JPH0856128A - 演算増幅器 - Google Patents
演算増幅器Info
- Publication number
- JPH0856128A JPH0856128A JP6190451A JP19045194A JPH0856128A JP H0856128 A JPH0856128 A JP H0856128A JP 6190451 A JP6190451 A JP 6190451A JP 19045194 A JP19045194 A JP 19045194A JP H0856128 A JPH0856128 A JP H0856128A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- channel fet
- power supply
- drain
- channel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 52
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 9
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/30—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
- H03F3/3001—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor with field-effect transistors
- H03F3/3008—Bifet SEPP output stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/30—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
- H03F3/3001—Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor with field-effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/4508—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using bipolar transistors as the active amplifying circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45179—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45036—Indexing scheme relating to differential amplifiers the differential amplifier amplifying transistors are single transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45188—Indexing scheme relating to differential amplifiers the differential amplifier contains one or more current sources in the load
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45224—One output of the differential amplifier being taken into consideration
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45274—Level shifting stages are added to the differential amplifier at a position other than the one or more inputs of the dif amp
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45281—One SEPP output stage being added to the differential amplifier
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】立ち上がり時間/立ち下がり時間を短縮する演
算増幅器を実現する。 【構成】NチャネルFET13、14、PチャネルFE
T11、12、定電流源15を含む差動増幅器におい
て、信号入力端子101および102の入力信号電圧に
より、PチャネルFET16および18のゲート電圧が
低下すると、PチャネルFET19のゲート電圧は高く
なり、高位側電源端子104からPチャネルFET18
を通して信号出力端子103に電流が流れ、出力電圧の
電位は速やかに上昇する。他方、PチャネルFET16
および18のゲート電圧は高くなると、PチャネルFE
T19のゲート電圧は低くなり、高位側電源端子104
からの電流の供給が遮断され、逆に、PチャネルFET
19を介して低位側電源端子105に電流が流れること
により、信号出力端子103の電位は速やかに下降す
る。これにより、立ち上がり時間/立ち下がり時間が短
縮される。
算増幅器を実現する。 【構成】NチャネルFET13、14、PチャネルFE
T11、12、定電流源15を含む差動増幅器におい
て、信号入力端子101および102の入力信号電圧に
より、PチャネルFET16および18のゲート電圧が
低下すると、PチャネルFET19のゲート電圧は高く
なり、高位側電源端子104からPチャネルFET18
を通して信号出力端子103に電流が流れ、出力電圧の
電位は速やかに上昇する。他方、PチャネルFET16
および18のゲート電圧は高くなると、PチャネルFE
T19のゲート電圧は低くなり、高位側電源端子104
からの電流の供給が遮断され、逆に、PチャネルFET
19を介して低位側電源端子105に電流が流れること
により、信号出力端子103の電位は速やかに下降す
る。これにより、立ち上がり時間/立ち下がり時間が短
縮される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は演算増幅器に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の演算増幅器としては、図9に示さ
れる回路が知られている。図9に示されるように、本従
来例は、ソースが共通に接続され、ゲートがそれぞれ信
号入力端子101および102に接続されるNチャネル
FET93および94と、一端が低位側電源端子105
に接続され、他端が前記NチャネルFET93および9
4のソースに接続される定電流源95と、ゲートおよび
ドレインが前記NチャネルFET93のドレインに接続
され、ソースが高位側電源端子104に接続されるPチ
ャネルFET91と、ゲートが前記NチャネルFET9
3のドレインに接続され、ソースが高位側電源端子10
4に接続されて、ドレインが前記NチャネルFET94
のドレインに接続されるPチャネルFET92と、ソー
スが高位側電源端子104に接続され、ゲートが前記P
チャネルFET92のドレインに接続されて、ドレイン
が信号出力端子103に接続されるPチャネルFET9
6と、一端が低位側電源端子105に接続され、他端が
PチャネルFET96のドレインおよび信号出力端子1
03に接続される定電流源97とを備えて構成される。
れる回路が知られている。図9に示されるように、本従
来例は、ソースが共通に接続され、ゲートがそれぞれ信
号入力端子101および102に接続されるNチャネル
FET93および94と、一端が低位側電源端子105
に接続され、他端が前記NチャネルFET93および9
4のソースに接続される定電流源95と、ゲートおよび
ドレインが前記NチャネルFET93のドレインに接続
され、ソースが高位側電源端子104に接続されるPチ
ャネルFET91と、ゲートが前記NチャネルFET9
3のドレインに接続され、ソースが高位側電源端子10
4に接続されて、ドレインが前記NチャネルFET94
のドレインに接続されるPチャネルFET92と、ソー
スが高位側電源端子104に接続され、ゲートが前記P
チャネルFET92のドレインに接続されて、ドレイン
が信号出力端子103に接続されるPチャネルFET9
6と、一端が低位側電源端子105に接続され、他端が
PチャネルFET96のドレインおよび信号出力端子1
03に接続される定電流源97とを備えて構成される。
【0003】図9において、NチャネルFET93およ
び94より成る差動トランジスタ対においては、信号入
力端子101および102に入力される信号電圧の割合
に応じて、PチャネルFET96のゲート電圧が変化
し、その変化分に応じて信号出力端子103における電
位を上昇させ、または下降させる。例えば、信号入力端
子101に対して信号入力端子102の電位が高い場合
には、PチャネルFET96のゲート電圧は低下し、高
位側電源端子104よりPチャネルFET96を通して
電流が流れることにより、信号出力端子103の電位は
上昇する。また逆に信号入力端子101に対して信号入
力端子102の電位が低い場合には、PチャネルFET
96のゲート電圧が高くなり、PチャネルFET96は
非導通状態となって高位側電源端子104からの電流は
遮断される。この状態においては、定電流源97には一
定の電流が流れており、これにより、信号出力端子10
3の電位は下降する。
び94より成る差動トランジスタ対においては、信号入
力端子101および102に入力される信号電圧の割合
に応じて、PチャネルFET96のゲート電圧が変化
し、その変化分に応じて信号出力端子103における電
位を上昇させ、または下降させる。例えば、信号入力端
子101に対して信号入力端子102の電位が高い場合
には、PチャネルFET96のゲート電圧は低下し、高
位側電源端子104よりPチャネルFET96を通して
電流が流れることにより、信号出力端子103の電位は
上昇する。また逆に信号入力端子101に対して信号入
力端子102の電位が低い場合には、PチャネルFET
96のゲート電圧が高くなり、PチャネルFET96は
非導通状態となって高位側電源端子104からの電流は
遮断される。この状態においては、定電流源97には一
定の電流が流れており、これにより、信号出力端子10
3の電位は下降する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の演算増
幅器においては、信号出力端子103における出力電圧
を立ち下げる場合には、信号入力端子101に対して信
号入力端子102の電位が低電位の状態において、Pチ
ャネルFET96のゲート電圧が上昇し、これにより当
該PチャネルFET96が遮断されて、定電流源97に
一定の電流を流し続けることにより信号出力端子103
の電位を下降させてゆくという動作状態をとるために、
出力電圧の立ち下がり時間が、立ち上がり時間に対して
非常に遅くなるという欠点がある。
幅器においては、信号出力端子103における出力電圧
を立ち下げる場合には、信号入力端子101に対して信
号入力端子102の電位が低電位の状態において、Pチ
ャネルFET96のゲート電圧が上昇し、これにより当
該PチャネルFET96が遮断されて、定電流源97に
