JPH09111457A - 光励起cvd装置および光励起cvd方法 - Google Patents
光励起cvd装置および光励起cvd方法Info
- Publication number
- JPH09111457A JPH09111457A JP7267379A JP26737995A JPH09111457A JP H09111457 A JPH09111457 A JP H09111457A JP 7267379 A JP7267379 A JP 7267379A JP 26737995 A JP26737995 A JP 26737995A JP H09111457 A JPH09111457 A JP H09111457A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- raw material
- chamber
- vapor
- photoexcitation
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
を解決する新しいCVD装置およびCVD方法を提供す
る。 【解決手段】原料暴露室19と光励起室21とを隔離
し、光励起室に面した励起窓への原料の拡散を阻止する
と共に、移動するサセプタ13を用いて原料暴露室19
と光励起室21に基板15を反復搬送させることより、
基板上へ膜形成を行わせる光励起CVD装置。
Description
学気相成長)装置および光励起CVD方法に係り、特に
従来技術の課題となっていた窓曇り問題を解決する新し
い構成のCVD装置およびCVD法に関する。
の形成手段として産業の広い分野でCVD法が用いられ
ているのは周知のとおりである。CVD法はスパッタリ
ングや抵抗線加熱蒸着などの物理的成膜法と異なって微
細な凹凸構造基板でも等角写像的な被覆性を有する膜が
得られるので、最近ではDRAM(随時書き込み読み出
しメモリ)に代表される半導体超高集積回路デバイスの
電極膜や層間絶縁膜、キャパシタ絶縁膜、保護膜として
盛んに用いられている。元来CVDは成膜メカニズムが
化学反応に由来しているので、物理的成膜法のような高
真空状態を必要とせず、大規模な成膜装置でも比較的安
価に実現できる。このため液晶フラットパネル表示装置
やアモルファス太陽電池などの大面積デバイスの半導体
膜、ゲート絶縁膜、層間絶縁膜の成膜手段としても広く
使用されている。
的損傷を軽減したり、基体をガラスや樹脂などの他の低
価格材料(しかし耐熱性が劣る)に置き換えるために、
成膜温度の低温化を望む声がにわかに高まっている。こ
れに応える一方法として広く普及しているものにプラズ
マ励起CVD法があるが、この方法にはプラズマ励起で
発生した高エネルギーイオンが衝突して、基体に物理的
損傷(衝突損傷)や電気的損傷(帯電損傷)を与えた
り、このイオンによって叩かれた反応器壁面の不純物が
薄膜内に異物として取り込まれるといった問題がある。
またプラズマ励起には一般に気相に存在する気体分子を
無差別に励起する(=励起の無選択性)属性があり、こ
のような励起の中には膜質に有害な影響を与える励起す
ら含まれることがある。後者が起こると、いくら成膜条
件を最適化しても満足する特性の薄膜が得られないこと
がある。
温化要請に応えるもう一つの有効な方法である。この方
法は、通常、水銀放電灯やレーザなどで発生させた10
eV(電子ボルト)未満のフォトンを透過窓を通して反
応器内の原料分子に照射し、堆積反応を促進させる。光
励起による生成物はフリーラジカルなどの電気的に中性
な中間体分子であり、反応器内部に高電界が印加される
こともないので、高エネルギーイオンの衝撃によって基
体が損傷を受けたり、不純物が膜内に取り込まれたりす
るという問題は起こらない。さらに、光励起は原料分子
固有の波長で起こる性質があるので、光源の波長を選ぶ
ことによって、特定の原料分子だけを選択的に励起でき
る可能性がある。このように光励起CVD法は上述した
プラズマ励起CVD法の難点を克服できる能力を潜在的
に有している。
しているにもかかわらず、光励起CVD法がプラズマ励
起CVD法に普及の点で大きく遅れを取っているのは、
文献(例えば RussellL. Abber, ”Photochemical Vapo
r Deposition,” Chapter 8 in ”Handbook ofThin-Fil
m Deposition Processes and Techniques,” Noyles Pu
blications,p.270 (1988).)などで指摘されているよう
に、「窓曇り」の問題が解決されていないからある。こ
の「窓曇り」問題とは、基体上で膜堆積が進行して行く
と、前記光の透過窓ガラス(合成石英ガラスやMgF2な
ど)にも同時に成膜が進み、これが原因となって反応器
内へのエネルギー供給が減少し、時間の経過と共に成膜
速度が急速に低下していく現象である。処理能力が成膜
を重ねる毎に落ちるから、窓曇りを回復させるための保
全処置(たとえば窓をはずして取り替えるなど)が頻繁
に必要となり、装置の維持・管理を煩雑なものにさせて
いる。さらに膜特性を決定する重要な成膜パラメータの
光励起強度が時間が進むにつれて減少するので、膜の特
性が刻々変化し、甚だしい場合には、膜が厚さ方向に不
均質になるという問題もある。
方法に、成膜中、光透過窓ガラスに多量の不活性ガス
(N2やAr)を吹きかけ、原料ガスの被着を抑制する方
法がある。(例えば、S. Tanimoto et al, Journal of
The Electrochemical Society,Vol. 139, p. 320, (199
2).)。この方法の原理は、窓ガラス付近の原料の濃度
を薄めることによって、原料の被着速度を遅くすること
である。反応器の中で大量の不活性ガスを吹き付けるこ
とができるなら、窓曇りは完全に防止することができ
る。しかし、不活性ガスの吹き付け量を増やすにつれ
て、基板付近の原料濃度も薄り、基板の堆積速度が急
速に低下する、反応器内で乱流が起って、原料濃度が
空間的に不均一になるので、基板面内の膜厚や膜質がば
らつく、などの弊害が顕在化してくるので、現実的に
は、吹き付け量には必ず上限がある。結局、この方法の
実用的な効果は、窓曇り問題が起きるまでの時間を数倍
に伸ばす程度であり、窓曇り問題を根本的に解決するに
は、遠く及ばなかった。
公報(特願昭59−175867号)において開示され
た「窓なし光励起CVD」法は、目的は本発明と必ずし
も一致しないが、上述の従来の光励起CVDが抱える問
題点を解決できる可能性を秘めたものである。すなわ
ち、この技術は、反応器の一隅に放電灯を隔壁を隔てる
ことなく取り込み、放電ガスと高周波電力を供給して放
電させ、発生した励起光を物理的光透過手段=窓ガラス
を介することなく直接成長室に導こうとするものであ
る。この方法では、曇りの対象となる窓ガラスが存在し
ないという意味で、窓曇りの問題を解決している。な
お、窓なし光励起CVD法の“窓なし”とは上述の説明
