JPH09120905A - チップ電子部品及びその製造方法 - Google Patents
チップ電子部品及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH09120905A JPH09120905A JP8124972A JP12497296A JPH09120905A JP H09120905 A JPH09120905 A JP H09120905A JP 8124972 A JP8124972 A JP 8124972A JP 12497296 A JP12497296 A JP 12497296A JP H09120905 A JPH09120905 A JP H09120905A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- substrate
- electrodes
- ceramic substrate
- slits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 83
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 48
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 28
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 28
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims abstract description 11
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 22
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 19
- 238000005476 soldering Methods 0.000 claims description 7
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 6
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 4
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 4
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229910001925 ruthenium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Details Of Resistors (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】絶縁性セラミック基板の分割面に形成される電
極で導通不良が発生することのないチップ電子部品を提
供する。 【解決手段】基板両面に分割用のスリット14が複数本
形成されたセラミック板13の基板表面に形成された複
数本のスリット14をそれぞれ挟んで基板表面にメタル
グレーズ系の第1電極6を印刷形成する。またセラミッ
ク板13の基板裏面にも同様にして第2電極7を印刷形
成する。一対の第1電極6に接続される抵抗体3を基板
表面上に印刷形成する。セラミック板13を各スリット
14に沿ってスクライブする。スクライブしたセラミッ
ク板の分割面を含む両側端部に第1電極及び記第2電極
と幅広に一部重畳する状態でレジン含有銀塗料を略コの
字状に直接塗布した後に加熱処理して両側端部に第3電
極8を形成した後、各電極を覆うメッキ層9,10を形
成する。
極で導通不良が発生することのないチップ電子部品を提
供する。 【解決手段】基板両面に分割用のスリット14が複数本
形成されたセラミック板13の基板表面に形成された複
数本のスリット14をそれぞれ挟んで基板表面にメタル
グレーズ系の第1電極6を印刷形成する。またセラミッ
ク板13の基板裏面にも同様にして第2電極7を印刷形
成する。一対の第1電極6に接続される抵抗体3を基板
表面上に印刷形成する。セラミック板13を各スリット
14に沿ってスクライブする。スクライブしたセラミッ
ク板の分割面を含む両側端部に第1電極及び記第2電極
と幅広に一部重畳する状態でレジン含有銀塗料を略コの
字状に直接塗布した後に加熱処理して両側端部に第3電
極8を形成した後、各電極を覆うメッキ層9,10を形
成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、チップ状の絶縁性
セラミック基板の表面に印刷素子が設けられ、この基板
の両端部に電極が形成されたチップ電子部品及びその製
造方法に関するものである。
セラミック基板の表面に印刷素子が設けられ、この基板
の両端部に電極が形成されたチップ電子部品及びその製
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】チップ電子部品の一種のチップ抵抗器の
基本構造は、絶縁性セラミック基板の表面の両端部に一
対の電極が形成され、これら一対の電極に接続されるよ
うに基板表面上に抵抗体が印刷形成された構造である。
半田付け性を向上させるために、この種のチップ電子部
品には、絶縁性セラミック基板の側面及び裏面に更に側
面電極及び裏面電極を設けた構造も提案されている。
基本構造は、絶縁性セラミック基板の表面の両端部に一
対の電極が形成され、これら一対の電極に接続されるよ
うに基板表面上に抵抗体が印刷形成された構造である。
半田付け性を向上させるために、この種のチップ電子部
品には、絶縁性セラミック基板の側面及び裏面に更に側
面電極及び裏面電極を設けた構造も提案されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】絶縁性セラミック基板
は、大きなセラミック板を分割して形成されるため、側
面電極は絶縁性セラミック基板の分割面に形成されるこ
とになる。絶縁性セラミック基板の基板表面及び基板裏
面と分割面(側面電極を形成する端面)との間の角部の
角度は鋭角になるため、側面電極を導電ペーストを用い
て形成する場合に、導電ペーストが基板の角部で切れて
しまう問題が発生する。特に導電ペーストとして、ガラ
スを含むメタルグレーズ系の導電ペーストを用いた場合
には、この導電ペーストの切れが発生する率が高い。
は、大きなセラミック板を分割して形成されるため、側
面電極は絶縁性セラミック基板の分割面に形成されるこ
とになる。絶縁性セラミック基板の基板表面及び基板裏
面と分割面(側面電極を形成する端面)との間の角部の
角度は鋭角になるため、側面電極を導電ペーストを用い
て形成する場合に、導電ペーストが基板の角部で切れて
しまう問題が発生する。特に導電ペーストとして、ガラ
スを含むメタルグレーズ系の導電ペーストを用いた場合
には、この導電ペーストの切れが発生する率が高い。
【0004】本発明の目的は、絶縁性セラミック基板の
分割面に形成される電極で導通不良が発生することのな
いチップ電子部品及びその製造方法を提供することにあ
る。
分割面に形成される電極で導通不良が発生することのな
いチップ電子部品及びその製造方法を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明のチップ抵抗器で
は、厚み方向に対向するように基板両面に分割用のスリ
ット14が複数本形成されたセラミック板13がスリッ
トに沿って分割されて形成されて両端面に分割面を有す
る絶縁性セラミック基板2を用いる。絶縁性セラミック
基板2の基板表面の両端面側に位置する両端部には、メ
タルグレーズ系の一対の第1電極6を形成する。また絶
縁性セラミック基板2の基板裏面に一対の第1電極6と
対向する位置にメタルグレーズ系の一対の第2電極7を
形成する。そして基板表面に一対の第1電極と直接接続
された抵抗体を形成する。更に、第1電極及び第2電極
と幅広に一部重畳するように絶縁性セラミック基板2の
両端面に略コの字状のAg−レジン系の一対の第3電極
8を形成する。また第1電極及び第2電極の一部分と第
3電極を覆うようにメッキ層(9,10)を形成する。
は、厚み方向に対向するように基板両面に分割用のスリ
ット14が複数本形成されたセラミック板13がスリッ
トに沿って分割されて形成されて両端面に分割面を有す
る絶縁性セラミック基板2を用いる。絶縁性セラミック
基板2の基板表面の両端面側に位置する両端部には、メ
タルグレーズ系の一対の第1電極6を形成する。また絶
縁性セラミック基板2の基板裏面に一対の第1電極6と
対向する位置にメタルグレーズ系の一対の第2電極7を
形成する。そして基板表面に一対の第1電極と直接接続
された抵抗体を形成する。更に、第1電極及び第2電極
と幅広に一部重畳するように絶縁性セラミック基板2の
両端面に略コの字状のAg−レジン系の一対の第3電極
8を形成する。また第1電極及び第2電極の一部分と第
3電極を覆うようにメッキ層(9,10)を形成する。
【0006】本発明の方法によれば、まず厚み方向に対
向するように基板両面に分割用のスリット14が複数本
形成されたセラミック板13の基板表面に形成された複
数本のスリット14をそれぞれ挟んで基板表面にメタル
グレーズ系の第1電極6を印刷形成する。またセラミッ
ク板の基板裏面に形成された複数本のスリット14を挟
んで基板裏面にメタルグレーズ系の第2電極7を印刷形
成する。そして隣接する2本のスリット14の間に形成
した一対の第1電極に直接接続される抵抗体3を基板表
面上に印刷形成する。第1電極、第2電極及び抵抗体が
印刷形成されたセラミック板を両端部に第1電極及び第
2電極が位置するようにスリット14に沿ってスクライ
ブする。その後スクライブしたセラミック板の分割面を
含む両側端部に第1電極及び記第2電極と幅広に一部重
畳する状態でレジン含有銀塗料を略コの字状に直接塗布
した後に加熱処理して両側端部に第3電極8を形成し、
第1電極、第2電極及び第3電極の外面上にメッキ層
(9,10)を形成する。
向するように基板両面に分割用のスリット14が複数本
形成されたセラミック板13の基板表面に形成された複
数本のスリット14をそれぞれ挟んで基板表面にメタル
グレーズ系の第1電極6を印刷形成する。またセラミッ
ク板の基板裏面に形成された複数本のスリット14を挟
んで基板裏面にメタルグレーズ系の第2電極7を印刷形
成する。そして隣接する2本のスリット14の間に形成
した一対の第1電極に直接接続される抵抗体3を基板表
面上に印刷形成する。第1電極、第2電極及び抵抗体が
印刷形成されたセラミック板を両端部に第1電極及び第
2電極が位置するようにスリット14に沿ってスクライ
ブする。その後スクライブしたセラミック板の分割面を
含む両側端部に第1電極及び記第2電極と幅広に一部重
畳する状態でレジン含有銀塗料を略コの字状に直接塗布
した後に加熱処理して両側端部に第3電極8を形成し、
第1電極、第2電極及び第3電極の外面上にメッキ層
(9,10)を形成する。
【0007】厚み方向に対向するように基板両面に分割
用のスリット14が複数本形成されたセラミック板13
をスリット14に沿って分割して形成された絶縁性セラ
ミック基板2の両端面に形成される分割面には、厚み方
向に対向する2本のスリット14を形成するための2つ
の傾斜面が残る。そのため基板表面及び基板裏面とこれ
らの2つの傾斜面との間の角度及び2つの傾斜面と残り
の分割面との間の角度は、いずれも鈍角になる。そのた
め絶縁性セラミック基板2の両端面に第3電極8を導電
ペーストにより形成する場合に、導電ペーストが切れ難
くなる。しかしながら、ガラスを含むメタルグレーズ系
の導電ペーストで第3電極を形成した場合には、導電ペ
ーストが基板の角部で切れる率は依然として高い。これ
は導電ペーストに含まれるガラスが影響しているものと
考えられる。そこで本発明では、第3電極8を形成する
ための導電ペースとしてレジン含有銀塗料を用いる。レ
ジン含有銀塗料は、ガラスを含有するメタルグレーズ系
の導電ペーストと比べて流動性が低く、基板に形成され
る角部が鈍角の場合には、ほとんど切れることはない。
そのため本発明によれば歩留まりが大幅に向上する。ま
た基板の端面に設けたAg−レジン系の第3電極8は、
適度の柔軟性を有するため、回路基板の曲げに対しても
十分に耐えることができ、剥離することがない。しかし
ながらAg−レジン系の第3電極を形成する際の硬化温
度は、メタルグレーズ系の第1電極6及び第2電極7を
形成する際の硬化温度と比べて大幅に低く、耐熱性が低
い。そのため半田食われが発生するおそれがある。また
Ag−レジン系の第3電極8からは、銀マイグレーショ
ンが発生するおそれがある。そこで本発明では、第1電
極、第2電極及び第3電極をメッキ層(9,10)で覆
っている。このメッキ層により、半田食われを防止して
銀マイグレーションの発生を防止することができる。
用のスリット14が複数本形成されたセラミック板13
をスリット14に沿って分割して形成された絶縁性セラ
ミック基板2の両端面に形成される分割面には、厚み方
向に対向する2本のスリット14を形成するための2つ
の傾斜面が残る。そのため基板表面及び基板裏面とこれ
らの2つの傾斜面との間の角度及び2つの傾斜面と残り
の分割面との間の角度は、いずれも鈍角になる。そのた
め絶縁性セラミック基板2の両端面に第3電極8を導電
ペーストにより形成する場合に、導電ペーストが切れ難
くなる。しかしながら、ガラスを含むメタルグレーズ系
の導電ペーストで第3電極を形成した場合には、導電ペ
ーストが基板の角部で切れる率は依然として高い。これ
は導電ペーストに含まれるガラスが影響しているものと
考えられる。そこで本発明では、第3電極8を形成する
ための導電ペースとしてレジン含有銀塗料を用いる。レ
ジン含有銀塗料は、ガラスを含有するメタルグレーズ系
の導電ペーストと比べて流動性が低く、基板に形成され
る角部が鈍角の場合には、ほとんど切れることはない。
そのため本発明によれば歩留まりが大幅に向上する。ま
た基板の端面に設けたAg−レジン系の第3電極8は、
適度の柔軟性を有するため、回路基板の曲げに対しても
十分に耐えることができ、剥離することがない。しかし
ながらAg−レジン系の第3電極を形成する際の硬化温
度は、メタルグレーズ系の第1電極6及び第2電極7を
形成する際の硬化温度と比べて大幅に低く、耐熱性が低
い。そのため半田食われが発生するおそれがある。また
Ag−レジン系の第3電極8からは、銀マイグレーショ
ンが発生するおそれがある。そこで本発明では、第1電
極、第2電極及び第3電極をメッキ層(9,10)で覆
っている。このメッキ層により、半田食われを防止して
銀マイグレーションの発生を防止することができる。
【0008】また基板の下面側では第3電極を第2電極
に一部重畳して設けてあるため、電極が段状に形成さ
れ、本発明のチップ抵抗器をプリント回路基板に取り付
けた際、電極の下面側と回路基板との間に生じた隙間に
ハンダが回り込み、本発明のチップ抵抗器が小さくても
充分な固着力が得られる。
に一部重畳して設けてあるため、電極が段状に形成さ
れ、本発明のチップ抵抗器をプリント回路基板に取り付
けた際、電極の下面側と回路基板との間に生じた隙間に
ハンダが回り込み、本発明のチップ抵抗器が小さくても
充分な固着力が得られる。
【0009】更に、第3電極を第1電極及び第2電極に
一部重畳させる程度は、半田付け時の熱により、第3電
極と第1電極及び第2電極との間に剥離が生じない程度
である。Ag−レジン系の一対の第3電極は、メタルグ
レーズ系の第1及び第2電極と熱膨脹係数が大きく相違
する。そのためメッキ層(9,10)で第3電極を覆っ
ていても、半田付け時にメッキ層を通して第1電極〜第
