JPH09113272A - 測量用レーザ装置 - Google Patents

測量用レーザ装置

Info

Publication number
JPH09113272A
JPH09113272A JP14982496A JP14982496A JPH09113272A JP H09113272 A JPH09113272 A JP H09113272A JP 14982496 A JP14982496 A JP 14982496A JP 14982496 A JP14982496 A JP 14982496A JP H09113272 A JPH09113272 A JP H09113272A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
light source
light
surveying
laser beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP14982496A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3670397B2 (ja
Inventor
Fumio Otomo
文夫 大友
Hiroshi Koizumi
浩 小泉
Masayuki Momiuchi
正幸 籾内
Masahiro Oishi
政裕 大石
Yoshiaki Goto
義明 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP14982496A priority Critical patent/JP3670397B2/ja
Priority to US08/691,548 priority patent/US5745623A/en
Priority to DE69636711T priority patent/DE69636711T2/de
Priority to EP06014320A priority patent/EP1717548B1/en
Priority to EP96112995A priority patent/EP0759538B1/en
Priority to CN96109995A priority patent/CN1121740C/zh
Publication of JPH09113272A publication Critical patent/JPH09113272A/ja
Priority to US08/932,816 priority patent/US6048105A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3670397B2 publication Critical patent/JP3670397B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】視認性の高いレーザ光線を使用し、而もレーザ
光源の熱影響を除去し、精度の高い測量用レーザ装置を
提供する。 【構成】レーザ光源部20と該レーザ光源部からのレー
ザ光線を所定の方向に照射する光学系1とを具備する測
量用レーザ装置に於いて、前記レーザ光源部を少なくと
も光学系から熱隔離して設け、前記レーザ光源部のレー
ザ光線を光ファイバ22により前記光学系に導く様に
し、レーザ光源部、或は光源部の少なくとも発熱部が光
学系から隔離されているので、光学系がレーザ光源部の
熱の影響を受けることがなく、熱による精度の低下が防
止し得、測量用レーザ装置を高精度に維持することがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザを内蔵する測
量用レーザ装置、特にレーザの発熱の影響を考慮した測
量用レーザ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】レーザを内蔵する測量用レーザ装置に
は、経緯儀、建物内装工事に使用するロテーティングレ
ーザ、配管工事に使用するパイプレーザ、測距に使用す
るレーザ距離計、レベル等が知られており、レーザ光源
としてHe −Ne レーザ、LD(半導体レーザ)が用い
られている。
【0003】一般にこれら測量用レーザ装置の水準用光
学系、或は測距用光学系等の光学系は鏡筒内に設けら
れ、該鏡筒は筐体に上下更に左右の2方向に回動自在に
支持されていると共に構造を簡単にする為、レーザ光源
は鏡筒に固定され、光学系と一体化されている。
【0004】前記レーザ光源としてHe −Ne レーザを
使用した場合には、He −Ne 管の形状が大きく、コン
パクトとならない。更に、He −Ne 管を使用した場合
には、レーザ発振に高電圧を必要とし、一般には100
V電源を使用している。この為、消費電力が大きく、発
熱量が大きい。従って、電源を装置に内蔵することがで
きなく、装置をコンパクトに、又携帯可能に小型化する
ことが難しい。
【0005】又、前記レーザ光源の発熱により光学系が
加熱されるとチルトセンサ等各種検出器の検出精度が低
下し、或は鏡筒、鏡筒支持機構等が加熱されると、熱膨
脹により変位が生じ、機械的な精度が低下する等の問題
が生じ、その為、冷却機構、放熱機構が必要となり、装
置が複雑で大掛かりとなっていた。
【0006】前記したLD(半導体レーザ)は小型で小
消費電力であるので、前記鏡筒等に組込むことが容易
で、携帯用に適した機器の小型化が可能である。図10
に於いてLDを使用した測量用レーザ装置の一例である
パイプレーザの概略を示す。
【0007】光学系1は鏡筒2内に設けられ、該鏡筒2
は筐体4に上下更に左右の2方向に回動自在に支持さ
れ、レーザ光源3は鏡筒2の基部に固定されている。
尚、LDが発光するレーザ光線は、縦横の異なる楕円形
状であり、広がり角が大きいのでコリメートレンズ5が
設けられ平行光束とされている。通常、楕円形状を円形
に近い形状にする為、補正するレンズが設けてある。
【0008】前記LDからのレーザ光線はHe −Ne 管
によるレーザ光線に比べ、平行で細い輪郭のはっきりし
た均一なレーザ光ではなく、光束に広がりを有する為、
形状を補正したレーザ光でも視認性が低い。視認性を向
上する為の手段として出力を上げる方法があるが、レー
ザ光線の強度については作業者の保護等の観点から法律
的な制約がある。従って、同様の出力で視認性を向上さ
せるには視認性の高い波長を選ぶ必要がある。視認性に
於いては緑色が優れているが、高出力の緑色レーザ光線
を出力する半導体素子は、量産化されていない。この
為、現在のところ、近赤外のLDからのレーザ光源に共
振部を設け、レーザ光線の周波数を増大し緑色に変換し
ている。
【0009】緑色レーザ光線を発するレーザ光源として
は、近赤外の半導体発光素子により外部、又は内部共振
型SHG方式の発振装置を組み合わせたLD励起固体レ
ーザがある。図11は斯かる内部共振型SHG方式を用
いたLD励起固体レーザであるレーザ光源3の概略を示
している。
【0010】図11中、8は発光部、9は光共振部であ
る。該発光部8はLD発光器10、集光レンズ11を具
備し、更に光共振部9は誘電体反射膜12が形成された
レーザ結晶(Nd:YVO4 )板13、非線形光学媒質
(KTP)14、誘電体反射膜15が形成された出力ミ
ラー16であり、該光共振部9に於いてレーザ光線をポ
ンピングし共振、増幅して出力している。更に詳述する
と以下の通りである。
【0011】レーザ光源3は、レーザ光線を発生させる
為のものであり、半導体レーザであるLD発光器10が
使用されている。又、該LD発光器10が基本波を発生
させるポンプ光発生装置として機能を有する。尚、レー
ザ光源3は半導体レーザに限ることなく、レーザ光線を
生じさせることができれば、何れの光源手段をも採用す
ることができる。
【0012】レーザ結晶板13は光の増幅を行う為のも
のである。このレーザ結晶板13には、Nd3+ イオン
をドープしたYAG(イットリウム アルミニウム ガ
ーネット)等が採用される。YAGは、946nm、1
064nm、1319nm等の発振線を有している。
【0013】レーザ結晶板13はYAGに限ることな
く、発振線が1064nmの(Nd:YVO4 )や、発
振線が700〜900nmの(Ti:Sapphir
e)等を使用をすることができる。
【0014】レーザ結晶板13のLD発光器10側に
は、第1の誘電体反射膜12が形成されている。この第
1の誘電体反射膜12は、LD発光器10に対して高透
過であり、且レーザ結晶板13の発振波長に対して高反
射であると共に、SHG(SECOND HARMON
IC GENERATION)に対しても高反射となっ
ている。
【0015】出力ミラー16は、レーザ結晶板13に対
向する様に構成されており、出力ミラー16のレーザ結
晶板13側は、適宜の半径を有する凹面球面鏡の形状に
加工されており、第2の誘電体反射膜15が形成されて
いる。この第2の誘電体反射膜15は、レーザ結晶板1
3の発振波長に対して高反射であり、SHG(SECO
ND HARMONIC GENERATION)に対
して高透過となっている。
【0016】以上の様に、レーザ結晶板13の第1の誘
電体反射膜12と、出力ミラー16とを組合わせ、LD
発光器10からの光束を集光レンズ11を介してレーザ
結晶板13にポンピングすると、レーザ結晶板13の第
1の誘電体反射膜12と、出力ミラー16との間で光が
往復し、光を長時間閉込めることができるので、光を共
振させて増幅させることができる。
【0017】前記レーザ結晶板13の第1の誘電体反射
膜12と、前記出力ミラー16とから構成された光共振
器内に非線形光学媒質14が挿入されている。
【0018】ここで、非線形光学効果を簡潔に説明す
る。
【0019】物質に電界が加わると電気分極が生じる。
この電界が小さい場合には、分極は電界に比例するが、
レーザ光線の様に強力なコヒーレント光の場合には、電
界と分極の間の比例関係が崩れ、電界の2乗、3乗に比
例する非線形的な分極成分が卓越してくる。
【0020】従って、非線形光学媒質14中に於いて
は、光波によって発生する分極には、光波電界の2乗に
比例する成分が含まれており、この非線形分極により、
異なった周波数の光波間に結合が生じ、光周波数を2倍
にする高調波が発生する。この第2次高調波発生(SH
G)は、SECOND HARMONIC GENER
ATIONと呼ばれている。
【0021】前記したレーザ光源3は非線形光学媒質1
4を、レーザ結晶板13と出力ミラー16とから構成さ
れた光共振器内に挿入しているので、内部型SHGと呼
ばれており、変換出力は、基本波光電力の2乗に比例す
るので、光共振器内の大きな光強度を直接利用できると
いう効果がある。
【0022】非線形光学媒質14は、例えば、KTP
(KTiOPO4 リン酸チタニルカリウム)やBBO
(β−BaB2 O4 β型ホウ酸リチウム)、LBO
(LiB3 O5 トリホウ酸リチウム)等が使用され、
主に、1064nmから532nmに変換される。
【0023】又KNbO3 (ニオブ酸カリウム)等も採
用され、主に、946nmから473nmに変換され
る。
【0024】一般に、レーザ光源は出力波長の安定化の
ため、出力レーザ光をモニタし、レーザ光源にフィード
バックしている。図13は内部共振型SHG方式の発振
装置のフィードバックのブロック図である。光源ユニッ
ト60はレーザ光源3、ハーフミラー61、集光レンズ
17から構成されている。
【0025】レーザ光源3から出力したレーザ光線はハ
ーフミラー61で一部がモニタ光として分割される。ハ
ーフミラー61を透過したレーザ光線は前記集光レンズ
17に向かう。前記モニタ光はモニタ受光器62、受光
回路63で受光され電気信号に変換される。受光回路6
3からの受光信号は制御部66に入力し、該制御部66
は前記受光信号に応じた制御信号をLD駆動部67に出
力する。該LD駆動部67は前記制御信号に基づいてL
D発光器10の発光を制御する。
【0026】
【発明が解決しようとする課題】前記した内部共振型S
HG方式の発振装置を組合わせたLD励起固体レーザで
は、単体の半導体レーザ素子に比べ効率が悪く、この為
発熱量が大きい。従って、LD励起固体レーザを望遠鏡
等の光学系が収納された筐体に取付けると、He−Ne
管方式のレーザ光源と同様熱膨脹、熱変位に起因する精
度の低下を招く。
【0027】本発明は斯かる実情に鑑み、視認性の高い
レーザ光線を使用し、而もレーザ光源の熱影響を除去
し、精度の高い測量用レーザ装置を提供しようとするも
のである。
【0028】
【課題を解決するための手段】本発明は、レーザ光源部
と該レーザ光源部からのレーザ光線を所定の方向に照射
する光学系とを具備する測量用レーザ装置に於いて、前
記レーザ光源部を少なくとも光学系から熱隔離して設
け、前記レーザ光源部のレーザ光線を光ファイバにより
前記光学系に導いた測量用レーザ装置に係り、或は該測
量用レーザ装置に於いてレーザ光源部が発光部、光共振
部を具備するLD励起固体レーザであり、前記光共振部
を光学系に設け、前記発光部を熱隔離して設けた測量用
レーザ装置に係り、或は該測量用レーザ装置に於いてレ
ーザ光源部の少なくとも発熱部を筐体に固着し、該筐体
を介して放熱する様構成した測量用レーザ装置に係り、
或は光ファイバが偏光方向を保存したまま送光する定偏
波光ファイバである測量用レーザ装置に係り、或は光フ
ァイバ出力端の近傍に配置されレーザ光線を反射すると
共に一部をモニタ光として分割する第1の反射手段及び
該第1反射手段で分割されたモニタ光を受光する第1の
受光手段を有する測量用レーザ装置に係り、或は該第1
の反射手段が偏光ミラーである測量用レーザ装置に係
り、或は前記第1の受光手段の受光量に基づいて前記レ
ーザ光源部のレーザ出力を制御する測量用レーザ装置に
係り、或は光ファイバ出力端の近傍に第2の反射手段
と、第2の受光手段を有する測量用レーザ装置に係るも
のである。
【0029】レーザ光源部、或はレーザ光源部の少なく
とも発熱部が光学系から隔離されているので、光学系が
レーザ光源部の熱の影響を受けることがなく、熱による
精度の低下が防止し得、測量用レーザ装置を高精度に維
持することができる。又、光ファイバ出力部でレーザ出
力をモニタするので装置より外部へ出射するレーザ出力
を正確に制御することができる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態を説明する。
【0031】図1は本発明の実施の形態の概略を示すも
のであり、図2は該本発明の実施の形態に用いられる光
源部20を示すものであり、図1中、図10中で示した
ものと同一のものには同符号を付してあり、又図2中、
図11中で示したものと同一のものには同符号を付して
ある。
【0032】光学系1は鏡筒2内に設けられ、該鏡筒2
は筐体4に上下更に左右の2方向に回動自在に支持さ
れ、レーザ光源3からのレーザ光線を導く光ファイバ2
2は鏡筒2の基部に固定され、該鏡筒2の先端にはコリ
メートレンズ5が設けられている。
【0033】前記筐体4の所要位置、例えば前記レーザ
光線6を収納する鏡筒2、或は鏡筒2の支持機構から離
れた位置、例えば筐体4の後部にヒートシンク21を筐
体4の後壁面、底面に密着させて固着する。
【0034】前記光源部20は、前記レーザ光源3と該
レーザ光源3からのレーザ光線を所要位置に導く光ファ
イバ22から成り、前記レーザ光源3を前記ヒートシン
ク21に熱抵抗を少なくして固着し、前記光ファイバ2
2のレーザ光線入射端22aを前記レーザ光源3のレー
ザ光線射出位置に集光レンズ17を介して固定し、レー
ザ光線射出端22bを前記レーザ光線6の光軸上、前記
鏡筒2の基端位置に固定し、前記レーザ光源3からの光
学系1に導く。
【0035】前記光ファイバ22のレーザ光線射出端2
2bから射出されたレーザ光線6は前記コリメートレン
ズ5で平行光束とされ、筐体4より照射される。
【0036】前記した様に、発熱部であるレーザ光源3
を前記ヒートシンク21に固着し、レーザ光源3の発熱
を前記ヒートシンク21を介して筐体4の外部に放射す
るので、筐体4内の温度の上昇が抑制され、而もヒート
シンク21が鏡筒2、鏡筒2支持機構から離れているの
で、光源部20の熱が精度に影響を及ぼすことがない。
【0037】次に、図3、図4は本発明の他の実施の形
態を示すものであり、前記光源部20の内、発熱部が特
にLD発光器10であることに着目し、発光部8と光共
振部9とを分離し、前記発光部8と前記光共振部9とを
光ファイバ22で接続したものである。
【0038】該発光部8はLD発光器10、集光レンズ
11を具備し、更に光共振部9は集光レンズ23、誘電
体反射膜12が形成されたレーザ結晶(Nd:YV
O4 )板13、非線形光学媒質(KTP)14、誘電体
反射膜15が形成された出力ミラー16を具備してい
る。
【0039】前記発光部8を前記ヒートシンク21に熱
抵抗を少なくして固着し、前記光共振部9を鏡筒2の基
端に取付ける。前記光ファイバ22のレーザ光線入射端
22aを前記集光レンズ11の結像点に配置し、前記レ
ーザ光線射出端22bを前記集光レンズ23の光軸上に
配置する。前記光ファイバ22のレーザ光線射出端22
bから射出されたレーザ光線は前記集光レンズ23によ
り前記レーザ結晶(Nd:YVO4 )板13内に結像さ
れ、前記レーザ結晶板13と出力ミラー16間でレーザ
光線をポンピングし共振、増幅して出力している。前記
光共振部9から発せられたレーザ光線6は前記コリメー
トレンズ5で平行光束とされ、筐体4より照射される。
【0040】本実施の形態でも、発熱部である発光部8
を前記ヒートシンク21に固着し、発光部8の発熱を前
記ヒートシンク21を介して筐体4の外部に放射するの
で、筐体4内の温度の上昇が抑制され、而もヒートシン
ク21が鏡筒2、鏡筒2支持機構から離れているので、
発光部8即ち光源部20の熱が精度に影響を及ぼすこと
がない。
【0041】
【実施例】図5は本発明を経緯儀に実施した場合を示し
ている。
【0042】図中、図1、図3中で示したものと同様な
構成を有するものには同符号を付してある。
【0043】筐体30は鉛直軸を中心に回転可能な托架
31に上下方向に傾動可能に支持されている。又托架3
1は整準台32に設けられ、該整準台32の整準螺子3
3により前記筐体30が水平に設置可能である。前記整
準台32には表示部34が設けられ、該表示部34には
水平角、高度角、距離等のデータが表示される様になっ
ている。
【0044】前記筐体30には水平方向に望遠鏡41が
設けられ、該望遠鏡41の鏡筒2には水平方向の光軸を
有する光学系1が収納されている。該光学系1は、光軸
O上に接眼レンズ35、レチクル36、正立像にするプ
リズム37、インタナルレンズ38、緑色のレーザ光線
を選択的に反射するレーザ反射ミラー39、対物レンズ
40等が順次配設され構成される。
【0045】前記筐体30の底部に前記レーザ光源3が
固着され、前記鏡筒2の前記レーザ反射ミラー39に対
峙する位置にレーザ光線射出部42が固着され、該レー
ザ光線射出部42に光ファイバ22のレーザ光線射出端
22bが固定保持される。される。前記筐体30の材質
はカーボンを含有し、熱伝導率の高い合成樹脂製とし、
或は少なくとも前記レーザ光源3が固着されている部分
は熱伝導率の高い材質、カーボンを含有する熱伝導率の
高い合成樹脂、或は銅、アルミニウム等の金属とする。
【0046】前記レーザ反射ミラー39は上記した様に
緑色のレーザ光線を選択的に反射し、他の波長の光線に
ついては透過する様製作されており、前記レーザ光線射
出部42から射出されたレーザ光線は前記レーザ反射ミ
ラー39で反射され前記対物レンズ40から図示しない
対象物に向かって照射される。レーザ光線の照射位置は
前記光学系1により確認することができる。
【0047】前記光源部20の発熱部であるレーザ光源
3は前記筐体30に固着されているので、レーザ光源3
の熱は筐体30より放熱され、筐体30内に熱が籠り温
度が上昇することが抑制され、更にレーザ光源3からの
レーザ光線を光ファイバ22で導いているのでレーザ光
源3の熱が鏡筒2に伝達されることがない。而して、光
学系1、或は光学系1を支持する機構が熱の影響を受け
ることがないので高精度の測定が可能となる。
【0048】図6は本発明を回転レーザ照射装置に実施
した場合を示している。
【0049】図中、図1、図3、図5中で示したものと
同様な構成を有するものには同符号を付してある。
【0050】整準台32の一部を構成する本体ベース4
5に筐体46が設けられ、該筐体46内に光学系1、光
源部20が設けられる。前記筐体46の上部にはペンタ
プリズム47を収納する回動部48が回転自在に設けら
れている。又、前記筐体46は熱伝導性のよい銅、アル
ミニウム、鉄等金属製、或はカーボン等が混合され熱伝
導率が高められた合成樹脂製で製作される。前記回動部
48に設けられた被動走査ギア49には走査モータ50
の出力軸に嵌着された駆動ギア51が噛合しており、前
記走査モータ50の駆動により駆動ギア51、被動走査
ギア49を介して前記ペンタプリズム47が前記光学系
1の光軸を中心に回転する。
【0051】光源部20のレーザ光源3は前記筐体46
の側壁に固着され、レーザ光源3の熱は前記筐体46を
介して外部に放熱される。レーザ光源3からのレーザ光
線は前記光ファイバ22を介して前記光学系1に導かれ
る。
【0052】該光学系1は自由液面を有する傾斜補正装
置52、反射ミラー53を有し、レーザ光線射出端22
bを固定保持するレーザ光線射出部42は前記傾斜補正
装置52の自由液面に向かってレーザ光線を入射する様
配置され、前記反射ミラー53は前記傾斜補正装置52
で反射されたレーザ光線を前記ペンタプリズム47に向
かって反射する様設けられている。
【0053】而して、前記レーザ光線射出部42より光
学系1に入射したレーザ光線は前記ペンタプリズム47
で水平方向に変向され、照射され、該ペンタプリズム4
7の回転でレーザ光線による水平基準面が形成される様
になっている。
【0054】本実施の形態に於いても前記光源部20の
発熱部であるレーザ光源3は前記筐体46に固着されて
いるので、レーザ光源3の熱は筐体46より放熱され、
筐体46内に熱が籠り温度が上昇することが抑制され、
更にレーザ光源3からのレーザ光線を光ファイバ22で
導いているのでレーザ光源3の熱が光学系1に伝達され
ることがなく、或は光学系1を支持する機構にも熱が伝
達されることなく高精度の測定が可能となる。
【0055】次に、図7〜図8に於いて、前記レーザ光
線射出部42の一例を説明する。
【0056】レーザ光線射出部に前記光ファイバ22の
出力端は導かれており、該出力端はホルダ55にレーザ
光線射出光軸に対して所要の角度をもって嵌入してい
る。通常、所定の偏光方向の偏光を光ファイバに入射す
ると射出される光は偏光でなくなっているが、光ファイ
バ22は偏光方向を保存したまま送光する定偏波光ファ
イバであり、前記光ファイバ22の端面に近接して、偏
光ミラー56及び該偏光ミラー56の背面側にミラー5
7が順次配設され、該ミラー57に対峙して偏光板5
9、モニタ用受光器58が設けられている。前記光ファ
イバ22の出力端より射出したレーザ光線の内、前記偏
光ミラー56を透過した透過光は前記ミラー57によっ
て反射され前記モニタ用受光器58によって受光され
る。レーザ光源より射出された直線偏光のレーザ光線は
前記光ファイバ22で偏光方向を保存されつつ導かれて
前記偏光ミラー56に向かって射出される。
【0057】偏光ミラー56はレーザ光線を殆ど反射す
るが、モニタ光として数%を透過する。光ファイバ22
から出力されるレーザ光線はS偏光であるが、いくらか
のP偏光も含まれている。前記偏光ミラー56では数%
のS偏光と共にP偏光が透過する。前記ミラー57は透
過した偏光を受光器に向けて反射する。該ミラー57と
受光器58の間には偏光板59が配置されS偏光のみを
透過させる。実質的に射出されるレーザ光線はS偏光で
あるので、S偏光をモニタする。モニタされた情報は、
レーザ光源3の発光駆動にフィードバックされ、射出さ
れるレーザ光線の視認性、出力の安定化が図られ、更に
射出されるレーザ光線の検出がなされる。
【0058】図9は偏光ミラーと光源(発光点)Lの配
置の関係を図示した光路図である。光路上の偏光ミラー
56に取付け誤差の関係を光源Lの移動に置換えると、
光軸上を基準にして光源の移動は集光点の移動である。
光源と偏光ミラー56の間隔が大きい程光源の移動は大
きい。移動量を小さくするには光源Lと偏光ミラー56
の間隔を小さくする必要がある。光源Lが移動しない場
合は、光源Lの移動は偏光ミラーの傾き角に置換えられ
る。従って、偏光ミラーの取付け誤差の影響を小さく
し、レーザ光線を光軸上に集光させるには光源Lと偏光
ミラーの間隔を小さくする必要があり、本装置では光フ
ァイバ22のレーザ光線射出端近傍に偏光ミラーを配置
している。
【0059】光源ユニット60からのレーザ光線を光フ
ァイバ22に導き、レーザ光線射出端22bよりレーザ
光線を出力させる場合、集光レンズ17或は入射ファイ
バ端部22aの位置ずれ、ファイバ折損、その他の原因
によるファイバ結合効率の変動、光共振部構成部品の位
置ずれ等が原因のレーザ出力の減少又は増大は、光源ユ
ニット60内部に配置された受光器62のみのフィード
バック制御では調整できない問題がある。
【0060】図10は光源ユニット60とレーザ光線射
出端22bにモニタ受光部70を設けたフィードバック
系のブロック図である。光源ユニット60はレーザ光源
3、ハーフミラー61及び集光レンズ17から構成され
る。光源ユニット60からのレーザ光線出力は光ファイ
バ22によって図7に示すレーザ光線射出端に導かれ出
射される。
【0061】偏光ミラー56で分割されたモニタ光はミ
ラー57で反射され偏光板59を透過してモニタ受光器
58に入光する。該モニタ受光器58、前記受光回路6
4からの受光信号は比較回路65と制御部66に入力さ
れる。
【0062】前記光源ユニット60のモニタ受光器6
2、受光回路63からの受光信号は前記比較回路65に
入力される。前記両受光回路63と受光回路64からの
受光信号は比較回路65で比較され、比較値が所定の範
囲を外れる場合に電気信号が制御部66に入力される。
前記受光回路63と受光回路64からの受光信号の比較
値が所定の範囲にある場合に、受光回路64からの受光
信号が制御部66に入力され、入力信号に応じた制御信
号をLD駆動部67に出力する。LD駆動部67は制御
信号に基づいてLD発光器の発光を制御する。
【0063】比較値が所定の範囲を外れるとは、前述し
た様に、集光レンズ或は入射ファイバ端部の位置ずれ、
ファイバ折損、その他の原因によるファイバ結合効率の
変動に起因したファイバから出射されるレーザ出力の減
少又は増大が生じていることであり、この場合は、安全
の為比較回路65から異常を伝える電気信号を制御部6
6に入力し、制御部66はLD駆動部67停止、異常表
示等の処置を行う。
【0064】尚、本発明に於いて、レーザ光源3或は発
光部8を筐体の外部に設けてもよいこと、或は筐体のレ
ーザ光源3或は発光部8の取付け部に放熱板を設けても
よいこと等種々変更が可能であることは言う迄もない。
【0065】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、レーザ
を使用する測量用レーザ装置に於いて、視認性の高い緑
色のレーザ光線を使用できるので作業性が向上し、又レ
ーザ光源部の発熱部を光学系、光学系支持装置から熱的
に隔離して設け、測量用レーザ装置の筐体を利用して放
熱しているので、熱による精度の低下を防止し得、又発
熱部からのレーザ光線を屈撓自在な光ファイバにより導
いているので、光学系の動作に何等影響することがない
等の優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す概略構成図である。
【図2】該実施の形態に使用される光源部の構成図であ
る。
【図3】本発明の他の実施の形態を示す概略構成図であ
る。
【図4】該他の実施の形態に使用される光源部の構成図
である。
【図5】本発明の実施例を示す断面図である。
【図6】本発明の他の実施例を示す断面図である。
【図7】レーザ光線射出部の拡大断面図である。
【図8】該レーザ光線射出部の骨子図である。
【図9】該レーザ光線射出部の光路図である。
【図10】本発明に係る光源ユニットの制御ブロック図
である。
【図11】従来例を示す概略構成図である。
【図12】該従来例に於けるレーザ光源部の構成図であ
る。
【図13】従来例の光源ユニットの制御ブロック図であ
る。
【符号の説明】
1 光学系 2 鏡筒 3 レーザ光源 4 筐体 5 コリメートレンズ 6 レーザ光線 20 光源部 21 ヒートシンク 22 光ファイバ 42 レーザ光線射出部 56 偏光ミラー 57 ミラー 58 モニタ用受光器 59 偏光板 60 光源ユニット 62 モニタ受光器 65 比較器 67 LD駆動部 70 モニタ受光部
フロントページの続き (72)発明者 大石 政裕 東京都板橋区蓮沼町75番1号 株式会社ト プコン内 (72)発明者 後藤 義明 東京都板橋区蓮沼町75番1号 株式会社ト プコン内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源部と該レーザ光源部からのレ
    ーザ光線を所定の方向に照射する光学系とを具備する測
    量用レーザ装置に於いて、前記レーザ光源部を少なくと
    も光学系から熱隔離して設け、前記レーザ光源部のレー
    ザ光線を光ファイバにより前記光学系に導いたことを特
    徴とする測量用レーザ装置。
  2. 【請求項2】 レーザ光源部が発光部、光共振部を具備
    するLD励起固体レーザであり、前記光共振部を光学系
    に設け、前記発光部を熱隔離して設けた請求項1の測量
    用レーザ装置。
  3. 【請求項3】 レーザ光源部の少なくとも発熱部を筐体
    に固着し、該筐体を介して放熱する様構成した請求項
    1、請求項2の測量用レーザ装置。
  4. 【請求項4】 光ファイバが偏光方向を保存したまま送
    光する定偏波光ファイバである請求項1の測量用レーザ
    装置。
  5. 【請求項5】 光ファイバ出力端の近傍に配置されレー
    ザ光線を反射すると共に一部をモニタ光として分割する
    第1の反射手段及び該第1反射手段で分割されたモニタ
    光を受光する第1の受光手段を有する請求項1の測量用
    レーザ装置。
  6. 【請求項6】 該第1の反射手段が偏光ミラーである請
    求項5の測量用レーザ装置。
  7. 【請求項7】 前記第1の受光手段の受光量に基づいて
    前記レーザ光源部のレーザ出力を制御する請求項5、請
    求項6の測量用レーザ装置。
  8. 【請求項8】 光ファイバ入力端の近傍に第2の反射手
    段と、第2の受光手段を有する請求項5、請求項6の測
    量用レーザ装置。
JP14982496A 1995-08-17 1996-05-21 レーザ測量装置 Expired - Fee Related JP3670397B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14982496A JP3670397B2 (ja) 1995-08-17 1996-05-21 レーザ測量装置
US08/691,548 US5745623A (en) 1995-08-17 1996-08-02 Laser system for surveying
EP06014320A EP1717548B1 (en) 1995-08-17 1996-08-13 Laser system for surveying
EP96112995A EP0759538B1 (en) 1995-08-17 1996-08-13 Laser system for surveying
DE69636711T DE69636711T2 (de) 1995-08-17 1996-08-13 Laservermessungssystem
CN96109995A CN1121740C (zh) 1995-08-17 1996-08-16 测量用激光装置
US08/932,816 US6048105A (en) 1995-08-17 1997-09-16 Laser system for surveying

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7-231925 1995-08-17
JP23192595 1995-08-17
JP14982496A JP3670397B2 (ja) 1995-08-17 1996-05-21 レーザ測量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09113272A true JPH09113272A (ja) 1997-05-02
JP3670397B2 JP3670397B2 (ja) 2005-07-13

Family

ID=26479596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14982496A Expired - Fee Related JP3670397B2 (ja) 1995-08-17 1996-05-21 レーザ測量装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3670397B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013090903A (ja) * 2011-10-06 2013-05-16 Canon Inc 光断層画像撮像装置
JP2017102017A (ja) * 2015-12-02 2017-06-08 株式会社リンク 測量用レーザ照準器
JP2021167773A (ja) * 2020-04-10 2021-10-21 株式会社キーエンス レーザ光電センサ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013090903A (ja) * 2011-10-06 2013-05-16 Canon Inc 光断層画像撮像装置
JP2017102017A (ja) * 2015-12-02 2017-06-08 株式会社リンク 測量用レーザ照準器
JP2021167773A (ja) * 2020-04-10 2021-10-21 株式会社キーエンス レーザ光電センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP3670397B2 (ja) 2005-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0759538B1 (en) Laser system for surveying
US11322906B2 (en) Compact mode-locked laser module
EP0514758B1 (en) Laser light generator
US5341388A (en) Laser light beam generating apparatus
US20050053104A1 (en) Backscatter absorption gas imaging systems and light sources therefore
CN110571639B (zh) 一种种子光注入的纳秒脉冲窄线宽光学参量振荡器
WO1987003955A1 (en) Auto-boresight technique for self-aligning phase conjugate laser
US20070264734A1 (en) Solid-state laser device and method for manufacturing wavelength conversion optical member
JP3716355B2 (ja) レーザー装置及びレーザー装置制御方法
US5898489A (en) Laser irradiation light detecting device
US20120050690A1 (en) Image display device and information processing device including the same
WO2007097177A1 (ja) 波長変換装置及び画像表示装置
JP3670397B2 (ja) レーザ測量装置
CN116154596A (zh) 一种可靠高光束质量人眼安全光参量振荡器
US20090141281A1 (en) Detector/imager
US6580052B1 (en) Method for assembling a miser laser with fibre coupling
JPH05235455A (ja) レーザ光発生装置
US6282227B1 (en) Diode-pumped double frequency solid-state laser
JP3170911B2 (ja) レーザ光発生装置
JPH06241908A (ja) 波長測定方法及びそれを用いた波長測定装置、並びにレーザ装置
JP2784933B2 (ja) 可視光レーザーダイオードを鏡筒部に組込んだ測量機械
JPH109867A (ja) レーザ装置
JP2005019428A (ja) レーザ装置
JP3123345U (ja) レーザポインタ
US20070098034A1 (en) Laser device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040922

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041116

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050114

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050405

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050414

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090422

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090422

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100422

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110422

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120422

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130422

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130422

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140422

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees