JPH09129802A - 半導体チップパッケージの製造方法 - Google Patents
半導体チップパッケージの製造方法Info
- Publication number
- JPH09129802A JPH09129802A JP8230845A JP23084596A JPH09129802A JP H09129802 A JPH09129802 A JP H09129802A JP 8230845 A JP8230845 A JP 8230845A JP 23084596 A JP23084596 A JP 23084596A JP H09129802 A JPH09129802 A JP H09129802A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- lead frame
- dam bar
- stencil
- package
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/421—Shapes or dispositions
- H10W70/435—Shapes or dispositions of insulating layers on leadframes, e.g. bridging members
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/013—Manufacture or treatment of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/01—Manufacture or treatment
- H10W74/016—Manufacture or treatment using moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/0198—Manufacture or treatment batch processes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/736—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
製造工程のクリーン環境化を提供することができ、ま
た、リードフレームの製造時間を短縮すること。 【解決手段】 リードフレームのリードの間に樹脂を充
填し、硬化させてダムバー440を形成する段階と、ダ
イパッド420の上面とチップの下面を接着し、リード
430とチップを電気的に連結する段階と、チップと、
ダイパッドと、ダムバーと、リード430の一部及びタ
イバー450の一部を成形樹脂により封止してパッケー
ジ胴体を形成する段階と、リードフレームからタイバー
を切断して個別パッケージを製造する段階と、パッケー
ジのパッケージ胴体から突出するリード430の一部を
折曲する段階とを含む。
Description
ケージの製造方法に関し、より詳細には、ダムバー無し
のリードフレームの各リード間に液状の樹脂を充填して
ダムバーを形成し、そのリードフレームを用いてパッケ
ージを製造する半導体チップパッケージの製造方法に関
する。
ードフレームを示す斜視図であり、図14は、リードフ
レームとチップが接着される状態を示す斜視図である。
レーム100は、対向する一対のサイドレール60と、
チップ10が接着されるダイパッド20と、前記サイド
レール60と前記ダイパッド20とを一体に機械的に連
結する複数のタイバー50と、前記タイバー50の左右
両端から離隔配置された複数のリード30と、該リード
30の間、及び前記サイドレール60と、このサイドレ
ール60と隣接するリードとの間に設けられており、か
つ、前記リード30と前記サイドレール60とを一体に
機械的に連結するダムバー40とを有する構造である。
62が設けられている。ここで、前記サイドレール60
は、前記リードフレーム100が移送される場合におい
て、複数の突起部を有するレール(図示せず)と機械的
に接触する部分である。即ち、前記リードフレーム10
0は、前記サイドレール60の貫通孔62が対応するレ
ールの複数の突起部に各々挿入されることにより固定さ
れ、所定の動力源により動力を伝達された前記レールに
より移送される。
60の間に配置されており、タイバー50により前記サ
イドレール60と一体に設けられている。
左右両端から各々離隔配置されており、前記ダイパッド
20の上面に接着されるチップ10と各々電気的に連結
される。また、ダムバー40は、リード30の厚さと同
一の厚さで前記リード30の間に設けられており、成形
工程時において、エポキシ系の成形樹脂で設けられるパ
ッケージ胴体から流れ出すフラッシュ(flash)を防ぐダ
ムの役割をする。ここで、前記リード30は、Pb又は
Ni等によりメッキされ、外部環境から保護されてい
る。
的に連結された状態を示す斜視図であり、図16は、図
15の構造が成形された状態を示す斜視図である。
ド20の上面とチップの下面とが、銀エポキシ系の接着
剤(図示せず)により接着されている。そして、前記チ
ップ10は、チップ10の上面と対応するリード30と
を連結するボンディングワイヤ80によりリード30に
連結されている。
10と、ダイパッド20と、ボンディングワイヤ80
と、タイバー50の一部、及びリード30の前記ダイパ
ッド20と隣接する部分が、エポキシ系の成形樹脂によ
り成形されることにより形成される。リード30は、前
記パッケージ胴体90の内部に位置する内部リード(図
示せず)と、パッケージ胴体90から突出する外部リー
ド34とで構成されている。
前記パッケージ胴体90の外郭、及び外部リード34と
ダムバー40の間に生じる。
す斜視図であり、図18は、フラッシュ除去工程が完了
された状態を示す斜視図である。
済みのリードフレームは、ダムバーストリッパーのよう
な切断機(図示せず)によって各リード30の間に設け
られたダムバー40が切断される。これは、各リード3
0がダムバー40によってサイドレール60と一体に機
械的かつ電気的に連結されているため、リード30をサ
イドレール60から分離するためである。前記ダムバー
40を切断する際において、そのダムバー40と接して
いた前記リード30の表面が、その表面にメッキされて
いたPb又はNi等のメッキが剥がれることにより外部
環境に露出され、腐食を引き起こし、このため、最終品
のパッケージの信頼性を低下させることになる。このよ
うな問題点を回避するために、リードは必ず再メッキが
必要である。従って、半導体製造工程が追加されること
により、生産性が低下し、生産費用が上昇する。
郭、及び外部リード34とダムバー40の間に充填され
たフラッシュ92により表面が平坦でない状態である。
従って、視覚検査による不良判定を克服するために、フ
ラッシュ92は、化学的方法又はその他の方法により前
記パッケージ胴体90から除去されるべきである。
を示す斜視図であり、図20は、図19のXX−XX線に沿
って切断した断面図であり、図21は、パッケージがリ
ードフレームから分離される状態を示す斜視図であり、
図22は、パッケージの外部リードが折り曲げられた状
態を示す斜視図である。
ュ92が除去されたリードフレームは、パッケージ胴体
90から突出する外部リード34’(ここで、34’は
再メッキされた外部リードをいう。)の表面にPb又は
Ni材質の第2のメッキ膜34cが設けられる。
面にPb又はNi材質の第1のメッキ膜34bが設けら
れていたが、上述したように、ダムバー切断工程により
前記ダムバー40と接していた側面、例えば、第1のメ
ッキ膜34bの一部が剥がれたため、再メッキ工程によ
り第2のメッキ膜34cが設けられる。ここで、再メッ
キ工程とは、リードフレームをPb又はNiが充填され
たメッキ槽に沈漬し、電解メッキ法によりメッキ膜を形
成する工程である。しかしながら、前記メッキ膜の形成
は、前記電解メッキ法以外に他の方法を用いてもよい。
が印刷回路基板のような電子装置(図示せず)に実装さ
れる時において、電気的連結を容易にする役割をする。
ル60とを一体に連結するタイバー50を、切断機(図
示せず)により切断することにより個別パッケージ20
0が得られる。
外部リード34’は折曲金型のような手段により所望の
形状に適合するように数回折り曲げられる。第1の従来
例においては、表面実装型パッケージ200に適合する
ように鴎形状を有するように折り曲げられている。
って切断した断面図である。
ケージ200は、ダイパッド20の上面とチップ10の
下面が銀エポキシ系の接着剤70により接着されてい
る。パッケージ200は、前記チップ10の上面に設け
られた複数のボンディングパッド12と対応する複数の
内部リード32とが、ボンディングワイヤ80により電
気的に連結されている。パッケージ200において、前
記チップ10、ダイパッド20、内部リード32、ボン
ディングワイヤ80、及びタイバー50の一部が、エポ
キシ系の成形樹脂36により封止されることによってパ
ッケージ胴体90を形成している。リード30は、前記
パッケージ200から突出する外部リード34’と、パ
ッケージ200の内部に位置する内部リード32とで構
成される。また、外部リード34’は、表面実装型パッ
ケージに適合するように鴎形状に折り曲げられている。
うな欠点を有する。
他の方法により除去されるべきである。半導体製造技術
は、高集積化、超薄形化、超軽量化を追求しつつ発展し
てきた。さらに、最近、環境保護が、半導体製造産業で
なく、すべての産業において重要な要素となっている。
このような観点から、前記化学的方法によるフラッシュ
の除去は、深刻な環境汚染問題を引き起こすことにな
る。
れても、除去されたフラッシュもやはり環境に悪影響を
及ぼすことになる。
ダムバーと接していた前記外部リードの表面が、その表
面にメッキされていたPb又はNi等のメッキが剥がれ
ることにより外部に露出されるため、必ず再メッキが必
要である。そこで、半導体製造工程が追加されることに
より、生産性の低下及び生産費用の上昇を引き起こすこ
とができる。
問題点を克服するためにダムバー無しのリードフレーム
が提案されている。
ムバー無しのリードフレームを示す斜視図である。
0は、対向する一対のサイドレール260と、該サイド
レール260の間に設けられ、チップ(図示せず)が接
着されるダイパッド220と、該ダイパッド220の左
右両端から離隔配置された複数のリード230と、前記
サイドレール260と前記ダイパッド220を各々一体
に機械的に連結するタイバー250とを有する構造であ
る。
孔262が設けられている。ここで、前記サイドレール
260は、前記リードフレーム300が移送される場合
において、複数の突起部を有するレール(図示せず)と
機械的に接触する部分である。即ち、前記リードフレー
ム300は、前記サイドレール260の貫通孔262が
対応するレール(図示せず)の複数の突起部に挿入され
ることにより固定され、所定の動力源により動力が伝達
されて前記レールにより移送される。
ル260の間に配置され、タイバー250により前記サ
イドレール260と一体に設けられている。
0の左右両端から離隔配置されており、前記ダイパッド
220の上面に接着されるチップ(図示せず)と各々電
気的に連結される。また、前記リード230は、前記タ
イバー250により前記サイドレール260と一体に機
械的に連結されている。前記タイバー250により機械
的に連結される前記リード230の部分は、前記ダイパ
ッド220と隣接する端面の反対側の端面である。そし
て、前記リード230は、Pb又はNi等によりメッキ
され、外部環境から保護されている。
される状態を示す斜視図であり、図26は、リードフレ
ームとチップが電気的に連結された状態を示す斜視図で
あり、図27は、図26の構造が成形された状態を示す
斜視図である。
ド220の上面とチップ210の下面とが、銀エポキシ
系の接着剤270により接着されている。そして、前記
チップ210の上面に設けられたボンディングパッド2
12と対応するリード230とを連結するボンディング
ワイヤ280により、前記チップ210がリード230
に電気的に連結されている。
プ210と、ダイパッド220と、ボンディングワイヤ
280と、タイバー250の一部、及びリード230の
前記ダイパッド220と隣接する部分がエポキシ系の成
形樹脂により成形されることにより形成される。ここ
で、前記リード230は、前記パッケージ胴体290の
内部に位置する内部リード(図示せず)と、パッケージ
胴体290から突出する外部リード234とで構成され
る。
が、前記パッケージ胴体290の外郭と外部リード23
4との間に生ずる。
た状態を示す斜視図であり、図29は、パッケージがリ
ードフレームから分離される状態を示す斜視図であり、
図30は、パッケージの外部リードが折り曲げられた状
態を示す斜視図である。
体290は、その外郭及び外部リード234の間に充填
されたフラッシュ292により表面が平坦でない状態で
ある。従って、視覚検査による不良判定を克服するため
に、フラッシュ292は、前記パッケージ胴体290か
ら化学的方法又はその他の方法により除去されるべきで
ある。
示せず)により切断されることにより個別パッケージ4
00が製造される。その後、パッケージ400は、外部
リード234が折曲金型のような手段により所望の形状
に適合するように数回折り曲げられる。第2の従来例に
おいては、表面実装型パッケージに適合するように鴎形
状を有するように折り曲げられている。
切断した断面図である。
ケージ400は、ダイパッド220の上面とチップ21
0の下面が銀エポキシ系の接着剤270により接着され
ている。パッケージ400において、前記チップ210
の上面に設けられたボンディングパッド212と対応す
る複数の内部リード232とが、ボンディングワイヤ2
80により電気的に連結されている。パッケージ400
において、前記チップ210と、ダイパッド220と、
内部リード232と、ボンディングワイヤ280及びタ
イバー250の一部が、エポキシ系の成形樹脂236に
より封止されることによってパッケージ胴体290を形
成している。前記リード230は、パッケージ胴体29
0の内部に位置する内部リード232と、パッケージ胴
体290から突出する外部リード234とで構成されて
いる。前記パッケージ400において、前記外部リード
234が表面実装型パッケージに適合するように鴎形状
に折り曲げられている。
来例における欠点を克服するために、ダムバー無しのリ
ードフレームを提案したが、これもやはり大量のフラッ
シュに係る問題点を有する。
従来例では設けられているダムバーがないため、より多
くのフラッシュが発生し、このため、より多くの化学薬
品を使用することになって深刻な環境汚染問題を引き起
こすことになる。
ように製作することもできるが、これは、追加的な半導
体装置の導入が要求されるため、製造歩留まりの上昇を
引き起こすことができる。
は、ダムバー無しのリードフレームに樹脂ダムバーを形
成し、このリードフレームを用いてパッケージを製造す
ることにより、製造工程の短縮、製造歩留まりの節減、
及び製造工程のクリーン環境化を提供することができる
半導体チップパッケージの製造方法を提供することにあ
る。
ー無しのリードフレームに同時に樹脂ダムバーを形成す
ることにより、リードフレームの製造時間を短縮するこ
とができる半導体チップパッケージの製造方法を提供す
ることにある。
に、請求項1記載の第1の発明は、(a)複数の貫通孔
が設けられた対向する一対のサイドレールと、該サイド
レールの間に配設されたダイパッドと、該ダイパッドか
ら離隔配置された複数のリード、及び前記ダイパッドと
前記サイドレールとを一体に機械的に連結する複数のタ
イバーを含むリードフレームを形成する段階と、(b)
前記リードフレームのリードの間に樹脂を充填し、硬化
させてダムバーを形成する段階と、(c)前記ダイパッ
ドの上面とチップの下面を接着し、前記リードと前記チ
ップを電気的に連結する段階と、(d)前記チップと、
前記ダイパッドと、前記ダムバーと、前記リードの一部
及びタイバーの一部を成形樹脂により封止してパッケー
ジ胴体を形成する段階と、(e)前記リードフレームか
ら前記タイバーを切断して個別パッケージを製造する段
階と、(f)パッケージのパッケージ胴体から突出する
リードの一部を折曲する段階とを含むことを要旨とす
る。従って、製造工程の短縮、製造歩留まりの節減、及
び製造工程のクリーン環境化を提供することができる。
また、リードフレームの製造時間を短縮することができ
る。
(b)が、(b−1)複数のリードフレームが各々収容
され、リードフレームの貫通孔に各々対応する突起を有
する複数の収容部と、該収容部を離隔する隔壁と、前記
収容部及び隔壁と一体に設けられており、かつ、複数の
案内ピンが設けられた外壁とを含む固定枠と、前記リー
ドフレームのリード間においてダムバーが設けられるべ
き領域に対応する箇所に貫通孔を有する複数の印刷部
と、該印刷部と一体に設けられており、かつ、前記固定
枠の案内ピンに対応する複数の案内孔を有する外壁とを
含むステンシルとを形成する段階と、(b−2)固定枠
の各収容部の突起を、対応するリードフレームの貫通孔
に挿入して、複数のリードフレームを収容する段階と、
(b−3)ステンシルの各案内孔に、対応する前記固定
枠の案内ピンを各々挿入して、前記ステンシルを前記固
定枠に整列固定する段階と、(b−4)液状樹脂を前記
ステンシルの印刷部に充填し、圧着手段により圧着して
前記印刷部の貫通孔を介して前記リードフレームの各リ
ードの間に充填する段階と、(b−5)前記ステンシル
と圧着手段を除去する段階と、(b−6)前記樹脂を硬
化させてダムバーを形成する段階と、(b−7)前記固
定枠を除去する段階とを含むことを要旨とする。従っ
て、樹脂ダムバーの外郭とパッケージ胴体の端線とが一
致するため、パッケージ胴体の外部にはフラッシュの発
生を防止できる。
の各収容部の上面が前記リードフレームの下面と各々機
械的に接触することを要旨とする。従って、収容部の上
面と前記リードフレームの下面とを一体に形成できる。
フレームの上面と前記ステンシルの印刷部の下面が、各
々機械的に接触することを要旨とする。従って、リード
フレームの上面とステンシルの印刷部の下面とを一体に
形成できる。
脂が前記固定枠の各収容部の底面、リードフレームの各
リードの間、及びステンシルの各印刷部の下面に充填さ
れることを要旨とする。従って、固定枠との接着親和力
より、リードフレームとの接着親和力が更に強くなる。
のダムバーが前記パッケージ胴体の内部に封止されてお
り、一端面が露出されたことを要旨とする。従って、表
面実装型パッケージに適合可能になる。
ーの厚さが前記リードの厚さと同一であることを要旨と
する。従って、成形工程時において、エポキシ系の成形
樹脂で設けられるパッケージ胴体から流れ出すフラッシ
ュを防ぐダムの役割をする。
り詳細に説明する。
ンシルが順次積層される状態を示す斜視図であり、図2
は、ダムバー無しのリードフレームに液状ダムバーが設
けられる状態を示す斜視図である。
700は、リードフレーム500が収容される複数の収
容部720と、該収容部720を各々離隔する隔壁74
0と、外壁760とにより構成されている。
0が収容される部分であって、前記リードフレーム50
0のサイドレール460の貫通孔462に各々対応する
突起722がその両端に設けられている。隔壁740
は、前記収容部720の間に設けられ、各収容部720
を隔離する役割をする。外壁760は、固定枠700本
体を支持する役割をし、外壁760の上面には、案内ピ
ン762が設けられている。ここで、前記収容部72
0、隔壁740、及び外壁760は、一体に設けられて
いる。前記収容部720の内面は、液状樹脂とは接着親
和力のない材質(図示せず)でコーティングされてい
る。即ち、液状樹脂は、固定枠700との接着親和力よ
り、リードフレーム500との接着親和力が更に強くな
る。
662が前記固定枠700の案内ピン762に各々対応
するようにして備えられた外壁660と、リードフレー
ム500において樹脂ダムバー440(図3参照)が設
けられるべき所定の領域、例えば、各リード430の間
の領域に各々対応する部分に複数の貫通孔622が設け
られた印刷部620とで構成されている。ここで、前記
外壁660は、前記印刷部620よりもっと厚く設けら
れている。
容部720の突起722の高さは、挿入収容されるリー
ドフレーム500の高さと同一である。ここで、前記固
定枠700の突起722は、前記リードフレーム500
のサイドレール460に設けられた貫通孔462を完全
に貫通しない。即ち、前記突起722の高さが、前記リ
ードフレーム500の高さより低い。もし、前記突起7
22の高さが収容されたリードフレーム500の高さよ
り高ければ、前記リードフレーム500の上面と前記ス
テンシル600の下面とが完璧に機械的に接触しないた
め、リードフレーム500の樹脂ダムバー440(図3
参照)が不完全に設けられる。
0、及びステンシル600が積層固定される段階は以下
の通りである。
複数のリードフレーム500が前記固定枠700の各収
容部720に収容されるが、この際、サイドレール56
