JPH0885873A - 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 - Google Patents
有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JPH0885873A JPH0885873A JP24852694A JP24852694A JPH0885873A JP H0885873 A JPH0885873 A JP H0885873A JP 24852694 A JP24852694 A JP 24852694A JP 24852694 A JP24852694 A JP 24852694A JP H0885873 A JPH0885873 A JP H0885873A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- raw material
- complex
- furnace
- vessel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 25
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 title description 11
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 238000000927 vapour-phase epitaxy Methods 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 abstract description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 abstract description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 239000010408 film Substances 0.000 description 15
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 10
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 5
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 3
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 2
- YRAJNWYBUCUFBD-UHFFFAOYSA-N 2,2,6,6-tetramethylheptane-3,5-dione Chemical compound CC(C)(C)C(=O)CC(=O)C(C)(C)C YRAJNWYBUCUFBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- QAMFBRUWYYMMGJ-UHFFFAOYSA-N hexafluoroacetylacetone Chemical compound FC(F)(F)C(=O)CC(=O)C(F)(F)F QAMFBRUWYYMMGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- -1 inorganic acid salt Chemical class 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
均一な薄膜を気相成長法によって容易に成膜することが
できる薄膜の製造方法の提供。 【構成】 まず、恒温槽3内にあって、トリス−ジピバ
ロイルメタナトイリジウムが1g充填された原料容器2
(SUS316製、 100℃の恒温に保持)に、不活性キャリア
ーガス4(アルゴンガス)を、フローメーター5を経て
流量を 200ml/min に調節して導入し、このガス4に上
記有機金属錯体1を同伴、昇華させる。次いで、このガ
スを熱分解炉6内に設けられ内部に基板9を載置した石
英反応管7(ヒーター8によって 500℃に加熱保持され
ている)に導入させ、基板9上への金属薄膜の成膜を行
う(1時間)。
Description
膜を製造する方法に関し、さらに詳しくは、電極材料等
として有用な特定組成を有する金属薄膜を製造すること
ができるIrとβ−ジケトン系有機化合物との錯体を用
いる薄膜の製造方法に関する。
ては、ドライプロセスとウエットプロセスといった2種
類の方法があるが、一般にウエットプロセスと比べてド
ライプロセスによって形成された薄膜のほうが品質面で
優れるため、ドライプロセスが多用されているのが現状
である。
オンプレーティング法およびスパッタリング法等の物理
的成膜法と、化学的気相蒸着法(CVD法)等の化学的
成膜法とがあるが、中でもCVD法は、成膜速度の制御
が容易である上、成膜を高真空下で行う必要がなく、し
かも高速成膜が可能であることなどから量産向きである
ため広く用いられている。
錯体の蒸気を分解させて金属薄膜を形成する場合、熱C
VD法、光CVD法またはプラズマCVD法などが採用
され、原料化合物としては、一般的に有機部分(配位
子)がジピバロイルメタン、ヘキサフルオロアセチルア
セトン等である1,3-ジケトン系有機金属錯体が使用され
てきた。
化合物の錯体は蒸気圧が高く、熱安定性に優れたものが
知られていないためCVD法によるIr薄膜またはIr
化合物薄膜の作製ができず、従来はスパッタリング法や
真空蒸着法等を用いなければならなかったので、(1)
成膜を高真空下で行わなければならず、設備が高価であ
る、(2)成長速度が遅いので高速成膜が難しい、
(3)均質な薄膜が得られない、等の問題を有してい
た。
術の問題点を解決し、蒸気圧が高く、熱安定性に優れた
有機金属錯体を用いることによって再現性の良い均一な
薄膜を容易に成膜することができる薄膜の製造方法を提
供することを目的する。
を解決するために鋭意研究した結果、金属としてのIr
とβ−ジケトン系有機化合物との錯体の物性測定をした
ところ、高昇華性であっていずれも低、中温(250 ℃以
下)でかなりの蒸気圧を示し、かつ蒸発温度(昇華温
度)と分解温度がはっきり離れており、不活性ガスに同
伴される錯体量が従来品よりも多いため、高速成膜が可
能でその上成膜された膜の特性も優れていることを見い
だし、本発明を提出することができた。
膜の製造方法であって、化2で示されるIrとβ−ジケ
トン系有機化合物との錯体を原料として用いることを特
徴とする有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法を提供す
るものである。
C2 H5 、−C2 F5、−C3 H7 、−C3 F7 および
−C(CH3 )3 からなる群より選ばれたいずれかの基
を表す。)
属錯体としては、β−ジケトンとIrの無機酸塩(ハロ
ゲン化物、硝酸塩等)とを反応させて得た錯体を用い
る。
VD法の概略を模式的に図示した図1を参照して、本発
明方法を説明する。
られた有機金属錯体1が充填された原料容器2(50〜 2
50℃の恒温に保持)に、不活性キャリアーガス4をフロ
ーメーター5を経て流量を 5〜 500ml/min に調節して
導入し、有機金属錯体の原料を同伴、昇華させ、熱分解
炉6内に設けられた石英反応管7に導入し、ヒーター8
によって所定の温度( 250〜 750℃)に加熱保持されて
いる基板9上で、有機金属錯体を熱分解し、金属薄膜を
生成させる。
管は、凝縮を防ぐために保温層10または加熱保温手段
により50〜 250℃に保温維持した。また、図中11は冷
却トラップ、12はバルブ、13はロータリーポンプで
ある。なお、矢印は昇華した有機金属錯体が移送される
方向あるいは分解ガスの排出方向を示している。
有機金属錯体は、高昇華性で昇華温度と分解温度とがか
なり離れており、不活性ガスに同伴される錯体量が従来
品よりも多く、かつ成膜された膜が均質で不純物の混入
もないので、β−ジケトン系有機金属錯体を原料化合物
