JPH0836751A - 磁気記録媒体の製造方法及び装置 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法及び装置Info
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- JPH0836751A JPH0836751A JP18901194A JP18901194A JPH0836751A JP H0836751 A JPH0836751 A JP H0836751A JP 18901194 A JP18901194 A JP 18901194A JP 18901194 A JP18901194 A JP 18901194A JP H0836751 A JPH0836751 A JP H0836751A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 直流アーク・プラズマを用いた薄膜形成にお
いて高い反応ガス圧下での成膜を可能にし簡易な磁気記
録媒体の製造方法及び装置を提供すること。 【構成】 真空槽4内に出射される放電プラズマ流5
を、放電プラズマ流5の流れ方向に沿って真空槽4内に
延設され且つグリット電極30及び陽極15を有して該
プラズマ流を比較的密に囲む反応管7内に通すととも
に、該反応管7内に前記反応ガスを供給して、該反応管
内7で気相反応を生ぜしめ、反応管7内の気相反応によ
って分解されたガス成分を、基板2の表面と放電プラズ
マ流5とが対峙する如く反応管7の管壁の一部に開口し
た成膜用開口9から基板2の表面側に飛ばす。
いて高い反応ガス圧下での成膜を可能にし簡易な磁気記
録媒体の製造方法及び装置を提供すること。 【構成】 真空槽4内に出射される放電プラズマ流5
を、放電プラズマ流5の流れ方向に沿って真空槽4内に
延設され且つグリット電極30及び陽極15を有して該
プラズマ流を比較的密に囲む反応管7内に通すととも
に、該反応管7内に前記反応ガスを供給して、該反応管
内7で気相反応を生ぜしめ、反応管7内の気相反応によ
って分解されたガス成分を、基板2の表面と放電プラズ
マ流5とが対峙する如く反応管7の管壁の一部に開口し
た成膜用開口9から基板2の表面側に飛ばす。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は真空槽内において形成す
るシート状の放電プラズマ流に反応ガスを供給し、磁気
記録媒体の構成要素であるウェブ状の基板をこの放電プ
ラズマ流の近傍に走行させ、放電プラズマ流による反応
ガスの気相反応によって放電プラズマ流に面した基板表
面に薄膜を形成する磁気記録媒体の製造方法および装置
に関するものである。
るシート状の放電プラズマ流に反応ガスを供給し、磁気
記録媒体の構成要素であるウェブ状の基板をこの放電プ
ラズマ流の近傍に走行させ、放電プラズマ流による反応
ガスの気相反応によって放電プラズマ流に面した基板表
面に薄膜を形成する磁気記録媒体の製造方法および装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】磁気記録媒体としての例えば磁気テープ
は、磁性層を塗布法によって形成したものと、蒸着法に
よって形成したものとに大別することができる。蒸着法
により形成した磁性層は、塗布法により形成したものと
比較して、高密度化、高画質化の点で優れているが、走
行耐久性が低い。そこで、蒸着法によって形成した磁性
層の走行耐久性を改善するため、磁性層の上にダイヤモ
ンド状カーボン膜を形成して保護層として活用する技術
が提案されている(特開昭61−210518号公報参
照)。
は、磁性層を塗布法によって形成したものと、蒸着法に
よって形成したものとに大別することができる。蒸着法
により形成した磁性層は、塗布法により形成したものと
比較して、高密度化、高画質化の点で優れているが、走
行耐久性が低い。そこで、蒸着法によって形成した磁性
層の走行耐久性を改善するため、磁性層の上にダイヤモ
ンド状カーボン膜を形成して保護層として活用する技術
が提案されている(特開昭61−210518号公報参
照)。
【0003】そして、前述のダイヤモンド状カーボン膜
を成膜する方法としては、これまで、グロー放電やアー
ク放電を利用したプラズマCVD(Chemical Vapor Dep
osition)法が種々提案されている。例えば、グロー放
電によるものでは、高周波グロー放電を利用するもの
(特開昭63−279426号公報参照)等が提案され
ている。
を成膜する方法としては、これまで、グロー放電やアー
ク放電を利用したプラズマCVD(Chemical Vapor Dep
osition)法が種々提案されている。例えば、グロー放
電によるものでは、高周波グロー放電を利用するもの
(特開昭63−279426号公報参照)等が提案され
ている。
【0004】しかし、高周波グロー放電を利用した場合
は、成膜速度が遅く、生産性が低下するという問題があ
った。そして、マイクロ波グロー放電を利用した場合
は、高周波グロー放電を利用した場合よりも成膜速度を
上げることができるが、成膜面積が小さく、そのため
に、やはり、生産性の向上が難しいという問題があっ
た。一方、直流アーク放電を利用する方法は、グロー放
電による場合と比較して、高速成膜や大面積成膜に適す
るが、その反面、分解した反応ガスによってプラズマ陰
極の損傷等の不都合が生じる虞があった。
は、成膜速度が遅く、生産性が低下するという問題があ
った。そして、マイクロ波グロー放電を利用した場合
は、高周波グロー放電を利用した場合よりも成膜速度を
上げることができるが、成膜面積が小さく、そのため
に、やはり、生産性の向上が難しいという問題があっ
た。一方、直流アーク放電を利用する方法は、グロー放
電による場合と比較して、高速成膜や大面積成膜に適す
るが、その反面、分解した反応ガスによってプラズマ陰
極の損傷等の不都合が生じる虞があった。
【0005】そこで、このような直流アーク放電のもつ
欠点を解消するべく、圧力勾配型放電によるプラズマC
VD法による成膜装置も提案されている(特開平1−2
52781号公報参照)。この圧力勾配型放電によるプ
ラズマCVD法による成膜装置は、通常、成膜処理用の
真空環境を提供する真空槽と、該真空槽内にシート状の
放電プラズマ流を形成するプラズマ流発生手段と、前記
真空槽の放電プラズマ流に反応ガスを供給するガス導入
手段と、前記真空槽内で前記放電プラズマ流に沿って成
膜対象の基板を移動させる基板搬送手段と、成膜対象と
なる基板の表面に電圧を印加する電圧印加手段とを備え
た構成とされ、高速成膜や大面積成膜に適すると同時
に、プラズマ陰極の損傷等を防止する。
欠点を解消するべく、圧力勾配型放電によるプラズマC
VD法による成膜装置も提案されている(特開平1−2
52781号公報参照)。この圧力勾配型放電によるプ
ラズマCVD法による成膜装置は、通常、成膜処理用の
真空環境を提供する真空槽と、該真空槽内にシート状の
放電プラズマ流を形成するプラズマ流発生手段と、前記
真空槽の放電プラズマ流に反応ガスを供給するガス導入
手段と、前記真空槽内で前記放電プラズマ流に沿って成
膜対象の基板を移動させる基板搬送手段と、成膜対象と
なる基板の表面に電圧を印加する電圧印加手段とを備え
た構成とされ、高速成膜や大面積成膜に適すると同時
に、プラズマ陰極の損傷等を防止する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このような状況下にお
いて、直流アーク放電を利用したプラズマは反応ガス圧
が高い領域では電子温度が低下し反応ガスを励起しなく
なる。また、反応ガス圧を高くしすぎると放電を維持で
きなくなる場合もあることが知られている。そして、真
空26,1(1983)〔浦本 上進 、高融点金属イ
オンプレーティングのための電子加速型プラズマ〕に示
された内容には、直流アーク放電で反応ガス圧が高い領
域でも高い電子温度と安定な放電を維持する方法が提案
されている。これはアーク・プラズマ発生部と反応室と
の間に真空ポンプと電圧印加用の電極と集束コイルを接
続した加速室を設けプラズマを加速する構造の装置が示
されている。
いて、直流アーク放電を利用したプラズマは反応ガス圧
が高い領域では電子温度が低下し反応ガスを励起しなく
なる。また、反応ガス圧を高くしすぎると放電を維持で
きなくなる場合もあることが知られている。そして、真
