JPH0914930A - 形状測定方法とその測定装置 - Google Patents
形状測定方法とその測定装置Info
- Publication number
- JPH0914930A JPH0914930A JP7164865A JP16486595A JPH0914930A JP H0914930 A JPH0914930 A JP H0914930A JP 7164865 A JP7164865 A JP 7164865A JP 16486595 A JP16486595 A JP 16486595A JP H0914930 A JPH0914930 A JP H0914930A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement target
- measurement
- shape
- target portion
- optical measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Footwear And Its Accessory, Manufacturing Method And Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 人体部分を迅速に計測できる形状測定方法を
提供することを目的とする。 【構成】 測定対象部位Ｘの足を置台１に載せ、光学式
測定ヘッド４ａ，４ｂを置台１の周囲に沿って回動させ
る。光学式測定ヘッド４ａは足の上面の形状を読み取
り、光学式測定ヘッド４ｂは足の下面の形状を読み取
る。この光学式測定ヘッド４ａ，４ｂによる足の上面と
下面の形状を同時に測定した結果から測定対象部位の三
次元の表面形状を計算する。
提供することを目的とする。 【構成】 測定対象部位Ｘの足を置台１に載せ、光学式
測定ヘッド４ａ，４ｂを置台１の周囲に沿って回動させ
る。光学式測定ヘッド４ａは足の上面の形状を読み取
り、光学式測定ヘッド４ｂは足の下面の形状を読み取
る。この光学式測定ヘッド４ａ，４ｂによる足の上面と
下面の形状を同時に測定した結果から測定対象部位の三
次元の表面形状を計算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、足などの人体部分の三
次元の表面形状を計測し、靴などの工業製品を作成する
ときの基準となる測定値を得る形状測定方法と形状測定
装置に関するものである。
次元の表面形状を計測し、靴などの工業製品を作成する
ときの基準となる測定値を得る形状測定方法と形状測定
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】量産される靴製品は、標準的足形状の型
を実際に石膏などでメス型をとり、さらに、オス型を作
るという工程で足型が作られる。靴はこの足型に沿って
靴形状を形成して製造されている。
を実際に石膏などでメス型をとり、さらに、オス型を作
るという工程で足型が作られる。靴はこの足型に沿って
靴形状を形成して製造されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、足型をとる
材料の収縮などの影響による不正確さ、また標準的パラ
メータである足の長さ、幅以外の寸法へ例えば足の甲の
高さといった寸法の欠除からくる装着感の悪さなどが問
題となっている。
材料の収縮などの影響による不正確さ、また標準的パラ
メータである足の長さ、幅以外の寸法へ例えば足の甲の
高さといった寸法の欠除からくる装着感の悪さなどが問
題となっている。
【０００４】また、より正確な標準的足形状の決定のた
めには、足の甲の高さの測定を含めた数多くの実際のサ
ンプル測定が必要とされているが、迅速に計測できない
のが現状である。
めには、足の甲の高さの測定を含めた数多くの実際のサ
ンプル測定が必要とされているが、迅速に計測できない
のが現状である。
【０００５】本発明は人体部分を迅速に計測できる形状
測定方法とその測定装置を提供することを目的とする。
測定方法とその測定装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の形状測定
方法は、測定対象部位の上面と下面を非接触式測定手段
で測定し、上面側の測定データと下面側の測定データに
基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算するこ
とを特徴とする。
方法は、測定対象部位の上面と下面を非接触式測定手段
で測定し、上面側の測定データと下面側の測定データに
基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算するこ
とを特徴とする。
【０００７】請求項２記載の形状測定方法は、請求項１
において、測定対象部位の上面と下面を非接触式測定手
段で同時に測定することを特徴とする。請求項３記載の
形状測定方法は、請求項１，請求項２において、測定対
象部位の周囲で非接触式測定手段を移動させて測定する
ことを特徴とする。
において、測定対象部位の上面と下面を非接触式測定手
段で同時に測定することを特徴とする。請求項３記載の
形状測定方法は、請求項１，請求項２において、測定対
象部位の周囲で非接触式測定手段を移動させて測定する
ことを特徴とする。
【０００８】請求項４記載の形状測定装置は、測定対象
部位を載置する置台と、置台の上面に位置し測定対象部
位の上面を測定する第１の非接触式測定手段と、置台の
下面に位置し測定対象部位の下面を測定する第２の非接
触式測定手段と、第１，第２の非接触式測定手段の測定
データに基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計
算する処理装置とを設けたことを特徴とする。
部位を載置する置台と、置台の上面に位置し測定対象部
位の上面を測定する第１の非接触式測定手段と、置台の
下面に位置し測定対象部位の下面を測定する第２の非接
触式測定手段と、第１，第２の非接触式測定手段の測定
データに基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計
算する処理装置とを設けたことを特徴とする。
【０００９】請求項５記載の形状測定装置は、測定対象
部位を載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方
