JPH0870142A - 熱電素子 - Google Patents
熱電素子Info
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- JPH0870142A JPH0870142A JP6204887A JP20488794A JPH0870142A JP H0870142 A JPH0870142 A JP H0870142A JP 6204887 A JP6204887 A JP 6204887A JP 20488794 A JP20488794 A JP 20488794A JP H0870142 A JPH0870142 A JP H0870142A
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 熱電素子のπ型構造を改良して平面的な構造
にすることにより、製造容易、強度向上並びに小型化及
び薄型化可能な熱電装置を実現する。 【構成】 基板1の表面上にストライプ状の断熱体2を
埋設し、その上にn型半導体3及びp型半導体4を設置
面に沿って交互に形成する。両半導体間に形成された接
合面Aは断熱体2の直上に配置され、接合面Aに隣接す
る接合面Bの直上には断熱体5が形成される。半導体層
の上方側と基板側とに温度差を付けると隣接する半導体
層間に電位差が発生して電力を取り出すことができ、逆
に半導体層に電流を流すことにより半導体層の上下両側
に温度差を付けることができる。
にすることにより、製造容易、強度向上並びに小型化及
び薄型化可能な熱電装置を実現する。 【構成】 基板1の表面上にストライプ状の断熱体2を
埋設し、その上にn型半導体3及びp型半導体4を設置
面に沿って交互に形成する。両半導体間に形成された接
合面Aは断熱体2の直上に配置され、接合面Aに隣接す
る接合面Bの直上には断熱体5が形成される。半導体層
の上方側と基板側とに温度差を付けると隣接する半導体
層間に電位差が発生して電力を取り出すことができ、逆
に半導体層に電流を流すことにより半導体層の上下両側
に温度差を付けることができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は熱電素子に係り、特に従
来一般に製造されている素子構造を改良した新規の構造
を備えた熱電素子に関する。
来一般に製造されている素子構造を改良した新規の構造
を備えた熱電素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、熱電素子としてはn型半導体とp
型半導体とを一方の電極に対して並列に導電接続し、他
方をそれぞれ異なる電極に導電接続してπ型構造に形成
したπ素子対からなるものが一般的である。このπ素子
対を複数直列に導電接続し、2枚の絶縁性のセラミック
基板等に挟持した板状の熱電装置が構成される。このよ
うな熱電装置は温度差発電や冷却装置等として近年期待
されている。
型半導体とを一方の電極に対して並列に導電接続し、他
方をそれぞれ異なる電極に導電接続してπ型構造に形成
したπ素子対からなるものが一般的である。このπ素子
対を複数直列に導電接続し、2枚の絶縁性のセラミック
基板等に挟持した板状の熱電装置が構成される。このよ
うな熱電装置は温度差発電や冷却装置等として近年期待
されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の熱電装置はn型半導体とp型半導体とをそれぞれ上
下の電極に接合した構造であって、半導体と電極とを所
定の形状に配置して半田付け等により組立てる必要があ
るため、π素子対の組立に手間がかかり、製造コストが
高くなるという問題点がある。また、π素子対は上記の
ように立体構造を備えているため素子強度を高めること
が困難であり、強度の点から使用場所や用途が限られて
しまったり強度を確保するために使用材料が限定されて
しまったりするという欠点がある。さらに、上述のよう
な構造のために装置の小型化及び薄型化に制限があると
いう問題点もある。
来の熱電装置はn型半導体とp型半導体とをそれぞれ上
下の電極に接合した構造であって、半導体と電極とを所
定の形状に配置して半田付け等により組立てる必要があ
るため、π素子対の組立に手間がかかり、製造コストが
高くなるという問題点がある。また、π素子対は上記の
ように立体構造を備えているため素子強度を高めること
が困難であり、強度の点から使用場所や用途が限られて
しまったり強度を確保するために使用材料が限定されて
しまったりするという欠点がある。さらに、上述のよう
な構造のために装置の小型化及び薄型化に制限があると
いう問題点もある。
【0004】そこで本発明は上記各問題点を解決するも
のであり、その課題は、π素子対の構造を改良して新規
の構造にすることにより、製造容易、強度向上並びに小
型化及び薄型化可能な熱電装置を構成することにある。
のであり、その課題は、π素子対の構造を改良して新規
の構造にすることにより、製造容易、強度向上並びに小
型化及び薄型化可能な熱電装置を構成することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明が講じた手段は、熱電特性を呈する組合せに選
定された第1種熱電材料及び第2種熱電材料を設置面に
沿って交互に接合させて配置し、前記第1種熱電材料と
第2種熱電材料との間に交互に形成された第1接合部及
び第2接合部のうち少なくともいずれか一方を前記設置
面の一側に対して他側よりも熱的に強く接続させるもの
である。
に本発明が講じた手段は、熱電特性を呈する組合せに選
定された第1種熱電材料及び第2種熱電材料を設置面に
沿って交互に接合させて配置し、前記第1種熱電材料と
第2種熱電材料との間に交互に形成された第1接合部及
び第2接合部のうち少なくともいずれか一方を前記設置
面の一側に対して他側よりも熱的に強く接続させるもの
である。
【0006】さらに、前記第1接合部を前記設置面の一
側に対して熱的に強く接続し、前記第2接続部を前記設
置面の他側に対して熱的に強く接続することが好まし
い。
側に対して熱的に強く接続し、前記第2接続部を前記設
置面の他側に対して熱的に強く接続することが好まし
い。
【0007】この場合において、前記第1接合部におけ
る前記設置面の一側表面に熱遮断層を部分的に形成する
ことが好ましい。
る前記設置面の一側表面に熱遮断層を部分的に形成する
ことが好ましい。
【0008】或いはまた、前記第2接合部における前記
設置面の一側表面に熱良導体を部分的に接続することが
好ましい。
設置面の一側表面に熱良導体を部分的に接続することが
好ましい。
【0009】そして、前記第1種熱電材料及び第2種熱
電材料は絶縁基板の表面上に形成することが好ましい。
電材料は絶縁基板の表面上に形成することが好ましい。
【0010】また、前記第1導電型熱電材料及び第2導
電型熱電材料からなる機能層の層厚を、1の前記接合部
において厚く、該1の接合部に隣接する前記接合部にお
いて薄くなるように交互に厚さを変化させて形成するこ
とが好ましい。
電型熱電材料からなる機能層の層厚を、1の前記接合部
において厚く、該1の接合部に隣接する前記接合部にお
いて薄くなるように交互に厚さを変化させて形成するこ
とが好ましい。
【0011】さらに、前記第1接合部の近傍にのみ光を
導入するように構成された選択的光導入手段を設けるこ
とが望ましい。
導入するように構成された選択的光導入手段を設けるこ
とが望ましい。
【0012】
【作用】請求項1によれば、設置面に沿って第1種熱電
材料及び第2種熱電材料を交互に接合させて配置するこ
とにより、構造が平面的になるため、製造容易になると
ともに強度を向上させることができ、さらに構造の薄型
化を図ることができる。この場合、第1接合部と第2接
合部のいずれかを設置面の一側に熱的に強く接続させる
ことにより第1接合部と第2接合部との間の温度差を得
ることができるので、温度差に基づく発電、電力に基づ
く冷却等を行う熱電素子として使用することができる。
材料及び第2種熱電材料を交互に接合させて配置するこ
とにより、構造が平面的になるため、製造容易になると
ともに強度を向上させることができ、さらに構造の薄型
化を図ることができる。この場合、第1接合部と第2接
合部のいずれかを設置面の一側に熱的に強く接続させる
ことにより第1接合部と第2接合部との間の温度差を得
ることができるので、温度差に基づく発電、電力に基づ
く冷却等を行う熱電素子として使用することができる。
【0013】請求項2によれば、前記第1接合部を前記
設置面の一側に対して熱的に強く接続し、前記第2接続
部を前記設置面の他側に対して熱的に強く接続すること
により、第1接合部と第2接合部との間の温度差をより
大きくとることができるので熱電効率をさらに高めるこ
とができる。
設置面の一側に対して熱的に強く接続し、前記第2接続
部を前記設置面の他側に対して熱的に強く接続すること
により、第1接合部と第2接合部との間の温度差をより
大きくとることができるので熱電効率をさらに高めるこ
とができる。
【0014】請求項3の熱遮断体又は請求項4の熱良導
体を設けることにより、第1接合部又は第2接合部を設
置面の一側により熱的に強く接続させることができる。
体を設けることにより、第1接合部又は第2接合部を設
置面の一側により熱的に強く接続させることができる。
【0015】請求項5によれば、前記第1種熱電材料及
び第2種熱電材料を絶縁基板の表面上に形成することに
より、製造の容易、強度の向上を図ることができる。
び第2種熱電材料を絶縁基板の表面上に形成することに
より、製造の容易、強度の向上を図ることができる。
【0016】請求項6によれば、第1接合部と第2接合
部の厚さを変化させることにより熱断体や熱良導体を設
けることなく第1接合部と第2接合部との間の温度差を
確保することができるので、製造容易、コストの低減を
図ることができる。
部の厚さを変化させることにより熱断体や熱良導体を設
けることなく第1接合部と第2接合部との間の温度差を
確保することができるので、製造容易、コストの低減を
図ることができる。
【0017】請求項7によれば、選択的光導入手段によ
って第1接合部の近傍にのみ光が照射されるように構成
したことにより、第1接合部のみが光により加熱される
ので第1接合部と第2接合部の間に温度差を発生させる
ことができ、発電素子若しくは光電変換素子として動作
させることができる。
って第1接合部の近傍にのみ光が照射されるように構成
したことにより、第1接合部のみが光により加熱される
ので第1接合部と第2接合部の間に温度差を発生させる
ことができ、発電素子若しくは光電変換素子として動作
させることができる。
【0018】
【実施例】次に図面を参照して本発明に係る実施例を説
明する。
明する。
【0019】〔第1実施例〕図1には本発明に係る第1
実施例の構造を示す。この実施例はアルミナ等からなる
セラミック板で構成された基板1の上に形成した例を示
すものである。この基板1は電気的に絶縁体として見な
され得るものであれば良く、樹脂製のシートでもよい。
基板1の表面上にはエッチング処理等により長溝1aが
形成され、この長溝1aの中に断熱体2が埋設される。
実施例の構造を示す。この実施例はアルミナ等からなる
セラミック板で構成された基板1の上に形成した例を示
すものである。この基板1は電気的に絶縁体として見な
され得るものであれば良く、樹脂製のシートでもよい。
基板1の表面上にはエッチング処理等により長溝1aが
形成され、この長溝1aの中に断熱体2が埋設される。
【0020】この断熱体2は、基板1よりも充分に熱伝
導率の小さい材質、例えば、ウレタン等の樹脂や発泡性
樹脂、ゴム等を印刷又は塗布して形成するか、上記樹脂
で形成された断熱シートや金属箔と樹脂を組み合わせた
積層シート等を貼着して形成される。基板1よりも熱伝
導性の悪いものであればガラス質のものでもよい。断熱
体2の材質は完成された熱電装置の作動温度よりも融点
が充分に低く、動作上問題のないものを選定する必要が
ある。また、後述する半導体層の形成工程において加熱
処理を行う場合には、それらの加熱温度に耐えうるもの
とするべきである。
導率の小さい材質、例えば、ウレタン等の樹脂や発泡性
樹脂、ゴム等を印刷又は塗布して形成するか、上記樹脂
で形成された断熱シートや金属箔と樹脂を組み合わせた
積層シート等を貼着して形成される。基板1よりも熱伝
導性の悪いものであればガラス質のものでもよい。断熱
体2の材質は完成された熱電装置の作動温度よりも融点
が充分に低く、動作上問題のないものを選定する必要が
ある。また、後述する半導体層の形成工程において加熱
処理を行う場合には、それらの加熱温度に耐えうるもの
とするべきである。
【0021】このようにして基板1上に選択的に断熱体
2が形成された上に、n型半導体3及びp型半導体4か
らなる機能層を形成する。この機能層は、例えばBi−
Te系の半導体を使用する場合には、n型半導体3とし
てはさらにSeを混入したもの、p型半導体4としては
Sbを混入したものをそれぞれ溶解後粉砕し、バインダ
を混合してストライプ状に交互にn型半導体3とp型半
導体4が並列配置されるように基板1上に印刷成形す
る。この印刷層は焼結処理により基板1上に固着され
る。ここでn型半導体3とp型半導体4との間の接合部
のうち1つおきに配置された接合部Aは上記断熱体2の
直上にくるように配置される。
2が形成された上に、n型半導体3及びp型半導体4か
らなる機能層を形成する。この機能層は、例えばBi−
Te系の半導体を使用する場合には、n型半導体3とし
てはさらにSeを混入したもの、p型半導体4としては
Sbを混入したものをそれぞれ溶解後粉砕し、バインダ
を混合してストライプ状に交互にn型半導体3とp型半
導体4が並列配置されるように基板1上に印刷成形す
る。この印刷層は焼結処理により基板1上に固着され
る。ここでn型半導体3とp型半導体4との間の接合部
のうち1つおきに配置された接合部Aは上記断熱体2の
直上にくるように配置される。
【0022】最後にn型半導体3及びp型半導体4の上
に断熱体5が印刷により形成される。この断熱体5は上
記断熱体2の直上に配置された接合部Aに隣接した接合
部Bの上に形成され、焼結処理若しくは硬化処理により
固着される。この断熱体5は通常上記断熱体2と同材質
でよいが、必ずしも断熱体2程に熱伝導率が低い必要は
ない。即ち、露出したn型半導体3及びp型半導体4の
表面部分との直接の熱のやりとりよりも断熱体5を介し
てn型半導体3及びp型半導体4に伝達される熱のやり
とりの方が熱伝導性が低くなっていればよい。
に断熱体5が印刷により形成される。この断熱体5は上
記断熱体2の直上に配置された接合部Aに隣接した接合
部Bの上に形成され、焼結処理若しくは硬化処理により
固着される。この断熱体5は通常上記断熱体2と同材質
でよいが、必ずしも断熱体2程に熱伝導率が低い必要は
ない。即ち、露出したn型半導体3及びp型半導体4の
表面部分との直接の熱のやりとりよりも断熱体5を介し
てn型半導体3及びp型半導体4に伝達される熱のやり
とりの方が熱伝導性が低くなっていればよい。
【0023】本実施例では、例えば基板1側を低温部
に、n型半導体3及びp型半導体4の表面側を高温部に
それぞれ接触させることにより、n型半導体3とp型半
導体4との間の接合部が交互に高温と低温になって温度
差が生じる。この温度差はn型半導体3とp型半導体4
との間に電位差を発生させるので、n型半導体3とp型
半導体4の並列部の両端に電極を接合することにより電
流を取り出すことができる。
に、n型半導体3及びp型半導体4の表面側を高温部に
それぞれ接触させることにより、n型半導体3とp型半
導体4との間の接合部が交互に高温と低温になって温度
差が生じる。この温度差はn型半導体3とp型半導体4
との間に電位差を発生させるので、n型半導体3とp型
半導体4の並列部の両端に電極を接合することにより電
流を取り出すことができる。
【0024】一方、本実施例を熱移動素子として使用す
ることも可能であり、n型半導体3とp型半導体4の並
列部の両端に電極を接合して電流を流すことにより、基
板1側とn型半導体3及びp型半導体4の表面側との間
に温度差を生じさせ、例えば冷却素子として使用するこ
とができる。
ることも可能であり、n型半導体3とp型半導体4の並
列部の両端に電極を接合して電流を流すことにより、基
板1側とn型半導体3及びp型半導体4の表面側との間
に温度差を生じさせ、例えば冷却素子として使用するこ
とができる。
【0025】本実施例では印刷成形により半導体層を形
成したが、n型半導体3及びp型半導体4をそれぞれブ
ロック状に成形し、焼結又は硬化処理を施した後、基板
1上に整列させて半田、導電性ペースト等により導電接
続してもよい。この際、基板1と半導体層との間の接続
は接着剤で行ってもよい。
成したが、n型半導体3及びp型半導体4をそれぞれブ
ロック状に成形し、焼結又は硬化処理を施した後、基板
1上に整列させて半田、導電性ペースト等により導電接
続してもよい。この際、基板1と半導体層との間の接続
は接着剤で行ってもよい。
【0026】本実施例はn型半導体3及びp型半導体4
を設置面(上記実施例では基板1の表面に沿った仮想平
面)に沿って交互に並列配置したので、従来のように立
体構造を形成する必要がないため製造工程が簡素化され
るとともに、各半導体及びその接合部A,Bが1つの面
上に配列されているために熱電装置の薄型化を図ること
ができる。また、このような平面的な構造故にその強度
を極めて容易に高めることができる。
を設置面(上記実施例では基板1の表面に沿った仮想平
面)に沿って交互に並列配置したので、従来のように立
体構造を形成する必要がないため製造工程が簡素化され
るとともに、各半導体及びその接合部A,Bが1つの面
上に配列されているために熱電装置の薄型化を図ること
ができる。また、このような平面的な構造故にその強度
を極めて容易に高めることができる。
【0027】〔第2実施例〕図2は本発明に係る第2実
施例の構造を示すものである。この実施例は、薄い基板
6上に第1実施例と同様のn型半導体3及びp型半導体
4並びに断熱体5を形成しているが、断熱体2を基板6
の裏面側に形成している点が異なる。この実施例におい
ても、n型半導体3及びp型半導体4の表面側と基板6
の裏面側とにそれぞれ例えば高温部と低温部を配置する
ことにより、温度差発電装置又は冷却装置として使用す
ることができる。
施例の構造を示すものである。この実施例は、薄い基板
6上に第1実施例と同様のn型半導体3及びp型半導体
4並びに断熱体5を形成しているが、断熱体2を基板6
の裏面側に形成している点が異なる。この実施例におい
ても、n型半導体3及びp型半導体4の表面側と基板6
の裏面側とにそれぞれ例えば高温部と低温部を配置する
ことにより、温度差発電装置又は冷却装置として使用す
ることができる。
【0028】この第2実施例においては、基板6の表裏
にn型半導体3及びp型半導体4と断熱体2を配したの
で、基板表面に溝を形成することなく製造できる点で第
1実施例よりも優れている。ただし、この実施例ではn
型半導体3及びp型半導体4における基板6側の接合部
Aと接合部Bとの間の温度差が上記第1実施例に較べて
得られ難い。これは基板6の厚さを低減することにより
ある程度は解消することができる。
にn型半導体3及びp型半導体4と断熱体2を配したの
で、基板表面に溝を形成することなく製造できる点で第
1実施例よりも優れている。ただし、この実施例ではn
型半導体3及びp型半導体4における基板6側の接合部
Aと接合部Bとの間の温度差が上記第1実施例に較べて
得られ難い。これは基板6の厚さを低減することにより
ある程度は解消することができる。
【0029】〔第3実施例〕図3は本発明に係る第3実
施例の構造を示すものである。この実施例では、基板1
の上にストライプ状の断熱体7を選択的に形成し、断熱
体7の直上部に接合部Aが位置するようにn型半導体3
及びp型半導体4を形成している。その後、接合部Bを
中心とした領域を選択的に除去して、この部分に断熱体
8を選択的に堆積させることにより図3(a)に示す構
造が形成される。
施例の構造を示すものである。この実施例では、基板1
の上にストライプ状の断熱体7を選択的に形成し、断熱
体7の直上部に接合部Aが位置するようにn型半導体3
及びp型半導体4を形成している。その後、接合部Bを
中心とした領域を選択的に除去して、この部分に断熱体
8を選択的に堆積させることにより図3(a)に示す構
造が形成される。
【0030】上記製造工程においては、断熱体7と断熱
体8の形成に際してはフォトリソグラフィー等によるマ
スクを介した蒸着、スパッタリング、ドライエッチング
等の膜形成法を採用することができる。また、n型半導
体3及びp型半導体4の形成に際しては、上記実施例と
同様の印刷法の他に、蒸着、スパッタリング等の膜形成
法、エッチング、不純物拡散等を組合せた方法で形成す
ることができる。
体8の形成に際してはフォトリソグラフィー等によるマ
スクを介した蒸着、スパッタリング、ドライエッチング
等の膜形成法を採用することができる。また、n型半導
体3及びp型半導体4の形成に際しては、上記実施例と
同様の印刷法の他に、蒸着、スパッタリング等の膜形成
法、エッチング、不純物拡散等を組合せた方法で形成す
ることができる。
【0031】図3(b)に示す構造は第3実施例の変形
例を拡大して示すものである。この構造は、断熱体9,
10の厚さを接合部A,Bの部分で最も厚く、接合部
A,Bから離れるに従って薄く形成したものである。こ
のような断熱体9,10の形状により、接合部A,Bに
おける熱伝導性の偏り(即ち、接合部Aでは半導体層の
上面側に熱伝導し易く、接合部Bでは半導体層の下面側
に熱伝導し易い)を効率良く作り出すことができる。
例を拡大して示すものである。この構造は、断熱体9,
10の厚さを接合部A,Bの部分で最も厚く、接合部
A,Bから離れるに従って薄く形成したものである。こ
のような断熱体9,10の形状により、接合部A,Bに
おける熱伝導性の偏り(即ち、接合部Aでは半導体層の
上面側に熱伝導し易く、接合部Bでは半導体層の下面側
に熱伝導し易い)を効率良く作り出すことができる。
【0032】〔第4実施例〕図4には本発明に係る第4
実施例の構造を示す。この構造は、基板1の上にn型半
導体3及びp型半導体4を断熱体を介することなく形成
し、接合部Bの直上部に断熱体5を選択的に形成したも
のである。この実施例は第1実施例から断熱体2を省略
した形状になっているため、製造工程が簡素化され、製
造コストを低減することができる。一方、断熱体2を省
略することにより接合部Bにおける熱効率は多少低下す
るが、ある程度熱伝導性の低い基板材料を用いることに
より接合部Aと接合部Bの間の温度差を維持することが
できる。
実施例の構造を示す。この構造は、基板1の上にn型半
導体3及びp型半導体4を断熱体を介することなく形成
し、接合部Bの直上部に断熱体5を選択的に形成したも
のである。この実施例は第1実施例から断熱体2を省略
した形状になっているため、製造工程が簡素化され、製
造コストを低減することができる。一方、断熱体2を省
略することにより接合部Bにおける熱効率は多少低下す
るが、ある程度熱伝導性の低い基板材料を用いることに
より接合部Aと接合部Bの間の温度差を維持することが
できる。
【0033】この実施例では、接合部Aと接合部Bとの
間に充分な温度差を形成するため、吸熱体12を接合部
Aの上に取付けることもできる。この吸熱体12は、複
数のフィン12aを接合部Aの直上から上方へ向けて突
出させており、上方空間と接合部Aとの間の熱伝導性を
高めることにより、接合部Aと接合部Bとの間に充分な
温度差が生じるように構成されている。なお、図4には
図示の都合上吸熱体12を一つのみ描いているが、実際
には接合部Aの上に一つずつ形成されるものである。こ
の構造では、断熱体5のみを形成する場合、吸熱体12
のみを形成する場合でも充分な効果が得られる。また、
基板1内に侵入するように形成されたフィンを備える吸
熱体を形成しても同様の効果を奏することは明らかであ
る。
間に充分な温度差を形成するため、吸熱体12を接合部
Aの上に取付けることもできる。この吸熱体12は、複
数のフィン12aを接合部Aの直上から上方へ向けて突
出させており、上方空間と接合部Aとの間の熱伝導性を
高めることにより、接合部Aと接合部Bとの間に充分な
温度差が生じるように構成されている。なお、図4には
図示の都合上吸熱体12を一つのみ描いているが、実際
には接合部Aの上に一つずつ形成されるものである。こ
の構造では、断熱体5のみを形成する場合、吸熱体12
のみを形成する場合でも充分な効果が得られる。また、
基板1内に侵入するように形成されたフィンを備える吸
熱体を形成しても同様の効果を奏することは明らかであ
る。
【0034】〔第5実施例〕図5には本発明に係る第5
実施例の構造を示す。この構造は、基板1の上にn型半
導体13とp型半導体14とを形成したものである。こ
こで、n型半導体13とp型半導体14とは、接合部a
を中心として厚く、接合部bを中心として薄く形成され
ており、このような厚さ分布が交互に繰り返されて表面
が波状になっている。この実施例のn型半導体13及び
p型半導体14は、基板上に形成されたn型半導体及び
p型半導体の層をフォトリソグラフィーにより周期的に
エッチングで除去することにより形成される。
実施例の構造を示す。この構造は、基板1の上にn型半
導体13とp型半導体14とを形成したものである。こ
こで、n型半導体13とp型半導体14とは、接合部a
を中心として厚く、接合部bを中心として薄く形成され
ており、このような厚さ分布が交互に繰り返されて表面
が波状になっている。この実施例のn型半導体13及び
p型半導体14は、基板上に形成されたn型半導体及び
p型半導体の層をフォトリソグラフィーにより周期的に
エッチングで除去することにより形成される。
【0035】この実施例では、接合部に断熱体や吸熱体
を形成していないものの、層厚の大きい接合部aの部分
が半導体層の上方領域に対して熱伝導性が良好で、層厚
の小さい接合部bの部分の熱伝導性は劣るため、接合部
aと接合部bとの間に充分な温度差を確保することがで
きる。この実施例は半導体層以外の構造を必要としない
ので製造コストを低減することができるとともに、さら
なる薄型化を図ることができる。
を形成していないものの、層厚の大きい接合部aの部分
が半導体層の上方領域に対して熱伝導性が良好で、層厚
の小さい接合部bの部分の熱伝導性は劣るため、接合部
aと接合部bとの間に充分な温度差を確保することがで
きる。この実施例は半導体層以外の構造を必要としない
ので製造コストを低減することができるとともに、さら
なる薄型化を図ることができる。
【0036】〔第6実施例〕図6は上記第4実施例にお
ける吸熱体12と同様に外部の熱を接合部に導入し易く
するための構造を備えた本発明に係る第6実施例を示す
ものである。この実施例では、基板1の表面側に第1実
施例と同様の断熱体2を形成し、この上にn型半導体3
及びp型半導体4を形成したものである。ただし、これ
ら半導体層の上には断熱体を形成する代わりに遮光板1
5が配置されている。この遮光板15は、下方の半導体
層の形成周期と同周期で形成された光窓15aを備えて
いる。この光窓15aは接合部Bの直上に配置され、遮
光板15の上方から照射される加熱光Cを透過させて接
合部Bに加熱光Cが照射されるように構成されている。
この実施例は光による加熱により発電する装置を構成す
るものであり、外部から照射された加熱光Cを直接接合
部B上に選択的に照射することにより、光窓15aの下
にある接合部Bと、遮光板15により遮光された接合部
Aとの間に温度差が生じ、半導体層の両端に起電力が発
生する。この実施例においては、平面的に配列された半
導体層により光を面で受けることができ、効率的な光電
変換を行うことができるとともに、装置の薄型化を図る
ことができる。ここで、上記加熱光Cとしては赤外光、
可視光その他を問わず、いかなる波長域の光であっても
照射により熱を発生しうるものであればよい。
ける吸熱体12と同様に外部の熱を接合部に導入し易く
するための構造を備えた本発明に係る第6実施例を示す
ものである。この実施例では、基板1の表面側に第1実
施例と同様の断熱体2を形成し、この上にn型半導体3
及びp型半導体4を形成したものである。ただし、これ
ら半導体層の上には断熱体を形成する代わりに遮光板1
5が配置されている。この遮光板15は、下方の半導体
層の形成周期と同周期で形成された光窓15aを備えて
いる。この光窓15aは接合部Bの直上に配置され、遮
光板15の上方から照射される加熱光Cを透過させて接
合部Bに加熱光Cが照射されるように構成されている。
この実施例は光による加熱により発電する装置を構成す
るものであり、外部から照射された加熱光Cを直接接合
部B上に選択的に照射することにより、光窓15aの下
にある接合部Bと、遮光板15により遮光された接合部
Aとの間に温度差が生じ、半導体層の両端に起電力が発
生する。この実施例においては、平面的に配列された半
導体層により光を面で受けることができ、効率的な光電
変換を行うことができるとともに、装置の薄型化を図る
ことができる。ここで、上記加熱光Cとしては赤外光、
可視光その他を問わず、いかなる波長域の光であっても
照射により熱を発生しうるものであればよい。
【0037】図7は上記各実施例における設置面が円筒
面になるように構成した例を示すものである。図7
(a)は基板、半導体層、断熱体からなる円筒体16の
両端面に環状電極17,18を形成したものを示す。半
導体層は、円筒体16の周面においてそれぞれ環状に形
成され、円筒体16の軸線方向に交互にn型層、p型層
が配置されるように構成されている。一方、図7(b)
には円筒体19の軸線回りに交互にn型層、p型層が配
置されるように構成された半導体層を備え、周面の一部
に絶縁層20を介して電極21,22が形成された構成
例を示す。
面になるように構成した例を示すものである。図7
(a)は基板、半導体層、断熱体からなる円筒体16の
両端面に環状電極17,18を形成したものを示す。半
導体層は、円筒体16の周面においてそれぞれ環状に形
成され、円筒体16の軸線方向に交互にn型層、p型層
が配置されるように構成されている。一方、図7(b)
には円筒体19の軸線回りに交互にn型層、p型層が配
置されるように構成された半導体層を備え、周面の一部
に絶縁層20を介して電極21,22が形成された構成
例を示す。
【0038】上記のように半導体層、断熱体、吸熱体等
が配列される設置面は、上記各実施例のように平面であ
る必要はなく、任意の曲面に構成することができる。ま
た、設置面内における半導体層の配列は上記各例のよう
に必ずしもストライプ状に並列させる必要はなく、例え
ば直線状、チドリ状、モザイク状に配列されていてもよ
い。また、熱電材料としては、上記材料の他に各種半導
体を使用でき、さらに半導体以外の異種金属の組合せを
採用することも可能である。
が配列される設置面は、上記各実施例のように平面であ
る必要はなく、任意の曲面に構成することができる。ま
た、設置面内における半導体層の配列は上記各例のよう
に必ずしもストライプ状に並列させる必要はなく、例え
ば直線状、チドリ状、モザイク状に配列されていてもよ
い。また、熱電材料としては、上記材料の他に各種半導
体を使用でき、さらに半導体以外の異種金属の組合せを
採用することも可能である。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば以下
の効果を奏する。
の効果を奏する。
【0040】請求項1によれば、設置面に沿って第1種
熱電材料及び第2種熱電材料を交互に接合させて配置す
ることにより、構造が平面的になるため、製造容易にな
るとともに強度を向上させることができ、さらに構造の
薄型化を図ることができる。この場合、第1接合部と第
2接合部のいずれかを設置面の一側に熱的に強く接続さ
せることにより第1接合部と第2接合部との間の温度差
を得ることができるので、温度差に基づく発電、電力に
基づく冷却等を行う熱電素子として使用することができ
る。
熱電材料及び第2種熱電材料を交互に接合させて配置す
ることにより、構造が平面的になるため、製造容易にな
るとともに強度を向上させることができ、さらに構造の
薄型化を図ることができる。この場合、第1接合部と第
2接合部のいずれかを設置面の一側に熱的に強く接続さ
せることにより第1接合部と第2接合部との間の温度差
を得ることができるので、温度差に基づく発電、電力に
基づく冷却等を行う熱電素子として使用することができ
る。
【0041】請求項2によれば、前記第1接合部を前記
設置面の一側に対して熱的に強く接続し、前記第2接続
部を前記設置面の他側に対して熱的に強く接続すること
により、第1接合部と第2接合部との間の温度差をより
大きくとることができるので熱電効率をさらに高めるこ
とができる。
設置面の一側に対して熱的に強く接続し、前記第2接続
部を前記設置面の他側に対して熱的に強く接続すること
により、第1接合部と第2接合部との間の温度差をより
大きくとることができるので熱電効率をさらに高めるこ
とができる。
【0042】請求項3の熱遮断体又は請求項4の熱良導
体を設けることにより、第1接合部又は第2接合部を設
置面の一側により熱的に強く接続させることができる。
体を設けることにより、第1接合部又は第2接合部を設
置面の一側により熱的に強く接続させることができる。
【0043】請求項5によれば、前記第1種熱電材料及
び第2種熱電材料を絶縁基板の表面上に形成することに
より、製造の容易、強度の向上を図ることができる。
び第2種熱電材料を絶縁基板の表面上に形成することに
より、製造の容易、強度の向上を図ることができる。
【0044】請求項6によれば、第1接合部と第2接合
部の厚さを変化させることにより熱断体や熱良導体を設
けることなく第1接合部と第2接合部との間の温度差を
確保することができるので、製造容易、コストの低減を
図ることができる。
部の厚さを変化させることにより熱断体や熱良導体を設
けることなく第1接合部と第2接合部との間の温度差を
確保することができるので、製造容易、コストの低減を
図ることができる。
【0045】請求項7によれば、選択的光導入手段によ
って第1接合部の近傍にのみ光が照射されるように構成
したことにより、第1接合部のみが光により加熱される
ので第1接合部と第2接合部の間に温度差を発生させる
ことができ、発電素子若しくは光電変換素子として動作
させることができる。
って第1接合部の近傍にのみ光が照射されるように構成
したことにより、第1接合部のみが光により加熱される
ので第1接合部と第2接合部の間に温度差を発生させる
ことができ、発電素子若しくは光電変換素子として動作
させることができる。
【図1】本発明に係る第1実施例の構造を示す縦断面図
である。
である。
【図2】本発明に係る第2実施例の構造を示す縦断面図
である。
である。
【図3】本発明に係る第3実施例の構造を示す縦断面図
(a)及びその変形例を示す拡大断面図(b)である。
(a)及びその変形例を示す拡大断面図(b)である。
【図4】本発明に係る第4実施例の構造を示す縦断面図
である。
である。
【図5】本発明に係る第5実施例の構造を示す縦断面図
である。
である。
【図6】本発明に係る第6実施例の構造を示す縦断面図
である。
である。
【図7】上記各実施例に適用できる特殊構造を示す斜視
図(a)及び(b)である。
図(a)及び(b)である。
1,6 基板 2,5,7,8,9,10 断熱体 3,13 n型半導体 4,14 p型半導体 12 吸熱体 15 遮光板 15a 光窓
Claims (7)
- 【請求項1】 熱電特性を呈する組合せに選定された第
1種熱電材料及び第2種熱電材料を設置面に沿って交互
に接合させて配置し、前記第1種熱電材料と第2種熱電
材料との間に交互に形成された第1接合部及び第2接合
部のうち少なくともいずれか一方を前記設置面の一側に
対して他側よりも熱的に強く接続させたことを特徴とす
る熱電素子。 - 【請求項2】 請求項1において、前記第1接合部は前
記設置面の一側に対して熱的に強く接続され、前記第2
接続部は前記設置面の他側に対して熱的に強く接続され
ていることを特徴とする熱電素子。 - 【請求項3】 請求項1において、前記第1接合部にお
ける前記設置面の一側表面には熱遮断体が部分的に形成
されていることを特徴とする熱電素子。 - 【請求項4】 請求項1において、前記第2接合部にお
ける前記設置面の一側表面には熱良導体が部分的に接続
されていることを特徴とする熱電素子。 - 【請求項5】 請求項1において、前記第1種熱電材料
及び第2種熱電材料は絶縁基板の表面上に形成されてい
ることを特徴とする熱電素子。 - 【請求項6】 請求項1において、前記第1導電型熱電
材料及び第2導電型熱電材料からなる機能層の層厚を、
1の前記接合部において厚く、該1の接合部に隣接する
前記接合部において薄くなるように交互に厚さを変化さ
せて形成したことを特徴とする熱電素子。 - 【請求項7】 請求項1において、前記第1接合部の近
傍にのみ光を導入するように構成された選択的光導入手
段を備えたことを特徴とする熱電素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6204887A JPH0870142A (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | 熱電素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6204887A JPH0870142A (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | 熱電素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0870142A true JPH0870142A (ja) | 1996-03-12 |
Family
ID=16498047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6204887A Pending JPH0870142A (ja) | 1994-08-30 | 1994-08-30 | 熱電素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0870142A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006004060A1 (ja) * | 2004-07-01 | 2006-01-12 | Aruze Corp. | 熱電変換モジュール |
| JP2008060488A (ja) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Kansai Paint Co Ltd | 片面電極型熱電変換モジュール |
| JP2009224634A (ja) * | 2008-03-18 | 2009-10-01 | Oki Denki Bosai Kk | 熱電変換温度センサおよびその製造方法 |
| JP2013062370A (ja) * | 2011-09-13 | 2013-04-04 | Daikin Ind Ltd | 平面型薄膜熱電モジュール |
| WO2015046253A1 (ja) * | 2013-09-25 | 2015-04-02 | リンテック株式会社 | 熱伝導性接着シート、その製造方法及びそれを用いた電子デバイス |
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| JP2019091825A (ja) * | 2017-11-15 | 2019-06-13 | 古河電気工業株式会社 | 熱電変換素子、熱電変換モジュール、及び移動体 |
| WO2024203843A1 (ja) * | 2023-03-27 | 2024-10-03 | 三菱マテリアル株式会社 | 熱電素子 |
-
1994
- 1994-08-30 JP JP6204887A patent/JPH0870142A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN105531837A (zh) * | 2013-09-25 | 2016-04-27 | 琳得科株式会社 | 导热性粘接片、其制造方法以及使用该导热性粘接片的电子器件 |
| JPWO2015046254A1 (ja) * | 2013-09-25 | 2017-03-09 | リンテック株式会社 | 熱伝導性接着シート、その製造方法及びそれを用いた電子デバイス |
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| CN105531837B (zh) * | 2013-09-25 | 2018-08-24 | 琳得科株式会社 | 导热性粘接片、其制造方法以及使用该导热性粘接片的电子器件 |
| JP2019091825A (ja) * | 2017-11-15 | 2019-06-13 | 古河電気工業株式会社 | 熱電変換素子、熱電変換モジュール、及び移動体 |
| WO2024203843A1 (ja) * | 2023-03-27 | 2024-10-03 | 三菱マテリアル株式会社 | 熱電素子 |
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