JPH088015A - Icソケット - Google Patents
IcソケットInfo
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- JPH088015A JPH088015A JP6137109A JP13710994A JPH088015A JP H088015 A JPH088015 A JP H088015A JP 6137109 A JP6137109 A JP 6137109A JP 13710994 A JP13710994 A JP 13710994A JP H088015 A JPH088015 A JP H088015A
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- Japan
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- socket
- lead
- contact pin
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Links
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- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ICの電気的特性試験の際に使用するICソケ
ットにおいて、コンタクタとICリードの接触により生
じるICリードの損傷を防止するとともに検査経費を下
げる。 【構成】ICのリード7面に対し垂直方向に移動し得る
コンタトピン1と、このコンタクトピン1の後端と当接
し弾性部材であるとともに高電導度の導電性ゴム3とを
設け、蓋10で押されるリード7面にコンタクトピン1
が垂直に当接するようにし、コンタクトピン1との間で
すべりを起すことなく接触できるようにする。また、コ
ンタクトピン1はソケット台5の穴2aに単に挿入する
構造にしてある。
ットにおいて、コンタクタとICリードの接触により生
じるICリードの損傷を防止するとともに検査経費を下
げる。 【構成】ICのリード7面に対し垂直方向に移動し得る
コンタトピン1と、このコンタクトピン1の後端と当接
し弾性部材であるとともに高電導度の導電性ゴム3とを
設け、蓋10で押されるリード7面にコンタクトピン1
が垂直に当接するようにし、コンタクトピン1との間で
すべりを起すことなく接触できるようにする。また、コ
ンタクトピン1はソケット台5の穴2aに単に挿入する
構造にしてある。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICの電気的特性試験
を行う測定装置において、ICを装填することによりI
Cのリードと測定装置の測定回路とを電気的接続を行な
うICソケットに関する。
を行う測定装置において、ICを装填することによりI
Cのリードと測定装置の測定回路とを電気的接続を行な
うICソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来の一例を示すICソケットの
断面部分図である。従来、この種のICソケットは、例
えば、図2に示すように、ICの外郭体を載置するソケ
ット台5aと、このソケット台5aに載置されたICを
被せる蓋10と、このソケット台5aの表面より突出さ
せ折り曲げて水平に伸ばし先端部6aをもつとともに他
端をソケット台の裏面より突出させフットリード部6b
を形成するコンタクタ6とを備えている。
断面部分図である。従来、この種のICソケットは、例
えば、図2に示すように、ICの外郭体を載置するソケ
ット台5aと、このソケット台5aに載置されたICを
被せる蓋10と、このソケット台5aの表面より突出さ
せ折り曲げて水平に伸ばし先端部6aをもつとともに他
端をソケット台の裏面より突出させフットリード部6b
を形成するコンタクタ6とを備えている。
【0003】ICのリード7と電気的に接続するには、
ソケット台5aに埋設される部分から立ち上り水平に伸
びる先端部6aに蓋10で下方に押されたリード7と接
触させることによって行なわれていた。そして、この接
触によりコンタクタ6のフットリード部6bと接続され
る測定回路に信号を送り試験を行なっていた。
ソケット台5aに埋設される部分から立ち上り水平に伸
びる先端部6aに蓋10で下方に押されたリード7と接
触させることによって行なわれていた。そして、この接
触によりコンタクタ6のフットリード部6bと接続され
る測定回路に信号を送り試験を行なっていた。
【0004】なお、このコンタクタ6は、ばね性のある
片持ち梁の形状にして先端部6aを伸ばすことにことに
よりリード7の突出量の大小にかかわらずリード7と先
端部とが接触することができることを特徴としたもので
ある。
片持ち梁の形状にして先端部6aを伸ばすことにことに
よりリード7の突出量の大小にかかわらずリード7と先
端部とが接触することができることを特徴としたもので
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のICソ
ケットでは、リードの突出量の大小にかかわらずリード
と先端部とが確実に接触できるものの、接触時における