空26,1(1983)〔浦本 上進 、高融点金属イ
オンプレーティングのための電子加速型プラズマ〕に示
された内容には、直流アーク放電で反応ガス圧が高い領
域でも高い電子温度と安定な放電を維持する方法が提案
されている。これはアーク・プラズマ発生部と反応室と
の間に真空ポンプと電圧印加用の電極と集束コイルを接
続した加速室を設けプラズマを加速する構造の装置が示
されている。
【0007】そこで、本発明者らは上記文献の装置を磁
気記録媒体の製造方法に適用したものを考察した。この
結果、図4のように加速型プラズマ・ガンと巻き取り装
置を組み合わせた真空成膜装置が考えられる。ここに示
す成膜装置400においては、通常、成膜処理用の真空
環境を提供する真空ポンプ414を具備した真空槽41
3、該真空槽413の中にはウエブ状の基体430を走
行させる送り出しロール408、巻き取りロール40
9、成膜ドラム411、防着板416、反応ガス導入管
412、また、この真空槽内にシート状の放電プラズマ
流を形成するプラズマ・ガン401を真空槽外に設ける
ことができる。前記プラズマ・ガン401は陰極402
と陽極403との間に真空ポンプ417を具備する加速
室407を設け、アーク・プラズマ406をシート状に
集束させるための磁気手段404を設けた構成とするこ
とができる。しかしながら、前記加速室407を設けた
場合は、第一に、プラズマ・ガン設備において真空槽4
13に設けた真空ポンプ414とは別の真空ポンプ41
7を設けた別々の吸引空間を設けなければならないなど
複雑になっていまう。第二に、前述のように別々の吸引
空間が繋がっていると、槽内の圧力差によっては反応ガ
スの逆流によって加速室内を汚染してしまう場合があ
る。第三に、放電安定化のため反応ガスにキャリア・ガ
スを少量混合する必要があり、真空槽内例えばキャリア
・ガスにArを使用した場合、Arイオンのエネルギー
も増加し基板表面でのエッチングが多くなり、ディポジ
ションの量が減少してしまう。すなわち、ディポジショ
ンにおいては反応ガスの励起、電離によるラジカル、イ
オンの量が多いほど良く、この励起、電離にはキャリア
・ガスで生成されるプラズマの電子ビーム成分が重要で
あるものの、このキャリア・ガスは電子ビームを生成し
た後はエッチング現象を誘発して、かえって成膜過程の
障害となる。
気記録媒体の製造方法に適用したものを考察した。この
結果、図4のように加速型プラズマ・ガンと巻き取り装
置を組み合わせた真空成膜装置が考えられる。ここに示
す成膜装置400においては、通常、成膜処理用の真空
環境を提供する真空ポンプ414を具備した真空槽41
3、該真空槽413の中にはウエブ状の基体430を走
行させる送り出しロール408、巻き取りロール40
9、成膜ドラム411、防着板416、反応ガス導入管
412、また、この真空槽内にシート状の放電プラズマ
流を形成するプラズマ・ガン401を真空槽外に設ける
ことができる。前記プラズマ・ガン401は陰極402
と陽極403との間に真空ポンプ417を具備する加速
室407を設け、アーク・プラズマ406をシート状に
集束させるための磁気手段404を設けた構成とするこ
とができる。しかしながら、前記加速室407を設けた
場合は、第一に、プラズマ・ガン設備において真空槽4
13に設けた真空ポンプ414とは別の真空ポンプ41
7を設けた別々の吸引空間を設けなければならないなど
複雑になっていまう。第二に、前述のように別々の吸引
空間が繋がっていると、槽内の圧力差によっては反応ガ
スの逆流によって加速室内を汚染してしまう場合があ
る。第三に、放電安定化のため反応ガスにキャリア・ガ
スを少量混合する必要があり、真空槽内例えばキャリア
・ガスにArを使用した場合、Arイオンのエネルギー
も増加し基板表面でのエッチングが多くなり、ディポジ
ションの量が減少してしまう。すなわち、ディポジショ
ンにおいては反応ガスの励起、電離によるラジカル、イ
オンの量が多いほど良く、この励起、電離にはキャリア
・ガスで生成されるプラズマの電子ビーム成分が重要で
あるものの、このキャリア・ガスは電子ビームを生成し
た後はエッチング現象を誘発して、かえって成膜過程の
障害となる。
【0008】そこで、本発明の目的は上記課題を解消す
ることにあり、直流アーク・プラズマを用いた薄膜形成
において、高い反応ガス圧下での成膜を可能にしする簡
易な磁気記録媒体の製造方法及び装置を提供することで
ある。
ることにあり、直流アーク・プラズマを用いた薄膜形成
において、高い反応ガス圧下での成膜を可能にしする簡
易な磁気記録媒体の製造方法及び装置を提供することで
ある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、真
空槽内に形成されたシート状の放電プラズマ流に反応ガ
スを供給する一方で、ウェブ状の基板を前記放電プラズ
マ流の近傍に走行させ、前記放電プラズマ流による前記
反応ガスの気相反応によって放電プラズマ流側に面した
前記基板の表面に所定成分の薄膜を形成する磁気記録媒
体の製造方法であって、成膜処理用の真空環境を提供す
る真空槽内にて前記基板に対峙する位置に設けた反応ガ
ス閉じ込め手段の中に前記放電プラズマ流を発生させる
ときに、ガス導入手段によって前記反応ガス閉じ込め手
段内に反応ガスを供給しながら、かつ該反応ガス閉じ込
め手段内の放電プラズマ流に電圧印加して該放電プラズ
マ流を加速しながら薄膜の形成を行うことを特徴とする
磁気記録媒体の製造方法により達成される。
空槽内に形成されたシート状の放電プラズマ流に反応ガ
スを供給する一方で、ウェブ状の基板を前記放電プラズ
マ流の近傍に走行させ、前記放電プラズマ流による前記
反応ガスの気相反応によって放電プラズマ流側に面した
前記基板の表面に所定成分の薄膜を形成する磁気記録媒
体の製造方法であって、成膜処理用の真空環境を提供す
る真空槽内にて前記基板に対峙する位置に設けた反応ガ
ス閉じ込め手段の中に前記放電プラズマ流を発生させる
ときに、ガス導入手段によって前記反応ガス閉じ込め手
段内に反応ガスを供給しながら、かつ該反応ガス閉じ込
め手段内の放電プラズマ流に電圧印加して該放電プラズ
マ流を加速しながら薄膜の形成を行うことを特徴とする
磁気記録媒体の製造方法により達成される。
【0010】また、上記の磁気記録媒体の製造方法にお
いて、前記反応ガス閉じ込め手段に反応ガスを成膜面に
対面しない方向に排気可能な主排気口を設けることによ
り、前記反応ガス閉じ込め手段への反応ガスの供給とと
もに前記主排気口から主に排気を行う方法、前記基板は
前記放電プラズマ流と対峙する表面に予め強磁性体から
なる磁性層が成膜されており、前記反応ガス閉じ込め手
段内に供給する反応ガスとして炭化水素を用いると共
に、前記磁性層の表面に電圧を印加することで、該基板
の表面に炭素を主成分とする保護膜を成膜する方法によ
っても上記目的を達成することができる。
いて、前記反応ガス閉じ込め手段に反応ガスを成膜面に
対面しない方向に排気可能な主排気口を設けることによ
り、前記反応ガス閉じ込め手段への反応ガスの供給とと
もに前記主排気口から主に排気を行う方法、前記基板は
前記放電プラズマ流と対峙する表面に予め強磁性体から
なる磁性層が成膜されており、前記反応ガス閉じ込め手
段内に供給する反応ガスとして炭化水素を用いると共
に、前記磁性層の表面に電圧を印加することで、該基板
の表面に炭素を主成分とする保護膜を成膜する方法によ
っても上記目的を達成することができる。
【0011】更に、真空槽内に形成されるシート状の放
電プラズマ流に反応ガスを供給する一方で、ウェブ状の
基板を前記放電プラズマ流の近傍に走行させ、該放電プ
ラズマ流による前記反応ガスの気相反応によって放電プ
ラズマ流側に面した前記基板の表面に所定成分の薄膜を
形成する磁気記録媒体の製造装置であって、成膜処理用
の真空環境を提供する真空槽と、該真空槽内にシート状
の放電プラズマ流を形成するプラズマ流発生手段と、前
記真空槽内に設置されて前記放電プラズマ流の周囲を囲
うようにしガス導入手段によって供給される前記反応ガ
スを閉じ込める反応ガス閉じ込め手段と、前記基板の表
面が前記反応ガス閉じ込め手段の成膜用開口を介して前
記放電プラズマ流と対峙するべく前記基板を走行させる
基板搬送手段とを備え、さらに前記反応ガス閉じ込め手
段には該手段内の反応ガスを一定量ずつ排気可能な主排
気口が設けられていると共に、前記放電プラズマ流への
電圧印加を可能とするプラズマ加速手段が設けられたこ
