JPH0883799A - はんだバンプの形成方法 - Google Patents
はんだバンプの形成方法Info
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- cream
- cream solder
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- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
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-
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- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
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- H05K3/3485—Application of solder paste, slurry or powder
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- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/012—Manufacture or treatment of bump connectors, dummy bumps or thermal bumps
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 セラミックパッケージ、モジュール基板等の
回路基板の接続用パットに所要の高さを有するはんだバ
ンプを簡単に形成することが可能な方法を提供する。 【構成】 回路基板またはモジュール基板の接続用パッ
トにはんだバンプを形成する方法において、前記回路基
板またはモジュール基板の接続用パットにクリームはん
だを印刷し、さらに前記クリームはんだをリフローし、
その上部を平坦化する工程を少なくとも1回行った後、
上部が平坦化されたはんだ上にクリームはんだを印刷
し、前記クリームはんだをリフローすることを特徴とす
る。
回路基板の接続用パットに所要の高さを有するはんだバ
ンプを簡単に形成することが可能な方法を提供する。 【構成】 回路基板またはモジュール基板の接続用パッ
トにはんだバンプを形成する方法において、前記回路基
板またはモジュール基板の接続用パットにクリームはん
だを印刷し、さらに前記クリームはんだをリフローし、
その上部を平坦化する工程を少なくとも1回行った後、
上部が平坦化されたはんだ上にクリームはんだを印刷
し、前記クリームはんだをリフローすることを特徴とす
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路基板やモジュール
基板の接続用パットにはんだバンプを形成する方法に関
する。
基板の接続用パットにはんだバンプを形成する方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】例えば、電子部品を実装したモジュール
基板を印刷配線板(マザーボード)に搭載するには、前
記モジュール基板の接続パットにはんだバンプを形成
し、前記はんだバンプを介して前記マザーボードに接続
することが一般に行われている。近年、エレクトロニク
スの急速な発展に伴い、電気機器の小型化、電子部品や
素子のチップ化、モジュール化が進められている。この
ため、前記モジュール基板と前記マザーボードとは信頼
性の高い接続が要求されている。
基板を印刷配線板(マザーボード)に搭載するには、前
記モジュール基板の接続パットにはんだバンプを形成
し、前記はんだバンプを介して前記マザーボードに接続
することが一般に行われている。近年、エレクトロニク
スの急速な発展に伴い、電気機器の小型化、電子部品や
素子のチップ化、モジュール化が進められている。この
ため、前記モジュール基板と前記マザーボードとは信頼
性の高い接続が要求されている。
【0003】ところで、前記モジュール基板の接続用パ
ットにはんだバンプを形成する方法としては、従来より
(1) 前記基板を溶融はんだ浴中に浸漬する方法、(2) 前
記接続用パットにはんだをメッキにより形成する方法、
(3) 前記接続用パット上にはんだボールを位置決めし、
リフローする方法、(4) 前記接続用パット上にディスペ
ンサによりクリームはんだを供給してリフローする方
法、または(5) 前記接続用パットにクリームはんだを印
刷技術により塗布した後、リフローする方法が知られて
いる。
ットにはんだバンプを形成する方法としては、従来より
(1) 前記基板を溶融はんだ浴中に浸漬する方法、(2) 前
記接続用パットにはんだをメッキにより形成する方法、
(3) 前記接続用パット上にはんだボールを位置決めし、
リフローする方法、(4) 前記接続用パット上にディスペ
