JPH09116219A - レーザ光発生装置、およびレーザ応用装置 - Google Patents
レーザ光発生装置、およびレーザ応用装置Info
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- JPH09116219A JPH09116219A JP7272407A JP27240795A JPH09116219A JP H09116219 A JPH09116219 A JP H09116219A JP 7272407 A JP7272407 A JP 7272407A JP 27240795 A JP27240795 A JP 27240795A JP H09116219 A JPH09116219 A JP H09116219A
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 73
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 49
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 claims abstract description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 10
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- WCULPSIYAQDUJW-UHFFFAOYSA-N [Li].[Sr] Chemical compound [Li].[Sr] WCULPSIYAQDUJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- IEPNMLJMIRCTIV-UHFFFAOYSA-H aluminum;lithium;strontium;hexafluoride Chemical compound [Li+].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[F-].[Al+3].[Sr+2] IEPNMLJMIRCTIV-UHFFFAOYSA-H 0.000 claims description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 3
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 3
- NNAZVIPNYDXXPF-UHFFFAOYSA-N [Li+].[Cs+].OB([O-])[O-] Chemical compound [Li+].[Cs+].OB([O-])[O-] NNAZVIPNYDXXPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XBJJRSFLZVLCSE-UHFFFAOYSA-N barium(2+);diborate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[O-]B([O-])[O-].[O-]B([O-])[O-] XBJJRSFLZVLCSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- VCZFPTGOQQOZGI-UHFFFAOYSA-N lithium bis(oxoboranyloxy)borinate Chemical compound [Li+].[O-]B(OB=O)OB=O VCZFPTGOQQOZGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- UKDIAJWKFXFVFG-UHFFFAOYSA-N potassium;oxido(dioxo)niobium Chemical compound [K+].[O-][Nb](=O)=O UKDIAJWKFXFVFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- HSZCZNFXUDYRKD-UHFFFAOYSA-M lithium iodide Chemical compound [Li+].[I-] HSZCZNFXUDYRKD-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims 1
- OBTSLRFPKIKXSZ-UHFFFAOYSA-N lithium potassium Chemical compound [Li].[K] OBTSLRFPKIKXSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 abstract 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 abstract 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 abstract 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 10
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- WBPWDGRYHFQTRC-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxycyclohexan-1-one Chemical compound CCOC1CCCCC1=O WBPWDGRYHFQTRC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100139907 Arabidopsis thaliana RAR1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100028790 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) PBS2 gene Proteins 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- UIZLQMLDSWKZGC-UHFFFAOYSA-N cadmium helium Chemical compound [He].[Cd] UIZLQMLDSWKZGC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000002558 medical inspection Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