3電極に伝わる熱によって生じる第3電極と第1及び第
2電極との間の膨脹差が原因となって両者間に剥離が発
生する可能性がある。これを防ぐには第3電極と第1電
極及び第2電極との接触面積を、両者間に剥離が発生し
ない程度まで大きくしておく必要がある。本発明では、
この点を考慮して第3電極と第1電極及び第2電極との
間に剥離が生じない程度に第3電極を第1電極及び第2
電極に幅広に一部重畳させる。
一部重畳させる程度は、半田付け時の熱により、第3電
極と第1電極及び第2電極との間に剥離が生じない程度
である。Ag−レジン系の一対の第3電極は、メタルグ
レーズ系の第1及び第2電極と熱膨脹係数が大きく相違
する。そのためメッキ層(9,10)で第3電極を覆っ
ていても、半田付け時にメッキ層を通して第1電極〜第
3電極に伝わる熱によって生じる第3電極と第1及び第
2電極との間の膨脹差が原因となって両者間に剥離が発
生する可能性がある。これを防ぐには第3電極と第1電
極及び第2電極との接触面積を、両者間に剥離が発生し
ない程度まで大きくしておく必要がある。本発明では、
この点を考慮して第3電極と第1電極及び第2電極との
間に剥離が生じない程度に第3電極を第1電極及び第2
電極に幅広に一部重畳させる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下本発明の一実施例を図面に基
づいて説明する。
づいて説明する。
【0011】この実施例のチップ抵抗器1は、図1に示
すように、セラミックの基板2の表面に凸型の抵抗体3
が印刷され、この両端に電極4が設けられている。この
セラミックの基板2は、図3に示すように、厚み方向に
対向するように基板両面に分割用のスリット14が複数
本形成されたセラミック板13をスリットに沿って分割
するものである。したがって実際には、基板2の両端部
の角部は図示のように90度にはなっておらず、基板2
の両端部の角部にはスリット14を形成する傾斜面が残
る。したがって実際の基板2の両端部に形成される角部
は90度よりも大きい鈍角になる。また、スリット14
が入っていなかった部分の分割面とスリット14を形成
する傾斜面との間の角部も鈍角になっている。抵抗体3
は、酸化ルテニウム約10μの厚みに設け、レーザ又は
サンドブラストにより凸型の底辺から上方に向ってトリ
ミング溝5を形成し、抵抗値のトリミングが成されてい
る。
すように、セラミックの基板2の表面に凸型の抵抗体3
が印刷され、この両端に電極4が設けられている。この
セラミックの基板2は、図3に示すように、厚み方向に
対向するように基板両面に分割用のスリット14が複数
本形成されたセラミック板13をスリットに沿って分割
するものである。したがって実際には、基板2の両端部
の角部は図示のように90度にはなっておらず、基板2
の両端部の角部にはスリット14を形成する傾斜面が残
る。したがって実際の基板2の両端部に形成される角部
は90度よりも大きい鈍角になる。また、スリット14
が入っていなかった部分の分割面とスリット14を形成
する傾斜面との間の角部も鈍角になっている。抵抗体3
は、酸化ルテニウム約10μの厚みに設け、レーザ又は
サンドブラストにより凸型の底辺から上方に向ってトリ
ミング溝5を形成し、抵抗値のトリミングが成されてい
る。
【0012】このチップ抵抗器1の電極4は、抵抗体3
が直接に接続している第1電極6と、この第1電極6と
基板2をはさんで対向して形成された第2電極7を有
し、この第1,第2電極6,7はAg−Pd、Ag−P
t等のメタルグレーズペーストを印刷形成したものであ
る。さらに、第1,第2電極6,7をはさんで基板2の
端面に、キシレンフェノール樹脂又はエポキシフェノー
ル樹脂にAgを混入したAg−レジン系の導電ペースト
による第3電極8が設けられ、この第3電極8は、第
1,第2電極6,7を一部被覆するように設けられ、両
者の導通を図っている。図2に示すように、第3電極8
は、第1電極6及び第2電極7に幅広に一部重畳してい
る。その程度は、半田付け時の熱により、第3電極8と
第1電極6及び第2電極7との間に剥離が生じない程度
である。そして、この第1,第2,第3電極全体を覆っ
てNiメッキ9及びハンダメッキ10が施されている。
が直接に接続している第1電極6と、この第1電極6と
基板2をはさんで対向して形成された第2電極7を有
し、この第1,第2電極6,7はAg−Pd、Ag−P
t等のメタルグレーズペーストを印刷形成したものであ
る。さらに、第1,第2電極6,7をはさんで基板2の
端面に、キシレンフェノール樹脂又はエポキシフェノー
ル樹脂にAgを混入したAg−レジン系の導電ペースト
による第3電極8が設けられ、この第3電極8は、第
1,第2電極6,7を一部被覆するように設けられ、両
者の導通を図っている。図2に示すように、第3電極8
は、第1電極6及び第2電極7に幅広に一部重畳してい
る。その程度は、半田付け時の熱により、第3電極8と
第1電極6及び第2電極7との間に剥離が生じない程度
である。そして、この第1,第2,第3電極全体を覆っ
てNiメッキ9及びハンダメッキ10が施されている。
【0013】また、抵抗体3の表面には、ガラスコート
11及びレジンコート12を施して保護している。
11及びレジンコート12を施して保護している。
【0014】この実施例のチップ抵抗器の製造方法は、
図3AないしFに示すように、先ず基板となるセラミッ
ク板13の基板表面側のスリット14をはさんで所定間
隔で第1電極6となるメタルグレーズペーストを複数列
印刷して、900℃近い温度で焼成する。メタルグレー
ズペーストを基板表面上に塗布するとその一部はスリッ
ト14の内部に流れ込む場合が殆どである。さらに同様
にして第2電極7も第1電極6と対向する基板裏面の位
置に形成する。次に、図3Bに示すように、第1電極6
の間のセラミック板13上にマトリクス状に抵抗体3を
印刷形成し、平均850℃の温度で焼成する。そして、
図3Cに示すように、抵抗体3の表面にガラスコート1
1を施し平均650℃の温度で焼成する。この後、セラ
ミック板13を各チップ抵抗器毎に縦横に設けられたス
リット14に沿って切断(スクライブ)し、図3Dに示
すように、基板2の端面にAg−レジン系の導電ペース
トの第3電極8を20μ程度の厚みに塗布し、200℃
程度の温度で硬化させる。そして、図3E,Fに示すよ
うに、Niメッキ9,ハンダメッキ10を各々順次施
し、第1,第2,第3電極6,7,8を被覆する。
図3AないしFに示すように、先ず基板となるセラミッ
ク板13の基板表面側のスリット14をはさんで所定間
隔で第1電極6となるメタルグレーズペーストを複数列
印刷して、900℃近い温度で焼成する。メタルグレー
ズペーストを基板表面上に塗布するとその一部はスリッ
ト14の内部に流れ込む場合が殆どである。さらに同様
にして第2電極7も第1電極6と対向する基板裏面の位
置に形成する。次に、図3Bに示すように、第1電極6
の間のセラミック板13上にマトリクス状に抵抗体3を
印刷形成し、平均850℃の温度で焼成する。そして、
図3Cに示すように、抵抗体3の表面にガラスコート1
1を施し平均650℃の温度で焼成する。この後、セラ
ミック板13を各チップ抵抗器毎に縦横に設けられたス
リット14に沿って切断(スクライブ)し、図3Dに示
すように、基板2の端面にAg−レジン系の導電ペース
トの第3電極8を20μ程度の厚みに塗布し、200℃
程度の温度で硬化させる。そして、図3E,Fに示すよ
うに、Niメッキ9,ハンダメッキ10を各々順次施
し、第1,第2,第3電極6,7,8を被覆する。
【0015】この場合、スリット14は基板の両側より
厚み方向に対向するように設けられているため、セラミ
ック基板端面に、樹脂を一部重畳する状態で塗布する
と、電気的にも機械的にも良好な状態が得られる。
厚み方向に対向するように設けられているため、セラミ
ック基板端面に、樹脂を一部重畳する状態で塗布する
と、電気的にも機械的にも良好な状態が得られる。
【0016】この方法によるとセラミック基板端面にお
いて、端子電極即ち第3電極8の剥がれやクラック等の
欠陥が生じなくなる。
いて、端子電極即ち第3電極8の剥がれやクラック等の
欠陥が生じなくなる。
【0017】最後に、各チップ抵抗器の抵抗体3をトリ
ミングして抵抗値を調整し、エポキシ樹脂等のレジンコ
ート12を施し200℃付近の温度で硬化させる。
ミングして抵抗値を調整し、エポキシ樹脂等のレジンコ
ート12を施し200℃付近の温度で硬化させる。
【0018】また、トリミングは、図3Cの状態で行う
こともあり、この場合はその後レジンコート12を施し
て図3D以下の工程を行う。これによって、セラミック
板13をチップ毎に分離しない状態で抵抗値のトリミン
グを行うので効率良くトリミング作業を行うことがで
き、しかもレジンコート12によって、後のメッキ作業
時にも抵抗体に悪影響を与えることもない。
こともあり、この場合はその後レジンコート12を施し
て図3D以下の工程を行う。これによって、セラミック
板13をチップ毎に分離しない状態で抵抗値のトリミン
グを行うので効率良くトリミング作業を行うことがで
き、しかもレジンコート12によって、後のメッキ作業
時にも抵抗体に悪影響を与えることもない。
【0019】この実施例のチップ抵抗器によれば、半田
食われに対して電極4の耐性が向上し、しかも、回路基
板の曲げに対しても、メタルグレーズ系のみでできた電
極と比べ柔軟性が高いので電極が強い。また、半田付け
の際の回路基板に対する固着力も、第1,第2電極6,
7が回路基板に強固に半田付けされるので、極めて強
く、第3電極をAg−レジン系にしたことによる固着力
の低下は生じない。
食われに対して電極4の耐性が向上し、しかも、回路基
板の曲げに対しても、メタルグレーズ系のみでできた電
極と比べ柔軟性が高いので電極が強い。また、半田付け
の際の回路基板に対する固着力も、第1,第2電極6,
7が回路基板に強固に半田付けされるので、極めて強
く、第3電極をAg−レジン系にしたことによる固着力
の低下は生じない。
【0020】尚、この発明のチップ抵抗器の抵抗体は、
金属皮膜抵抗体、炭素皮膜抵抗体等その用途に合わせて
適宜選定し得るものである。またメタルグレーズペース
ト、Ag−レジン系導電ペーストの成分は、適宜他の添
加物が入っていても良い。本願のものは抵抗体上にガラ
スコートを施しトリミングしているが、適宜公知の方法
で変更しうるものであり、他の抵抗体を用いたチップ部
品にも同様に応用でき、この実施例のものに限定される
ものではない。
金属皮膜抵抗体、炭素皮膜抵抗体等その用途に合わせて
適宜選定し得るものである。またメタルグレーズペース
ト、Ag−レジン系導電ペーストの成分は、適宜他の添
加物が入っていても良い。本願のものは抵抗体上にガラ
スコートを施しトリミングしているが、適宜公知の方法
で変更しうるものであり、他の抵抗体を用いたチップ部
品にも同様に応用でき、この実施例のものに限定される
ものではない。
【0021】本実施例のチップ抵抗器は、基板の両面に
設けたメタルグレーズ系の第1,第2電極にまたがって
基板の端面にAg−レジン系の第3電極を設け、この第
1,第2,第3電極を覆うNiメッキ層及び該Niメッ
キ層を覆う半田メッキ層を形成したので、半田食われに
強く、回路基板への付け直しが可能である。また基板の
下面側の第2電極に一部重畳して第3電極を設けたの
で、基板の下面側の電極で段差が形成され、回路基板へ
半田付けした際、下面側電極と回路基板の間に生じる隙
間に半田が回り込んで強い固着力が得られる。しかも基
板の端面に設けたAg−レジン系の第3電極が適度の柔
軟性を有するので、回路基板の曲げに対しても十分に耐
え得るものである。また本実施例のように、スクライブ
後の基板側端部面にレジン含有銀塗料を表裏面の第1,
第2電極上に幅広に一部重畳する状態で直接塗布し低温
で加熱処理して第3電極を形成すると、切断されたまま
の粗い基板断面に対し直接に接合し第3電極の接着力が
強い。また半田付け用電極にメッキ処理する際、第3電
極がメッキ液の浸透を効果的に防止し、電極に剥れやク
ラック等の欠陥を生ずることのない高品質の製品を製造
し得る。またメッキ前にレジンコートをすればメッキ液
に弱い抵抗体をレジンコートにより保護するので、抵抗
体の特性も維持できる。
設けたメタルグレーズ系の第1,第2電極にまたがって
基板の端面にAg−レジン系の第3電極を設け、この第
1,第2,第3電極を覆うNiメッキ層及び該Niメッ
キ層を覆う半田メッキ層を形成したので、半田食われに
強く、回路基板への付け直しが可能である。また基板の
下面側の第2電極に一部重畳して第3電極を設けたの
で、基板の下面側の電極で段差が形成され、回路基板へ
半田付けした際、下面側電極と回路基板の間に生じる隙
間に半田が回り込んで強い固着力が得られる。しかも基
板の端面に設けたAg−レジン系の第3電極が適度の柔
軟性を有するので、回路基板の曲げに対しても十分に耐
え得るものである。また本実施例のように、スクライブ
後の基板側端部面にレジン含有銀塗料を表裏面の第1,
第2電極上に幅広に一部重畳する状態で直接塗布し低温
で加熱処理して第3電極を形成すると、切断されたまま
の粗い基板断面に対し直接に接合し第3電極の接着力が
強い。また半田付け用電極にメッキ処理する際、第3電
極がメッキ液の浸透を効果的に防止し、電極に剥れやク
ラック等の欠陥を生ずることのない高品質の製品を製造
し得る。またメッキ前にレジンコートをすればメッキ液
に弱い抵抗体をレジンコートにより保護するので、抵抗
体の特性も維持できる。
【0022】従って、今日の実装密度の高度化の要求に
よりチップ抵抗器も小型化しているが、電極が小さくて
も十分な固着力が得られ、電気製品の小型軽量化、信頼
性、耐久性及び生産性の向上に大きく寄与するものであ
る。
よりチップ抵抗器も小型化しているが、電極が小さくて
も十分な固着力が得られ、電気製品の小型軽量化、信頼
性、耐久性及び生産性の向上に大きく寄与するものであ
る。
【0023】
【発明の効果】本発明のように、厚み方向に対向するよ
うに基板両面に分割用のスリットが複数本形成されたセ
ラミック基板をスリットに沿って分割して形成された絶
縁性セラミック基板を用いると、基板の両端部に形成さ
れる角部は鈍角になるため、絶縁性セラミック基板の両
端面に第3電極を導電ペーストにより形成する場合で
も、導電ペーストが切れ難くなる。その上、特に本発明
では、第3電極を形成するための導電ペーストとして流
動性の低いレジン含有銀塗料を用いるため、基板に形成
される角部が鈍角の場合に、導電ペーストがほとんど切
れることはない。そのため本発明によれば歩留まりが大
幅に向上する利点がある。また基板の端面に設けたAg
−レジン系の第3電極は、適度の柔軟性を有するため、
回路基板の曲げに対しても十分に耐えることができ、剥
離することがないという利点がある。更にAg−レジン
系の第3電極からは、銀マイグレーションが発生するお
それがある上、半田食われが発生するおそれもあるが、
本発明では第1電極,第2電極及び第3電極をメッキ層
で覆っているため、このメッキ層により、半田食われを
防止して銀マイグレーションの発生を防止することがで
きる利点がある。
うに基板両面に分割用のスリットが複数本形成されたセ
ラミック基板をスリットに沿って分割して形成された絶
縁性セラミック基板を用いると、基板の両端部に形成さ
れる角部は鈍角になるため、絶縁性セラミック基板の両
端面に第3電極を導電ペーストにより形成する場合で
も、導電ペーストが切れ難くなる。その上、特に本発明
では、第3電極を形成するための導電ペーストとして流
動性の低いレジン含有銀塗料を用いるため、基板に形成
される角部が鈍角の場合に、導電ペーストがほとんど切
れることはない。そのため本発明によれば歩留まりが大
幅に向上する利点がある。また基板の端面に設けたAg
−レジン系の第3電極は、適度の柔軟性を有するため、
回路基板の曲げに対しても十分に耐えることができ、剥
離することがないという利点がある。更にAg−レジン
系の第3電極からは、銀マイグレーションが発生するお
それがある上、半田食われが発生するおそれもあるが、
本発明では第1電極,第2電極及び第3電極をメッキ層
で覆っているため、このメッキ層により、半田食われを
防止して銀マイグレーションの発生を防止することがで
きる利点がある。
【0024】また第3電極を第1電極及び第2電極に幅
広に一部重畳させているので、半田付け時の熱により、
第3電極と第1電極及び第2電極との間に剥離が生じな
い利点がある。
広に一部重畳させているので、半田付け時の熱により、
第3電極と第1電極及び第2電極との間に剥離が生じな
い利点がある。
【図1】本発明をチップ抵抗器に適用した一実施例の平
面図である。
面図である。
【図2】図1のA−A断面図である。
【図3】A,B,C,D,E,Fは本発明によりチップ
抵抗器を製造する場合の製造工程を示す横断面図であ
る。
抵抗器を製造する場合の製造工程を示す横断面図であ
る。
1 チップ抵抗器 2 絶縁性セラミック基板 3 抵抗体 4 電極 5 トリミング溝 6 第1電極 7 第2電極 8 第3電極 9 Niメッキ 10 半田メッキ 11 ガラスコート 12 レジンコート 13 セラミック板 14 スリット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小原 陽三 富山県上新川郡大沢野町下大久保3158番地 北陸電気工業株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】 厚み方向に対向するように基板両面に分
割用のスリット(14)が複数本形成されたセラミック
板(13)が前記スリットに沿って分割されて形成され
て両端面に分割面を有する絶縁性セラミック基板(2)
と、 前記絶縁性セラミック基板(2)の基板表面の前記両端
面側に位置する両端部に形成されたメタルグレーズ系の
一対の第1電極(6)と、 前記絶縁性セラミック基板(2)の基板裏面に前記一対
の第1電極(6)と対向する位置に形成されたメタルグ
レーズ系の一対の第2電極(7)と、 前記基板表面に形成されて前記一対の第1電極と直接接
続された印刷素子と、 前記第1電極及び前記第2電極と幅広に一部重畳するよ
うに前記絶縁性セラミック基板(2)の前記両端面に形
成された略コの字状のAg−レジン系の一対の第3電極
(8)と、 前記第1電極及び第2電極の一部分と前記第3電極を覆
うメッキ層(9,10)とを具備するチップ電子部品。 - 【請求項2】 前記第3電極(8)は、半田付け時の熱
により、前記第3電極と前記第1電極及び第2電極との
間に剥離が生じないように前記第1電極及び前記第2電
極と一部重畳している請求項1に記載のチップ電子部
品。 - 【請求項3】 厚み方向に対向するように基板両面に分
割用のスリット(14)が複数本形成されたセラミック
板(13)の基板表面に形成された複数本の前記スリッ
ト(14)をそれぞれ挟んで前記基板表面にメタルグレ
ーズ系の第1電極(6)を印刷形成する工程と、 前記セラミック基板の基板裏面に形成された複数本の前
記スリット(14)を挟んで前記基板裏面にメタルグレ
ーズ系の第2電極(7)を印刷形成する工程と、 隣接する2本の前記スリット(14)の間に形成した一
対の前記第1電極に直接接続される抵抗体(3)を前記
基板表面上に印刷形成する工程と、 前記第1電極、前記第2電極及び前記抵抗体が印刷形成
された前記セラミック基板を両端部に前記第1電極及び
前記第2電極が位置するように前記スリット(14)に
沿ってスクライブする工程と、 スクライブしたセラミック基板の分割面を含む両側端部
に前記第1電極及び前記第2電極と幅広に一部重畳する
状態でレジン含有銀塗料を略コの字状に直接塗布した後
に加熱処理して前記両側端部に第3電極(8)を形成す
る工程と、 前記第1電極、前記第2電極及び前記第3電極の外面上
にメッキ層(9,10)を形成する工程とからなるチッ
プ電子部品の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12497296A JP3172673B2 (ja) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | チップ抵抗器の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12497296A JP3172673B2 (ja) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | チップ抵抗器の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09120905A true JPH09120905A (ja) | 1997-05-06 |
| JP3172673B2 JP3172673B2 (ja) | 2001-06-04 |
Family