から明かなように、窓がないわけではなく、光透過用の
窓ガラスがないことを意味している。
VD法においては、放電室と成長室とを隔絶する窓ガラ
スがなく、両室間が大きく開口していることに起因した
新たな問題を引き起こしていた。その第1は窓なし光励
起CVD装置では機構上、放電室と成長室の圧力が同一
にならざるを得ないので、放電室の圧力と成長室の圧力
を独立に制御することができないという問題である。放
電のための最適圧力と成膜のための最適圧力とは必ずし
も一致するとは限らないから、このような場合、両最適
圧力間で妥協を図ることを余儀なくされる。
切る窓ガラスがないので、開口部で起こる放電ガスと原
料蒸気の相互拡散を食い止めることはできないという事
情に由来する。反応器の気体分子(=原料蒸気など)が
放電領域に侵入すると、侵入した気体分子が放電を阻害
したり、無差別的なプラズマ励起を被ることがある。後
者は光励起CVD法が持つ利点の一つ「励起の波長選択
性」が損なわれることを意味する。同様に放電ガスが成
長室に侵入すると適正な成膜条件を撹乱することがあ
る。
めになされたものであり、従来の光励起CVD法が有し
ていた課題すなわち窓曇り問題を解決する新しいCVD
装置およびCVD方法を提供することを目的とする。
め、本発明においては、特許請求の範囲に記載するよう
に構成している。すなわち、請求項1に記載の光励起C
VD装置においては、原料蒸気導入口、原料蒸気排出
口、基板を支持するサセプタおよび外設あるいは内設さ
れた光励起手段を配設した反応器と、原料供給系と、真
空排気系とから成る光励起CVD装置において、該反応
器器壁と該サセプタ上面とで囲まれる空間を、1個以上
の原料導入口を有する原料暴露室と、1個以上の原料導
入口と光励起手段を有する光励起室とに分割し、該原料
暴露室と該光励起室との間で、基板の相互移動を可能な
らしめる基板搬送手段を該反応器に付設するように構成
している。
においては、該原料暴露室と該光励起室とに成分の異な
る異種の原料を供給すると共に、隔壁とサセプタの該間
隙を介して基板を原料暴露室と光励起室との間で通交さ
せるように構成している。
簡略化して説明すれば、原料暴露室と光励起室とを隔離
し、光励起室に面した励起窓への原料の拡散を阻止する
と共に、基板搬送手段(例えば上記サセプタと共用)を
用いて原料暴露室と光励起室に基板を反復搬送させるこ
とより、基板上へ膜形成を行わせるものである。
について説明する。光励起CVD法は、多くの場合、基
板の表面に吸着した原料分子(あるは原料分子から誘導
された中間体分子)を光励起で活性化させることによっ
て反応を促進し、堆積を進行させる機構に基づいてい
る。いま、原料をAとB、堆積させる薄膜をS、老廃物
としての生成ガスをGとして、この堆積の機構を化学反
応式を使って表すと、まず、基板表面に原料蒸気Aまた
はBの吸着 Av + Bv → Aa + Ba(またはBv) …(1) が起こり、これが光によって励起されて、 Aa + Ba(またはBv) + hν(光励起) → S + G …(2) のようになる。ここで添え字 vと aは、それぞれ、外部
から供給された原料蒸気(またはガス)とその吸着種を
意味し、hνは光励起を表す。原料が1種類の場合は上
記の(1)式、(2)式からBを除けばよい。従来の光
励起CVD法では上記と同じ反応が励起窓ガラス面でも
生じており、付着した薄膜Sが励起光の透過を妨げ、結
果として窓曇り問題を引き起こしていた。
に観察し熟慮検討することによってもたらされたもので
あり、「薄膜Sが窓ガラスに析出するのは、窓ガラスに
吸着したAaが光励起を受けて活性化され、Ba(または
Bv)と反応することが原因であるから、成膜中、Aaと
Ba(またはBv)とを、窓ガラス上には共存させずに、
かつ、基板上には共存させて光励起することができれ
ば、窓曇りを生じさせず基板にだけ薄膜Sを堆積でき
る」との技術思想に基づいて得た結論である。
およびこれを用いたCVD方法について、実施の形態お
よび実施例に基づいて説明する。なお、以下に述べる実
施の形態におけるCVD原料や生成される薄膜、生成ガ
ス等については、前出の場合と同様に、A、B、S、G
などのように一般化した表現で説明し、後述する実施例
において実際の原料の例を示す。
3は、本発明の光励起CVD装置の第1の実施の形態
(以下「成膜装置の第1の実施の形態」と称する。)を
示す図であり、図1は透視図的斜視略図、図2および図
3は要部断面図を示す。図1〜図3において、10は中
心線L1の回りに概ね対称構造を取る円筒型反応器であ
る。11は複数の原料蒸気を発生し、これを10に輸送
する原料供給系、12は10の生成ガスや余剰ガスを器
外に排出する真空排気系である。なお、図2は該反応器
を円周線L2で真下に切断したときの要部断面図、図3
は該反応器を直径線L3で真下に切断したときの要部断
面図である。
盤状のサセプタであり、成膜中、基板15を水平に支持
し所定の温度に保持しながら回転させられている。16
aと16b、16cは反応器壁17aと該サセプタ上面
とで囲まれる空間を図の如く3分割する隔壁である。こ
の隔壁は、反応器壁とは密に接しているが、サセプタ1
3とは数ミリメートルの間隙18を挟んで対向してい
る。回転するサセプタ13に載置された基板15はこの
間隙をくぐることによって隔壁に接触することなく隣室
に進むことができる。
原料暴露室19、隔壁16bと16cに挟まれた空間を
第2原料暴露室20、隔壁16cと16aに挟まれた空
間を第1光励起室21と呼ぶことにする。第1原料暴露
室19には反応器器壁上部に原料導入口22があり、成
膜中、原料供給系11からこれを通じて第1の原料蒸気
が導かれる。同様に、第2原料暴露室20には原料導入
口23から第2の原料蒸気が、第1光励起室21には原
料導入口24から第3の原料蒸気が導かれる。
剰の反応ガスは反応器器壁17bの底部に設けられた複
数の排出口25を通して器外に排出される。この排出口
は隔壁16a、16b、16cの下部に位置するように
配置するのが望ましい。また、第1光励起室21の反応
器上部には光励起手段26がある。成膜中、光励起手段
26から射出された励起光は、反応器の励起窓27を密
閉するように載置された励起窓ガラス28を通して、こ
の時、第1光励起室21を通過している基板15に直射
される。
よる成膜方法の第1の実施の形態を説明する。ここでは
前記成膜装置の第1の実施の形態(図1〜図3)を用い
て本成膜方法を達成する方法を説明するが、これに限っ
たものではなく、後述する他の成膜装置の実施の形態で
も同様に達成することができる。
うに割り当てる。すなわち、第1原料蒸気はA蒸気、第
2原料蒸気はB蒸気、第3原料蒸気は窒素やアルゴン等
の不活性ガスである。原料供給系11から輸送されたA
蒸気は第1原料暴露室19に、B蒸気は第2原料暴露室
20に、不活性ガスは第1光励起室21に導入された
後、層流となって各室のサセプタ上の基板15表面を暴
露した後、サセプタ下部で合流し、生成ガスと共に排出
口25から真空排気系にて器外に排出される。