ンサによりクリームはんだを供給してリフローする方
法、または(5) 前記接続用パットにクリームはんだを印
刷技術により塗布した後、リフローする方法が知られて
いる。
【0004】しかしながら、はんだバンプの形成におけ
る前記(1) 、(2) の浸漬法、メッキ法でははんだバンプ
の高さを高くすることが困難である。前記モジュール基
板と前記マザーボードとの接続信頼性を高めるためには
前記はんだバンプ高さを0.5mm以上にすることが必
要であるが、前記(1) 、(2) の方法では0.5mm以上
の高を確保することが困難であった。
る前記(1) 、(2) の浸漬法、メッキ法でははんだバンプ
の高さを高くすることが困難である。前記モジュール基
板と前記マザーボードとの接続信頼性を高めるためには
前記はんだバンプ高さを0.5mm以上にすることが必
要であるが、前記(1) 、(2) の方法では0.5mm以上
の高を確保することが困難であった。
【0005】前記(3) のはんだボールを位置決めし、リ
フローする方法では、はんだボールの位置決め精度やは
んだボールの取扱いなどの解決すべき問題が多く、実用
性に欠ける。
フローする方法では、はんだボールの位置決め精度やは
んだボールの取扱いなどの解決すべき問題が多く、実用
性に欠ける。
【0006】前記(4) のディスペンサによりクリームは
んだを供給してリフローする方法は、供給するはんだ量
のコントロールが難しい等の多くの問題を有する。前記
(5) のクリームはんだを印刷技術により塗布した後、リ
フローする方法では印刷に用いるマスクを厚くすること
によりはんだバンプを高くすることが可能であるが、マ
スクを厚くすることによりクリームはんだがモジュール
基板の接続用パットまで到達しなくなったり、クリーム
はんだがマスクに付着して印刷後にマスクを取り去る際
にクリームはんだがマスクと一緒に剥離、除去されたり
するるという問題がある。
んだを供給してリフローする方法は、供給するはんだ量
のコントロールが難しい等の多くの問題を有する。前記
(5) のクリームはんだを印刷技術により塗布した後、リ
フローする方法では印刷に用いるマスクを厚くすること
によりはんだバンプを高くすることが可能であるが、マ
スクを厚くすることによりクリームはんだがモジュール
基板の接続用パットまで到達しなくなったり、クリーム
はんだがマスクに付着して印刷後にマスクを取り去る際
にクリームはんだがマスクと一緒に剥離、除去されたり
するるという問題がある。
【0007】なお、クリームはんだの印刷、塗布および
リフローを繰り返してはんだバンプを高くする方法も考
えられる。しかしながら、1回目のクリームはんだの印
刷、塗布およびリフローにより形成されたはんだはリフ
ローにより上部が球形になっているため、2回目のクリ
ームはんだの印刷、塗布に際してその塗布量をコントロ
ールすることが困難になる問題がある。
リフローを繰り返してはんだバンプを高くする方法も考
えられる。しかしながら、1回目のクリームはんだの印
刷、塗布およびリフローにより形成されたはんだはリフ
ローにより上部が球形になっているため、2回目のクリ
ームはんだの印刷、塗布に際してその塗布量をコントロ
ールすることが困難になる問題がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、セラ
ミックパッケージ、モジュール基板等の回路基板の接続
用パットに所要の高さを有するはんだバンプを簡単に形
成することが可能な方法を提供しようとするものであ
る。
ミックパッケージ、モジュール基板等の回路基板の接続
用パットに所要の高さを有するはんだバンプを簡単に形
成することが可能な方法を提供しようとするものであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係わるはんだバ
ンプの形成方法は、回路基板またはモジュール基板の接
続用パットにはんだバンプを形成する方法において、前
記回路基板またはモジュール基板の接続用パットにクリ
ームはんだを印刷し、さらに前記クリームはんだをリフ
ローし、その上部を平坦化する工程を少なくとも1回行
った後、上部が平坦化されたはんだ上にクリームはんだ
を印刷し、前記クリームはんだをリフローすることを特
徴とするものである。
ンプの形成方法は、回路基板またはモジュール基板の接
続用パットにはんだバンプを形成する方法において、前
記回路基板またはモジュール基板の接続用パットにクリ
ームはんだを印刷し、さらに前記クリームはんだをリフ
ローし、その上部を平坦化する工程を少なくとも1回行
った後、上部が平坦化されたはんだ上にクリームはんだ
を印刷し、前記クリームはんだをリフローすることを特
徴とするものである。
【0010】前記回路基板としては、例えば窒化アルミ
ニウムパッケージのようなセラミック回路基板、エポキ
シ樹脂を基材とし、表面に回路パターンが形成された樹
脂基板等を挙げることができる。
ニウムパッケージのようなセラミック回路基板、エポキ
シ樹脂を基材とし、表面に回路パターンが形成された樹
脂基板等を挙げることができる。
【0011】前記クリームはんだの印刷は、例えば所望
形状の開孔部を有するマスクを用いて行なわれる。前記
各印刷工程で用いられるはんだは、互いに融点が同じで
あってもよいが、寸法精度の高いはんだバンプを形成す
る観点から、次のように融点の異なるはんだを用いるこ
とが好ましい。すなわち、上層側に配置されるはんだほ
ど低融点のものを用いることによって、はんだのリフロ
ー工程においてその下のはんだが溶融して変形するのを
防止することが可能になる。
形状の開孔部を有するマスクを用いて行なわれる。前記
各印刷工程で用いられるはんだは、互いに融点が同じで
あってもよいが、寸法精度の高いはんだバンプを形成す
る観点から、次のように融点の異なるはんだを用いるこ
とが好ましい。すなわち、上層側に配置されるはんだほ
ど低融点のものを用いることによって、はんだのリフロ
ー工程においてその下のはんだが溶融して変形するのを
防止することが可能になる。
【0012】前記クリームはんだの各印刷工程におい
て、クリームはんだの厚さは同じであっても、異ならせ
てもよい。クリームはんだの厚さを異ならせる場合に
は、前記印刷工程において厚さの異なるマスクを用いる
ことによりなされる。
て、クリームはんだの厚さは同じであっても、異ならせ
てもよい。クリームはんだの厚さを異ならせる場合に
は、前記印刷工程において厚さの異なるマスクを用いる
ことによりなされる。
【0013】前記クリームはんだの印刷面積は、下層ほ
ど広くなるようにすることがはんだバンプの安定性の点
で好ましい。前記リフロー後のはんだ上部の平坦化手段
としては、例えばリフロー後の略半球状のはんだ上部に
ホットプレートを押し当て潰す方法等を採用し得る。前
記印刷後のリフローおよび上部を平坦化する工程は、別
々に行っても、同時に行ってもよい。
ど広くなるようにすることがはんだバンプの安定性の点
で好ましい。前記リフロー後のはんだ上部の平坦化手段
としては、例えばリフロー後の略半球状のはんだ上部に
ホットプレートを押し当て潰す方法等を採用し得る。前
記印刷後のリフローおよび上部を平坦化する工程は、別
々に行っても、同時に行ってもよい。
【0014】
【作用】本発明によれば、回路基板またはモジュール基
板の接続パットにクリームはんだを印刷し、さらに前記
クリームはんだをリフローし、その上部を平坦化する工
程を少なくとも1回行った後、上部が平坦化されたはん
だ上にクリームはんだを印刷し、前記クリームはんだを
リフローすることによって、積層構造を有し、かつ最上
層が略半球状をなす所望の高さのはんだパンプを形成す
ることができる。このようなはんだバンプを有する回路
基板またはモジュール基板は、マザーボードへの接続信
頼性を著しく向上できる。
板の接続パットにクリームはんだを印刷し、さらに前記
クリームはんだをリフローし、その上部を平坦化する工
程を少なくとも1回行った後、上部が平坦化されたはん
だ上にクリームはんだを印刷し、前記クリームはんだを
リフローすることによって、積層構造を有し、かつ最上
層が略半球状をなす所望の高さのはんだパンプを形成す
ることができる。このようなはんだバンプを有する回路
基板またはモジュール基板は、マザーボードへの接続信
頼性を著しく向上できる。
【0015】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。 (実施例1)まず、図1の(A)に示すようにガラスエ
ポキシ樹脂製基板(モジュール基板)1に形成された4
4個の1mm角の接続用パット2に、1mm角の開孔部
3が44個形成された厚さ0.2mmの第1マスク4お
よびスキージ(図示せず)を用いてSn−Pb共晶はん
だ(第1はんだ)のクリームはんだ5を印刷、塗布し
た。つづいて、前記第1マスク4を除去した後、230
℃の温度で前記クリームはんだをリフローすることによ
り図1の(B)に示す略半球状のはんだ6を前記モジュ
ール基板1の各接続用パット2にそれぞれ形成した。ひ
きつづき、図1の(C)に示すように120℃に加熱し
たホットプレート7を前記半球状のはんだ6に押し当
て、高さが0.2mmになるまで潰し、上部が平坦化さ
れたはんだ8とした。
に説明する。 (実施例1)まず、図1の(A)に示すようにガラスエ
ポキシ樹脂製基板(モジュール基板)1に形成された4
4個の1mm角の接続用パット2に、1mm角の開孔部
3が44個形成された厚さ0.2mmの第1マスク4お
よびスキージ(図示せず)を用いてSn−Pb共晶はん
だ(第1はんだ)のクリームはんだ5を印刷、塗布し
た。つづいて、前記第1マスク4を除去した後、230
℃の温度で前記クリームはんだをリフローすることによ
り図1の(B)に示す略半球状のはんだ6を前記モジュ
ール基板1の各接続用パット2にそれぞれ形成した。ひ
きつづき、図1の(C)に示すように120℃に加熱し
たホットプレート7を前記半球状のはんだ6に押し当
て、高さが0.2mmになるまで潰し、上部が平坦化さ