0の貫通孔462がそれらと対応する突起722に各々
整列挿入されることにより、各々の収容部720に収容
される。
に積層されるステンシル600は、外壁660の案内孔
662がそれらと対応する前記固定枠700の案内ピン
762に整列挿入されることにより、前記固定枠700
に固定される。この際、上述したように、前記リードフ
レーム500における樹脂ダムバー440(図3参照)
が設けられるべき所定の部領域と、これらと対応するス
テンシル600の貫通孔662とが自動的に整列され
る。
液状ダムバーが設けられる状態を示す斜視図である。
印刷部620の上面に液状樹脂640が充填される。樹
脂640の材質は、ポリイミドである。次いで、前記ス
テンシル600の液状樹脂640が充填された印刷部6
20が板材またはローラのような圧着手段800により
圧着され、このため、液状樹脂640が貫通孔622を
介してリードフレーム500の所定の領域に充填されて
樹脂ダムバー440(図3参照)が設けられる。前記ス
テンシル600の外壁660は、前記圧着手段800に
より前記印刷部620内に充填された液状樹脂640が
圧着されることにより案内孔662に液状樹脂640が
充填されることを防止する。
の収容部720及び収容部720とリード430の間に
充填される。
液状ダムバーが設けられた状態を示す斜視図であり、図
4は、固定枠からリードフレームが分離される状態を示
す斜視図であり、図5は、リードフレームに樹脂ダムバ
ーが設けられた状態を示す斜視図である。
ム500aに各々樹脂ダムバー440が設けられた後、
ステンシル600は、固定枠700から分離される。そ
の後、前記リードフレーム500aと固定枠700は、
熱硬化装置(図示せず)に移送され、熱により樹脂ダム
バー440が硬化される。その後、リードフレーム50
0aは固定枠700から取り外される。
ドフレーム500aは、対向する一対のサイドレール4
60と、該サイドレール460の間に設けられ、チップ
(図示せず)が接着されるダイパッド420と、該ダイ
パッド420の左右両端から離隔されており、かつ、お
互いに離隔された複数のリード430と、前記サイドレ
ール460と前記ダイパッド420と、前記サイドレー
ル460とダイパッド420を各々一体に機械的に連結
するタイバー450と、前記リードの間に設けられた樹
脂ダムバー440とを有する構造である。
孔462が設けられている。ここで、前記サイドレール
460は、前記リードフレーム500aが移送される場
合において、複数の突起部を有するレール(図示せず)
と機械的に接触する。即ち、前記リードフレーム500
aは、前記サイドレール460の貫通孔462が対応す
るレール(図示せず)の複数の突起部に挿入されること
により固定され、所定の動力源により動力が伝達されて
前記レールにより移送される。
3のリードフレーム100のダムバー40とは別に、サ
イドレール460とこのサイドレール460に隣接する
リード430の間には設けられていない。これは、後述
する樹脂ダムバー440が切断工程により除去されるも
のではなく、パッケージ内に残存しなければならないた
めである。
ル460の間に配置されており、タイバー450により
前記サイドレール460と一体に設けられている。
0の左右両端から離隔配置されており、前記ダイパッド
420の上面に接着されるチップ410と各々電気的に
連結される。また、前記リード430は、前記タイバー
450により前記サイドレール460と一体に機械的に
連結されている。前記タイバー450により機械的に連
結される前記リード430の部分は、前記ダイパッド4
20と隣接する端面の反対側の端面である。そして、前
記リード430は、Pb又はNi等によりメッキされ、
外部環境から保護されている。
に連結された状態を示す斜視図である。
面にエポキシ系の接着剤(図示せず)が塗布される。ダ
イパッド420の上面とチップ410の下面が接着剤に
より接着される。次いで、前記チップ410の上面に設
けられた複数のボンディングパッド412と、対応する
リード430の先端とが、ボンディングワイヤ480に
より電気的に連結される。
す斜視図であり、図9は、パッケージがリードフレーム
から分離される状態を示す斜視図であり、図20は、パ
ッケージの外部リードが折り曲げられた状態を示す斜視
図である。
体490は、前記チップ410、ダイパッド420と、
ボンディングワイヤ480と、樹脂ダムバー440と、
タイバー450の一部、及びリード430の前記ダイパ
ッド420と隣接する部分が、エポキシ系の成形樹脂4
36により成形されることにより形成される。リード4
30は、前記パッケージ胴体490の内部に位置する内
部リード(図示せず)と、パッケージ胴体490から突
出する外部リード434とで構成されている。
0の外部にはフラッシュが発生しない。なぜならば、パ
ッケージ胴体490において、前記樹脂ダムバー440
の外郭線と前記パッケージ胴体490の端線とが一致す
るためである。即ち、第1の従来例とは異なり、樹脂ダ
ムバー440がパッケージ胴体490の内部に残存す
る。従って、パッケージ胴体490は、その端部にフラ
ッシュが発生しない。これは、従来の成形装置(図示せ
ず)を用いる場合、前記樹脂ダムバー440の形成位置
が、成形装置のリードフレーム500aのリード430
をクランピングする線、例えば、モルディングラインと
一致することを意味する。
(図示せず)により切断されることにより個別パッケー
ジ900が製造される。次いで、パッケージ900にお
いて、外部リード434は折曲金型(図示せず)のよう
な手段により所望の形状に適合するように数回折り曲げ
られる。本実施の形態においては、表面実装型パッケー
ジに適合するように鴎形状を有するように折り曲げられ
ている。
した断面図であり、図12は、図10のXII −XII 線に
沿って切断した断面図である。
よるパッケージ900は、ダイパッド420の上面とチ
ップ410の下面が銀エポキシ系の接着剤470により
接着されており、前記チップ410の上面に設けられた
複数のボンディングパッド412と対応する複数の内部
リード432とが、ボンディングワイヤ480により電
気的に連結されている。また、パッケージ900は、前
記チップ410と、ダイパッド420と、内部リード4
32と、ボンディングワイヤ480と、タイバー450
の一部及び樹脂ダムバー440を、エポキシ系の成形樹
脂436により封止することによってパッケージ胴体4
90(図10参照)が形成される。リード430は、パ
ッケージ胴体490の内部に位置する内部リード432
と、パッケージ胴体490から突出する外部リード43
4とで構成される。外部リード434は、表面実装型パ
ッケージに適合するように鴎形状に折り曲げられてい
る。また、樹脂ダムバー440の一端部は、前記パッケ
ージ胴体490の表面と同一平面に位置するように露出
されている。
は、次のような利点を有する。
い。なぜならば、前記ダムバーの外郭線と前記パッケー
ジ胴体の端線と一致するためである。即ち、従来技術と
は異なり、ダムバーがパッケージ胴体の内部に残存す
る。従って、パッケージ胴体は、その端部にフラッシュ
が発生しない。これは、従来の成形装置を用いる場合、
前記ダムバーの形成位置が、成形装置のリードフレーム
のリードをクランピングする線、例えば、モルディング
ラインと一致することを意味する。
グ領域がダムバーの内側である。即ち、従来のパッケー
ジでは、パッケージ胴体とダムバーの間にフラッシュが
生ずることになる。従って、従来のパッケージは、フラ
ッシュ除去工程が必ず必要となる。
ムにダムバーがない構造であるため、第1の従来例に比
べて遥かに多くのフラッシュが生ずる。従って、第1従
来例のパッケージより更に強力なフラッシュ除去工程が
要求される。
キ工程を必要としない。
め、ダムバー切断工程を必要としない。即ち、本発明の
パッケージは、第1の従来例において、パッケージがダ
ムバー切断工程によって外部リードのメッキ膜が損なわ
れて発生した不良を防止するために要求された外部リー
ドの再メッキ工程を必要としない。
ジの製造工程において、本発明のパッケージが、ステン
シルによる製造工程により製造される場合だけを説明し
たが、これに限られるものではなく、例えば、前記ダム
バーが設けられるべき部分に液状樹脂を注入できる手段
を用いる方法等、その他の方法により製造することがで
きる。即ち、本発明において、最も重要な部分は、液状
のダムバーの外郭線とモルディングラインが一致するよ
うに設けられることにより、ダムバー切断工程又は再メ
ッキ工程を必要としないことである。従って、本発明の
パッケージは、上述の方法以外に、その他の方法によっ
ても製造することができる。
法は、ダムバー無しのリードフレームに樹脂ダムバーが
設けられ、その樹脂ダムバーが従来の成形装置のモルデ
ィングラインと一致するため、フラッシュ除去工程及び
ダムバー切断工程に起因する再メッキ工程が要求されな
いため、製造工程の短縮、製造歩留まりの節減を図るこ
とができると共に、及びフラッシュ除去工程又は再メッ
キ工程による汚染物質の発生を根本的に防止することが
できる。
レームの製造方法は、大量でダムバー無しのリードフレ
ームに樹脂ダムバーを設けることができ、これにより、
リードフレームの製造時間及び製造歩留まりを節減する
ことができる。
1)複数のリードフレームが各々収容され、リードフレ
ームの貫通孔に各々対応する突起を有する複数の収容部
と、該収容部を離隔する隔壁と、前記収容部及び隔壁と
一体に設けられており、かつ、複数の案内ピンが設けら
れた外壁とを含む固定枠と、前記リードフレームのリー
ド間においてダムバーが設けられるべき領域に対応する
箇所に貫通孔を有する複数の印刷部と、該印刷部と一体
に設けられており、かつ、前記固定枠の案内ピンに対応
する複数の案内孔を有する外壁とを含むステンシルとを
形成する段階と、(b−2)固定枠の各収容部の突起
を、対応するリードフレームの貫通孔に挿入して、複数
のリードフレームを収容する段階と、(b−3)ステン
シルの各案内孔に、対応する前記固定枠の案内ピンを各
々挿入して、前記ステンシルを前記固定枠に整列固定す
る段階と、(b−4)液状樹脂を前記ステンシルの印刷
部に充填し、圧着手段により圧着して前記印刷部の貫通
孔を介して前記リードフレームの各リードの間に充填す
る段階と、(b−5)前記ステンシルと圧着手段を除去
する段階と、(b−6)前記樹脂を硬化させてダムバー
を形成する段階と、(b−7)前記固定枠を除去する段
階とを含むので、樹脂ダムバーの外郭とパッケージ胴体
の端線とが一致するため、パッケージ胴体の外部にはフ