光励起室の容積(または水平断面積)の比に等しい。こ
の結果、隔壁16aや16b、16cの両側で差圧が発
生しない。反応器10内の圧力は10~3Torr〜100To
rrであり、原料蒸気の総流量は、反応器10内の層流の
進行速度が10cm/sec以上になるような値が選ばれ
る。このような条件下では、隔壁の間隙18を通して入
るの隣室のガスの侵入は、数cm未満の範囲であり、実質
的に無視できる。
の基板15と励起窓ガラス28とが時間と共にどの様に
原料蒸気に暴露されるかを模式図的に示したものであ
る。回転するサセプタ13上に置かれた基板15は、隔
壁を通過する毎に、異種の蒸気に暴露される。順を追っ
て更に詳しく説明すると、第1原料蒸気暴露室19に入
った基板15の表面はA蒸気に暴露される。このとき、
表面には1分子層未満のA蒸気が吸着する。これを化学
式で表すと、 Av → Aa (3) となる。
2原料蒸気暴露室20に入ると、基板15はB蒸気にさ
らされるので、B蒸気が基板15表面に1分子層未満吸
着して、 Aa + Bv → Aa + Ba (4) のようにA蒸気とB蒸気が共吸着している状態となる。
光励起室21に入ると、基板15に吸着したA蒸気ある
いはB蒸気は光照射hνを浴びて励起され、 Aa + Ba + hν(光励起) → S + G (5) のように1分子層未満の薄膜Sとなり、不要な生成ガス
Gを気相に放出する。第1光励起室21のガスは不活性
であるから表面での反応には参加しない。
上にはサセプタ13が一回転するごとに薄い膜Sが1層
形成されるので、回転を繰り返せば所望の厚みの薄膜S
を成膜することができる。
1の上部に固定されており、前に説明したとおり、第1
光励起室21へのA蒸気及びB蒸気の侵入は実質無視で
きるので、窓ガラス表面は成膜中、終始、不活性ガスに
曝されていることになる。したがって励起窓ガラス28
の表面に膜が成長することはない。
って、励起窓ガラス28の窓曇りを引き起こすことな
く、基板15表面にのみ所望の厚さの薄膜を付着し得る
ことは明白である。従って、本実施の形態の装置及び成
膜の方法は従来技術の光励起CVDの有していた窓曇り
の問題を解決したものということができる。
異種原料蒸気間の気相反応と気相励起に関して、従来の
光励起CVD法にない次のような特長を有している。す
なわち、図4によれば、本実施の形態ではA蒸気とB蒸
気とが気相反応を行わず、かつ気相励起も起こらない環
境で成膜を進行させることができる。これは従来の光励
起CVD法では実現できない成膜プロセスである。
成膜方法の第2の実施の形態を説明する。ここでも前記
成膜装置の第1の実施の形態を用いて達成する方法を説
明するが、これに限ったものではなく、後述する他の成
膜装置の実施の形態でも同様に達成することができる。
蒸気、第2原料蒸気は不活性ガス、第3の原料蒸気はB
蒸気とする。ただし、ここでB蒸気は光励起を受けても
これ単独では析出物を生じない原料に限定する。
ガス、B蒸気は、それぞれ、第1原料暴露室19、第2
原料暴露室20、第1光励起室21に導入され、層流と
なって各室のサセプタ上の基板15表面を暴露した後、
前記成膜方法の第1の実施の形態と同様に、サセプタ1
3の下部で合流し、生成ガスとともに排出口から真空排
気系12にて器外に排出される。
光励起室の容積(または水平断面積)の比に等しく、ど
の隔壁の両側でも差圧は発生しない。反応器10内の圧
力は10~3Torr〜100Torrであり、原料蒸気の総流量
は、反応器10内の層流の速度が10cm/sec以上にな
るように設定される。このような条件下では、サセプタ
13と隔壁との間の間隙18を通して起こるガスの相互
拡散は、数cm未満の範囲であり、実質的に無視できる。
と励起窓ガラス28が時間と共に、どの様に原料蒸気に
曝されるかを模式図的に示したものである。
5は第1原料蒸気暴露室19に入るとA蒸気に暴露され
る。このとき、基板15表面には、 Av → Aa (6) のように、1分子層未満のA蒸気が吸着する。
板15表面は不活性ガスに曝されることになるが、ガス
が不活性ゆえ反応は進まず、基板15はそのままの状態
でつぎの第1光励起室21に送られる。第1光励起室2
1に入ると基板15はB蒸気に曝されるので表面では、 Aa + Bv → Aa + Ba (7) のようにB分子の吸着が進む。しかし、同時に光照射も
受けるので光励起反応 Aa + Ba + hν(光励起) → S + G (8) が直ちに起こり、薄膜Sが形成される。
19で吸着したA蒸気の量で制限されるので、生成され
る薄膜の厚みは1分子層未満の厚みとなる。
タ13が一回転するごとに1分子層未満の薄い膜Sが基
板15に形成される。そして回転を繰り返せば所望の厚
みの薄膜Sを成膜することができる。
B蒸気に曝されることになるが、上述のようにB蒸気は
非析出性の蒸気であるから、B蒸気がせいぜい1分子層
吸着するのみであり、膜は形成されない。この吸着層に
よる励起光の吸収は、吸着層の厚みが極めて薄いので、
殆ど無視し得る程度のものである。
っても、励起窓ガラス28の窓曇りを引き起こすことな
く、基板15表面に薄膜を付着し得ることは明白であ
る。従って、本実施の形態の装置及び成膜の方法は従来
技術の光励起CVDの有していた窓曇りの問題を解決し
たものということができる。
従来の光励起CVD法にない次のような特長を有してい
る。すなわち、図5によれば、本実施の形態ではA蒸気
とB蒸気との気相反応を起こさせず、かつB蒸気の気相
励起を起こさせながら成膜を進行させることができる。
これは従来の光励起CVD法では実現できない成膜プロ
セスである。
の第3の実施の形態は、原料蒸気AとBを第1原料暴露
室19に導入する場合の例である。なお、第1原料暴露
室19ではなく第2原料暴露室20に導入してもよい。
ここでも便宜的に、前記成膜装置の第1の実施の形態を
用いて達成する方法を説明する。
料蒸気はA蒸気とB蒸気の混合蒸気であり、第2原料蒸
気と第3原料蒸気は共に不活性ガスとする。
は反応器外で混合され、第1原料暴露室19に導入され
る。また原料供給系から独立に輸送された第1不活性ガ
スと第2不活性ガスは、それぞれ、第2原料暴露室20
と第1光励起室21に導入される。混合蒸気及び不活性
ガスは層流となって各室のサセプタ13上の基板15表
面を暴露した後、前記成膜方法の第1の実施の形態と同
様に、サセプタ下部で合流し、生成ガスと共に排出口か
ら真空排気系12にて器外に排出される。混合蒸気と第
1不活性ガスと第2不活性ガスの流量比はそれぞれが流
入する原料暴露室、光励起室の容積(または水平断面
積)の比に等しい。このため、隔壁の両側では差圧が発
生しない。反応器内の圧力は10~3Torr〜100Torrで
あり、原料蒸気の流量は、反応器10内の層流の速度が
10cm/sec以上になるように設定される。このような
条件下では、第1光励起室21に入って来る隣室のガス
の侵入は、数cm未満の範囲であり、実質的に無視でき
る。
時間と共に、どの様に原料蒸気に曝されるかを模式図的
に示したものである。回転するサセプタ13上に置かれ
た基板15は、第1原料暴露室19に入るとA蒸気とB
蒸気に暴露される。このとき、基板15表面には、 Av + Bv → Aa + Ba (9) のように、1分子層未満のA蒸気とB蒸気が吸着する。
15表面は不活性ガスに曝されることになるが、不活性
ゆえ反応は進まず、基板15はそのままの状態で次の第
1光励起室21に送られる。第1光励起室21に入ると
基板15は光照射を受けるので光励起反応 Aa + Ba + hν(光励起) → S + G (10) が起こり、直ちに1分子層程度の薄膜Sが形成される。
未満の薄い膜Sが基板15に積層されるので、回転を繰
り返せば所望の厚みの薄膜Sを成膜することができる。
起室21にて終始不活性ガスに曝されるのみであるか
ら、膜は全く形成されない。
っても、励起窓ガラス28の窓曇りを引き起こすことな
く、基板15表面に薄膜を付着し得ることは明白であ
る。従って、本実施の形態における装置及び成膜の方法
は従来技術の光励起CVDの有していた窓曇りの問題を
解決したものということができる。
異種原料蒸気間の気相反応と気相励起に関して、従来の
光励起CVD法にない次のような特長を有している。す
なわち、図6によれば、本実施の形態ではA蒸気とB蒸
気との気相反応を行わせ、かつA蒸気及びB蒸気の気相
励起を禁止する環境で成膜を進行させることができる。
これは従来の光励起CVD法では実現できない成膜プロ
セスである。
の第4の実施の形態は、原料蒸気Aと不活性ガスとで膜
堆積を行う特別の場合である。ここでも前記成膜装置の
第1の実施の形態を用いて実現方法を説明するが、後述
の成膜装置の他の実施の形態でも実現可能である。
3原料蒸気は共に不活性ガスである。原料供給系から輸
送されたA蒸気は第1原料暴露室19に導入される。ま
た原料供給系から独立に輸送された第1不活性ガスと第
2不活性ガスは、それぞれ、第2原料暴露室20と第1
光励起室21に導入される。A蒸気及び不活性ガスは層
流となって各室のサセプタ13上の基板15表面を暴露
した後、成膜方法の第1の実施の形態と同様に、サセプ
タ13下部ので合流し、生成ガスと共に排出口24から
真空排気系12にて器外に排出される。A蒸気と第1不
活性ガスと第2不活性ガスの流量比はそれぞれが流入す
る原料暴露室、光励起室の容積(または水平断面積)の
比に等しい。このため、隔壁の両側では差圧が発生しな
い。反応器10内の圧力は10~3Torr〜100Torrであ
り、原料蒸気の流量は、反応器内の層流の速度が10cm
/sec以上になるように設定される。このような条件下
では、第1光励起室21に入って来る隣室のガス侵入は
実質的に無視できる。
面が時間と共に、いかに原料蒸気に曝されるかを模式図
的に示したものである。
5は第1原料暴露室19に入ると表面にA蒸気が吸着し
て Av → Aa (11) のように反応がすすむ。
15表面は不活性ガスに曝されることになるが、反応は
進まず、基板15はそのままの状態で第1光励起室21
に送られる。
基板15表面のA蒸気は分解して Aa + hν(光励起) → S + G (12) となり、1分子層程度の薄膜Sを形成すると共に、気相
に生成ガスGを放出する。この成膜工程ではサセプタ1
3が一回転するごとに1分子層未満の薄い膜Sが基板1
5に積層されるので、回転を繰り返せば所望の厚みの薄
膜Sを成膜することができる。
起室21にて終始不活性ガスに曝されるのみであるか
ら、励起窓ガラス28表面には膜は形成されない。
っても、励起窓ガラス28の窓曇りを引き起こすことな
く、基板15表面に薄膜を付着し得ることは明白であ
る。従って、本実施の形態の装置及び成膜の方法は従来
技術の光励起CVDの有していた窓曇りの問題を解決し
たものということができる。
法(光励起CVD法)の第1の実施の形態から第4の実
施の形態は、成膜装置(CVD装置)の第1の実施の形
態に限って適用されるべきものではなく、以下に説明す
る成膜装置の他の実施の形態でも同様に実現可能であ
る。
11は本発明の光励起CVD装置の第2の実施の形態
(成膜装置の第2の実施の形態と記す)を示すずであ
り、図8は透視図的正面図(略図)、図9、図10及び
図11はそれぞれ図8を線分L4、L5、L6で切断し
たときの要部断面図である。
と41bで囲われる反応器、42は該反応器40に基板
43を出し入れするためのロードロック型基板出入器、
44は一つあるいは複数の原料蒸気を発生して反応器4
0まで輸送する原料供給系、45は反応器40の生成ガ
スや余剰ガスを器外に排出する真空排気系である。
て支持されたキャタピラ状の可動サセプタ46があり、
基板43を常に上部に置きながら接地床面に対して平行
に保ちながら時計回りに周回させることができる。47
は複数の支持柱48に支えられている埋め込み型ヒータ
で、可動サセプタ46を均一に加熱するすることを役割
としている。49a〜49lは反応器器壁41a、41
bと可動サセプタ46の上面とで囲まれる環状の空間を
複数に(図では12個に)分割する隔壁である。この隔
壁は、該反応器器壁とは密に接しているが、可動サセプ
タ46とは数mmの間隙39を保持して対向しているの
で、可動サセプタ46及び基板43の周回運動を妨げる
ことはない。すなわち、可動サセプタ46に載置された
基板43はこの間隙から、隔壁に接触することなく、隣
室に通り抜けることができる。
原料暴露室50、隔壁49bと49cに挟まれた空間は
第2原料暴露室51、隔壁49dと49eに挟まれた空
間は第1光励起室52である。以下同様に、順に、第3
原料暴露室53、第4原料暴露室54、第2光励起室5
5、第5原料暴露室56、第6原料暴露室57、第3光
励起室58、第7原料暴露室59、第8原料暴露室6
0、第4光励起室61、を定義する。各光励起室52、
55、58、61の反応器上部には、それぞれ光励起手
段62、63、64、65が外設されている。成膜中、
該光励起手段から射出された励起光は、器壁に開口され
た励起窓66の窓ガラス67を通して、下を通過してい
る基板43に直射される。なお、図10及び図11では
第1光励起室52に対応する励起窓と窓ガラスのみ表示
している。
の原料導入口37が少なくとも1個、設けられており、
原料蒸気供給系45から輸送された原料蒸気はここから
反応器40内に導かれる。以下、原料暴露室及び光励起
室50〜61に導入される原料蒸気をこの番号順に「第
1の原料蒸気」、「第2の原料蒸気」、…、「第12の
原料蒸気」と称することにする。
剰の反応ガスは反応器器壁底部に設けられた排出口68
を介して器外に排出される。排出口は隔壁49a〜49
lの下部に配置するのが望ましい。
の光励起室との組が直列に合計4組並ぶ構成をしている
が、これはほんの一例であって、2組以上なら何組以上
並べてもよい。また、1組の中に1個あるいは複数の原
料暴露室や光励起室を設ける構成にしてもよい。
て前述の成膜方法の第1〜第4の実施の形態を実現でき
ることを説明する。
うに、本装置の実施の形態では可動性の可動サセプタ4
6に載置された基板43は、隔壁49a、49b、49
c…の下部間隙を順次くぐり抜けることによって、順
に、第1原料蒸気暴露室、第2原料暴露室、第1光励起
室…に入り、第1原料蒸気、第2原料蒸気、第3原料蒸
気…に曝される。光励起室において、基板43は、光励
起を受ける。
該励起室に導入さている原料蒸気だけに曝されることに
なる。このような基板43と窓ガラスの原料蒸気暴露に
関する履歴の相違は、前記成膜装置の第1の実施の形態
で説明した基板15と窓ガラス28の履歴の相違と本質
的に同じである。故に、本成膜装置の第2の実施の形態
が成膜方法の第1〜第4の実施の形態を実現できること
は直観的に明らかである。したがって、ここでは本成膜
装置の第2実施の形態を用いた場合の代表例として、下
記のごとく成膜方法の第1の実施の形態を実現できるこ
とを詳述するにとどめることにする。
形態において、第1原料蒸気と第4原料蒸気、第7原料
蒸気、第10原料蒸気はA蒸気、第2原料蒸気と第5原
料蒸気、第8原料蒸気、第11原料蒸気はB蒸気、第3
原料蒸気と第6原料蒸気、第9原料蒸気、第12原料蒸
気は窒素やアルゴン等の不活性ガスである。
蒸気、B蒸気、不活性ガスは、それぞれ、A蒸気につい
ては、第1原料暴露室50と第3原料暴露室53、第5
原料暴露室56、第7原料暴露室59に、B蒸気につい
ては、第2原料暴露室51と第4原料暴露室54、第6
原料暴露室57、第8原料暴露室60に、不活性ガスに
ついては、第1光励起室52、第2光励起室55、第3
光励起室58、第4光励起室61に導入され、層流とな
って各室のサセプタ46上の基板表面を暴露した後、サ
セプタ下部で合流し、生成ガスと共に排出口62から真
空排気系45にて器外に排出される。各蒸気の流量比は
流入する各原料暴露室、光励起室の容積(または水平断
面積)の比に等しい。この結果、どの隔壁の両側でも差
圧は発生しない。反応器40内の圧力は10~3Torr〜1
00Torrであり、原料蒸気の流量は、各室の層流速度が
10cm/sec以上になるように適当な数値が選ばれる。
このような条件下では微細な間隙67を通しての隣室ガ
スの侵入は、数cm未満の範囲であり、励起窓ガラス67
に隣室ガスが到着することはありえない。
は、前記図4のサイクルを繰り返す形となる。すなわ
ち、第1原料暴露室50にある基板表面はA蒸気に暴露
され、このとき、基板表面には1分子層未満のA蒸気が
吸着する。すなわち、 Av → Aa (13) となる。
料暴露室51に入ると基板は、B蒸気に暴露される。こ
こでB蒸気が吸着し、 Aa + Bv → Aa + Ba (14) のように基板表面はA蒸気とB蒸気とが共吸着している
状態となる。
から第1光励起室52に入ると、表面のA蒸気あるいは
B蒸気は光照射hνを浴びて励起され、1分子層未満の
薄膜Sに変化し、不要な生成ガスGを気相に放出する。
すなわち、 Aa + Ba + hν(光励起) → S + G (15) となる。なお、第1光励起室52の原料蒸気は不活性な
ので表面の反応には参加しない。
後の第4光励起室61までを経過する間に以上の工程
(13)〜(15)が3回繰り返される。こうして、基
板43が可動サセプタ46の周回工程を1周する間に、
表面には1分子層未満の薄い膜Sが4層積層される。以
上の説明から明らかなとおり、この周回を繰り返すこと
により所望の厚みの薄膜Sを基板上に成膜することがで
きる。
固定されており、上述のようにA蒸気やB蒸気の付着は
無視できるので、窓ガラス表面に膜が成長することはな
い。
って、励起窓ガラス67の窓曇りを引き起こすことな
く、基板表面にのみ所望の厚さの薄膜を付着し得ること
は明白である。従って、本成膜装置及び成膜方法は従来
技術の光励起CVDの有していた窓曇りの問題を解決し
たものということができる。
A蒸気とB蒸気とが気相反応を行わず、かつ気相励起も
起こらない環境で成膜を進行させることができる。これ
は従来の光励起CVD法では実現できない有益な成膜プ
ロセスである。
は、3原料以上からなるCVDの場合にも、もちろん可
能である。3原料以上の場合には、基本的には、隔壁に
よる反応器の分割の個数を増やすと共に、成膜方法の第
1の実施の形態から第5の実施の形態を適宜組み合わせ
ることによって実現することができる。
成膜装置の第1及び第2の実施の形態においては、原料
暴露室と光励起室が共に器壁と隔壁とで囲まれていた。
しかし、本発明はこのような構造ばかりではなく、原料
暴露室(あるいは光励起室)が隔壁だけに囲まれる構造
でも、実現することができる。つぎに説明する成膜装置
の第3の実施の形態は、上記のように原料暴露室が隔壁
に囲まれる構造の例である。
の形態を示す図であり、図12は透視図的斜視図、図1
3及び図14は円筒形反応器70を中心軸L7に平行
に、それぞれ線分L8、L9で、切断した時の要部断面
図である。
2、第3の原料蒸気を独立に発生し輸送する原料供給
系、72は真空排気系である。円筒形反応器70は上部
器壁73aと下部器壁73bとからなっている。中には
回転支持軸74により支持された円盤状のサセプタ75
があり、成膜中、基板76を水平に支持し、所定の温度
に保持しながら回転させられている。
あり、この隔壁とサセプタ75とで囲まれる空間が第1
原料暴露室78である。同様に、79は上面と側面から
なるもう一つの円筒形隔壁であり、この隔壁とサセプタ
75とで囲まれる空間が第2原料暴露室81である。サ
セプタ75と隔壁77,79との間には基板76の通行
を可能にするだけの数ミリメートルの間隙82,83が
開いている。したがって、回転するサセプタ75に載置
された基板76は、この間隙をくぐることによって隔壁
に接触することなく隣室に進むことができる。隔壁7
7,79の上面には反応器器壁73aを経由して、それ
ぞれ、原料導入口84,85が導口されている。これに
よって第1の原料蒸気と第2の原料蒸気を、それぞれ、
第1原料暴露室78と第2原料暴露室81に導くことが
できる。
空間で、かつ、隔壁で仕切られた前記原料暴露室78お
よび81を除く空間が、本実施の形態の場合における光
励起室86である。光励起室86の器外上部には光励起
手段87が置かれていて、射出された励起光は励起窓ガ
ラス88を通して、光励起室86を通行中の基板76に
照射される。また、光励起室86には器壁を介して、第
3の原料蒸気の導入口89が設けられている。
定流量で流されている。一方、原料暴露室や光励起室で
生成したガスや余剰の原料蒸気は器壁73bの底部に設
けられた複数の排出口90を通して器外に排出される。
露室が空間を隔てて設置される構成となっているが、こ
れは一例を示したものであって、原料暴露室が1個でも
2個以上あってもよい。ただし、各原料暴露室は専用の
原料導入口を有している必要がある。また、隔壁は柱状
であればよく、円筒形である必要はない。例えば4角柱
や3角柱構造でも構わない。また各原料暴露室は、目的
に応じて側面隔壁を接するように並べる構成にしてもよ
い。
法の第1〜第4の実施の形態までを実現できることを簡
単に説明する。ただし、ここでは説明の都合上、図12
に示した例のように第1原料暴露室78と第2原料暴露
室81とが離れた構造ではなく、図15に示すように、
第1原料暴露室78と第2原料暴露室81とが接して配
置されている構造とする。
は第1原料暴露室78、第2原料暴露室81、光励起室
86を順に繰り返し通過する。このとき第1原料暴露室
78では第1原料蒸気、第2原料暴露室81では第2原
料蒸気に曝される。つづく光励起室86では、基板76
が第3原料蒸気に曝されると同時に光励起を受ける。一
方、励起窓ガラス88は常時、光励起室上部に置かれて
いるので、第3原料蒸気のみ曝され、第1原料蒸気と第
2原料蒸気には一切曝されない。このような原料蒸気暴
露の履歴に関する基板と窓ガラスの相違は、前記した成
膜装置の第1の実施の形態の場合と、全く異なるところ
がない。したがって、本実施の形態が成膜方法の第1〜
第4の実施の形態を達成できることは、詳細な説明をす
るまでもなく、明らかである。
発明のCVD成膜方法の第6の実施の形態を説明する。
この成膜方法は、前述の本発明の成膜装置の実施の形態
のいずれでも達成可能であるが、ここでは上記成膜装置
の第3の実施の形態(図12〜図14)を用いて説明す
ることにする。
A蒸気、第2原料蒸気はB蒸気、第3原料蒸気は窒素や
アルゴン等の不活性ガスである。原料供給系71から輸
送されたA蒸気及びB蒸気、不活性ガスは、それぞれ、
第1原料暴露室78、第2原料暴露室81、光励起室8
6に導入された後、層流となって各室のサセプタ75上
の基板表面を暴露した後、サセプタ75下部で合流し、
生成ガスと共に排出口90から真空排気系72にて器外
に排出される。各蒸気の流量比は前記図13をL10で
切断したときの各原料暴露室、光励起室の断面積の比に
等しい。この結果、隔壁77や78の両側で差圧が生じ
ない。反応器内の圧力は10~3Torr〜100Torrであ
り、原料蒸気の総流量は、反応器内の層流の進行速度が
10cm/sec以上になるような値が選ばれる。このよう
な条件下では、隔壁の間隙82や83を通して入る隣室
ガスの侵入は、数cm未満の範囲であり、実質的に無視で
きる。したがって、原料暴露室78や81の原料蒸気は
光励起室86の励起窓ガラス88に到達することなく、
排気口90から器外に排出される。そのため励起窓ガラ
ス88は第3原料蒸気(ここでは不活性ガス)以外にさ
らされることはない。
起窓ガラス88が時間と共に、どの様に原料蒸気に暴露
されるかを模式図的に示したものである。
6は、隔壁を通過する毎に異種の蒸気に暴露される。第
1原料暴露室78に入った基板76の表面はA蒸気に暴
露される。このとき、表面には1分子層未満のA蒸気が
吸着する。これを化学式で表すと、 Av → Aa (16) となる。次に、第1原料暴露室78を抜け、光励起室8
6に入ると、吸着種Aaが表面励起され、一部が活性種
あるいは中間種Aa*に変化する。 Aa + hν(光励起) → Aa* (17) 次に、第2原料暴露室81に入ると、基板76はB蒸気
に曝されるので、B蒸気が基板表面に1分子層未満吸着
して、 Aa + Bv → Aa + Ba (18) となる。一方、前の光励起室で活性種Aa*に転じていた
種は、 Aa* + Bv → S1 + G (18’) のように固体になる。
室86に入ると、基板76に吸着した残りのA蒸気とB
蒸気は光照射hνを浴びて励起され、 Aa + Ba + hν(光励起) → S2 + G (19) のように1分子層未満の薄膜Sとなり、不要な生成ガス
Gを気相に放出する。この際、光励起室86のガスは不
活性であるから表面での反応には参加しない。
上にはサセプタ75が一回転するごとに薄い膜S(=S
1+S2)が1層形成されるので、回転を繰り返せば所望
の厚みの薄膜Sを成膜することができる。一方、励起窓
ガラス88は常時、光励起室上部に固定されている。そ
して前述のように光励起室86へのA蒸気及びB蒸気の
侵入は実質無視できるので、窓ガラス表面は成膜中、終
始、不活性ガスに曝されている。したがって窓ガラス表
面に膜が成長することはない。
って、励起窓ガラスの窓曇りを引き起こすことなく、基
板表面にのみ所望の厚さの薄膜を付着し得ることは明白
である。従って、本実施の形態の成膜装置及び成膜方法
は従来技術の光励起CVDの有していた窓曇りの問題を
解決したものということができる。
原料蒸気間の気相反応と気相励起に関して、従来の光励
起CVD法にない次のような特長を有している。すなわ
ち、図16によれば、本実施の形態では前記第1の成膜
方法の実施の形態と同様に、A蒸気とB蒸気とが気相反
応を行わず、かつ気相励起も起こらない環境で成膜を進
行させることができる。これはまた従来の光励起CVD
法では実現できない成膜プロセスである。
を、第1の実施の形態(図1〜図3)や第2の実施の形
態(図8〜図11)に示した成膜装置で実現するには、
上記の実施の形態の構造において、隣接する原料暴露室
の間に光励起室を置く構成とすればよい。
の実施の形態を説明してきたが、本発明の有用性を具体
的に示すために、具体的な実施例を以下に示す。なお、
成膜装置としては、一例として前記成膜装置の第1の実
施の形態(図1〜図3)に示したものを使用し、成膜
後、励起窓ガラス28に窓曇りが生じていないことを確
認している。なお、下記実施例1〜実施例4の各数値を
まとめた図表を図17に示す。
の実施の形態(図4)を用いてTa2O5膜を成膜する例
である。原料はTaCl5(=第1原料蒸気:A蒸気)と
O2(=第2原料蒸気:B蒸気)、Ar(=第3原料蒸
気:不活性ガス)である。第1原料暴露室19、第2原
料暴露室20、第1光励起室21の容積は何れも4リッ
トルである(以下の実施例でも同様)。
ソースボトルに納めたTaCl5の上空をArキャリアガス
を通過させ、TaCl5蒸気を反応器まで輸送した。反応
器へのA蒸気(Arキャリア含む)、B蒸気、不活性ガ
スの流量はすべてS=200cc/minである(以下の実施
例でも同様)。使用した励起光源は254nmと185nm
に強いピークをもつ低圧水銀灯である(以下の実施例で
も同様)。励起窓ガラスには180nm以上の波長の光を
透過する合成石英ガラス(Suprasil)を用いた(以下の
実施例でも同様)。サセプタ13の位置で測定した総光
励起強度はサセプタ表面で20mw/cm2であった(以下の
実施例でも同様)。基板温度(ここではサセプタの温度
と定義)はTsub=300℃である。成膜中のサセプタ
13の回転速度は毎分5回転、反応器内圧力はP=7To
rrである。
7の第1列のとおりである。この条件で成膜を行うと、
サセプタが1回転する間に、基板上に約5Å(オングス
トローム)の厚さのTa2O5を析出することができた
(サイクル堆積速度GR=5Å/cyc)。
するバリヤ機能性を合わせもつ膜として、最近LSI分
野で関心を集めているTiN膜を成膜方法の第2の実施
の形態(図5)で合成する例である。原料はTiCl
4(Arキャリア含む=第1原料蒸気)とNH3ガス(=
第3原料蒸気:B蒸気)、Ar(=第2原料蒸気:不活
性ガス)である。試験に用いた固有の成膜条件は図17
の第2列とおりである。
積速度が得られた。TiCl4+NH3原料系を用いての光
励起CVD(熱CVDの場合も)や窓なし光CVDで成
膜を行うと、気相において両原料が強く反応し、微粉末
状の中間成生物が発生するため、平滑な膜を得ることが
困難であった。しかし、本成膜方法の実施例ではTiCl
4とNH3が気相で混じり合うことがないので、このよう
な問題は起こらず、しかも低温で良質の膜が形成でき
る。
実施の形態(図6)を用いてPbO膜を形成する例であ
る。原料は4エチル鉛Pb(C2H5)4(Arキャリア含む
=第1原料蒸気:A蒸気)とO2+O3(5mol%)(=
第1原料蒸気:B蒸気)、Ar(=第2、3原料蒸気:
不活性ガス)である。成膜条件は図17の第3列のとお
りである。この条件でGR=約3.5Å/cycの成長速度
が得られた。
実施の形態(図7)を用いてZrO2膜を形成する例であ
る。原料はジルコン・ターシャル・ブトキシドZr(t−
OC4H9)4(Arキャリア含む=第1原料蒸気:A蒸
気)とArガス(=第2、3原料蒸気:不活性ガス)で
ある。成膜条件は図17の第4列のとおりである。この
条件でGR=約4Å/cycの成長速度が得られた。
ば、光励起CVD装置の構成を、反応器内の空間を隔壁
にて原料暴露室と光励起室とに分割すると共に、該隔壁
の開口部を介して該原料暴露室と該光励起室との間で基
板の相互移動を行う基板搬送手段を反応器に付設した構
成とすると共に、複数の原料蒸気を該装置の原料暴露室
と光励起室に分別供給し、かつ、原料暴露室と光励起室
に基板を反復して搬入する成膜方法を採用することによ
り、従来の光励起CVD法の欠点であった窓曇りを起こ
すことなしに、基板に所望の薄膜を低温堆積できるとい
う優れた効果が得られる。
は、複数の原料蒸気の分別導入法を任意に選択できるこ
とから、 特定の気相反応を排除した成膜、 特定の気相反応を許容した成膜、 表面反応のみによる成膜、 特定の気相励起を排除した成膜、 特定の気相励起を許容した成膜、 表面励起のみによる成膜など、気相反応と気相励起に
関するきめ細かな制御ができるという効果も得られる。
の窓曇りの問題を解決したので、もはや、この問題を解
決する手段としての窓なし光励起CVD法を選択する必
要がなくなり、この意味で、窓なし光励起CVD法に付
随する問題点も解決できるという効果も得られる。
的斜視図。
暴露と励起状態を示す模式図。
暴露と励起状態を示す模式図。
暴露と励起状態を示す模式図。
暴露と励起状態を示す模式図。
平面図。
図的斜視図。
を示す透視図的斜視図。
る暴露と励起状態を示す模式図。
図表。
c…隔壁 12…真空排気系 17a,17
b…反応器器壁 13…円盤状のサセプタ 18…サセプ
タと隔壁との間隙 14…回転支持軸 19…第1原
料暴露室 20…第2原料暴露室 25…ガス排
出口 21…第1光励起室 26…光励起
手段 22…第1原料暴露室の原料導入口 27…励起窓 23…第2原料暴露室の原料導入口 28…励起窓
ガラス 24…第1光励起室の原料導入口 39…サセプ
タと隔壁との間隙 40…反応器 45…真空排
気系 41a,42b…反応器器壁 46…可動サ
セプタ 42…ロードロック型基板出入器 47…埋め込
み型ヒータ 43…基板 48…ヒータ
の支持柱 44…原料供給系 49a〜49
l…隔壁 50…第1原料暴露室 55…第2光
励起室 51…第2原料暴露室 56…第5原
料暴露室 52…第1光励起室 57…第6原
料暴露室 53…第3原料暴露室 58…第3光
励起室 54…第4原料暴露室 59…第7原
料暴露室 60…第8原料暴露室 66…励起窓 61…第4光励起室 67…励起窓
ガラス 62〜65…光励起手段 70…反応器 75…サセプ
タ 71…原料供給系 76…基板 72…真空排気系 77…隔壁 73a,73b…反応器器壁 78…第1原
料暴露室 74…回転支持軸 79…隔壁 81…第2原料暴露室 86…光励起
室 82…間隙 87…光励起
手段 83…間隙 88…励起窓
ガラス 84…第1の原料導入口 89…第3原
料導入口 85…第2の原料導入口 90…ガス排
出口
Claims (9)
- 【請求項1】原料蒸気導入口、原料蒸気排出口、基板を
支持するサセプタおよび外設あるいは内設された光励起
手段を配設した反応器と、 該反応器の原料蒸気導入口に、所定の濃度・流量の複数
の原料蒸気を与える原料供給系と、 該反応器の原料蒸気排出口から反応器内部の生成ガスお
よび過剰な原料蒸気を排気する真空排気系と、から成る
光励起化学気相成長装置すなわち光励起CVD装置にお
いて、 該反応器器壁と該サセプタ上面とで囲まれる空間を、1
個以上の原料導入口を有する原料暴露室と、1個以上の
原料導入口と光励起手段を有する光励起室とに分割し、
かつ該原料暴露室と該光励起室との間で、基板の相互移
動を可能ならしめる基板搬送手段を該反応器に付設した
ことを特徴とする光励起CVD装置。 - 【請求項2】該反応器器壁と該サセプタ上面とで囲まれ
る空間を、該器壁および該サセプタと交差するように一
枚あるいは複数の隔壁で仕切り、該隔壁は該反応器器壁
とは密に接し、かつ該サセプタとは少なくとも基板の厚
みを上回る幅の間隙を隔てて対向していることを特徴と
する請求項1に記載の光励起CVD装置。 - 【請求項3】該基板搬送手段は、該原料暴露室と該光励
起室との間で、隔壁とサセプタの該間隙を経由して基板
の相互移動を行なうものである、ことを特徴とする請求
項2に記載の光励起CVD装置。 - 【請求項4】該サセプタが可動性であり、該基板搬送手
段を兼務することを特徴とする請求項1乃至請求項3の
何れかに記載の光励起CVD装置。 - 【請求項5】該原料蒸気排出口として、該原料暴露室お
よび該光励起室あるいは該隔壁に対応する位置に専用の
原料蒸気排気口を備えていることを特徴とする請求項1
または請求項2に記載の光励起CVD装置。 - 【請求項6】請求項1乃至請求項5の何れかに記載の光
励起CVD装置を用い、 該原料暴露室と該光励起室とに成分の異なる異種の原料
を供給すると共に、隔壁とサセプタの該間隙を介して基
板を原料暴露室と光励起室との間で通交させることを特
徴とする光励起CVD方法。 - 【請求項7】光励起室に供給される原料蒸気が不活性ガ
ス或いは非析出性の原料蒸気であることを特徴とする請
求項6に記載の光励起CVD方法。 - 【請求項8】該間隙を有する隔壁の両側で圧力差が生じ
ないように、該複数の原料蒸気の流量比を調節すること
を特徴とする請求項6または請求項7に記載の光励起C
VD方法。 - 【請求項9】該原料導入口から導かれた原料蒸気流が原
料暴露室および光励起室を層流となって通過し、排出さ
れるされることを特徴とする請求項6乃至請求項8の何