- Lasers (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 比較的広い波長掃引幅を有する固体レーザ結
晶から安定したSHG出力を得る。 【解決手段】 少なくとも10nm以上の波長掃引範囲
を有するレーザ結晶と、前記レーザ結晶を含む共振器か
らなるレーザ光発生装置において、前記レーザ結晶から
発光され、前記共振器中で共振される基本波光の消光比
が1000以上となるように前記共振器を構成したこと
を特徴とするレーザ光発生装置である。
晶から安定したSHG出力を得る。 【解決手段】 少なくとも10nm以上の波長掃引範囲
を有するレーザ結晶と、前記レーザ結晶を含む共振器か
らなるレーザ光発生装置において、前記レーザ結晶から
発光され、前記共振器中で共振される基本波光の消光比
が1000以上となるように前記共振器を構成したこと
を特徴とするレーザ光発生装置である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光エレクトロニクス
分野、特にレーザプリンタ装置、パーティクルカウンタ
装置、医療検査装置、光造形装置および光ディスク装置
などに用いられるレーザ装置に関する。
分野、特にレーザプリンタ装置、パーティクルカウンタ
装置、医療検査装置、光造形装置および光ディスク装置
などに用いられるレーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】高度情報化時代の進展に伴い、光ディス
ク装置やレーザプリンタ装置などのコンピュータ周辺レ
ーザ応用装置において記録密度向上や高速印刷の要求を
満足するため、短波長化への要求が高まっている。しか
し製品化レベルで要求の高い青色領域を満足する光源と
してはHe−Cd(ヘリウムーカドミウム)レーザ装置
やAr(アルゴン)レーザ装置などのガスレーザ装置し
かなく、大型で消費電力が大きく、デスクトップサイズ
が主流のオフィス環境および住宅環境に適応できない問
題があった。
ク装置やレーザプリンタ装置などのコンピュータ周辺レ
ーザ応用装置において記録密度向上や高速印刷の要求を
満足するため、短波長化への要求が高まっている。しか
し製品化レベルで要求の高い青色領域を満足する光源と
してはHe−Cd(ヘリウムーカドミウム)レーザ装置
やAr(アルゴン)レーザ装置などのガスレーザ装置し
かなく、大型で消費電力が大きく、デスクトップサイズ
が主流のオフィス環境および住宅環境に適応できない問
題があった。
【0003】またレーザ装置は投入電力からレーザ光へ
の変換効率が小さく、消費電力の多くは熱となるため冷
却手段を必要とし、レーザ応用装置のサイズが大きくな
る問題があった。またこの冷却手段の振動による光学系
のズレがレーザ応用装置の信頼性を劣化させる等の問題
があった。さらにガスの劣化等により、ガスあるいはそ
れを封入したチューブの交換が必要となり、連続使用時
間が短く、それによりレーザ応用装置の連続使用時間が
短く、またガスチューブ交換の際には光学系の再調整も
必要となる、などの問題があった。
の変換効率が小さく、消費電力の多くは熱となるため冷
却手段を必要とし、レーザ応用装置のサイズが大きくな
る問題があった。またこの冷却手段の振動による光学系
のズレがレーザ応用装置の信頼性を劣化させる等の問題
があった。さらにガスの劣化等により、ガスあるいはそ
れを封入したチューブの交換が必要となり、連続使用時
間が短く、それによりレーザ応用装置の連続使用時間が
短く、またガスチューブ交換の際には光学系の再調整も
必要となる、などの問題があった。
【0004】これに対し、固体レーザの共振器内部に非
線形光学結晶を挿入し固体レーザからの発振波である第
1のレーザビーム(以下場合によっては基本波と称す)
の1/2の波長に変換する光第2高調波発生(以下単に
SHG;Second HarmonicGeneration)などの波長変換
技術を適応することで、レーザの短波長化が出来ること
を利用して前述のようなガスレーザの問題点を解消する
試みがなされてきた。例えば800〜900nm帯の波
長領域で発振可能なレーザ結晶であるCr:LiSrAlF6(クロ
ム添加のフッ化リチウムストロンチウムアルミニウム;
以下単にLiSAFと称す)を用いた固体レーザのSH
G方式が提案された。(エフ. ハ゛レンホ゛ワ-ル、 ヒ゜ー. シ゛ョルシ゛ュ、
エフ.エス. アラン,「Cr添加の LiSrAlF6レーザの内部共振器
型周波数逓倍による波長チューニング可能な青色光源」
応用物理通信61巻20号2381頁(1992年)、F.Balembois,
P.Georges, F. Salin,G.Roger,and A. Brun,"Tunable b
lue light source by intracavity frequency doubling
of a Cr-dope LiSrAlF6laser", Appl.Phys.Lett.,Vol.
61,No.20,p.2381(1992))。しかし、前記Balembois等は
LiSAF結晶の励起光源としてKr(クリプトン)レ
ーザを用いており、前述のHe−CdおよびArレーザ
の問題点を改善するものではなかった。
線形光学結晶を挿入し固体レーザからの発振波である第
1のレーザビーム(以下場合によっては基本波と称す)
の1/2の波長に変換する光第2高調波発生(以下単に
SHG;Second HarmonicGeneration)などの波長変換
技術を適応することで、レーザの短波長化が出来ること
を利用して前述のようなガスレーザの問題点を解消する
試みがなされてきた。例えば800〜900nm帯の波
長領域で発振可能なレーザ結晶であるCr:LiSrAlF6(クロ
ム添加のフッ化リチウムストロンチウムアルミニウム;
以下単にLiSAFと称す)を用いた固体レーザのSH