ラッシュの発生を防止できる。
面が前記リードフレームの下面と各々機械的に接触する
ので、収容部の上面と前記リードフレームの下面とを一
体に形成できる。
と前記ステンシルの印刷部の下面が、各々機械的に接触
するので、リードフレームの上面とステンシルの印刷部
の下面とを一体に形成できる。
の各収容部の底面、リードフレームの各リードの間、及
びステンシルの各印刷部の下面に充填されるので、固定
枠との接着親和力より、リードフレームとの接着親和力
が更に強くなる。
記パッケージ胴体の内部に封止されており、一端面が露
出されたので、表面実装型パッケージに適合可能にな
る。
リードの厚さと同一であるので、成形工程時において、
エポキシ系の成形樹脂で設けられるパッケージ胴体から
流れ出すフラッシュを防ぐダムの役割をする。
次積層される状態を示す斜視図である。
が設けられる状態を示す斜視図である。
が設けられた状態を示す斜視図である。
示す斜視図である。
態を示す斜視図である。
す斜視図である。
状態を示す斜視図である。
る。
態を示す斜視図である。
態を示す斜視図である。
ある。
図である。
を示す斜視図である。
示す斜視図である。
た状態を示す斜視図である。
である。
る。
斜視図である。
である。
ある。
状態を示す斜視図である。
態を示す斜視図である。
断面図である。
示す斜視図である。
示す斜視図である。
た状態を示す斜視図である。
である。
斜視図である。
状態を示す斜視図である。
態を示す斜視図である。
図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 (a)複数の貫通孔が設けられた対向す
る一対のサイドレールと、該サイドレールの間に配設さ
れたダイパッドと、該ダイパッドから離隔配置された複
数のリード、及び前記ダイパッドと前記サイドレールと
を一体に機械的に連結する複数のタイバーを含むリード
フレームを形成する段階と、 (b)前記リードフレームのリードの間に樹脂を充填
し、硬化させてダムバーを形成する段階と、 (c)前記ダイパッドの上面とチップの下面を接着し、
前記リードと前記チップを電気的に連結する段階と、 (d)前記チップと、前記ダイパッドと、前記ダムバー
と、前記リードの一部及びタイバーの一部を成形樹脂に
より封止してパッケージ胴体を形成する段階と、 (e)前記リードフレームから前記タイバーを切断して
個別パッケージを製造する段階と、 (f)パッケージのパッケージ胴体から突出するリード
の一部を折曲する段階と、 を含むことを特徴とする半導体チップパッケージの製造
方法。 - 【請求項2】 前記段階(b)が、 (b−1)複数のリードフレームが各々収容され、リー
ドフレームの貫通孔に各々対応する突起を有する複数の
収容部と、該収容部を離隔する隔壁と、前記収容部及び
隔壁と一体に設けられており、かつ、複数の案内ピンが
設けられた外壁とを含む固定枠と、 前記リードフレームのリード間においてダムバーが設け
られるべき領域に対応する箇所に貫通孔を有する複数の
印刷部と、該印刷部と一体に設けられており、かつ、前
記固定枠の案内ピンに対応する複数の案内孔を有する外
壁とを含むステンシルとを形成する段階と、 (b−2)固定枠の各収容部の突起を、対応するリード
フレームの貫通孔に挿入して、複数のリードフレームを
収容する段階と、 (b−3)ステンシルの各案内孔に、対応する前記固定
枠の案内ピンを各々挿入して、前記ステンシルを前記固
定枠に整列固定する段階と、 (b−4)液状樹脂を前記ステンシルの印刷部に充填
し、圧着手段により圧着して前記印刷部の貫通孔を介し
て前記リードフレームの各リードの間に充填する段階
と、 (b−5)前記ステンシルと圧着手段を除去する段階
と、 (b−6)前記樹脂を硬化させてダムバーを形成する段
階と、 (b−7)前記固定枠を除去する段階と、 を含むことを特徴とする請求項1記載の半導体チップパ
ッケージの製造方法。 - 【請求項3】 前記固定枠の各収容部の上面が前記リー
ドフレームの下面と各々機械的に接触することを特徴と
する請求項2記載の半導体チップパッケージの製造方
法。 - 【請求項4】 前記リードフレームの上面と前記ステン
シルの印刷部の下面が、各々機械的に接触することを特
徴とする請求項2記載の半導体チップパッケージの製造
方法。 - 【請求項5】 前記液状樹脂が前記固定枠の各収容部の
底面、リードフレームの各リードの間、及びステンシル
の各印刷部の下面に充填されることを特徴とする請求項
2乃至請求項4のいずれかに記載の半導体チップパッケ
ージの製造方法。 - 【請求項6】 前記(b)のダムバーが前記パッケージ
胴体の内部に封止されており、一端面が露出されたこと
を特徴とする請求項2記載の半導体チップパッケージの
製造方法。 - 【請求項7】 前記ダムバーの厚さが前記リードの厚さ
と同一であることを特徴とする請求項1又は請求項2記
載の半導体チップパッケージの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR19950027653 | 1995-08-30 | ||
| KR1995-27653 | 1995-08-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09129802A true JPH09129802A (ja) | 1997-05-16 |
| JP2804016B2 JP2804016B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=19425242
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8230845A Expired - Fee Related JP2804016B2 (ja) | 1995-08-30 | 1996-08-30 | 半導体チップパッケージの製造方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5753532A (ja) |
| JP (1) | JP2804016B2 (ja) |
| KR (1) | KR100187722B1 (ja) |
| CN (1) | CN1079169C (ja) |
| TW (1) | TW359880B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI624021B (zh) * | 2013-04-23 | 2018-05-11 | 萬國半導體(開曼)股份有限公司 | 薄型功率器件及其製備方法 |
Families Citing this family (121)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MY128748A (en) * | 1995-12-19 | 2007-02-28 | Texas Instruments Inc | Plastic packaging for a surface mounted integrated circuit |
| US7030474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-04-18 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7332375B1 (en) | 1998-06-24 | 2008-02-19 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6893900B1 (en) | 1998-06-24 | 2005-05-17 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6143981A (en) | 1998-06-24 | 2000-11-07 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7071541B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-07-04 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
| US7005326B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US7112474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-09-26 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
| US6448633B1 (en) | 1998-11-20 | 2002-09-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and method of making using leadframe having lead locks to secure leads to encapsulant |
| KR100403142B1 (ko) | 1999-10-15 | 2003-10-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
| KR20010037247A (ko) | 1999-10-15 | 2001-05-07 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
| US6580159B1 (en) | 1999-11-05 | 2003-06-17 | Amkor Technology, Inc. | Integrated circuit device packages and substrates for making the packages |
| US6847103B1 (en) | 1999-11-09 | 2005-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with exposed die pad and body-locking leadframe |
| KR100583494B1 (ko) | 2000-03-25 | 2006-05-24 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
