JPH085586A - ゴム・プラスチックケーブルの欠陥検出方法 - Google Patents
ゴム・プラスチックケーブルの欠陥検出方法Info
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- JPH085586A JPH085586A JP13851694A JP13851694A JPH085586A JP H085586 A JPH085586 A JP H085586A JP 13851694 A JP13851694 A JP 13851694A JP 13851694 A JP13851694 A JP 13851694A JP H085586 A JPH085586 A JP H085586A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ゴム・プラスチック絶縁ケーブルの絶縁体等
の中の異物、ボイド、ヤケ等の欠陥を、微小なものまで
全領域に亘って検出する方法を提供する。 【構成】 ＣＶケーブル１の製造過程で、導体３上にポ
リエチレン絶縁体４を押出被覆し架橋管５を通して加熱
架橋した後、冷却管６の上部でＮＭＲマイクロイメージ
システム（ＭＩＳ）により、絶縁体４のＮＭＲ断層画像
を測定する。ＭＩＳは、冷却管６内上部のケーブル走行
路の周りに配設され、ケーブル速度と等速で同方向に移
動するＮＭＲスペクトロメータ７と、測定データを処理
し結像させる処理並びに結像装置８と、ＣＲＴディスプ
レイのような表示装置９とから成る。そして、表示装置
９に表示されたケーブル絶縁体４のＮＭＲ断層画像によ
り、絶縁体４中の異物、ボイド等の微小な欠陥が検出さ
れる。
の中の異物、ボイド、ヤケ等の欠陥を、微小なものまで
全領域に亘って検出する方法を提供する。 【構成】 ＣＶケーブル１の製造過程で、導体３上にポ
リエチレン絶縁体４を押出被覆し架橋管５を通して加熱
架橋した後、冷却管６の上部でＮＭＲマイクロイメージ
システム（ＭＩＳ）により、絶縁体４のＮＭＲ断層画像
を測定する。ＭＩＳは、冷却管６内上部のケーブル走行
路の周りに配設され、ケーブル速度と等速で同方向に移
動するＮＭＲスペクトロメータ７と、測定データを処理
し結像させる処理並びに結像装置８と、ＣＲＴディスプ
レイのような表示装置９とから成る。そして、表示装置
９に表示されたケーブル絶縁体４のＮＭＲ断層画像によ
り、絶縁体４中の異物、ボイド等の微小な欠陥が検出さ
れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ゴム・プラスチックケ
ーブルの欠陥検出方法に係わり、特にゴム・プラスチッ
ク絶縁ケーブルの絶縁体や外被のような絶縁被覆層を、
ＮＭＲを用いて監視し、内部の微小欠陥を検出する方法
に関する。
ーブルの欠陥検出方法に係わり、特にゴム・プラスチッ
ク絶縁ケーブルの絶縁体や外被のような絶縁被覆層を、
ＮＭＲを用いて監視し、内部の微小欠陥を検出する方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、ＣＶケーブル（架橋ポリエチ
レン絶縁ケーブル）のようなゴム・プラスチック絶縁ケ
ーブルの製造工程では、品質向上のために、絶縁体や外
被等の被覆層中の異物を、Ｘ線検査装置を用い以下のよ
うにして検査することが行われている。すなわち、従来
の検査方法では、走行中のケーブルにＸ線を照射し、ケ
ーブルを透過したＸ線を画像として結像した後、得られ
た画像をメモリと積分器とを備えた画像処理手段によっ
て二値化処理し、この信号により異物の混入や偏肉のよ
うな欠陥を検出するようになっている。
レン絶縁ケーブル）のようなゴム・プラスチック絶縁ケ
ーブルの製造工程では、品質向上のために、絶縁体や外
被等の被覆層中の異物を、Ｘ線検査装置を用い以下のよ
うにして検査することが行われている。すなわち、従来
の検査方法では、走行中のケーブルにＸ線を照射し、ケ
ーブルを透過したＸ線を画像として結像した後、得られ
た画像をメモリと積分器とを備えた画像処理手段によっ
て二値化処理し、この信号により異物の混入や偏肉のよ
うな欠陥を検出するようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
なＸ線による欠陥検出方法においては、ゴム・プラスチ
ック被覆層の全領域に亘っての欠陥検出ができないばか
りでなく、分解能が悪い（ 0.5mm以上）という問題があ
った。また、欠陥のうちで架橋の際のヤケ（過架橋によ
る炭化）は、密度的に非欠陥部との差異がほとんどない
ため、Ｘ線検査方法では検出することが困難であった。
なＸ線による欠陥検出方法においては、ゴム・プラスチ
ック被覆層の全領域に亘っての欠陥検出ができないばか
りでなく、分解能が悪い（ 0.5mm以上）という問題があ
った。また、欠陥のうちで架橋の際のヤケ（過架橋によ
る炭化）は、密度的に非欠陥部との差異がほとんどない
ため、Ｘ線検査方法では検出することが困難であった。
【０００４】本発明はこれらの問題を解決するためにな
されたもので、ゴム・プラスチック絶縁ケーブルの絶縁
体等の中の異物、ボイド、ヤケ等の欠陥を、極めて微小
なものまで全領域に亘って検出する方法を提供すること
を目的とする。
されたもので、ゴム・プラスチック絶縁ケーブルの絶縁
体等の中の異物、ボイド、ヤケ等の欠陥を、極めて微小
なものまで全領域に亘って検出する方法を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のゴム・プラスチ
ックケーブルの欠陥検出方法は、製造中のゴム・プラス
チック絶縁ケーブルの絶縁被覆層が完全に冷却される前
に、前記ケーブルの走行速度と等しい速度で同方向に移
動するＮＭＲ測定装置により、前記絶縁被覆層のＮＭＲ
を測定し、その測定結果を、前記ＮＭＲ測定装置に接続
された結像および画像処理装置により処理し、得られた
ＮＭＲ断層画像により前記絶縁被覆層の欠陥を調べるこ
とを特徴とする。
ックケーブルの欠陥検出方法は、製造中のゴム・プラス
チック絶縁ケーブルの絶縁被覆層が完全に冷却される前
に、前記ケーブルの走行速度と等しい速度で同方向に移
動するＮＭＲ測定装置により、前記絶縁被覆層のＮＭＲ
を測定し、その測定結果を、前記ＮＭＲ測定装置に接続
された結像および画像処理装置により処理し、得られた
ＮＭＲ断層画像により前記絶縁被覆層の欠陥を調べるこ
とを特徴とする。
【０００６】本発明において、ＮＭＲ（核磁気共鳴）の
測定を行う際のゴム・プラスチックからなる絶縁被覆層
の温度は、 100〜 230℃とすることが望ましい。すなわ
ち、1Ｈ（プロトン）の緩和時間は、ポリマーの硬さ
（分子運動の易動性）により支配されるが、ポリエチレ
ンのようなゴム・プラスチック絶縁材料は、常温付近で
は非常に硬く感度が十分でないため、磁場に対して十分
な配向強度が得られるように、ゴム・プラスチック被覆
層の温度を 100℃以上とすることが望ましい。また、 2
30℃を越える温度では、例えば半導電層に使用されたＥ
ＶＡが熱分解するおそれがあるが、好ましくはゴム・プ
ラスチック被覆層の融点を越える温度、すなわち 120℃
以上の温度で測定するのが適当である。さらに、被覆層
が、導体上に直接または内部半導電層を介して押出被覆
された絶縁体である場合には、架橋後冷却管内で90℃
（導体温度）程度まで冷却される。したがって、 100〜
230℃の温度で絶縁体のＮＭＲ測定を行うには、ケーブ
ルが架橋管を通過し冷却管内に入る直前、すなわち冷却
される直前で測定することが望ましい。
測定を行う際のゴム・プラスチックからなる絶縁被覆層
の温度は、 100〜 230℃とすることが望ましい。すなわ
ち、1Ｈ（プロトン）の緩和時間は、ポリマーの硬さ
（分子運動の易動性）により支配されるが、ポリエチレ
ンのようなゴム・プラスチック絶縁材料は、常温付近で
は非常に硬く感度が十分でないため、磁場に対して十分
な配向強度が得られるように、ゴム・プラスチック被覆
層の温度を 100℃以上とすることが望ましい。また、 2
30℃を越える温度では、例えば半導電層に使用されたＥ
ＶＡが熱分解するおそれがあるが、好ましくはゴム・プ
ラスチック被覆層の融点を越える温度、すなわち 120℃
以上の温度で測定するのが適当である。さらに、被覆層
が、導体上に直接または内部半導電層を介して押出被覆
された絶縁体である場合には、架橋後冷却管内で90℃
（導体温度）程度まで冷却される。したがって、 100〜
230℃の温度で絶縁体のＮＭＲ測定を行うには、ケーブ
ルが架橋管を通過し冷却管内に入る直前、すなわち冷却
される直前で測定することが望ましい。
【０００７】
【作用】本発明のケーブルの欠陥検出方法においては、
製造中のゴム・プラスチック絶縁ケーブルの絶縁被覆層
が完全に冷却される前の十分に軟らかいうちに、被覆層
の全領域の 1Ｈ（プロトン）によるＮＭＲが測定され、
測定の結果が、ＮＭＲ測定装置に接続された結像および
画像処理装置により結像処理され、得られたＮＭＲ断層
画像が表示装置等に表示される。したがって、このよう
に表示されたＮＭＲ断層画像を監視することにより、被
覆層中の水の分布状態を知ることができ、水の分布から
ボイドを検出することができる。また、特にプロトンの
化学シフトからは水素原子の結合状態の変化を知ること
ができ、それにより被覆層中の炭化を検出することがで
きる。そして、これらの欠陥検出はＮＭＲ測定によるの
で、分解能が高く（10μm ）、極めて微小な欠陥も容易
に検出することができる。
製造中のゴム・プラスチック絶縁ケーブルの絶縁被覆層
が完全に冷却される前の十分に軟らかいうちに、被覆層
の全領域の 1Ｈ（プロトン）によるＮＭＲが測定され、
測定の結果が、ＮＭＲ測定装置に接続された結像および
画像処理装置により結像処理され、得られたＮＭＲ断層
画像が表示装置等に表示される。したがって、このよう
に表示されたＮＭＲ断層画像を監視することにより、被
覆層中の水の分布状態を知ることができ、水の分布から
ボイドを検出することができる。また、特にプロトンの
化学シフトからは水素原子の結合状態の変化を知ること
ができ、それにより被覆層中の炭化を検出することがで
きる。そして、これらの欠陥検出はＮＭＲ測定によるの
で、分解能が高く（10μm ）、極めて微小な欠陥も容易
に検出することができる。
【０００８】またさらに、ＮＭＲの反応時間の差異から
硬さの相違が検知されるので、被覆層内の硬度の分布状
態が知ることができる。
硬さの相違が検知されるので、被覆層内の硬度の分布状
態が知ることができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
【００１０】実施例では、図１に示すように、ＣＶケー
ブル１の製造工程において、押出機２により導体３上に
架橋可能なポリエチレン絶縁体４を押出被覆し、次いで
立型の架橋管５を通して例えば高温高圧の水蒸気により
絶縁体４を加熱架橋した後、架橋管５に続いて配置され
た冷却管６の上部で、ＮＭＲを用いたマイクロイメージ
システムにより、絶縁体４のＮＭＲ断層映像を測定す
る。ＮＭＲマイクロイメージシステムは、検出コイル部
を備え、冷却管６内上部にＣＶケーブル１の走行路を囲
繞するように配設されたＮＭＲスペクトロメータ７と、
この装置に接続され、測定データを処理して結像させる
データ処理並びに結像装置８と、この装置８に接続され
たＣＲＴディスプレイのような表示装置９とから成り、
ＮＭＲスペクトロメータ７は、ＣＶケーブル１の引取り
機１０のモータと回転数を同期させたモータにより、Ｃ
Ｖケーブル１の走行速度と等しい速度で同方向に移動す
るように構成されている。そして実施例においては、こ
のようにして表示装置９に表示されたＣＶケーブル絶縁
体４のＮＭＲ断層映像により、絶縁体４中の異物、ボイ
ド等の微小な欠陥を検出し、連続的に監視を行うように
なっている。
ブル１の製造工程において、押出機２により導体３上に
架橋可能なポリエチレン絶縁体４を押出被覆し、次いで
立型の架橋管５を通して例えば高温高圧の水蒸気により
絶縁体４を加熱架橋した後、架橋管５に続いて配置され
た冷却管６の上部で、ＮＭＲを用いたマイクロイメージ
システムにより、絶縁体４のＮＭＲ断層映像を測定す
る。ＮＭＲマイクロイメージシステムは、検出コイル部
を備え、冷却管６内上部にＣＶケーブル１の走行路を囲
繞するように配設されたＮＭＲスペクトロメータ７と、
この装置に接続され、測定データを処理して結像させる
データ処理並びに結像装置８と、この装置８に接続され
たＣＲＴディスプレイのような表示装置９とから成り、
ＮＭＲスペクトロメータ７は、ＣＶケーブル１の引取り
機１０のモータと回転数を同期させたモータにより、Ｃ
Ｖケーブル１の走行速度と等しい速度で同方向に移動す
るように構成されている。そして実施例においては、こ
のようにして表示装置９に表示されたＣＶケーブル絶縁
体４のＮＭＲ断層映像により、絶縁体４中の異物、ボイ
ド等の微小な欠陥を検出し、連続的に監視を行うように
なっている。
【００１１】このように構成される実施例においては、
プロトンのＮＭＲによる断層映像を用いて絶縁体４中の
欠陥の検出を行っているので、従来のＸ線による検査方
法によっても可能であった金属等の異物の混入や偏肉を
検出することができるばかりでなく、水の分布状態から
ボイドの有無を検出することができ、さらに従来は検出
が不可能であったヤケを容易に検出することができる。
また、ＮＭＲによる検出であるので、分解能が10μm と
高く、極めて微小な欠陥も明確に検出することができ
る。
プロトンのＮＭＲによる断層映像を用いて絶縁体４中の
欠陥の検出を行っているので、従来のＸ線による検査方
法によっても可能であった金属等の異物の混入や偏肉を
検出することができるばかりでなく、水の分布状態から
ボイドの有無を検出することができ、さらに従来は検出
が不可能であったヤケを容易に検出することができる。
また、ＮＭＲによる検出であるので、分解能が10μm と
高く、極めて微小な欠陥も明確に検出することができ
る。
【００１２】また、ＮＭＲを測定するスペクトロメータ
７が、ＣＶケーブル１の走行速度と等速で同方向に移動
するように構成されているので、ケーブル絶縁体４の領
域各部に対して測定に十分な時間だけＮＭＲスペクトロ
メータ７が接近配置されることになり、製造工程に組込
まれた連続的な測定が可能である。さらに、冷却管６の
上部においては、絶縁体４温度が 100〜 230℃と十分に
熱く、このような温度でＮＭＲ測定がなされているの
で、測定感度が良好であり短時間で明確な断層映像を得
ることができる。またさらに、こうして得られた絶縁体
４の断層映像により監視を行うので、誰でもが容易かつ
正確に欠陥検出を行うことができる。
７が、ＣＶケーブル１の走行速度と等速で同方向に移動
するように構成されているので、ケーブル絶縁体４の領
域各部に対して測定に十分な時間だけＮＭＲスペクトロ
メータ７が接近配置されることになり、製造工程に組込
まれた連続的な測定が可能である。さらに、冷却管６の
上部においては、絶縁体４温度が 100〜 230℃と十分に
熱く、このような温度でＮＭＲ測定がなされているの
で、測定感度が良好であり短時間で明確な断層映像を得
ることができる。またさらに、こうして得られた絶縁体
４の断層映像により監視を行うので、誰でもが容易かつ
正確に欠陥検出を行うことができる。
【００１３】なお、以上の実施例では、ＣＶケーブル１
の絶縁体４中の欠陥を検出する例について説明したが、
ケーブルはＣＶケーブルに限定されず、また絶縁体４ば
かりでなく、ゴム、プラスチックからなる外被中の欠陥
も、同様にして監視検出することができる。
の絶縁体４中の欠陥を検出する例について説明したが、
ケーブルはＣＶケーブルに限定されず、また絶縁体４ば
かりでなく、ゴム、プラスチックからなる外被中の欠陥
も、同様にして監視検出することができる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明の方法によれ
ば、ＣＶケーブルのようなゴム・プラスチック絶縁ケー
ブルの製造過程で、ケーブル絶縁体、外被等の中の異
物、ボイド、ヤケ等の欠陥を、極めて微小なものまで全
領域に亘って検出することができる。
ば、ＣＶケーブルのようなゴム・プラスチック絶縁ケー
ブルの製造過程で、ケーブル絶縁体、外被等の中の異
物、ボイド、ヤケ等の欠陥を、極めて微小なものまで全
領域に亘って検出することができる。
【図１】本発明のゴム・プラスチックケーブルの欠陥検
出方法の実施例を模式的に示す図。
出方法の実施例を模式的に示す図。
２………押出機 ４………ケーブル絶縁体 ５………架橋管 ６………冷却管 ７………ＮＭＲスペクトロメータ ８………処理並びに結像装置 ９………表示装置 １０………引取り機
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０１Ｖ 3/14 9406−2Ｇ (72)発明者 藤原 靖隆 神奈川県川崎市川崎区小田栄２丁目１番１ 号 昭和電線電纜株式会社内 (72)発明者 相原 貢 神奈川県川崎市川崎区小田栄２丁目１番１ 号 昭和電線電纜株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 製造中のゴム・プラスチック絶縁ケーブ
ルの絶縁被覆層が完全に冷却される前に、前記ケーブル
の走行速度と等しい速度で同方向に移動する核磁気共鳴
（ＮＭＲ）測定装置により、前記絶縁被覆層のＮＭＲを
測定し、その測定結果を、前記ＮＭＲ測定装置に接続さ
れた結像および画像処理装置により処理し、得られたＮ
ＭＲ断層画像により前記絶縁被覆層の欠陥を調べること
を特徴とするゴム・プラスチックケーブルの欠陥検出方
法。 - 【請求項２】 前記絶縁被覆層が、導体上に直接または
内部半導電層を介して押出被覆されたゴム・プラスチッ
ク絶縁体であり、このような絶縁体を有するケーブルが
架橋管を通過し冷却管に入った後、直ちに前記絶縁体の
ＮＭＲ測定を行う請求項１記載のゴム・プラスチックケ
ーブルの欠陥検出方法。 - 【請求項３】 ＮＭＲの測定を 100〜 230℃の温度で行
う請求項１または２記載のゴム・プラスチックケーブル
の欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13851694A JPH085586A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | ゴム・プラスチックケーブルの欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13851694A JPH085586A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | ゴム・プラスチックケーブルの欠陥検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085586A true JPH085586A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15223981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13851694A Withdrawn JPH085586A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | ゴム・プラスチックケーブルの欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085586A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007333631A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 無機系絶縁体の検査及び製作方法、並びにその装置 |
| CN103558518A (zh) * | 2013-11-02 | 2014-02-05 | 国家电网公司 | 绝缘子样品老化度检测装置 |
| WO2018172763A3 (en) * | 2017-03-21 | 2018-11-15 | Asterope Ltd | Coating determination |
-
1994
- 1994-06-21 JP JP13851694A patent/JPH085586A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007333631A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 無機系絶縁体の検査及び製作方法、並びにその装置 |
| CN103558518A (zh) * | 2013-11-02 | 2014-02-05 | 国家电网公司 | 绝缘子样品老化度检测装置 |
| WO2018172763A3 (en) * | 2017-03-21 | 2018-11-15 | Asterope Ltd | Coating determination |
| CN110431403A (zh) * | 2017-03-21 | 2019-11-08 | 阿斯特罗普有限公司 | 涂层测定 |
| US11808712B2 (en) | 2017-03-21 | 2023-11-07 | Tau Act Gmbh | Coating determination |
| CN110431403B (zh) * | 2017-03-21 | 2024-06-07 | 道埃克特有限公司 | 涂层测定 |
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