とを特徴とする磁気記録媒体の製造装置によっても、上
記目的を達成することができるものである。
電プラズマ流に反応ガスを供給する一方で、ウェブ状の
基板を前記放電プラズマ流の近傍に走行させ、該放電プ
ラズマ流による前記反応ガスの気相反応によって放電プ
ラズマ流側に面した前記基板の表面に所定成分の薄膜を
形成する磁気記録媒体の製造装置であって、成膜処理用
の真空環境を提供する真空槽と、該真空槽内にシート状
の放電プラズマ流を形成するプラズマ流発生手段と、前
記真空槽内に設置されて前記放電プラズマ流の周囲を囲
うようにしガス導入手段によって供給される前記反応ガ
スを閉じ込める反応ガス閉じ込め手段と、前記基板の表
面が前記反応ガス閉じ込め手段の成膜用開口を介して前
記放電プラズマ流と対峙するべく前記基板を走行させる
基板搬送手段とを備え、さらに前記反応ガス閉じ込め手
段には該手段内の反応ガスを一定量ずつ排気可能な主排
気口が設けられていると共に、前記放電プラズマ流への
電圧印加を可能とするプラズマ加速手段が設けられたこ
とを特徴とする磁気記録媒体の製造装置によっても、上
記目的を達成することができるものである。
【0012】又、上記の磁気記録媒体の製造装置におい
て、前記反応ガス閉じ込め手段は前記プラズマが入射す
る側がグリット電極のグリット開口を残して閉じられて
いると共に該グリット電極とは反対側が陽極が配置され
て閉じられている構成、前記基板を位置決め走行させる
成膜ドラムの一部が前記反応ガス閉じ込め手段の成膜用
開口の内側に位置する構成によっても、上記目的を達成
することができるものである。
て、前記反応ガス閉じ込め手段は前記プラズマが入射す
る側がグリット電極のグリット開口を残して閉じられて
いると共に該グリット電極とは反対側が陽極が配置され
て閉じられている構成、前記基板を位置決め走行させる
成膜ドラムの一部が前記反応ガス閉じ込め手段の成膜用
開口の内側に位置する構成によっても、上記目的を達成
することができるものである。
【0013】
【実施態様】以下、図面に基づいて本発明の実施態様を
説明する。図1は、本発明に係る磁気記録媒体の製造装
置の一実施態様を示したものである。この実施態様にお
ける磁気記録媒体の製造装置1は、磁気テープの構成要
素である長尺のウェブ状の基板2の表面に、プラズマC
VD法により所定成分の薄膜を形成するもので、成膜処
理用の真空環境を提供するための真空槽4と、該真空槽
4内にシート状の放電プラズマ流(シートプラズマ)5
を形成するプラズマ流発生手段であるプラズマ・ガン6
と、真空槽4内に設置されて前記シート状の放電プラズ
マ流5の周囲を囲う反応ガス閉じ込め手段である反応管
7と、該反応管7内に反応ガスを供給するガス導入手段
8と、前記基板2の表面102が前記反応管7の管壁の
一部に開口した成膜用開口9を介して放電プラズマ流5
と対峙するように真空槽4内で基板2を走行させる基板
搬送手段10とを備えた構成をなしている。前記反応管
7は前記放電プラズマ流5が入射する側(陰極14側)
にグリット電極30が設けられており、この陰極14側
は前記基板2の幅方向にわたって細長く開口したグリッ
ト開口31を残して閉じられており、一方、前記グリッ
ト電極30とは反対側には陽極15が配置されて閉じら
れている。
説明する。図1は、本発明に係る磁気記録媒体の製造装
置の一実施態様を示したものである。この実施態様にお
ける磁気記録媒体の製造装置1は、磁気テープの構成要
素である長尺のウェブ状の基板2の表面に、プラズマC
VD法により所定成分の薄膜を形成するもので、成膜処
理用の真空環境を提供するための真空槽4と、該真空槽
4内にシート状の放電プラズマ流(シートプラズマ)5
を形成するプラズマ流発生手段であるプラズマ・ガン6
と、真空槽4内に設置されて前記シート状の放電プラズ
マ流5の周囲を囲う反応ガス閉じ込め手段である反応管
7と、該反応管7内に反応ガスを供給するガス導入手段
8と、前記基板2の表面102が前記反応管7の管壁の
一部に開口した成膜用開口9を介して放電プラズマ流5
と対峙するように真空槽4内で基板2を走行させる基板
搬送手段10とを備えた構成をなしている。前記反応管
7は前記放電プラズマ流5が入射する側(陰極14側)
にグリット電極30が設けられており、この陰極14側
は前記基板2の幅方向にわたって細長く開口したグリッ
ト開口31を残して閉じられており、一方、前記グリッ
ト電極30とは反対側には陽極15が配置されて閉じら
れている。
【0014】ここに、前記真空槽4は、非磁性材料で形
成された密封容器である。非磁性材料としては、例え
ば、SUS304、アルミニウム、銅などを利用するこ
とができるが、槽の大きさ、要求される強度等に応じ
て、材料の選定がなされる。本実施態様の場合、前記真
空槽4の上部に、該真空槽4内の雰囲気を排気して真空
槽4内を所定の真空雰囲気に保つ排気手段である真空ポ
ンプ12が装備されている。前記真空ポンプ12は、膜
質を劣化させるような残留ガスを少なくするために、例
えば初期排気として、7×10ー5Torr以下まで、好
ましくは、5×10ー6Torr以下まで真空槽4内の雰
囲気を排気することができ、また、成膜中は、反応ガス
の導入で1×10ー1〜1×10ー4Torrに維持できる
排気性能を有したものが使用される。シート状の偏平さ
れた前記放電プラズマ流5は、通常、前記基板2の幅に
合せて幅寸法(図1では紙面に直交する方向の寸法)が
設定されるもので、例えば、通常は、200〜300m
m程度の幅のシート状に成形されている。したがって、
前記グリット開口31は前記放電プラズマ流5の幅を許
容する大きさに構成されている。
成された密封容器である。非磁性材料としては、例え
ば、SUS304、アルミニウム、銅などを利用するこ
とができるが、槽の大きさ、要求される強度等に応じ
て、材料の選定がなされる。本実施態様の場合、前記真
空槽4の上部に、該真空槽4内の雰囲気を排気して真空
槽4内を所定の真空雰囲気に保つ排気手段である真空ポ
ンプ12が装備されている。前記真空ポンプ12は、膜
質を劣化させるような残留ガスを少なくするために、例
えば初期排気として、7×10ー5Torr以下まで、好
ましくは、5×10ー6Torr以下まで真空槽4内の雰
囲気を排気することができ、また、成膜中は、反応ガス
の導入で1×10ー1〜1×10ー4Torrに維持できる
排気性能を有したものが使用される。シート状の偏平さ
れた前記放電プラズマ流5は、通常、前記基板2の幅に
合せて幅寸法(図1では紙面に直交する方向の寸法)が
設定されるもので、例えば、通常は、200〜300m
m程度の幅のシート状に成形されている。したがって、
前記グリット開口31は前記放電プラズマ流5の幅を許
容する大きさに構成されている。
【0015】前記プラズマ流発生手段6は、電子密度が
1011個/cm3以上、好ましくは、1012個/cm3以
上のものがよい。この実施態様の場合は、前記陰極14
から前記陽極15に向うシート状の放電プラズマ流5を
前記グリット電極30によって加速した状態で提供する
ものである。そして、前記反応管7によって反応ガスを
効果的に閉じ込めるので、従来のような陰極領域に別途
吸引手段を設ける必要もなくかつ陰極14の損傷を著し
く軽減することができる。
1011個/cm3以上、好ましくは、1012個/cm3以
上のものがよい。この実施態様の場合は、前記陰極14
から前記陽極15に向うシート状の放電プラズマ流5を
前記グリット電極30によって加速した状態で提供する
ものである。そして、前記反応管7によって反応ガスを
効果的に閉じ込めるので、従来のような陰極領域に別途
吸引手段を設ける必要もなくかつ陰極14の損傷を著し
く軽減することができる。
【0016】なお、前記基板2のウェブが幅広の場合
は、前述したように、該基板2の幅に合せて前記シート
状の放電プラズマ流5の幅を調整することになるが、前
記プラズマガン16から出射されるプラズマ流は例えば
横断面形状が円形の軸流であり、これをシート状に偏平
に広げるには、真空槽4内に設置した永久磁石(図示
略)によってプラズマ流の上下方向に磁場を加える。ま
た、この実施態様では、前記真空槽4内での前記放電プ
ラズマ流5の流れを安定した状態に維持するために、図
示のように、外径が300〜500mmの空芯コイル
(集束コイル)18を前記真空槽4の両側に配置し、該
真空槽4の両側の該空芯コイル18,18による磁場の
中心軸と、対向配置された前記陰極14および前記陽極