| US7042068B2 (en) | 2000-04-27 | 2006-05-09 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe and semiconductor package made using the leadframe |
| US6358779B1 (en) * | 2000-07-12 | 2002-03-19 | Agere Systems Guardian Corp. | Technique for reducing dambar burrs |
| JP3660861B2 (ja) * | 2000-08-18 | 2005-06-15 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置の製造方法 |
| US6457224B1 (en) | 2000-08-21 | 2002-10-01 | Advanced Micro Devices, Inc. | Dambar punch setup jig |
| US6707135B2 (en) * | 2000-11-28 | 2004-03-16 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor leadframe for staggered board attach |
| TW454287B (en) * | 2000-12-06 | 2001-09-11 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Multi-media chip package and its manufacture |
| KR20020058209A (ko) | 2000-12-29 | 2002-07-12 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
| US6967395B1 (en) | 2001-03-20 | 2005-11-22 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
| KR100369393B1 (ko) | 2001-03-27 | 2003-02-05 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지와 그 제조 방법 |
| KR100393448B1 (ko) | 2001-03-27 | 2003-08-02 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
| US7064009B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-06-20 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
| US7045883B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-05-16 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
| US6900527B1 (en) | 2001-09-19 | 2005-05-31 | Amkor Technology, Inc. | Lead-frame method and assembly for interconnecting circuits within a circuit module |
| US20080169541A1 (en) * | 2001-09-19 | 2008-07-17 | Jeffrey Alan Miks | Enhanced durability multimedia card |
| US7485952B1 (en) | 2001-09-19 | 2009-02-03 | Amkor Technology, Inc. | Drop resistant bumpers for fully molded memory cards |
| US6630726B1 (en) | 2001-11-07 | 2003-10-07 | Amkor Technology, Inc. | Power semiconductor package with strap |
| US6818973B1 (en) | 2002-09-09 | 2004-11-16 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead QFP package fabricated through the use of a partial saw process |
| US6910635B1 (en) | 2002-10-08 | 2005-06-28 | Amkor Technology, Inc. | Die down multi-media card and method of making same |
| US7361533B1 (en) | 2002-11-08 | 2008-04-22 | Amkor Technology, Inc. | Stacked embedded leadframe |
| US7723210B2 (en) | 2002-11-08 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Direct-write wafer level chip scale package |
| US6905914B1 (en) | 2002-11-08 | 2005-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Wafer level package and fabrication method |
| US7190062B1 (en) | 2004-06-15 | 2007-03-13 | Amkor Technology, Inc. | Embedded leadframe semiconductor package |
| US6798047B1 (en) | 2002-12-26 | 2004-09-28 | Amkor Technology, Inc. | Pre-molded leadframe |
| US6847099B1 (en) | 2003-02-05 | 2005-01-25 | Amkor Technology Inc. | Offset etched corner leads for semiconductor package |
| US7001799B1 (en) | 2003-03-13 | 2006-02-21 | Amkor Technology, Inc. | Method of making a leadframe for semiconductor devices |
| US6794740B1 (en) | 2003-03-13 | 2004-09-21 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe package for semiconductor devices |
| US7095103B1 (en) | 2003-05-01 | 2006-08-22 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe based memory card |
| US6911718B1 (en) | 2003-07-03 | 2005-06-28 | Amkor Technology, Inc. | Double downset double dambar suspended leadframe |
| US7245007B1 (en) | 2003-09-18 | 2007-07-17 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead interposer leadframe package |
| US6921967B2 (en) | 2003-09-24 | 2005-07-26 | Amkor Technology, Inc. | Reinforced die pad support structure |
| US7138707B1 (en) | 2003-10-21 | 2006-11-21 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package including leads and conductive posts for providing increased functionality |
| US7144517B1 (en) | 2003-11-07 | 2006-12-05 | Amkor Technology, Inc. | Manufacturing method for leadframe and for semiconductor package using the leadframe |
| US7211879B1 (en) | 2003-11-12 | 2007-05-01 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with chamfered corners and method of manufacturing the same |
| US7057268B1 (en) | 2004-01-27 | 2006-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Cavity case with clip/plug for use on multi-media card |
| US7091594B1 (en) | 2004-01-28 | 2006-08-15 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe type semiconductor package having reduced inductance and its manufacturing method |
| US7633763B1 (en) | 2004-01-28 | 2009-12-15 | Amkor Technology, Inc. | Double mold memory card and its manufacturing method |
| US7556986B1 (en) | 2004-04-21 | 2009-07-07 | Amkor Technology, Inc. | Tape supported memory card leadframe structure |
| US7074654B1 (en) | 2004-04-21 | 2006-07-11 | Amkor Technology, Inc. | Tape supported memory card leadframe structure |
| US7202554B1 (en) | 2004-08-19 | 2007-04-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and its manufacturing method |
| US7201327B1 (en) | 2004-10-18 | 2007-04-10 | Amkor Technology, Inc. | Memory card and its manufacturing method |
| US7217991B1 (en) | 2004-10-22 | 2007-05-15 | Amkor Technology, Inc. | Fan-in leadframe semiconductor package |
| US7193305B1 (en) | 2004-11-03 | 2007-03-20 | Amkor Technology, Inc. | Memory card ESC substrate insert |
| US7112875B1 (en) | 2005-02-17 | 2006-09-26 | Amkor Technology, Inc. | Secure digital memory card using land grid array structure |
| US7220915B1 (en) | 2005-02-17 | 2007-05-22 | Amkor Technology, Inc. | Memory card and its manufacturing method |
| US7719845B1 (en) | 2005-04-26 | 2010-05-18 | Amkor Technology, Inc. | Chamfered memory card module and method of making same |
| US20090021921A1 (en) * | 2005-04-26 | 2009-01-22 | Amkor Technology, Inc. | Memory card and its manufacturing method |
| US7375975B1 (en) | 2005-10-31 | 2008-05-20 | Amkor Technology, Inc. | Enhanced durability memory card |
| US7837120B1 (en) | 2005-11-29 | 2010-11-23 | Amkor Technology, Inc. | Modular memory card and method of making same |
| US7507603B1 (en) | 2005-12-02 | 2009-03-24 | Amkor Technology, Inc. | Etch singulated semiconductor package |
| US7572681B1 (en) | 2005-12-08 | 2009-08-11 | Amkor Technology, Inc. | Embedded electronic component package |
| US7359204B1 (en) | 2006-02-15 | 2008-04-15 | Amkor Technology, Inc. | Multiple cover memory card |
| US20070270040A1 (en) * | 2006-05-05 | 2007-11-22 | Jang Sang J | Chamfered Memory Card |
| US7902660B1 (en) | 2006-05-24 | 2011-03-08 | Amkor Technology, Inc. | Substrate for semiconductor device and manufacturing method thereof |
| US7968998B1 (en) | 2006-06-21 | 2011-06-28 | Amkor Technology, Inc. | Side leaded, bottom exposed pad and bottom exposed lead fusion quad flat semiconductor package |
| EP1876643A1 (en) | 2006-07-07 | 2008-01-09 | STMicroelectronics S.r.l. | Semiconductor-integrated electronic device having a plurality of leads |
| US7687893B2 (en) | 2006-12-27 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package having leadframe with exposed anchor pads |
| US7829990B1 (en) | 2007-01-18 | 2010-11-09 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package including laminate interposer |
| US7982297B1 (en) | 2007-03-06 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package having partially exposed semiconductor die and method of fabricating the same |
| US20080224287A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-18 | Finisar Corporation | Optoelectronic device alignment in an optoelectronic package |
| US7977774B2 (en) | 2007-07-10 | 2011-07-12 | Amkor Technology, Inc. | Fusion quad flat semiconductor package |
| US7687899B1 (en) | 2007-08-07 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Dual laminate package structure with embedded elements |
| US7777351B1 (en) | 2007-10-01 | 2010-08-17 | Amkor Technology, Inc. | Thin stacked interposer package |
| US8089159B1 (en) | 2007-10-03 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with increased I/O density and method of making the same |
| US7847386B1 (en) | 2007-11-05 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Reduced size stacked semiconductor package and method of making the same |
| US7956453B1 (en) | 2008-01-16 | 2011-06-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with patterning layer and method of making same |
| US7723852B1 (en) | 2008-01-21 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Stacked semiconductor package and method of making same |
| US8067821B1 (en) | 2008-04-10 | 2011-11-29 | Amkor Technology, Inc. | Flat semiconductor package with half package molding |
| US7768135B1 (en) | 2008-04-17 | 2010-08-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with fast power-up cycle and method of making same |
| US7808084B1 (en) | 2008-05-06 | 2010-10-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with half-etched locking features |
| US8125064B1 (en) | 2008-07-28 | 2012-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O semiconductor package and method of making same |
| US8184453B1 (en) | 2008-07-31 | 2012-05-22 | Amkor Technology, Inc. | Increased capacity semiconductor package |
| US7847392B1 (en) | 2008-09-30 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with increased I/O |
| US7989933B1 (en) | 2008-10-06 | 2011-08-02 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O leadframe and semiconductor device including same |
