JPH0877247A - 生産効率評価方法とその装置、及びこの方法で設計した生産ライン - Google Patents

生産効率評価方法とその装置、及びこの方法で設計した生産ライン

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JPH0877247A
JPH0877247A JP21514694A JP21514694A JPH0877247A JP H0877247 A JPH0877247 A JP H0877247A JP 21514694 A JP21514694 A JP 21514694A JP 21514694 A JP21514694 A JP 21514694A JP H0877247 A JPH0877247 A JP H0877247A
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JP
Japan
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equipment
production efficiency
production
capacity
target
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JP21514694A
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English (en)
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Takashi Kubota
岳志 窪田
Kazuhiko Maeda
和彦 前田
Sadao Shimosha
貞夫 下社
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
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    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

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  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
  • General Factory Administration (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 生産ラインの設計にかかわり、生産ライン設
計時に生産効率を計算でき、設備構成を変更させて生産
効率を向上できる装置に関するものである。具体的に
は、半導体生産ラインを構築することにおいて、生産効
率が最も良くなるように設備構成を修正させる。 【構成】 入力装置(1)から入力された設備データか
ら設備能力を計算する設備能力計算装置と、目標生産枚
数等を入力する入力装置(2)と各設備形式毎に設備能
力(総能力)を大きい順に並べて表示・比較し、能力ネ
ック設備を把握できる設備能力比較装置と、設備能力と
目標生産枚数から生産効率を計算し、能力ネック設備の
処理形態を変更する等の対策をし、設備構成を変更して
生産効率を再計算することができる計算装置を有するこ
とに特徴を持っている生産効率評価装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、生産ラインの設計にか
かわり、生産ライン設計時に生産効率を計算でき、設備
構成を変更させて生産効率を向上できる装置に関するも
のである。具体的には、半導体生産ラインを構築するこ
とにおいて、作業工程(以下工程と略す)内の作業の特
徴、例えば当該工程にある製造設備の処理時間、処理形
態(バッチ処理、分割バッチ処理、ロット処理等)、製
造条件、処理単位、段取り、保全の内容・タイミング等
を変更し、生産効率が最も良くなるように設備構成を修
正させる。
【0002】
【従来の技術】今まで、生産ラインの設計方法に関する
特許としては、特開平5−108667「設備計画支援
装置」に記載の装置がある。この装置には、以下のよう
な機能をそなえている。 (1)設備計画時に複数の目標を行う上で効果的な改造
新構築を得るために評価できる装置。 (2)設備計画の代替え案を定性的な評価項目を定量的
にした値と、定量的評価項目を考慮して評価でき、簡便
にかつ短時間に処理できる装置。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術は、仕掛り削減、作業者数削減、リードタイムの
短縮の定量的評価だけを考慮して、生産効率を考慮して
いない点に以下の問題点がある。 (1)生産ラインを設計するときの評価項目が多すぎ
て、ユーザ側の判断が難しい。 (2)複数の計画をユーザが考える場合、各評価項目に
対し重み付けを考慮するために、ユーザが入力するデー
タが多くユーザの負担が多くなりすぎる。
【0004】本発明の目的は、以下の機能を提供するこ
とにある。 (1)工程毎、さらには製造設備毎に異なる作業の特徴
を考慮した設備構成で生産効率を対話的に向上させるこ
とができる。 (2)設備の情報をもとに生産効率を自動的によくでき
るようにユーザに生産効率を向上させるための対策を与
えることができる。 (3)ラインの規模に応じて生産効率が80%〜90%
になるラインを構成することができる。 (4)生産効率という評価項目で生産ラインを評価して
おり、それにより従来よりも生産ラインの設計が容易に
なっている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の生産効率評価装
置は、基本的な手段として、生産設備に関するデータを
入力する第1の入力装置と、第1の入力装置からの設備
データに基づいて設備能力を計算する設備能力計算装置
と、設備の形式毎に設備能力を比較する設備能力比較装
置と、目標生産量を入力する第2の入力装置と、生産効
率を計算し、問題設備を抽出することにより設備構成を
修正できる計算装置とを備える。
【0006】
【作用】半導体製造設備の特徴、例えば、設備の処理形
態(バッチ処理、分割バッチ処理、ロット処理等)、製
造条件、処理単位、段取り、保全の内容・タイミング等
を人手で入力する。入力されたデータで設備能力を計算
し、総能力を比較する。また、設備能力を計算した結果
を計算装置へ送り、投資額から設備を選択し、選択され
た設備の設備能力と目標生産枚数から図8の手順を使っ
て生産効率を計算する。また、生産効率評価装置では、
各設備形式の設備能力データを記憶しているため、設備
形式別のデータを生産効率評価装置で検索し、表示でき
る。さらに、設備能力データを利用することにより、生
産効率評価装置で設備形式毎に総能力の高い順に表示で
きる。これにより、ユーザは生産効率が悪い設備を一目
で判断でき、設備構成が容易に変更することができる。
生産効率評価装置に、設備能力データを表示する手段を
備えることにより、ラインを構築する前に設備能力デー
タを把握・比較でき、設備構成を変更させ生産効率を向
上させることができる。また、設備毎の総能力を比較す
ることにより、問題設備を重点的に改造・修正を行うこ
とができ、生産効率が最も良い生産ラインを設計でき
る。
【0007】
【実施例】以下、図に基づいて本発明の実施例を説明す
る。第1図は、本発明の生産効率評価装置1の1実施例
である。生産効率評価装置は、第1の入力装置1と、設
備能力計算装置2と、設備能力比較装置3と、第2の入
力装置4と、計算装置5から成り立っている。第1の入
力装置1から入力された設備形式別の処理時間、製造条
件、準備段取り時間・頻度、故障率、設備の形態から、
設備能力計算装置1で稼働率、設備能力を計算する。ま
た、設備形式別の設備能力データが設備能力計算装置か
ら設備能力比較装置3に送られ、設備形式別に設備能力
データを比較できる。生産ライン計画である目標生産枚
数と投資金額を第2の入力装置4で入力する。計算装置
5は、投資金額により設備形式を選択し、選択された設
備の能力と目標生産枚数から生産効率を計算する機能6
を有する。そして、問題設備を抽出する機能7と、設備
構成を修正する機能8を備え、機能6で生産効率を再計
算する。
【0008】次に、第2図では、計算部で生産効率の計
算手順を説明する。ステップS11で、設備能力計算装
置から基本条件(価格、設備能力)にあう設備形式を選
択する。ステップS12で、その設備形式の設備能力、
生産ラインの作業順序と目標生産枚数から、各設備の台
数と目標タクトタイムを計算する。次にステップS13
で生産効率を計算し、ステップS14で生産効率を評価
することにより、ステップS15で生産効率が80%以
上になっているかを判定する。もしなっていればステッ
プS19で評価結果を出力し終了する。もしなっていな
ければ、ステップS16で問題設備を摘出する。ステッ
プS17でこの問題設備に対して対応策を検討し、人が
判断し検討した対応策を入力する。ステップS18で設
備の構成を変更し、ステップS12に戻る。
【0009】例えば、複数の製品を同時に生産してお
り、1つの製品を完成させるまでに複数の工程で加工が
施され、各工程毎に作業の特徴(処理形態、同時処理製
品数、段取り替え条件等)が異なり、類似の工程をまと
めて同一の設備で作業をするジョブショップラインにお
いて、図3に示すように工程の処理時間と設備の準備段
取り時間・頻度、故障率から稼動率を計算し表に示す。
この表から図8に示す式で、各項目の値を計算する。
【0010】図3,図8において、目標生産枚数を60
0枚とすると、 (1)目標タクトタイムは、 目標タクトタイム=24(時間)×60(分)/目標生
産枚数 =24×60/600 =2.4(分)
【0011】(2)設備台数 設備台数=合計作業時間/(目標タクトタイム×稼働
率) (合計作業時間=設備毎の全工程の作業時間の合計) 図3の設備1の場合には、工程1,工程2を処理し、そ
の合計作業時間は2+2.4=4.4である。また稼働
率は0.85と設定される。したがって、設備1の設備
台数は、 設備台数=4.4/(2.4×0.85) =2.157 設備台数は整数であるので、設備1は3台必要となる。
同様の計算により、設備2は3台、設備3は1台と算出
される。
【0012】(3)設備単体能力 設備単体能力=24(時間)×60(分)×稼働率/合
計作業時間 設備1の場合、 設備単体能力=24×60×0.85/4.4 =556.4 設備2,設備3は、それぞれ694.3、760と算出
される。
【0013】(4)単能力 単能力=設備単体能力/工程数 設備1の場合、 単能力=556.4/2 =278.2 設備2,設備3は、それぞれ231.4、760と算出
される。
【0014】(5)総能力 総能力=単能力×設備台数 設備1の場合、 総能力=278.2×3 =834.5 設備2,設備3は、それぞれ694.3、760と算出
される。
【0015】(6)生産効率
【数1】 図3の半導体生産ラインの場合 生産効率=((600/834.5)×3+(600/
694.3)×3+(600/760)×1)/7 =0.791 となる。
【0016】次に、生産効率評価装置を利用し求められ
た生産効率から設備の問題点である下記の点を対策案と
して表示し、ユーザが選択することにより設備構成を変
更する。 (1)問題設備の形式と異なる設備に変更。 (2)設備構成を変更(例えば、各設備に対する工程を
分割合併させる)。 (3)各設備に対して処理形態を変更(各工程の作業時
間、稼働率を改善)。 (4)設備種類の減少。
【0017】図4は生産効率を向上する第1の対策を示
す。第1の対策においては、図3の生産ラインにおける
設備2の工程3の処理を設備1に移行する。この移行に
より、設備1の工程数2が3に増え、設備2の工程数は
3から2に減少する。この生産ラインにあっては、設備
2の台数が3台から2台に減り、総設備台数も7台から
6台に減少する。この生産ラインの生産効率を計算する
と、0.93となり、図3の生産ラインの生産効率0.
79に比べて向上させることができた。
【0018】図5は生産効率を向上する第2の対策を示
す。この生産ラインにあっては、図3の生産ラインにお
ける設備1の工程2の処理時間を2.4から2に短縮す
る。この設備1の工程2の処理時間を変更することによ
り、総装置台数も7台から6台に減少することができ
る。そして、図5の生産ラインの生産効率を計算すると
0.89となり、対策前の生産効率の0.79に比べて
生産効率を0.1向上させることができた。
【0019】半導体生産ラインを例にとってみると、目
標生産枚数から設備単体能力を計算し、その値から単能
力、総能力と計算すると図6のようになる。このライン
では、生産効率が85%である。また、生産枚数と生産
効率、総設備台数の関係を図7に示す。図7に示すとお
りに目標生産枚数が多くなるにつれ、生産効率が高くな
り、設備台数は多くなる。例えば、半導体生産ラインの
設備では、設備能力が異なるために、図7のように目標
生産枚数がある枚数以上にならないと生産効率が80%
以上にならないために、通常、半導体生産ラインでは大
規模ラインを構築する。そこで、生産効率評価装置で問
題設備を抽出し、その問題設備に対し改善することによ
り理想的なラインを構築する。つまり、下記の点を課題
に問題設備を改善することにより生産効率を最大にす
る。
【0020】(1)各設備に対して処理形態を変更。
(各工程の作業時間、稼働率を改善) (2)設備の標準化により複数世代設備を利用できるよ
うにすること。 (3)設備種類・工程数の減少、各工程の処理時間を揃
えるプロセス設計、設備の停止時間の標準化(停止時間
を揃える、または一斉に保全を行う)。 (4)各設備の処理枚数の統一化すること。 (5)設備の処理時間を+L>処理時間>−Lにおさめ
ると生産効率が80%以上のラインになる。 (計算式:L=K(1ロットあたりの枚数)×M×80
%、ただし、Mは1以上の整数) これらから、この生産効率評価装置を使い問題設備の改
善、または設備構成を変更することにより生産効率を向
上させ、総設備台数を減少させたラインとして図7の点
線のような理想的なラインになる。
【0021】図9は、本発明の生産効率評価装置1を用
いて生産効率向上の処理を行なう際のディスプレイ画面
の推移を示す説明図である。画面D100は、設備能力
入力画面を示し、第1の入力装置10を用いて設備能力
を入力する画面である。画面D101は、ライン計画入
力画面であり、半導体生産ラインの構成を入力する。画
面D102は、生産効率評価画面であり、生産効率の計
算結果が表示される。画面D103は、各設備の生産効
率比較画面であって、個々の設備の生産効率を画面上で
比較することができる。画面D104は、対策案の表示
画面であって、図3,図4,図5で説明した半導体生産
ラインの生産効率向上の各対策案を表示する。画面D1
05は、対策案に基づく設備構成の修正画面を表示す
る。その後に、画面D102に戻り、修正された設備構
成に基づいて生産効率が再評価される。
【0022】
【発明の効果】以上記述されたように本発明の生産効率
評価装置により、生産効率を計算し、問題設備を抽出
し、設備構成を修正できる。その結果、下記のような効
果が顕著に現れる。 (1)目標生産枚数に対し、生産効率が80%〜90%
になるような設備構成を対話的に修正できる。 (2)能力ネック設備が生産ラインを立ち上げる前から
把握でき、それに対する対策がライン立ち上げ時からで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の装置構成の1実施例。
【図2】生産効率計算フローチャート。
【図3】生産効率計算具体例(1)。
【図4】生産効率計算具体例(2)。
【図5】生産効率計算具体例(3)。
【図6】設備能力の具体例。
【図7】目標生産枚数と生産効率、総装置台数との関
係。
【図8】生産効率計算手順。
【図9】生産効率評価画面推移。
【符号の説明】
1 入力装置(1) 2 設備能力計算装置 3 設備能力比較装置 4 入力装置(2) 5 計算装置 6 生産効率計算部 7 問題設備抽出部 8 設備構成修正部 11 ステップ11 12 ステップ12 13 ステップ13 14 ステップ14 15 ステップ15 16 ステップ16 17 ステップ17 18 ステップ18 19 ステップ19 100 設備能力画面 101 ライン計画画面 102 生産効率評価画面 103 各設備の生産効率比較画面 104 対策画面 105 設備構成修正画面

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 生産設備に関するデータを入力する第1
    の入力装置と、第1の入力装置からの設備データに基づ
    いて設備能力を計算する設備能力計算装置と、設備の形
    式毎に設備能力を比較する設備能力比較装置と、目標生
    産量を入力する第2の入力装置と、生産効率を計算する
    計算装置とを備えてなる生産効率評価装置。
  2. 【請求項2】 計算装置は、設備能力データと、目標生
    産量のデータに基づいて生産効率を計算するとともに、
    設備形式のデータが変更されたときには、設備構成を変
    更・修正して生産効率を再計算する機能を備えてなる請
    求項1記載の生産効率評価装置。
  3. 【請求項3】 計算装置は、各設備に対して生産効率を
    計算し、設備能力順に各設備を並べて表示する機能を備
    えてなる請求項1記載の生産効率評価装置。
  4. 【請求項4】 生産設備に関するデータを入力する第1
    の入力装置と、第1の入力装置からの設備データに基づ
    いて設備能力を計算する設備能力計算装置と、設備の形
    式毎に設備能力を比較する設備能力比較装置と、目標生
    産量を入力する第2の入力装置と、生産効率を計算する
    計算装置とを備え、 設備のデータを入力するステップと、 目標生産量を入力するステップと、 目標生産量から設備台数、目標タクトタイムを計算する
    ステップと、 生産効率を計算するステップと、 生産効率を評価するステップと、 生産効率を目標値と比較し、目標値に達していれば設備
    構成と生産効率を出力するステップと、 生産効率が目標値以下のときには問題設備を摘出するス
    テップと、 問題設備に対する対策を表示するステップと、 設備構成を変更するステップと、 変更された設備構成に基づいて再度生産効率を計算する
    工程に戻るステップ、からなる生産効率評価方法。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の生産効率評価方法により
    設計され、生産効率が80%以上になるように構成され
    る半導体生産ライン。
JP21514694A 1994-09-09 1994-09-09 生産効率評価方法とその装置、及びこの方法で設計した生産ライン Pending JPH0877247A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107239064A (zh) * 2016-03-27 2017-10-10 中国食品发酵工业研究院 一种评估灌装生产线效率和机台状态的方法
CN108268017A (zh) * 2018-02-02 2018-07-10 南京水木自动化科技有限公司 制罐生产线效率的评估方法和优化方法及其评估装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107239064A (zh) * 2016-03-27 2017-10-10 中国食品发酵工业研究院 一种评估灌装生产线效率和机台状态的方法
CN108268017A (zh) * 2018-02-02 2018-07-10 南京水木自动化科技有限公司 制罐生产线效率的评估方法和优化方法及其评估装置
CN108268017B (zh) * 2018-02-02 2020-06-26 南京水木自动化科技有限公司 制罐生产线效率的评估方法和优化方法及其评估装置

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