15の中心軸とが一致するように配置設定されている。
は、前述したように、該基板2の幅に合せて前記シート
状の放電プラズマ流5の幅を調整することになるが、前
記プラズマガン16から出射されるプラズマ流は例えば
横断面形状が円形の軸流であり、これをシート状に偏平
に広げるには、真空槽4内に設置した永久磁石(図示
略)によってプラズマ流の上下方向に磁場を加える。ま
た、この実施態様では、前記真空槽4内での前記放電プ
ラズマ流5の流れを安定した状態に維持するために、図
示のように、外径が300〜500mmの空芯コイル
(集束コイル)18を前記真空槽4の両側に配置し、該
真空槽4の両側の該空芯コイル18,18による磁場の
中心軸と、対向配置された前記陰極14および前記陽極
15の中心軸とが一致するように配置設定されている。
【0017】前記反応管7においては、図2に示すよう
に、シート状の前記放電プラズマ流5が挿通し得るよう
に偏平に成形された前記グリット開口31を有した前記
グリット電極30と前記陽極15とによって両端が閉じ
られ、上側には前記成膜用開口9が形成されている。そ
して、前記成膜用開口9は矩形の開口であり、成膜ドラ
ム24の一部が反応管内に進入した状態において該ドラ
ム24と該開口9との隙間は前記グリット開口31の開
口面積に比べて小さくするように構成されている。
に、シート状の前記放電プラズマ流5が挿通し得るよう
に偏平に成形された前記グリット開口31を有した前記
グリット電極30と前記陽極15とによって両端が閉じ
られ、上側には前記成膜用開口9が形成されている。そ
して、前記成膜用開口9は矩形の開口であり、成膜ドラ
ム24の一部が反応管内に進入した状態において該ドラ
ム24と該開口9との隙間は前記グリット開口31の開
口面積に比べて小さくするように構成されている。
【0018】前記ガス導入手段8は、1〜2kgf/c
m2の反応ガスを図示略のマスフロー・コントローラー
にて流量制御し、前記真空槽4内に挿通されたノズル2
0を介して前記反応管7内の前記放電プラズマ流5に供
給する。なお、このノズルの開口形状、大きさ、設置
数、反応ガスの供給量等は、前記基板2および前記放電
プラズマ流5の幅寸法等に応じて、最適値を選定する。
m2の反応ガスを図示略のマスフロー・コントローラー
にて流量制御し、前記真空槽4内に挿通されたノズル2
0を介して前記反応管7内の前記放電プラズマ流5に供
給する。なお、このノズルの開口形状、大きさ、設置
数、反応ガスの供給量等は、前記基板2および前記放電
プラズマ流5の幅寸法等に応じて、最適値を選定する。
【0019】前記基板搬送手段10は、巻回されている
前記基板2を送り出す送り出しロール22と、前記送り
出しロール22から送り出された前記基板2を巻き取る
巻き取りロール23と、前記送り出しロール22から送
り出されて前記巻き取りロール23に巻き取られる前記
基板2を、該基板2の表面が前記成膜用開口9を介して
反応管7内にて放電プラズマ流5と対峙するように走行
させる成膜ドラム24と、前記基板2が前記成膜ドラム
24に密着して走行するように基板2に適度の張力をか
けるとともに、成膜が良好に進むように前記基板2の表
面102に電圧を印加させて帯電させる電圧印加手段で
ある電極ローラ25と、これらのローラやドラムを回転
駆動する図示略の駆動手段と、この駆動手段の動作を制
御する駆動装置とを具備した構成となっている。
前記基板2を送り出す送り出しロール22と、前記送り
出しロール22から送り出された前記基板2を巻き取る
巻き取りロール23と、前記送り出しロール22から送
り出されて前記巻き取りロール23に巻き取られる前記
基板2を、該基板2の表面が前記成膜用開口9を介して
反応管7内にて放電プラズマ流5と対峙するように走行
させる成膜ドラム24と、前記基板2が前記成膜ドラム
24に密着して走行するように基板2に適度の張力をか
けるとともに、成膜が良好に進むように前記基板2の表
面102に電圧を印加させて帯電させる電圧印加手段で
ある電極ローラ25と、これらのローラやドラムを回転
駆動する図示略の駆動手段と、この駆動手段の動作を制
御する駆動装置とを具備した構成となっている。
【0020】前記基板搬送手段10の駆動手段として
は、各種のモータを利用することができる。また、駆動
制御装置は、クラッチを使用し、前記各ロール22,2
3等のの駆動力を変化させる簡易的な公知の装置の他、
前記基板2に作用している張力を検出して各ロールの回
転数等を制御するようにした張力制御式の装置、あるい
はダンサー・ロールを設置してその位置を検出して各ロ
ールの回転数等を制御するダンサー制御式の装置など、
種々のものを利用することができる。また、走行する前
記基板2の皺を無くすためのエキスパンダー・ロール
や、前記送り出しロール22および前記巻き取りロール
23における前記基板2の状態を安定させる接触ロール
などは、適宜、増設することができる。
は、各種のモータを利用することができる。また、駆動
制御装置は、クラッチを使用し、前記各ロール22,2
3等のの駆動力を変化させる簡易的な公知の装置の他、
前記基板2に作用している張力を検出して各ロールの回
転数等を制御するようにした張力制御式の装置、あるい
はダンサー・ロールを設置してその位置を検出して各ロ
ールの回転数等を制御するダンサー制御式の装置など、
種々のものを利用することができる。また、走行する前
記基板2の皺を無くすためのエキスパンダー・ロール
や、前記送り出しロール22および前記巻き取りロール
23における前記基板2の状態を安定させる接触ロール
などは、適宜、増設することができる。
【0021】また、図示はしていないが、前記成膜ドラ
ム24には、該成膜ドラム24の内部に冷却液を循環さ
せることによって該成膜ドラム24の昇温を抑え、該成
膜ドラム24を介して成膜時に基板2が所定以上の温度
に昇温することを防止する冷却手段が装備されている。
前記プラズマ流発生手段6および電極ローラ25に電圧
を印加する電源27,28は、極性が負または正の0〜
1000ボルトの直流電圧を印加し得るバイアス電源で
ある。
ム24には、該成膜ドラム24の内部に冷却液を循環さ
せることによって該成膜ドラム24の昇温を抑え、該成
膜ドラム24を介して成膜時に基板2が所定以上の温度
に昇温することを防止する冷却手段が装備されている。
前記プラズマ流発生手段6および電極ローラ25に電圧
を印加する電源27,28は、極性が負または正の0〜
1000ボルトの直流電圧を印加し得るバイアス電源で
ある。
【0022】前記電極ローラ25は、金属または導電性
材料によって形成されており、同じく金属または導電性
材料によって形成された支持体によって真空槽4内に支
持されている。この支持体自体は、絶縁性と真空シール
機能を有した導入端子29をかいして真空槽4に取り付
けられている。前記電源28は、前記導入端子29およ
び支持体を介して前記電極ローラ25の表面に所定の電
圧を印加している。
材料によって形成されており、同じく金属または導電性
材料によって形成された支持体によって真空槽4内に支
持されている。この支持体自体は、絶縁性と真空シール
機能を有した導入端子29をかいして真空槽4に取り付
けられている。前記電源28は、前記導入端子29およ
び支持体を介して前記電極ローラ25の表面に所定の電
圧を印加している。
【0023】上述の反応管7ならびにプラズマ加速手段
について更に詳細に説明する。前記反応管7は例えばパ
イレックス、石英等の材料からなる偏平構造のガラス管
70を本体として構成することができる。そして、ガラ
ス管70は3箇所に口が開いており、第1の口に陽極1
5を配設し、第2の口に中央にスリット状の細長い穴の
開いたグリット電極30を配設し、第3の口として成膜
用開口9が形成されている。さらに、前記ガラス管70
の壁にガス導入口であるノズル20を配設してガラス管
内に反応ガスを導入できるようにする。こ前記ノズル2
0はグリット電極30の一部に穴を開けてた構成として
も良い。前記ガラス管70の代わりに金属材料からなる
同様の部材を加工したもの、金属部材の内側に絶縁性の
材料を介在したものを使用しても良い。この場合はグリ
ット電極、陽極との絶縁、金属部材の電位を考慮する必
要がある。
について更に詳細に説明する。前記反応管7は例えばパ
イレックス、石英等の材料からなる偏平構造のガラス管
70を本体として構成することができる。そして、ガラ
ス管70は3箇所に口が開いており、第1の口に陽極1
5を配設し、第2の口に中央にスリット状の細長い穴の
開いたグリット電極30を配設し、第3の口として成膜
用開口9が形成されている。さらに、前記ガラス管70
の壁にガス導入口であるノズル20を配設してガラス管
内に反応ガスを導入できるようにする。こ前記ノズル2
0はグリット電極30の一部に穴を開けてた構成として
も良い。前記ガラス管70の代わりに金属材料からなる
同様の部材を加工したもの、金属部材の内側に絶縁性の
材料を介在したものを使用しても良い。この場合はグリ
ット電極、陽極との絶縁、金属部材の電位を考慮する必
要がある。
【0024】反応ガスの主排気口は前記グリット30に
開けたグリット開口31とし、前記陽極15側および成
膜用開口9から反応ガスが真空槽内に流出しないように
シールする必要がある。このシールは主排気口からの排
出量に対して十分小さければ良く、特にOリングを使用
する等の特別な構造によって完全密閉にする必要はな
い。また、真空度はプラズマ発生および反応ガス導入時
で真空槽内が1×10-4〜1×10-3 Torr 、ガラス管
内5×10-3〜1×10-1 Torr になるようにする。前
記グリット電極30は真空槽4と電気的に絶縁し抵抗を
介して接地する。この抵抗は10〜100Ω程度とする
ことができる。この時、電流は1A程度流れるので10
0W程度のものを使用すれば良い。直流電源によって直
接グリットに電圧を印加する方法もあるが2次放電が発
生する場合もあり好ましい方法ではない。また、前記グ
リット電極30の材質は導電性かつ非磁性のSUS30
4、銅、アルミニウム等を使用することができる。プラ
ズマによる熱損傷を少なくするために内部を適宜冷却構
造にしても良い。
開けたグリット開口31とし、前記陽極15側および成
膜用開口9から反応ガスが真空槽内に流出しないように
シールする必要がある。このシールは主排気口からの排
出量に対して十分小さければ良く、特にOリングを使用
する等の特別な構造によって完全密閉にする必要はな
い。また、真空度はプラズマ発生および反応ガス導入時
で真空槽内が1×10-4〜1×10-3 Torr 、ガラス管
内5×10-3〜1×10-1 Torr になるようにする。前
記グリット電極30は真空槽4と電気的に絶縁し抵抗を
介して接地する。この抵抗は10〜100Ω程度とする
ことができる。この時、電流は1A程度流れるので10
0W程度のものを使用すれば良い。直流電源によって直
接グリットに電圧を印加する方法もあるが2次放電が発
生する場合もあり好ましい方法ではない。また、前記グ
リット電極30の材質は導電性かつ非磁性のSUS30
4、銅、アルミニウム等を使用することができる。プラ
ズマによる熱損傷を少なくするために内部を適宜冷却構
造にしても良い。
【0025】この方法により前記反応管7内に例えばキ
ャリア・ガスにArを使用して供給した場合にはこのA
rは主排気口である前記グリット開口31の手前で排気
され、さらにグリット電極30に電圧を掛けることで前
記プラズマ流5のビーム成分が加速し電子温度が上昇す
る。この加速されたビーム成分により例えばCH4 等の
反応ガスを励起し易くなる。なお、前記グリット電極3
0の電圧は60〜150V程度にすることができ、好ま
しくは80〜120V程度が良い。これはガスの電離能
率が100V付近で最大になるためと思われる。この電
圧は前記プラズマ・ガン16の放電条件で制御できる。
また、前記反応管7は反応ガスが主排気口である前記グ
リット開口31から真空槽4に向かって流出し、前記基
板2の膜形成面から離れた方向に流出するので、成膜面
に面した領域に不必要に滞留するArイオンの量が少な
くなり成膜面のエッチング量が少なくなる。したがっ
て、基板面での成膜は蒸着とエッチング量との差になる
ことから、エッチング量が少ないことによって成膜速度
を高めることができる。
ャリア・ガスにArを使用して供給した場合にはこのA
rは主排気口である前記グリット開口31の手前で排気
され、さらにグリット電極30に電圧を掛けることで前
記プラズマ流5のビーム成分が加速し電子温度が上昇す
る。この加速されたビーム成分により例えばCH4 等の
反応ガスを励起し易くなる。なお、前記グリット電極3
0の電圧は60〜150V程度にすることができ、好ま
しくは80〜120V程度が良い。これはガスの電離能
率が100V付近で最大になるためと思われる。この電
圧は前記プラズマ・ガン16の放電条件で制御できる。
また、前記反応管7は反応ガスが主排気口である前記グ
リット開口31から真空槽4に向かって流出し、前記基
板2の膜形成面から離れた方向に流出するので、成膜面
に面した領域に不必要に滞留するArイオンの量が少な
くなり成膜面のエッチング量が少なくなる。したがっ
て、基板面での成膜は蒸着とエッチング量との差になる
ことから、エッチング量が少ないことによって成膜速度
を高めることができる。
【0026】以上のように構成された前記製造装置1に
より、本発明に係る磁気記録媒体の製造方法が実施され
る。図3は、前記製造装置1によって実施される成膜処
理の開始時におけるプロセスの一例を示したものであ
る。まず、ウェブ状の前記基板2を前記基板搬送手段1
0にセットして所定の張力をかけた状態で、前記真空ポ
ンプ12により真空槽4内を所定の真空度まで初期排気
する(ステップ201)。次いで、前記基板搬送手段1
0を動作させて、前記基板2を所定の速度で走行させる
(ステップ202)。次いで、前記プラズマ流発生手段
6により、シート状の放電プラズマ流5を所定の強度で
反応管7内に発生させる(ステップ203)。次いで、
ガス導入手段8により前記反応管7内に所定の反応ガス
を所定の流量で導入する(ステップ204)。次いで電
源28により前記電極ローラ25を介して前記基板2の
表面102に所定の電圧を印加する(ステップ20
5)。以上のプロセスにより、成膜を実行するが、ステ
ップ202〜ステップ205の順序は図示例の順序に限
定されるものではなく、成膜が実行される前に多量の前
記基板2が走行しないように、装置性能等に合せて、適
宜に順序を入れ替えることができる。
より、本発明に係る磁気記録媒体の製造方法が実施され
る。図3は、前記製造装置1によって実施される成膜処
理の開始時におけるプロセスの一例を示したものであ
る。まず、ウェブ状の前記基板2を前記基板搬送手段1
0にセットして所定の張力をかけた状態で、前記真空ポ
ンプ12により真空槽4内を所定の真空度まで初期排気
する(ステップ201)。次いで、前記基板搬送手段1
0を動作させて、前記基板2を所定の速度で走行させる
(ステップ202)。次いで、前記プラズマ流発生手段
6により、シート状の放電プラズマ流5を所定の強度で
反応管7内に発生させる(ステップ203)。次いで、
ガス導入手段8により前記反応管7内に所定の反応ガス
を所定の流量で導入する(ステップ204)。次いで電
源28により前記電極ローラ25を介して前記基板2の
表面102に所定の電圧を印加する(ステップ20
5)。以上のプロセスにより、成膜を実行するが、ステ
ップ202〜ステップ205の順序は図示例の順序に限
定されるものではなく、成膜が実行される前に多量の前
記基板2が走行しないように、装置性能等に合せて、適
宜に順序を入れ替えることができる。
【0027】以上に示した前記製造装置1による成膜で
は、前記放電プラズマ流5の周囲を囲う前記反応管7に
よって該放電プラズマ流5に供給される反応ガスの拡散
が抑制されると同時に該放電プラズマ流5の近傍に分布
する反応ガスの濃度が均一化され、これによって、未反
応のまま排出されてしまう反応ガス量が大幅に低減され
ると共に、キャルアガスなどの不要になったガスは基板
幅方向に均一幅にて開口した前記グリット開口31から
反応管幅方向にわたって略均一排出されるので、前記基
板2の表面の成膜の品位を高度に均一化することが容易
になる。
は、前記放電プラズマ流5の周囲を囲う前記反応管7に
よって該放電プラズマ流5に供給される反応ガスの拡散
が抑制されると同時に該放電プラズマ流5の近傍に分布
する反応ガスの濃度が均一化され、これによって、未反
応のまま排出されてしまう反応ガス量が大幅に低減され
ると共に、キャルアガスなどの不要になったガスは基板
幅方向に均一幅にて開口した前記グリット開口31から
反応管幅方向にわたって略均一排出されるので、前記基
板2の表面の成膜の品位を高度に均一化することが容易
になる。