れたはんだ8とした。
【0016】次いで、図2の(D)に示すように前記モ
ジュール基板1の各接続用パット2上の平坦化されたは
んだ8に、0.6mm角の開孔部9が44個形成された
厚さ0.3mmの第2マスク10およびスキージ(図示
せず)を用いて14%Bi−43%Sn−Pbはんだ
(第2はんだ)のクリームはんだ11を印刷、塗布し
た。つづいて、前記第2マスク10を除去した後、17
0℃の温度で前記クリームはんだをリフローすることに
より図2の(E)に示すは略半球状のはんだ12を前記
平坦化されたはんだ8上にそれぞれ形成した。ひきつづ
き、図2の(F)に示すように120℃に加熱したホッ
トプレート13を前記半球状のはんだ12に押し当て、
高さが0.25mmになるまで潰し、上部が平坦化され
たはんだ14とした。
ジュール基板1の各接続用パット2上の平坦化されたは
んだ8に、0.6mm角の開孔部9が44個形成された
厚さ0.3mmの第2マスク10およびスキージ(図示
せず)を用いて14%Bi−43%Sn−Pbはんだ
(第2はんだ)のクリームはんだ11を印刷、塗布し
た。つづいて、前記第2マスク10を除去した後、17
0℃の温度で前記クリームはんだをリフローすることに
より図2の(E)に示すは略半球状のはんだ12を前記
平坦化されたはんだ8上にそれぞれ形成した。ひきつづ
き、図2の(F)に示すように120℃に加熱したホッ
トプレート13を前記半球状のはんだ12に押し当て、
高さが0.25mmになるまで潰し、上部が平坦化され
たはんだ14とした。
【0017】次いで、図3の(G)に示すように前記モ
ジュール基板1の各接続用パット2上の上層の平坦化さ
れたはんだ14に、0.6mm角の開孔部15が44個
形成された厚さ0.5mmの第3マスク16およびスキ
ージ(図示せず)を用いて48%Sn−In共晶はんだ
(第3はんだ)のクリームはんだ17を印刷、塗布し
た。つづいて、前記第3マスク16を除去した後、13
5℃の温度で前記クリームはんだをリフローして図3の
(H)に示すように半球状のはんだ18とすることによ
り三層構造で、最上層が略半球状をなすはんだバンプ1
9を前記モジュール基板1の各接続用パット2上にそれ
ぞれ形成した。
ジュール基板1の各接続用パット2上の上層の平坦化さ
れたはんだ14に、0.6mm角の開孔部15が44個
形成された厚さ0.5mmの第3マスク16およびスキ
ージ(図示せず)を用いて48%Sn−In共晶はんだ
(第3はんだ)のクリームはんだ17を印刷、塗布し
た。つづいて、前記第3マスク16を除去した後、13
5℃の温度で前記クリームはんだをリフローして図3の
(H)に示すように半球状のはんだ18とすることによ
り三層構造で、最上層が略半球状をなすはんだバンプ1
9を前記モジュール基板1の各接続用パット2上にそれ
ぞれ形成した。
【0018】実施例2 1mm角の開孔部が44個形成された厚さ0.3mmの
第1マスク、0.6mm角の開孔部が44個形成された
厚さ0.4mmの第2マスクおよび0.6mm角の開孔
部が44個形成された厚さ0.5mmの第3マスクを用
いた以外、実施例1と同様な方法によりはんだバンプを
モジュール基板の各接続用パット上にそれぞれ形成し
た。
第1マスク、0.6mm角の開孔部が44個形成された
厚さ0.4mmの第2マスクおよび0.6mm角の開孔
部が44個形成された厚さ0.5mmの第3マスクを用
いた以外、実施例1と同様な方法によりはんだバンプを
モジュール基板の各接続用パット上にそれぞれ形成し
た。
【0019】実施例3 1mm角の開孔部が44個形成された厚さ0.35mm
の第1マスク、0.6mm角の開孔部が44個形成され
た厚さ0.4mmの第2マスクおよび0.6mm角の開
孔部が44個形成された厚さ0.5mmの第3マスクを
用いた以外、実施例1と同様な方法によりはんだバンプ
をモジュール基板の各接続用パット上にそれぞれ形成し
た。
の第1マスク、0.6mm角の開孔部が44個形成され
た厚さ0.4mmの第2マスクおよび0.6mm角の開
孔部が44個形成された厚さ0.5mmの第3マスクを
用いた以外、実施例1と同様な方法によりはんだバンプ
をモジュール基板の各接続用パット上にそれぞれ形成し
た。
【0020】(実施例4、5)第1、第2、第3のはん
だとして、下記表1に示すものを用いた以外、実施例1
と同様な方法によりモジュール基板の44個の接続用パ
ットにはんだバンプを形成した。
だとして、下記表1に示すものを用いた以外、実施例1
と同様な方法によりモジュール基板の44個の接続用パ
ットにはんだバンプを形成した。
【0021】(比較例1)モジュール基板の44個の接
続用パットにSn−Pb共晶はんだのクリームはんだを
マスクおよびスキージを用いて印刷し、230℃の温度
で前記クリームはんだをリフローすることにより略半球
状のはんだバンプを形成した。
続用パットにSn−Pb共晶はんだのクリームはんだを
マスクおよびスキージを用いて印刷し、230℃の温度
で前記クリームはんだをリフローすることにより略半球
状のはんだバンプを形成した。
【0022】(比較例2)モジュール基板の44個の接
続用パットに14%Bi−43%Sn−Pbはんだのク
リームはんだをマスクおよびスキージを用いて印刷し、
170℃の温度で前記クリームはんだをリフローするこ
とにより略半球状のはんだバンプを形成した。
続用パットに14%Bi−43%Sn−Pbはんだのク
リームはんだをマスクおよびスキージを用いて印刷し、
170℃の温度で前記クリームはんだをリフローするこ
とにより略半球状のはんだバンプを形成した。
【0023】(比較例3)モジュール基板の44個の接
続用パットに48%Sn−In共晶はんだのクリームは
んだをマスクおよびスキージを用いて印刷し、135℃
の温度で前記クリームはんだをリフローすることにより
略半球状のはんだバンプを形成した。
続用パットに48%Sn−In共晶はんだのクリームは
んだをマスクおよびスキージを用いて印刷し、135℃
の温度で前記クリームはんだをリフローすることにより
略半球状のはんだバンプを形成した。
【0024】得られた実施例1〜5および比較例1〜3
のモジュール基板を、ガラスエポキシ樹脂製のマザーボ
ードに前記各基板のはんだバンプおよび前記マザーボー
ドに印刷、塗布した48%Sn−In共晶はんだのクリ
ームはんだを用いて接続、搭載した後、熱疲労試験(−
55℃〜+125℃、1h/サイクル)を1000サイ
クルを行い、全はんだバンプ(44個)における開放に
なった数を調べた。その結果を下記表1に示す。なお、
表1中には実施例1〜5および比較例1〜3のバンプの
高さを併記した。
のモジュール基板を、ガラスエポキシ樹脂製のマザーボ
ードに前記各基板のはんだバンプおよび前記マザーボー
ドに印刷、塗布した48%Sn−In共晶はんだのクリ
ームはんだを用いて接続、搭載した後、熱疲労試験(−
55℃〜+125℃、1h/サイクル)を1000サイ
クルを行い、全はんだバンプ(44個)における開放に
なった数を調べた。その結果を下記表1に示す。なお、
表1中には実施例1〜5および比較例1〜3のバンプの
高さを併記した。
【0025】
【表1】
【0026】前記表1から明らかなように実施例1〜5
のはんだバンプが形成されたモジュール基板は、マザー
ボードに高い接続信頼性で搭載されていることがわか
る。なお、前記実施例1〜5ではクリームはんだのリフ
ローと平坦化の工程を別々に行ったが、例えば図4に示
すようにモジュール基板1の接続用パット2にクリーム
はんだを印刷した後、前記はんだ間の領域に対応して突
起部20を有するホットプレートを押し当てリフローと
平坦化とを同時に行って断面が矩形状のはんだ22を形
成してもよい。
のはんだバンプが形成されたモジュール基板は、マザー
ボードに高い接続信頼性で搭載されていることがわか
る。なお、前記実施例1〜5ではクリームはんだのリフ
ローと平坦化の工程を別々に行ったが、例えば図4に示
すようにモジュール基板1の接続用パット2にクリーム
はんだを印刷した後、前記はんだ間の領域に対応して突
起部20を有するホットプレートを押し当てリフローと
平坦化とを同時に行って断面が矩形状のはんだ22を形
成してもよい。
【0027】前記実施例では、ガラスエポキシ樹脂製の
モジュール基板へのはんだバンプの形成を説明したが、
窒化アルルミニウム基材を有するセラミックパッケージ
へのはんだバンプの形成にも同様に適用できる。このよ
うなセラミックパッケージへのはんだバンプの形成工程
においては、実施例1〜5のガラスエポキシ樹脂製のモ
ジュール基板に比べて高い融点を有するPbベースはん
だを用いることができる。
モジュール基板へのはんだバンプの形成を説明したが、
窒化アルルミニウム基材を有するセラミックパッケージ
へのはんだバンプの形成にも同様に適用できる。このよ
うなセラミックパッケージへのはんだバンプの形成工程
においては、実施例1〜5のガラスエポキシ樹脂製のモ
ジュール基板に比べて高い融点を有するPbベースはん
だを用いることができる。
【0028】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればセ
ラミックパッケージ、モジュール基板等の回路基板の接
続用パットに所要の高さを有するはんだバンプを簡単に
形成でき、ひいては前記回路基板をマザーボードに搭載
する際の接続信頼性を著しく向上できる等顕著な効果を
奏する。
ラミックパッケージ、モジュール基板等の回路基板の接
続用パットに所要の高さを有するはんだバンプを簡単に
形成でき、ひいては前記回路基板をマザーボードに搭載
する際の接続信頼性を著しく向上できる等顕著な効果を
奏する。
【図1】本発明の実施例1におけるはんだバンプの形成
工程を示す断面図。
工程を示す断面図。
【図2】本発明の実施例1におけるはんだバンプの形成
工程を示す断面図。
工程を示す断面図。
【図3】本発明の実施例1におけるはんだバンプの形成
工程を示す断面図。
工程を示す断面図。
【図4】本発明のはんだバンプの形成工程における別の