に第１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学
式測定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一
方に対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、
置台の上面と下面のうちの他方に反射鏡を配設し、第２
の光学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象部
位の下面または上面のうちの他方の面を測定するよう構
成し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに基
づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処理
装置を設けたことを特徴とする。
部位を載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方
に第１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学
式測定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一
方に対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、
置台の上面と下面のうちの他方に反射鏡を配設し、第２
の光学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象部
位の下面または上面のうちの他方の面を測定するよう構
成し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに基
づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処理
装置を設けたことを特徴とする。
【００１０】請求項６記載の形状測定装置は、測定対象
部位を載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方
に第１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学
式測定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一
方に対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、
置台の上面と下面のうちの他方に環状で置台の側が他方
の側よりも拡がった反射面を有する反射鏡を配設し、第
２の光学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象
部位の下面または上面のうちの他方の面を測定するよう
構成し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに
基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処
理装置を設けたことを特徴とする。
部位を載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方
に第１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学
式測定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一
方に対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、
置台の上面と下面のうちの他方に環状で置台の側が他方
の側よりも拡がった反射面を有する反射鏡を配設し、第
２の光学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象
部位の下面または上面のうちの他方の面を測定するよう
構成し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに
基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処
理装置を設けたことを特徴とする。
【００１１】
【作用】請求項１の構成によると、測定対象部位を非接
触式測定手段の測定場所に位置させると、測定対象部位
の上面と下面が非接触式測定手段で測定される。得られ
た上面側の測定データと下面側の測定データに基づいて
測定対象部位の三次元の表面形状が計算される。
触式測定手段の測定場所に位置させると、測定対象部位
の上面と下面が非接触式測定手段で測定される。得られ
た上面側の測定データと下面側の測定データに基づいて
測定対象部位の三次元の表面形状が計算される。
【００１２】請求項２の構成によると、測定対象部位を
非接触式測定手段の測定場所に位置させると、測定対象
部位の上面と下面が非接触式測定手段で同時に測定され
る。請求項３の構成によると、測定対象部位の周囲で非
接触式測定手段が移動してて測定する。
非接触式測定手段の測定場所に位置させると、測定対象
部位の上面と下面が非接触式測定手段で同時に測定され
る。請求項３の構成によると、測定対象部位の周囲で非
接触式測定手段が移動してて測定する。
【００１３】請求項４の構成によると、置台に測定対象
部位を載置すると、第１の非接触式測定手段によって測
定対象部位の上面が測定され、第２の非接触式測定手段
によって測定対象部位の下面が測定される。処理装置が
第１，第２の非接触式測定手段の測定データに基づいて
測定対象部位の三次元の表面形状を計算する。
部位を載置すると、第１の非接触式測定手段によって測
定対象部位の上面が測定され、第２の非接触式測定手段
によって測定対象部位の下面が測定される。処理装置が
第１，第２の非接触式測定手段の測定データに基づいて
測定対象部位の三次元の表面形状を計算する。
【００１４】請求項５の構成によると、置台に測定対象
部位を載置すると、置台の下面に第１，第２の光学式測
定ヘッドを配設した場合には、第１の光学式測定ヘッド
で測定対象部位の下面が測定される。第２の光学式測定
ヘッドは置台の上面に配設された反射鏡を介して測定対
象部位の上面を測定する。処理装置は第１，第２の光学
式測定ヘッドの測定データに基づいて測定対象部位の三
次元の表面形状を計算する。
部位を載置すると、置台の下面に第１，第２の光学式測
