JPH0915213A - 光吸収計測装置用サンプルホルダー - Google Patents
光吸収計測装置用サンプルホルダーInfo
- Publication number
- JPH0915213A JPH0915213A JP7160311A JP16031195A JPH0915213A JP H0915213 A JPH0915213 A JP H0915213A JP 7160311 A JP7160311 A JP 7160311A JP 16031195 A JP16031195 A JP 16031195A JP H0915213 A JPH0915213 A JP H0915213A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- sample holder
- light
- optical absorption
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光吸収計測装置に用いるサンプルホルダーで
あって、簡便に固体サンプルとの音響的な接触条件を一
定に保つことが可能であり、その結果、計測の信頼性及
び効率を向上させることができる光吸収計測装置用サン
プルホルダーを提供すること。 【構成】 サンプル7に光6を照射したときの光吸収に
起因するサンプル7の体積変化により発生する音響信号
を計測することで、サンプル7の光吸収を計測する光吸
収計測装置に用いられるサンプルホルダー1であり、前
記サンプル7の弾性支持部材2を用いたサンプルの吸引
5保持機構を備えた光吸収計測装置用サンプルホルダー
1。
あって、簡便に固体サンプルとの音響的な接触条件を一
定に保つことが可能であり、その結果、計測の信頼性及
び効率を向上させることができる光吸収計測装置用サン
プルホルダーを提供すること。 【構成】 サンプル7に光6を照射したときの光吸収に
起因するサンプル7の体積変化により発生する音響信号
を計測することで、サンプル7の光吸収を計測する光吸
収計測装置に用いられるサンプルホルダー1であり、前
記サンプル7の弾性支持部材2を用いたサンプルの吸引
5保持機構を備えた光吸収計測装置用サンプルホルダー
1。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光吸収計測装置用サン
プルホルダーに関する。
プルホルダーに関する。
【0002】
【従来の技術】様々な光応用技術の進展に伴い、光学計
測の要求は益々高度化している。特に近年の傾向とし
て、可視光に比べて波長が非常に長い、あるいは短い光
における物性評価に関心が集まっている。例えば、超短
波長の光では、各種エキシマレーザなどが微細加工やリ
ソグラフに用いられており、光学素子などの計測評価が
不可欠になりつつある。
測の要求は益々高度化している。特に近年の傾向とし
て、可視光に比べて波長が非常に長い、あるいは短い光
における物性評価に関心が集まっている。例えば、超短
波長の光では、各種エキシマレーザなどが微細加工やリ
ソグラフに用いられており、光学素子などの計測評価が
不可欠になりつつある。
【0003】光学素子などで要求される評価項目のう
ち、重要な項目の一つは、光の吸収である。光の吸収計
測では一般に、光学的に直接測定する方法(光強度を光
センサで検出する方式)がとられているが、この方法に
は限界がある。即ち、光源光が短波長(200nm以
下)の場合に、現状では安定した光源や光量測定法が確
立されておらず、特に微小な吸収量(微小な光量差)を
みるときに大きく安定性がおちる。
ち、重要な項目の一つは、光の吸収である。光の吸収計
測では一般に、光学的に直接測定する方法(光強度を光
センサで検出する方式)がとられているが、この方法に
は限界がある。即ち、光源光が短波長(200nm以
下)の場合に、現状では安定した光源や光量測定法が確
立されておらず、特に微小な吸収量(微小な光量差)を
みるときに大きく安定性がおちる。
【0004】また、エキシマレーザ等のパルスレーザを
用いると、その検出にあたって、光センサの応答速度が
遅いことに起因する問題点が生じることもある。さら
に、吸収量のみを光学的方法で分離測定することは困難
であり、必ず表面等での散乱量を含んだ値として検出さ
れる。そこで、従来の光学的方法によらない、微小な光
吸収量を測定する方法がいくつか提案、実行されてい
る。その多くは、光の吸収を無輻射遷移である熱として
計測する方法である。
用いると、その検出にあたって、光センサの応答速度が
遅いことに起因する問題点が生じることもある。さら
に、吸収量のみを光学的方法で分離測定することは困難
であり、必ず表面等での散乱量を含んだ値として検出さ
れる。そこで、従来の光学的方法によらない、微小な光
吸収量を測定する方法がいくつか提案、実行されてい
る。その多くは、光の吸収を無輻射遷移である熱として
計測する方法である。
【0005】代表的な方法は、カロリメトリとして知ら
れている、サンプルの光吸収による温度上昇を熱電対な
どの温度計測手段で直接測定する方法である。また、温
度上昇によりサンプル或いはその近傍雰囲気に生じた変
形及び(変形の)緩和によって発生する音響信号を検出
