JPH0867742A - エポキシ樹脂組成物 - Google Patents
エポキシ樹脂組成物Info
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- JPH0867742A JPH0867742A JP6205795A JP20579594A JPH0867742A JP H0867742 A JPH0867742 A JP H0867742A JP 6205795 A JP6205795 A JP 6205795A JP 20579594 A JP20579594 A JP 20579594A JP H0867742 A JPH0867742 A JP H0867742A
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Landscapes
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Epoxy Resins (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 少なくとも2個以上のエポキシ基を有するエ
ポキシ樹脂、少なくとも2個以上の水酸基を有するフェ
ノール樹脂硬化剤、硬化促進剤、無機質充填材及びシラ
ンカップリング剤を必須成分とするエポキシ樹脂組成物
において、総エポキシ樹脂組成物の溶融粘度が70〜1
10℃で、700〜3500ポイズであるインジェクシ
ョン成形用エポキシ樹脂組成物。 【効果】 可塑化溶融状態での熱安定性に優れ、インジ
ェクション成形機のシリンダー内で可塑化溶融樹脂の粘
度上昇が抑えられ、かつ金型内では急速に硬化するため
成形加工性に優れている。又、スプルー・ランナーレス
成形にも極めて適している。
ポキシ樹脂、少なくとも2個以上の水酸基を有するフェ
ノール樹脂硬化剤、硬化促進剤、無機質充填材及びシラ
ンカップリング剤を必須成分とするエポキシ樹脂組成物
において、総エポキシ樹脂組成物の溶融粘度が70〜1
10℃で、700〜3500ポイズであるインジェクシ
ョン成形用エポキシ樹脂組成物。 【効果】 可塑化溶融状態での熱安定性に優れ、インジ
ェクション成形機のシリンダー内で可塑化溶融樹脂の粘
度上昇が抑えられ、かつ金型内では急速に硬化するため
成形加工性に優れている。又、スプルー・ランナーレス
成形にも極めて適している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、成形性、半田耐熱性及
び信頼性に優れ、特にインジェクション成形においてイ
ンジェクション成形機のシリンダー内での熱安定性に優
れた半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関するものであ
る。
び信頼性に優れ、特にインジェクション成形においてイ
ンジェクション成形機のシリンダー内での熱安定性に優
れた半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来より半導体封止用エポキシ樹脂組成
物は、IC、LSI等の半導体素子の封止材料として使
用されている。この樹脂組成物を用いた封止法として
は、低コスト、大量生産に適したトランスファー成形が
採用され、更にトランスファー成形の中でも種々の方式
が開発され、封止材料の開発とあいまって現在に至って
いる。しかしながら、近年半導体用樹脂組成物のインジ
ェクション成形に関する開発が進められている。インジ
ェクション成形の長所は、樹脂組成物をタブレット化
し、1ショツト毎に予熱して成形するトランスファー成
形と異なり、樹脂組成物をそのまま供給することから生
産性の向上が図れる点とカル・ランナー等の産業廃棄物
がスプルー・ランナーレス技術を応用することで大幅に
削減できる点である。この樹脂組成物のトランスファー
成形では、プランジャーを備えたポット部に予備成形し
たタブレット又はパウダーを投入し溶融させ、半導体素
子を載置した成形金型に、プランジャーにて加圧する方
式をとっている。従って樹脂組成物は、成形金型温度1
50〜200℃程度で最適溶融粘度になるように設定さ
れている。このため従来の半導体封止用エポキシ樹脂組
成物を用いてインジェクション成形する場合には流動
性、熱安定性、硬化性を満足させることが極めて困難で
あり、現在迄量産化に至っていないのが現状である。
物は、IC、LSI等の半導体素子の封止材料として使
用されている。この樹脂組成物を用いた封止法として
は、低コスト、大量生産に適したトランスファー成形が
採用され、更にトランスファー成形の中でも種々の方式
が開発され、封止材料の開発とあいまって現在に至って
いる。しかしながら、近年半導体用樹脂組成物のインジ
ェクション成形に関する開発が進められている。インジ
ェクション成形の長所は、樹脂組成物をタブレット化
し、1ショツト毎に予熱して成形するトランスファー成
形と異なり、樹脂組成物をそのまま供給することから生
産性の向上が図れる点とカル・ランナー等の産業廃棄物
がスプルー・ランナーレス技術を応用することで大幅に
削減できる点である。この樹脂組成物のトランスファー
成形では、プランジャーを備えたポット部に予備成形し
たタブレット又はパウダーを投入し溶融させ、半導体素
子を載置した成形金型に、プランジャーにて加圧する方
式をとっている。従って樹脂組成物は、成形金型温度1
50〜200℃程度で最適溶融粘度になるように設定さ
れている。このため従来の半導体封止用エポキシ樹脂組
成物を用いてインジェクション成形する場合には流動
性、熱安定性、硬化性を満足させることが極めて困難で
あり、現在迄量産化に至っていないのが現状である。
【0003】この問題を解決する方法として、樹脂組成
物の流動性を向上させる等の各種の方法が知られている
が、これらの場合可塑化溶融状態での熱安定性を向上さ
せると、金型内での温度150〜200℃における硬化
反応が遅くなり、一方金型内での硬化性を向上させると
インジェクション成形機のシリンダー内の熱安定性が大
幅に劣るようになり、インジェクション成形可能な半導
体封止用エポキシ樹脂組成物を得ることは困難であっ
た。
物の流動性を向上させる等の各種の方法が知られている
が、これらの場合可塑化溶融状態での熱安定性を向上さ
せると、金型内での温度150〜200℃における硬化
反応が遅くなり、一方金型内での硬化性を向上させると
インジェクション成形機のシリンダー内の熱安定性が大
幅に劣るようになり、インジェクション成形可能な半導
体封止用エポキシ樹脂組成物を得ることは困難であっ
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、インジェク
ション成形におけるシリンダー内の可塑化溶融状態での
熱安定性、成形金型内での流動性及び硬化性に優れ、か
つ信頼性に優れ、トランスファー成形なみの低圧成形が
可能であり、更にスプルー・ランナーレスのインジェク
ション成形に適した半導体封止用エポキシ樹脂組成物を
提供するものである。
ション成形におけるシリンダー内の可塑化溶融状態での
熱安定性、成形金型内での流動性及び硬化性に優れ、か
つ信頼性に優れ、トランスファー成形なみの低圧成形が
可能であり、更にスプルー・ランナーレスのインジェク
ション成形に適した半導体封止用エポキシ樹脂組成物を
提供するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、(a)少なく
とも2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂、
(b)少なくとも2個以上の水酸基を有するフェノール
樹脂硬化剤、(c)硬化促進剤、(d)無機質充填材及
び(e)シランカップリング剤を必須成分とするエポキ
シ樹脂組成物において、総エポキシ樹脂組成物の溶融粘
度が70〜110℃で、700〜3500ポイズである
インジェクション成形用エポキシ樹脂組成物である。
とも2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂、
(b)少なくとも2個以上の水酸基を有するフェノール
樹脂硬化剤、(c)硬化促進剤、(d)無機質充填材及
び(e)シランカップリング剤を必須成分とするエポキ
シ樹脂組成物において、総エポキシ樹脂組成物の溶融粘
度が70〜110℃で、700〜3500ポイズである
インジェクション成形用エポキシ樹脂組成物である。
【0006】以下に本発明を詳細に説明する。本発明に
用いられる少なくとも2個以上のエポキシ基を有するエ
ポキシ樹脂は、エポキシ基を有するモノマー、オリゴマ
ー、ポリマー全般を指し、例えばビスフェノールA型エ
ポキシ樹脂、ビフェノール型エポキシ樹脂、オルソクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ナフタリン型エポキ
シ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、ハイド
ロキノン型エポキシ樹脂等が挙げられるが、これらに限
定されるものではなく、またこれらのエポキシ樹脂は単
独もしくは併用しても差し支えない。本発明の樹脂組成
物は、多量の無機質充填材を含み、その配合量により樹
脂組成物の溶融粘度は左右されるが、用いるエポキシ樹
脂としては、175℃での溶融粘度が0.3〜1.5ポ
イズのものが好ましい。樹脂の溶融粘度は、東亜工業
(株)・製 CV−1S型粘度計で測定したものである。
本発明に用いる少なくとも2個以上の水酸基を有するフ
ェノール樹脂硬化剤は、上記エポキシ樹脂と硬化反応を
行い、架橋構造を形成することができるフェノール性水
酸基を有するモノマー、オリゴマー、ポリマー全般を指
し、例えばフェノールノボラック樹脂、パラキシリレン
変性フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ジ
シクロペンタジエン変性フェノール樹脂、ビスフェノー
ルA、トリフェノールメタン等が挙げられ、これらに限
定されるものではない。これらのフェノール樹脂硬化剤
は単独もしくは併用しても差し支えない。用いるフェノ
ール樹脂硬化剤としては、175℃での溶融粘度が0.
9〜6.2ポイズのものが好ましい。この樹脂の溶融粘
度は、エポキシ樹脂と同様に東亜工業(株)・製 CV−
1S型粘度計で測定したものである。エポキシ樹脂のエ
ポキシ基数とフェノール樹脂硬化剤の水酸基数とは、ほ
ぼ当量にするのが好ましい。
用いられる少なくとも2個以上のエポキシ基を有するエ
ポキシ樹脂は、エポキシ基を有するモノマー、オリゴマ
ー、ポリマー全般を指し、例えばビスフェノールA型エ
ポキシ樹脂、ビフェノール型エポキシ樹脂、オルソクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂、ナフタリン型エポキ
シ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、ハイド
ロキノン型エポキシ樹脂等が挙げられるが、これらに限
定されるものではなく、またこれらのエポキシ樹脂は単
独もしくは併用しても差し支えない。本発明の樹脂組成
物は、多量の無機質充填材を含み、その配合量により樹
脂組成物の溶融粘度は左右されるが、用いるエポキシ樹
脂としては、175℃での溶融粘度が0.3〜1.5ポ
イズのものが好ましい。樹脂の溶融粘度は、東亜工業
(株)・製 CV−1S型粘度計で測定したものである。
本発明に用いる少なくとも2個以上の水酸基を有するフ
ェノール樹脂硬化剤は、上記エポキシ樹脂と硬化反応を
行い、架橋構造を形成することができるフェノール性水
酸基を有するモノマー、オリゴマー、ポリマー全般を指
し、例えばフェノールノボラック樹脂、パラキシリレン
変性フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ジ
シクロペンタジエン変性フェノール樹脂、ビスフェノー
ルA、トリフェノールメタン等が挙げられ、これらに限
定されるものではない。これらのフェノール樹脂硬化剤
は単独もしくは併用しても差し支えない。用いるフェノ
ール樹脂硬化剤としては、175℃での溶融粘度が0.
9〜6.2ポイズのものが好ましい。この樹脂の溶融粘
度は、エポキシ樹脂と同様に東亜工業(株)・製 CV−
1S型粘度計で測定したものである。エポキシ樹脂のエ
ポキシ基数とフェノール樹脂硬化剤の水酸基数とは、ほ
ぼ当量にするのが好ましい。
【0007】硬化促進剤は、エポキシ樹脂とフェノール
樹脂硬化剤との架橋反応を促進するものであり、例え
ば、ジアザビシクロウンデセン等のアミン系化合物、ト
リフェニルホスフィン等の有機ホスフィン化合物、2−
メチルイミダゾール等のイミダゾール化合物等が挙げら
れる。これらの硬化促進剤は単独もしくは併用しても差
し支えない。無機質充填材は、溶融シリカ粉末、結晶シ
リカ粉末、アルミナ、窒化珪素等が挙げられる。これら
無機質充填材の配合量は成形性と信頼性とのバランスか
ら総エポキシ樹脂組成物中に70〜90重量%含有する
ことが好ましい。特に無機質充填材量の多い配合では、
球状の溶融シリカを用いることが好ましい。シランカッ
プリング剤としては、例えばγ−グリシドキシプロピル
トリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシ
シラン、γ−メルカプトプロピルメトキシシラン、ビニ
ルトリエトキシシラン等が挙げられるが、これらに限定
されるものでなく、またこれらは単独もしくは併用して
も差し支えない。本発明のエポキシ樹脂組成物は、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂硬化剤、硬化促進剤、無機質
充填材及びシランカップリング剤を必須成分とするが、
これ以外にも必要に応じて臭素化エポキシ樹脂、三酸化
アンチモン等の難燃剤、カーボンブラックに代表される
着色剤、天然ワックス及び合成ワックス等の離型剤、シ
リコーンオイル、シリコーンゴム、合成ゴム等の低応力
添加剤を適宜配合しても差し支えない。成形材料化する
に際しては、加熱ニーダや熱ロールにより全組成物を加
熱混練し、続いて冷却、粉砕することにより目的とする
半導体封止用エポキシ樹脂組成物が得られる。
樹脂硬化剤との架橋反応を促進するものであり、例え
ば、ジアザビシクロウンデセン等のアミン系化合物、ト
リフェニルホスフィン等の有機ホスフィン化合物、2−
メチルイミダゾール等のイミダゾール化合物等が挙げら
れる。これらの硬化促進剤は単独もしくは併用しても差
し支えない。無機質充填材は、溶融シリカ粉末、結晶シ
リカ粉末、アルミナ、窒化珪素等が挙げられる。これら
無機質充填材の配合量は成形性と信頼性とのバランスか
ら総エポキシ樹脂組成物中に70〜90重量%含有する
ことが好ましい。特に無機質充填材量の多い配合では、
球状の溶融シリカを用いることが好ましい。シランカッ
プリング剤としては、例えばγ−グリシドキシプロピル
トリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシ
シラン、γ−メルカプトプロピルメトキシシラン、ビニ
ルトリエトキシシラン等が挙げられるが、これらに限定
されるものでなく、またこれらは単独もしくは併用して
も差し支えない。本発明のエポキシ樹脂組成物は、エポ
キシ樹脂、フェノール樹脂硬化剤、硬化促進剤、無機質
充填材及びシランカップリング剤を必須成分とするが、
これ以外にも必要に応じて臭素化エポキシ樹脂、三酸化
アンチモン等の難燃剤、カーボンブラックに代表される
着色剤、天然ワックス及び合成ワックス等の離型剤、シ
リコーンオイル、シリコーンゴム、合成ゴム等の低応力
添加剤を適宜配合しても差し支えない。成形材料化する
に際しては、加熱ニーダや熱ロールにより全組成物を加
熱混練し、続いて冷却、粉砕することにより目的とする
半導体封止用エポキシ樹脂組成物が得られる。
【0008】本発明の最も重要な点は、インジェクショ
ン成形機のシリンダー内の温度に相当する70〜110
℃で、エポキシ樹脂組成物の溶融粘度が700〜350
0ポイズ、好ましくは80〜90℃で1200〜200
0ポイズであることである。一般に、トランスファー成
形用の半導体封止用エポキシ樹脂組成物は成形金型温度
領域、即ち温度150〜200℃では100〜500ポ
イズの低粘度を有し、200℃以上ではゴム状領域とな
り、150℃以下では半ゲル化状態となっている。従っ
てこの温度領域内での成形圧力は、充填性、信頼性(特
に金線のワイヤースイープ)を考慮し、50〜120k
g/cm2、好ましくは70〜100kg/cm2とされ
ている。
ン成形機のシリンダー内の温度に相当する70〜110
℃で、エポキシ樹脂組成物の溶融粘度が700〜350
0ポイズ、好ましくは80〜90℃で1200〜200
0ポイズであることである。一般に、トランスファー成
形用の半導体封止用エポキシ樹脂組成物は成形金型温度
領域、即ち温度150〜200℃では100〜500ポ
イズの低粘度を有し、200℃以上ではゴム状領域とな
り、150℃以下では半ゲル化状態となっている。従っ
てこの温度領域内での成形圧力は、充填性、信頼性(特
に金線のワイヤースイープ)を考慮し、50〜120k
g/cm2、好ましくは70〜100kg/cm2とされ
ている。
【0009】一方、樹脂組成物を供給、圧縮、溶融させ
るインライン式のインジェクション成形機においては、
シリンダー内の供給側ではパウダー及びペレット状態、
圧縮側ではトランスファー成形におけるタブレット状、
即ち打錠された状態、溶融側では半ゲル化した状態が理
想である。しかし、トランスファー成形と異なる点は、
インジェクション成形機のシリンダー内での滞留及びせ
ん断発熱による熱履歴を受けても硬化反応の進行が著し
く抑制される必要がある。本発明では、この溶融側を温
度70〜110℃で700〜3500ポイズの溶融粘度
にすることにより、インジェクション成形を可能にし、
可塑化溶融状態での熱安定性を向上させ、かつ成形金型
内での流動性を良好としたものである。
るインライン式のインジェクション成形機においては、
シリンダー内の供給側ではパウダー及びペレット状態、
圧縮側ではトランスファー成形におけるタブレット状、
即ち打錠された状態、溶融側では半ゲル化した状態が理
想である。しかし、トランスファー成形と異なる点は、
インジェクション成形機のシリンダー内での滞留及びせ
ん断発熱による熱履歴を受けても硬化反応の進行が著し
く抑制される必要がある。本発明では、この溶融側を温
度70〜110℃で700〜3500ポイズの溶融粘度
にすることにより、インジェクション成形を可能にし、
可塑化溶融状態での熱安定性を向上させ、かつ成形金型
内での流動性を良好としたものである。
【0010】この状態での成形圧力はトランスファー成
形の場合と同等であり、即ち50〜120kg/c
m2、好ましくは70〜100kg/cm2であり、得ら
れた半導体成形物は充填性、信頼性に優れている。シリ
ンダー内の温度が70℃未満では溶融しないため高トル
クとなり成形機を破損することもある。又、温度110
℃を越えると硬化が進み、極端に熱安定性が悪化し連続
成形が不可能となる。好ましい温度は80〜90℃で、
その際の溶融粘度は1200〜2000ポイズである。
シリンダー内の温度に相当する70〜110℃で、エポ
キシ樹脂組成物の溶融粘度が700ポイズ未満だと熱安
定性が悪化し連続成形が不可となり、3500ポイズを
越えると高トルクにより成形機破損等の問題が発生する
可能性がある。各温度域における溶融粘度は樹脂組成物
2.2gを断面直径10mm、高さ15mmの大きさに
成形し、この試料を用いて島津製作所製の高化式フロー
テスター(ノズル0.5mmφ×長さ1mm、荷重20
kg/cm2)により所定温度で測定し評価した。熱安
定性については、インジェクション成形機のシリンダー
内での滞留時間にて評価した。一方信頼性についてはワ
イヤーボンディングした半導体素子組立品を用い、SO
FTEX軟X線装置にて透過し金線のワイヤースイープ
を評価した。
形の場合と同等であり、即ち50〜120kg/c
m2、好ましくは70〜100kg/cm2であり、得ら
れた半導体成形物は充填性、信頼性に優れている。シリ
ンダー内の温度が70℃未満では溶融しないため高トル
クとなり成形機を破損することもある。又、温度110
℃を越えると硬化が進み、極端に熱安定性が悪化し連続
成形が不可能となる。好ましい温度は80〜90℃で、
その際の溶融粘度は1200〜2000ポイズである。
シリンダー内の温度に相当する70〜110℃で、エポ
キシ樹脂組成物の溶融粘度が700ポイズ未満だと熱安
定性が悪化し連続成形が不可となり、3500ポイズを
越えると高トルクにより成形機破損等の問題が発生する
可能性がある。各温度域における溶融粘度は樹脂組成物
2.2gを断面直径10mm、高さ15mmの大きさに
成形し、この試料を用いて島津製作所製の高化式フロー
テスター(ノズル0.5mmφ×長さ1mm、荷重20
kg/cm2)により所定温度で測定し評価した。熱安
定性については、インジェクション成形機のシリンダー
内での滞留時間にて評価した。一方信頼性についてはワ
イヤーボンディングした半導体素子組立品を用い、SO
FTEX軟X線装置にて透過し金線のワイヤースイープ
を評価した。
【0011】以下本発明を実施例で具体的に説明する。
配合量の部は重量部を表す。 実施例1 オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(溶融粘度1.1ポイズ/175 ℃、エポキシ当量200) 150部 フェノールノボラック樹脂硬化剤(溶融粘度3.1ポイズ/175℃、水酸基 当量104) 73部 溶融シリカ(平均粒径23μm) 720部 テトラフェニルホスフォニウム・テトラフェニルボレート 2部 γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン 5部 カルナバワックス 7部 着色剤、低応力等の添加剤 43部 上記各成分を加熱ニーダ、加熱ロールにて混練し半導体
封止用エポキシ樹脂組成物を得た。用いた樹脂の溶融粘
度は、前記した方法に準じて測定した。この材料を用い
て、実インジェクション成形を行い、シリンダー内での
熱安定性、成形金型内での硬化性の評価を行った。信頼
性については実インジェクション成形を行いワイヤース
イープの評価を行い、更に各温度域における溶融粘度を
評価した。これらの評価結果を表1に示す。
配合量の部は重量部を表す。 実施例1 オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(溶融粘度1.1ポイズ/175 ℃、エポキシ当量200) 150部 フェノールノボラック樹脂硬化剤(溶融粘度3.1ポイズ/175℃、水酸基 当量104) 73部 溶融シリカ(平均粒径23μm) 720部 テトラフェニルホスフォニウム・テトラフェニルボレート 2部 γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン 5部 カルナバワックス 7部 着色剤、低応力等の添加剤 43部 上記各成分を加熱ニーダ、加熱ロールにて混練し半導体
封止用エポキシ樹脂組成物を得た。用いた樹脂の溶融粘
度は、前記した方法に準じて測定した。この材料を用い
て、実インジェクション成形を行い、シリンダー内での
熱安定性、成形金型内での硬化性の評価を行った。信頼
性については実インジェクション成形を行いワイヤース
イープの評価を行い、更に各温度域における溶融粘度を
評価した。これらの評価結果を表1に示す。
【0012】測定方法及び評価方法 組成物の溶融粘度:樹脂組成物2.2gを断面直径10
mm、高さ15mmの大きさに成形し、この試料を用い
て島津製作所製の高化式フローテスター(ノズル0.5
mmφ×長さ1mm、荷重20kg/cm2)で金型温
度を70℃から175℃に保ち測定した。 熱安定性:樹脂組成物を35ショット連続インジェクシ
ョン成形し、その後成形機を停止して樹脂組成物をシリ
ンダー内に滞留させる。滞留時間は計量後からインジェ
クション開始までの時間とし、シリンダー温度は80℃
及び90℃で5分から60分まで順次長くしてインジェ
クション成形が可能か否かを判定した。 ○:成形可能、△:成形可能(但し一部未充填)、×:
成形不可 硬化性:シリンダー温度90℃で、金型温度160℃、
175℃の金型に連続インジェクション成形し、金型が
開いてから10秒後の成形品の表面硬度をバコール硬度
計No935にて測定した。 信頼性:ワイヤーボンディング(25μm径、長さ3m
mのセミハード金線)した半導体素子組立品を成形圧力
50kg/cm2より120kg/cm2まで順次高くし
て成形した成形物をSOFTEX軟X線装置((株)ソ
フテックス製)にて透過し金線のワイヤースイープの発
生数を評価した。 実施例2、比較例1、2 表1の配合に従い樹脂組成物を製造し、実施例1と同様
に評価した。評価結果を表1に示す。
mm、高さ15mmの大きさに成形し、この試料を用い
て島津製作所製の高化式フローテスター(ノズル0.5
mmφ×長さ1mm、荷重20kg/cm2)で金型温
度を70℃から175℃に保ち測定した。 熱安定性:樹脂組成物を35ショット連続インジェクシ
ョン成形し、その後成形機を停止して樹脂組成物をシリ
ンダー内に滞留させる。滞留時間は計量後からインジェ
クション開始までの時間とし、シリンダー温度は80℃
及び90℃で5分から60分まで順次長くしてインジェ
クション成形が可能か否かを判定した。 ○:成形可能、△:成形可能(但し一部未充填)、×:
成形不可 硬化性:シリンダー温度90℃で、金型温度160℃、
175℃の金型に連続インジェクション成形し、金型が
開いてから10秒後の成形品の表面硬度をバコール硬度
計No935にて測定した。 信頼性:ワイヤーボンディング(25μm径、長さ3m
mのセミハード金線)した半導体素子組立品を成形圧力
50kg/cm2より120kg/cm2まで順次高くし
て成形した成形物をSOFTEX軟X線装置((株)ソ
フテックス製)にて透過し金線のワイヤースイープの発
生数を評価した。 実施例2、比較例1、2 表1の配合に従い樹脂組成物を製造し、実施例1と同様
に評価した。評価結果を表1に示す。
【0013】
【表1】
【0014】
【発明の効果】本発明によるとインジェクション成形機
のシリンダー内での可塑化溶融状態での熱安定性に優
れ、可塑化溶融樹脂の粘度上昇が抑制され、かつ金型内
では急速に硬化するため成形加工性に優れている。又、
スプルー・ランナーレス成形にも極めて適している。
のシリンダー内での可塑化溶融状態での熱安定性に優
れ、可塑化溶融樹脂の粘度上昇が抑制され、かつ金型内
では急速に硬化するため成形加工性に優れている。又、
スプルー・ランナーレス成形にも極めて適している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/31
Claims (2)
- 【請求項1】 (a)少なくとも2個以上のエポキシ基
を有するエポキシ樹脂、(b)少なくとも2個以上の水
酸基を有するフェノール樹脂硬化剤、(c)硬化促進
剤、(d)無機質充填材及び(e)シランカップリング
剤を必須成分とするエポキシ樹脂組成物において、総エ
ポキシ樹脂組成物の溶融粘度が70〜110℃で、70
0〜3500ポイズであることを特徴とするインジェク
ション成形用エポキシ樹脂組成物。 - 【請求項2】 総エポキシ樹脂組成物の溶融粘度が80
〜90℃で1200〜2000ポイズである請求項1記
載のインジェクション成形用エポキシ樹脂組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6205795A JPH0867742A (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | エポキシ樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6205795A JPH0867742A (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | エポキシ樹脂組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0867742A true JPH0867742A (ja) | 1996-03-12 |
Family
ID=16512817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6205795A Pending JPH0867742A (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | エポキシ樹脂組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0867742A (ja) |
-
1994
- 1994-08-30 JP JP6205795A patent/JPH0867742A/ja active Pending
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