JPH09113245A - ウエブ材上の帯状表面異常を検出するための装置 - Google Patents

ウエブ材上の帯状表面異常を検出するための装置

Info

Publication number
JPH09113245A
JPH09113245A JP20606996A JP20606996A JPH09113245A JP H09113245 A JPH09113245 A JP H09113245A JP 20606996 A JP20606996 A JP 20606996A JP 20606996 A JP20606996 A JP 20606996A JP H09113245 A JPH09113245 A JP H09113245A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
web material
camera
light
pass filter
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20606996A
Other languages
English (en)
Inventor
Giet Johannes
ギート ヨハネ
Mueller Joern
ミュラー ユルン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tzn Forschungs & Entwicklungszentrum Unterluess GmbH
Original Assignee
Tzn Forschungs & Entwicklungszentrum Unterluess GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tzn Forschungs & Entwicklungszentrum Unterluess GmbH filed Critical Tzn Forschungs & Entwicklungszentrum Unterluess GmbH
Publication of JPH09113245A publication Critical patent/JPH09113245A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/8921Streaks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウエブ材上における弱いコントラストの帯状
表面異常でさえ非常に正確に検出すること。 【解決手段】 ウエブ材1上に光を向けるように支持さ
れた光源3と、ウエブ材から所定距離で位置し、信号出
力部11を有するCCD線状カメラ10を含む光検出
器、ウエブ材とカメラとの間に配置された対物レンズ
8、及び対物レンズとウエブ材との間に配置され、光学
的な低域フィルタとして機能するアナモルフィックレン
ズ7を有するウエブ材からの光を受け取るための受光装
置と、カメラの信号出力部に接続された電子式評価装置
13、とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、紙シート材又は織
物のようなウエブ材の帯状表面異常を検出するための装
置に関する。この装置は、光源及び受光装置を含む光学
的な測定装置を有する種類である。この光学的な測定装
置は、光検出器と、この検出器とウエブ材との間に配置
された対物レンズとを有しており、光検出器の出力部が
電子式評価装置に接続されている。
【0002】
【従来の技術】特に、被覆装置による紙ウエブ材の被覆
中に、しばしば、帯状表面異常(以下に、掻き筋として
参照される)が発生する。この帯状表面異常は、非常に
弱いコントラストを有し、それにより、人の目には見え
るとしてもかろうじてである。このような帯状表面異常
は、紙への印刷の後に明確に見えるようになるために、
被覆処理の後に発生するこのような掻き筋は、それらが
特に見えなくても許容できるものではない。従って、こ
のような異常は、検出されなければならず、異常が発生
したウエブ材は、廃棄物として処理されなければならな
い。
【0003】従来技術により、掻き筋は、肉眼又は光通
過反射装置を使用して検出されている。この光通過反射
装置は、ウエブ材表面によって散乱及び反射された光を
測定するものである。従って、一般的な方法及び装置に
よる低コントラストの掻き筋又は他の帯状表面異常の検
出は、十分に正確なものとすることができない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
の種類の改良された装置を提供することであり、この装
置によって、弱いコントラストの帯状表面異常でさえ非
常に正確に検出することができる。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的及び明細書に記
載した他の目的は、本発明による装置によって達成され
る。このウエブ材上の帯状表面異常を検出するための装
置は、それから放射される光をウエブ材上に向けるよう
に支持された光源と、ウエブ材からの光を受け取る受光
装置とを有している。この受光装置は、移動するウエブ
材から所定距離で配置されたCCD線状カメラの形状の
光検出器と、ウエブ材とカメラとの間に配置された対物
レンズと、光学的な低域フィルタとして機能し、対物レ
ンズとウエブ材との間に位置するアナモルフィックレン
ズとを有している。さらに、電子式評価装置が、カメラ
の出力部に接続されている。
【0006】本発明は、散乱光が測定に使用される光反
射又は光通過構造を有し、異常の種類に依存して、帯状
表面異常を検出する原理に基づいている。本質的に、光
の検出のために、CCD線状カメラが使用され、このカ
メラとウエブ材表面との間にはアナモルフィックレンズ
(筒状レンズのような)が設けられており、それによ
り、散乱光(二次元絵画素孔で作動する一般的なCCD
カメラ装置と対照して)が、光学的な低域フィルタへ送
られ、散乱光が検出器に到達する以前に散乱光の光学的
な表示度数がもたらされる。
【0007】本発明による装置は、光波動の光学的な表
示度数によって、わずかな表面異常でさえ測定可能であ
る。この光波動は、表面特性及び特定の異物(紙ウエブ
材及び繊維構造等に含まれる水分)のために起こり、大
幅に抑制される。本発明の特定の有利な特徴によって、
低圧ナトリウムランプが光源として使用される。このよ
うなランプは、その実質的な光強さ及び単色特性による
増強された帯検出効果のために、特に有利である。それ
により、利用するCCDカメラのスペクトル感度と協力
して、弱いグレー値コントラストでさえ可視的となる。
【0008】カメラ信号の評価は、電子式評価装置によ
ってもたらされる。この評価装置は、まずカメラ信号を
デジタル化し、その後、ノイズ成分を抑制するために、
デジタル化された信号から平均値を形成する。その後、
連続的な濃淡適合補正が、照明における異物を考慮して
行われる。次に、こうして補正されたデジタル信号が、
非再帰性の高域フィルタによって変更され、その後側に
接続される調整可能な敷居値を有する敷居値比較器によ
って検出される。
【0009】
【発明の実施の形態】図1を参照すると、掻き筋2が監
視される紙ウエブ材1が図示されている。約580nm
の波長の単色放射光を発する低圧ナトリウムランプ3
が、紙ウエブ材1の一方の表面4を照らしている。紙ウ
エブ材1の他方の反対側表面5を離れる散乱光6は、連
続的に、アナモルフィックレンズ7及び対物レンズ8を
通過し、次に、線状カメラ10のCCD(電荷転送素
子)線状要素9に入る。カメラ10は、特に、約580
nmの波長範囲を感知し、同時に、紙ウエブ材1を走査
する。ランプ7及びカメラ10が移動するウエブ材1の
反対側であり、こうして、この装置が通過した光を処理
するが、ランプ7及びカメラ10が、移動するウエブ材
1の同じ側に配置しても良く、この場合において、この
装置は反射された光を処理する。
【0010】線状カメラ10の信号出力部11は、コン
ジット12によって電子式評価装置13に接続されてい
る。この評価装置は、カメラ信号をデジタル化するため
のアナログ−デジタル変換器14を有している。その後
側に接続される機器15において、デジタル化されたカ
メラ信号のノイズ成分の抑制が、いくつかの連続的に受
け取られた線信号の平均値を形成することによって行わ
れる。さらに、機器15の出力部に接続された機器16
において、連続的な濃淡適合補正が、例えば、照射の異
物又は使用されたセンサの異物感度を考慮して行われ
る。
【0011】前述された方法で補正された信号は、機器
16の出力部に接続されたデジタル式非再帰性(FI
R)高域フィルタ17によって変更される。その後側に
接続される敷居値比較器18は、設定可能な敷居値が越
えられる時に、変更された信号に帯状表面異常を検出す
る。異常の位置を表す信号及び帯コントラストに関連す
る信号の振幅は、データ化及びさらなる評価のために、
評価装置13の評価及び制御コンピュータ19に提供さ
れる。このコンピュータ19には、このような制御のた
めに機器14〜17が接続されている。
【0012】本発明は述べられた実施形態に限定されな
いことは理解される。こうして、例えば、評価装置の要
素15、16、17、及び18は、分離したハードウエ
ア要素である必要はない。さらに、これらの要素の機能
は、画像処理において一般的であるように、適当なソフ
トウエアを有する制御コンピュータ19によって実行さ
れるようにしても良い。
【0013】さらに、本発明による装置は、紙ウエブ材
上の掻き筋の検出に限定されず、任意の材料の帯検出に
使用しても良い。さらに、本発明による装置は、特に、
材料(織物)における先端軌道を認識するために、ま
た、帯状印刷部及び軌道(例えば、フィルム又は箔上
の)を測定するのに適している。
【0014】本発明の上述は、種々の変形、変更、及び
適応が可能であり、これらは、添付請求の範囲の意味及
び等価な範囲内に包含されることが意図されていること
は理解される。
【図面の簡単な説明】
【図1】ブロック図を含む本発明の好適な実施形態の概
略図である。
【符号の説明】
1…ウエブ材 3…光源 7…アナモルフィックレンズ 8…対物レンズ 10…CCD線状カメラ 11…信号出力部 13…電子式評価装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ユルン ミュラー ドイツ連邦共和国,42489 ビュルフレイ ス,シュレルシュトラーセ 49

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエブ材上の帯状表面異常を検出するた
    めの装置であって、 (a)前記ウエブ材上に光を向けるように支持された光
    源と、 (b)前記ウエブ材からの光を受け取るための受光装置
    であって、(1)前記ウエブ材から所定距離で位置し、
    信号出力部を有するCCD線状カメラを含む光検出器
    と、(2)前記ウエブ材と前記カメラとの間に配置され
    た対物レンズと、(3)前記対物レンズと前記ウエブ材
    との間に配置され、光学的な低域フィルタとして機能す
    るアナモルフィックレンズ、とを有する受光装置と、 (c)前記カメラの前記信号出力部に接続された電子式
    評価装置、とを具備するウエブ材上の帯状表面異常を検
    出するための装置。
  2. 【請求項2】 前記ウエブ材は、前記光源と前記光検出
    器との間に配置され、それにより、前記カメラは、前記
    光源によって発せられて前記ウエブ材を通過する光を受
    け取る請求項1に記載の装置。
  3. 【請求項3】 前記光源は、低圧ナトリウムランプであ
    る請求項1に記載の装置。
  4. 【請求項4】 前記評価装置は、(a)前記カメラから
    受け入れた信号をデジタル化するために、前記カメラの
    前記信号出力部に接続された入力部を有するアナログ−
    デジタル変換器と、(b)前記アナログ−デジタル変換
    器の出力部に接続された入力部を有するノイズ抑制器
    と、(c)前記ノイズ抑制器の出力部に接続された入力
    部を有する濃淡適合補正器と、(d)前記濃淡適合補正
    器の出力部に接続された入力部を有するデジタル式非再
    帰高域フィルタであって、敷居値比較器を有するを有す
    るデジタル式非再帰高域フィルタと、(e)前記アナロ
    グ−デジタル変換器、前記ノイズ抑制器、前記濃淡適合
    補正器、及び前記デジタル式非再帰高域フィルタの入力
    部に接続された出力部を有する制御コンピュータ、とを
    具備し、前記敷居値比較器は、前記制御コンピュータの
    入力部に接続された出力部を有している請求項1に記載
    の装置。
JP20606996A 1995-08-03 1996-08-05 ウエブ材上の帯状表面異常を検出するための装置 Pending JPH09113245A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1995128519 DE19528519A1 (de) 1995-08-03 1995-08-03 Vorrichtung zur Detektion streifenförmiger Oberflächenfehler
DE19528519:0 1995-08-03

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09113245A true JPH09113245A (ja) 1997-05-02

Family

ID=7768593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20606996A Pending JPH09113245A (ja) 1995-08-03 1996-08-05 ウエブ材上の帯状表面異常を検出するための装置

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0757245A3 (ja)
JP (1) JPH09113245A (ja)
DE (1) DE19528519A1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2761474B1 (fr) * 1997-03-28 1999-06-25 Lorraine Laminage Procede d'inspection de surface d'une bande en defilement et d'analyse de la defectuosite de la bande
FR2761476B1 (fr) * 1997-03-28 1999-06-11 Lorraine Laminage Procede d'inspection de surface d'une bande en defilement par classification prealable d'irregularite de surface detectee
FR2761475B1 (fr) * 1997-03-28 1999-06-11 Lorraine Laminage Procede d'inspection de surface d'une bande en defilement par segmentation d'image en zones suspectes
DE19801140A1 (de) * 1998-01-14 1999-07-15 Voith Sulzer Papiertech Patent Vorrichtung zum direkten oder indirekten Auftrag eines flüssigen bis pastösen Auftragsmediums auf eine laufende Materialbahn sowie Betriebsverfahren für eine solche Vorrichtung
US6868371B1 (en) * 1999-05-03 2005-03-15 General Electric Company System and method to quantify appearance defects in molded plastic parts
PT102835B (pt) * 2002-09-03 2004-08-31 Continental Mabor Ind De Pneus Sistema de monitorizacao e controlo automatico de tolerancia nas emendas em sobreposicao de tela textil.
DE102006038436A1 (de) * 2006-08-16 2008-02-21 Andritz Küsters GmbH & Co. KG Messvorrichtung zur Detektion von Produktstreifen auf einem Flächengebilde
CN105203547A (zh) * 2015-08-26 2015-12-30 李云栋 基于智能视觉传感器的布匹瑕疵检测方法和装置
CN111024720B (zh) * 2019-12-13 2021-10-26 东华大学 一种用于面料表面突起疵点的视触觉一体检测装置
CN113030104A (zh) * 2021-03-05 2021-06-25 厦门大学 基于图像处理的液晶屏幕标记的产品质检装置及质检方法
DE102022125409A1 (de) * 2022-09-30 2024-04-04 Cruse Technologies Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme mehrerer Abbildungen eines Objekts mit unterschiedlichen Beleuchtungskonfigurationen

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1127259A (en) * 1978-10-19 1982-07-06 Jean Burtin Method and device for inspecting a moving sheet material for streaklike defects
DE2925734C3 (de) * 1979-06-26 1982-06-24 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optisches Fehlersuchgerät für Materialbahnen
DE3472300D1 (en) * 1983-04-22 1988-07-28 Sick Optik Elektronik Erwin Device for the detection of faults
JPS6199844A (ja) * 1984-10-22 1986-05-17 Hitachi Electronics Eng Co Ltd 円筒体表面検査装置
JPS6488237A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp Surface inspecting apparatus
DK0437883T3 (da) * 1990-01-16 1994-10-03 Philips Nv Skanderingsindretning til optisk skandering af en overflade langs en linie
US5118195A (en) * 1990-09-10 1992-06-02 Rkb Opto-Electrics, Inc. Area scan camera system for detecting streaks and scratches

Also Published As

Publication number Publication date
DE19528519A1 (de) 1997-02-06
EP0757245A3 (de) 1997-06-25
EP0757245A2 (de) 1997-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970003760A (ko) 이물검사방법 및 장치
JPH09113245A (ja) ウエブ材上の帯状表面異常を検出するための装置
CN110402386B (zh) 圆筒体表面检查装置及圆筒体表面检查方法
JP2003329606A (ja) 内面検査装置
US20250139755A1 (en) Unevenness measuring device for sheet-shaped material, and unevenness measuring method for sheet-shaped material
US5129726A (en) Apparatus for color control of objects
JP2020101396A (ja) トッピングゴムシートのゴム付き不良検出装置
JPH11311510A (ja) 微小凹凸の検査方法および検査装置
KR100862339B1 (ko) 구리박 검사장치, 구리박 검사방법
EP0374977B1 (en) Method and device for the detection and classification of the crimpling of a surface treatment
JP3495212B2 (ja) 電縫管のシーム部検出装置
JP3224083B2 (ja) 板ガラスの欠点検出方法およびその装置
JP2003156451A (ja) 欠陥検出装置
JP4023295B2 (ja) 表面検査方法及び表面検査装置
EP0837301A3 (en) Position detecting element and range sensor
JPH06221836A (ja) 表面欠陥検査装置
JP4620228B2 (ja) 光散乱透過シートの欠点検査装置
JP3340879B2 (ja) 表面欠陥検出方法および装置
JPH09113465A (ja) 亜鉛メッキ系鋼板用表面欠陥検出装置
JPH04169840A (ja) 円周表面傷検査方法および装置
JP3184287B2 (ja) 光拡散体の検査装置
KR100448619B1 (ko) 적외선 조명을 이용한 강판의 표면결함 검출장치
JP2000289358A (ja) 平版印刷版の検査装置
JPH06137845A (ja) 鋼板の表面凹凸縞検査装置
JPH08152403A (ja) 光学歪の測定方法および形状の測定方法