【0028】しかも、前記放電プラズマ流5による気相
反応で分解された反応ガスのガス成分は、前記反応管7
の成膜用開口9と前記成膜ドラム24との隙間が小さい
ので、これによって、気相反応によって分解されたガス
成分が真空槽4内の広範囲に飛散することを防止し、ガ
ス成分の付着によって前記基板2に擦り傷が形成された
り前記基板搬送手段10が汚損されるといった不都合の
発生を効果的に防止することも可能になる。
反応で分解された反応ガスのガス成分は、前記反応管7
の成膜用開口9と前記成膜ドラム24との隙間が小さい
ので、これによって、気相反応によって分解されたガス
成分が真空槽4内の広範囲に飛散することを防止し、ガ
ス成分の付着によって前記基板2に擦り傷が形成された
り前記基板搬送手段10が汚損されるといった不都合の
発生を効果的に防止することも可能になる。
【0029】また、前記放電プラズマ流5の近傍を走行
する前記基板2の表面に前記電極ローラ25によって電
圧を印加して帯電させることによって、高速成膜や大面
積成膜に適した圧力勾配型放電による成膜処理をさらに
効率化することができ、ウェブ状の前記基板2の表面に
対する高速成膜や大面積成膜を良好に実現し得るように
なる。そして、例えば、磁気テープの磁性層上へのダイ
ヤモンド状カーボン膜の成膜に用いれば、ダイヤモンド
状カーボン膜の高速成膜が可能になり、高密度化や高画
質化だけでなく走行耐久性にも優れた磁気テープを高能
率に生産することが可能になる。
する前記基板2の表面に前記電極ローラ25によって電
圧を印加して帯電させることによって、高速成膜や大面
積成膜に適した圧力勾配型放電による成膜処理をさらに
効率化することができ、ウェブ状の前記基板2の表面に
対する高速成膜や大面積成膜を良好に実現し得るように
なる。そして、例えば、磁気テープの磁性層上へのダイ
ヤモンド状カーボン膜の成膜に用いれば、ダイヤモンド
状カーボン膜の高速成膜が可能になり、高密度化や高画
質化だけでなく走行耐久性にも優れた磁気テープを高能
率に生産することが可能になる。
【0030】また、成膜時にウェブ状の前記基板2を支
えている前記成膜ドラム24に冷却手段が装備されてい
るため、該基板2が熱に弱い高分子フィルム等の場合で
も、高密度の放電プラズマ流5によって前記基板2が過
熱されることを防止することができ、高密度の放電プラ
ズマ流を利用した高速な成膜処理を良好に続けることが
可能になる。
えている前記成膜ドラム24に冷却手段が装備されてい
るため、該基板2が熱に弱い高分子フィルム等の場合で
も、高密度の放電プラズマ流5によって前記基板2が過
熱されることを防止することができ、高密度の放電プラ
ズマ流を利用した高速な成膜処理を良好に続けることが
可能になる。
【0031】また、前記製造装置1の真空槽4の内部構
造や、排気手段の具体的な構成も、本実施態様のものに
限定するものではなく種々変更できるものである。例え
ば、前記真空槽4内には、前記反応管7内の気相反応に
よって分解されて該反応管7から洩れ出たガス成分の飛
散範囲を更に抑えるために前記成膜ドラム24の近辺で
真空槽4内をほぼ気密に仕切る適宜構造の仕切壁を設け
ることによて基板4の搬送空間と成膜空間と区画し、こ
の仕切壁によって区画された成膜空間側から排気するよ
うなに構成することもできる。このような構成では、前
記搬送空間と前記成膜空間とを個別に最適の真空圧に設
定可能であるため、プラズマCVD法による成膜処理に
要求される真空環境をより高精度に維持管理して高品位
の成膜を可能にすることができると同時に、真空槽4内
を所定の真空環境に維持する排気手段における排気能力
を下げて装置の小型化や装置コストの低減を図ることが
でき、さらに、前記仕切壁が気相反応によって分解され
たガス成分の不要範囲への飛散を更に防止し、前述した
ガス成分の付着によって前記基板2に擦り傷が形成され
たり前記基板搬送手段10が汚損されるといった不都合
の発生をさらに厳密に防止することが可能になる。
造や、排気手段の具体的な構成も、本実施態様のものに
限定するものではなく種々変更できるものである。例え
ば、前記真空槽4内には、前記反応管7内の気相反応に
よって分解されて該反応管7から洩れ出たガス成分の飛
散範囲を更に抑えるために前記成膜ドラム24の近辺で
真空槽4内をほぼ気密に仕切る適宜構造の仕切壁を設け
ることによて基板4の搬送空間と成膜空間と区画し、こ
の仕切壁によって区画された成膜空間側から排気するよ
うなに構成することもできる。このような構成では、前
記搬送空間と前記成膜空間とを個別に最適の真空圧に設
定可能であるため、プラズマCVD法による成膜処理に
要求される真空環境をより高精度に維持管理して高品位
の成膜を可能にすることができると同時に、真空槽4内
を所定の真空環境に維持する排気手段における排気能力
を下げて装置の小型化や装置コストの低減を図ることが
でき、さらに、前記仕切壁が気相反応によって分解され
たガス成分の不要範囲への飛散を更に防止し、前述した
ガス成分の付着によって前記基板2に擦り傷が形成され
たり前記基板搬送手段10が汚損されるといった不都合
の発生をさらに厳密に防止することが可能になる。
【0032】本願発明者等は、前述の実施態様の製造装
置1を用いて、実際に成膜テストを実施した。図1及び
図2に示す装置を用い該装置の仕様の詳細については下
記のものを仕様とした。真空槽4はSUS304製であ
り、前記排気手段12は、排気能力が3000リットル
/secのターボ・ポンプが2台、25000リットル
/minのメカニカル・ブースター・ポンプが1台、1
500リットル/minのロータリー・ポンプを1台を
備えた排気系とした。真空槽内でプラズマによる発熱を
嫌う箇所には必要に応じて、銅板に銅パイプを付け該パ
イプに冷却水を通す構成の防着板を使用した。また、真
空槽4の外壁も必要に応じて冷却した。そして、初期排
気で真空度が5.0×10-6Torr以下、成膜中は反
応管7内が1×10-2〜1×10-1Torr、真空槽4
内が5×10-4〜1×10-3Torrとなるようにし
た。プラズマ流発生手段6としては、Ta−LaB6 か
らなる複合陰極と中間電極を備えた圧力勾配型の装置を
用い、磁場により石英からなる反応管7内でプラズマを
シート状にした。プラズマ・ガン16の能力は放電電流
が最大200アンペアまで可能なものを使用した。基板
2に印加する電流は両極で最大1000ボルト印加でき
る直流電源を使用した。反応ガスを導入するノズル20
はSUS製のパイプをグリット電極を加工して取り付け
た構造とした。
置1を用いて、実際に成膜テストを実施した。図1及び
図2に示す装置を用い該装置の仕様の詳細については下
記のものを仕様とした。真空槽4はSUS304製であ
り、前記排気手段12は、排気能力が3000リットル
/secのターボ・ポンプが2台、25000リットル
/minのメカニカル・ブースター・ポンプが1台、1
500リットル/minのロータリー・ポンプを1台を
備えた排気系とした。真空槽内でプラズマによる発熱を
嫌う箇所には必要に応じて、銅板に銅パイプを付け該パ
イプに冷却水を通す構成の防着板を使用した。また、真
空槽4の外壁も必要に応じて冷却した。そして、初期排
気で真空度が5.0×10-6Torr以下、成膜中は反
応管7内が1×10-2〜1×10-1Torr、真空槽4
内が5×10-4〜1×10-3Torrとなるようにし
た。プラズマ流発生手段6としては、Ta−LaB6 か
らなる複合陰極と中間電極を備えた圧力勾配型の装置を
用い、磁場により石英からなる反応管7内でプラズマを
シート状にした。プラズマ・ガン16の能力は放電電流
が最大200アンペアまで可能なものを使用した。基板
2に印加する電流は両極で最大1000ボルト印加でき
る直流電源を使用した。反応ガスを導入するノズル20
はSUS製のパイプをグリット電極を加工して取り付け
た構造とした。
【0033】基板の搬送系は300mmの基板2を搬送
可能なようにロール幅を320mmとした。成膜ドラム
24は径が600mmで内部に冷却水、冷媒を流せる機
構のものを使用した。又、送り出しロール22及び巻き
取りロール23の巻き芯径は160mmとした。成膜ド
ラム24の回転数を基準にしてクラッチ機構によって送
り出し及び巻き取りロールの回転数を変化させて基板の
搬送スピード、張力を制御した。搬送スピードは5〜2
00m/min,最大張力3〜15kg/wになるよう
に搬送し、また成膜ドラム用の駆動モータは4.0kW
とした。反応ガス閉じ込め手段である反応管7は石英管
を加工し、グリット電極30はSUS製とし、陽極15
は銅製の本体の表面に厚さ5mmのモリブデン板を貼り
付けた構成とした。そして、グリット電極の中心には幅
10mmで長さ30mmのグリット開口を開けて、電極
には25オームの抵抗を介して接地した。この反応管7
のサイズL1は300mm、L2は400mm、L3は
100mmとした(図2参照)。
可能なようにロール幅を320mmとした。成膜ドラム
24は径が600mmで内部に冷却水、冷媒を流せる機
構のものを使用した。又、送り出しロール22及び巻き
取りロール23の巻き芯径は160mmとした。成膜ド
ラム24の回転数を基準にしてクラッチ機構によって送
り出し及び巻き取りロールの回転数を変化させて基板の
搬送スピード、張力を制御した。搬送スピードは5〜2
00m/min,最大張力3〜15kg/wになるよう
に搬送し、また成膜ドラム用の駆動モータは4.0kW
とした。反応ガス閉じ込め手段である反応管7は石英管
を加工し、グリット電極30はSUS製とし、陽極15
は銅製の本体の表面に厚さ5mmのモリブデン板を貼り
付けた構成とした。そして、グリット電極の中心には幅
10mmで長さ30mmのグリット開口を開けて、電極
には25オームの抵抗を介して接地した。この反応管7
のサイズL1は300mm、L2は400mm、L3は
100mmとした(図2参照)。
【0034】また、上記装置を使用したときのテストに
おける条件は、以下の(1)乃至(5)に示す通りであ
る。 (1)放電ガス Arを使用し、20〜100sccmを導入した。 (2)放電出力 放電電圧を80〜150V、放電電流を100〜150
Aとした。 (3)ウェブ状の基板 厚さが5〜20μmのPETベースの上に、予め、Co
−O層を2000オングストロームの厚さに成膜したも
のを使用した。成膜面に負極性の0〜800Vの電圧を
印加した。搬送速度及び張力は、20〜40m/mi
n、6kgf/Wとした。 (4)反応ガス CH4 、C2 H6 、C3 H8 、C2 H2 の炭化水素ガス
を使用し、その供給は50〜200sccm導入した。 (5)成膜ドラム 冷却水を流し、ドラム表面を15〜40℃の温度に保持
した。また、シート状の放電プラズマ流5との離間距離
は、25〜100mmにした。
おける条件は、以下の(1)乃至(5)に示す通りであ
る。 (1)放電ガス Arを使用し、20〜100sccmを導入した。 (2)放電出力 放電電圧を80〜150V、放電電流を100〜150
Aとした。 (3)ウェブ状の基板 厚さが5〜20μmのPETベースの上に、予め、Co
−O層を2000オングストロームの厚さに成膜したも
のを使用した。成膜面に負極性の0〜800Vの電圧を
印加した。搬送速度及び張力は、20〜40m/mi
n、6kgf/Wとした。 (4)反応ガス CH4 、C2 H6 、C3 H8 、C2 H2 の炭化水素ガス
を使用し、その供給は50〜200sccm導入した。 (5)成膜ドラム 冷却水を流し、ドラム表面を15〜40℃の温度に保持
した。また、シート状の放電プラズマ流5との離間距離
は、25〜100mmにした。
【0035】以上の条件によって成膜したサンプルにつ
いて、膜厚、硬度、膜質、成膜速度の評価を行った。膜
厚は、TEM(Transmission Electron Microscopy)に
より断面観察を行い、基板2の幅方向での膜厚の最大、
最小値から(max−min)/(max+min)を
算出して、膜厚分布(単位:%)を算出した。硬度は、
薄膜硬度計を使用してビッカース硬さを計測した。膜質
はESCA(Electron Spectroscopyfor Chemical Anal
ysis )のプラズモン損失を利用した。これは予めアモ
ルファス、グラファイト、ダイヤモンドのプラズモン損
失を測定し、成膜サンプルがどの相になっているかを求
めたもので、今回は、磁気記録媒体用のカーボン保護膜
の最適値として25〜27eVを採用した。成膜速度
は、前記基板2の幅方向の中心位置での膜厚と該基板2
の搬送速度、成膜領域より算出した。また、加速電圧は
プラスマ・ガン16の放電電圧および中間電極電圧から
算出した。次の表1および表2(表1の続き)は、これ
らの成膜条件と測定結果の一覧を示したものである。
いて、膜厚、硬度、膜質、成膜速度の評価を行った。膜
厚は、TEM(Transmission Electron Microscopy)に
より断面観察を行い、基板2の幅方向での膜厚の最大、
最小値から(max−min)/(max+min)を
算出して、膜厚分布(単位:%)を算出した。硬度は、
薄膜硬度計を使用してビッカース硬さを計測した。膜質
はESCA(Electron Spectroscopyfor Chemical Anal
ysis )のプラズモン損失を利用した。これは予めアモ
ルファス、グラファイト、ダイヤモンドのプラズモン損
失を測定し、成膜サンプルがどの相になっているかを求
めたもので、今回は、磁気記録媒体用のカーボン保護膜
の最適値として25〜27eVを採用した。成膜速度
は、前記基板2の幅方向の中心位置での膜厚と該基板2
の搬送速度、成膜領域より算出した。また、加速電圧は
プラスマ・ガン16の放電電圧および中間電極電圧から
算出した。次の表1および表2(表1の続き)は、これ
らの成膜条件と測定結果の一覧を示したものである。
【0036】
【表1】
【0037】
【表2】
【0038】表1及び表2にも示したように、前述の製
造装置1によって形成したカーボン保護膜は、磁気記録
媒体用のダイヤモンド状カーボン膜として十分な膜質が
得られた。そして、高周波グロー放電を利用した従来の
成膜による場合は、成膜速度が30〜40Å/secで
あるのに対し、このテストでは、50〜150Å/se
cの極めて高い成膜速度が得られ、高速成膜が可能であ
ることが判明した。また、膜厚分布もばらつきが少なく
又ビッカース硬度も高くなり良好であり、磁気記録媒体
の製造等に良好に利用しうることが判明した。放電ガス
の流量も少なくて済むことが判明した。
造装置1によって形成したカーボン保護膜は、磁気記録
媒体用のダイヤモンド状カーボン膜として十分な膜質が
得られた。そして、高周波グロー放電を利用した従来の
成膜による場合は、成膜速度が30〜40Å/secで
あるのに対し、このテストでは、50〜150Å/se
cの極めて高い成膜速度が得られ、高速成膜が可能であ
ることが判明した。また、膜厚分布もばらつきが少なく
又ビッカース硬度も高くなり良好であり、磁気記録媒体
の製造等に良好に利用しうることが判明した。放電ガス
の流量も少なくて済むことが判明した。
【0039】
【発明の効果】以上述べたように本発明の磁気記録媒体
の製造方法及び装置によれば、放電プラズマ流の周囲を
囲う反応管によって放電プラズマ流に供給される反応ガ
スの拡散が抑制されると同時に放電プラズマ流の周りに
分布する反応ガスの濃度が濃い状態で均一化され、これ
によって、未反応のまま排出されてしまう反応ガス量が
大幅に低減されると共に、基板表面の成膜の品位を高度
に均一化することが容易になる。しかも、反応ガスを基
板の成膜領域に面していない側の主排気口から排気する
ので、基板面のエッチング量が減少して成膜速度を大幅
に高めることができる。また、放電プラズマ流による気
相反応で分解された反応ガスのガス成分の飛び出す方向
は、前記反応管の成膜用開口の開口幅によって、基板表
面に向う一定の範囲に制限することができるので、気相
反応によって分解されたガス成分が真空槽内の広範囲に
飛散することを防止し、ガス成分の付着によって基板に
擦り傷が形成されたり基板搬送手段が汚損されるといっ
た不都合の発生を効果的に防止することも可能になる。
また、前記放電プラズマ流の近傍を走行させる基板の表
面に電圧を印加して帯電させておく構成とすれば、高速
成膜や大面積成膜に適した圧力勾配型放電による成膜処
理をさらに効率化することができ、ウェブ状の基板の表
面に対する高速成膜や大面積成膜を良好に実現し得るよ
うになる。そして、例えば、磁気テープの磁性層上への
ダイヤモンド状カーボン膜の成膜に用いれば、ダイヤモ
ンド状カーボン膜の高速成膜が可能になり、高密度化や
高画質化だけでなく走行耐久性にも優れた磁気テープを
高能率に生産することが可能になる。又、本発明による
反応ガス閉じ込め手段のように、真空槽内においてプラ