態様を示す断面図。
態様を示す断面図。
1…モジュール基板、2…接続用パット、4、10、1
6…マスク、6、12、18…略半球状はんだ、8、1
4…上部平坦化はんだ、7、13、21…ホットプレー
ト、19…はんだバンプ。
6…マスク、6、12、18…略半球状はんだ、8、1
4…上部平坦化はんだ、7、13、21…ホットプレー
ト、19…はんだバンプ。
フロントページの続き (72)発明者 栂嵜 隆 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術研究所内 (72)発明者 木崎 幸男 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株 式会社東芝生産技術研究所内
Claims (1)
- 【請求項1】 回路基板またはモジュール基板の接続用
パットにはんだバンプを形成する方法において、 前記回路基板またはモジュール基板の接続用パットにク
リームはんだを印刷し、さらに前記クリームはんだをリ
フローし、その上部を平坦化する工程を少なくとも1回
行った後、上部が平坦化されたはんだ上にクリームはん
だを印刷し、前記クリームはんだをリフローすることを
特徴とするはんだバンプの形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6217179A JPH0883799A (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | はんだバンプの形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6217179A JPH0883799A (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | はんだバンプの形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0883799A true JPH0883799A (ja) | 1996-03-26 |
Family
ID=16700106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6217179A Pending JPH0883799A (ja) | 1994-09-12 | 1994-09-12 | はんだバンプの形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0883799A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003163232A (ja) * | 2002-11-21 | 2003-06-06 | Fujitsu Ltd | 予備ハンダの形成方法 |
| US9044135B2 (en) | 2011-06-16 | 2015-06-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Endoscope apparatus and electronic apparatus |
| JP2017522741A (ja) * | 2014-12-31 | 2017-08-10 | グワンチョウ ファーストプリント サーキット テック カンパニー リミテッド | フリップチップ基板に小間隔で高いはんだボールバンプを形成する製作方法 |
| CN107346748A (zh) * | 2017-08-10 | 2017-11-14 | 乐依文半导体(东莞)有限公司 | 固定晶圆的表面粘贴方法及smt晶圆固定装置 |
-
1994
- 1994-09-12 JP JP6217179A patent/JPH0883799A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003163232A (ja) * | 2002-11-21 | 2003-06-06 | Fujitsu Ltd | 予備ハンダの形成方法 |
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| JP2017522741A (ja) * | 2014-12-31 | 2017-08-10 | グワンチョウ ファーストプリント サーキット テック カンパニー リミテッド | フリップチップ基板に小間隔で高いはんだボールバンプを形成する製作方法 |
| CN107346748A (zh) * | 2017-08-10 | 2017-11-14 | 乐依文半导体(东莞)有限公司 | 固定晶圆的表面粘贴方法及smt晶圆固定装置 |
| CN107346748B (zh) * | 2017-08-10 | 2023-11-21 | 联测优特半导体(东莞)有限公司 | 固定晶圆的表面粘贴方法及smt晶圆固定装置 |
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