定ヘッドを配設した場合には、第１の光学式測定ヘッド
で測定対象部位の下面が測定される。第２の光学式測定
ヘッドは置台の上面に配設された反射鏡を介して測定対
象部位の上面を測定する。処理装置は第１，第２の光学
式測定ヘッドの測定データに基づいて測定対象部位の三
次元の表面形状を計算する。
【００１５】請求項６の構成によると、置台に測定対象
部位を載置すると、置台の下面に第１，第２の光学式測
定ヘッドを配設した場合には、第１の光学式測定ヘッド
で測定対象部位の下面が測定される。第２の光学式測定
ヘッドは置台の上面に配設された環状で置台の側が他方
の側よりも拡がった反射面を有する反射鏡を介して測定
対象部位の上面を測定する。処理装置は第１，第２の光
学式測定ヘッドの測定データに基づいて測定対象部位の
三次元の表面形状を計算する。
部位を載置すると、置台の下面に第１，第２の光学式測
定ヘッドを配設した場合には、第１の光学式測定ヘッド
で測定対象部位の下面が測定される。第２の光学式測定
ヘッドは置台の上面に配設された環状で置台の側が他方
の側よりも拡がった反射面を有する反射鏡を介して測定
対象部位の上面を測定する。処理装置は第１，第２の光
学式測定ヘッドの測定データに基づいて測定対象部位の
三次元の表面形状を計算する。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の形状測定方法を具体的な各実
施例を図１〜図５に基づいて説明する。なお、ここでは
測定対象部位として足の場合を例に挙げて説明する。
施例を図１〜図５に基づいて説明する。なお、ここでは
測定対象部位として足の場合を例に挙げて説明する。
【００１７】〔 第１の実施例 〕図１〜図３は第１の
実施例を示す。図１と図２に示すように、板ガラスなど
の透明な材料で作成された充分な強度をもつ置台１は、
固定側２から支持柱３で支持されている。非接触式測定
手段としての光学式測定ヘッド４ａ，４ｂは、回転軸５
を中心に回動自在に支持されたヘッド支持アーム６の先
端に取り付けられており、光学式測定ヘッド４ａは置台
１の上面を読み取り、光学式測定ヘッド１ｂは置台１の
下面を読み取る。
実施例を示す。図１と図２に示すように、板ガラスなど
の透明な材料で作成された充分な強度をもつ置台１は、
固定側２から支持柱３で支持されている。非接触式測定
手段としての光学式測定ヘッド４ａ，４ｂは、回転軸５
を中心に回動自在に支持されたヘッド支持アーム６の先
端に取り付けられており、光学式測定ヘッド４ａは置台
１の上面を読み取り、光学式測定ヘッド１ｂは置台１の
下面を読み取る。
【００１８】光学式測定ヘッド１ａ，１ｂは、具体的に
は、レーザ光などのスポット光をレンズまたはガルバノ
ミラー等でスリット状にした光を、置台１に載置された
被測定物Ｘの上面と下面に向けて照射して、その反射光
をＣＣＤ素子などで取り込み三角測量による距離測定を
行って被測定物Ｘの表面形状をデータ化するように構成
されている。
は、レーザ光などのスポット光をレンズまたはガルバノ
ミラー等でスリット状にした光を、置台１に載置された
被測定物Ｘの上面と下面に向けて照射して、その反射光
をＣＣＤ素子などで取り込み三角測量による距離測定を
行って被測定物Ｘの表面形状をデータ化するように構成
されている。
【００１９】ヘッド支持アーム６を回転軸５を中心に回
動させる移動駆動装置７は、ヘッド支持アーム６が支持
柱３に衝突しないように図３に示す仮想線Ａの範囲でヘ
ッド支持アーム６を回動させる。
動させる移動駆動装置７は、ヘッド支持アーム６が支持
柱３に衝突しないように図３に示す仮想線Ａの範囲でヘ
ッド支持アーム６を回動させる。
【００２０】処理装置８は、光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂの測定データＤ１，Ｄ２に基づいて測定対象部位の三
次元の表面形状を計算する。このように構成したため、
置台１に被測定物Ｘの足を載置して手動または自動的に
被測定物の大きさに合わせた焦点調整を行って測定を開
始すると、光学式測定ヘッド１ａ，１ｂが移動駆動装置
７によって移動させられて光学式測定ヘッド４ａは足の
上面をその周囲から非接触で表面形状データを収集し、
光学式測定ヘッド４ｂは置台１を通して足の下面をその
周囲から非接触で表面形状データを収集して、迅速に被
測定物Ｘを測定できる。
ｂの測定データＤ１，Ｄ２に基づいて測定対象部位の三
次元の表面形状を計算する。このように構成したため、
置台１に被測定物Ｘの足を載置して手動または自動的に
被測定物の大きさに合わせた焦点調整を行って測定を開
始すると、光学式測定ヘッド１ａ，１ｂが移動駆動装置
７によって移動させられて光学式測定ヘッド４ａは足の
上面をその周囲から非接触で表面形状データを収集し、
光学式測定ヘッド４ｂは置台１を通して足の下面をその
周囲から非接触で表面形状データを収集して、迅速に被
測定物Ｘを測定できる。
【００２１】光学式測定ヘッド１ａ，１ｂによって同時
に測定された時々の表面形状データは多量の点群データ
（三次元座標データ）であって、処理装置８は点群デー
タを自動的に間引いて被測定物Ｘのエッジを抽出し、点
群のスムージングを実施し、さらにこれを曲面の三次元
数値データに変換して出力する。
に測定された時々の表面形状データは多量の点群データ
（三次元座標データ）であって、処理装置８は点群デー
タを自動的に間引いて被測定物Ｘのエッジを抽出し、点
群のスムージングを実施し、さらにこれを曲面の三次元
数値データに変換して出力する。
【００２２】作成された三次元形状データは記憶手段と
してのハードディスク装置〔図示せず〕にサンプルコー
ドまたは顧客の特定コードに対応させて保管され、測定
結果を必要な時点で読み出して使用できる。
してのハードディスク装置〔図示せず〕にサンプルコー
ドまたは顧客の特定コードに対応させて保管され、測定
結果を必要な時点で読み出して使用できる。
【００２３】なお、置台１に図示のように被測定物Ｘの
足を載置した場合には、踵部分Ｘａのデータの収集時点
で、支持柱３が邪魔になって光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂが図３に示すように斜めから踵部分Ｘａを測定するこ
とになる。処理装置８では、踵部分Ｘａを図３に示すよ
うに斜めから測定した時点のデータと、図３に矢印Ｙに
示す方向から踵部分Ｘａを斜めから測定した時点のデー
タとを総合して踵部分Ｘａの実際の形状を確定して曲面