先端部の接触圧によりコンタクタの梁部が撓むことによ
って、コンタクタの先端部とリードとの接触部の間です
べりが生じリードのメッキ面に傷をつけることがある。
この傷からやがては錆を発生させ品質に重大な欠陥をも
たらすという問題がある。
ケットでは、リードの突出量の大小にかかわらずリード
と先端部とが確実に接触できるものの、接触時における
先端部の接触圧によりコンタクタの梁部が撓むことによ
って、コンタクタの先端部とリードとの接触部の間です
べりが生じリードのメッキ面に傷をつけることがある。
この傷からやがては錆を発生させ品質に重大な欠陥をも
たらすという問題がある。
【0006】また、コンタクタ側の接触部である先端部
は繰返して検査を行なっている内に摩耗し正常な接触が
得られなくなる。特に、近年、動作電圧の低下化に伴な
いこの接触不良による電圧降下が検査データを不正確な
ものにし正常な検査ができなくなる。さらに、従来、コ
ンタクタはソケット台に埋設され強固に固定されている
ので、コンタクタのみ交換することができない。言い換
えれば、コンタクタの一本でも劣化すると、ソケット台
自体を交換しなければならず検査経費の増大を招くこと
になる。
は繰返して検査を行なっている内に摩耗し正常な接触が
得られなくなる。特に、近年、動作電圧の低下化に伴な
いこの接触不良による電圧降下が検査データを不正確な
ものにし正常な検査ができなくなる。さらに、従来、コ
ンタクタはソケット台に埋設され強固に固定されている
ので、コンタクタのみ交換することができない。言い換
えれば、コンタクタの一本でも劣化すると、ソケット台
自体を交換しなければならず検査経費の増大を招くこと
になる。
【0007】従って、本発明の目的は、ICのリードに
傷を発生することなく安価な経費でICを検査すること
のできるICソケットを提供することである。
傷を発生することなく安価な経費でICを検査すること
のできるICソケットを提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、ICを
載置するソケット台と、載置された前記ICを被せる蓋
と、前記ICの外郭体より突出する複数のリードのそれ
ぞれと対応し前記ソケット台の一主面に先端を露出して
並べ配設される複数のコンタクトピンと、このコンタク
トピンのそれぞれに対応し前記ソケット台より先端を突
出させ該ソケット台に埋設され測定回路に接続される複
数のフットリードと、このフットリードの後端と前記コ
ンタクトピンの後端との間に挿入される導電性ゴムとを
備えるICソケットである。
載置するソケット台と、載置された前記ICを被せる蓋
と、前記ICの外郭体より突出する複数のリードのそれ
ぞれと対応し前記ソケット台の一主面に先端を露出して
並べ配設される複数のコンタクトピンと、このコンタク
トピンのそれぞれに対応し前記ソケット台より先端を突
出させ該ソケット台に埋設され測定回路に接続される複
数のフットリードと、このフットリードの後端と前記コ
ンタクトピンの後端との間に挿入される導電性ゴムとを
備えるICソケットである。
【0009】また、前記導電性ゴムの両端面の形状が前
記コンタクトピンの後端面の形状と前記フットリードの
後端面の形状とが互いに相似であるとともに前記導電性
ゴムの両端面の面積が該コンタクトと該フットリードの
それぞれの後端面の面積に比べ小さくとも同じであるこ
とが望ましい。
記コンタクトピンの後端面の形状と前記フットリードの
後端面の形状とが互いに相似であるとともに前記導電性
ゴムの両端面の面積が該コンタクトと該フットリードの
それぞれの後端面の面積に比べ小さくとも同じであるこ
とが望ましい。
【0010】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1(a)および(b)は本発明の一実施例のIC
ソケットを示す斜視図および断面部分図である。このI
Cソケットは、図1に示すように、ICを載置するソケ
ット台5と、ソケット台5に載置されたICを被せる蓋
10と、ICの外郭体8より突出する複数のリード7の
それぞれと対応しソケット台5に先端を露出し穴9の周
縁に沿って並べ配設される複数のコンタクトピン1と、
このコンタクトピン1のそれぞれにに対応しソケット台
5の裏面より先端を突出させソケット台5に埋設される
複数のフットリード4と、このフットリード4の後端と
コンタクトピン1の後端との間に挿入されコンタクトピ
ン1に反発力を与える導電性ゴム3とを備えている。
る。図1(a)および(b)は本発明の一実施例のIC
ソケットを示す斜視図および断面部分図である。このI
Cソケットは、図1に示すように、ICを載置するソケ
ット台5と、ソケット台5に載置されたICを被せる蓋
10と、ICの外郭体8より突出する複数のリード7の
それぞれと対応しソケット台5に先端を露出し穴9の周
縁に沿って並べ配設される複数のコンタクトピン1と、
このコンタクトピン1のそれぞれにに対応しソケット台
5の裏面より先端を突出させソケット台5に埋設される
複数のフットリード4と、このフットリード4の後端と
コンタクトピン1の後端との間に挿入されコンタクトピ
ン1に反発力を与える導電性ゴム3とを備えている。
【0011】すなわち、このICソケットは、リード7
との接触部にすべりを起させないようにコンタクトピン
1の運動をリード7面に対し垂直に直線運動できるよう
にしたことである。このために、ソケット台5にコンタ
クトピン1が滑合して摺動できる垂直な穴2aを開け、
弾性反発力で接触圧を与える弾性部材であって電気伝導
度の高い導電性ゴム3をコンタクトピン1の後端に一端
が当接するように設けたことである。そして、ソケット
台5に埋設されたフットリード4の後端と導電性ゴム3
の他端とを接触させている。
との接触部にすべりを起させないようにコンタクトピン
1の運動をリード7面に対し垂直に直線運動できるよう
にしたことである。このために、ソケット台5にコンタ
クトピン1が滑合して摺動できる垂直な穴2aを開け、
弾性反発力で接触圧を与える弾性部材であって電気伝導
度の高い導電性ゴム3をコンタクトピン1の後端に一端
が当接するように設けたことである。そして、ソケット
台5に埋設されたフットリード4の後端と導電性ゴム3
の他端とを接触させている。
【0012】なお、ソケット台5は従来例と同じように
絶縁材料で成形され、金メッキされた銅製のコンタクト
ピン1が摺動する穴の側壁には耐摩耗性のある金属製の
スリーブ2が設けられている。さらに、このスリーブ2
の内径とコンタクトピン1の外径はがたが無く円滑に摺
動ができるように精密に仕上げられている。また、導電
性ゴム3が挿入される穴は圧縮されたときに導電性ゴム
3の膨らみを逃すように空間部2bを設けるために穴2
aより大きめの穴が開けられている。
絶縁材料で成形され、金メッキされた銅製のコンタクト
ピン1が摺動する穴の側壁には耐摩耗性のある金属製の
スリーブ2が設けられている。さらに、このスリーブ2
の内径とコンタクトピン1の外径はがたが無く円滑に摺
動ができるように精密に仕上げられている。また、導電
性ゴム3が挿入される穴は圧縮されたときに導電性ゴム
3の膨らみを逃すように空間部2bを設けるために穴2
aより大きめの穴が開けられている。
【0013】導電性ゴム3は、金などの多量の金属微粒
子をブタジェンなどの高分子媒質に分散混合し成形した
ものである。また、その硬度も、例えば、20グラムの
圧縮荷重で1ミリメートル程度圧縮されるのが望まし
い。さらに、導電性ゴム3の断面形状はコンタクトピン
1およびフットリード4の断面形状と相似であることが
望ましい。例えば、コンタクトピン1およびフットリー
ドの断面形状が円形であれば円形にすることである。そ
して、導電性ゴム3の両端面の面積は、より接触抵抗を
小さくするためにコンタクトピン1およびフットリード
の端面の面積と同じかむしろ大きめにすることである。
子をブタジェンなどの高分子媒質に分散混合し成形した
ものである。また、その硬度も、例えば、20グラムの
圧縮荷重で1ミリメートル程度圧縮されるのが望まし
い。さらに、導電性ゴム3の断面形状はコンタクトピン
1およびフットリード4の断面形状と相似であることが
望ましい。例えば、コンタクトピン1およびフットリー
ドの断面形状が円形であれば円形にすることである。そ
して、導電性ゴム3の両端面の面積は、より接触抵抗を
小さくするためにコンタクトピン1およびフットリード
の端面の面積と同じかむしろ大きめにすることである。
【0014】一方、測定装置の測定回路と接続するフッ
トリード4は、ソケット台5に位置が変らないようにソ
ケット台5に強固に固定するために、ソケット台5の成
形時に埋め込むようにする。また、コンタクトピン1は
先端部が摩耗したら容易に差し替えることができるよう
に、コンタクトピン1の後端面と導電性ゴム3の端面と
は接着することなく容易に分離できるようにする。
トリード4は、ソケット台5に位置が変らないようにソ
ケット台5に強固に固定するために、ソケット台5の成
形時に埋め込むようにする。また、コンタクトピン1は
先端部が摩耗したら容易に差し替えることができるよう
に、コンタクトピン1の後端面と導電性ゴム3の端面と
は接着することなく容易に分離できるようにする。
【0015】次に、このICソケットによるICの装填
手順について説明する。まず、ICをソケット台5に乗
せる。次に、蓋10を被せることによって蓋10のもつ
重量でリード7は下方に移動しコンタクトピン1と接触
し押し付けられ、コンタクトピン1はスリーブ2内を移
動しコンタクトピン1は導電性ゴム3に当接する。その
結果、導電性ゴム3はコンタクトピン1との間で挟まれ
圧縮される。この圧縮によって生ずる導電性ゴム3の反
発力がコンタクタ1に与えられ、この反発力がリード7
とコンタクトピン1とのすべりが起ない垂直の接触圧と
なる。
手順について説明する。まず、ICをソケット台5に乗
せる。次に、蓋10を被せることによって蓋10のもつ
重量でリード7は下方に移動しコンタクトピン1と接触
し押し付けられ、コンタクトピン1はスリーブ2内を移
動しコンタクトピン1は導電性ゴム3に当接する。その
結果、導電性ゴム3はコンタクトピン1との間で挟まれ
圧縮される。この圧縮によって生ずる導電性ゴム3の反
発力がコンタクタ1に与えられ、この反発力がリード7
とコンタクトピン1とのすべりが起ない垂直の接触圧と
なる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ICのリ