れかに記載の光励起CVD方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26737995A JP3648805B2 (ja) | 1995-10-16 | 1995-10-16 | 光励起cvd装置および光励起cvd方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26737995A JP3648805B2 (ja) | 1995-10-16 | 1995-10-16 | 光励起cvd装置および光励起cvd方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09111457A true JPH09111457A (ja) | 1997-04-28 |
| JP3648805B2 JP3648805B2 (ja) | 2005-05-18 |
Family
ID=17444030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26737995A Expired - Fee Related JP3648805B2 (ja) | 1995-10-16 | 1995-10-16 | 光励起cvd装置および光励起cvd方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3648805B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH046840A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Fujitsu Ltd | 気相成長装置 |
| JPH05291151A (ja) * | 1992-04-15 | 1993-11-05 | Fuji Electric Co Ltd | 気相成長装置 |
| JPH05343336A (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-24 | Handotai Process Kenkyusho:Kk | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
-
1995
- 1995-10-16 JP JP26737995A patent/JP3648805B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH046840A (ja) * | 1990-04-24 | 1992-01-10 | Fujitsu Ltd | 気相成長装置 |
| JPH05291151A (ja) * | 1992-04-15 | 1993-11-05 | Fuji Electric Co Ltd | 気相成長装置 |
| JPH05343336A (ja) * | 1992-06-09 | 1993-12-24 | Handotai Process Kenkyusho:Kk | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3648805B2 (ja) | 2005-05-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8022011B2 (en) | Photocatalyst element, method and device for preparing the same | |
| EP0251764B1 (en) | Chemical vapour deposition methods and apparatus | |
| JP7008629B2 (ja) | 基板処理装置 | |
| JP2008509547A (ja) | 高いスループットのcvd装置及び方法 | |
| TW201518535A (zh) | 以電漿輔助製程形成氧化物膜的方法 | |
| KR960023228A (ko) | 화학 증착에 의한 박막 형성 장치 및 방법 | |
| TWI709434B (zh) | 包含廢氣分解模組之基板處理設備與廢氣之處理方法 | |
| KR20150004286A (ko) | 성막 방법 | |
| JP2538740B2 (ja) | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 | |
| JPH05175135A (ja) | 光cvd装置 | |
| JPS61232613A (ja) | プラズマ気相反応装置 | |
| JPH09111457A (ja) | 光励起cvd装置および光励起cvd方法 | |
| JPH0456314A (ja) | 半導体基板の製造方法 | |
| Suntola | Cost-effective processing by atomic layer epitaxy | |
| JP3330727B2 (ja) | 光励起cvd装置及びcvd方法 | |
| JPH01183809A (ja) | 光cvd装置 | |
| CN112176321B (zh) | 一种原子层沉积装置及原子层沉积方法 | |
| JP2758247B2 (ja) | 有機金属ガス利用薄膜形成装置 | |
| JP3079436B2 (ja) | 光化学反応装置 | |
| JPH02205681A (ja) | 化学気相成長装置 | |
| KR100399067B1 (ko) | 원자층 증착 장치 | |
| JP2022533967A5 (ja) | ||
| JPS6064426A (ja) | 気相反応薄膜形成方法および装置 | |
| JPH02115359A (ja) | 化合物薄膜作成方法および装置 | |
| JP2001023905A (ja) | Cvd装置及び膜の形成方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041018 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041102 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041220 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050125 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050207 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080225 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090225 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090225 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100225 Year of fee payment: 5 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |