JPH0855311A - オフ・トラック性能を改善するための一体的磁気抵抗ヘッド - Google Patents
オフ・トラック性能を改善するための一体的磁気抵抗ヘッドInfo
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- JPH0855311A JPH0855311A JP7145964A JP14596495A JPH0855311A JP H0855311 A JPH0855311 A JP H0855311A JP 7145964 A JP7145964 A JP 7145964A JP 14596495 A JP14596495 A JP 14596495A JP H0855311 A JPH0855311 A JP H0855311A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気抵抗ヘッドの磁気的な中心と物理的な中
心との間の変化を最小にし、オフ・トラック性能の改善
された磁気抵抗ヘッドを提供することである。 【構成】 オフ・トラック性能を対称的なものにして、
磁気的な中心と物理的な中心との間の相違を最小にする
ことによりオフ・トラック性能を改善するための傾斜リ
ードを有する磁気抵抗(MR)ヘッド。
心との間の変化を最小にし、オフ・トラック性能の改善
された磁気抵抗ヘッドを提供することである。 【構成】 オフ・トラック性能を対称的なものにして、
磁気的な中心と物理的な中心との間の相違を最小にする
ことによりオフ・トラック性能を改善するための傾斜リ
ードを有する磁気抵抗(MR)ヘッド。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気抵抗ヘッドのオフ
・トラック性能を対称的にすることによってその性能を
改善するための装置に係る。
・トラック性能を対称的にすることによってその性能を
改善するための装置に係る。
【0002】
【従来の技術】磁気記録の分野において領域密度を増加
しそして信号対雑音比を高めるには、磁気抵抗(MR)
センサを使用することが必須となる。磁気抵抗(MR)
センサ又はヘッドは、非常に直線的な密度において磁気
媒体からデータを読み取れることが示されているので、
磁気記録の分野でかなり魅力的なものである。MRセン
サは、感知されている磁束の関数として磁気抵抗材料で
作られた読み取り素子の抵抗が変化することにより磁界
信号を検出する。
しそして信号対雑音比を高めるには、磁気抵抗(MR)
センサを使用することが必須となる。磁気抵抗(MR)
センサ又はヘッドは、非常に直線的な密度において磁気
媒体からデータを読み取れることが示されているので、
磁気記録の分野でかなり魅力的なものである。MRセン
サは、感知されている磁束の関数として磁気抵抗材料で
作られた読み取り素子の抵抗が変化することにより磁界
信号を検出する。
【0003】公知技術では、最適な性能を得るために、
MRヘッドは2つのバイアス磁界を必要とする。MR素
子の平面内の磁化を感知電流の方向に対して約45°に
配向する横方向バイアス磁界は、磁束に対するMRヘッ
ドの応答が直線的となるように与えられる。磁気媒体の
表面に平行に且つMR素子の長手方向に平行に延びる長
手方向バイアス磁界は、MRヘッドの端領域に単一ドメ
イン状態を維持することによりバルクハウゼンノイズを
抑制するために与えられる。センサ出力を直線化すると
共に、感知領域に単一のドメインを形成するために、多
数の種々の手段が使用されている。この分野では多数の
特許が発行されている。例えば、米国特許第4,66
3,685号;第4,967,298号;第5,07
9,035号及び第5,005,096号は、横方向及
び長手方向バイアスのために種々の機構を用いたMRヘ
ッドを開示している。
MRヘッドは2つのバイアス磁界を必要とする。MR素
子の平面内の磁化を感知電流の方向に対して約45°に
配向する横方向バイアス磁界は、磁束に対するMRヘッ
ドの応答が直線的となるように与えられる。磁気媒体の
表面に平行に且つMR素子の長手方向に平行に延びる長
手方向バイアス磁界は、MRヘッドの端領域に単一ドメ
イン状態を維持することによりバルクハウゼンノイズを
抑制するために与えられる。センサ出力を直線化すると
共に、感知領域に単一のドメインを形成するために、多
数の種々の手段が使用されている。この分野では多数の
特許が発行されている。例えば、米国特許第4,66
3,685号;第4,967,298号;第5,07
9,035号及び第5,005,096号は、横方向及
び長手方向バイアスのために種々の機構を用いたMRヘ
ッドを開示している。
【0004】しかしながら、記録密度を改善するには、
磁気記録媒体の記録トラックを狭くすると共に、トラッ
クに沿った直線的な記録密度を増大することが必要とな
る。狭いトラックを使用する場合には、MRヘッドがそ
の関連サーボシステムによりシーク中にあるトラックか
ら別のトラックへ位置設定し直されるときに、読み取ら
れるべきトラック上に正確にMRヘッドを位置設定する
ことが非常に重要となる。しかしながら、公知のMRヘ
ッドは、非対称のオフ・トラック性能を示し、MRヘッ
ドをシーク中に狭いトラック上に正確に位置設定するこ
とが困難であるために、その関連サーボシステムに過酷
な要求が課せられる。
磁気記録媒体の記録トラックを狭くすると共に、トラッ
クに沿った直線的な記録密度を増大することが必要とな
る。狭いトラックを使用する場合には、MRヘッドがそ
の関連サーボシステムによりシーク中にあるトラックか
ら別のトラックへ位置設定し直されるときに、読み取ら
れるべきトラック上に正確にMRヘッドを位置設定する
ことが非常に重要となる。しかしながら、公知のMRヘ
ッドは、非対称のオフ・トラック性能を示し、MRヘッ
ドをシーク中に狭いトラック上に正確に位置設定するこ
とが困難であるために、その関連サーボシステムに過酷
な要求が課せられる。
【0005】又、MRヘッドは読み取り専用のヘッドで
あり、従って、ディスクにデータを書き込むには個別の
書き込み素子を使用しなければならない。書き込み動作
ではしばしばトラックの縁にジグザグ領域が形成され、
MR読み取りセンサを用いた磁気記録システムの性能が
低下する。それ故、MRセンサを書き込みヘッドより狭
くして、MRセンサが常に書き込みトラックの外側境界
内に位置されるようにすることが所望される。狭いMR
センサを用いると、それに関連するサーボシステムの動
作範囲が限定されるので、サーボ機構には更に要求が課
せられることになる。
あり、従って、ディスクにデータを書き込むには個別の
書き込み素子を使用しなければならない。書き込み動作
ではしばしばトラックの縁にジグザグ領域が形成され、
MR読み取りセンサを用いた磁気記録システムの性能が
低下する。それ故、MRセンサを書き込みヘッドより狭
くして、MRセンサが常に書き込みトラックの外側境界
内に位置されるようにすることが所望される。狭いMR
センサを用いると、それに関連するサーボシステムの動
作範囲が限定されるので、サーボ機構には更に要求が課
せられることになる。
【0006】ヘッド位置設定のサーボ機構は、磁気媒体
のトラック上にMRヘッドを正確に配置してヘッド性能
を最大にするように使用される。サーボシステムは、2
つの主たる機能を有している。即ち、(1)所望のトラ
ックに対するヘッドの位置を決定する。そして(2)実
際のヘッド位置を所望のヘッド位置と比較して位置エラ
ー信号を発生することによりヘッドの位置をトラック上
に保持する。サーボシステムの動作範囲は、MRヘッド
の位置ずれと位置エラー信号との間の関係が直線的であ
るような位置ずれ値の範囲として定義される。MRヘッ
ドのオフ・トラック曲線の両側部の傾斜が等しいとき、
即ちMRヘッドのオフ・トラック性能曲線が対称的であ
るときに、サーボシステムの動作範囲が最大となり、ひ
いては、システムの性能が最大となる。
のトラック上にMRヘッドを正確に配置してヘッド性能
を最大にするように使用される。サーボシステムは、2
つの主たる機能を有している。即ち、(1)所望のトラ
ックに対するヘッドの位置を決定する。そして(2)実
際のヘッド位置を所望のヘッド位置と比較して位置エラ
ー信号を発生することによりヘッドの位置をトラック上
に保持する。サーボシステムの動作範囲は、MRヘッド
の位置ずれと位置エラー信号との間の関係が直線的であ
るような位置ずれ値の範囲として定義される。MRヘッ
ドのオフ・トラック曲線の両側部の傾斜が等しいとき、
即ちMRヘッドのオフ・トラック性能曲線が対称的であ
るときに、サーボシステムの動作範囲が最大となり、ひ
いては、システムの性能が最大となる。
【0007】非等方性の磁束伝播により、MRヘッド
は、非対称的なオフ・トラック性能を示す。これは、M
Rヘッドの物理的な中心の位置をその磁気的な中心の位
置とは異なったものにする。一般に、サーボシステム
は、MR読み取りヘッドの物理的な中心を所望のトラッ
クに正確に配置するために、ディスクに書き込まれたサ
ーボバーストを用いて設定される。しかしながら、動作
中の信号対雑音比を最大にするためにトラックにセンタ
リングしなければならないのはMRヘッドの磁気的な中
心である。従って、所望のトラック上にMRヘッドの磁
気的な中心を正確に位置設定するようにサーボバースト
を書き込むには、MRヘッドの物理的な中心の位置と磁
気的な中心の位置との間のずれを測定することが重要で
ある。
は、非対称的なオフ・トラック性能を示す。これは、M
Rヘッドの物理的な中心の位置をその磁気的な中心の位
置とは異なったものにする。一般に、サーボシステム
は、MR読み取りヘッドの物理的な中心を所望のトラッ
クに正確に配置するために、ディスクに書き込まれたサ
ーボバーストを用いて設定される。しかしながら、動作
中の信号対雑音比を最大にするためにトラックにセンタ
リングしなければならないのはMRヘッドの磁気的な中
心である。従って、所望のトラック上にMRヘッドの磁
気的な中心を正確に位置設定するようにサーボバースト
を書き込むには、MRヘッドの物理的な中心の位置と磁
気的な中心の位置との間のずれを測定することが重要で
ある。
【0008】しかしながら、MRヘッドの磁気的な中心
の位置は、ヘッドにおけるMR素子のストライプの高
さ、巾及び厚みによって左右される。MRヘッドの製造
プロセスが変化すると、磁気的な中心の位置も変化し、
その位置を正確に予想することが困難となる。MRヘッ
ドの物理的な中心及び磁気的な中心の位置の変化を最小
にできることにより、プロセス変化の問題が最小とされ
る一方、MRヘッドの物理的な中心の位置と磁気的な中
心の位置との間のずれを測定する必要性も排除される。
MRヘッドのオフ・トラック性能を更に対称的なものに
することにより、MRヘッドの物理的な中心と磁気的な
中心の位置の変化が最小にされ、これにより、サーボシ
ステムの動作範囲が改善される一方、磁気媒体上に高い
トラック密度を達成することができる。
の位置は、ヘッドにおけるMR素子のストライプの高
さ、巾及び厚みによって左右される。MRヘッドの製造
プロセスが変化すると、磁気的な中心の位置も変化し、
その位置を正確に予想することが困難となる。MRヘッ
ドの物理的な中心及び磁気的な中心の位置の変化を最小