の三次元数値データに変換して出力している。
足を載置した場合には、踵部分Ｘａのデータの収集時点
で、支持柱３が邪魔になって光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂが図３に示すように斜めから踵部分Ｘａを測定するこ
とになる。処理装置８では、踵部分Ｘａを図３に示すよ
うに斜めから測定した時点のデータと、図３に矢印Ｙに
示す方向から踵部分Ｘａを斜めから測定した時点のデー
タとを総合して踵部分Ｘａの実際の形状を確定して曲面
の三次元数値データに変換して出力している。
【００２４】したがって、被測定物Ｘを測定して求めら
れた三次元的寸法に基づいて靴形状を決めて靴を製造す
ることによって、従来よりも迅速に、しかも型取り材料
の収縮性等による寸法の不正確さもなく、良好な靴を提
供できる。
れた三次元的寸法に基づいて靴形状を決めて靴を製造す
ることによって、従来よりも迅速に、しかも型取り材料
の収縮性等による寸法の不正確さもなく、良好な靴を提
供できる。
【００２５】〔 第２の実施例 〕図４は第２の実施例
を示す。なお、第１の実施例と同様の作用をなすものに
は同一の符号を付けて説明する。
を示す。なお、第１の実施例と同様の作用をなすものに
は同一の符号を付けて説明する。
【００２６】置台１の下面の側に光学式測定ヘッド１
ａ，１ｂが配置されており、光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂはヘッド支持アーム６に取り付けられている。反射鏡
９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄもヘッド支持アーム６に取り付
けられて一体に回動する。
ａ，１ｂが配置されており、光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂはヘッド支持アーム６に取り付けられている。反射鏡
９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄもヘッド支持アーム６に取り付
けられて一体に回動する。
【００２７】このように構成したため、置台１に被測定
物Ｘの足を載置して測定を開始すると、光学式測定ヘッ
ド１ａ，１ｂなどが移動駆動装置７によって移動させら
れて光学式測定ヘッド４ａの出射光は反射鏡９ａと置台
１の上面側に配設された反射鏡９ｂを介して足の上面に
照射され、足の上面で反射された光が反射鏡９ｂ，９ａ
を介して光学式測定ヘッド４ａに入射する。
物Ｘの足を載置して測定を開始すると、光学式測定ヘッ
ド１ａ，１ｂなどが移動駆動装置７によって移動させら
れて光学式測定ヘッド４ａの出射光は反射鏡９ａと置台
１の上面側に配設された反射鏡９ｂを介して足の上面に
照射され、足の上面で反射された光が反射鏡９ｂ，９ａ
を介して光学式測定ヘッド４ａに入射する。
【００２８】光学式測定ヘッド４ｂの出射光は反射鏡９
ｃ，９ｄを介してさらに置台１を透過して足の下面に照
射され、足の下面で反射された光が反射鏡９ｄ，９ｃを
介して光学式測定ヘッド４ｂに入射する。
ｃ，９ｄを介してさらに置台１を透過して足の下面に照
射され、足の下面で反射された光が反射鏡９ｄ，９ｃを
介して光学式測定ヘッド４ｂに入射する。
【００２９】このようにして足の上面と下面が同時に測
定された測定データＤ１，Ｄ２は、第１の実施例の処理
装置８によって同様に処理される。この第２の実施例で
は、光学式測定ヘッド１ａ，１ｂを置台１の下面側に配
設したが、置台１の上面側に配設して構成することもで
きる。
定された測定データＤ１，Ｄ２は、第１の実施例の処理
装置８によって同様に処理される。この第２の実施例で
は、光学式測定ヘッド１ａ，１ｂを置台１の下面側に配
設したが、置台１の上面側に配設して構成することもで
きる。
【００３０】〔 第３の実施例 〕図５は第３の実施例
を示す。なお、第１の実施例と同様の作用をなすものに
は同一の符号を付けて説明する。
を示す。なお、第１の実施例と同様の作用をなすものに
は同一の符号を付けて説明する。
【００３１】置台１の下面の側に光学式測定ヘッド１
ａ，１ｂが配置されており、光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂはヘッド支持アーム６に取り付けられている。反射鏡
９ｅ，９ｆもヘッド支持アーム６に取り付けられて一体
に回動する。
ａ，１ｂが配置されており、光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂはヘッド支持アーム６に取り付けられている。反射鏡
９ｅ，９ｆもヘッド支持アーム６に取り付けられて一体
に回動する。
【００３２】置台１の上面側に配設された環状の反射鏡
１０ａは内周面が反射面に成形されており、下端が上端
よりも拡がった反射面を有している。置台１の下面側に
配設された環状の反射鏡１０ｂは内周面が反射面に成形
されており、上端が下端よりも拡がった反射面を有して
いる。
１０ａは内周面が反射面に成形されており、下端が上端
よりも拡がった反射面を有している。置台１の下面側に
配設された環状の反射鏡１０ｂは内周面が反射面に成形
されており、上端が下端よりも拡がった反射面を有して
いる。
【００３３】この反射鏡１０ａ，１０ｂはヘッド支持ア
ーム６とは別の固定側に取り付けられている。このよう
に構成したため、反射鏡１０ａの内側から置台１に被測
定物Ｘの足を載置して測定を開始すると、光学式測定ヘ
ッド１ａ，１ｂなどが移動駆動装置７によって移動させ
られて光学式測定ヘッド４ａの出射光は反射鏡９ｅ，１
０ｂ，１０ａを介して足の上面に照射され、足の上面で
反射された光が反射鏡１０ａ，１０ｂ，９ｅを介して光
学式測定ヘッド４ａに入射する。
ーム６とは別の固定側に取り付けられている。このよう
に構成したため、反射鏡１０ａの内側から置台１に被測
定物Ｘの足を載置して測定を開始すると、光学式測定ヘ
ッド１ａ，１ｂなどが移動駆動装置７によって移動させ
られて光学式測定ヘッド４ａの出射光は反射鏡９ｅ，１
０ｂ，１０ａを介して足の上面に照射され、足の上面で
反射された光が反射鏡１０ａ，１０ｂ，９ｅを介して光
学式測定ヘッド４ａに入射する。
【００３４】光学式測定ヘッド４ｂの出射光は反射鏡９
ｆを介してさらに置台１を透過して足の下面に照射さ
れ、足の下面で反射された光が反射鏡９ｆを介して光学
式測定ヘッド４ｂに入射する。
ｆを介してさらに置台１を透過して足の下面に照射さ
れ、足の下面で反射された光が反射鏡９ｆを介して光学
式測定ヘッド４ｂに入射する。
【００３５】なお、この第３の実施例では反射鏡１０ａ
の中央から置台１に被測定物Ｘの足を載置することによ
って踵部分Ｘａのデータも正確に収集することができ、
第１，第２の実施例に見られたような踵部分Ｘａの実際
の形状の確定に際して複雑なデータ処理が必要でなくな
る。
の中央から置台１に被測定物Ｘの足を載置することによ
って踵部分Ｘａのデータも正確に収集することができ、
第１，第２の実施例に見られたような踵部分Ｘａの実際
の形状の確定に際して複雑なデータ処理が必要でなくな
る。
【００３６】処理装置８は、光学式測定ヘッド１ａ，１
ｂの測定データに基づいて測定対象部位の三次元の表面
形状を計算し、作成された三次元形状データは記憶手段
としてのハードディスク装置〔図示せず〕にサンプルコ
ードまたは顧客の特定コードに対応させて保管され、測
定結果を必要な時点で読み出して使用できる。
ｂの測定データに基づいて測定対象部位の三次元の表面
形状を計算し、作成された三次元形状データは記憶手段
としてのハードディスク装置〔図示せず〕にサンプルコ
ードまたは顧客の特定コードに対応させて保管され、測
定結果を必要な時点で読み出して使用できる。
【００３７】この第３の実施例では、光学式測定ヘッド
１ａ，１ｂを置台１の下面側に配設したが、置台１の上
面側に配設して構成することもできる。上記の各実施例
では、光学式測定ヘッド１ａ，１ｂを被測定物Ｘの周囲
で移動させて測定したが、測定対象部位の周囲に複数の
光学式測定ヘッドを配置してその周囲に配置した各光学
式測定ヘッドの出力データを処理して三次元形状データ
を確定することもできる。
１ａ，１ｂを置台１の下面側に配設したが、置台１の上
面側に配設して構成することもできる。上記の各実施例
では、光学式測定ヘッド１ａ，１ｂを被測定物Ｘの周囲
で移動させて測定したが、測定対象部位の周囲に複数の
光学式測定ヘッドを配置してその周囲に配置した各光学
式測定ヘッドの出力データを処理して三次元形状データ
を確定することもできる。
【００３８】上記の各実施例では、光学式測定ヘッド１
ａ，１ｂを同時に被測定物Ｘの周囲で移動させて上面と
下面を同時に測定したが、単一の光学式測定ヘッドで被
測定物Ｘの上面と下面を順に測定して三次元形状データ
を確定することもできる。ただし、この場合には単一の
光学式測定ヘッドが、被測定物Ｘの周囲を移動して上面
を測定しているときの時々の位置情報と、被測定物Ｘの
周囲を移動して下面を測定しているときの時々の位置情
報とを移動駆動装置７から取り出して、処理装置８でデ
ータ処理する際にこの位置情報に基づいて三次元形状デ
ータが確定される。
ａ，１ｂを同時に被測定物Ｘの周囲で移動させて上面と
下面を同時に測定したが、単一の光学式測定ヘッドで被
測定物Ｘの上面と下面を順に測定して三次元形状データ
を確定することもできる。ただし、この場合には単一の
光学式測定ヘッドが、被測定物Ｘの周囲を移動して上面
を測定しているときの時々の位置情報と、被測定物Ｘの
周囲を移動して下面を測定しているときの時々の位置情
報とを移動駆動装置７から取り出して、処理装置８でデ
ータ処理する際にこの位置情報に基づいて三次元形状デ
ータが確定される。
【００３９】上記の各実施例における光学式測定ヘッド
１ａ，１ｂは置台１の回りを回動したが、置台１に沿っ
て平行に移動するようにも構成できる。
１ａ，１ｂは置台１の回りを回動したが、置台１に沿っ
て平行に移動するようにも構成できる。
【００４０】
【発明の効果】請求項１の構成によると、測定対象部位
の上面と下面を非接触式測定手段で測定し、上面側の測
定データと下面側の測定データに基づいて測定対象部位
の三次元の表面形状を計算するので、測定対象部位の三
次元の表面形状を迅速に測定することができ、例えば、
標準的足型を用いる普及品の靴の製作にも、より多くの
数値的データを集めることができ、よりはき心地の良い
靴を製造できる。オーダーメードの靴の製造において
も、顧客の足を計測する手間と時間が少なくて済み、正
確なデータが得られるため顧客の満足度も高いものとな
る。
の上面と下面を非接触式測定手段で測定し、上面側の測
定データと下面側の測定データに基づいて測定対象部位
の三次元の表面形状を計算するので、測定対象部位の三
次元の表面形状を迅速に測定することができ、例えば、
標準的足型を用いる普及品の靴の製作にも、より多くの
数値的データを集めることができ、よりはき心地の良い
靴を製造できる。オーダーメードの靴の製造において
も、顧客の足を計測する手間と時間が少なくて済み、正
確なデータが得られるため顧客の満足度も高いものとな
る。
【００４１】請求項２の構成によると、測定対象部位の
上面と下面を非接触式測定手段で同時に測定するので、
測定対象部位の上面を測定する非接触式測定手段の位置
情報と測定対象部位の下面を測定する非接触式測定手段
の位置情報とを取り扱わなくても測定対象部位の正確な
三次元形状を測定できる。
上面と下面を非接触式測定手段で同時に測定するので、
測定対象部位の上面を測定する非接触式測定手段の位置
情報と測定対象部位の下面を測定する非接触式測定手段
の位置情報とを取り扱わなくても測定対象部位の正確な
三次元形状を測定できる。
【００４２】請求項３の構成によると、測定対象部位の
周囲で非接触式測定手段を移動させて測定するので、簡
潔な構成であるにもかかわらず複雑な形状の測定に適し
ている。
周囲で非接触式測定手段を移動させて測定するので、簡
潔な構成であるにもかかわらず複雑な形状の測定に適し
ている。
【００４３】請求項４の構成によると、測定対象部位を
載置する置台と、置台の上面に位置し測定対象部位の上
面を測定する第１の非接触式測定手段と、置台の下面に
位置し測定対象部位の下面を測定する第２の非接触式測
定手段と、第１，第２の非接触式測定手段の測定データ
に基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する
処理装置とを設けたため、置台に測定対象部位を載置し
て測定を開始するだけで測定対象部位の正確な三次元形
状を迅速に測定できる。
載置する置台と、置台の上面に位置し測定対象部位の上
面を測定する第１の非接触式測定手段と、置台の下面に
位置し測定対象部位の下面を測定する第２の非接触式測
定手段と、第１，第２の非接触式測定手段の測定データ
に基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する
処理装置とを設けたため、置台に測定対象部位を載置し
て測定を開始するだけで測定対象部位の正確な三次元形
状を迅速に測定できる。
【００４４】請求項５の構成によると、測定対象部位を
載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方に第
１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学式測
定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一方に
対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、置台
の上面と下面のうちの他方に反射鏡を配設し、第２の光
学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象部位の
下面または上面のうちの他方の面を測定するよう構成
し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに基づ
いて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処理装
置を設けたため、反射鏡を使用することによって第１，
第２の光学式測定ヘッドを置台の上面と下面のうちの一
方に集めて配設できる。
載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方に第
１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学式測
定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一方に
対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、置台
の上面と下面のうちの他方に反射鏡を配設し、第２の光
学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象部位の
下面または上面のうちの他方の面を測定するよう構成
し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに基づ
いて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処理装
置を設けたため、反射鏡を使用することによって第１，
第２の光学式測定ヘッドを置台の上面と下面のうちの一
方に集めて配設できる。
【００４５】請求項６の構成によると、測定対象部位を
載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方に第
１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学式測
定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一方に
対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、置台
の上面と下面のうちの他方に環状で置台の側が他方の側
よりも拡がった反射面を有する反射鏡を配設し、第２の
光学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象部位
の下面または上面のうちの他方の面を測定するよう構成
し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに基づ
いて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処理装
置を設けたため、第１，第２の光学式測定ヘッドを置台
の上面と下面のうちの一方に集めて配設できるととも
に、反射鏡を動かさなくても測定できる。
載置する置台と、置台の上面と下面のうちの一方に第
１，第２の光学式測定ヘッドを配設し、第１の光学式測
定ヘッドで測定対象部位の下面または上面の前記一方に
対応する一方の面を測定するよう構成すると共に、置台
の上面と下面のうちの他方に環状で置台の側が他方の側
よりも拡がった反射面を有する反射鏡を配設し、第２の
光学式測定ヘッドから前記反射鏡を介して測定対象部位
の下面または上面のうちの他方の面を測定するよう構成
し、第１，第２の光学式測定ヘッドの測定データに基づ
いて測定対象部位の三次元の表面形状を計算する処理装
置を設けたため、第１，第２の光学式測定ヘッドを置台
の上面と下面のうちの一方に集めて配設できるととも
に、反射鏡を動かさなくても測定できる。
【図１】本発明の第１の実施例の斜視図である。
【図２】同実施例の側面図である。
【図３】同実施例の踵部分の測定原理を説明する斜視図
である。
である。
【図４】第２の実施例の断面図である。
【図５】第３の実施例の断面図である。
Ｘ 被測定物 １ 置台 ４ａ，４ｂ 光学式測定ヘッド ５ 回転軸 ６ ヘッド支持アーム ７ 移動駆動装置 ８ 処理装置 ９ａ〜９ｆ 反射鏡 １０ａ，１０ｂ 反射鏡
フロントページの続き (72)発明者 濱野 誠司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (6)
- 【請求項１】 測定対象部位の上面と下面を非接触式測
定手段で測定し、上面側の測定データと下面側の測定デ
ータに基づいて測定対象部位の三次元の表面形状を計算
する形状測定方法。 - 【請求項２】 測定対象部位の上面と下面を非接触式測
定手段で同時に測定する請求項１記載の形状測定方法。 - 【請求項３】 測定対象部位の周囲で非接触式測定手段
を移動させて測定する請求項１，請求項２記載の形状測
定方法。 - 【請求項４】測定対象部位を載置する置台と、置台の上
面に位置し測定対象部位の上面を測定する第１の非接触
式測定手段と、置台の下面に位置し測定対象部位の下面
を測定する第２の非接触式測定手段と、第１，第２の非
接触式測定手段の測定データに基づいて測定対象部位の
三次元の表面形状を計算する処理装置とを設けた形状測
定装置。 - 【請求項５】測定対象部位を載置する置台と、置台の上
面と下面のうちの一方に第１，第２の光学式測定ヘッド
を配設し、第１の光学式測定ヘッドで測定対象部位の下
面または上面の前記一方に対応する一方の面を測定する
よう構成すると共に、置台の上面と下面のうちの他方に
反射鏡を配設し、第２の光学式測定ヘッドから前記反射
鏡を介して測定対象部位の下面または上面のうちの他方
の面を測定するよう構成し、第１，第２の光学式測定ヘ
ッドの測定データに基づいて測定対象部位の三次元の表
面形状を計算する処理装置を設けた形状測定装置。 - 【請求項６】測定対象部位を載置する置台と、置台の上
面と下面のうちの一方に第１，第２の光学式測定ヘッド
を配設し、第１の光学式測定ヘッドで測定対象部位の下
面または上面の前記一方に対応する一方の面を測定する
よう構成すると共に、置台の上面と下面のうちの他方に
環状で置台の側が他方の側よりも拡がった反射面を有す
る反射鏡を配設し、第２の光学式測定ヘッドから前記反
射鏡を介して測定対象部位の下面または上面のうちの他
方の面を測定するよう構成し、第１，第２の光学式測定
ヘッドの測定データに基づいて測定対象部位の三次元の
表面形状を計算する処理装置を設けた形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7164865A JPH0914930A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 形状測定方法とその測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7164865A JPH0914930A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 形状測定方法とその測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0914930A true JPH0914930A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15801397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7164865A Pending JPH0914930A (ja) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 形状測定方法とその測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0914930A (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001327304A (ja) * | 2000-05-22 | 2001-11-27 | Ozaki:Kk | 足測定装置 |
| JP2002107127A (ja) * | 2000-10-02 | 2002-04-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 形状測定装置 |
| WO2003008904A1 (fr) * | 2001-07-17 | 2003-01-30 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositif de mesure de formes |
| US6909513B1 (en) | 1999-05-26 | 2005-06-21 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Shape measuring device |
| JP2008111780A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Toshiba Corp | 形状計測装置および形状計測方法 |
| JP2008203091A (ja) * | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Pulstec Industrial Co Ltd | ３次元形状測定装置および３次元形状測定方法 |
| KR200469214Y1 (ko) * | 2012-02-03 | 2013-09-27 | 주식회사 아이지디 | 듀얼 미러형 족저경을 이용한 측정 장치 |
| KR101337196B1 (ko) * | 2012-03-08 | 2013-12-05 | (주)엠젠 | 발 이미지 촬영 장치 |
| KR20180029831A (ko) * | 2016-09-13 | 2018-03-21 | 경북대학교 산학협력단 | 족부 스캔 장치 및 그의 족부 스캔 방법 |
| WO2018052183A1 (ko) * | 2016-09-13 | 2018-03-22 | 경북대학교 산학협력단 | 족부 스캔 장치 및 그의 족부 스캔 방법 |
| JP2020012736A (ja) * | 2018-07-18 | 2020-01-23 | 富士通株式会社 | 足のサイズ計測方法、足のサイズ計測プログラム及び足のサイズ計測装置 |
| CN111351447A (zh) * | 2020-01-21 | 2020-06-30 | 天目爱视（北京）科技有限公司 | 一种手部智能3d信息采集测量设备 |
| KR20230036514A (ko) | 2021-09-07 | 2023-03-14 | (주)리얼디멘션 | 족부 스캔시스템 |
| JP2025153278A (ja) * | 2024-03-29 | 2025-10-10 | 独立行政法人国立文化財機構 | 虚像キャンセリング方法及びそれを用いた３ｄモデル生成装置 |
-
1995
- 1995-06-30 JP JP7164865A patent/JPH0914930A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6909513B1 (en) | 1999-05-26 | 2005-06-21 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Shape measuring device |
| JP2001327304A (ja) * | 2000-05-22 | 2001-11-27 | Ozaki:Kk | 足測定装置 |
| JP2002107127A (ja) * | 2000-10-02 | 2002-04-10 | Sanyo Electric Co Ltd | 形状測定装置 |