ズマ流を囲む成膜領域のみを特定の領域として他の領域
とは隔離することができるので、反応ガスの効率的利用
を図り且つ逆に成膜速度を遅延させるエッチング現象を
抑えることができ、また、真空環境に維持する排気手段
における排気能力を下げて装置の小型化や装置コストの
低減を図ることもできる。
の製造方法及び装置によれば、放電プラズマ流の周囲を
囲う反応管によって放電プラズマ流に供給される反応ガ
スの拡散が抑制されると同時に放電プラズマ流の周りに
分布する反応ガスの濃度が濃い状態で均一化され、これ
によって、未反応のまま排出されてしまう反応ガス量が
大幅に低減されると共に、基板表面の成膜の品位を高度
に均一化することが容易になる。しかも、反応ガスを基
板の成膜領域に面していない側の主排気口から排気する
ので、基板面のエッチング量が減少して成膜速度を大幅
に高めることができる。また、放電プラズマ流による気
相反応で分解された反応ガスのガス成分の飛び出す方向
は、前記反応管の成膜用開口の開口幅によって、基板表
面に向う一定の範囲に制限することができるので、気相
反応によって分解されたガス成分が真空槽内の広範囲に
飛散することを防止し、ガス成分の付着によって基板に
擦り傷が形成されたり基板搬送手段が汚損されるといっ
た不都合の発生を効果的に防止することも可能になる。
また、前記放電プラズマ流の近傍を走行させる基板の表
面に電圧を印加して帯電させておく構成とすれば、高速
成膜や大面積成膜に適した圧力勾配型放電による成膜処
理をさらに効率化することができ、ウェブ状の基板の表
面に対する高速成膜や大面積成膜を良好に実現し得るよ
うになる。そして、例えば、磁気テープの磁性層上への
ダイヤモンド状カーボン膜の成膜に用いれば、ダイヤモ
ンド状カーボン膜の高速成膜が可能になり、高密度化や
高画質化だけでなく走行耐久性にも優れた磁気テープを
高能率に生産することが可能になる。又、本発明による
反応ガス閉じ込め手段のように、真空槽内においてプラ
ズマ流を囲む成膜領域のみを特定の領域として他の領域
とは隔離することができるので、反応ガスの効率的利用
を図り且つ逆に成膜速度を遅延させるエッチング現象を
抑えることができ、また、真空環境に維持する排気手段
における排気能力を下げて装置の小型化や装置コストの
低減を図ることもできる。
【図1】本発明の磁気記録媒体の製造装置の一実施態様
の概略構成図である。
の概略構成図である。
【図2】図1に示した一実施態様の装置の反応管の斜視
図である。
図である。
【図3】本発明の磁気記録媒体の製造方法の成膜実行ま
でのプロセスを示すフローチャートである。
でのプロセスを示すフローチャートである。
【図4】磁気記録媒体の製造装置の一例を示す概略構成
図である。
図である。
1 製造装置 2 基板 4 真空槽 5 シート状の放電プラズマ流 6 プラズマ流発生手段 7 反応管 8 ガス導入手段 9 成膜用開口 10 基板搬送手段 12 真空ポンプ(排気手段) 14 陰極 15 陽極 16 プラズマガン 18 空芯コイル 20 ノズル 22 送り出しロール 23 巻き取りロール 24 成膜ドラム 30 グリット電極 31 グリット開口
Claims (6)
- 【請求項1】 真空槽内に形成されたシート状の放電プ
ラズマ流に反応ガスを供給する一方で、ウェブ状の基板
を前記放電プラズマ流の近傍に走行させ、前記放電プラ
ズマ流による前記反応ガスの気相反応によって放電プラ
ズマ流側に面した前記基板の表面に所定成分の薄膜を形
成する磁気記録媒体の製造方法であって、 成膜処理用の真空環境を提供する真空槽内にて前記基板
に対峙する位置に設けた反応ガス閉じ込め手段の中に前
記放電プラズマ流を発生させるときに、ガス導入手段に
よって前記反応ガス閉じ込め手段内に反応ガスを供給し
ながら、かつ該反応ガス閉じ込め手段内の放電プラズマ
流に電圧印加して該放電プラズマ流を加速しながら薄膜
の形成を行うことを特徴とする磁気記録媒体の製造方
法。 - 【請求項2】 前記反応ガス閉じ込め手段には前記基板
の成膜領域に面していない側から前記反応ガスを排気可
能な主排気口を設けることにより、前記反応ガス閉じ込
め手段への反応ガスの供給とともに前記主排気口から主
に排気を行うようにする請求項1に記載の磁気記録媒体
の製造方法。 - 【請求項3】 前記基板は前記放電プラズマ流と対峙す
る表面に予め強磁性体からなる磁性層が成膜されてお
り、前記反応ガス閉じ込め手段内に供給する反応ガスと
して炭化水素を用いると共に、前記磁性層の表面に電圧
を印加することで、該基板の表面に炭素を主成分とする
保護膜を成膜することを特徴とした請求項1又は2に記
載の磁気記録媒体の製造方法。 - 【請求項4】 真空槽内に形成されるシート状の放電プ
ラズマ流に反応ガスを供給する一方で、ウェブ状の基板
を前記放電プラズマ流の近傍に走行させ、該放電プラズ
マ流による前記反応ガスの気相反応によって放電プラズ
マ流側に面した前記基板の表面に所定成分の薄膜を形成
する磁気記録媒体の製造装置であって、 成膜処理用の真空環境を提供する真空槽と、該真空槽内
にシート状の放電プラズマ流を形成するプラズマ流発生
手段と、前記真空槽内に設置されて前記放電プラズマ流
の周囲を囲うようにしガス導入手段によって供給される
前記反応ガスを閉じ込める反応ガス閉じ込め手段と、前
記基板の表面が前記反応ガス閉じ込め手段の成膜用開口
を介して前記放電プラズマ流と対峙するべく前記基板を
走行させる基板搬送手段とを備え、さらに前記反応ガス
閉じ込め手段には該手段内の反応ガスを一定量ずつ排気
可能な主排気口が設けられていると共に、前記放電プラ
ズマ流への電圧印加を可能とするプラズマ加速手段が設
けられたことを特徴とする磁気記録媒体の製造装置。 - 【請求項5】 前記反応ガス閉じ込め手段は前記プラズ
マが入射する側がグリット電極側のグリット開口を残し
て閉じられていると共に該グリット電極とは反対側が陽
極が配置されて閉じられていることを特徴とする請求項
5に記載の磁気記録媒体の製造装置。 - 【請求項6】 前記基板を位置決め走行させる成膜ドラ
ムの一部が前記反応ガス閉じ込め手段の成膜用開口の内
側に位置するように構成されたことを特徴とする請求項
4又は5に記載の磁気記録媒体の製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18901194A JPH0836751A (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 磁気記録媒体の製造方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18901194A JPH0836751A (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 磁気記録媒体の製造方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0836751A true JPH0836751A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=16233810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18901194A Pending JPH0836751A (ja) | 1994-07-20 | 1994-07-20 | 磁気記録媒体の製造方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0836751A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013144848A (ja) * | 2008-02-14 | 2013-07-25 | Applied Materials Inc | 基板を処理するための装置 |
-
1994
- 1994-07-20 JP JP18901194A patent/JPH0836751A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013144848A (ja) * | 2008-02-14 | 2013-07-25 | Applied Materials Inc | 基板を処理するための装置 |
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