ID=14898782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12497296A Expired - Lifetime JP3172673B2 (ja) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | チップ抵抗器の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3172673B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6089013B2 (ja) * | 2014-10-02 | 2017-03-01 | 株式会社ザップ | パネルフック |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57119501U (ja) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | ||
| JPS61268001A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-11-27 | コーア株式会社 | チツプ状電子部品 |
-
1996
- 1996-05-20 JP JP12497296A patent/JP3172673B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57119501U (ja) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | ||
| JPS61268001A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-11-27 | コーア株式会社 | チツプ状電子部品 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3172673B2 (ja) | 2001-06-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3466411B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| WO2017033793A1 (ja) | チップ抵抗器およびチップ抵抗器の製造方法 | |
| JP3118509B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JPH0553281B2 (ja) | ||
| JP3012875B2 (ja) | チップ抵抗器の製造方法 | |
| JP3167968B2 (ja) | チップ抵抗器の製造方法 | |
| US4694568A (en) | Method of manufacturing chip resistors with edge around terminations | |
| JPH09120905A (ja) | チップ電子部品及びその製造方法 | |
| JP3447728B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JPH07283004A (ja) | チップ抵抗器及びその製造方法 | |
| JP3370685B2 (ja) | 角形チップ抵抗器の製造方法 | |
| JP2806802B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JP3323156B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JPH04372101A (ja) | 角形チップ抵抗器及びその製造方法 | |
| JP3110677B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JP3159963B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JPH05135902A (ja) | 角形チツプ抵抗器およびその製造方法 | |
| JP3323140B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JP3435419B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JP3353037B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JPH07183108A (ja) | チップ抵抗器の製造方法 | |
| JP3297642B2 (ja) | チップ抵抗器 | |
| JPH07211504A (ja) | 表面実装型電子部品の端子電極とその製造方法 | |
| JPH08124701A (ja) | チップ型抵抗器及びその製造方法 | |
| JP3213663B2 (ja) | 角形チップ抵抗器の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19981110 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080323 Year of fee payment: 7 |