ード面に対し垂直方向に移動し得るコンタトピンと、こ
のコンタクトピンの後端と当接し弾性部材であるととも
に高電導度の導電性ゴムとを設けることによって、蓋部
材で押されるリード面にコンタクトピンが垂直に当接す
るので、リード面とコンタクトピンとの間ですべりを起
すことなく接触できる。その結果、リード面に傷をつけ
ることがなくなる。
ード面に対し垂直方向に移動し得るコンタトピンと、こ
のコンタクトピンの後端と当接し弾性部材であるととも
に高電導度の導電性ゴムとを設けることによって、蓋部
材で押されるリード面にコンタクトピンが垂直に当接す
るので、リード面とコンタクトピンとの間ですべりを起
すことなく接触できる。その結果、リード面に傷をつけ
ることがなくなる。
【0017】また、コンタクトピンはソケット台に埋設
するのではなく、単にソケット台の穴に挿入する構造に
したので、一本のコンタクトピンが劣下してもICソケ
ット自体を交換する必要はなく、当該コンタクトピンの
みを差し替えれば済み経費を大幅に下げるという効果が
ある。
するのではなく、単にソケット台の穴に挿入する構造に
したので、一本のコンタクトピンが劣下してもICソケ
ット自体を交換する必要はなく、当該コンタクトピンの
みを差し替えれば済み経費を大幅に下げるという効果が
ある。
【図1】本発明の一実施例のICソケットを示す斜視図
および断面部分図である。
および断面部分図である。
【図2】従来の一例を示すICソケットの断面部分図で
ある。
ある。
1 コンタクトピン 2 スリーブ 2a,9 穴 2b 空間部 3 導電性ゴム 4 フットリード 5,5a ソケット台 6 コンタクタ 6a 先端部 6b フットリード部 7 リード 8 外郭体 10 蓋
Claims (3)
- 【請求項1】 ICを載置するソケット台と、載置され
た前記ICを被せる蓋と、前記ICの外郭体より突出す
る複数のリードのそれぞれと対応し前記ソケット台の一
主面に先端を露出して並べ配設される複数のコンタクト
ピンと、このコンタクトピンのそれぞれに対応し前記ソ
ケット台の裏面より先端を突出させ該ソケット台に埋設
され測定回路と接続される複数のフットリードと、この
フットリードの後端と前記コンタクトピンの後端との間
に挿入される導電性ゴムとを備えること特徴とするIC
ソケット。 - 【請求項2】 前記導電性ゴムの両端面の形状が前記コ
ンタクトピンの後端面の形状と前記フットリードの後端
面の形状とが互いに相似であるとともに前記導電性ゴム
の両端面の面積が該コンタクトと該フットリードのそれ
ぞれの後端面の面積に比べ小さくとも同じであることを
特徴とする請求項1記載のICソケット。 - 【請求項3】 前記コンタクトピンが前記ソケット台か
ら抜き差しして交換できることを特徴とする請求項1ま
たは請求項2記載のICソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6137109A JPH088015A (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | Icソケット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6137109A JPH088015A (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | Icソケット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH088015A true JPH088015A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15191057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6137109A Pending JPH088015A (ja) | 1994-06-20 | 1994-06-20 | Icソケット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088015A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100395788B1 (ko) * | 2001-04-04 | 2003-08-25 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | 실리콘 고무 스프링 포고핀의 구조 및 제조 방법 |
-
1994
- 1994-06-20 JP JP6137109A patent/JPH088015A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100395788B1 (ko) * | 2001-04-04 | 2003-08-25 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | 실리콘 고무 스프링 포고핀의 구조 및 제조 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970121 |