JPH088498B2 - 変調信号再生回路 - Google Patents
変調信号再生回路Info
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- JPH088498B2 JPH088498B2 JP1149789A JP14978989A JPH088498B2 JP H088498 B2 JPH088498 B2 JP H088498B2 JP 1149789 A JP1149789 A JP 1149789A JP 14978989 A JP14978989 A JP 14978989A JP H088498 B2 JPH088498 B2 JP H088498B2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 8
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 3
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000007476 Maximum Likelihood Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 1
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/10009—Improvement or modification of read or write signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10502—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed
- G11B11/10515—Reproducing
-
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- G11B20/10—Digital recording or reproducing
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は変調信号再生回路に関し、再生された変調信
号を整形して出力する変調信号再生回路に関する。
号を整形して出力する変調信号再生回路に関する。
光磁気ディスク、光ディスク等に情報を記録するため
の信号の変調方式として４−11変調又は４−15変調等が
用いられている。
の信号の変調方式として４−11変調又は４−15変調等が
用いられている。
４−11変調は第３図（Ａ）に示す如く１情報区間11ク
ロック周期においていずれか４クロック周期を「真」と
して８ビットの情報を記録する方式であり、４−15変調
はこれと同様に１情報区間15クロック周期においていず
れか４クロック周期を「真」として８ビットの情報を記
録する方式である。
ロック周期においていずれか４クロック周期を「真」と
して８ビットの情報を記録する方式であり、４−15変調
はこれと同様に１情報区間15クロック周期においていず
れか４クロック周期を「真」として８ビットの情報を記
録する方式である。
第４図、第５図夫々は従来の４−11変調信号再生回路
の各例の回路構成図を示す。
の各例の回路構成図を示す。
第４図に示すコンパレータ再生法において、端子10に
はディスクより再生された第３図（Ｂ）の如き再生信号
が入来してコンパレータ11の非反転入力端子に供給さ
れ、ここで反転入力端子に供給される可変基準電圧と比
較されて第３図（Ａ）の如きＨレベルが電圧ＶでＬレベ
ルがOvのパルス波形に整形され、再生変調信号として端
子12より出力される。これと共に再生変調信号は低域フ
ィルタ13で積分され、その平均電圧が差動増幅器14に供
給される。差動増幅器14は端子15から供給される基準電
圧VREF（＝４・V/11）と上記平均電圧とを差動増幅して
可変基準電圧を生成しコンパレータ11にフィードバック
して再生変調信号の平均値レベルを４・V/11に近付けて
いる。
はディスクより再生された第３図（Ｂ）の如き再生信号
が入来してコンパレータ11の非反転入力端子に供給さ
れ、ここで反転入力端子に供給される可変基準電圧と比
較されて第３図（Ａ）の如きＨレベルが電圧ＶでＬレベ
ルがOvのパルス波形に整形され、再生変調信号として端
子12より出力される。これと共に再生変調信号は低域フ
ィルタ13で積分され、その平均電圧が差動増幅器14に供
給される。差動増幅器14は端子15から供給される基準電
圧VREF（＝４・V/11）と上記平均電圧とを差動増幅して
可変基準電圧を生成しコンパレータ11にフィードバック
して再生変調信号の平均値レベルを４・V/11に近付けて
いる。
第５図に示す最尤再生法において、端子20に入来する
第３図（Ｂ）の如き再生信号はA/Dコンバータ21でクロ
ック周期毎にサンプリングされ、１情報区間で得られた
11個のサンプル値が順次メモリ22を介してコンパレータ
23a〜23d夫々に供給され、１情報区間毎にゼロリセット
されているレジスタ24a〜24d夫々の値と比較され、ロジ
ック回路25により１情報区間の11サンプルのうち大なる
ものから順に４個のサンプルがレジスタ24a〜24dに格納
される。またロジック回路25は各レジスタ24a〜24dの格
納サンプルが１情報区間の何番目のクロックのサンプル
であるかを格納しており、これを再生変調信号として１
情報区間毎に端子26より出力する。
第３図（Ｂ）の如き再生信号はA/Dコンバータ21でクロ
ック周期毎にサンプリングされ、１情報区間で得られた
11個のサンプル値が順次メモリ22を介してコンパレータ
23a〜23d夫々に供給され、１情報区間毎にゼロリセット
されているレジスタ24a〜24d夫々の値と比較され、ロジ
ック回路25により１情報区間の11サンプルのうち大なる
ものから順に４個のサンプルがレジスタ24a〜24dに格納
される。またロジック回路25は各レジスタ24a〜24dの格
納サンプルが１情報区間の何番目のクロックのサンプル
であるかを格納しており、これを再生変調信号として１
情報区間毎に端子26より出力する。
〔発明が解決しようとする課題） 従来のコンパレータ再生法は回路構成が簡単であるが
精度が低く、ディスクの再生状態が悪化すると再生変調
信号に誤りを生じ、１情報区間で「真」となる期間が４
クロック周期末端又はこれを越えてしまうという問題が
あった。
精度が低く、ディスクの再生状態が悪化すると再生変調
信号に誤りを生じ、１情報区間で「真」となる期間が４
クロック周期末端又はこれを越えてしまうという問題が
あった。
また、最尤再生法は高精度で再生誤りの心配はない
が、コンパレータ、レジスタ等の部品点数が多くロジッ
ク回路25のロジックも複雑になるという問題があった。
が、コンパレータ、レジスタ等の部品点数が多くロジッ
ク回路25のロジックも複雑になるという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、回路構成が
簡単で、かつ精度が高い変調信号再生回路を提供するこ
とを目的とする。
簡単で、かつ精度が高い変調信号再生回路を提供するこ
とを目的とする。
本発明の変調信号再生回路において、 コンパレータ再生部は、各情報区間内で真となるクロ
ック周期が一定期間の変調方式の記録変調信号の再生信
号を供給され、再生信号を基準電圧と比較してパルス波
形に整形する。
ック周期が一定期間の変調方式の記録変調信号の再生信
号を供給され、再生信号を基準電圧と比較してパルス波
形に整形する。
比較部は、各情報区間の再生信号をクロック周期でサ
ンプリングしたサンプル値を比較してパルス波形のハイ
レベル期間での最小サンプル値及びパルス波形のローレ
ベル期間での最大サンプル値夫々を得る。
ンプリングしたサンプル値を比較してパルス波形のハイ
レベル期間での最小サンプル値及びパルス波形のローレ
ベル期間での最大サンプル値夫々を得る。
修正指示部は、最小サンプル値及び最大サンプル値夫
々が各情報区間の何番目のクロック周期であるかの位置
を修正位置の指示用に格納する。
々が各情報区間の何番目のクロック周期であるかの位置
を修正位置の指示用に格納する。
検査部は、各情報区間のパルス波形の真となるクロッ
ク周期を一定期間と比較して不一致のとき最大サンプル
値又は最小サンプル値の位置を選択指示する。
ク周期を一定期間と比較して不一致のとき最大サンプル
値又は最小サンプル値の位置を選択指示する。
修正部は、各情報区間のパルス波形を検査部の選択指
示により修正指示部が修正を指示する位置でのみ反転し
て出力する。
示により修正指示部が修正を指示する位置でのみ反転し
て出力する。
本発明においては、パルス波形のハイレベル期間の最
小サンプル値をローレベルに反転する候補としてその位
置を修正指示部に格納し、同様にローレベル期間の最大
サンプル値をハイレベルに反転する候補としてその位置
を格納しておき、パルス波形の真となるクロック周期が
一定期間と異なるとき、このクロック周期に応じて上記
最小サンプル値又は最大サンプル値の位置でパルス波形
を反転させて修正を行なう。
小サンプル値をローレベルに反転する候補としてその位
置を修正指示部に格納し、同様にローレベル期間の最大
サンプル値をハイレベルに反転する候補としてその位置
を格納しておき、パルス波形の真となるクロック周期が
一定期間と異なるとき、このクロック周期に応じて上記
最小サンプル値又は最大サンプル値の位置でパルス波形
を反転させて修正を行なう。
これによって再生変調信号に誤りがなく高精度とな
り、また従来の最尤再生法に比して回路構成が簡単であ
る。
り、また従来の最尤再生法に比して回路構成が簡単であ
る。
第１図は本発明回路の一実施例の回路構成図を示す。
同図中、第４図と同一部分には同一符号を付し、その説
明を省略する。
同図中、第４図と同一部分には同一符号を付し、その説
明を省略する。
第１図において、端子10に入来するディスクより再生
された４−11変調の再生信号はコンパレータ11,低域フ
ィルタ13,差動増幅器14よりなるコンパレータ再生部16
で第４図と同様に大まかな再生を行なわれ、コンパレー
タ再生部16の出力するパルス波形の信号は比較部20のス
イッチ21,22,検査部30のアンド回路31,修正部40のシフ
トレジスタ41夫々に供給される。
された４−11変調の再生信号はコンパレータ11,低域フ
ィルタ13,差動増幅器14よりなるコンパレータ再生部16
で第４図と同様に大まかな再生を行なわれ、コンパレー
タ再生部16の出力するパルス波形の信号は比較部20のス
イッチ21,22,検査部30のアンド回路31,修正部40のシフ
トレジスタ41夫々に供給される。
比較部20のA/Dコンバータ23には端子10よりの再生信
号が供給され、A/Dコンバータ23はこの再生信号を端子1
7よりのクロック入来時にサンプリングし、得られた単
一のサンプル値はメモリ24に格納される。メモリ24に格
納されたサンプル値はスイッチ21及び比較器25夫々に供
給される。
号が供給され、A/Dコンバータ23はこの再生信号を端子1
7よりのクロック入来時にサンプリングし、得られた単
一のサンプル値はメモリ24に格納される。メモリ24に格
納されたサンプル値はスイッチ21及び比較器25夫々に供
給される。
スイッチ21,22夫々はコンパレータ再生部16の出力パ
ルスがＨレベルのとき端子ｈを選択してメモリ26を接続
し、上記出力パルスがＬレベルのとき端子ｌを選択して
メモリ27を接続し、スイッチ22は選択したメモリ26又は
27の値を比較器25に供給する。メモリ26,27は１情報区
間毎にリセットされる。比較器25はメモリ24よりのサン
プル値とスイッチ22よりのサンプル値とを比較し、メモ
リ24よりのサンプル値が大なるときＨレベルで小なると
きＬレベルの比較結果信号を出力する。スイッチ21,22
でメモリ26が選択されているときＬレベルの比較結果信
号が供給されるとメモリ26はメモリ24よりの単一のサン
プル値を格納する。また、スイッチ21,22でメモリ27が
選択されているときＨレベルの比較結果信号が供給され
るとメモリ27はメモリ24よりの単一のサンプル値を格納
する。
ルスがＨレベルのとき端子ｈを選択してメモリ26を接続
し、上記出力パルスがＬレベルのとき端子ｌを選択して
メモリ27を接続し、スイッチ22は選択したメモリ26又は
27の値を比較器25に供給する。メモリ26,27は１情報区
間毎にリセットされる。比較器25はメモリ24よりのサン
プル値とスイッチ22よりのサンプル値とを比較し、メモ
リ24よりのサンプル値が大なるときＨレベルで小なると
きＬレベルの比較結果信号を出力する。スイッチ21,22
でメモリ26が選択されているときＬレベルの比較結果信
号が供給されるとメモリ26はメモリ24よりの単一のサン
プル値を格納する。また、スイッチ21,22でメモリ27が
選択されているときＨレベルの比較結果信号が供給され
るとメモリ27はメモリ24よりの単一のサンプル値を格納
する。
これによって１情報区間の再生により、メモリ26には
コンパレータ再生部16の出力パルス波形のＨレベル期間
における最小サンプル値が格納され、メモリ27にはコン
パレータ再生部16の出力パルス波形のＬレベル期間にお
ける最大サンプル値が格納される。
コンパレータ再生部16の出力パルス波形のＨレベル期間
における最小サンプル値が格納され、メモリ27にはコン
パレータ再生部16の出力パルス波形のＬレベル期間にお
ける最大サンプル値が格納される。
検査部30のアンド回路31はコンパレータ再生部16の出
力パルス波形がＨレベルのとき端子17よりのクロックを
通過させてカウンタ32に供給する。カウンタ31は１情報
区間毎にリセットされ、上記パルス波形がＨレベルとな
る期間が１情報区間でクロックの何周期であるかをカウ
ントし、そのカウント値は比較器33で予め設定された値
「４」と比較され、その比較結果が制御信号としてメモ
リ部50のスイッチ54に供給される。
力パルス波形がＨレベルのとき端子17よりのクロックを
通過させてカウンタ32に供給する。カウンタ31は１情報
区間毎にリセットされ、上記パルス波形がＨレベルとな
る期間が１情報区間でクロックの何周期であるかをカウ
ントし、そのカウント値は比較器33で予め設定された値
「４」と比較され、その比較結果が制御信号としてメモ
リ部50のスイッチ54に供給される。
修正部40のシフトレジスタ41は11ビット構成で、端子
17よりのクロックによってコンパレータ再生部16の出力
パルスをシフトし、そのシフトアウト出力は反転回路42
に供給される。
17よりのクロックによってコンパレータ再生部16の出力
パルスをシフトし、そのシフトアウト出力は反転回路42
に供給される。
修正指示部50のカウンタ51は１情報区間毎にリセット
され端子17よりのクロックをカウントしてそのカウント
値をラッチ回路52,53夫々に供給する。ラッチ回路52は
コンパレータ再生部16の出力パルス波形がＨレベルでか
つ比較器25の比較結果信号がＬレベルのときカウンタ51
のカウント値をラッチし、ラッチ回路53はコンパレータ
再生部16の出力パルス波形がＬレベルでかつ比較結果信
号がＨレベルのときカウンタ51のカウント値をラッチす
る。
され端子17よりのクロックをカウントしてそのカウント
値をラッチ回路52,53夫々に供給する。ラッチ回路52は
コンパレータ再生部16の出力パルス波形がＨレベルでか
つ比較器25の比較結果信号がＬレベルのときカウンタ51
のカウント値をラッチし、ラッチ回路53はコンパレータ
再生部16の出力パルス波形がＬレベルでかつ比較結果信
号がＨレベルのときカウンタ51のカウント値をラッチす
る。
つまりラッチ回路52はメモリ26に格納された最大サン
プル値が１情報区間の何番目のクロック周期のものかを
示すカウント値をラッチし、ラッチ回路53はメモリ27に
格納された最大サンプル値が１情報区間の何番目のクロ
ック周期のものか示すカウント値をラッチする。
プル値が１情報区間の何番目のクロック周期のものかを
示すカウント値をラッチし、ラッチ回路53はメモリ27に
格納された最大サンプル値が１情報区間の何番目のクロ
ック周期のものか示すカウント値をラッチする。
スイッチ54は端子h,l夫々にラッチ回路52,53夫々の出
力値を供給され、端子eqに常時値「０」を供給されてお
り、比較器33よりカウンタ32のカウント値が「４」を越
えた場合の制御信号が供給されるとスイッチ54は端子ｈ
を選択し、カウンタ32のカウント値が「４」未満の場合
の制御信号が供給されると端子ｌを選択し、カウンタ32
のカウント値が「４」の場合の制御信号が供給されると
端子eqを選択し、選択した値を反転回路42に供給する。
力値を供給され、端子eqに常時値「０」を供給されてお
り、比較器33よりカウンタ32のカウント値が「４」を越
えた場合の制御信号が供給されるとスイッチ54は端子ｈ
を選択し、カウンタ32のカウント値が「４」未満の場合
の制御信号が供給されると端子ｌを選択し、カウンタ32
のカウント値が「４」の場合の制御信号が供給されると
端子eqを選択し、選択した値を反転回路42に供給する。
反転回路42はシフトレジスタ41のシフトアウトする１
情報区間11クロック周期のうちスイッチ54から供給され
る値で指示されるクロック周期のレベルを反転して端子
60より出力する。このときスイッチ54から値「０」が供
給されてこれはいずれのクロック周期についても反転を
行なわない。
情報区間11クロック周期のうちスイッチ54から供給され
る値で指示されるクロック周期のレベルを反転して端子
60より出力する。このときスイッチ54から値「０」が供
給されてこれはいずれのクロック周期についても反転を
行なわない。
つまり、４−11変調信号では１情報区間内でＨレベル
は４クロック周期であるが、コンパレータ再生部16の出
力パルス波形でＨレベル（又はＬレベル）期間が４クロ
ック周期を越えていれば残りのＬレベル（又はＨレベ
ル）期間で再生信号が最大レベル（又は最小レベル）の
クロック周期の強制的にＨレベル（又はＬレベル）とし
ている。
は４クロック周期であるが、コンパレータ再生部16の出
力パルス波形でＨレベル（又はＬレベル）期間が４クロ
ック周期を越えていれば残りのＬレベル（又はＨレベ
ル）期間で再生信号が最大レベル（又は最小レベル）の
クロック周期の強制的にＨレベル（又はＬレベル）とし
ている。
例えば第２図（Ａ）に示す如き４−11変調信号を記録
したディスクより同図（Ｂ）の如き再生信号が得られた
場合、コンパレータ再生部16の出力パルス波形は同図
（Ｃ）の如くなる。この場合１情報区間の再生により、
メモリ26にはサンプル値S4が格納され、かつラッチ回路
52には値「４」がラッチされ、カウンタ32のカウント値
が「３」であるために、同図（Ｃ）のパルス波形のうち
で上記ラッチ回路52の出力で指示される第４クロック周
期が反転され、同図（Ｄ）に示す如き波形の信号が再生
変調信号として端子60より出力される。
したディスクより同図（Ｂ）の如き再生信号が得られた
場合、コンパレータ再生部16の出力パルス波形は同図
（Ｃ）の如くなる。この場合１情報区間の再生により、
メモリ26にはサンプル値S4が格納され、かつラッチ回路
52には値「４」がラッチされ、カウンタ32のカウント値
が「３」であるために、同図（Ｃ）のパルス波形のうち
で上記ラッチ回路52の出力で指示される第４クロック周
期が反転され、同図（Ｄ）に示す如き波形の信号が再生
変調信号として端子60より出力される。
このようにして再生変調信号を高精度に得ることがで
きる。また、３サンプルを格納するメモリ24,26,27を持
てば良くロジックも検査部30,修正部40,修正指示部50の
簡単な構成で済む。
きる。また、３サンプルを格納するメモリ24,26,27を持
てば良くロジックも検査部30,修正部40,修正指示部50の
簡単な構成で済む。
なお、上記実施例では４−11変調信号を例にとって説
明したが、これは４−15変調信号を再生する回路であっ
ても同様であり、上記実施例に限定されない。
明したが、これは４−15変調信号を再生する回路であっ
ても同様であり、上記実施例に限定されない。
上述の如く、本発明の変調信号再生回路によれば、変
調信号を高精度に再生でき、かつ従来の最尤再生法に比
して部品点数が少なく回路構成が簡単となり、実用上き
わめて有用である。
調信号を高精度に再生でき、かつ従来の最尤再生法に比
して部品点数が少なく回路構成が簡単となり、実用上き
わめて有用である。
第１図は本発明回路の一実施例の回路構成図、第２図は
本発明を説明するための信号波形図、第３図は４−11変
調信号及びその再生信号の波形図、第４図，第５図夫々
は従来回路の各例の回路構成図である。 16……コンパレータ再生部、20……比較部、30……検査
部、40……修正部、50……修正指示部。
本発明を説明するための信号波形図、第３図は４−11変
調信号及びその再生信号の波形図、第４図，第５図夫々
は従来回路の各例の回路構成図である。 16……コンパレータ再生部、20……比較部、30……検査
部、40……修正部、50……修正指示部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０３Ｍ 7/14 Ｂ 9382−5Ｋ 13/02 8730−5Ｋ Ｈ０４Ｌ 25/49 Ａ 9199−5Ｋ
Claims (1)
- 【請求項１】各情報区間内で真となるクロック周期が一
定期間の変調方式の記録変調信号の再生信号を供給さ
れ、該再生信号を基準電圧と比較してパルス波形に整形
するコンパレータ再生部と、 該各情報区間の再生信号をクロック周期でサンプリング
したサンプル値を比較して該パルス波形のハイレベル期
間での最小サンプル値及び該パルス波形のローレベル期
間での最大サンプル値夫々を得る比較部と、 該最小サンプル値及び最大サンプル値夫々が各情報区間
の何番目のクロック周期であるかの位置を修正位置の指
示用に格納する修正指示部と、 該各情報区間のパルス波形の真となるクロック周期を該
一定期間と比較して不一致のとき該最大サンプル値又は
最小サンプル値の位置を選択指示する検査部と、 該各情報区間のパルス波形を該検査部の選択指示により
該修正指示部が修正を指示する位置でのみ反転して出力
する修正部とを有することを特徴とする変調信号再生回
路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1149789A JPH088498B2 (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | 変調信号再生回路 |
| US07/535,896 US5260917A (en) | 1989-06-13 | 1990-06-11 | Signal reproduction apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1149789A JPH088498B2 (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | 変調信号再生回路 |
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Family
ID=15482751
Family Applications (1)
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Country Status (2)
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| JP (1) | JPH088498B2 (ja) |
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| JP3224181B2 (ja) * | 1993-11-09 | 2001-10-29 | 富士通株式会社 | 光ディスクからのデータ再生システム |
| US5495466A (en) * | 1994-01-10 | 1996-02-27 | Eastman Kodak Company | Write verification in an optical recording system by sensing mark formation while writing |
Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
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| JPH0244583A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Toshiba Corp | データ伝送装置 |
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1989
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1990
- 1990-06-11 US US07/535,896 patent/US5260917A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5260917A (en) | 1989-06-13 | 1993-11-09 | Teac Corporation | Signal reproduction apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| US5260917A (en) | 1993-11-09 |
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