JPH085619A - ガスクロマトグラフ - Google Patents
ガスクロマトグラフInfo
- Publication number
- JPH085619A JPH085619A JP13302894A JP13302894A JPH085619A JP H085619 A JPH085619 A JP H085619A JP 13302894 A JP13302894 A JP 13302894A JP 13302894 A JP13302894 A JP 13302894A JP H085619 A JPH085619 A JP H085619A
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- JP
- Japan
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- pipeline
- valve
- exhaust gas
- sample
- gas
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ランニングコストの低減を図ったガスクロマ
トグラフを提供する。 【構成】 選択された一つの前記試料が流れる第１管路
(10a,10b,10c…)と，該第１管路から分岐して分離カラ
ム(30)に向かう第２管路(12)と，前記第１管路の端部付
近に設けられた標準ガス供給弁(6)と，前記第２管路の
分岐点より上流側でかつ前記第１管路からニードル弁を
介して分岐する第３管路(14)と，前記第３管路の下流側
に設けられた排ガス弁(17)を有し，測定モードのときは
前記排ガス弁を開として前記選択された試料が前記第
１，第２管路を介して前記分離カラムに向かうように
し，校正モードのときは始め前記排ガス弁を開として前
記標準ガスを所定時間比較的大きな流量で送出し，所定
時間経過後は前記排ガス弁を閉として前記標準ガスを比
較的小さな流量で送出する。
トグラフを提供する。 【構成】 選択された一つの前記試料が流れる第１管路
(10a,10b,10c…)と，該第１管路から分岐して分離カラ
ム(30)に向かう第２管路(12)と，前記第１管路の端部付
近に設けられた標準ガス供給弁(6)と，前記第２管路の
分岐点より上流側でかつ前記第１管路からニードル弁を
介して分岐する第３管路(14)と，前記第３管路の下流側
に設けられた排ガス弁(17)を有し，測定モードのときは
前記排ガス弁を開として前記選択された試料が前記第
１，第２管路を介して前記分離カラムに向かうように
し，校正モードのときは始め前記排ガス弁を開として前
記標準ガスを所定時間比較的大きな流量で送出し，所定
時間経過後は前記排ガス弁を閉として前記標準ガスを比
較的小さな流量で送出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，ガスクロマトグラフの
サンプリング部の構成に係わるものであり，特に，校正
モードにおける標準ガスの消費量の低減を図ったガスク
ロマトグラフに関するものである。
サンプリング部の構成に係わるものであり，特に，校正
モードにおける標準ガスの消費量の低減を図ったガスク
ロマトグラフに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ガスクロマトグラフはプロセスの試料が
サンプリングバルブにより採取され，その採取された試
料が分析ユニットにおいてガス状態で分離カラム中を移
動し，その移動速度の差を利用して試料の成分が分離さ
れ，その成分および含有量に応じた出力信号，いわゆる
クロマトグラム信号を得るものである。
サンプリングバルブにより採取され，その採取された試
料が分析ユニットにおいてガス状態で分離カラム中を移
動し，その移動速度の差を利用して試料の成分が分離さ
れ，その成分および含有量に応じた出力信号，いわゆる
クロマトグラム信号を得るものである。
【０００３】図２はこのようなガスクロマトグラフの従
来例を示す要部構成図である。Ａ領域はプラントの各ポ
イントから採取した試料を分析に適したガスに調整する
前処理室，Ｂ領域は前記前処理された試料の一つを選択
するサンプリング部，Ｃ領域は分離カラムや検出器が配
置された恒温槽部である。
来例を示す要部構成図である。Ａ領域はプラントの各ポ
イントから採取した試料を分析に適したガスに調整する
前処理室，Ｂ領域は前記前処理された試料の一つを選択
するサンプリング部，Ｃ領域は分離カラムや検出器が配
置された恒温槽部である。
【０００４】前処理室Ａで処理された試料は複数の配管
１ａ,１ｂ…によりサンプリング部Ｂに送出される。２
ａ，２ｂ…はサンプリング部Ｂ内の配管に設けられた減
圧弁，３ａ，３ｂ…は絞り弁である。４ａ，４ｂ…は所
定の順序に従って開閉されるサンプル弁である。１０
ａ,１０ｂ，１０ｃ…は一端がサンプル弁４ａ，４ｂ…
に接続された第１管路（点線で示す管路)であり，１２
は第１管路１０ａの途中（Ｘ点）で分岐して分離カラム
３０側に接続された第２管路（一点鎖線で示す管路）で
ある。
１ａ,１ｂ…によりサンプリング部Ｂに送出される。２
ａ，２ｂ…はサンプリング部Ｂ内の配管に設けられた減
圧弁，３ａ，３ｂ…は絞り弁である。４ａ，４ｂ…は所
定の順序に従って開閉されるサンプル弁である。１０
ａ,１０ｂ，１０ｃ…は一端がサンプル弁４ａ，４ｂ…
に接続された第１管路（点線で示す管路)であり，１２
は第１管路１０ａの途中（Ｘ点）で分岐して分離カラム
３０側に接続された第２管路（一点鎖線で示す管路）で
ある。
【０００５】１４は第３管路（２点鎖線で示す管路）で
一端がニードル弁５ａ，５ｂ…を介して第１管路１０
ｂ，１０ｃ…の上流側の分岐点（Ｙａ，Ｙｂ…）に接続
され，他端は排出口となっている。６は第１管路１０ａ
の終端付近に設けられた標準ガス供給弁，１５は第１管
路１０ａと第３管路１４を結んで形成された，途中にニ
ードル弁５ｖを有するバイパス管である。
一端がニードル弁５ａ，５ｂ…を介して第１管路１０
ｂ，１０ｃ…の上流側の分岐点（Ｙａ，Ｙｂ…）に接続
され，他端は排出口となっている。６は第１管路１０ａ
の終端付近に設けられた標準ガス供給弁，１５は第１管
路１０ａと第３管路１４を結んで形成された，途中にニ
ードル弁５ｖを有するバイパス管である。
【０００６】上記の構成において，測定モードでも校正
モードでもないときはサンプル弁４ａ，４ｂ…及び標準
ガス供給弁６は閉の状態にあり，前処理室Ａでガス化さ
れた試料は減圧弁２ａ，２ｂ…及び絞り弁３ａ，３ｂ…
を通って前処理室Ａ側に還流されている。次に測定モー
ドとなり例えば配管１ａの試料が選択されたとするとサ
ンプル弁４ａが開になり試料は第１管路１０ｂ及びＹａ
点で分岐してニードル弁５ａを介して第３管路１４に流
れる。
モードでもないときはサンプル弁４ａ，４ｂ…及び標準
ガス供給弁６は閉の状態にあり，前処理室Ａでガス化さ
れた試料は減圧弁２ａ，２ｂ…及び絞り弁３ａ，３ｂ…
を通って前処理室Ａ側に還流されている。次に測定モー
ドとなり例えば配管１ａの試料が選択されたとするとサ
ンプル弁４ａが開になり試料は第１管路１０ｂ及びＹａ
点で分岐してニードル弁５ａを介して第３管路１４に流
れる。
【０００７】また，第１管路１０ｂ→１０ａを通った試
料の一部はＸ点で分岐して第２管路１２を通って分離カ
ラム３０側に流れて成分の分析が行われ，分岐しなかっ
た試料はニードル弁５ｖを有するバイパス管１５を通っ
て第３管路１４の端部から排出される。一方Ｙａ点で第
３管路１４に分岐した試料も第３管路１４の端部から排
出される。
料の一部はＸ点で分岐して第２管路１２を通って分離カ
ラム３０側に流れて成分の分析が行われ，分岐しなかっ
た試料はニードル弁５ｖを有するバイパス管１５を通っ
て第３管路１４の端部から排出される。一方Ｙａ点で第
３管路１４に分岐した試料も第３管路１４の端部から排
出される。
【０００８】次に配管１ｂの試料が選択されるとサンプ
ル弁４ａが閉になると同時にサンプル弁４ｂが開となり
選択された試料は第１管路１０ｃ，第３管路１４に分岐
して流れる。そして，第１管路１０ｃに流れた試料の一
部はＸ点で分岐して第２管路１２を通って分離カラム３
０側に流れて成分の分析が行われ，分岐しなかった試料
はニードル弁５ｖを有するバイパス管１５を通って第３
管路１４の端部から排出される。一方第３管路１４に分
岐した試料も管路の端部から排出される。
ル弁４ａが閉になると同時にサンプル弁４ｂが開となり
選択された試料は第１管路１０ｃ，第３管路１４に分岐
して流れる。そして，第１管路１０ｃに流れた試料の一
部はＸ点で分岐して第２管路１２を通って分離カラム３
０側に流れて成分の分析が行われ，分岐しなかった試料
はニードル弁５ｖを有するバイパス管１５を通って第３
管路１４の端部から排出される。一方第３管路１４に分
岐した試料も管路の端部から排出される。
【０００９】次に校正モードになるとサンプル弁４ｂが
閉となり同時に標準ガス供給弁６が開となる。そして標
準ガス供給手段から標準ガス供給弁６を介して標準ガス
が供給されると，標準ガスは第１管路１０ａに流れると
共にバイパス管１５に設けられたニードル弁５ｖを介し
て第３管路１４から排出される。一方第１管路１０ａ側
に流れた標準ガスは途中（Ｘ点）で分岐して第２管路１
２側を通って分離カラム３０側に流れ標準ガスとして機
能し，分岐しなかったガスはＹａ，Ｙｂ及びニードル弁
５ａ，５ｂを経て第３管路１４に流れて排出口から排出
される。なお，各ニードル弁５ａ，５ｂ…５ｖは校正時
における標準ガスの抜け道として作用するとともに分離
カラム３０に向かう試料の量を調整する調節弁として機
能する。
閉となり同時に標準ガス供給弁６が開となる。そして標
準ガス供給手段から標準ガス供給弁６を介して標準ガス
が供給されると，標準ガスは第１管路１０ａに流れると
共にバイパス管１５に設けられたニードル弁５ｖを介し
て第３管路１４から排出される。一方第１管路１０ａ側
に流れた標準ガスは途中（Ｘ点）で分岐して第２管路１
２側を通って分離カラム３０側に流れ標準ガスとして機
能し，分岐しなかったガスはＹａ，Ｙｂ及びニードル弁
５ａ，５ｂを経て第３管路１４に流れて排出口から排出
される。なお，各ニードル弁５ａ，５ｂ…５ｖは校正時
における標準ガスの抜け道として作用するとともに分離
カラム３０に向かう試料の量を調整する調節弁として機
能する。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところで，上記従来の
ガスクロマトグラフでは校正モード時において標準ガス
がバイパス弁を介して第３管路の排出口側へ分岐するた
め，標準ガスの消費量が多くなるという問題があり，標
準ガスは高価なために不経済であるという問題があっ
た。本発明は上記従来技術の問題を解決するためになさ
れたもので，校正時にバイパス管に流れる標準ガスを少
量とすることにより，ランニングコストの低減及び測定
ガスの残留による測定誤差をなくし，かつ始めに比較的
大流量を流すことにより標準ガス中の吸着性のある成分
の管路吸着に起因する校正誤差を少なくしたガスクロマ
トグラフを提供することを目的とする。
ガスクロマトグラフでは校正モード時において標準ガス
がバイパス弁を介して第３管路の排出口側へ分岐するた
め，標準ガスの消費量が多くなるという問題があり，標
準ガスは高価なために不経済であるという問題があっ
た。本発明は上記従来技術の問題を解決するためになさ
れたもので，校正時にバイパス管に流れる標準ガスを少
量とすることにより，ランニングコストの低減及び測定
ガスの残留による測定誤差をなくし，かつ始めに比較的
大流量を流すことにより標準ガス中の吸着性のある成分
の管路吸着に起因する校正誤差を少なくしたガスクロマ
トグラフを提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する為に
本発明は，試料を分析ユニットで分析し，得られた結果
（クロマトグラム信号）を解析手段により解析して表示
或いは記録するガスクロマトグラフにおいて，複数個所
で採取された試料が複数の配管(1a,1b…)を介して取り
込まれ，選択された一つの前記試料が流れる第１管路(1
0a,10b,10c…)と，該第１管路から分岐して分離カラム
(30)に向かう第２管路(12)と，前記第１管路の端部付近
に設けられた標準ガス供給弁(6)と，前記第２管路の分
岐点より上流側でかつ前記第１管路からニードル弁を介
して分岐する第３管路(14)と，前記第３管路の下流側に
設けられた排ガス弁(17)を有し，測定モードのときは前
記排ガス弁を開として前記選択された試料が前記第１，
第２管路を介して前記分離カラムに向かうようにし，校
正モードのときは始め前記排ガス弁を開として前記標準
ガスを所定時間比較的大きな流量で送出し，所定時間経
過後は前記排ガス弁を閉として前記標準ガスを比較的小
さな流量で送出するようにしたことを特徴とするもので
ある。
本発明は，試料を分析ユニットで分析し，得られた結果
（クロマトグラム信号）を解析手段により解析して表示
或いは記録するガスクロマトグラフにおいて，複数個所
で採取された試料が複数の配管(1a,1b…)を介して取り
込まれ，選択された一つの前記試料が流れる第１管路(1
0a,10b,10c…)と，該第１管路から分岐して分離カラム
(30)に向かう第２管路(12)と，前記第１管路の端部付近
に設けられた標準ガス供給弁(6)と，前記第２管路の分
岐点より上流側でかつ前記第１管路からニードル弁を介
して分岐する第３管路(14)と，前記第３管路の下流側に
設けられた排ガス弁(17)を有し，測定モードのときは前
記排ガス弁を開として前記選択された試料が前記第１，
第２管路を介して前記分離カラムに向かうようにし，校
正モードのときは始め前記排ガス弁を開として前記標準
ガスを所定時間比較的大きな流量で送出し，所定時間経
過後は前記排ガス弁を閉として前記標準ガスを比較的小
さな流量で送出するようにしたことを特徴とするもので
ある。
【００１２】
【作用】校正時始め排ガス弁を開にして所定時間比較的
大きな流量で標準ガスを流すと各管路に滞留していた試
料ガスが排除される。次に排ガス弁を閉にすると比較的
少量の標準ガスが分離カラム側のみに向かって流れる。
大きな流量で標準ガスを流すと各管路に滞留していた試
料ガスが排除される。次に排ガス弁を閉にすると比較的
少量の標準ガスが分離カラム側のみに向かって流れる。
【００１３】
【実施例】図１は本発明によるガスクロマトグラフの一
実施例を示す構成図である。図において第２図との相違
点は第３管路１４の排出口付近に排ガス弁１７を設けた
点である。即ち本発明ではバイパス管１５と第３管路の
接続点（Ｚ点）の下流側（排出口付近）に例えば電磁弁
等の排ガス弁１７を取り付ける。
実施例を示す構成図である。図において第２図との相違
点は第３管路１４の排出口付近に排ガス弁１７を設けた
点である。即ち本発明ではバイパス管１５と第３管路の
接続点（Ｚ点）の下流側（排出口付近）に例えば電磁弁
等の排ガス弁１７を取り付ける。
【００１４】上記の構成において，測定モードにおいて
は排ガス弁１７は開の状態にあり，ガスクロマトグラフ
は従来と全く同一に機能する。そして校正モードにおい
てはサンプル弁４ａ，４ｂ…を閉とし，標準ガス供給弁
６を開として標準ガスを比較的大きな流量で所定時間供
給する。このことにより，第１管路１０ａ，１０ｂ，１
０ｃ，第２管路１２，第３管路１４やバイパス管１５に
滞留していた試料ガスが排除される。
は排ガス弁１７は開の状態にあり，ガスクロマトグラフ
は従来と全く同一に機能する。そして校正モードにおい
てはサンプル弁４ａ，４ｂ…を閉とし，標準ガス供給弁
６を開として標準ガスを比較的大きな流量で所定時間供
給する。このことにより，第１管路１０ａ，１０ｂ，１
０ｃ，第２管路１２，第３管路１４やバイパス管１５に
滞留していた試料ガスが排除される。
【００１５】次に，所定時間経過後排ガス弁１７を閉と
すると標準ガスは排出口へは流れず分離カラム３０側に
のみ流れるようになる。従って，標準ガスは比較的小さ
な流量で送出しても校正動作が十分機能することとな
る。なお，本発明の構成により実験した結果では標準ガ
ス消費量を従来の約１／１０にすることができた。
すると標準ガスは排出口へは流れず分離カラム３０側に
のみ流れるようになる。従って，標準ガスは比較的小さ
な流量で送出しても校正動作が十分機能することとな
る。なお，本発明の構成により実験した結果では標準ガ
ス消費量を従来の約１／１０にすることができた。
【００１６】
【発明の効果】以上実施例とともに具体的に説明した様
に本発明によれば，複数個所で採取された試料が複数の
配管を介して取り込まれ，選択された一つの前記試料が
流れる第１管路と，該第１管路から分岐して分離カラム
に向かう第２管路と，前記第１管路の端部付近に設けら
れた標準ガス供給弁と，前記第２管路の分岐点より上流
側でかつ前記第１管路からニードル弁を介して分岐する
第３管路と，前記第３管路の下流側に設けられた排ガス
弁を有し，測定モードのときは前記排ガス弁を開として
前記選択された試料が前記第１，第２管路を介して前記
分離カラムに向かうようにし，校正モードのときは始め
前記排ガス弁を開として前記標準ガスを所定時間比較的
大きな流量で送出し，所定時間経過後は前記排ガス弁を
閉として前記標準ガスを比較的小さな流量で送出するよ
うにしているので，ランニングコストの低減を図ったガ
スクロマトグラフを実現することができる。
に本発明によれば，複数個所で採取された試料が複数の
配管を介して取り込まれ，選択された一つの前記試料が
流れる第１管路と，該第１管路から分岐して分離カラム
に向かう第２管路と，前記第１管路の端部付近に設けら
れた標準ガス供給弁と，前記第２管路の分岐点より上流
側でかつ前記第１管路からニードル弁を介して分岐する
第３管路と，前記第３管路の下流側に設けられた排ガス
弁を有し，測定モードのときは前記排ガス弁を開として
前記選択された試料が前記第１，第２管路を介して前記
分離カラムに向かうようにし，校正モードのときは始め
前記排ガス弁を開として前記標準ガスを所定時間比較的
大きな流量で送出し，所定時間経過後は前記排ガス弁を
閉として前記標準ガスを比較的小さな流量で送出するよ
うにしているので，ランニングコストの低減を図ったガ
スクロマトグラフを実現することができる。
【図１】本発明の一実施例を示すガスクロマトグラフの
構成図である。
構成図である。
【図２】従来例を示すガスクロマトグラフの構成図であ
る。
る。
１ａ，１ｂ… 複数の配管 ２ａ，２ｂ… 減圧弁 ３ａ，３ｂ… 絞り弁 ４ａ，４ｂ… サンプル弁 ５ａ，５ｂ…，５ｖ ニードル弁 ６ 標準ガス供給弁 １０ａ，１０ｂ，１０ｃ 第１管路 １２ 第２管路 １４ 第３管路 １５ バイパス管 １７ 排ガス弁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 姫野 侑司 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横河 電機株式会社内 (72)発明者 小林 三紀男 東京都武蔵野市中町２丁目９番32号 横河 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】試料を分析ユニットで分析し，得られた結
果（クロマトグラム信号）を解析手段により解析して表
示或いは記録するガスクロマトグラフにおいて，複数個
所で採取された試料が複数の配管(1a,1b…)を介して取
り込まれ，選択された一つの前記試料が流れる第１管路
(10a,10b,10c…)と，該第１管路から分岐して分離カラ
ム(30)に向かう第２管路(12)と，前記第１管路の端部付
近に設けられた標準ガス供給弁(6)と，前記第２管路の
分岐点より上流側でかつ前記第１管路からニードル弁を
介して分岐する第３管路(14)と，前記第３管路の下流側
に設けられた排ガス弁(17)を有し，測定モードのときは
前記排ガス弁を開として前記選択された試料が前記第
１，第２管路を介して前記分離カラムに向かうように
し，校正モードのときは始め前記排ガス弁を開として前
記標準ガスを所定時間比較的大きな流量で送出し，所定
時間経過後は前記排ガス弁を閉として前記標準ガスを比
較的小さな流量で送出するようにしたことを特徴とする
ガスクロマトグラフ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13302894A JPH085619A (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | ガスクロマトグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13302894A JPH085619A (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | ガスクロマトグラフ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085619A true JPH085619A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15095120
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13302894A Withdrawn JPH085619A (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | ガスクロマトグラフ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH085619A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017171331A1 (ko) * | 2016-03-28 | 2017-10-05 | 주식회사 아이센랩 | 교정장치 및 이를 구비한 가스성분 분석장치 |
| JP2023505634A (ja) * | 2019-10-29 | 2023-02-10 | アジレント・テクノロジーズ・インク | ガスサンプル選択器 |
-
1994
- 1994-06-15 JP JP13302894A patent/JPH085619A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017171331A1 (ko) * | 2016-03-28 | 2017-10-05 | 주식회사 아이센랩 | 교정장치 및 이를 구비한 가스성분 분석장치 |
| US10794884B2 (en) | 2016-03-28 | 2020-10-06 | Isenlab Inc. | Calibration device and gas component analyzing apparatus including the same |
| JP2023505634A (ja) * | 2019-10-29 | 2023-02-10 | アジレント・テクノロジーズ・インク | ガスサンプル選択器 |
| JP2025026845A (ja) * | 2019-10-29 | 2025-02-26 | アジレント・テクノロジーズ・インク | ガスサンプル選択器 |
| US12320786B2 (en) | 2019-10-29 | 2025-06-03 | Agilent Technologies, Inc. | Gas sample selector |
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