一定の電流を流し続けることにより信号出力端子103
の電位を下降させてゆくという動作状態をとるために、
出力電圧の立ち下がり時間が、立ち上がり時間に対して
非常に遅くなるという欠点がある。
【0005】本発明の目的は、より少ない回路素子数に
より、立ち上がり時間および立ち下がり時間を短縮する
ことのできる演算増幅器を提供することにある。
より、立ち上がり時間および立ち下がり時間を短縮する
ことのできる演算増幅器を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の演算増幅器は、
第1電極が共通接続され、第2電極が、それぞれ第1お
よび第2の信号入力端子に接続される第1および第2の
半導体素子と、一端が第1の電源に接続され、他端が前
記第1および第2の半導体素子の第1電極に接続される
第1の定電流源と、第2電極および第3電極が前記第1
の半導体素子の第3電極に接続され、第1電極が第2の
電源に接続される第3の半導体素子と、第1電極が前記
第2の電源に接続され、第2電極が前記第3の半導体素
子の第2電極および第3電極に接続されて、第3電極が
前記第2の半導体素子の第3電極に接続される第4の半
導体素子と、第1電極が前記第2の電源に接続され、第
2電極が前記第2の半導体素子の第3電極および前記第
4の半導体素子の第3電極に接続される第5の半導体素
子と、一端が前記第1の電源に接続され、他端が前記第
5の半導体素子の第3電極に接続される第2の定電流源
と、第1電極が前記第2の電源に接続され、第2電極が
前記第2の半導体素子の第3電極および前記第4の半導
体素子の第3電極に接続され、第3電極が信号出力端子
に接続される第6の半導体素子と、第1電極が前記第6
の半導体素子の第3電極および前記信号出力端子に接続
され、第2電極が前記第5の半導体素子の第3電極に接
続されて、第3電極が前記第1の電源に接続される第7
の半導体素子と、を備えて構成される。 なお、前記第
1乃至第7の半導体素子は、それぞれ第1電極としてソ
ース電極、第2電極としてゲート電極、第3電極として
ドレイン電極を備えるFETにより形成してもよく、或
はまた、それぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電
極としてベース電極、第3電極としてコレクタ電極を備
えるバイポーラトランジスタにより形成してもよい。
第1電極が共通接続され、第2電極が、それぞれ第1お
よび第2の信号入力端子に接続される第1および第2の
半導体素子と、一端が第1の電源に接続され、他端が前
記第1および第2の半導体素子の第1電極に接続される
第1の定電流源と、第2電極および第3電極が前記第1
の半導体素子の第3電極に接続され、第1電極が第2の
電源に接続される第3の半導体素子と、第1電極が前記
第2の電源に接続され、第2電極が前記第3の半導体素
子の第2電極および第3電極に接続されて、第3電極が
前記第2の半導体素子の第3電極に接続される第4の半
導体素子と、第1電極が前記第2の電源に接続され、第
2電極が前記第2の半導体素子の第3電極および前記第
4の半導体素子の第3電極に接続される第5の半導体素
子と、一端が前記第1の電源に接続され、他端が前記第
5の半導体素子の第3電極に接続される第2の定電流源
と、第1電極が前記第2の電源に接続され、第2電極が
前記第2の半導体素子の第3電極および前記第4の半導
体素子の第3電極に接続され、第3電極が信号出力端子
に接続される第6の半導体素子と、第1電極が前記第6
の半導体素子の第3電極および前記信号出力端子に接続
され、第2電極が前記第5の半導体素子の第3電極に接
続されて、第3電極が前記第1の電源に接続される第7
の半導体素子と、を備えて構成される。 なお、前記第
1乃至第7の半導体素子は、それぞれ第1電極としてソ
ース電極、第2電極としてゲート電極、第3電極として
ドレイン電極を備えるFETにより形成してもよく、或
はまた、それぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電
極としてベース電極、第3電極としてコレクタ電極を備
えるバイポーラトランジスタにより形成してもよい。
【0007】また、前記第1および第2の半導体素子
は、それぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電極と
してベース電極、第3電極としてコレクタ電極を備える
バイポーラトランジスタにより形成し、前記第3乃至第
7の半導体素子としては、それぞれ第1電極としてソー
ス電極、第2電極としてゲート電極、第3電極としてド
レイン電極を備えるFETにより形成してもよい。ま
た、前記第1乃至第5の半導体素子は、それぞれ第1電
極としてソース電極、第2電極としてゲート電極、第3
電極としてドレイン電極を備えるFETにより形成し、
前記第6および第7の半導体素子を、それぞれ第1電極
としてエミッタ電極、第2電極としてベース電極、第3
電極としてコレクタ電極を備えるバイポーラトランジス
タにより形成してもよい。更に、前記第1、第2、第6
および第7の半導体素子を、それぞれ第1電極としてエ
ミッタ電極、第2電極としてベース電極、第3電極とし
てコレクタ電極を備えるバイポーラトランジスタにより
形成し、前記第3乃至第5の半導体素子を、それぞれ第
1電極としてソース電極、第2電極としてゲート電極、
第3電極としてドレイン電極を備えるFETにより形成
してもよい。
は、それぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電極と
してベース電極、第3電極としてコレクタ電極を備える
バイポーラトランジスタにより形成し、前記第3乃至第
7の半導体素子としては、それぞれ第1電極としてソー
ス電極、第2電極としてゲート電極、第3電極としてド
レイン電極を備えるFETにより形成してもよい。ま
た、前記第1乃至第5の半導体素子は、それぞれ第1電
極としてソース電極、第2電極としてゲート電極、第3
電極としてドレイン電極を備えるFETにより形成し、
前記第6および第7の半導体素子を、それぞれ第1電極
としてエミッタ電極、第2電極としてベース電極、第3
電極としてコレクタ電極を備えるバイポーラトランジス
タにより形成してもよい。更に、前記第1、第2、第6
および第7の半導体素子を、それぞれ第1電極としてエ
ミッタ電極、第2電極としてベース電極、第3電極とし
てコレクタ電極を備えるバイポーラトランジスタにより
形成し、前記第3乃至第5の半導体素子を、それぞれ第
1電極としてソース電極、第2電極としてゲート電極、
第3電極としてドレイン電極を備えるFETにより形成
してもよい。
【0008】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0009】図1は本発明の第1の実施例を示す回路図
である。図1に示されるように、本実施例は、ソースが
共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子101
および102に接続されるNチャネルFET13および
14と、一端が低位側電源端子105に接続され、他端
が前記NチャネルFET13および14のソースに接続
される定電流源15と、ゲートおよびドレインがNチャ
ネルFET13のドレインに接続され、ソースが高位側
電源端子104に接続されるPチャネルFET11と、
ゲートが前記NチャネルFET13のドレインに接続さ
れ、ソースが高位側電源端子104に接続されて、ドレ
インが前記NチャネルFET14のドレインに接続され
るPチャネルFET12と、ソースが高位側電源端子1
04に接続され、ゲートがPチャネルFET12のドレ
インおよびNチャネルFET14のドレインに接続され
るPチャネルFET16と、一端が低位側電源端子10
5に接続され、他端がPチャネルFET16のドレイン
に接続される定電流源17と、ソースが高位側電源端子
104に接続され、ゲートが前記PチャネルFET16
のゲートに接続されて、ドレインが信号出力端子103
に接続されるPチャネルFET18と、ソースがPチャ
ネルFET18のドレインおよび信号出力端子103に
接続され、ゲートがPチャネルFET16のドレインに
接続されて、ドレインが低位側電源端子105に接続さ
れるPチャネルFET19とを備えて構成される。
である。図1に示されるように、本実施例は、ソースが
共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子101
および102に接続されるNチャネルFET13および
14と、一端が低位側電源端子105に接続され、他端
が前記NチャネルFET13および14のソースに接続
される定電流源15と、ゲートおよびドレインがNチャ
ネルFET13のドレインに接続され、ソースが高位側
電源端子104に接続されるPチャネルFET11と、
ゲートが前記NチャネルFET13のドレインに接続さ
れ、ソースが高位側電源端子104に接続されて、ドレ
インが前記NチャネルFET14のドレインに接続され
るPチャネルFET12と、ソースが高位側電源端子1
04に接続され、ゲートがPチャネルFET12のドレ
インおよびNチャネルFET14のドレインに接続され
るPチャネルFET16と、一端が低位側電源端子10
5に接続され、他端がPチャネルFET16のドレイン
に接続される定電流源17と、ソースが高位側電源端子
104に接続され、ゲートが前記PチャネルFET16
のゲートに接続されて、ドレインが信号出力端子103
に接続されるPチャネルFET18と、ソースがPチャ
ネルFET18のドレインおよび信号出力端子103に
接続され、ゲートがPチャネルFET16のドレインに
接続されて、ドレインが低位側電源端子105に接続さ
れるPチャネルFET19とを備えて構成される。
【0010】図1において、NチャネルFET13およ
び14と、PチャネルFET11および12と、定電流
源15とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101および102に入力される信号電圧に応じて、P
チャネルFET16および18のゲートに対する出力電
圧レベルが変化し、これにより、PチャネルFET19
のゲート電圧も変化する。この状態において、信号入力
端子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子
102に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合に
は、NチャネルFET14のドレインと、PチャネルF
ET12のドレインとの接続点、即ちPチャネルFET
16および18のゲート電圧は低くなり、また、Pチャ
ネルFET16のドレインと、定電流源17の他端に接
続されているPチャネルFET19のゲート電圧は高く
なる。ここにおいて、PチャネルFET18および19
の動作状態としては、PチャネルFET18は大電流を
流すことができる状態となり、またPチャネルFET1
8はあまり電流を流すことができない状態となるため、
高位側電源端子104から演算増幅器の信号出力端子1
03に電流が流れることにより、信号出力端子103の
電位は速やかに上昇する。また信号入力端子101に入
力される信号電圧よりも、信号入力端子102に入力さ
れる信号電圧の方がレベルが低い場合には、Pチャネル
FET16および18のゲート電圧は高くなり、このた
めに、PチャネルFET19のゲート電圧は低くなる。
ここにおいて、PチャネルFET18および19の動作
状態としては、PチャネルFET18はあまり電流を流
すことができない状態となり、またPチャネルFET1
9は大電流を流すことができる状態となるため、高位側
電源端子104からの電流の供給が遮断され、逆に、P
チャネルFET19を介して低位側電源端子105に電
流が流れることにより、信号出力端子103の電位は速
やかに下降する。
び14と、PチャネルFET11および12と、定電流
源15とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101および102に入力される信号電圧に応じて、P
チャネルFET16および18のゲートに対する出力電
圧レベルが変化し、これにより、PチャネルFET19
のゲート電圧も変化する。この状態において、信号入力
端子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子
102に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合に
は、NチャネルFET14のドレインと、PチャネルF
ET12のドレインとの接続点、即ちPチャネルFET
16および18のゲート電圧は低くなり、また、Pチャ
ネルFET16のドレインと、定電流源17の他端に接
続されているPチャネルFET19のゲート電圧は高く
なる。ここにおいて、PチャネルFET18および19
の動作状態としては、PチャネルFET18は大電流を
流すことができる状態となり、またPチャネルFET1
8はあまり電流を流すことができない状態となるため、
高位側電源端子104から演算増幅器の信号出力端子1
03に電流が流れることにより、信号出力端子103の
電位は速やかに上昇する。また信号入力端子101に入
力される信号電圧よりも、信号入力端子102に入力さ
れる信号電圧の方がレベルが低い場合には、Pチャネル
FET16および18のゲート電圧は高くなり、このた
めに、PチャネルFET19のゲート電圧は低くなる。
ここにおいて、PチャネルFET18および19の動作
状態としては、PチャネルFET18はあまり電流を流
すことができない状態となり、またPチャネルFET1
9は大電流を流すことができる状態となるため、高位側
電源端子104からの電流の供給が遮断され、逆に、P
チャネルFET19を介して低位側電源端子105に電
流が流れることにより、信号出力端子103の電位は速
やかに下降する。
【0011】上述のように、本実施例においては、出力
電圧の立ち上がり時には、大電流を流す状態にあるPチ
ャネルFET18を介して、高位側電源端子104から
信号出力端子103に電流が流れることにより、当該信
号出力端子103の出力電圧は速やかに上昇し、また出
力電圧の立ち下がり時には、大電流を流す状態にあるP
チャネルFET19を介して、信号出力端子103から
低位側電源端子105に電流が流れることにより、当該
信号出力端子103の出力電圧は速やかに下降する。こ
れにより、信号出力端子103の出力電圧の上昇時にお
ける立ち上がり時間、および出力電圧の下降時における
立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増幅器の応
答速度が一段と向上される。
電圧の立ち上がり時には、大電流を流す状態にあるPチ
ャネルFET18を介して、高位側電源端子104から
信号出力端子103に電流が流れることにより、当該信
号出力端子103の出力電圧は速やかに上昇し、また出
力電圧の立ち下がり時には、大電流を流す状態にあるP
チャネルFET19を介して、信号出力端子103から
低位側電源端子105に電流が流れることにより、当該
信号出力端子103の出力電圧は速やかに下降する。こ
れにより、信号出力端子103の出力電圧の上昇時にお
ける立ち上がり時間、および出力電圧の下降時における
立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増幅器の応
答速度が一段と向上される。
【0012】図2は、本発明の第2の実施例を示す回路
図である。図2に示されるように、本従来例は、ソース
が共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子10
1および102に接続されるPチャネルFET22およ
び23と、一端が高位側電源端子104に接続され、他
端が前記PチャネルFET22および23のソースに接
続される定電流源21と、ゲートおよびドレインがPチ
ャネルFET22のドレインに接続され、ソースが低位
側電源端子105に接続されるNチャネルFET24
と、ゲートが前記NチャネルFET24のゲートに接続
され、ソースが低位側電源端子105に接続されて、ド
レインがPチャネルFET23のドレインに接続される
NチャネルFET25と、ソースが低位側電源端子10
5に接続され、ゲートがPチャネルFET23のドレイ
ンおよびNチャネルFET25のドレインに接続される
NチャネルFET27と、一端が高位側電源端子104
に接続され、他端がNチャネルFET27のドレインに
接続される定電流源26と、ドレインが高位側電源端子
104に接続され、ゲートがNチャネルFET27のド
レインに接続されて、ソースが信号出力端子103に接
続されるNチャネルFET28と、ドレインがNチャネ
ルFET28のソースおよび信号出力端子103に接続
され、ゲートがNチャネルFET27のゲートに接続さ
れて、ソースが低位側電源端子105に接続されるNチ
ャネルFET29とを備えて構成される。
図である。図2に示されるように、本従来例は、ソース
が共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子10
1および102に接続されるPチャネルFET22およ
び23と、一端が高位側電源端子104に接続され、他
端が前記PチャネルFET22および23のソースに接
続される定電流源21と、ゲートおよびドレインがPチ
ャネルFET22のドレインに接続され、ソースが低位
側電源端子105に接続されるNチャネルFET24
と、ゲートが前記NチャネルFET24のゲートに接続
され、ソースが低位側電源端子105に接続されて、ド
レインがPチャネルFET23のドレインに接続される
NチャネルFET25と、ソースが低位側電源端子10
5に接続され、ゲートがPチャネルFET23のドレイ
ンおよびNチャネルFET25のドレインに接続される
NチャネルFET27と、一端が高位側電源端子104
に接続され、他端がNチャネルFET27のドレインに
接続される定電流源26と、ドレインが高位側電源端子
104に接続され、ゲートがNチャネルFET27のド
レインに接続されて、ソースが信号出力端子103に接
続されるNチャネルFET28と、ドレインがNチャネ
ルFET28のソースおよび信号出力端子103に接続
され、ゲートがNチャネルFET27のゲートに接続さ
れて、ソースが低位側電源端子105に接続されるNチ
ャネルFET29とを備えて構成される。
【0013】図2において、PチャネルFET22およ
び23と、NチャネルFET24および25と、定電流
源21とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101および102に入力される信号電圧に応じて、N
チャネルFET27および29のゲートに対する出力電
圧レベルが変化し、これにより、NチャネルFET28
のゲート電圧も変化する。この状態において、信号入力
端子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子
102に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合に
は、NチャネルFET25のドレインと、PチャネルF
ET23のドレインとの接続点、即ちNチャネルFET
27および29のゲート電圧は高くなり、また、Pチャ
ネルFET27のドレインと、定電流源26の他端に接
続されているNチャネルFET28のゲート電圧は低く
なる。ここにおいて、NチャネルFET28および29
の動作状態としては、NチャネルFET28はあまり電
流を流すことができない状態となり、またNチャネルF
ET29は大電流を流すことができる状態となるため、
高位側電源端子104からの電流の供給が遮断され、逆
に、低位側電源端子105に電流が流れることにより、
信号出力端子103の電位は速やかに下降する。また信
号入力端子101に入力される信号電圧よりも、信号入
力端子102に入力される信号電圧の方がレベルが低い
場合には、NチャネルFET27および29のゲート電
圧は低くなり、このために、NチャネルFET28のゲ
ート電圧は高くなる。ここにおいて、NチャネルFET
28および29の動作状態としては、NチャネルFET
28は大電流を流すことができる状態となり、またNチ
ャネルFET29はあまり電流を流すことができない状
態となるため、高位側電源端子104からの電流の供給
が遮断され、逆に、低位側電源端子105に電流が流れ
ることにより、信号出力短出力端子103の電位は速や
かに下降する。
び23と、NチャネルFET24および25と、定電流
源21とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101および102に入力される信号電圧に応じて、N
チャネルFET27および29のゲートに対する出力電
圧レベルが変化し、これにより、NチャネルFET28
のゲート電圧も変化する。この状態において、信号入力
端子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子
102に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合に
は、NチャネルFET25のドレインと、PチャネルF
ET23のドレインとの接続点、即ちNチャネルFET
27および29のゲート電圧は高くなり、また、Pチャ
ネルFET27のドレインと、定電流源26の他端に接
続されているNチャネルFET28のゲート電圧は低く
なる。ここにおいて、NチャネルFET28および29
の動作状態としては、NチャネルFET28はあまり電
流を流すことができない状態となり、またNチャネルF
ET29は大電流を流すことができる状態となるため、
高位側電源端子104からの電流の供給が遮断され、逆
に、低位側電源端子105に電流が流れることにより、
信号出力端子103の電位は速やかに下降する。また信
号入力端子101に入力される信号電圧よりも、信号入
力端子102に入力される信号電圧の方がレベルが低い
場合には、NチャネルFET27および29のゲート電
圧は低くなり、このために、NチャネルFET28のゲ
ート電圧は高くなる。ここにおいて、NチャネルFET
28および29の動作状態としては、NチャネルFET
28は大電流を流すことができる状態となり、またNチ
ャネルFET29はあまり電流を流すことができない状
態となるため、高位側電源端子104からの電流の供給
が遮断され、逆に、低位側電源端子105に電流が流れ
ることにより、信号出力短出力端子103の電位は速や
かに下降する。
【0014】上述のように、本実施例においては、出力
電圧の立ち上がり時には、大電流を流す状態にあるNチ
ャネルFET28を介して、高位側電源端子104から
信号出力端子103に電流が流れることにより、当該信
号出力端子103の出力電圧は速やかに上昇し、また出
力電圧の立ち下がり時には、大電流を流す状態にあるN
チャネルFET29を介して、信号出力端子103から
低位側電源端子105に電流が流れることにより、当該
信号出力端子103の出力電圧は速やかに下降する。こ
れにより、第1の実施例の場合と同様に、信号出力端子
103の出力電圧の上昇時における立ち上がり時間、お
よび出力電圧の下降時における立ち下がり時間が共に著
しく短縮され、演算増幅器の応答速度が一段と向上され
る。
電圧の立ち上がり時には、大電流を流す状態にあるNチ
ャネルFET28を介して、高位側電源端子104から
信号出力端子103に電流が流れることにより、当該信
号出力端子103の出力電圧は速やかに上昇し、また出
力電圧の立ち下がり時には、大電流を流す状態にあるN
チャネルFET29を介して、信号出力端子103から
低位側電源端子105に電流が流れることにより、当該
信号出力端子103の出力電圧は速やかに下降する。こ
れにより、第1の実施例の場合と同様に、信号出力端子
103の出力電圧の上昇時における立ち上がり時間、お
よび出力電圧の下降時における立ち下がり時間が共に著
しく短縮され、演算増幅器の応答速度が一段と向上され
る。
【0015】図3は本発明の第3の実施例を示す回路図
である。なお第3の実施例以下の各実施例においては、
構成内容の半導体素子としては、FET以外に、NPN
トランジスタおよびPNPトランジスタを含むバイポー
ラトランジスタが部分的に含まれている点に特徴があ
る。
である。なお第3の実施例以下の各実施例においては、
構成内容の半導体素子としては、FET以外に、NPN
トランジスタおよびPNPトランジスタを含むバイポー
ラトランジスタが部分的に含まれている点に特徴があ
る。
【0016】図3に示されるように、本従来例は、エミ
ッタが共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子
101および102に接続されるNPNトランジスタ3
3および34と、一端が低位側電源端子105に接続さ
れ、他端が前記NPNトランジスタ33および34のエ
ミッタに接続される定電流源35と、ゲートおよびドレ
インが前記NPNトランジスタ33のコレクタに接続さ
れ、ソースが高位側電源端子104に接続されるNPN
トランジスタ31と、ゲートがNPNトランジスタ33
およびPチャネルFET31のドレインに接続され、ソ
ースが高位側電源端子104に接続されて、ドレインが
NPNトランジスタ34のコレクタに接続されるPチャ
ネルFET32と、ソースが高位側電源端子104に接
続され、ゲートが前記PチャネルFET32のドレイン
およびNPNトランジスタ34のコレクタに接続される
PチャネルFET36と、一端が低位側電源端子105
に接続され、他端がPチャネルFET36のドレインに
接続される定電流源37と、ソースが高位側電源端子1
04に接続され、ゲートが前記PチャネルFET36の
ゲートに接続されて、ドレインが信号出力端子103に
接続されるPチャネルFET38と、ソースがPチャネ
ルFET38のドレインおよび信号出力端子103に接
続され、ゲートがNチャネルFET36のドレインに接
続されて、ドレインが低位側電源端子105に接続され
るPチャネルFET39とを備えて構成される。
ッタが共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子
101および102に接続されるNPNトランジスタ3
3および34と、一端が低位側電源端子105に接続さ
れ、他端が前記NPNトランジスタ33および34のエ
ミッタに接続される定電流源35と、ゲートおよびドレ
インが前記NPNトランジスタ33のコレクタに接続さ
れ、ソースが高位側電源端子104に接続されるNPN
トランジスタ31と、ゲートがNPNトランジスタ33
およびPチャネルFET31のドレインに接続され、ソ
ースが高位側電源端子104に接続されて、ドレインが
NPNトランジスタ34のコレクタに接続されるPチャ
ネルFET32と、ソースが高位側電源端子104に接
続され、ゲートが前記PチャネルFET32のドレイン
およびNPNトランジスタ34のコレクタに接続される
PチャネルFET36と、一端が低位側電源端子105
に接続され、他端がPチャネルFET36のドレインに
接続される定電流源37と、ソースが高位側電源端子1
04に接続され、ゲートが前記PチャネルFET36の
ゲートに接続されて、ドレインが信号出力端子103に
接続されるPチャネルFET38と、ソースがPチャネ
ルFET38のドレインおよび信号出力端子103に接
続され、ゲートがNチャネルFET36のドレインに接
続されて、ドレインが低位側電源端子105に接続され
るPチャネルFET39とを備えて構成される。
【0017】図3と、第1の実施例を示す図1との対比
により明らかなように、本実施例は、前述の第1の実施
例におけるNチャネルFET13および14を、それぞ
れNPNトランジスタ33および34に置換えて構成さ
れている。
により明らかなように、本実施例は、前述の第1の実施
例におけるNチャネルFET13および14を、それぞ
れNPNトランジスタ33および34に置換えて構成さ
れている。
【0018】図3において、NPNトラジスタ33およ
び34と、PチャネルFET31および32と、定電流
源35とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子10
2に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合には、
PチャネルFET36および38のゲート電圧は低くな
り、また、PチャネルFET36のドレインと、定電流
源37の他端に接続されているPチャネルFET39の
ゲート電圧は高くなる。この場合には、PチャネルFE
T38は大電流を流すことができる状態となり、またP
チャネルFET39はあまり電流を流すことができない
状態となるため、高位側電源端子104から演算増幅器
の信号出力端子103に電流が流れることにより、信号
出力端子103の電位は速やかに上昇する。また信号入
力端子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端
子102に入力される信号電圧の方がレベルが低い場合
には、PチャネルFET36および38のゲート電圧は
高くなり、このために、PチャネルFET39のゲート
電圧は低くなる。この場合においては、PチャネルFE
T38はあまり電流を流すことができない状態となり、
またPチャネルFET39は大電流を流すことができる
状態となるため、高位側電源端子104からの電流の供
給が遮断され、逆に、低位側電源端子105に電流が流
れることにより、信号出力端子103の電位は速やかに
下降する。
び34と、PチャネルFET31および32と、定電流
源35とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子10
2に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合には、
PチャネルFET36および38のゲート電圧は低くな
り、また、PチャネルFET36のドレインと、定電流
源37の他端に接続されているPチャネルFET39の
ゲート電圧は高くなる。この場合には、PチャネルFE
T38は大電流を流すことができる状態となり、またP
チャネルFET39はあまり電流を流すことができない
状態となるため、高位側電源端子104から演算増幅器
の信号出力端子103に電流が流れることにより、信号
出力端子103の電位は速やかに上昇する。また信号入
力端子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端
子102に入力される信号電圧の方がレベルが低い場合
には、PチャネルFET36および38のゲート電圧は
高くなり、このために、PチャネルFET39のゲート
電圧は低くなる。この場合においては、PチャネルFE
T38はあまり電流を流すことができない状態となり、
またPチャネルFET39は大電流を流すことができる
状態となるため、高位側電源端子104からの電流の供
給が遮断され、逆に、低位側電源端子105に電流が流
れることにより、信号出力端子103の電位は速やかに
下降する。
【0019】なお、信号出力端子103の出力電圧の上
昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の下降時
における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増
幅器の応答速度が一段と向上される点については、第1
の実施例の場合と同様であるが、一般に、演算増幅器の
機能としては、FETの場合もバイポーラトランジスタ
の場合も差がないために、演算増幅器としての基本的な
動作は第1の実施例の場合と同様であるが、バイポーラ
トランジスタの方がFETよりも相互コンダクタンスが
大きいために、利得を大くきくとることが可能であり、
このために、第1の実施例よりも高精度の演算増幅器が
得られる。
昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の下降時
における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増
幅器の応答速度が一段と向上される点については、第1
の実施例の場合と同様であるが、一般に、演算増幅器の
機能としては、FETの場合もバイポーラトランジスタ
の場合も差がないために、演算増幅器としての基本的な
動作は第1の実施例の場合と同様であるが、バイポーラ
トランジスタの方がFETよりも相互コンダクタンスが
大きいために、利得を大くきくとることが可能であり、
このために、第1の実施例よりも高精度の演算増幅器が
得られる。
【0020】図4は、本発明の第4の実施例を示す回路
図である。図4に示されるように、本従来例は、エミッ
タが共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子1
01および102に接続されるPNPトランジスタ42
および43と、一端が高位側電源端子104に接続さ
れ、他端が前記PNPトランジスタ42および43のエ
ミッタに接続される定電流源41と、ゲートおよびドレ
インがPNPトランジスタ42のコレクタに接続され、
ソースが低位側電源端子105に接続されるNチャネル
FET44と、ゲートがNチャネルFET44のゲート
およびドレインに接続され、ソースが低位側電源端子1
05に接続されて、ドレインがPNPトランジスタ43
のコレクタに接続されるNチャネルFET45と、ソー
スが低位側電源端子105に接続され、ゲートがPNP
トランジスタ43のコレクタおよびNチャネルFET4
5のドレインに接続されるNチャネルFET47と、一
端が高位側電源端子104に接続され、他端がNチャネ
ルFET47のドレインに接続される定電流源46と、
ドレインが高位側電源端子104に接続され、ゲートが
NチャネルFET47のドレインに接続されて、ソース
が信号出力端子103に接続されるNチャネルFET4
8と、ドレインがNチャネルFET48のソースおよび
信号出力端子103に接続され、ゲートがNチャネルF
ET47のゲートに接続されて、ソースが低位側電源端
子105に接続されるNチャネルFET49とを備えて
構成される。
図である。図4に示されるように、本従来例は、エミッ
タが共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子1
01および102に接続されるPNPトランジスタ42
および43と、一端が高位側電源端子104に接続さ
れ、他端が前記PNPトランジスタ42および43のエ
ミッタに接続される定電流源41と、ゲートおよびドレ
インがPNPトランジスタ42のコレクタに接続され、
ソースが低位側電源端子105に接続されるNチャネル
FET44と、ゲートがNチャネルFET44のゲート
およびドレインに接続され、ソースが低位側電源端子1
05に接続されて、ドレインがPNPトランジスタ43
のコレクタに接続されるNチャネルFET45と、ソー
スが低位側電源端子105に接続され、ゲートがPNP
トランジスタ43のコレクタおよびNチャネルFET4
5のドレインに接続されるNチャネルFET47と、一
端が高位側電源端子104に接続され、他端がNチャネ
ルFET47のドレインに接続される定電流源46と、
ドレインが高位側電源端子104に接続され、ゲートが
NチャネルFET47のドレインに接続されて、ソース
が信号出力端子103に接続されるNチャネルFET4
8と、ドレインがNチャネルFET48のソースおよび
信号出力端子103に接続され、ゲートがNチャネルF
ET47のゲートに接続されて、ソースが低位側電源端
子105に接続されるNチャネルFET49とを備えて
構成される。
【0021】図4と、第2の実施例を示す図2との対比
により明らかなように、本実施例は、前述の第2の実施
例におけるPチャネルFET22および23を、それぞ
れNPNトランジスタ42および43に置換えて構成さ
れている。
により明らかなように、本実施例は、前述の第2の実施
例におけるPチャネルFET22および23を、それぞ
れNPNトランジスタ42および43に置換えて構成さ
れている。
【0022】図4において、PNPトランジスタ42お
よび43と、NチャネルFET44および45と、定電
流源41とから成る差動増幅器においては、信号入力端
子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子1
02に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合に
は、NチャネルFET47および49のゲート電圧は高
くなり、また、NチャネルFET48のゲート電圧は低
くなる。これにより、NチャネルFET48はあまり電
流を流すことができない状態となり、またNチャネルF
ET49は大電流を流すことができる状態となるため、
高位側電源端子104からの電流の供給が遮断され、逆
に、低位側電源端子105に電流が流れることにより、
信号出力端子103の電位は速やかに下降する。また信
号入力端子101に入力される信号電圧よりも、信号入
力端子102に入力される信号電圧の方がレベルが低い
場合には、NチャネルFET47および49のゲート電
圧は低くなり、このために、NチャネルFET48のゲ
ート電圧は高くなる。ここにおいて、NチャネルFET
48は大電流を流すことができる状態となり、またNチ
ャネルFET49はあまり電流を流すことができない状
態となるため、高位側電源端子104からの電流の供給
が遮断され、逆に、低位側電源端子105に電流が流れ
ることにより、信号出力端子103の電位は速やかに下
降する。
よび43と、NチャネルFET44および45と、定電
流源41とから成る差動増幅器においては、信号入力端
子101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子1
02に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合に
は、NチャネルFET47および49のゲート電圧は高
くなり、また、NチャネルFET48のゲート電圧は低
くなる。これにより、NチャネルFET48はあまり電
流を流すことができない状態となり、またNチャネルF
ET49は大電流を流すことができる状態となるため、
高位側電源端子104からの電流の供給が遮断され、逆
に、低位側電源端子105に電流が流れることにより、
信号出力端子103の電位は速やかに下降する。また信
号入力端子101に入力される信号電圧よりも、信号入
力端子102に入力される信号電圧の方がレベルが低い
場合には、NチャネルFET47および49のゲート電
圧は低くなり、このために、NチャネルFET48のゲ
ート電圧は高くなる。ここにおいて、NチャネルFET
48は大電流を流すことができる状態となり、またNチ
ャネルFET49はあまり電流を流すことができない状
態となるため、高位側電源端子104からの電流の供給
が遮断され、逆に、低位側電源端子105に電流が流れ
ることにより、信号出力端子103の電位は速やかに下
降する。
【0023】なお、信号出力端子103の出力電圧の上
昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の下降時
における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増
幅器の応答速度が一段と向上される点、および演算増幅
器としての基本的な動作は第2の実施例の場合と同様で
あるが、バイポーラトランジスタの方がFETよりも相
互コンダクタンスが大きいために、利得を大くきくとる
ことが可能であり、このために、第2の実施例よりも高
精度の演算増幅器が得られる。
昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の下降時
における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増
幅器の応答速度が一段と向上される点、および演算増幅
器としての基本的な動作は第2の実施例の場合と同様で
あるが、バイポーラトランジスタの方がFETよりも相
互コンダクタンスが大きいために、利得を大くきくとる
ことが可能であり、このために、第2の実施例よりも高
精度の演算増幅器が得られる。
【0024】図5は本発明の第5の実施例を示す回路図
である。図5に示されるように、本従来例は、ソースが
共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子101
および102に接続されるNチャネルFET53および
54と、一端が低位側電源端子105に接続され、他端
が前記NチャネルFET53および54のソースに接続
される定電流源55と、ゲートおよびドレインがNチャ
ネルFET53のドレインに接続され、ソースが高位側
電源端子104に接続されるPチャネルFET51と、
ゲートが前記NチャネルFET53のドレインに接続さ
れ、ソースが高位側電源端子104に接続されて、ドレ
インが前記NチャネルFET54のドレインに接続され
るPチャネルFET52と、ソースが高位側電源端子1
04に接続され、ゲートがPチャネルFET52のドレ
インおよびNチャネルFET54のドレインに接続され
るPチャネルFET56と、一端が低位側電源端子10
5に接続され、他端がPチャネルFET56のドレイン
に接続される定電流源57と、エミッタが高位側電源端
子104に接続され、ベースが前記PチャネルFET5
6のゲートに接続されて、コレクタが信号出力端子10
3に接続されるNPNトランジスタ58と、エミッタが
PNPトランジスタ58のコレクタおよび信号出力端子
103に接続され、ベースがPチャネルFET56のド
レインに接続されて、コレクタが低位側電源端子105
に接続されるPNPトランジスタ59とを備えて構成さ
れる。
である。図5に示されるように、本従来例は、ソースが
共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子101
および102に接続されるNチャネルFET53および
54と、一端が低位側電源端子105に接続され、他端
が前記NチャネルFET53および54のソースに接続
される定電流源55と、ゲートおよびドレインがNチャ
ネルFET53のドレインに接続され、ソースが高位側
電源端子104に接続されるPチャネルFET51と、
ゲートが前記NチャネルFET53のドレインに接続さ
れ、ソースが高位側電源端子104に接続されて、ドレ
インが前記NチャネルFET54のドレインに接続され
るPチャネルFET52と、ソースが高位側電源端子1
04に接続され、ゲートがPチャネルFET52のドレ
インおよびNチャネルFET54のドレインに接続され
るPチャネルFET56と、一端が低位側電源端子10
5に接続され、他端がPチャネルFET56のドレイン
に接続される定電流源57と、エミッタが高位側電源端
子104に接続され、ベースが前記PチャネルFET5
6のゲートに接続されて、コレクタが信号出力端子10
3に接続されるNPNトランジスタ58と、エミッタが
PNPトランジスタ58のコレクタおよび信号出力端子
103に接続され、ベースがPチャネルFET56のド
レインに接続されて、コレクタが低位側電源端子105
に接続されるPNPトランジスタ59とを備えて構成さ
れる。
【0025】図5と、第1の実施例を示す図1との対比
により明らかなように、本実施例は、前述の第1の実施
例におけるPチャネルFET18および19が、それぞ
れPNPトランジスタ58および59に置換えられて構
成されている。
により明らかなように、本実施例は、前述の第1の実施
例におけるPチャネルFET18および19が、それぞ
れPNPトランジスタ58および59に置換えられて構
成されている。
【0026】図5において、NチャネルFET53およ
び54と、PチャネルFET51および52と、定電流
源55とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子10
2に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合には、
PチャネルFET56およびPNPトランジスタ58の
ベース電圧は低くなり、これによりPNPトランジスタ
59のベース電圧は高くなる。ここにおいて、PNPト
ランジスタ58は大電流を流すことができる状態とな
り、またPNPトランジスタ59はあまり電流を流すこ
とができない状態となるため、高位側電源端子104か
ら演算増幅器の信号出力端子103に電流が流れること
により、信号出力端子103の電位は速やかに上昇す
る。また信号入力端子101に入力される信号電圧より
も、信号入力端子102に入力される信号電圧の方がレ
ベルが低い場合には、PチャネルFET56のゲート電
圧およびPNPトランジスタ58のベース電圧は高くな
り、これによりPNPトランジスタ59のベース電圧は
低くなる。ここにおいて、PNPトランジスタ58はあ
まり電流を流すことができない状態となり、またPNP
トランジスタ59は大電流を流すことができる状態とな
るため、高位側電源端子104からの電流の供給が遮断
され、逆に、低位側電源端子105に電流が流れること
により、信号出力短出力端子103の電位は速やかに下
降する。
び54と、PチャネルFET51および52と、定電流
源55とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子10
2に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合には、
PチャネルFET56およびPNPトランジスタ58の
ベース電圧は低くなり、これによりPNPトランジスタ
59のベース電圧は高くなる。ここにおいて、PNPト
ランジスタ58は大電流を流すことができる状態とな
り、またPNPトランジスタ59はあまり電流を流すこ
とができない状態となるため、高位側電源端子104か
ら演算増幅器の信号出力端子103に電流が流れること
により、信号出力端子103の電位は速やかに上昇す
る。また信号入力端子101に入力される信号電圧より
も、信号入力端子102に入力される信号電圧の方がレ
ベルが低い場合には、PチャネルFET56のゲート電
圧およびPNPトランジスタ58のベース電圧は高くな
り、これによりPNPトランジスタ59のベース電圧は
低くなる。ここにおいて、PNPトランジスタ58はあ
まり電流を流すことができない状態となり、またPNP
トランジスタ59は大電流を流すことができる状態とな
るため、高位側電源端子104からの電流の供給が遮断
され、逆に、低位側電源端子105に電流が流れること
により、信号出力短出力端子103の電位は速やかに下
降する。
【0027】なお、信号出力端子103の出力電圧の上
昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の下降時
における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増
幅器の応答速度が一段と向上される点、および演算増幅
器としての基本的な動作は第1の実施例の場合と同様で
あるが、バイポーラトランジスタの方がFETよりも相
互コンダクタンスが大きいために、利得を大くきくとる
ことが可能であり、このために、第1の実施例よりも高
精度の演算増幅器が得られる。
昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の下降時
における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、演算増
幅器の応答速度が一段と向上される点、および演算増幅
器としての基本的な動作は第1の実施例の場合と同様で
あるが、バイポーラトランジスタの方がFETよりも相
互コンダクタンスが大きいために、利得を大くきくとる
ことが可能であり、このために、第1の実施例よりも高
精度の演算増幅器が得られる。
【0028】図6は、本発明の第6の実施例を示す回路
図である。図6に示されるように、本従来例は、ソース
が共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子10
1および102に接続されるPチャネルFET62およ
び63と、一端が高位側電源端子104に接続され、他
端が前記PチャネルFET62および63のソースに接
続される定電流源61と、ゲートおよびドレインがPチ
ャネルFET62のドレインに接続され、ソースが低位
側電源端子105に接続されるNチャネルFET64
と、ゲートが前記NチャネルFET64のゲートに接続
され、ソースが低位側電源端子105に接続されて、ド
レインがPチャネルFET63のドレインに接続される
NチャネルFET65と、ソースが低位側電源端子10
5に接続され、ゲートがPチャネルFET63のドレイ
ンおよびNチャネルFET65のドレインに接続される
NチャネルFET67と、一端が高位側電源端子104
に接続され、他端がNチャネルFET67のドレインに
接続される定電流源66と、コレクタが高位側電源端子
104に接続され、ベースがNチャネルFET67のド
レインに接続されて、ソースが信号出力端子103に接
続されるNPNトランジスタ68と、コレクタがNPN
トランジスタ68のエミッタおよび信号出力端子103
に接続され、ベースがNチャネルFET67のゲートに
接続されて、ソースが低位側電源端子105に接続され
るNPNトランジスタ69とを備えて構成される。
図である。図6に示されるように、本従来例は、ソース
が共通に接続され、ゲートがそれぞれ信号入力端子10
1および102に接続されるPチャネルFET62およ
び63と、一端が高位側電源端子104に接続され、他
端が前記PチャネルFET62および63のソースに接
続される定電流源61と、ゲートおよびドレインがPチ
ャネルFET62のドレインに接続され、ソースが低位
側電源端子105に接続されるNチャネルFET64
と、ゲートが前記NチャネルFET64のゲートに接続
され、ソースが低位側電源端子105に接続されて、ド
レインがPチャネルFET63のドレインに接続される
NチャネルFET65と、ソースが低位側電源端子10
5に接続され、ゲートがPチャネルFET63のドレイ
ンおよびNチャネルFET65のドレインに接続される
NチャネルFET67と、一端が高位側電源端子104
に接続され、他端がNチャネルFET67のドレインに
接続される定電流源66と、コレクタが高位側電源端子
104に接続され、ベースがNチャネルFET67のド
レインに接続されて、ソースが信号出力端子103に接
続されるNPNトランジスタ68と、コレクタがNPN
トランジスタ68のエミッタおよび信号出力端子103
に接続され、ベースがNチャネルFET67のゲートに
接続されて、ソースが低位側電源端子105に接続され
るNPNトランジスタ69とを備えて構成される。
【0029】図2との対比により明らかなように、図2
の第2の実施例におけるNチャネルFET28および2
9が、それぞれNPNトランジスタ68および69に置
換えられて構成されている。
の第2の実施例におけるNチャネルFET28および2
9が、それぞれNPNトランジスタ68および69に置
換えられて構成されている。
【0030】図6において、PチャネルFET62およ
び63と、NチャネルFET64および65と、定電流
源61とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子10
2に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合には、
NチャネルFET67のゲート電圧およびNPNトラン
ジスタ69のベース電圧は高くなり、また、NPNトラ
ンジスタ68のベース電圧は低くなる。ここにおいて、
NチャネルFET68はあまり電流を流すことができな
い状態となり、またNPNトランジスタ69は大電流を
流すことができる状態となるため、高位側電源端子10
4からの電流の供給が遮断され、逆に、低位側電源端子
105に電流が流れることにより、信号出力端子103
の電位は速やかに下降する。また信号入力端子101に
入力される信号電圧よりも、信号入力端子102に入力
される信号電圧の方がレベルが低い場合には、Nチャネ
ルFET67のゲート電圧およびNPNトランジスタ6
9のベース電圧は低くなり、このために、NPNトラン
ジスタ68のベース電圧はは高くなる。ここにおいて、
NPNトランジスタ68は大電流を流すことができる状
態となり、またNPNトランジスタ69はあまり電流を
流すことができない状態となるため、高位側電源端子1
04から演算増幅器の信号出力端子103に電流が流れ
ることにより、信号出力端子103の電位は速やかに上
昇する。本実施例においても、信号出力端子103の出
力電圧の上昇時における立ち上がり時間、および出力電
圧の下降時における立ち下がり時間が短縮され、演算増
幅器の応答速度が向上される。
び63と、NチャネルFET64および65と、定電流
源61とから成る差動増幅器においては、信号入力端子
101に入力される信号電圧よりも、信号入力端子10
2に入力される信号電圧の方がレベルが高い場合には、
NチャネルFET67のゲート電圧およびNPNトラン
ジスタ69のベース電圧は高くなり、また、NPNトラ
ンジスタ68のベース電圧は低くなる。ここにおいて、
NチャネルFET68はあまり電流を流すことができな
い状態となり、またNPNトランジスタ69は大電流を
流すことができる状態となるため、高位側電源端子10
4からの電流の供給が遮断され、逆に、低位側電源端子
105に電流が流れることにより、信号出力端子103
の電位は速やかに下降する。また信号入力端子101に
入力される信号電圧よりも、信号入力端子102に入力
される信号電圧の方がレベルが低い場合には、Nチャネ
ルFET67のゲート電圧およびNPNトランジスタ6
9のベース電圧は低くなり、このために、NPNトラン
ジスタ68のベース電圧はは高くなる。ここにおいて、
NPNトランジスタ68は大電流を流すことができる状
態となり、またNPNトランジスタ69はあまり電流を
流すことができない状態となるため、高位側電源端子1
04から演算増幅器の信号出力端子103に電流が流れ
ることにより、信号出力端子103の電位は速やかに上
昇する。本実施例においても、信号出力端子103の出
力電圧の上昇時における立ち上がり時間、および出力電
圧の下降時における立ち下がり時間が短縮され、演算増
幅器の応答速度が向上される。
【0031】図7は本発明の第7の実施例を示す回路図
である。図7に示されるように、本従来例は、エミッタ
が共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子10
1および102に接続されるNPNトランジスタ73お
よび74と、一端が低位側電源端子105に接続され、
他端がNPNトランジスタ73および74のエミッタに
接続される定電流源75と、ゲートおよびドレインがN
PNトランジスタ73のコレクタに接続され、ソースが
高位側電源端子104に接続されるPチャネルFET7
1と、ゲートがNPNトランジスタ73のコレクタに接
続され、ソースが高位側電源端子104に接続されて、
ドレインがNPNトランジスタ74のコレクタに接続さ
れるPチャネルFET72と、ソースが高位側電源端子
104に接続され、ゲートがPチャネルFET72のド
レインおよびNPNトランジスタ74のコレクタに接続
されるPチャネルFET76と、一端が低位側電源端子
105に接続され、他端がPチャネルFET76のドレ
インに接続される定電流源77と、エミッタが高位側電
源端子104に接続され、ベースがPチャネルFET7
6のゲートに接続されて、コレクタが信号出力端子10
3に接続されるPNPトランジスタ78と、エミッタが
PNPトランジスタ78のコレクタおよび信号出力端子
103に接続され、ベースがPチャネルFET76のド
レインに接続されて、コレクタが低位側電源端子105
に接続されるPNPトランジスタ79とを備えて構成さ
れる。
である。図7に示されるように、本従来例は、エミッタ
が共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子10
1および102に接続されるNPNトランジスタ73お
よび74と、一端が低位側電源端子105に接続され、
他端がNPNトランジスタ73および74のエミッタに
接続される定電流源75と、ゲートおよびドレインがN
PNトランジスタ73のコレクタに接続され、ソースが
高位側電源端子104に接続されるPチャネルFET7
1と、ゲートがNPNトランジスタ73のコレクタに接
続され、ソースが高位側電源端子104に接続されて、
ドレインがNPNトランジスタ74のコレクタに接続さ
れるPチャネルFET72と、ソースが高位側電源端子
104に接続され、ゲートがPチャネルFET72のド
レインおよびNPNトランジスタ74のコレクタに接続
されるPチャネルFET76と、一端が低位側電源端子
105に接続され、他端がPチャネルFET76のドレ
インに接続される定電流源77と、エミッタが高位側電
源端子104に接続され、ベースがPチャネルFET7
6のゲートに接続されて、コレクタが信号出力端子10
3に接続されるPNPトランジスタ78と、エミッタが
PNPトランジスタ78のコレクタおよび信号出力端子
103に接続され、ベースがPチャネルFET76のド
レインに接続されて、コレクタが低位側電源端子105
に接続されるPNPトランジスタ79とを備えて構成さ
れる。
【0032】図7と、第1の実施例を示す図1との対比
により明らかなように、本実施例は、前述の第1の実施
例におけるNチャネルFET13および14が、それぞ
れNPNトランジスタ73および74に置換えられ、ま
たPチャネルFET18および19が、それぞれPNP
トランジスタ78および79に置換えられて構成されて
いる。
により明らかなように、本実施例は、前述の第1の実施
例におけるNチャネルFET13および14が、それぞ
れNPNトランジスタ73および74に置換えられ、ま
たPチャネルFET18および19が、それぞれPNP
トランジスタ78および79に置換えられて構成されて
いる。
【0033】本実施例の動作については、既に説明され
ている第1、第3および第5の実施例の場合と同様であ
り説明は省略する。なお、信号出力端子103の出力電
圧の上昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の
下降時における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、
演算増幅器の応答速度が一段と向上される点、および演
算増幅器としての基本的な動作は第1の実施例の場合と
同様であるが、バイポーラトランジスタの方がFETよ
りも相互コンダクタンスが大きいために、利得を大くき
くとることが可能であり、このために、第1の実施例よ
りも高精度の演算増幅器が得られる。
ている第1、第3および第5の実施例の場合と同様であ
り説明は省略する。なお、信号出力端子103の出力電
圧の上昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の
下降時における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、
演算増幅器の応答速度が一段と向上される点、および演
算増幅器としての基本的な動作は第1の実施例の場合と
同様であるが、バイポーラトランジスタの方がFETよ
りも相互コンダクタンスが大きいために、利得を大くき
くとることが可能であり、このために、第1の実施例よ
りも高精度の演算増幅器が得られる。
【0034】図8は、本発明の第8の実施例を示す回路
図である。図8に示されるように、本従来例は、エミッ
タが共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子1
01および102に接続されるPNPトランジスタ82
および83と、一端が高位側電源端子104に接続さ
れ、他端が前記PNPトランジスタ82および83のエ
ミッタに接続される定電流源81と、ゲートおよびドレ
インがPNPトランジスタ82のコレクタに接続され、
ソースが低位側電源端子105に接続されるNチャネル
FET84と、ゲートがNチャネルFET84のゲート
およびドレインに接続され、ソースが低位側電源端子1
05に接続されて、ドレインがPNPトランジスタ83
のコレクタに接続されるNチャネルFET85と、ソー
スが低位側電源端子105に接続され、ゲートがPNP
トランジスタ83のコレクタおよびNチャネルFET8
5のドレインに接続されるNチャネルFET87と、一
端が高位側電源端子104に接続され、他端がNチャネ
ルFET87のドレインに接続される定電流源86と、
コレクタが高位側電源端子104に接続され、ベースが
NチャネルFET87のドレインに接続されて、ソース
が信号出力端子103に接続されるNPNトランジスタ
88と、コレクタがNPNトランジスタ88のエミッタ
および信号出力端子103に接続され、ベースがNチャ
ネルFET87のゲートに接続されて、エミッタが低位
側電源端子105に接続されるNPNトランジスタ89
とを備えて構成される。
図である。図8に示されるように、本従来例は、エミッ
タが共通に接続され、ベースがそれぞれ信号入力端子1
01および102に接続されるPNPトランジスタ82
および83と、一端が高位側電源端子104に接続さ
れ、他端が前記PNPトランジスタ82および83のエ
ミッタに接続される定電流源81と、ゲートおよびドレ
インがPNPトランジスタ82のコレクタに接続され、
ソースが低位側電源端子105に接続されるNチャネル
FET84と、ゲートがNチャネルFET84のゲート
およびドレインに接続され、ソースが低位側電源端子1
05に接続されて、ドレインがPNPトランジスタ83
のコレクタに接続されるNチャネルFET85と、ソー
スが低位側電源端子105に接続され、ゲートがPNP
トランジスタ83のコレクタおよびNチャネルFET8
5のドレインに接続されるNチャネルFET87と、一
端が高位側電源端子104に接続され、他端がNチャネ
ルFET87のドレインに接続される定電流源86と、
コレクタが高位側電源端子104に接続され、ベースが
NチャネルFET87のドレインに接続されて、ソース
が信号出力端子103に接続されるNPNトランジスタ
88と、コレクタがNPNトランジスタ88のエミッタ
および信号出力端子103に接続され、ベースがNチャ
ネルFET87のゲートに接続されて、エミッタが低位
側電源端子105に接続されるNPNトランジスタ89
とを備えて構成される。
【0035】図8と、第2の実施例を示す図2との対比
により明らかなように、本実施例は、前述の第2の実施
例におけるPチャネルFET22および23を、それぞ
れPNPトランジスタ82および83に置換え、Nチャ
ネルFET28および29を、それぞれNPNトランジ
スタ88および89に置換えて構成されている。
により明らかなように、本実施例は、前述の第2の実施
例におけるPチャネルFET22および23を、それぞ
れPNPトランジスタ82および83に置換え、Nチャ
ネルFET28および29を、それぞれNPNトランジ
スタ88および89に置換えて構成されている。
【0036】本実施例の動作については、既に説明され
ている第2、第4および第6の実施例の場合と同様であ
り説明は省略する。なお、信号出力端子103の出力電
圧の上昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の
下降時における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、
演算増幅器の応答速度が一段と向上される点、および演
算増幅器としての基本的な動作は第2の実施例の場合と
同様であるが、バイポーラトランジスタの方がFETよ
りも相互コンダクタンスが大きいために、利得を大くき
くとることが可能であり、このために、第1の実施例よ
りも高精度の演算増幅器が得られる。
ている第2、第4および第6の実施例の場合と同様であ
り説明は省略する。なお、信号出力端子103の出力電
圧の上昇時における立ち上がり時間、および出力電圧の
下降時における立ち下がり時間が共に著しく短縮され、
演算増幅器の応答速度が一段と向上される点、および演
算増幅器としての基本的な動作は第2の実施例の場合と
同様であるが、バイポーラトランジスタの方がFETよ
りも相互コンダクタンスが大きいために、利得を大くき
くとることが可能であり、このために、第1の実施例よ
りも高精度の演算増幅器が得られる。
【0037】なお、上記の説明により明らかなように、
第1、第3、第5および第7の実施例における出力電圧
の極性と、第2、第4、第6および台8の実施例におけ
る出力電圧の極性とは相互に逆極性となっている。
第1、第3、第5および第7の実施例における出力電圧
の極性と、第2、第4、第6および台8の実施例におけ
る出力電圧の極性とは相互に逆極性となっている。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、出力段
の構成回路として定電流源の代りにFETまたはバイポ
ーラトランジスタを設け、出力電圧の立ち上がり時およ
び立ち下がり時において、これらのFETまたはバイポ
ーラトランジスタを通して信号出力端子に電流を流すこ
とにより、演算増幅器の立ち上がり時間および立ち下が
り時間を短縮することができるという効果がある。
の構成回路として定電流源の代りにFETまたはバイポ
ーラトランジスタを設け、出力電圧の立ち上がり時およ
び立ち下がり時において、これらのFETまたはバイポ
ーラトランジスタを通して信号出力端子に電流を流すこ
とにより、演算増幅器の立ち上がり時間および立ち下が
り時間を短縮することができるという効果がある。
【図1】本発明の第1の実施例を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例を示す回路図である。
【図3】本発明の第3の実施例を示す回路図である。
【図4】本発明の第4の実施例を示す回路図である。
【図5】本発明の第5の実施例を示す回路図である。
【図6】本発明の第5の実施例を示す回路図である。
【図7】本発明の第7の実施例を示す回路図である。
【図8】本発明の第8の実施例を示す回路図である。
【図9】従来例を示す回路図である。
11、12、16、18、19、22、23、31、3
2、36、38、39、51、52、56、62、6
3、71、72、76、91、92、96 Pチャネ
ルFET 13、14、24、25、27〜29、33、34、4
4、45、47〜49、53、54、64、65、6
7、84、85、87、93、94 NチャネルFE
T 15、17、21、26、35、37、41、46、5
5、57、61、66、75、77、81、86、9
5、97 定電流源 42、43、68、69、73、74、88、89
NPNトランジスタ 58、59、78、79、82、83 PNPトラン
ジスタ
2、36、38、39、51、52、56、62、6
3、71、72、76、91、92、96 Pチャネ
ルFET 13、14、24、25、27〜29、33、34、4
4、45、47〜49、53、54、64、65、6
7、84、85、87、93、94 NチャネルFE
T 15、17、21、26、35、37、41、46、5
5、57、61、66、75、77、81、86、9
5、97 定電流源 42、43、68、69、73、74、88、89
NPNトランジスタ 58、59、78、79、82、83 PNPトラン
ジスタ
Claims (6)
- 【請求項1】 第1電極が共通接続され、第2電極が、
それぞれ第1および第2の信号入力端子に接続される第
1および第2の半導体素子と、 一端が第1の電源に接続され、他端が前記第1および第
2の半導体素子の第1電極に接続される第1の定電流源
と、 第2電極および第3電極が前記第1の半導体素子の第3
電極に接続され、第1電極が第2の電源に接続される第
3の半導体素子と、 第1電極が前記第2の電源に接続され、第2電極が前記
第3の半導体素子の第2電極および第3電極に接続され
て、第3電極が前記第2の半導体素子の第3電極に接続
される第4の半導体素子と、 第1電極が前記第2の電源に接続され、第2電極が前記
第2の半導体素子の第3電極および前記第4の半導体素
子の第3電極に接続される第5の半導体素子と、 一端が前記第1の電源に接続され、他端が前記第5の半
導体素子の第3電極に接続される第2の定電流源と、 第1電極が前記第2の電源に接続され、第2電極が前記
第2の半導体素子の第3電極および前記第4の半導体素
子の第3電極に接続され、第3電極が信号出力端子に接
続される第6の半導体素子と、 第1電極が前記第6の半導体素子の第3電極および前記
信号出力端子に接続され、第2電極が前記第5の半導体
素子の第3電極に接続されて、第3電極が前記第1の電
源に接続される第7の半導体素子と、 を備えて構成されることを特徴とする演算増幅器。 - 【請求項2】 前記第1乃至第7の半導体素子が、それ
ぞれ第1電極としてソース電極、第2電極としてゲート
電極、第3電極としてドレイン電極を備えるFETによ
り形成される請求項1記載の演算増幅器。 - 【請求項3】 前記第1乃至第7の半導体素子が、それ
ぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電極としてベー
ス電極、第3電極としてコレクタ電極を備えるバイポー
ラトランジスタにより形成される請求項1記載の演算増
幅器。 - 【請求項4】 前記第1および第2の半導体素子が、そ
れぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電極としてベ
ース電極、第3電極としてコレクタ電極を備えるバイポ
ーラトランジスタにより形成され、前記第3乃至第7の
半導体素子が、それぞれ第1電極としてソース電極、第
2電極としてゲート電極、第3電極としてドレイン電極
を備えるFETにより形成される請求項1記載の演算増
幅器。 - 【請求項5】 前記第1乃至第5の半導体素子が、それ
ぞれ第1電極としてソース電極、第2電極としてゲート
電極、第3電極としてドレイン電極を備えるFETによ
り形成され、前記第6および第7の半導体素子が、それ
ぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2電極としてベー
ス電極、第3電極としてコレクタ電極を備えるバイポー
ラトランジスタにより形成される請求項1記載の演算増
幅器。 - 【請求項6】 前記第1、第2、第6および第7の半導
体素子が、それぞれ第1電極としてエミッタ電極、第2
電極としてベース電極、第3電極としてコレクタ電極を
備えるバイポーラトランジスタにより形成され、前記第
3乃至第5の半導体素子が、それぞれ第1電極としてソ
ース電極、第2電極としてゲート電極、第3電極として
ドレイン電極を備えるFETにより形成される請求項1
記載の演算増幅器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6190451A JP2639350B2 (ja) | 1994-08-12 | 1994-08-12 | 演算増幅器 |
| EP95112614A EP0696844A1 (en) | 1994-08-12 | 1995-08-10 | Operational amplifier |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6190451A JP2639350B2 (ja) | 1994-08-12 | 1994-08-12 | 演算増幅器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0856128A true JPH0856128A (ja) | 1996-02-27 |
| JP2639350B2 JP2639350B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=16258354
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6190451A Expired - Lifetime JP2639350B2 (ja) | 1994-08-12 | 1994-08-12 | 演算増幅器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0696844A1 (ja) |
| JP (1) | JP2639350B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6313830B1 (en) | 1997-08-21 | 2001-11-06 | Nec Corporation | Liquid crystal display |
| KR100561595B1 (ko) * | 2003-07-23 | 2006-03-20 | 프롬써어티 주식회사 | 가변전원 제어장치 |
| US8754881B2 (en) | 2009-11-27 | 2014-06-17 | Rohm Co., Ltd. | Operational amplifier and liquid crystal drive device using same, as well as parameter setting circuit, semiconductor device, and power supply unit |
| US8981747B2 (en) | 2012-03-21 | 2015-03-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Regulator |
| JP2017118351A (ja) * | 2015-12-24 | 2017-06-29 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 差動増幅回路 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5394968B2 (ja) * | 2010-03-29 | 2014-01-22 | セイコーインスツル株式会社 | 差動増幅回路 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5934706A (ja) * | 1982-08-20 | 1984-02-25 | Toshiba Corp | 電力増幅回路 |
| US4739281A (en) * | 1986-08-28 | 1988-04-19 | Solid State Micro Technology For Music, Inc | Analog buffer amplifier |
| DE4136605A1 (de) * | 1991-11-07 | 1993-05-13 | Philips Patentverwaltung | Verstaerker |
-
1994
- 1994-08-12 JP JP6190451A patent/JP2639350B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-08-10 EP EP95112614A patent/EP0696844A1/en not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6313830B1 (en) | 1997-08-21 | 2001-11-06 | Nec Corporation | Liquid crystal display |
| KR100561595B1 (ko) * | 2003-07-23 | 2006-03-20 | 프롬써어티 주식회사 | 가변전원 제어장치 |
| US8754881B2 (en) | 2009-11-27 | 2014-06-17 | Rohm Co., Ltd. | Operational amplifier and liquid crystal drive device using same, as well as parameter setting circuit, semiconductor device, and power supply unit |
| US8981747B2 (en) | 2012-03-21 | 2015-03-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Regulator |
| JP2017118351A (ja) * | 2015-12-24 | 2017-06-29 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 差動増幅回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2639350B2 (ja) | 1997-08-13 |
| EP0696844A1 (en) | 1996-02-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4274014A (en) | Switched current source for current limiting complementary symmetry inverter | |
| KR890004647B1 (ko) | 정전류원회로 및 이 회로를 사용한 차동증폭기 | |
| JP2885120B2 (ja) | 演算増幅器 | |
| JPH1188076A (ja) | 演算増幅器 | |
| JP2885151B2 (ja) | 演算増幅器 | |
| US4647841A (en) | Low voltage, high precision current source | |
| US5389892A (en) | Input stages for high voltage operational amplifier | |
| JP2639350B2 (ja) | 演算増幅器 | |
| US6867652B1 (en) | Fast-response current limiting | |
| US5023479A (en) | Low power output gate | |
| JPH06180332A (ja) | 電流検出回路 | |
| KR920013891A (ko) | 모노리틱 집적 파워 증폭기의 단일 이득 최종 스테이지 | |
| US6222414B1 (en) | Bipolar-plus-DMOS mixed-typology power output stage | |
| JPH03214808A (ja) | 電圧比較回路 | |
| US5063310A (en) | Transistor write current switching circuit for magnetic recording | |
| JP2645596B2 (ja) | 電圧検出回路 | |
| JP3963251B2 (ja) | 電子回路 | |
| JP2003324338A (ja) | 電流クランプ回路 | |
| JP2772069B2 (ja) | 定電流回路 | |
| JPH08331758A (ja) | 電圧比較型電流制御回路および過電流制限回路 | |
| JP2926746B2 (ja) | 半導体増幅回路 | |
| JPH04257906A (ja) | 定電流回路 | |
| US7119618B2 (en) | Method of forming a wide bandwidth differential amplifier and structure therefor | |
| JP2846338B2 (ja) | シュミットトリガ回路 | |
| JPS6294020A (ja) | 半導体集積回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970325 |