として使用すれば優れた膜特性、高速成膜の両方を満足
させることができる。
実施例に示すものの他下記の表1に示す錯体を用いるこ
ともできることを確認している。
明の範囲はこれらに限定されるものではない。
にしたがって本発明の実施例を説明する。
ウム1gを原料容器2(ガラス製90℃の恒温に保持)に
充填した後、この容器2内にアルゴンガス4を 100ml/
min導入し、このガスにトリス−ジピバロイルメタナト
イリジウムを同伴させ、熱分解炉6に導いた。
ておいたシリコン基板9はヒーター8により 500℃に加
熱されており、原料容器から熱分解炉6までの配管は 1
20℃に保温した。このような条件下で30分間薄膜化を行
ったところ、厚さ2800オングストロ−ムの均一なIr薄
膜が得られた。
に代えてトリス 1,1,1,5,5,5−ヘキサフルオロアセチル
アセトナトイリジウムを使用したこと以外は実施例1と
同様な方法で成膜したところ、30分後に厚さ3200オング
ストロームの均一なIr薄膜が得られた。
Ir有機錯体は蒸気圧が高く、熱安定性に優れているの
で、高い昇華性を有する上、昇華温度と分解温度とが明
らかに離れているため、速い成膜速度で、均質かつ再現
性に優れた薄膜を得ることができる
Claims (1)
- 【請求項1】 気相成長法による薄膜の製造方法であっ
て、化1で示されるIrとβ−ジケトン系有機化合物と
の錯体を原料として用いることを特徴とする有機金属錯
体を用いる薄膜の製造方法。 【化1】 (ただし、式中RおよびR´は−CH3 、−CF3 、−
C2 H5 、−C2 F5、−C3 H7 、−C3 F7 および
−C(CH3 )3 からなる群より選ばれたいずれかの基
を表す。)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24852694A JPH0885873A (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24852694A JPH0885873A (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0885873A true JPH0885873A (ja) | 1996-04-02 |
Family
ID=17179503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24852694A Pending JPH0885873A (ja) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0885873A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5980983A (en) * | 1997-04-17 | 1999-11-09 | The President And Fellows Of Harvard University | Liquid precursors for formation of metal oxides |
| WO2002012598A1 (en) * | 2000-08-04 | 2002-02-14 | Walter David Braddock, Iv | Epitaxial wafer apparatus |
| JP2003064019A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-05 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | Cvd用原料化合物及びその製造方法並びにイリジウム又はイリジウム化合物薄膜の化学気相蒸着方法 |
| US6663706B2 (en) | 2002-05-01 | 2003-12-16 | Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. | Raw material compounds for use in CVD, and chemical vapor deposition for producing iridium or iridium compound thin films |
| US6753437B1 (en) | 2003-01-22 | 2004-06-22 | Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. | CVD material compound and method for manufacturing the same, and CVD method of iridium or iridium compound thin film |
| US7187045B2 (en) | 2002-07-16 | 2007-03-06 | Osemi, Inc. | Junction field effect metal oxide compound semiconductor integrated transistor devices |
| US7190037B2 (en) | 2000-05-04 | 2007-03-13 | Osemi, Inc. | Integrated transistor devices |
| WO2015104961A1 (ja) * | 2014-01-10 | 2015-07-16 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | シクロメタル化イリジウム錯体の原料及び製造方法 |
| WO2016111256A1 (ja) * | 2015-01-07 | 2016-07-14 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | シクロメタル化イリジウム錯体の原料及び製造方法 |
| EP3476857A4 (en) * | 2016-06-24 | 2019-05-15 | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | METHOD OF PREPARING CYCLOMETALED IRIDIUM COMPLEX AND NOVEL COMPOUND FOR USE IN THE SAID METHOD |
-
1994
- 1994-09-16 JP JP24852694A patent/JPH0885873A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5980983A (en) * | 1997-04-17 | 1999-11-09 | The President And Fellows Of Harvard University | Liquid precursors for formation of metal oxides |
| US6258157B1 (en) | 1997-04-17 | 2001-07-10 | President And Fellows Of Harvard College | Liquid precursors for formation of metal oxides |
| US7190037B2 (en) | 2000-05-04 | 2007-03-13 | Osemi, Inc. | Integrated transistor devices |
| WO2002012598A1 (en) * | 2000-08-04 | 2002-02-14 | Walter David Braddock, Iv | Epitaxial wafer apparatus |
| JP2003064019A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-05 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | Cvd用原料化合物及びその製造方法並びにイリジウム又はイリジウム化合物薄膜の化学気相蒸着方法 |
| US6663706B2 (en) | 2002-05-01 | 2003-12-16 | Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. | Raw material compounds for use in CVD, and chemical vapor deposition for producing iridium or iridium compound thin films |
| US7187045B2 (en) | 2002-07-16 | 2007-03-06 | Osemi, Inc. | Junction field effect metal oxide compound semiconductor integrated transistor devices |
| US6753437B1 (en) | 2003-01-22 | 2004-06-22 | Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. | CVD material compound and method for manufacturing the same, and CVD method of iridium or iridium compound thin film |
| WO2015104961A1 (ja) * | 2014-01-10 | 2015-07-16 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | シクロメタル化イリジウム錯体の原料及び製造方法 |
| CN106164033A (zh) * | 2014-01-10 | 2016-11-23 | 国立研究开发法人产业技术综合研究所 | 环金属化铱配合物的原料及制造方法 |
| JPWO2015104961A1 (ja) * | 2014-01-10 | 2017-03-23 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | シクロメタル化イリジウム錯体の原料及び製造方法 |
| US10053479B2 (en) | 2014-01-10 | 2018-08-21 | Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. | Raw material and production method for cyclometalated iridium complex |
| WO2016111256A1 (ja) * | 2015-01-07 | 2016-07-14 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | シクロメタル化イリジウム錯体の原料及び製造方法 |
| TWI585094B (zh) * | 2015-01-07 | 2017-06-01 | 國立研究開發法人產業技術總合研究所 | 環金屬化銥錯合物的原料及其製造方法 |
| JPWO2016111256A1 (ja) * | 2015-01-07 | 2017-10-19 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | シクロメタル化イリジウム錯体の原料及び製造方法 |
| EP3476857A4 (en) * | 2016-06-24 | 2019-05-15 | National Institute of Advanced Industrial Science and Technology | METHOD OF PREPARING CYCLOMETALED IRIDIUM COMPLEX AND NOVEL COMPOUND FOR USE IN THE SAID METHOD |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5158750A (en) | Boron nitride crucible | |
| US5075055A (en) | Process for producing a boron nitride crucible | |
| JPH0885873A (ja) | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 | |
| US3637423A (en) | Pyrolytic deposition of silicon nitride films | |
| US5064686A (en) | Sub-valent molybdenum, tungsten, and chromium amides as sources for thermal chemical vapor deposition of metal-containing films | |
| KR20140070591A (ko) | 유기 백금 화합물을 포함하는 화학 증착용 원료 및 상기 화학 증착용 원료를 사용한 화학 증착법 | |
| JP3611640B2 (ja) | 第8族元素類の成膜法およびこれに使用する原料化合物 | |
| JPH02217473A (ja) | 窒化アルミニウムフィルムの形成方法 | |
| JP3818691B2 (ja) | 希土類元素のcvd用原料化合物およびこれを用いた成膜法 | |
| JP3465848B2 (ja) | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造法 | |
| JP2002542397A (ja) | 銅薄膜の化学蒸着のための有機銅(i)前駆体 | |
| JP3584089B2 (ja) | 希土類元素のcvd用原料物質およびこれを用いた成膜法 | |
| JPH0339474A (ja) | 薄膜形成方法 | |
| JP3231835B2 (ja) | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造法 | |
| JP2802676B2 (ja) | 1,3―ジケトン系有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 | |
| JPH11315081A (ja) | 銅の化学蒸着に有用な有機銅(i)前駆体 | |
| JP2982929B2 (ja) | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造方法 | |
| JP2799763B2 (ja) | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造法 | |
| JPH06306609A (ja) | 有機金属錯体を用いる薄膜の製造法 | |
| JP3584091B2 (ja) | Cvd用銅源物質およびこれを用いた成膜法 | |
| JP3000035B2 (ja) | グラファイト薄膜の形成方法 | |
| JPH06157191A (ja) | 薄膜の製造方法 | |
| JP3106898B2 (ja) | ビスマス含有膜の形成方法 | |
| JP3379315B2 (ja) | 有機金属化学蒸着による白金薄膜形成用原料 | |
| JP3584097B2 (ja) | Cvd用カルシウム源物質およびこれを用いた成膜法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20040206 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040318 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20040727 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20040817 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041214 |