトランジスタスイッチ回路１
１を介して電源電圧Ｖccと基準グランド電圧Ｅとを接続
したもので、マルチプレクサ１のアナログ入力１０の１
つと接続したトランジスタスイッチ回路１１のコレクタ
回路Ｃを負荷抵抗を介して電源電圧Ｖccと接続し、エミ
ッタ回路ｅをグランド電圧Ｅに接続してベース回路６
を、例えばＣＰＵ５（図示せず）と接続することによ
り、切換え信号を出力させて、図４に示すように、Ａ−
Ｄ入力回路の電源電圧Ｖccとグランド電圧Ｅを上記マル
チプレクサ１のアナログ入力１０に交互に接続する。そ
して、その際、出力されるデジタル出力に基づいてＡ−
Ｄコンバータ３の故障を検出するようにしたものであ
る。
【００３３】このようにしたことにより、第１の発明の
Ａ−Ｄ入力回路では、故障検出のためにマルチプレクサ
１のアナログ入力１０を２回路使用する必要があった
が、このＡ−Ｄ入力回路では、マルチプレクサ１のアナ
ログ入力１０を１回路使用するだけで故障検出ができる
ため、故障検出をするために実際の信号入力本数が２本
少なくなってしまうという問題点を改善することができ
る。
Ａ−Ｄ入力回路では、故障検出のためにマルチプレクサ
１のアナログ入力１０を２回路使用する必要があった
が、このＡ−Ｄ入力回路では、マルチプレクサ１のアナ
ログ入力１０を１回路使用するだけで故障検出ができる
ため、故障検出をするために実際の信号入力本数が２本
少なくなってしまうという問題点を改善することができ
る。
【００３４】他の作用については、第１実施例と同じで
あるので、ここでは、その説明を省略する。
あるので、ここでは、その説明を省略する。
【００３５】なお、実施例では、スイッチ手段にトラン
ジスタ回路１１を用いたがこれに限定されることはな
く、他の半導体スイッチ装置を用いたり、メカニカルな
リレー装置を用いるようにしてもよい。
ジスタ回路１１を用いたがこれに限定されることはな
く、他の半導体スイッチ装置を用いたり、メカニカルな
リレー装置を用いるようにしてもよい。
【００３６】図５に第３実施例として第３の発明に係る
Ａ−Ｄ入力回路を示す。
Ａ−Ｄ入力回路を示す。
【００３７】この実施例のＡ−Ｄ入力回路は、第２実施
例のトランジスタスイッチ回路１１のコレクタ回路Ｃと
マルチプレクサ回路１のアナログ入力１０間に一端が接
地されたコンデンサｑを接続することにより、積分回路
によるローパスフィルタ１２を形成し、トランジスタ回
路を切換えた際、図５に示すように、積分回路による放
電波形（過渡波形）が入力されるようにしてある。そし
て、入力されるこの緩やかに変化する放電波形（充電波
形でも良い）をＡ−Ｄ変換させるようにしたものであ
る。このとき、そのＡ−Ｄ変換出力をプロットすると、
図７に示すように、連続した直線となるが、例えばビッ
ト固着が発生すると、その固着したビットにより、誤差
がでるため、図８に示すように、出力が連続しなくな
り、その連続性が損なわれる。このため、この連続性を
検出することにより、故障を検出することができる。
例のトランジスタスイッチ回路１１のコレクタ回路Ｃと
マルチプレクサ回路１のアナログ入力１０間に一端が接
地されたコンデンサｑを接続することにより、積分回路
によるローパスフィルタ１２を形成し、トランジスタ回
路を切換えた際、図５に示すように、積分回路による放
電波形（過渡波形）が入力されるようにしてある。そし
て、入力されるこの緩やかに変化する放電波形（充電波
形でも良い）をＡ−Ｄ変換させるようにしたものであ
る。このとき、そのＡ−Ｄ変換出力をプロットすると、
図７に示すように、連続した直線となるが、例えばビッ
ト固着が発生すると、その固着したビットにより、誤差
がでるため、図８に示すように、出力が連続しなくな
り、その連続性が損なわれる。このため、この連続性を
検出することにより、故障を検出することができる。
【００３８】また、このとき、ローパスフィルタ１２に
よる積分回路により、周期の短い例えば、第１実施例の
Ａ−Ｄ入力回路の下位数ビットが影響を受けるようなノ
イズをフィルタリングすることができるので、故障検出
能力を向上することもできる。
よる積分回路により、周期の短い例えば、第１実施例の
Ａ−Ｄ入力回路の下位数ビットが影響を受けるようなノ
イズをフィルタリングすることができるので、故障検出
能力を向上することもできる。
【００３９】図９に第４実施例として、第４の発明に係
るＡ−Ｄ入力回路を示す。
るＡ−Ｄ入力回路を示す。
【００４０】このＡ−Ｄ入力回路は、複数のアナログ入
力１０A1〜4 を有するマルチプレクサ１を複数個、すな
わち、実施例では、二個のマルチプレクサ１Ａと１Ｂを
切換えスイッチ１３を介してＡ−Ｄコンバータ３と接続
し、一方、Ａ−Ｄコンバータ３にＡ−Ｄ変換データを一
時記憶するためのレジスタＲ1 〜4 を設けて、前記レジ
スタＲ1 〜4 が切換えスイッチ１３を切換えて接続され
るマルチプレクサ１Ａ、１Ｂのアナログ入力１０
A1〜A4、１０B1〜B4のＡ−Ｄ変換出力データによって更
新されるようになっている。
力１０A1〜4 を有するマルチプレクサ１を複数個、すな
わち、実施例では、二個のマルチプレクサ１Ａと１Ｂを
切換えスイッチ１３を介してＡ−Ｄコンバータ３と接続
し、一方、Ａ−Ｄコンバータ３にＡ−Ｄ変換データを一
時記憶するためのレジスタＲ1 〜4 を設けて、前記レジ
スタＲ1 〜4 が切換えスイッチ１３を切換えて接続され
るマルチプレクサ１Ａ、１Ｂのアナログ入力１０
A1〜A4、１０B1〜B4のＡ−Ｄ変換出力データによって更
新されるようになっている。
【００４１】また、前記二つのマルチプレクサ１Ａ，１
Ｂのうち１Ａの複数のアナログ入力１０A1〜A4、１０B1
〜B4の２入力１０A3、１０A4に、それぞれ前記Ａ−Ｄ入
力回路の電源電圧Ｖccとグランド電圧Ｅに対応する電圧
源を接続し、この２入力１０A3、１０A4の変換結果が格
納されるレジスタＲ1 〜4 を更新する他のマルチプレク
サ１Ｂの２入力１０B3、１０B4に、アナログ入力信号を
並列に接続し、マルチプレクサ１Ａ，１Ｂを切換えて、
その際、前記レジスタＲ1 〜4 に出力されるデジタル変
換出力からレジスタＲ1 〜4 と前記切り換えスイッチ１
３の故障を検出するというものである。なお、図９では
簡単のためサンプル／ホールド回路２は省略してある。
Ｂのうち１Ａの複数のアナログ入力１０A1〜A4、１０B1
〜B4の２入力１０A3、１０A4に、それぞれ前記Ａ−Ｄ入
力回路の電源電圧Ｖccとグランド電圧Ｅに対応する電圧
源を接続し、この２入力１０A3、１０A4の変換結果が格
納されるレジスタＲ1 〜4 を更新する他のマルチプレク
サ１Ｂの２入力１０B3、１０B4に、アナログ入力信号を
並列に接続し、マルチプレクサ１Ａ，１Ｂを切換えて、
その際、前記レジスタＲ1 〜4 に出力されるデジタル変
換出力からレジスタＲ1 〜4 と前記切り換えスイッチ１
３の故障を検出するというものである。なお、図９では
簡単のためサンプル／ホールド回路２は省略してある。
【００４２】この実施例は、以上のように構成され、次
にその作用を述べることにより第４の発明に係る故障検
出方法を説明する。
にその作用を述べることにより第４の発明に係る故障検
出方法を説明する。
【００４３】すなわち、例えば２個あるマルチプレクサ
１Ａ，１Ｂの内の一つのマルチプレクサ１Ａのアナログ
入力１０の２入力１０A3、１０A4に電源電圧Ｖcc、グラ
ンド電圧Ｅなど変換データの全てのビットを「１」また
は「０」にする電圧を入力し、それぞれの入力に対応す
るレジスタＲ3 、Ｒ4 に変換データを書き込む。このと
き、２つのレジスタＲ3 、Ｒ4 の内容は、一方のレジス
タＲ3 、Ｒ4 のビットは全て「１」、または他方のレジ
スタＲ3 、Ｒ4 のビットは全て「０」となっているはず
なので、ビット「１」または「０」の固着の検出ができ
る。
１Ａ，１Ｂの内の一つのマルチプレクサ１Ａのアナログ
入力１０の２入力１０A3、１０A4に電源電圧Ｖcc、グラ
ンド電圧Ｅなど変換データの全てのビットを「１」また
は「０」にする電圧を入力し、それぞれの入力に対応す
るレジスタＲ3 、Ｒ4 に変換データを書き込む。このと
き、２つのレジスタＲ3 、Ｒ4 の内容は、一方のレジス
タＲ3 、Ｒ4 のビットは全て「１」、または他方のレジ
スタＲ3 、Ｒ4 のビットは全て「０」となっているはず
なので、ビット「１」または「０」の固着の検出ができ
る。
【００４４】また、この検出の際、例えば切換え手段１
３が間違って他のマルチプレクサ１Ｂを選択した場合に
は、他のマルチプレクサ１Ｂの２入力１０B3と１０B4に
は同じアナログ信号が入力されているため、例えば図１
０に示すように、前記レジスタＲ3 、Ｒ4 の内容が二つ
とも同じ内容となるため、それを検出することにより、
切換えスイッチ１３の故障の検出が行なえる。しかも、
このとき、アナログ入力１０B3と１０B4の変換出力デー
タのビットが全て「１」や「０」の場合でも図１０に示
すようにレジスタＲ3 、Ｒ4 の内容が二つとも同じ内容
となるため、故障の検出が行なえる。
３が間違って他のマルチプレクサ１Ｂを選択した場合に
は、他のマルチプレクサ１Ｂの２入力１０B3と１０B4に
は同じアナログ信号が入力されているため、例えば図１
０に示すように、前記レジスタＲ3 、Ｒ4 の内容が二つ
とも同じ内容となるため、それを検出することにより、
切換えスイッチ１３の故障の検出が行なえる。しかも、
このとき、アナログ入力１０B3と１０B4の変換出力デー
タのビットが全て「１」や「０」の場合でも図１０に示
すようにレジスタＲ3 、Ｒ4 の内容が二つとも同じ内容
となるため、故障の検出が行なえる。
【００４５】
【効果】この発明は、以上の方法を行なうことにより、
Ａ−Ｄ入力回路の故障検出が可能となり、Ａ−Ｄ入力回
路を２重系とするような回路規模を大きくすることな
く、低コストに実現できる。また、故障検出のための比
較信号として、電源電圧および基準グランド電圧の両方
を使用することにより、他の基準電圧源を特に設ける必
要がなく、低コストに実現できる。しかも故障を決定す
るための許容範囲や入力信号の時間変移に依らずにビッ
トの「１」と「０」とを検出して故障を検出できる。こ
のため、検出能力を損なうことなく、Ａ−Ｄ入力回路の
故障の検出精度の向上を計ることができ、例えばＡＢＳ
（アンチロックブレーキシステム）装置のＧセンサ入力
部などに用いるのに最適なＡ−Ｄ入力回路の故障検出方
法を提供することができる。
Ａ−Ｄ入力回路の故障検出が可能となり、Ａ−Ｄ入力回
路を２重系とするような回路規模を大きくすることな
く、低コストに実現できる。また、故障検出のための比
較信号として、電源電圧および基準グランド電圧の両方
を使用することにより、他の基準電圧源を特に設ける必
要がなく、低コストに実現できる。しかも故障を決定す
るための許容範囲や入力信号の時間変移に依らずにビッ
トの「１」と「０」とを検出して故障を検出できる。こ
のため、検出能力を損なうことなく、Ａ−Ｄ入力回路の
故障の検出精度の向上を計ることができ、例えばＡＢＳ
（アンチロックブレーキシステム）装置のＧセンサ入力
部などに用いるのに最適なＡ−Ｄ入力回路の故障検出方
法を提供することができる。
【００４６】特に、第１の発明に係る方法では、Ａ−Ｄ
入力回路にＡ−Ｄ入力回路の電源電圧とグランド電圧と
を入力し、その際、出力されるデジタル出力に基づいて
Ａ−Ｄコンバータの故障を検出するようにしたので、Ａ
−Ｄコンバータの特定ビットの「１」または「０」固着
などの故障検出が容易にできる。
入力回路にＡ−Ｄ入力回路の電源電圧とグランド電圧と
を入力し、その際、出力されるデジタル出力に基づいて
Ａ−Ｄコンバータの故障を検出するようにしたので、Ａ
−Ｄコンバータの特定ビットの「１」または「０」固着
などの故障検出が容易にできる。
【００４７】また、第２の発明に係る方法では、Ａ−Ｄ
入力回路の電源電圧、グランド電圧に対応する電圧源を
上記マルチプレクサの入力に交互に接続する切換え手段
を介して接続し、その切換え手段を切換えて、その際、
出力されるデジタル出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの
故障を検出するようにしたので、一つのマルチプレクサ
のアナログ入力によってＡ−Ｄコンバータの特定のビッ
トの「１」または「０」固着などの故障検出が行なえる
ため、Ａ−Ｄ入力回路を有効に利用することができる。
入力回路の電源電圧、グランド電圧に対応する電圧源を
上記マルチプレクサの入力に交互に接続する切換え手段
を介して接続し、その切換え手段を切換えて、その際、
出力されるデジタル出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの
故障を検出するようにしたので、一つのマルチプレクサ
のアナログ入力によってＡ−Ｄコンバータの特定のビッ
トの「１」または「０」固着などの故障検出が行なえる
ため、Ａ−Ｄ入力回路を有効に利用することができる。
【００４８】第３の発明に係る方法では、ローパスフィ
ルタを介して、出力される電圧波形をＡ−Ｄ変換して、
Ａ−Ｄ変換値の連続性を見るようにしたので、ビット固
着をノイズの影響に関わらず検出することができる。こ
のため、故障検出能力を向上することができる。
ルタを介して、出力される電圧波形をＡ−Ｄ変換して、
Ａ−Ｄ変換値の連続性を見るようにしたので、ビット固
着をノイズの影響に関わらず検出することができる。こ
のため、故障検出能力を向上することができる。
【００４９】また、この方式では、ローパスフィルタと
して簡単なコンデンサと抵抗によるフィルタを使用する
ことが可能であり低コストに実現が可能である。
して簡単なコンデンサと抵抗によるフィルタを使用する
ことが可能であり低コストに実現が可能である。
【００５０】第４の発明における方法では、複数個のマ
ルチプレクサとＡ−Ｄコンバータとを切換え手段を介し
て接続し、Ａ−Ｄコンバータの出力するデジタル出力を
記憶する出力レジスタを設けたＡ−Ｄ入力回路の一つの
マルチプレクサの２つのアナログ入力に、それぞれ電源
電圧、基準グランド電圧を入力し、この２入力の変換結
果が格納される出力レジスタを更新する他のマルチプレ
クサの入力に、アナログ入力を並列に接続し、マルチプ
レクサを切換えて、前記レジスタに出力されるデジタル
変換出力から出力レジスタと前記切り換え手段の故障を
検出するようにしたので、レジスタのビット固着と切換
え手段の故障とを一度に検出することができる。
ルチプレクサとＡ−Ｄコンバータとを切換え手段を介し
て接続し、Ａ−Ｄコンバータの出力するデジタル出力を
記憶する出力レジスタを設けたＡ−Ｄ入力回路の一つの
マルチプレクサの２つのアナログ入力に、それぞれ電源
電圧、基準グランド電圧を入力し、この２入力の変換結
果が格納される出力レジスタを更新する他のマルチプレ
クサの入力に、アナログ入力を並列に接続し、マルチプ
レクサを切換えて、前記レジスタに出力されるデジタル
変換出力から出力レジスタと前記切り換え手段の故障を
検出するようにしたので、レジスタのビット固着と切換
え手段の故障とを一度に検出することができる。
【図１】第１実施例の故障検出方法を説明する作用図
【図２】第１実施例の故障検出方法を説明する作用図
【図３】第２実施例のブロック
【図４】第２実施例のスイッチ手段の出力を説明する作
用図
用図
【図５】第３実施例ブロック図
【図６】第３実施例の放電波形を説明する作用図
【図７】第３実施例の故障検出方法を説明する作用図
【図８】第３実施例の故障検出方法を説明する作用図
【図９】第４実施例のブロック図
【図１０】第４実施例の故障検出方法を説明する作用図
【図１１】従来のＡ−Ｄ入力回路のブロック図
【図１２】従来のＡ−Ｄ入力回路の故障検出回路を示す
ブロック図
ブロック図
【図１３】従来のＡ−Ｄコンバータの試験装置のブロッ
ク図
ク図
【図１４】従来のＡ−Ｄコンバータの試験装置の出力状
態を示す波形図
態を示す波形図
１、１Ａ、１Ｂ マルチプレクサ ３ Ａ−Ｄコンバータ １０、１０A1〜A4、１０B1〜B4 アナログ入力 １１ トランジスタスイッチ回路 １２ ローパスフィルタ １３ 切換えスイッチ Ｅ グランド電圧 Ｒ1 〜4 レジスタ Ｖcc 電源電圧
Claims (4)
- 【請求項１】 複数のアナログ入力を有するマルチプレ
クサを備え、そのマルチプレクサを切換えて１つのＡ−
Ｄコンバータで複数のアナログ入力信号をバイナリーコ
ード信号に変換するＡ−Ｄ入力回路の前記マルチプレク
サのアナログ入力に、Ａ−Ｄ入力回路の電源電圧及び基
準グランド電圧に相当する信号を入力し、前記マルチプ
レクサを切換えて、その出力をＡ−Ｄコンバータに入力
し、その際、Ａ−Ｄコンバータから出力されるデジタル
出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検出するＡ−
Ｄ入力回路の故障検出方法。 - 【請求項２】 上記マルチプレクサのアナログ入力に接
続したＡ−Ｄ入力回路の電源電圧、基準グランド電圧に
相当する信号を、上記マルチプレクサのアナログ入力に
交互に接続するスイッチ手段を介して接続し、その切換
え手段を切換えて上記基準となる入力信号をマルチプレ
クサに接続し、その際、Ａ−Ｄコンバータから出力され
るデジタル出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの故障を検
出する請求項１に記載のＡ−Ｄ入力回路の故障検出方
法。 - 【請求項３】 上記切換え手段に２種類の基準電圧切換
え時の過渡電圧を平滑化するローパスフィルタを備え、
その切換え手段を切換えて上記基準となる入力信号をマ
ルチプレクサに接続し、その際、Ａ−Ｄコンバータから
出力されるデジタル出力に基づいてＡ−Ｄコンバータの
故障を検出する請求項２に記載のＡ−Ｄ入力回路の故障
検出方法。 - 【請求項４】 複数のアナログ入力を有する複数個のマ
ルチプレクサと、１つのＡ−Ｄコンバータとを前記複数
個のマルチプレクサ出力のいずれか１つをＡ−Ｄコンバ
ータと接続する切換え手段を介して接続し、そのマルチ
プレクサと接続されたＡ−ＤコンバータにＡ−Ｄコンバ
ータの出力するデジタル出力を記憶する出力レジスタを
設け、前記出力レジスタが切換え手段を切換えて接続さ
れる各マルチプレクサからのアナログ入力のＡ−Ｄ変換
出力データによって更新されるＡ−Ｄ入力回路の前記複
数のマルチプレクサの内の１つのマルチプレクサのアナ
ログ入力の２入力に、それぞれ前記Ａ−Ｄ入力回路の電
源電圧及び基準グランド電圧に相当する信号を入力し、
この２入力の変換結果が格納される出力レジスタを更新
する他のマルチプレクサの２入力に、同じアナログ入力
信号を並列に接続し、前記マルチプレクサを切換えて前
記出力をＡ−Ｄコンバータに入力し、その際、Ａ−Ｄコ
ンバータから前記レジスタに出力されるデジタル変換出
力から出力レジスタと前記切り換え手段の故障を検出す
るＡ−Ｄ入力回路の故障検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13375795A JPH08330959A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Ａ−ｄ入力回路の故障検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13375795A JPH08330959A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Ａ−ｄ入力回路の故障検出方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002174252A Division JP3446755B2 (ja) | 2002-06-14 | 2002-06-14 | Ａ−ｄ入力回路の故障検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08330959A true JPH08330959A (ja) | 1996-12-13 |
Family
ID=15112242
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13375795A Pending JPH08330959A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Ａ−ｄ入力回路の故障検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08330959A (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN110212919A (zh) * | 2019-05-27 | 2019-09-06 | 长沙韶光半导体有限公司 | 用于16通道模拟多路复用器的esd保护装置及多路复用装置 |
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-
1995
- 1995-05-31 JP JP13375795A patent/JPH08330959A/ja active Pending
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