| US8008758B1 (en) | 2008-10-27 | 2011-08-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe |
| US8089145B1 (en) | 2008-11-17 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including increased capacity leadframe |
| US8072050B1 (en) | 2008-11-18 | 2011-12-06 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including passive device |
| US7875963B1 (en) | 2008-11-21 | 2011-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe having power bars and increased I/O |
| US7982298B1 (en) | 2008-12-03 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device |
| US8487420B1 (en) | 2008-12-08 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device with film over wire |
| US8680656B1 (en) | 2009-01-05 | 2014-03-25 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe structure for concentrated photovoltaic receiver package |
| US20170117214A1 (en) | 2009-01-05 | 2017-04-27 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with through-mold via |
| US8058715B1 (en) | 2009-01-09 | 2011-11-15 | Amkor Technology, Inc. | Package in package device for RF transceiver module |
| US8026589B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-09-27 | Amkor Technology, Inc. | Reduced profile stackable semiconductor package |
| US7960818B1 (en) | 2009-03-04 | 2011-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Conformal shield on punch QFN semiconductor package |
| US8575742B1 (en) | 2009-04-06 | 2013-11-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including power bars |
| US8796561B1 (en) | 2009-10-05 | 2014-08-05 | Amkor Technology, Inc. | Fan out build up substrate stackable package and method |
| US8937381B1 (en) | 2009-12-03 | 2015-01-20 | Amkor Technology, Inc. | Thin stackable package and method |
| US9691734B1 (en) | 2009-12-07 | 2017-06-27 | Amkor Technology, Inc. | Method of forming a plurality of electronic component packages |
| US8324511B1 (en) | 2010-04-06 | 2012-12-04 | Amkor Technology, Inc. | Through via nub reveal method and structure |
| US8294276B1 (en) | 2010-05-27 | 2012-10-23 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and fabricating method thereof |
| US8440554B1 (en) | 2010-08-02 | 2013-05-14 | Amkor Technology, Inc. | Through via connected backside embedded circuit features structure and method |
| US8487445B1 (en) | 2010-10-05 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device having through electrodes protruding from dielectric layer |
| US8791501B1 (en) | 2010-12-03 | 2014-07-29 | Amkor Technology, Inc. | Integrated passive device structure and method |
| US8390130B1 (en) | 2011-01-06 | 2013-03-05 | Amkor Technology, Inc. | Through via recessed reveal structure and method |
| TWI557183B (zh) | 2015-12-16 | 2016-11-11 | 財團法人工業技術研究院 | 矽氧烷組成物、以及包含其之光電裝置 |
| US8648450B1 (en) | 2011-01-27 | 2014-02-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with a combination of leads and lands |
| US8552548B1 (en) | 2011-11-29 | 2013-10-08 | Amkor Technology, Inc. | Conductive pad on protruding through electrode semiconductor device |
| US9704725B1 (en) | 2012-03-06 | 2017-07-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with leadframe configured to facilitate reduced burr formation |
| US9048298B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-06-02 | Amkor Technology, Inc. | Backside warpage control structure and fabrication method |
| US9129943B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-09-08 | Amkor Technology, Inc. | Embedded component package and fabrication method |
| KR101486790B1 (ko) | 2013-05-02 | 2015-01-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 강성보강부를 갖는 마이크로 리드프레임 |
| US20140377915A1 (en) * | 2013-06-20 | 2014-12-25 | Infineon Technologies Ag | Pre-mold for a magnet semiconductor assembly group and method of producing the same |
| KR101563911B1 (ko) | 2013-10-24 | 2015-10-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 |
| US9673122B2 (en) | 2014-05-02 | 2017-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Micro lead frame structure having reinforcing portions and method |
| CN106531714A (zh) * | 2017-01-24 | 2017-03-22 | 日月光封装测试(上海)有限公司 | 用于半导体封装的引线框架条及其制造方法 |
| US9978613B1 (en) | 2017-03-07 | 2018-05-22 | Texas Instruments Incorporated | Method for making lead frames for integrated circuit packages |
| US20210043466A1 (en) * | 2019-08-06 | 2021-02-11 | Texas Instruments Incorporated | Universal semiconductor package molds |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0595079A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Ibiden Co Ltd | リードフレーム、半導体集積回路搭載用基板及び半導体装置並びにそれらの製造方法 |
| JPH05315508A (ja) * | 1992-05-06 | 1993-11-26 | Nomura Seimitsu Denshi Kk | 絶縁タイバー付きのリードフレーム及びその製造方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5258331A (en) * | 1989-10-20 | 1993-11-02 | Texas Instruments Incorporated | Method of manufacturing resin-encapsulated semiconductor device package using photoresist or pre-peg lead frame dam bars |
| US5369059A (en) * | 1989-12-08 | 1994-11-29 | Cray Research, Inc. | Method for constructing a reduced capacitance chip carrier |
| JPH04336419A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | 分子線エピタキシャル成長装置 |
| JPH0521695A (ja) * | 1991-07-12 | 1993-01-29 | Dainippon Printing Co Ltd | リードフレーム、その製造方法及びそのリードフレームを用いた電子制御装置の製造方法 |
| KR100552353B1 (ko) * | 1992-03-27 | 2006-06-20 | 가부시키가이샤 히타치초엘에스아이시스템즈 | 리이드프레임및그것을사용한반도체집적회로장치와그제조방법 |
| US5352633A (en) * | 1992-06-02 | 1994-10-04 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor lead frame lead stabilization |
| JPH06275764A (ja) * | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Fujitsu Miyagi Electron:Kk | リードフレーム及びそのリードフレームを用いた半導体装置の製造方法 |
| US5336564A (en) * | 1993-12-06 | 1994-08-09 | Grumman Aerospace Corporation | Miniature keeper bar |
-
1996
- 1996-08-28 TW TW085110478A patent/TW359880B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-08-29 US US08/704,996 patent/US5753532A/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-30 JP JP8230845A patent/JP2804016B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-30 KR KR1019960037141A patent/KR100187722B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-30 CN CN96111255A patent/CN1079169C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0595079A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Ibiden Co Ltd | リードフレーム、半導体集積回路搭載用基板及び半導体装置並びにそれらの製造方法 |
| JPH05315508A (ja) * | 1992-05-06 | 1993-11-26 | Nomura Seimitsu Denshi Kk | 絶縁タイバー付きのリードフレーム及びその製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI624021B (zh) * | 2013-04-23 | 2018-05-11 | 萬國半導體(開曼)股份有限公司 | 薄型功率器件及其製備方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100187722B1 (ko) | 1999-06-01 |
| CN1150328A (zh) | 1997-05-21 |
| CN1079169C (zh) | 2002-02-13 |
| TW359880B (en) | 1999-06-01 |
| US5753532A (en) | 1998-05-19 |
| JP2804016B2 (ja) | 1998-09-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2804016B2 (ja) | 半導体チップパッケージの製造方法 | |
| US7586183B2 (en) | Multilevel semiconductor module and method for fabricating the same | |
| KR100551641B1 (ko) | 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치 | |
| US7144754B2 (en) | Device having resin package and method of producing the same | |
| JP4864810B2 (ja) | チップ内蔵基板の製造方法 | |
| US20100053920A1 (en) | Packaging substrate with embedded semiconductor component and method for fabricating the same | |
| TW200410386A (en) | Lead frame and method of producing the same, and resin-encapsulated semiconductor device and method of producing the same | |
| JP2939727B2 (ja) | ボールグリッドアレイ半導体パッケージ | |
| JPH06295962A (ja) | 電子部品搭載用基板およびその製造方法並びに電子部品搭載装置 | |
| JPH1084010A (ja) | カラムリードを有する半導体チップパッケージ及びその製造方法 | |
| US20100225001A1 (en) | Manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and electronic device | |
| JPH11354559A (ja) | ボールグリッドアレイ半導体パッケージのモールディ ング方法 | |
| JP2907801B2 (ja) | ボトムリード半導体パッケージ及びその製造方法 | |
| JP2009302476A (ja) | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | |
| KR100214552B1 (ko) | 캐리어프레임 및 서브스트레이트와 이들을 이용한 볼 그리드 어 레이 패키지의 제조방법 | |
| US11552004B2 (en) | Wiring structure having stacked first and second electrodes | |
| JP3304672B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
| JP3599031B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0563109A (ja) | モールド型icパツケージ | |
| JPH081109Y2 (ja) | 複数チップ内蔵のicモジュール | |
| JP7483595B2 (ja) | 配線基板、電子装置及び配線基板の製造方法 | |
| JPH077033A (ja) | 電子部品搭載装置の製造方法 | |
| US20180184518A1 (en) | Wiring substrate and electronic component device | |
| JP2003142634A (ja) | 半導体装置、その製造方法及び電子機器 | |
| US20220375831A1 (en) | Lead frame, and semiconductor device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070717 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080717 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080717 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090717 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090717 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100717 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110717 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110717 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120717 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120717 Year of fee payment: 14 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130717 Year of fee payment: 15 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |