JPH087223A - 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘッド及びその製造方法Info
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- JPH087223A JPH087223A JP16282294A JP16282294A JPH087223A JP H087223 A JPH087223 A JP H087223A JP 16282294 A JP16282294 A JP 16282294A JP 16282294 A JP16282294 A JP 16282294A JP H087223 A JPH087223 A JP H087223A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 238000005339 levitation Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 薄膜磁気ヘッドの磁極層に物理的加工を施さ
ないで、アンダーシュート及びサイドフリンジング磁界
の発生を防止する。 【構成】 上部磁極層6と下部磁極層2の媒体対向面の
一部分の磁気特性が、媒体対向面から所定深さ(L)だ
け劣化した磁気劣化部分20,60を有する薄膜磁気ヘ
ッド。
ないで、アンダーシュート及びサイドフリンジング磁界
の発生を防止する。 【構成】 上部磁極層6と下部磁極層2の媒体対向面の
一部分の磁気特性が、媒体対向面から所定深さ(L)だ
け劣化した磁気劣化部分20,60を有する薄膜磁気ヘ
ッド。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板上に下部磁極層、
ギャップ層及び上部磁極層が形成された薄膜磁気ヘッド
及びその製造方法に関する。
ギャップ層及び上部磁極層が形成された薄膜磁気ヘッド
及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の薄膜磁気ヘッドは、基板上に形成
された下部磁極層と、下部磁極層の上に形成されたギャ
ップ層と、ギャップ層の上に形成された上部磁極層とを
有する。ここで、従来の薄膜磁気ヘッドの再生波形
(a)(磁気記録媒体に記録した1ショットの信号を再
生した孤立再生波形)と磁極層の構成(b)を図5に示
す。図5に示すように、再生波形は、上部磁極層50
a,下部磁極層50bの端縁に対応する位置で、疑似波
形であるアンダーシュートA,Bが生じている。アンダ
ーシュートA,Bは、薄膜磁気ヘッドに特有の構造に起
因して発生する。即ち、薄膜磁気ヘッドにおいては、バ
ルク型磁気ヘッド等と異なって、媒体走査方向aでみた
上部磁極層50a,下部磁極層50bの端部の厚みが薄
く有限であるため、ギャップ膜による本来の変換ギャッ
プ磁束の他に、上部磁極層50a、下部磁極層50bの
各端部X,Yによる疑似ギャップ磁束Fx,Fyが発生
するためである。アンダーシュートA,Bの存在は、高
記録密度の場合、ピークシフトが大きくなるため、読み
出しのエラーマージンもしくは位相マージンに限界が生
じ、高密度記録の障害となる。また、従来の薄膜磁気ヘ
ッドでは、製造及び構造上の制約等から媒体対向面にお
ける媒体走査方向aと垂直方向の幅は、上部磁極層50
aの方が下部磁極層50bよりも小さく形成されてい
る。このような構成だと、記録時にギャップで生じる本
来の磁界に加えて、上部磁極層50aの側部からも磁界
(サイドフリンジング磁界)Fsが発生する。サイドフ
リンジング磁界Fsが発生すると再生波形に乱れが生
じ、パルスの振幅を変化させたりパルス位置を変化させ
たりして、エラーレートの悪化をもたらす。これに関連
する技術として、例えば、特開平4−13209号、特
開平5−189720号、特開平6−36236号等が