| WO2003008904A1 (fr) * | 2001-07-17 | 2003-01-30 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositif de mesure de formes |
| JP2008111780A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Toshiba Corp | 形状計測装置および形状計測方法 |
| JP2008203091A (ja) * | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Pulstec Industrial Co Ltd | ３次元形状測定装置および３次元形状測定方法 |
| KR200469214Y1 (ko) * | 2012-02-03 | 2013-09-27 | 주식회사 아이지디 | 듀얼 미러형 족저경을 이용한 측정 장치 |
| KR101337196B1 (ko) * | 2012-03-08 | 2013-12-05 | (주)엠젠 | 발 이미지 촬영 장치 |
| KR20180029831A (ko) * | 2016-09-13 | 2018-03-21 | 경북대학교 산학협력단 | 족부 스캔 장치 및 그의 족부 스캔 방법 |
| WO2018052183A1 (ko) * | 2016-09-13 | 2018-03-22 | 경북대학교 산학협력단 | 족부 스캔 장치 및 그의 족부 스캔 방법 |
| JP2020012736A (ja) * | 2018-07-18 | 2020-01-23 | 富士通株式会社 | 足のサイズ計測方法、足のサイズ計測プログラム及び足のサイズ計測装置 |
| CN111351447A (zh) * | 2020-01-21 | 2020-06-30 | 天目爱视（北京）科技有限公司 | 一种手部智能3d信息采集测量设备 |
| CN113100754A (zh) * | 2020-01-21 | 2021-07-13 | 天目爱视（北京）科技有限公司 | 一种3d信息采集测量设备 |
| CN113100754B (zh) * | 2020-01-21 | 2023-02-03 | 天目爱视（北京）科技有限公司 | 一种3d信息采集测量设备 |
| KR20230036514A (ko) | 2021-09-07 | 2023-03-14 | (주)리얼디멘션 | 족부 스캔시스템 |
| JP2025153278A (ja) * | 2024-03-29 | 2025-10-10 | 独立行政法人国立文化財機構 | 虚像キャンセリング方法及びそれを用いた３ｄモデル生成装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0914930A (ja) | 形状測定方法とその測定装置 | |
| CN101352277B (zh) | 用于脚部形状生成的方法和系统 | |
| US5753931A (en) | Object imaging device and method using line striping | |
| US5671055A (en) | Apparatus, system and method for laser measurement of an object shape | |
| US4745290A (en) | Method and apparatus for use in making custom shoes | |
| JPH10206123A5 (ja) | ||
| EP0840880B1 (en) | Scanning apparatus and method | |
| US5689446A (en) | Foot contour digitizer | |
| US6567156B1 (en) | Apparatus and method for examining the shape of gemstones | |
| US20150359461A1 (en) | Measuring method, pedestal and measuring system for determining biometric data of human feet | |
| WO1998018386A1 (en) | Unit for measuring body parts and reconstructing them in three dimensions, particularly for manufacturing custom shoes or other prostheses | |
| TW201035518A (en) | Method for modeling distribution curve of reflectance and method, reflectometer for measuring thickness using the same | |
| WO1994011701A1 (fr) | Detecteur d'angle de pliage pour machine a plier | |
| JP2000131032A (ja) | 三次元形状計測方法およびその装置 | |
| JPH1130508A (ja) | ゴルフボールの表面形状測定方法及び装置 | |
| CN2048682U (zh) | 鞋楦三维面形测量仪 | |
| JPS6244203B2 (ja) | ||
| JPH01187403A (ja) | ガラスエッジ検出装置 | |
| KR200374695Y1 (ko) | 레이저 센서를 이용한 신발 측정장치 | |
| JPH0621767B2 (ja) | 曲面形状測定方法およびその装置 | |
| JP2003075139A (ja) | 三次元形状測定装置および三次元形状測定方法 | |
| RU2243503C2 (ru) | Способ измерения геометрических параметров поверхностей сложнопрофилированных объектов и устройство для его осуществления | |
| JPS6055210A (ja) | 非接触三次元測定装置 | |
| JPH11153414A (ja) | 成形品のバリ高さ及び型ずれ量の測定方法 | |
| CN220018469U (zh) | 一种基于激光轮廓传感器的焊缝尺寸测量机构 |