G方式が提案された。(エフ. ハ゛レンホ゛ワ-ル、 ヒ゜ー. シ゛ョルシ゛ュ、
エフ.エス. アラン,「Cr添加の LiSrAlF6レーザの内部共振器
型周波数逓倍による波長チューニング可能な青色光源」
応用物理通信61巻20号2381頁(1992年)、F.Balembois,
P.Georges, F. Salin,G.Roger,and A. Brun,"Tunable b
lue light source by intracavity frequency doubling
of a Cr-dope LiSrAlF6laser", Appl.Phys.Lett.,Vol.
61,No.20,p.2381(1992))。しかし、前記Balembois等は
LiSAF結晶の励起光源としてKr(クリプトン)レ
ーザを用いており、前述のHe−CdおよびArレーザ
の問題点を改善するものではなかった。
【0005】これに対し本発明者等は半導体レーザを励
起光源とするLiSAFレーザのSHG方式を提案した
(宮井、牧尾、古川、佐藤、「半導体レーザ励起Cr:LiS
rAlF6レーザの内部共振器型SHG方式を用いた10m
W青色レーザ」、第42回応用物理学関係連合講演会、
28p-ZQ-10(1995年))。
起光源とするLiSAFレーザのSHG方式を提案した
(宮井、牧尾、古川、佐藤、「半導体レーザ励起Cr:LiS
rAlF6レーザの内部共振器型SHG方式を用いた10m
W青色レーザ」、第42回応用物理学関係連合講演会、
28p-ZQ-10(1995年))。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】LiSAFに代表され
るような10nm以上の比較的広い波長掃引幅を有する
固体レーザでは、例えば波長掃引素子により特定の波長
領域における損失を、他の波長の損失より相対的に低く
して前記特定の波長領域のレーザ光を発振させる構成と
なっている。しかしながら、本発明者らが検討した結
果、前記共振器中に非線形光学結晶、すなわち前記特定
のSHGのような、ある波長を異なる波長に変換する素
子を挿入した場合つまり新たな損失が発生した場合に、
レーザ出力およびSHG出力が不安定になることが分か
った。
るような10nm以上の比較的広い波長掃引幅を有する
固体レーザでは、例えば波長掃引素子により特定の波長
領域における損失を、他の波長の損失より相対的に低く
して前記特定の波長領域のレーザ光を発振させる構成と
なっている。しかしながら、本発明者らが検討した結
果、前記共振器中に非線形光学結晶、すなわち前記特定
のSHGのような、ある波長を異なる波長に変換する素
子を挿入した場合つまり新たな損失が発生した場合に、
レーザ出力およびSHG出力が不安定になることが分か
った。
【0007】本発明はこの点を考慮したもので、LiS
AFに代表されるような比較的広い波長掃引幅を有する
固体レーザを使用したSHGにおいて、その出力を安定
化させたレーザ装置を提供することにある。
AFに代表されるような比較的広い波長掃引幅を有する
固体レーザを使用したSHGにおいて、その出力を安定
化させたレーザ装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、少な
くとも10nm以上の波長掃引範囲を有するレーザ結晶
と、前記レーザ結晶を含む共振器からなるレーザ光発生
装置において、前記レーザ結晶から発光され、前記共振
器中で共振される基本波光の消光比が1000以上とな
るように前記共振器を構成したことを特徴とするレーザ
光発生装置である。
くとも10nm以上の波長掃引範囲を有するレーザ結晶
と、前記レーザ結晶を含む共振器からなるレーザ光発生
装置において、前記レーザ結晶から発光され、前記共振
器中で共振される基本波光の消光比が1000以上とな
るように前記共振器を構成したことを特徴とするレーザ
光発生装置である。
【0009】また前記共振器中に少なくとも10nm以
上の波長掃引範囲を有するレーザ結晶と、前記レーザ結
晶からの発光の発振波長を掃引するための波長掃引素子
と、前記基本波光の光の一部を異なる波長の第2のレー
ザ光に変換する非線形光学結晶を有することを特徴とす
るレーザ光発生装置である。さらに前記レーザ結晶とし
てCr:LiSrAlF6(クロム添加のフッ化リチウムストロン
チウムアルミニウム:LiSAFと略す)、Cr:LiSrGaF
6(クロム添加のフッ化リチウムストロンチウムガリウ
ム)、Ti:Al2O3(チタン添加のサファイア)、Cr:BeAl2
O4(アレキサンドライト)のうちのいずれかを用いる。
また前記非線形光学結晶としてLiB3O5(三ほう酸リチウ
ム:LBOと略す)、CsLiB6O10(ホウ酸リチウムセシ
ウム)、β-BaB2O4(ホウ酸バリウム)、KNbO3(ニオブ
酸カリウム)、KLiNbO(ニオブ酸リチウム−カリウ
ム)、またはLiIO3(ヨウ酸リチウム)のうちのいずれ
かを用いる。
上の波長掃引範囲を有するレーザ結晶と、前記レーザ結
晶からの発光の発振波長を掃引するための波長掃引素子
と、前記基本波光の光の一部を異なる波長の第2のレー
ザ光に変換する非線形光学結晶を有することを特徴とす
るレーザ光発生装置である。さらに前記レーザ結晶とし
てCr:LiSrAlF6(クロム添加のフッ化リチウムストロン
チウムアルミニウム:LiSAFと略す)、Cr:LiSrGaF
6(クロム添加のフッ化リチウムストロンチウムガリウ
ム)、Ti:Al2O3(チタン添加のサファイア)、Cr:BeAl2
O4(アレキサンドライト)のうちのいずれかを用いる。
また前記非線形光学結晶としてLiB3O5(三ほう酸リチウ
ム:LBOと略す)、CsLiB6O10(ホウ酸リチウムセシ
ウム)、β-BaB2O4(ホウ酸バリウム)、KNbO3(ニオブ
酸カリウム)、KLiNbO(ニオブ酸リチウム−カリウ
ム)、またはLiIO3(ヨウ酸リチウム)のうちのいずれ
かを用いる。
【0010】本発明者らは、10nm以上の比較的広い
波長掃引幅を有する固体レーザの一例としてLiSAF
レーザの発振特性を検討した。その結果、固体レーザ出
力の偏光状態とレーザ出力の不安定性との間に関係があ
ることを見い出した。図1はLiSAFレーザの基本波
の消光比とSHG出力安定性の相関関係を説明するため
の図である。消光比は、例えばLiSAF結晶のC軸と
非線形光学結晶であるLBO結晶のC軸のなす角を調整
することに変更することが出来る。図1よりSHG出力
の変動は、消光比が比較的高い直線偏光と考えられる領
域では小さく、消光比が小さくなるに従って変動は大き
くなっている。定量的に見ると、消光比が3200から
900に低下すると、出力変動率が0.5%から1.2
%へ増大することがわかる。
波長掃引幅を有する固体レーザの一例としてLiSAF
レーザの発振特性を検討した。その結果、固体レーザ出
力の偏光状態とレーザ出力の不安定性との間に関係があ
ることを見い出した。図1はLiSAFレーザの基本波
の消光比とSHG出力安定性の相関関係を説明するため
の図である。消光比は、例えばLiSAF結晶のC軸と
非線形光学結晶であるLBO結晶のC軸のなす角を調整
することに変更することが出来る。図1よりSHG出力
の変動は、消光比が比較的高い直線偏光と考えられる領
域では小さく、消光比が小さくなるに従って変動は大き
くなっている。定量的に見ると、消光比が3200から
900に低下すると、出力変動率が0.5%から1.2
%へ増大することがわかる。
【0011】また図2はLiSAFレーザの消光比と発
振波長の縦モードの数の相関関係を説明するための図で
ある。図2より消光比が3200から900に低下する
と、縦モード数が3本から9本へと増加することが分か
る。さらに消光比が1000以下に低下すると縦モード
が5本と4本の2つのグループに分離することが判っ
た。
振波長の縦モードの数の相関関係を説明するための図で
ある。図2より消光比が3200から900に低下する
と、縦モード数が3本から9本へと増加することが分か
る。さらに消光比が1000以下に低下すると縦モード
が5本と4本の2つのグループに分離することが判っ
た。
【0012】一般に、発振波長の縦モード数が増加する
とモード競合によるノイズが発生しやすくなると考えら
れる。よって、縦モード数の少なくなる消光比の大きい
状態がSHG出力安定化のためには望ましい。さらにレ
ーザ応用装置としては±1%以下の安定性は必要と考え
られるから、図1および図2より固体レーザ出力の消光
比は1000以上であることが望ましいことがわかる。
とモード競合によるノイズが発生しやすくなると考えら
れる。よって、縦モード数の少なくなる消光比の大きい
状態がSHG出力安定化のためには望ましい。さらにレ
ーザ応用装置としては±1%以下の安定性は必要と考え
られるから、図1および図2より固体レーザ出力の消光
比は1000以上であることが望ましいことがわかる。
【0013】図3は消光比が低下する原因の一例を説明
するための図である。少なくとも10nm以上の波長掃
引幅を有するレーザ結晶として、LiSAF結晶以外に
Cr:LiSrGaF6(クロム添加のフッ化リチウムストロンチ
ウムガリウム)、Ti:Al2O3(チタン添加のサファイ
ア)、Cr:BeAl2O4(アレキサンドライト)などのレーザ
結晶が存在し、いずれも異方性を有するため直線偏光で
発振する。図3に示した構成では代表的な波長掃引素子
として、複屈折フィルタを用いている。複屈折フィルタ
はレーザ結晶の異方性で決まる偏光方向(紙面内)にお
いて損失が理論上0となるブリュースター角に配置され
ている。ここで複屈折フィルタとは、異なる屈折率を持
つ結晶軸が面内になるように結晶を切り出し、2つの平
面の平行度と面精度が高くなるように研磨したものであ
る。この平面を共振器中の光軸に対してブリュースター
角になるように配置すると、ある特定波長の発光の偏光
方向を複屈折フィルタ中で整数回の回転の後に通過さ
せ、かつ複屈折フィルタ両面が形成するブリュースター
窓において特定の偏光方向のみ無損失で通過させる効果
を用いて、この波長を選択しレーザ発振させることがで
きる。ここで、前記の特定波長のレーザ光は共振器中を
何度も往復するため、ブリュースター窓で消光比の高い
直線偏光となる。
するための図である。少なくとも10nm以上の波長掃
引幅を有するレーザ結晶として、LiSAF結晶以外に
Cr:LiSrGaF6(クロム添加のフッ化リチウムストロンチ
ウムガリウム)、Ti:Al2O3(チタン添加のサファイ
ア)、Cr:BeAl2O4(アレキサンドライト)などのレーザ
結晶が存在し、いずれも異方性を有するため直線偏光で
発振する。図3に示した構成では代表的な波長掃引素子
として、複屈折フィルタを用いている。複屈折フィルタ
はレーザ結晶の異方性で決まる偏光方向(紙面内)にお
いて損失が理論上0となるブリュースター角に配置され
ている。ここで複屈折フィルタとは、異なる屈折率を持
つ結晶軸が面内になるように結晶を切り出し、2つの平
面の平行度と面精度が高くなるように研磨したものであ
る。この平面を共振器中の光軸に対してブリュースター
角になるように配置すると、ある特定波長の発光の偏光
方向を複屈折フィルタ中で整数回の回転の後に通過さ
せ、かつ複屈折フィルタ両面が形成するブリュースター
窓において特定の偏光方向のみ無損失で通過させる効果
を用いて、この波長を選択しレーザ発振させることがで
きる。ここで、前記の特定波長のレーザ光は共振器中を
何度も往復するため、ブリュースター窓で消光比の高い
直線偏光となる。
【0014】ここで共振器中に特定の波長において損失
を与える場合について考察する。たとえば共振器中に非
線形光学結晶を配置し、前記特定の波長のレーザ光(以
下場合によって基本波と称す)の一部をSHGに変換す
る場合を考える。そもそも基本波は複屈折フィルタによ
って最も損失の小さくなる波長の光が共振器中で増幅さ
れたものである。この基本波の一部がSHGに変換され
ると、基本波に損失が生じることになる。
を与える場合について考察する。たとえば共振器中に非
線形光学結晶を配置し、前記特定の波長のレーザ光(以
下場合によって基本波と称す)の一部をSHGに変換す
る場合を考える。そもそも基本波は複屈折フィルタによ
って最も損失の小さくなる波長の光が共振器中で増幅さ
れたものである。この基本波の一部がSHGに変換され
ると、基本波に損失が生じることになる。
【0015】図4は基本波波長近傍の損失状態と発振波
長を示した図である。図4(a)はSHGに変換される
前の状態で、損失のもっとも小さい波長で基本波が発振
することを示している。図4(b)はSHGが発振して
いるときの基本波の状態を示している。図4(b)では
SHGに変換された基本波波長(図4(a)の発振波
長)の損失は増大し、両隣の波長の波長の損失が相対的
に小さくなる。このため、基本波波長は損失の小さな両
隣のいずれか第二候補波長にシフトする。第二候補波長
の偏光は複屈折フィルタ中を整数倍から僅かにずれて回
転し通過するため、異方性を持つレーザ結晶および非線
形光学結晶において直角偏光から楕円偏光となる。偏光
の楕円率は消光比と呼ばれ異方性を持つレーザ結晶中に
消光比の低い光が入射すると、偏光状態が異なるレーザ
光が同時発振する。異なる偏光間において共振器長が僅
かに異なり、各偏光状態に依存してレーザ光の波長に差
が生じることとなる。すなわち図2と同様に縦モードの
マルチ化が進み、多モードによる基本波のモード競合ノ
イズが発生することとなる。このような消光比の低下は
図3においてレーザ結晶の異方性で決まる偏光面と前記
ブリュースター窓が正確な角度で配置されない場合も起
こりうる現象である。
長を示した図である。図4(a)はSHGに変換される
前の状態で、損失のもっとも小さい波長で基本波が発振
することを示している。図4(b)はSHGが発振して
いるときの基本波の状態を示している。図4(b)では
SHGに変換された基本波波長(図4(a)の発振波
長)の損失は増大し、両隣の波長の波長の損失が相対的
に小さくなる。このため、基本波波長は損失の小さな両
隣のいずれか第二候補波長にシフトする。第二候補波長
の偏光は複屈折フィルタ中を整数倍から僅かにずれて回
転し通過するため、異方性を持つレーザ結晶および非線
形光学結晶において直角偏光から楕円偏光となる。偏光
の楕円率は消光比と呼ばれ異方性を持つレーザ結晶中に
消光比の低い光が入射すると、偏光状態が異なるレーザ
光が同時発振する。異なる偏光間において共振器長が僅
かに異なり、各偏光状態に依存してレーザ光の波長に差
が生じることとなる。すなわち図2と同様に縦モードの
マルチ化が進み、多モードによる基本波のモード競合ノ
イズが発生することとなる。このような消光比の低下は
図3においてレーザ結晶の異方性で決まる偏光面と前記
ブリュースター窓が正確な角度で配置されない場合も起
こりうる現象である。
【0016】また、図4で説明した基本波波長から第二
候補波長へシフトが前記非線形光学結晶のSHG位相整
合の波長許容幅の外にはずれた場合、SHGへの変換は
行われずSHG出力は0となる。このとき、図4(b)
で見られた損失の原因は消滅し、図4(a)の状態に回
復する。このように基本波波長のシフトは繰り返される
のでSHG出力変動は繰り返されることとなる。また、
前記レーザ光発生装置がレーザプリンタ装置、パーティ
クルカウンタ装置、光ディスク装置などのレーザ応用装
置に搭載されるとこのましい。
候補波長へシフトが前記非線形光学結晶のSHG位相整
合の波長許容幅の外にはずれた場合、SHGへの変換は
行われずSHG出力は0となる。このとき、図4(b)
で見られた損失の原因は消滅し、図4(a)の状態に回
復する。このように基本波波長のシフトは繰り返される
のでSHG出力変動は繰り返されることとなる。また、
前記レーザ光発生装置がレーザプリンタ装置、パーティ
クルカウンタ装置、光ディスク装置などのレーザ応用装
置に搭載されるとこのましい。
【0017】
(実施例1)図5は本発明の一実施例を説明するための
図でレーザ装置の構造を示している。半導体レーザ11
から出射された励起ビーム31はコリメータ12、単レ
ンズ14からなる集光光学系によりレーザ結晶21内部
に集光され、レーザ結晶21を励起する。半導体レーザ
11はSDL(Spectra Diode Lab.)社製AlGaInP系半
導体レーザを用い、出力500mW、発振波長680n
mである。励起されたレーザ結晶21はその左端面に形
成された入射側共振器ミラー24と出力ミラー25から
なる固体レーザ共振器20で第1のレーザビーム32を
発振する。このとき共振器構造20は平凹式共振器であ
り、出力ミラー25の曲率半径は150mm、実効光路
長は曲率半径よりわずかに短くした。
図でレーザ装置の構造を示している。半導体レーザ11
から出射された励起ビーム31はコリメータ12、単レ
ンズ14からなる集光光学系によりレーザ結晶21内部
に集光され、レーザ結晶21を励起する。半導体レーザ
11はSDL(Spectra Diode Lab.)社製AlGaInP系半
導体レーザを用い、出力500mW、発振波長680n
mである。励起されたレーザ結晶21はその左端面に形
成された入射側共振器ミラー24と出力ミラー25から
なる固体レーザ共振器20で第1のレーザビーム32を
発振する。このとき共振器構造20は平凹式共振器であ
り、出力ミラー25の曲率半径は150mm、実効光路
長は曲率半径よりわずかに短くした。
【0018】レーザ結晶21にはCr添加量1.5mo
l%のLiSAF結晶(φ3×5mm)を用いた。結晶の
左端面24には励起波長に対して反射率2%以下の無反
射(以下単にAR;Anti-Reflection)コーティング、
基本波波長に対して反射率99%以上の高反射(以下単
にHR;High-Reflection)コーティングを施した。結
晶の右端面には基本波波長に対して反射率2%以下のA
Rコーティングを施した。レーザ結晶24のすぐ右隣に
は波長選択素子の複屈折フィルタ9を配置し、その入射
面がレーザ結晶24のc軸と光軸とを含み、光軸に対し
ブリュースター角となるように傾けた。基本波の波長選
択は複屈折フィルタ9の入射境界面の法線に対し回転さ
せて行った。
l%のLiSAF結晶(φ3×5mm)を用いた。結晶の
左端面24には励起波長に対して反射率2%以下の無反
射(以下単にAR;Anti-Reflection)コーティング、
基本波波長に対して反射率99%以上の高反射(以下単
にHR;High-Reflection)コーティングを施した。結
晶の右端面には基本波波長に対して反射率2%以下のA
Rコーティングを施した。レーザ結晶24のすぐ右隣に
は波長選択素子の複屈折フィルタ9を配置し、その入射
面がレーザ結晶24のc軸と光軸とを含み、光軸に対し
ブリュースター角となるように傾けた。基本波の波長選
択は複屈折フィルタ9の入射境界面の法線に対し回転さ
せて行った。
【0019】複屈折フィルタ9のすぐ右隣には非線形光
学結晶22を配置した。非線形光学結晶として、LBO
を波長860nmでTYPEIの位相整合が取れる方位
に切り出したものに、860nmにおいて反射率が1%
以下のARコーティングを施したものを用いた。また、
非線形光学結晶22はCLBO、BBO、KN、KL
N、またはLIOのうちのいずれを用いても良い。レー
ザ結晶21、複屈折フィルタ9、非線形光学結晶22の
間隔はできるだけ短くなるようにし、波長の変換効率を
高めた。まず、レーザ結晶21、複屈折フィルタ9、非
線形光学結晶22の光軸を調整して図6の(a)に示す
ように消光比3000に調整し、波長430nmのSH
Gが出力誤差±6%以内で安定して得られた。
学結晶22を配置した。非線形光学結晶として、LBO
を波長860nmでTYPEIの位相整合が取れる方位
に切り出したものに、860nmにおいて反射率が1%
以下のARコーティングを施したものを用いた。また、
非線形光学結晶22はCLBO、BBO、KN、KL
N、またはLIOのうちのいずれを用いても良い。レー
ザ結晶21、複屈折フィルタ9、非線形光学結晶22の
間隔はできるだけ短くなるようにし、波長の変換効率を
高めた。まず、レーザ結晶21、複屈折フィルタ9、非
線形光学結晶22の光軸を調整して図6の(a)に示す
ように消光比3000に調整し、波長430nmのSH
Gが出力誤差±6%以内で安定して得られた。
【0020】次に比較のためにレーザ結晶21、複屈折
フィルタ9、非線形光学結晶22の光軸を調整して図6
の(b)に示すように消光比800に調整した。波長4
30nmのSHGが得られたが、その出力は安定せず出
力誤差が±23%見られた。レーザ結晶、非線形光学結
晶、複屈折フィルタの順に配置した場合に比べて、基本
波の消光比が高くなりSHG出力が安定した。
フィルタ9、非線形光学結晶22の光軸を調整して図6
の(b)に示すように消光比800に調整した。波長4
30nmのSHGが得られたが、その出力は安定せず出
力誤差が±23%見られた。レーザ結晶、非線形光学結
晶、複屈折フィルタの順に配置した場合に比べて、基本
波の消光比が高くなりSHG出力が安定した。
【0021】(実施例2)図7も本発明の一実施例を説
明しており、図5同様レーザ装置の構造を示している。
励起光源11、集光光学系、は(実施例1)と同様であ
る。共振器内部も、PBS(偏光ビームスプリッタ)2
7が挿入されていることを除けば同じである。PBS2
7は光軸と直交する2つの平面に、基本波に対するAR
コーティングを施し、レーザ結晶22のc軸方向と平行
な偏光の基本波が99%以上透過するように配置した。
このPBS27により基本波の消光比が高くなり、SH
G出力誤差が少なくなり安定した出力が得られた。この
方式の場合も、非線形光学結晶22はCLBO、BB
O、KN、KLN、またはLIOのうちのいずれを用い
ても良い。
明しており、図5同様レーザ装置の構造を示している。
励起光源11、集光光学系、は(実施例1)と同様であ
る。共振器内部も、PBS(偏光ビームスプリッタ)2
7が挿入されていることを除けば同じである。PBS2
7は光軸と直交する2つの平面に、基本波に対するAR
コーティングを施し、レーザ結晶22のc軸方向と平行
な偏光の基本波が99%以上透過するように配置した。
このPBS27により基本波の消光比が高くなり、SH
G出力誤差が少なくなり安定した出力が得られた。この
方式の場合も、非線形光学結晶22はCLBO、BB
O、KN、KLN、またはLIOのうちのいずれを用い
ても良い。
【0022】(実施例3)図8も本発明の一実施例を説
明しており、図5同様レーザ装置の構造を示している。
励起光源11、集光光学系は(実施例1)と同様であ
る。共振器内部に使用されているレーザ結晶21と非線
形光学結晶22は(実施例1)と材質は同じだがそれぞ
れの複屈折フィルタ9側の端面をブリュースター角にカ
ットした。この2つの面と複屈折フィルタの2面の計4
面のブリュースター窓により、基本波の消光比は高くな
り、SHG出力誤差が少なく安定した出力が得られた。
この方式の場合も、非線形光学結晶22はCLBO、B
BO、KN、KLN、またはLIOのうちのいずれを用
いても良い。
明しており、図5同様レーザ装置の構造を示している。
励起光源11、集光光学系は(実施例1)と同様であ
る。共振器内部に使用されているレーザ結晶21と非線
形光学結晶22は(実施例1)と材質は同じだがそれぞ
れの複屈折フィルタ9側の端面をブリュースター角にカ
ットした。この2つの面と複屈折フィルタの2面の計4
面のブリュースター窓により、基本波の消光比は高くな
り、SHG出力誤差が少なく安定した出力が得られた。
この方式の場合も、非線形光学結晶22はCLBO、B
BO、KN、KLN、またはLIOのうちのいずれを用
いても良い。
【0023】(実施例4)図9は本発明の一実施例をレ
ーザプリンタ装置に用いた応用例を説明するための図で
ある。図7で説明したSHGレーザ光源100から出射
されたSHGレーザ出力33は、音響光学(以下単にA
O;Acousto-Optical)変調器51、ビームエキスパン
ダ52、回転多面鏡53、fθレンズ54を通過し、感
光ドラム55に集光される。AO変調器51は画像情報
に応じてSHG出力33の変調を行い、回転多面鏡53
は水平(紙面内)方向に走査する。この組合せで2次元
情報は感光ドラム55に部分的な電位差として記録され
る。感光ドラム55は前記電位差に応じてトナーを付着
して回転し、記録用紙に情報を再生する。このとき感光
ドラム55に塗布された感光体はセレン(Se)であ
り、SHGレーザ光源100の出力10mWとした。こ
こで感光体はSe以外のものを用いてもよい。
ーザプリンタ装置に用いた応用例を説明するための図で
ある。図7で説明したSHGレーザ光源100から出射
されたSHGレーザ出力33は、音響光学(以下単にA
O;Acousto-Optical)変調器51、ビームエキスパン
ダ52、回転多面鏡53、fθレンズ54を通過し、感
光ドラム55に集光される。AO変調器51は画像情報
に応じてSHG出力33の変調を行い、回転多面鏡53
は水平(紙面内)方向に走査する。この組合せで2次元
情報は感光ドラム55に部分的な電位差として記録され
る。感光ドラム55は前記電位差に応じてトナーを付着
して回転し、記録用紙に情報を再生する。このとき感光
ドラム55に塗布された感光体はセレン(Se)であ
り、SHGレーザ光源100の出力10mWとした。こ
こで感光体はSe以外のものを用いてもよい。
【0024】(実施例5)図10は本発明の一実施例を
光ディスク装置に用いた応用例を説明するための図であ
る。光ディスク装置は光磁気記録方式を採用した。SH
Gレーザ光源100より出射されたSHGレーザ出力3
3はビームエキスパンダ52で拡大された後平行光とな
る。ビームスプリッタ72で一部はねられた光は前方モ
ニタ73に取り込まれる。ビームスプリッタ72を通過
したビームは集光光学系74で媒体75に集光され、反
射された光はビームスプリッタ72で一部反射された後
2つのビームに分離され2つのディテクタ76に各々取
り込まれる。前方モニタ73ではSHGレーザ出力33
をモニタしてSHGレーザ出力33の制御を行う。ま
た、ビームスプリッタ72後の2つのディテクタ76で
オートフォーカス、トラッキング、信号検出を行う。媒
体75には一定の磁界が印加されており、SHGレーザ
出力33を変調させて媒体75のキュリー温度まで焦点
の温度を上げて磁化を反転することにより記録を行っ
た。出力ON時には媒体の磁界が反転し、出力OFF時には
磁界反転が行われず信号記録が可能となる。なお、記録
周波数は10MHzとした。また信号再生時には記録時
と同様のSHGレーザ光源100を用い、良好な再生信
号を得た。
光ディスク装置に用いた応用例を説明するための図であ
る。光ディスク装置は光磁気記録方式を採用した。SH
Gレーザ光源100より出射されたSHGレーザ出力3
3はビームエキスパンダ52で拡大された後平行光とな
る。ビームスプリッタ72で一部はねられた光は前方モ
ニタ73に取り込まれる。ビームスプリッタ72を通過
したビームは集光光学系74で媒体75に集光され、反
射された光はビームスプリッタ72で一部反射された後
2つのビームに分離され2つのディテクタ76に各々取
り込まれる。前方モニタ73ではSHGレーザ出力33
をモニタしてSHGレーザ出力33の制御を行う。ま
た、ビームスプリッタ72後の2つのディテクタ76で
オートフォーカス、トラッキング、信号検出を行う。媒
体75には一定の磁界が印加されており、SHGレーザ
出力33を変調させて媒体75のキュリー温度まで焦点
の温度を上げて磁化を反転することにより記録を行っ
た。出力ON時には媒体の磁界が反転し、出力OFF時には
磁界反転が行われず信号記録が可能となる。なお、記録
周波数は10MHzとした。また信号再生時には記録時
と同様のSHGレーザ光源100を用い、良好な再生信
号を得た。
【0025】
【発明の効果】本発明は、10nm以上の波長掃引範囲
を有するレーザ結晶を用いた第2高調波発生レーザ(S
HGレーザ)の出力安定性を向上させることができ、安
定したレーザが必要な装置に応用できるという効果を奏
する。
を有するレーザ結晶を用いた第2高調波発生レーザ(S
HGレーザ)の出力安定性を向上させることができ、安
定したレーザが必要な装置に応用できるという効果を奏
する。
【図1】基本波の消光比とSHG出力の安定度の相関を
示した図である。
示した図である。
【図2】基本波の消光比とそのときの基本波縦モードの
スペクトラムを示した図である。
スペクトラムを示した図である。
【図3】基本波の波長選択素子として複屈折フィルタの
使用方法を示した図である。
使用方法を示した図である。
【図4】非線形光学結晶の有無で共振器内の波長に対す
る損失と発振レーザの波長の変化を示した図である。
る損失と発振レーザの波長の変化を示した図である。
【図5】本発明のレーザ装置の一実施例を説明するため
の図である。
の図である。
【図6】基本波の消光比と、SHGの出力安定度を示し
た図である。
た図である。
【図7】本発明のレーザ装置の一実施例を説明するため
の図である。
の図である。
【図8】本発明のレーザ装置の一実施例を説明するため
の図である。
の図である。
【図9】本発明の一実施例をレーザプリンタ装置に用い
た応用例を説明するための図である。
た応用例を説明するための図である。
【図10】本発明の一実施例を光ディスク装置に用いた
応用例を説明するための図である。
応用例を説明するための図である。
9 複屈折フィルタ、 11 半導体レーザ、 12
コリメータ、14 単レンズ、 20 共振器、 21
レーザ結晶、22 非線形光学結晶、 23 波長チ
ューニング素子、24 共振器ミラー、 25 共振器
ミラー、 26 共振器ミラー、27 PBS(偏向ビ
ームスプリッタ)、 31 励起ビーム、32 基本
波、 33 SHGレーザ、 51 AOM、52 ビ
ームエキスパンダ、 53 回転多面鏡、 54 fθ
レンズ、55 感光ドラム、 72 ビームスプリッ
タ、 73 前方モニタ、74 集光光学系、 75
媒体、 76 ディテクタ、100 SHG光源。
コリメータ、14 単レンズ、 20 共振器、 21
レーザ結晶、22 非線形光学結晶、 23 波長チ
ューニング素子、24 共振器ミラー、 25 共振器
ミラー、 26 共振器ミラー、27 PBS(偏向ビ
ームスプリッタ)、 31 励起ビーム、32 基本
波、 33 SHGレーザ、 51 AOM、52 ビ
ームエキスパンダ、 53 回転多面鏡、 54 fθ
レンズ、55 感光ドラム、 72 ビームスプリッ
タ、 73 前方モニタ、74 集光光学系、 75
媒体、 76 ディテクタ、100 SHG光源。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // B41J 2/44 B41J 3/00 D (72)発明者 古川 保典 埼玉県熊谷市三ケ尻5200番地日立金属株式 会社磁性材料研究所内
Claims (8)
- 【請求項1】 少なくとも10nm以上の波長掃引範囲
を有するレーザ結晶と、前記レーザ結晶を含む共振器か
らなるレーザ光発生装置において、前記レーザ結晶から
発光され、前記共振器中で共振される基本波光の消光比
が1000以上となるように前記共振器を構成したこと
を特徴とするレーザ光発生装置。 - 【請求項2】 前記共振器中に少なくとも10nm以上
の波長掃引範囲を有するレーザ結晶と、前記レーザ結晶
からの発光の発振波長を掃引するための波長掃引素子
と、前記基本波光の光の一部を異なる波長の第2のレー
ザ光に変換する非線形光学結晶を有することを特徴とす
る請求項1に記載のレーザ光発生装置。 - 【請求項3】 前記レーザ結晶がCr:LiSrAlF6(クロム
添加のフッ化リチウムストロンチウムアルミニウム)、
Cr:LiSrGaF6(クロム添加のフッ化リチウムストロンチ
ウムガリウム)、Ti:Al2O3(チタン添加のサファイ
ア)、Cr:BeAl2O4(アレキサンドライト)のうちのいず
れかであることを特徴とする請求項1または請求項2に
記載のレーザ光発生装置。 - 【請求項4】 前記非線形光学結晶がLiB3O5(三ほう酸
リチウム)、CsLiB6O10(ホウ酸リチウムセシウム)、
β-BaB2O4(ホウ酸バリウム)、KNbO3(ニオブ酸カリウ
ム)、KLiNbO(ニオブ酸リチウム−カリウム)、または
LiIO3(ヨウ酸リチウム)のうちのいずれかであること
を特徴とする請求項2または請求項3に記載のレーザ光
発生装置。 - 【請求項5】 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載
のレーザ光発生装置を用いたことを特徴とするレーザ応
用装置。 - 【請求項6】 前記レーザ応用装置がレーザプリンタ装
置であることを特徴とする請求項5に記載のレーザ応用
装置。 - 【請求項7】 前記レーザ応用装置がパーティクルカウ
ンタ装置であることを特徴とする請求項5に記載のレー
ザ応用装置。 - 【請求項8】 前記レーザ応用装置が光ディスク装置で
あることを特徴とする請求項5に記載のレーザ応用装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7272407A JPH09116219A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | レーザ光発生装置、およびレーザ応用装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7272407A JPH09116219A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | レーザ光発生装置、およびレーザ応用装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09116219A true JPH09116219A (ja) | 1997-05-02 |
Family
ID=17513477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7272407A Pending JPH09116219A (ja) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | レーザ光発生装置、およびレーザ応用装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09116219A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2773880A1 (fr) * | 1998-01-19 | 1999-07-23 | Cilas | Dispositif pour determiner la repartition granulometrique d'un melange de particules |
| WO2009016709A1 (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-05 | Mitsubishi Electric Corporation | 波長変換レーザ装置 |
| WO2012065149A3 (en) * | 2010-11-14 | 2012-08-16 | Kla-Tencor Corporation | High damage threshold frequency conversion system |
-
1995
- 1995-10-20 JP JP7272407A patent/JPH09116219A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2773880A1 (fr) * | 1998-01-19 | 1999-07-23 | Cilas | Dispositif pour determiner la repartition granulometrique d'un melange de particules |
| WO2009016709A1 (ja) * | 2007-07-30 | 2009-02-05 | Mitsubishi Electric Corporation | 波長変換レーザ装置 |
| US8073024B2 (en) | 2007-07-30 | 2011-12-06 | Mitsubishi Electronics Corporation | Wavelength conversion laser device |
| WO2012065149A3 (en) * | 2010-11-14 | 2012-08-16 | Kla-Tencor Corporation | High damage threshold frequency conversion system |
| US8711470B2 (en) | 2010-11-14 | 2014-04-29 | Kla-Tencor Corporation | High damage threshold frequency conversion system |
| US9152008B1 (en) | 2010-11-14 | 2015-10-06 | Kla-Tencor Corporation | High damage threshold frequency conversion system |
| US9753352B1 (en) | 2010-11-14 | 2017-09-05 | Kla-Tencor Corporation | High damage threshold frequency conversion system |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040812 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041203 |