ある。
された下部磁極層と、下部磁極層の上に形成されたギャ
ップ層と、ギャップ層の上に形成された上部磁極層とを
有する。ここで、従来の薄膜磁気ヘッドの再生波形
(a)(磁気記録媒体に記録した1ショットの信号を再
生した孤立再生波形)と磁極層の構成(b)を図5に示
す。図5に示すように、再生波形は、上部磁極層50
a,下部磁極層50bの端縁に対応する位置で、疑似波
形であるアンダーシュートA,Bが生じている。アンダ
ーシュートA,Bは、薄膜磁気ヘッドに特有の構造に起
因して発生する。即ち、薄膜磁気ヘッドにおいては、バ
ルク型磁気ヘッド等と異なって、媒体走査方向aでみた
上部磁極層50a,下部磁極層50bの端部の厚みが薄
く有限であるため、ギャップ膜による本来の変換ギャッ
プ磁束の他に、上部磁極層50a、下部磁極層50bの
各端部X,Yによる疑似ギャップ磁束Fx,Fyが発生
するためである。アンダーシュートA,Bの存在は、高
記録密度の場合、ピークシフトが大きくなるため、読み
出しのエラーマージンもしくは位相マージンに限界が生
じ、高密度記録の障害となる。また、従来の薄膜磁気ヘ
ッドでは、製造及び構造上の制約等から媒体対向面にお
ける媒体走査方向aと垂直方向の幅は、上部磁極層50
aの方が下部磁極層50bよりも小さく形成されてい
る。このような構成だと、記録時にギャップで生じる本
来の磁界に加えて、上部磁極層50aの側部からも磁界
(サイドフリンジング磁界)Fsが発生する。サイドフ
リンジング磁界Fsが発生すると再生波形に乱れが生
じ、パルスの振幅を変化させたりパルス位置を変化させ
たりして、エラーレートの悪化をもたらす。これに関連
する技術として、例えば、特開平4−13209号、特
開平5−189720号、特開平6−36236号等が
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
薄膜磁気ヘッドにおいては、製法及び構造上の制約か
ら、アンダーシュート及びサイドフリンジング磁界が発
生する。ノイズあるいはエラーレートの悪化を防止する
ためには、このアンダーシュートとサイドフリンジング
磁界の発生を共に防止する必要がある。まず、アンダー
シュートを防止するためには、磁極層の幅(媒体走査方
向)を磁極層全体にわたって異ならしめればよい。つま
り、媒体対向面における磁極層の外周輪郭線をギャップ
層と非平行にすればよい。一方、サイドフリンジング磁
界の発生を防止するためには、媒体対向面における媒体
走査方向と垂直方向の幅を、上部磁極層と下部磁極層と
で等しくなるようにすればよい。このように、アンダー
シュート及びサイドフリンジング磁界の発生を防止する
には、磁極層の幅を全体にわたって異ならしめると共
に、媒体走査方向と垂直方向の幅を、上部磁極層と下部
磁極層とで等しくすればよいことになる。この場合、薄
膜以外の磁気ヘッド(バルク型磁気ヘッド等)では、磁
極層の幅(媒体走査方向)が薄膜磁気ヘッドに比べて数
10倍以上もあるため、機械加工等により磁極層を上記
形状に加工することは容易であり、上述のような問題を
特に考慮する必要はない。しかし、薄膜磁気ヘッドの場
合には、フォトリソグラフィ技術や、スパッタリング技
術等で上記形状を実現することは困難な場合が多いが、
上記形状を実現する一つの方法として、例えは、イオン
ミリングを利用することが考えられる。このイオンミリ
ングを利用した微細加工方法を図4により説明する。
(a)は加工処理前であり、(b)は加工処理後であ
る。まず、図4(a)に示すように、媒体対向面側(摺
動面側)から、上部磁極層40aと下部磁極層40bの
一部分と摺動面に所定形状のレジスト40cを形成す
る。その後、媒体対向面側から全体にイオンミリングを
行う。この結果、レジスト40cがマスクとして機能
し、レジスト40cが塗布された部分以外の部分が0.
5〜1μm程度削られる。この結果、上部磁極層40
a,下部磁極層40bが図4(b)に示すような形状に
物理的に加工される。しかし、このような方法では、媒
体対向面に0.5〜1μm程度の凹部40dが形成され
るため、浮上特性が不安定となると共に、ゴミ等のまき
込みが生じてしまい好ましくない。さらに、イオンミリ
ングで凹部40dを形成する時に、削られたものが周囲
に付着してしまうため、最後にラッピング処理等を施さ
なければならず余分のプロセスが必要になる。また、コ
ア部である磁極層(40a,40b)の周辺が凹こんだ
形状になるため、ラッピング時に磁極層(40a,40
b)が媒体対向面より凹んでしまうおそれもある。この
ような理由で、薄膜磁気ヘッドにおいて、歩留り等を低
下させないで上記形状を物理的加工により高精度で実現
することは困難である。
薄膜磁気ヘッドにおいては、製法及び構造上の制約か
ら、アンダーシュート及びサイドフリンジング磁界が発
生する。ノイズあるいはエラーレートの悪化を防止する
ためには、このアンダーシュートとサイドフリンジング
磁界の発生を共に防止する必要がある。まず、アンダー
シュートを防止するためには、磁極層の幅(媒体走査方
向)を磁極層全体にわたって異ならしめればよい。つま
り、媒体対向面における磁極層の外周輪郭線をギャップ
層と非平行にすればよい。一方、サイドフリンジング磁
界の発生を防止するためには、媒体対向面における媒体
走査方向と垂直方向の幅を、上部磁極層と下部磁極層と
で等しくなるようにすればよい。このように、アンダー
シュート及びサイドフリンジング磁界の発生を防止する
には、磁極層の幅を全体にわたって異ならしめると共
に、媒体走査方向と垂直方向の幅を、上部磁極層と下部
磁極層とで等しくすればよいことになる。この場合、薄
膜以外の磁気ヘッド(バルク型磁気ヘッド等)では、磁
極層の幅(媒体走査方向)が薄膜磁気ヘッドに比べて数
10倍以上もあるため、機械加工等により磁極層を上記
形状に加工することは容易であり、上述のような問題を
特に考慮する必要はない。しかし、薄膜磁気ヘッドの場
合には、フォトリソグラフィ技術や、スパッタリング技
術等で上記形状を実現することは困難な場合が多いが、
上記形状を実現する一つの方法として、例えは、イオン
ミリングを利用することが考えられる。このイオンミリ
ングを利用した微細加工方法を図4により説明する。
(a)は加工処理前であり、(b)は加工処理後であ
る。まず、図4(a)に示すように、媒体対向面側(摺
動面側)から、上部磁極層40aと下部磁極層40bの
一部分と摺動面に所定形状のレジスト40cを形成す
る。その後、媒体対向面側から全体にイオンミリングを
行う。この結果、レジスト40cがマスクとして機能
し、レジスト40cが塗布された部分以外の部分が0.
5〜1μm程度削られる。この結果、上部磁極層40
a,下部磁極層40bが図4(b)に示すような形状に
物理的に加工される。しかし、このような方法では、媒
体対向面に0.5〜1μm程度の凹部40dが形成され
るため、浮上特性が不安定となると共に、ゴミ等のまき
込みが生じてしまい好ましくない。さらに、イオンミリ
ングで凹部40dを形成する時に、削られたものが周囲
に付着してしまうため、最後にラッピング処理等を施さ
なければならず余分のプロセスが必要になる。また、コ
ア部である磁極層(40a,40b)の周辺が凹こんだ
形状になるため、ラッピング時に磁極層(40a,40
b)が媒体対向面より凹んでしまうおそれもある。この
ような理由で、薄膜磁気ヘッドにおいて、歩留り等を低
下させないで上記形状を物理的加工により高精度で実現
することは困難である。
【0004】そこで、本発明では、前記従来技術の問題
点に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、
磁極層に物理的加工を施さないで、アンダーシュート及
びサイドフリンジング磁界の発生を防止することにあ
る。
点に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、
磁極層に物理的加工を施さないで、アンダーシュート及
びサイドフリンジング磁界の発生を防止することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の薄膜磁気ヘッドでは、基板上に形成された
下部磁極層と、下部磁極層の上に形成されたギャップ層
と、ギャップ層の上に形成された上部磁極層とを有し、
かつ媒体対向面における媒体走査方向と垂直方向の幅
が、上部磁極層の方が下部磁極層よりも小さい薄膜磁気
ヘッドにおいて、上部磁極層と下部磁極層の媒体対向面
の一部分の磁気特性が、媒体対向面から所定深さだけ劣
化した磁気劣化部分を有する。前記磁気劣化部分の媒体
対向面からの深さは、1μm以下であることが好まし
い。また、前記下部磁極層の磁気劣化部分以外の部分の
ギャップ層側の幅(媒体走査方向と垂直方向)は、トラ
ック幅とほぼ等しい。また、前記磁気劣化部分の媒体対
向面における内周輪郭線は、ギャップ層と非平行であ
る。また、本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法では、基
板上に下部磁極層を形成し、下部磁極層の上にギッャプ
層を形成し、ギャップ層の上に上部磁極層を、媒体対向
面における媒体走査方向と垂直方向の幅が下部磁極層よ
りも小さくなるように形成する薄膜磁気ヘッドの製造方
法において、媒体対向面から、所定形状のマスクを介し
て不純物をイオン注入法によって所定深さまで注入する
ことにより、上部磁極層と下部磁極層の媒体対向面の一
部の磁気特性を媒体対向面から所定深さだけ劣化させ
る。そして、前記マスクの形状を変化させることによ
り、トラック幅を可変に設定可能にした。さらに、本発
明の他の薄膜磁気ヘッドの製造方法では、基板上に下部
磁極層を形成し、下部磁極層の上にギッャプ層を形成
し、ギャップ層の上に上部磁極層を、媒体対向面におけ
る媒体走査方向と垂直方向の幅が下部磁極層よりも小さ
くなるように形成する薄膜磁気ヘッドの製造方法におい
て、下部磁極層と上部磁極層の媒体対向面の一部分に不
純物層を積層し、その後、熱拡散法により不純物を媒体
対向面から所定深さまで拡散させることにより、上部磁
極層と下部磁極層の媒体対向面の一部の磁気特性を媒体
対向面から所定深さだけ劣化させる。そして、前記不純
物層の形状を変化させることにより、トラック幅を可変
に設定可能にした。
に、本発明の薄膜磁気ヘッドでは、基板上に形成された
下部磁極層と、下部磁極層の上に形成されたギャップ層
と、ギャップ層の上に形成された上部磁極層とを有し、
かつ媒体対向面における媒体走査方向と垂直方向の幅
が、上部磁極層の方が下部磁極層よりも小さい薄膜磁気
ヘッドにおいて、上部磁極層と下部磁極層の媒体対向面
の一部分の磁気特性が、媒体対向面から所定深さだけ劣
化した磁気劣化部分を有する。前記磁気劣化部分の媒体
対向面からの深さは、1μm以下であることが好まし
い。また、前記下部磁極層の磁気劣化部分以外の部分の
ギャップ層側の幅(媒体走査方向と垂直方向)は、トラ
ック幅とほぼ等しい。また、前記磁気劣化部分の媒体対
向面における内周輪郭線は、ギャップ層と非平行であ
る。また、本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法では、基
板上に下部磁極層を形成し、下部磁極層の上にギッャプ
層を形成し、ギャップ層の上に上部磁極層を、媒体対向
面における媒体走査方向と垂直方向の幅が下部磁極層よ
りも小さくなるように形成する薄膜磁気ヘッドの製造方
法において、媒体対向面から、所定形状のマスクを介し
て不純物をイオン注入法によって所定深さまで注入する
ことにより、上部磁極層と下部磁極層の媒体対向面の一
部の磁気特性を媒体対向面から所定深さだけ劣化させ
る。そして、前記マスクの形状を変化させることによ
り、トラック幅を可変に設定可能にした。さらに、本発
明の他の薄膜磁気ヘッドの製造方法では、基板上に下部
磁極層を形成し、下部磁極層の上にギッャプ層を形成
し、ギャップ層の上に上部磁極層を、媒体対向面におけ
る媒体走査方向と垂直方向の幅が下部磁極層よりも小さ
くなるように形成する薄膜磁気ヘッドの製造方法におい
て、下部磁極層と上部磁極層の媒体対向面の一部分に不
純物層を積層し、その後、熱拡散法により不純物を媒体
対向面から所定深さまで拡散させることにより、上部磁
極層と下部磁極層の媒体対向面の一部の磁気特性を媒体
対向面から所定深さだけ劣化させる。そして、前記不純
物層の形状を変化させることにより、トラック幅を可変
に設定可能にした。
【0006】
【作用】上記本発明では、上部磁極層及び下部磁極層の
媒体対向面の一部分の磁気特性を、媒体対向面から所定
深さだけ劣化させることにより、アンダーシュート及び
サイドフリンジング磁界を防止可能な形状を磁気的に実
現した。つまり、上記形状をイオンミリング等による物
理的加工で実現するのではなく、磁極層の一部の磁気的
性質を劣化させることにより疑似的に実現するのであ
る。このようにすれば、物理的加工(例えば、磁極層を
イオンミリングにより削る)に起因して生じる浮上特性
の不安定性、歩留りの低下、加工精度の低下等を防止し
つつ、アンダーシュート及びサイドフリンジング磁界の
発生を効果的に防止できる。この磁気劣化部分の媒体対
向面からの深さは、1μm以下であることが好ましい。
また、下部磁極層の磁気劣化部分以外の部分のギャップ
層側の幅(媒体走査方向と垂直方向)は、トラック幅と
ほぼ等しい。このようにすることにより、磁極層に物理
的加工を施さないでサイドフリンジング磁界の発生を防
止することが可能になる。また、磁気劣化部分の媒体対
向面における内周輪郭線は、媒体走査方向と非平行であ
る。このようにすることにより、磁極層に物理的加工を
施さないでアンダーシュートの発生を防止することが可
能になる。磁気劣化部分を形成するには、媒体対向面か
ら、所定形状のマスクを介して不純物をイオン注入法に
よって所定深さまで注入する。あるいは、媒体対向面か
ら磁極層の一部分に不純物層を積層し、その後、熱拡散
法により不純物を媒体対向面から所定深さまで拡散させ
てもよい。その際、マスクの形状あるいは不純物層の形
状を変化させることにより、トラック幅を可変に設定す
ることも可能である。
媒体対向面の一部分の磁気特性を、媒体対向面から所定
深さだけ劣化させることにより、アンダーシュート及び
サイドフリンジング磁界を防止可能な形状を磁気的に実
現した。つまり、上記形状をイオンミリング等による物
理的加工で実現するのではなく、磁極層の一部の磁気的
性質を劣化させることにより疑似的に実現するのであ
る。このようにすれば、物理的加工(例えば、磁極層を
イオンミリングにより削る)に起因して生じる浮上特性
の不安定性、歩留りの低下、加工精度の低下等を防止し
つつ、アンダーシュート及びサイドフリンジング磁界の
発生を効果的に防止できる。この磁気劣化部分の媒体対
向面からの深さは、1μm以下であることが好ましい。
また、下部磁極層の磁気劣化部分以外の部分のギャップ
層側の幅(媒体走査方向と垂直方向)は、トラック幅と
ほぼ等しい。このようにすることにより、磁極層に物理
的加工を施さないでサイドフリンジング磁界の発生を防
止することが可能になる。また、磁気劣化部分の媒体対
向面における内周輪郭線は、媒体走査方向と非平行であ
る。このようにすることにより、磁極層に物理的加工を
施さないでアンダーシュートの発生を防止することが可
能になる。磁気劣化部分を形成するには、媒体対向面か
ら、所定形状のマスクを介して不純物をイオン注入法に
よって所定深さまで注入する。あるいは、媒体対向面か
ら磁極層の一部分に不純物層を積層し、その後、熱拡散
法により不純物を媒体対向面から所定深さまで拡散させ
てもよい。その際、マスクの形状あるいは不純物層の形
状を変化させることにより、トラック幅を可変に設定す
ることも可能である。
【0007】
【実施例】本発明の実施例を図により説明する。まず、
本発明の薄膜磁気ヘッドの物理的構造を図2に示す。図
2(a)は、要部断面図であり、図2(b)は媒体対向
面側から見た拡大図である。基板1上には、下部磁極層
2が形成されており、この下部磁極層2の上にギャップ
層3が形成されている。そして、このギャップ層3の上
に絶縁層4を介してコイル層5が形成されている。さら
に、このコイル層5の上に上部磁極層6が形成されてい
る。
本発明の薄膜磁気ヘッドの物理的構造を図2に示す。図
2(a)は、要部断面図であり、図2(b)は媒体対向
面側から見た拡大図である。基板1上には、下部磁極層
2が形成されており、この下部磁極層2の上にギャップ
層3が形成されている。そして、このギャップ層3の上
に絶縁層4を介してコイル層5が形成されている。さら
に、このコイル層5の上に上部磁極層6が形成されてい
る。
【0008】下部磁極層2及び上部磁極層6の先端部
は、ギャップ層3を隔てて対向するボール部2a,6a
となっており、このボール部2a,6aにおいて、磁気
記録媒体に対する読み書きを行う。上部磁極層6はボー
ル部6aとは反対側の後方領域において、結合部7によ
って下部磁極層2と結合されている。コイル層5は結合
部7を渦巻状に回るように形成されている。
は、ギャップ層3を隔てて対向するボール部2a,6a
となっており、このボール部2a,6aにおいて、磁気
記録媒体に対する読み書きを行う。上部磁極層6はボー
ル部6aとは反対側の後方領域において、結合部7によ
って下部磁極層2と結合されている。コイル層5は結合
部7を渦巻状に回るように形成されている。
【0009】ボール部2a,6aは、媒体走査方向aで
見た厚みが実質的に一定であって、両者の間にギャップ
層3を直線的に配置した構造になっている。そして、媒
体対向面における媒体走査方向aと垂直方向の幅は、上
部磁極層6の方が下部磁極層2よりも小さく形成されて
いる。
見た厚みが実質的に一定であって、両者の間にギャップ
層3を直線的に配置した構造になっている。そして、媒
体対向面における媒体走査方向aと垂直方向の幅は、上
部磁極層6の方が下部磁極層2よりも小さく形成されて
いる。
【0010】本発明では、図1に示すように、下部磁極
層2及び上部磁極層6の媒体対向面の一部分の磁気特性
を、媒体対向面から所定深さ(L)だけ劣化させること
により、磁気劣化部分20,60を形成した。このよう
な磁気劣化部分20,60を形成することにより、アン
ダーシュート及びサイドフリンジング磁界の発生を防止
する。つまり、本発明では、アンダーシュート及びサイ
ドフリンジング磁界の発生を防止するための形状を、図
4に示すように、イオンミリング等による物理的加工で
実現するのではなく、磁極層2,6の一部の磁気的性質
を劣化させることにより疑似的に実現するのである。
層2及び上部磁極層6の媒体対向面の一部分の磁気特性
を、媒体対向面から所定深さ(L)だけ劣化させること
により、磁気劣化部分20,60を形成した。このよう
な磁気劣化部分20,60を形成することにより、アン
ダーシュート及びサイドフリンジング磁界の発生を防止
する。つまり、本発明では、アンダーシュート及びサイ
ドフリンジング磁界の発生を防止するための形状を、図
4に示すように、イオンミリング等による物理的加工で
実現するのではなく、磁極層2,6の一部の磁気的性質
を劣化させることにより疑似的に実現するのである。
【0011】具体的には、下部磁極層2の磁気劣化部分
20以外の部分20aのギャップ層3側の幅L1(媒体
走査方向aと垂直方向)は、トラック幅(Tw)とほぼ
等しく形成されている。このようにすれば、磁気劣化部
分20から磁界が発生することはないので、下部磁極層
2及び上部磁極層6に物理的加工を施さないでもサイド
フリンジング磁界(図5(b)参照)の発生を防止する
ことができる。
20以外の部分20aのギャップ層3側の幅L1(媒体
走査方向aと垂直方向)は、トラック幅(Tw)とほぼ
等しく形成されている。このようにすれば、磁気劣化部
分20から磁界が発生することはないので、下部磁極層
2及び上部磁極層6に物理的加工を施さないでもサイド
フリンジング磁界(図5(b)参照)の発生を防止する
ことができる。
【0012】さらに、磁気劣化部分20,60の媒体対
向面における内周輪郭線20b,60bは、ギャップ層
3と非平行に形成されている。つまり、下部磁極層2、
上部磁極層6の媒体走査方向aに対する幅を磁極層全体
にわたって異ならしめるようにする。このようにするこ
とにより、下部磁極層2及び上部磁極層6に物理的加工
を施さないでもアンダーシュート(図5(a)参照)の
発生を防止することができる。ここで、上記磁気劣化部
分20,60の媒体対向面からの深さ(L)は、1μm
以下であることが好ましい。
向面における内周輪郭線20b,60bは、ギャップ層
3と非平行に形成されている。つまり、下部磁極層2、
上部磁極層6の媒体走査方向aに対する幅を磁極層全体
にわたって異ならしめるようにする。このようにするこ
とにより、下部磁極層2及び上部磁極層6に物理的加工
を施さないでもアンダーシュート(図5(a)参照)の
発生を防止することができる。ここで、上記磁気劣化部
分20,60の媒体対向面からの深さ(L)は、1μm
以下であることが好ましい。
【0013】次に、本発明の薄膜磁気ヘッドの製造方法
を説明する。磁気劣化部分20,60を形成するには、
図3(a)に示すように、媒体対向面から、所定形状の
マスク8を介して不純物をイオン注入法によって所定深
さまで注入する。具体的には、イオン注入法によって、
クロム(Cr)、ニオブ(Nb)、ジルコニウム(Z
r)などの金属イオンを不純物として注入する。このと
き、不純物の注入量などの条件を適当に選定し、磁極層
2,6の組成を変えて飽和磁束密度を低下させてもよい
し、磁極層2,6の結晶性を変えて透磁率を低下させて
もよい。
を説明する。磁気劣化部分20,60を形成するには、
図3(a)に示すように、媒体対向面から、所定形状の
マスク8を介して不純物をイオン注入法によって所定深
さまで注入する。具体的には、イオン注入法によって、
クロム(Cr)、ニオブ(Nb)、ジルコニウム(Z
r)などの金属イオンを不純物として注入する。このと
き、不純物の注入量などの条件を適当に選定し、磁極層
2,6の組成を変えて飽和磁束密度を低下させてもよい
し、磁極層2,6の結晶性を変えて透磁率を低下させて
もよい。
【0014】また、上記イオン注入法に代えて熱拡散法
によって磁気劣化部分20,60を形成してもよい。こ
の場合は、図3(b)に示すように、下部磁極層2及び
上部磁極層6の媒体対向面の一部分にクロム層等の不純
物層9を積層し、その後、加熱して不純物を媒体対向面
から所定深さまで拡散させる。不純物を拡散させた後、
媒体対向面の表面粗さが粗い場合、ラッピング等による
機械加工を施しても良い。この際、マスク8(図3
(a))の形状あるいは不純物層9(図3(b))の形
状を変化させることにより、トラック幅Twを可変に設
定することもできる。また、マスク8の形状は、図3
(a)に示した楕円形以外にも、台形あるいは三角形等
の他の形状を適宜採用可能である。
によって磁気劣化部分20,60を形成してもよい。こ
の場合は、図3(b)に示すように、下部磁極層2及び
上部磁極層6の媒体対向面の一部分にクロム層等の不純
物層9を積層し、その後、加熱して不純物を媒体対向面
から所定深さまで拡散させる。不純物を拡散させた後、
媒体対向面の表面粗さが粗い場合、ラッピング等による
機械加工を施しても良い。この際、マスク8(図3
(a))の形状あるいは不純物層9(図3(b))の形
状を変化させることにより、トラック幅Twを可変に設
定することもできる。また、マスク8の形状は、図3
(a)に示した楕円形以外にも、台形あるいは三角形等
の他の形状を適宜採用可能である。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば、磁極層の媒体対向面の
一部分の磁気特性を、媒体対向面から所定深さだけ劣化
させることにより、磁極層に物理的加工を施さないでア
ンダーシュート及びサイドフリンジング磁界の発生を防
止することができる。
一部分の磁気特性を、媒体対向面から所定深さだけ劣化
させることにより、磁極層に物理的加工を施さないでア
ンダーシュート及びサイドフリンジング磁界の発生を防
止することができる。
【図1】本発明の薄膜磁気ヘッドの磁極層の磁気劣化部
分の磁気的形状を示す図である。
分の磁気的形状を示す図である。
【図2】本発明の薄膜磁気ヘッドの物理的構造を示す図
であり、(a)は要部断面図であり、(b)は媒体対向
面側から見た拡大図である。
であり、(a)は要部断面図であり、(b)は媒体対向
面側から見た拡大図である。
【図3】薄膜磁気ヘッドの製造方法を説明する図であ
り、(a)はイオン注入法による場合、(b)は熱拡散
法による場合をそれぞれ示す。
り、(a)はイオン注入法による場合、(b)は熱拡散
法による場合をそれぞれ示す。
【図4】薄膜磁気ヘッドの製造方法を示す比較例であ
る。
る。
【図5】(a)は従来の薄膜磁気ヘッドの再生波形を示
す図であり、(b)は従来の薄膜磁気ヘッドの磁極層の
構成を示す図である。
す図であり、(b)は従来の薄膜磁気ヘッドの磁極層の
構成を示す図である。
1 基板 2 下部磁極層 3 ギャップ層 6 上部磁極層 8 マスク 9 不純物層 20,60 磁気劣化部分
Claims (8)
- 【請求項1】基板上に形成された下部磁極層と、下部磁
極層の上に形成されたギャップ層と、ギャップ層の上に
形成された上部磁極層とを有し、かつ媒体対向面におけ
る媒体走査方向と垂直方向の幅が、上部磁極層の方が下
部磁極層よりも小さい薄膜磁気ヘッドにおいて、上部磁
極層と下部磁極層の媒体対向面の一部分の磁気特性が、
媒体対向面から所定深さだけ劣化した磁気劣化部分を有
することを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項2】前記磁気劣化部分の媒体対向面からの深さ
は、1μm以下であること特徴とする請求項1に記載の
薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項3】前記下部磁極層の磁気劣化部分以外の部分
のギャップ層側の幅(媒体走査方向と垂直方向)は、ト
ラック幅とほぼ等しいことを特徴とする請求項1に記載
の薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項4】前記磁気劣化部分の媒体対向面における内
周輪郭線は、ギャップ層と非平行であることを特徴とす
る請求項1に記載の薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項5】基板上に下部磁極層を形成し、下部磁極層
の上にギャップ層を形成し、ギャップ層の上に上部磁極
層を、媒体対向面における媒体走査方向と垂直方向の幅
が下部磁極層よりも小さくなるように形成する薄膜磁気
ヘッドの製造方法において、媒体対向面から、所定形状
のマスクを介して不純物をイオン注入法によって所定深
さまで注入することにより、上部磁極層と下部磁極層の
媒体対向面の一部の磁気特性を媒体対向面から所定深さ
だけ劣化させることを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造
方法。 - 【請求項6】前記マスクの形状を変化させることによ
り、トラック幅を可変に設定可能にしたことを特徴とす
る請求項5に記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項7】基板上に下部磁極層を形成し、下部磁極層
の上にギャップ層を形成し、ギャップ層の上に上部磁極
層を、媒体対向面における媒体走査方向と垂直方向の幅
が下部磁極層よりも小さくなるように形成する薄膜磁気
ヘッドの製造方法において、下部磁極層と上部磁極層の
媒体対向面の一部分に不純物層を積層し、その後、熱拡
散法により不純物を媒体対向面から所定深さまで拡散さ
せることにより、上部磁極層と下部磁極層の媒体対向面
の一部の磁気特性を媒体対向面から所定深さだけ劣化さ
せることを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項8】前記不純物層の形状を変化させることによ
り、トラック幅を可変に設定可能にしたことを特徴とす
る請求項7に記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16282294A JPH087223A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16282294A JPH087223A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH087223A true JPH087223A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15761895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16282294A Pending JPH087223A (ja) | 1994-06-21 | 1994-06-21 | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087223A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100408403B1 (ko) * | 2000-04-10 | 2003-12-06 | 삼성전자주식회사 | 수직 자기 기록 방법 및 장치 |
| JP2012108971A (ja) * | 2010-11-16 | 2012-06-07 | Hitachi Ltd | マイクロ波アシスト磁気記録用スピントルクオシレータ |
| JP2013175250A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-05 | Hitachi Ltd | 磁気ヘッド及びその製造方法、及び磁気記録再生装置 |
| US8757753B2 (en) | 2008-12-19 | 2014-06-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Printing apparatus and printing method |
-
1994
- 1994-06-21 JP JP16282294A patent/JPH087223A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100408403B1 (ko) * | 2000-04-10 | 2003-12-06 | 삼성전자주식회사 | 수직 자기 기록 방법 및 장치 |
| US8757753B2 (en) | 2008-12-19 | 2014-06-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Printing apparatus and printing method |
| JP2012108971A (ja) * | 2010-11-16 | 2012-06-07 | Hitachi Ltd | マイクロ波アシスト磁気記録用スピントルクオシレータ |
| US8773822B2 (en) | 2010-11-16 | 2014-07-08 | Hitachi, Ltd. | Spin-torque oscillator for microwave assisted magnetic recording |
| JP2013175250A (ja) * | 2012-02-23 | 2013-09-05 | Hitachi Ltd | 磁気ヘッド及びその製造方法、及び磁気記録再生装置 |
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