にできることにより、プロセス変化の問題が最小とされ
る一方、MRヘッドの物理的な中心の位置と磁気的な中
心の位置との間のずれを測定する必要性も排除される。
MRヘッドのオフ・トラック性能を更に対称的なものに
することにより、MRヘッドの物理的な中心と磁気的な
中心の位置の変化が最小にされ、これにより、サーボシ
ステムの動作範囲が改善される一方、磁気媒体上に高い
トラック密度を達成することができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ストライプの高さを減
少することによりMRヘッドのオフ・トラック性能曲線
の非対象性を減少することができる。しかしながら、ス
トライプの高さを減少すると、特に動作中にMRヘッド
を通して一定の電流密度を必要とする駆動装置の場合
に、MRヘッドシステムの信号対雑音比が著しく低下す
る。更に、ストライプの高さが小さいと、厳密なプロセ
ス裕度が要求されることになり、ひいては、ヘッドの製
造プロセスに更に制約を課することになる。
少することによりMRヘッドのオフ・トラック性能曲線
の非対象性を減少することができる。しかしながら、ス
トライプの高さを減少すると、特に動作中にMRヘッド
を通して一定の電流密度を必要とする駆動装置の場合
に、MRヘッドシステムの信号対雑音比が著しく低下す
る。更に、ストライプの高さが小さいと、厳密なプロセ
ス裕度が要求されることになり、ひいては、ヘッドの製
造プロセスに更に制約を課することになる。
【0010】そこで、MRヘッドのオフ・トラック性能
をより対称的にし、且つMRヘッドの磁気的な中心と物
理的な中心との間の変化を最小とすることが要望され
る。
をより対称的にし、且つMRヘッドの磁気的な中心と物
理的な中心との間の変化を最小とすることが要望され
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、MRヘッドの
オフ・トラック性能を対称的にすることによってそのオ
フ・トラック性能を改善するための装置を提供する。
オフ・トラック性能を対称的にすることによってそのオ
フ・トラック性能を改善するための装置を提供する。
【0012】本発明の目的は、MRヘッドの磁気的な中
心の位置と物理的な中心の位置との間の変化を最小にす
ることである。
心の位置と物理的な中心の位置との間の変化を最小にす
ることである。
【0013】本発明の別の目的は、MRヘッドのオン・
トラック性能として高い信号対雑音比を維持しながら
も、そのオフ・トラック性能を改善することである。
トラック性能として高い信号対雑音比を維持しながら
も、そのオフ・トラック性能を改善することである。
【0014】本発明の更に別の目的は、大量生産におい
てMRヘッドの磁気的な中心の位置に相違を招くような
プロセスの制約により生じる問題を最小にすることであ
る。
てMRヘッドの磁気的な中心の位置に相違を招くような
プロセスの制約により生じる問題を最小にすることであ
る。
【0015】本発明の更に別の目的は、工学的な設計時
間及びスクラップコストを低減する一方、対称的なオフ
・トラック性能を有するMRヘッドを製造できるように
することにより既存のMRヘッド製造プロセスに機能を
追加することである。
間及びスクラップコストを低減する一方、対称的なオフ
・トラック性能を有するMRヘッドを製造できるように
することにより既存のMRヘッド製造プロセスに機能を
追加することである。
【0016】これら及び他の目的は、広い意味におい
て、本発明によるMRヘッドを使用することにより達成
される。MRヘッドは、柔軟な磁気層と、非磁気のデカ
ップリング層とを含む。非磁気のデカップリング層は、
柔軟な磁気層に接触する。又、MRヘッドは、磁気抵抗
層も含み、これは、非磁気のデカップリング層に接触す
る。磁気抵抗層は、離間された端部領域を有すると共
に、真の磁化容易軸を有する。更に、MRヘッドは、磁
気抵抗層の端部領域に長手方向バイアスを形成するため
に磁気抵抗層に作動的に関連した素子を備えている。
又、MRヘッドは、互いに離間関係の導電性リードも含
み、これらのリードはその離間された対向面が互いに平
行に延びてそれらの間にアクティブな領域を形成する。
上記柔軟な磁気層は、磁気抵抗装置の動作中にアクティ
ブな領域を直線応答モードに維持するに充分な横方向バ
イアスをそのアクティブな領域に形成する。導電性リー
ドの対向面は、磁気抵抗層の真の磁化容易軸に対して所
定の鋭角を定めるよう傾斜され、これは、磁気抵抗装置
の動作中に対称的なオフ・トラック性能を確保するよう
に作用する。
て、本発明によるMRヘッドを使用することにより達成
される。MRヘッドは、柔軟な磁気層と、非磁気のデカ
ップリング層とを含む。非磁気のデカップリング層は、
柔軟な磁気層に接触する。又、MRヘッドは、磁気抵抗
層も含み、これは、非磁気のデカップリング層に接触す
る。磁気抵抗層は、離間された端部領域を有すると共
に、真の磁化容易軸を有する。更に、MRヘッドは、磁
気抵抗層の端部領域に長手方向バイアスを形成するため
に磁気抵抗層に作動的に関連した素子を備えている。
又、MRヘッドは、互いに離間関係の導電性リードも含
み、これらのリードはその離間された対向面が互いに平
行に延びてそれらの間にアクティブな領域を形成する。
上記柔軟な磁気層は、磁気抵抗装置の動作中にアクティ
ブな領域を直線応答モードに維持するに充分な横方向バ
イアスをそのアクティブな領域に形成する。導電性リー
ドの対向面は、磁気抵抗層の真の磁化容易軸に対して所
定の鋭角を定めるよう傾斜され、これは、磁気抵抗装置
の動作中に対称的なオフ・トラック性能を確保するよう
に作用する。
【0017】又、上記目的は、狭い意味では、所定の鋭
角が78°であるようなMRヘッドを使用することによ
り達成される。
角が78°であるようなMRヘッドを使用することによ
り達成される。
【0018】本発明の効果は、MRヘッドの物理的な中
心の位置と磁気的な中心の位置との間の相違が最小にさ
れることである。
心の位置と磁気的な中心の位置との間の相違が最小にさ
れることである。
【0019】本発明の別の効果は、MRヘッドのサーボ
システムの動作範囲が拡張されることである。
システムの動作範囲が拡張されることである。
【0020】本発明の更に別の効果は、磁気媒体上に高
いトラック密度を達成できることである。
いトラック密度を達成できることである。
【0021】本発明の上記及び更に別の目的、特徴並び
に効果は、添付図面を参照した好ましい実施例の詳細な
説明から当業者に明らかとなろう。
に効果は、添付図面を参照した好ましい実施例の詳細な
説明から当業者に明らかとなろう。
【0022】
【実施例】図1を参照すれば、磁気抵抗(MR)センサ
10は、柔軟な隣接層(SAL)12と、非磁気デカッ
プリング層14と、磁気抵抗(MR)層16と、反強磁
性(AFM)層18と、導電性リード20、20’と、
磁気シールド26、26’とで構成される。
10は、柔軟な隣接層(SAL)12と、非磁気デカッ
プリング層14と、磁気抵抗(MR)層16と、反強磁
性(AFM)層18と、導電性リード20、20’と、
磁気シールド26、26’とで構成される。
【0023】図1及び2に示すように、MRセンサ10
には、長手方向及び横方向のバイアスが与えられる。ド
メイン抑制のための長手方向のバイアスは、MRセンサ
10の端部領域22のみに与えられる。長手方向のバイ
アスは、交換バイアス方法によって発生される。図1及
び2に示すように、MRセンサ10は、反強磁性(AF
M)層18に電気的に接触したMR層16を有してい
る。AFM層18は、MRセンサ10の端部領域22を
カバーするようにパターン化される。それ故、MRセン
サ10の端部領域22のみが交換バイアスされ、MR層
16は、端部領域22において単一ドメインモードで長
手方向にバイアスされる。
には、長手方向及び横方向のバイアスが与えられる。ド
メイン抑制のための長手方向のバイアスは、MRセンサ
10の端部領域22のみに与えられる。長手方向のバイ
アスは、交換バイアス方法によって発生される。図1及
び2に示すように、MRセンサ10は、反強磁性(AF
M)層18に電気的に接触したMR層16を有してい
る。AFM層18は、MRセンサ10の端部領域22を
カバーするようにパターン化される。それ故、MRセン
サ10の端部領域22のみが交換バイアスされ、MR層
16は、端部領域22において単一ドメインモードで長
手方向にバイアスされる。
【0024】更に、図1及び2に示すように、MR層1
6は、AFM層18とは反対側で、非磁気デカップリン
グ層14に電気的に接触される。このデカップリング層
14は、柔軟な隣接層(SAL)12に電気的に接触さ
れる。このSAL12は、MR層16の中央領域24の
柔軟フィルム横方向バイアスを与える柔軟な磁気フィル
ムである。非磁気デカップリング層14は、MR層16
及びSAL12が互いに逆の磁化回転を発生するに必要
な物理的な分離を与える。SAL12と非磁気デカップ
リング層14は、互いにあいまって、MR層16の中央
領域に横方向バイアス磁界を発生する。
6は、AFM層18とは反対側で、非磁気デカップリン
グ層14に電気的に接触される。このデカップリング層
14は、柔軟な隣接層(SAL)12に電気的に接触さ
れる。このSAL12は、MR層16の中央領域24の
柔軟フィルム横方向バイアスを与える柔軟な磁気フィル
ムである。非磁気デカップリング層14は、MR層16
及びSAL12が互いに逆の磁化回転を発生するに必要
な物理的な分離を与える。SAL12と非磁気デカップ
リング層14は、互いにあいまって、MR層16の中央
領域に横方向バイアス磁界を発生する。
【0025】更に、図1に示すように、磁気シールド2
6及び26’は、漂遊磁束の影響を最小にしながらも、
高い直線記録密度において高い信号振幅を与えるために
設けられている。
6及び26’は、漂遊磁束の影響を最小にしながらも、
高い直線記録密度において高い信号振幅を与えるために
設けられている。
【0026】図1のMRセンサから所望の応答を得るた
めに多数の材料の選択が考えられるが、MR層16にN
iFe(パーマロイ)を、SAL12にNiFeRh又
はNiFeMoを、非磁気スペーサ層14にTaを、そ
して導電性リード20及び20’にAu又はW(タング
ステン)を使用することにより、良好な結果が得られて
いる。図1に示すように、MR層16は、約200−3
00Å厚みであり、SAL12は、約180−260Å
厚みであり、非磁気スペーサ層14は、約75−125
Å厚みであり、そして導電性リード20及び20’は、
各々約2000Å厚みである。上記の材料及び寸法を使
用することにより良好な結果が得られている。図1のM
Rセンサから所望の応答を得るために本発明の材料及び
層寸法の選択には種々の変更がなされ得ることが当業者
に明らかであろう。
めに多数の材料の選択が考えられるが、MR層16にN
iFe(パーマロイ)を、SAL12にNiFeRh又
はNiFeMoを、非磁気スペーサ層14にTaを、そ
して導電性リード20及び20’にAu又はW(タング
ステン)を使用することにより、良好な結果が得られて
いる。図1に示すように、MR層16は、約200−3
00Å厚みであり、SAL12は、約180−260Å
厚みであり、非磁気スペーサ層14は、約75−125
Å厚みであり、そして導電性リード20及び20’は、
各々約2000Å厚みである。上記の材料及び寸法を使
用することにより良好な結果が得られている。図1のM
Rセンサから所望の応答を得るために本発明の材料及び
層寸法の選択には種々の変更がなされ得ることが当業者
に明らかであろう。
【0027】図1及び2に示すように、導電性リード2
0及び20’は、AFM層18に電気的に接触される。
導電性リード20及び20’は、図1及び2に示すよう
に、対向面32及び30を各々有している。導電性リー
ド20及び20’のこれらの対向面32及び30は、互
いに平行であって、それらの間にアクティブな領域24
を画成する。このアクティブな領域24は、図1及び2
に示すように、MR層16の中央領域と一般的に整列さ
れる。SAL12によって与えられる横方向バイアス磁
界は、このアクティブな領域24を直線的応答モードに
維持する。
0及び20’は、AFM層18に電気的に接触される。
導電性リード20及び20’は、図1及び2に示すよう
に、対向面32及び30を各々有している。導電性リー
ド20及び20’のこれらの対向面32及び30は、互
いに平行であって、それらの間にアクティブな領域24
を画成する。このアクティブな領域24は、図1及び2
に示すように、MR層16の中央領域と一般的に整列さ
れる。SAL12によって与えられる横方向バイアス磁
界は、このアクティブな領域24を直線的応答モードに
維持する。
【0028】更に、図2及び3に示すように、導電性の
リード20及び20’の対向面32及び30は、MR層
16の真の磁化容易軸38を通して延びる平面に対し角
度θを形成するように傾斜される。図2及び3に示すよ
うに、リード20及び20’を68°の角度に傾斜する
ことにより、即ちθを68°にすることにより、良好な
結果が得られている。リード20及び20’は、80°
ないし65°の範囲内のいかなる角度θに傾斜しても、
本発明の原理により良好な結果を得ることができる。ス
トライプ高さ45とも称するMR素子16の高さは、図
2に示すように、2.8ミクロンである。2.5ないし
3.0ミクロンのストライプ高さを用いることにより良
好な結果が得られている。
リード20及び20’の対向面32及び30は、MR層
16の真の磁化容易軸38を通して延びる平面に対し角
度θを形成するように傾斜される。図2及び3に示すよ
うに、リード20及び20’を68°の角度に傾斜する
ことにより、即ちθを68°にすることにより、良好な
結果が得られている。リード20及び20’は、80°
ないし65°の範囲内のいかなる角度θに傾斜しても、
本発明の原理により良好な結果を得ることができる。ス
トライプ高さ45とも称するMR素子16の高さは、図
2に示すように、2.8ミクロンである。2.5ないし
3.0ミクロンのストライプ高さを用いることにより良
好な結果が得られている。
【0029】従来のMRヘッドの磁束は、磁気媒体上の
磁気電荷がアクティブな領域の下にあるときだけアクテ
ィブな領域に入る。しかしながら、本発明の原理に基づ
いて導電性リード20及び20’を傾斜することによ
り、電荷がアクティブな領域からまだ離れているときで
も、即ち電荷がアクティブな領域24の下にないときで
も、アクティブな領域24は磁気電荷をピックアップす
る。本発明の原理に基づきリード20及び20’がある
角度に傾斜されたMRヘッド10の機能は、そのオフ・
トラック性能をより対称的なものにする。
磁気電荷がアクティブな領域の下にあるときだけアクテ
ィブな領域に入る。しかしながら、本発明の原理に基づ
いて導電性リード20及び20’を傾斜することによ
り、電荷がアクティブな領域からまだ離れているときで
も、即ち電荷がアクティブな領域24の下にないときで
も、アクティブな領域24は磁気電荷をピックアップす
る。本発明の原理に基づきリード20及び20’がある
角度に傾斜されたMRヘッド10の機能は、そのオフ・
トラック性能をより対称的なものにする。
【0030】図4に示すように、本発明の原理に基づき
リード20及び20’を78°の角度に傾斜すると、オ
フ・トラック性能曲線50で示すように、より対称的な
オフ・トラック性能プロファイルが得られる。オフ・ト
ラック性能曲線50を示すMRヘッド10のMRストラ
イプ高さ45は、2.8ミクロンである。又、図4に
は、ストライプ高さ45が1.4ミクロンであるような
MRヘッドのオフ・トラック性能曲線54も示されてい
る。曲線54は、曲線50に対し更に良好な対称性を示
しているが、2.8ミクロンのストライプ高さが好まし
いストライプ高さである。というのは、ストライプ高さ
を1.4ミクロンに減少すると、磁気記録システムの信
号対雑音比が著しく低下するからである。従来のMRセ
ンサの非対称なオフ・トラック性能は、図4に曲線52
で示されている。
リード20及び20’を78°の角度に傾斜すると、オ
フ・トラック性能曲線50で示すように、より対称的な
オフ・トラック性能プロファイルが得られる。オフ・ト
ラック性能曲線50を示すMRヘッド10のMRストラ
イプ高さ45は、2.8ミクロンである。又、図4に
は、ストライプ高さ45が1.4ミクロンであるような
MRヘッドのオフ・トラック性能曲線54も示されてい
る。曲線54は、曲線50に対し更に良好な対称性を示
しているが、2.8ミクロンのストライプ高さが好まし
いストライプ高さである。というのは、ストライプ高さ
を1.4ミクロンに減少すると、磁気記録システムの信
号対雑音比が著しく低下するからである。従来のMRセ
ンサの非対称なオフ・トラック性能は、図4に曲線52
で示されている。
【0031】更に、図5には、本発明の原理による図1
のMR読み取りトランスジューサのオフ・トラック性能
の別のグラフが示されている。図5に示すように、本発
明の原理によりリード20及び20’を78°の角度に
傾斜すると、オフ・トラック性能曲線150で示すよう
に、より対称的なオフ・トラック性能プロファイルが得
られる。従来のMRセンサの非対称のオフ・トラック性
能は、図5に曲線152で示されている。性能曲線の対
称性の尺度は、曲線に対する傾斜の非対称性を計算する
ことによって得られる。次の式は、傾斜の非対称性を決
定するのに使用される。 傾斜非対称性=(Slope1−Slope2)/0.5(Slope1+
Slope2) 但し、Slope1は、図5の線200の左側の性能曲線の傾
斜であり、一方、Slope2は、図5の線200の右側の性
能曲線の傾斜である。
のMR読み取りトランスジューサのオフ・トラック性能
の別のグラフが示されている。図5に示すように、本発
明の原理によりリード20及び20’を78°の角度に
傾斜すると、オフ・トラック性能曲線150で示すよう
に、より対称的なオフ・トラック性能プロファイルが得
られる。従来のMRセンサの非対称のオフ・トラック性
能は、図5に曲線152で示されている。性能曲線の対
称性の尺度は、曲線に対する傾斜の非対称性を計算する
ことによって得られる。次の式は、傾斜の非対称性を決
定するのに使用される。 傾斜非対称性=(Slope1−Slope2)/0.5(Slope1+
Slope2) 但し、Slope1は、図5の線200の左側の性能曲線の傾
斜であり、一方、Slope2は、図5の線200の右側の性
能曲線の傾斜である。
【0032】傾斜の非対称性が低いほど、性能曲線の対
称性が高い。図5に示したように、上記の式を用いて計
算された傾斜非対称性は、リード20及び20’が78
°の角度に傾斜されたMRヘッド10のオフ・トラック
性能曲線150の場合に1.6%である。これに対し、
非傾斜リードをもつ従来のMRヘッドに対するオフ・ト
ラック性能曲線152の場合の傾斜非対称性は、3.1
%である。それ故、リード20及び20’を78°の角
度に傾斜することにより、より対称的なオフ・トラック
性能が得られることが極めて明らかである。
称性が高い。図5に示したように、上記の式を用いて計
算された傾斜非対称性は、リード20及び20’が78
°の角度に傾斜されたMRヘッド10のオフ・トラック
性能曲線150の場合に1.6%である。これに対し、
非傾斜リードをもつ従来のMRヘッドに対するオフ・ト
ラック性能曲線152の場合の傾斜非対称性は、3.1
%である。それ故、リード20及び20’を78°の角
度に傾斜することにより、より対称的なオフ・トラック
性能が得られることが極めて明らかである。
【0033】更に、図6及び7には、本発明による別の
実施例の磁気抵抗装置110が示されている。図6及び
7の実施例は、長手方向バイアスを得るのに、反強磁性
層を使用するのではなく永久磁石を使用するという点
で、図1及び2とは構造的に異なる。
実施例の磁気抵抗装置110が示されている。図6及び
7の実施例は、長手方向バイアスを得るのに、反強磁性
層を使用するのではなく永久磁石を使用するという点
で、図1及び2とは構造的に異なる。
【0034】図6及び7に示したように、磁気抵抗(M
R)センサ110は、柔軟な隣接層(SAL)112
と、非磁気デカップリング層114と、磁気抵抗(M
R)層116と、永久磁石118と、導電性リード12
0、120’と、磁気シールド126、126’とを備
えている。
R)センサ110は、柔軟な隣接層(SAL)112
と、非磁気デカップリング層114と、磁気抵抗(M
R)層116と、永久磁石118と、導電性リード12
0、120’と、磁気シールド126、126’とを備
えている。
【0035】図6及び7に示すように、MRセンサ11
0には、長手方向及び横方向バイアスが与えられる。ド
メイン抑制のための長手方向バイアスは、MRセンサ1
10の端部領域122のみに与えられる。この長手方向
バイアスは、永久磁石118によって発生される。図6
及び7に示すように、MRセンサ110は、MR層11
6、柔軟な隣接層(SAL)112及び非磁気デカップ
リング層114より成る三層構造を有する。図6及び7
に示すように、永久磁石118は、この三層構造体の両
側に配置されて、MR層116が端部領域122におい
て単一ドメインモードで長手方向にバイアスされるよう
になっている。
0には、長手方向及び横方向バイアスが与えられる。ド
メイン抑制のための長手方向バイアスは、MRセンサ1
10の端部領域122のみに与えられる。この長手方向
バイアスは、永久磁石118によって発生される。図6
及び7に示すように、MRセンサ110は、MR層11
6、柔軟な隣接層(SAL)112及び非磁気デカップ
リング層114より成る三層構造を有する。図6及び7
に示すように、永久磁石118は、この三層構造体の両
側に配置されて、MR層116が端部領域122におい
て単一ドメインモードで長手方向にバイアスされるよう
になっている。
【0036】更に、図6及び7に示すように、MR層1
16は、非磁気デカップリング層114と電気的に接触
される。このデカップリング層114は、柔軟な隣接層
(SAL)112と電気的に接触される。
16は、非磁気デカップリング層114と電気的に接触
される。このデカップリング層114は、柔軟な隣接層
(SAL)112と電気的に接触される。
【0037】更に、図6に示すように、磁気シールド1
26及び126’は、漂遊磁束の影響を最小にしながら
も、高い直線的記録密度において高い信号振幅を与える
ために設けられている。
26及び126’は、漂遊磁束の影響を最小にしながら
も、高い直線的記録密度において高い信号振幅を与える
ために設けられている。
【0038】又、図6に示すように、導電性リード12
0及び120’は、MR層116及び永久磁石118と
電気的接触される。これら導電性リード120及び12
0’は、図6及び7に示すように、対向面132及び1
30を各々有している。導電性リード120及び12
0’のこれら対向面132及び130は、互いに平行で
あって、それらの間にアクティブな領域124を画成す
る。SAL112によって形成される横方向バイアス磁
界は、アクティブな領域124を直線応答モードに維持
する。
0及び120’は、MR層116及び永久磁石118と
電気的接触される。これら導電性リード120及び12
0’は、図6及び7に示すように、対向面132及び1
30を各々有している。導電性リード120及び12
0’のこれら対向面132及び130は、互いに平行で
あって、それらの間にアクティブな領域124を画成す
る。SAL112によって形成される横方向バイアス磁
界は、アクティブな領域124を直線応答モードに維持
する。
【0039】更に、図7に示すように、導電性リード1
20及び120’の対向面132及び130は、MR層
116の真の磁化容易軸138を経て延びる平面に対し
角度θを形成するように傾斜される。図7に示すよう
に、リード120及び120’を78°の角度に傾斜す
ることにより、即ちθを78°にすることにより、良好
な結果が得られている。リード120及び120’は、
80°ないし65°の範囲内のいかなる角度θに傾斜し
ても、良好な結果を得ることができる。
20及び120’の対向面132及び130は、MR層
116の真の磁化容易軸138を経て延びる平面に対し
角度θを形成するように傾斜される。図7に示すよう
に、リード120及び120’を78°の角度に傾斜す
ることにより、即ちθを78°にすることにより、良好
な結果が得られている。リード120及び120’は、
80°ないし65°の範囲内のいかなる角度θに傾斜し
ても、良好な結果を得ることができる。
【0040】本発明の原理によりリード120及び12
0’を78°の角度に傾斜した図6及び7の実施例は、
図4のオフ・トラック性能曲線50により示されたよう
に、より対称的なオフ・トラック性能プロファイルを生
じる。
0’を78°の角度に傾斜した図6及び7の実施例は、
図4のオフ・トラック性能曲線50により示されたよう
に、より対称的なオフ・トラック性能プロファイルを生
じる。
【0041】以上、2つの実施例を図示して説明した
が、本発明の精神及び範囲から逸脱せずにその形態及び
細部に種々の他の変更がなされ得ることが当業者に明ら
かであろう。
が、本発明の精神及び範囲から逸脱せずにその形態及び
細部に種々の他の変更がなされ得ることが当業者に明ら
かであろう。
【図1】本発明の原理によるMR読み取りトランスジュ
ーサの特定の実施例を示す断面図である。
ーサの特定の実施例を示す断面図である。
【図2】図1のMR読み取りトランスジューサの前面図
である。
である。
【図3】図1のMR読み取りトランスジューサの上面図
である。
である。
【図4】図1のMR読み取りトランスジューサのオフ・
トラック性能を示すグラフである。
トラック性能を示すグラフである。
【図5】図1のMR読み取りトランスジューサのオフ・
トラック性能を示す別のグラフである。
トラック性能を示す別のグラフである。
【図6】本発明の原理によるMR読み取りトランスジュ
ーサの別の実施例を示す断面図である。
ーサの別の実施例を示す断面図である。
【図7】図6のMR読み取りトランスジューサの前面図
である。
である。
10 MRセンサ 12 柔軟な隣接層(SAL) 14 非磁気デカップリング層 16 磁気抵抗(MR)層 18 反強磁性(AFM)層 20、20’ 導電性リード 22 センサの端部領域 24 中央領域(アクティブな領域) 26、26’ 磁気シールド 30、32 対向面
Claims (12)
- 【請求項1】 柔軟な磁気層と、 上記柔軟な磁気層に接触する非磁気デカップリング層
と、 上記非磁気デカップリング層に接触する磁気抵抗層であ
って、離間された端部領域を有すると共に、真の磁化容
易軸を有している磁気抵抗層と、 上記磁気抵抗層の上記端部領域に長手方向バイアスを発
生するように上記磁気抵抗層に作動的に関連した素子
と、 互いに離間関係にある導電性リードであって、それらの
離間された対向面が互いに平行に延びてそれらの間にア
クティブな領域を画成するような導電性リードとを備
え、 上記柔軟な磁気層は、磁気抵抗装置の動作中に上記アク
ティブな領域を直線的な応答モードに維持するに充分な
横方向バイアスを上記アクティブな領域に発生するもの
であり、上記対向面は、上記磁気抵抗層の真の磁化容易
軸に対して所定の鋭角を形成するように傾斜されて、磁
気抵抗装置の動作中に対称的なオフ・トラック性能を確
保するよう作用することを特徴とする磁気抵抗装置。 - 【請求項2】 上記所定の鋭角は、80°ないし65°
の範囲内である請求項1に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項3】 上記所定の鋭角は、78°である請求項
1に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項4】 上記素子は、上記磁気抵抗層に接触する
反強磁性層より成る請求項1に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項5】 上記素子は、上記磁気抵抗層、上記非磁
気デカップリング層及び上記柔軟な隣接層の両側にある
永久磁石より成る請求項1に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項6】 更にシールドを備え、そのシールドの1
つは、上記導電性リードに対して至近離間関係で且つ上
記導電性リードに一般的に平行に配置され、別のシール
ドは、上記柔軟な磁気層に対して至近離間関係で且つそ
れに一般的に平行に配置される請求項1に記載の磁気抵
抗装置。 - 【請求項7】 柔軟な磁気層と、 上記柔軟な磁気層に接触する非磁気デカップリング層
と、 上記非磁気デカップリング層に接触する磁気抵抗層であ
って、離間された端部領域を有すると共に、真の磁化容
易軸を有している磁気抵抗層と、 上記磁気抵抗層に接触され、そして上記磁気抵抗層の上
記端部領域に長手方向バイアスを発生するように上記磁
気抵抗層に作動的に関連した反強磁性層と、 互いに離間関係にある導電性リードであって、それらの
離間された対向面が互いに平行に延びてそれらの間にア
クティブな領域を画成するような導電性リードとを備
え、 上記柔軟な磁気層は、磁気抵抗装置の動作中に上記アク
ティブな領域を直線的な応答モードに維持するに充分な
横方向バイアスを上記アクティブな領域に発生するもの
であり、上記対向面は、上記磁気抵抗層の真の磁化容易
軸に対して所定の鋭角を形成するように傾斜されて、磁
気抵抗装置の動作中に対称的なオフ・トラック性能を確
保するよう作用することを特徴とする磁気抵抗装置。 - 【請求項8】 上記所定の鋭角は、80°ないし65°
の範囲内である請求項7に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項9】 上記所定の鋭角は、78°である請求項
7に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項10】 柔軟な磁気層と、 上記柔軟な磁気層に接触する非磁気デカップリング層
と、 上記非磁気デカップリング層に接触する磁気抵抗層であ
って、離間された端部領域を有すると共に、真の磁化容
易軸を有している磁気抵抗層と、 上記磁気抵抗層、上記非磁気デカップリング層及び上記
柔軟な隣接層によって形成された三層構造体の両側にあ
る永久磁石であって、上記磁気抵抗層の上記端部領域に
長手方向バイアスを発生するように上記磁気抵抗層に作
動的に関連した永久磁石と、 互いに離間関係にある導電性リードであって、それらの
離間された対向面が互いに平行に延びてそれらの間にア
クティブな領域を画成するような導電性リードとを備
え、 上記柔軟な磁気層は、磁気抵抗装置の動作中に上記アク
ティブな領域を直線的な応答モードに維持するに充分な
横方向バイアスを上記アクティブな領域に発生するもの
であり、上記対向面は、上記磁気抵抗層の真の磁化容易
軸に対して所定の鋭角を形成するように傾斜されて、磁
気抵抗装置の動作中に対称的なオフ・トラック性能を確
保するよう作用することを特徴とする磁気抵抗装置。 - 【請求項11】 上記所定の鋭角は、80°ないし65
°の範囲内である請求項10に記載の磁気抵抗装置。 - 【請求項12】 上記所定の鋭角は、78°である請求
項10に記載の磁気抵抗装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/259,795 US5483402A (en) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Magneto resistive head having symmetric off-track performance profile |
| US08/259795 | 1994-06-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0855311A true JPH0855311A (ja) | 1996-02-27 |
Family
ID=22986423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7145964A Pending JPH0855311A (ja) | 1994-06-15 | 1995-06-13 | オフ・トラック性能を改善するための一体的磁気抵抗ヘッド |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5483402A (ja) |
| EP (1) | EP0687918A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0855311A (ja) |
| KR (1) | KR960002150A (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07320247A (ja) * | 1994-05-23 | 1995-12-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Mrヘッド用サーボ方法及びハードディスクシステム |
| JPH0845027A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Fujitsu Ltd | 磁気抵抗効果素子及びその製造方法 |
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