し、それから光吸収量を逆算する光音響測定法と呼ばれ
る方法もある。
れている、サンプルの光吸収による温度上昇を熱電対な
どの温度計測手段で直接測定する方法である。また、温
度上昇によりサンプル或いはその近傍雰囲気に生じた変
形及び(変形の)緩和によって発生する音響信号を検出
し、それから光吸収量を逆算する光音響測定法と呼ばれ
る方法もある。
【0006】更に最近では、吸収加熱により生ずるサン
プル或いはその近傍の屈折率分布や変位を光によって検
出(光ビームの偏向や光路差の検出など)する方法も盛
んに行われている。この中で、音響測定を行う光音響測
定法(以下、光音響法と略称する場合がある)は比較的
簡便に行なえ、測定感度も高いことから、液体、粉体、
薄膜材料などに広く試みられている。
プル或いはその近傍の屈折率分布や変位を光によって検
出(光ビームの偏向や光路差の検出など)する方法も盛
んに行われている。この中で、音響測定を行う光音響測
定法(以下、光音響法と略称する場合がある)は比較的
簡便に行なえ、測定感度も高いことから、液体、粉体、
薄膜材料などに広く試みられている。
【0007】この方法では、サンプル或いはその近傍雰
囲気において、断続光の照射による加熱冷却で生じた体
積変化である音響をマイクロフォンや、サンプルまたは
サンプルホルダーにとりつけた圧電素子トランスデュー
サなどにより電気信号に変換して検出する。かかる電気
信号の強度または位相などの解析により、物質の無輻射
遷移に関するさまざまな情報を得ることができるが、音
響波の大きさは通常、熱エネルギー(即ち、光吸収量)
に比例するので(詳しい理論は、例えば論文J.Appl.Phy
s, vol.47,No1, pp64. J.Appl.Phys, vol.51,No6, pp33
43. Can.J.Phys,vol.64,pp147 など参照)、ここから光
の吸収量を算出できる。
囲気において、断続光の照射による加熱冷却で生じた体
積変化である音響をマイクロフォンや、サンプルまたは
サンプルホルダーにとりつけた圧電素子トランスデュー
サなどにより電気信号に変換して検出する。かかる電気
信号の強度または位相などの解析により、物質の無輻射
遷移に関するさまざまな情報を得ることができるが、音
響波の大きさは通常、熱エネルギー(即ち、光吸収量)
に比例するので(詳しい理論は、例えば論文J.Appl.Phy
s, vol.47,No1, pp64. J.Appl.Phys, vol.51,No6, pp33
43. Can.J.Phys,vol.64,pp147 など参照)、ここから光
の吸収量を算出できる。
【0008】この方法によれば、微小な吸収であって
も、光強度の大きなものを用いることによって検出信号
量を大きくでき、感度のよい測定が可能になる。光音響
法は、物質の無輻射遷移過程の解析などの分析方法とし
て用いられるとともに、光吸収量の測定法として、その
感度や測定の簡便性の点から注目されている。
も、光強度の大きなものを用いることによって検出信号
量を大きくでき、感度のよい測定が可能になる。光音響
法は、物質の無輻射遷移過程の解析などの分析方法とし
て用いられるとともに、光吸収量の測定法として、その
感度や測定の簡便性の点から注目されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】光吸収量を光音響法で
測定する場合の大きな問題点の一つは、信号強度の音波
伝搬条件依存性である。音響波の強度は、吸収箇所から
の音波伝搬条件で変化するため、サンプルへの光照射条
件が同じでも、サンプル(及びその光照射部分である音
響発生源)と音響検知素子の距離や、途中の音響接合条
件により、異なってくる。そのため、別個のサンプル間
における信号強度を比較するときには、注意を要する。
測定する場合の大きな問題点の一つは、信号強度の音波
伝搬条件依存性である。音響波の強度は、吸収箇所から
の音波伝搬条件で変化するため、サンプルへの光照射条
件が同じでも、サンプル(及びその光照射部分である音
響発生源)と音響検知素子の距離や、途中の音響接合条
件により、異なってくる。そのため、別個のサンプル間
における信号強度を比較するときには、注意を要する。
【0010】マイクロフォンによる遠隔測定では、比較
的サンプルからの音響伝搬についての再現性がとりやす
く、信号の規格化は容易である。また、液体サンプルや
気体サンプルでの測定では、それらを封入するセルと、
光源光、および音響検知素子のセッティングを一定に保
つことにより、信号強度の再現性をとることが可能であ
る。
的サンプルからの音響伝搬についての再現性がとりやす
く、信号の規格化は容易である。また、液体サンプルや
気体サンプルでの測定では、それらを封入するセルと、
光源光、および音響検知素子のセッティングを一定に保
つことにより、信号強度の再現性をとることが可能であ
る。
【0011】しかし、ガラス基板上に作成した薄膜サン
プルなどの固体サンプルの測定において、信号強度とし
て大きな接触タイプの音響検出を行なおうとすると、そ
の音響伝搬条件を一定に保つことは容易ではないという
問題点がある。ここで、特に重要なことは、固体サンプ
ルと、音響検知素子またはサンプルホルダーとの接触部
分の接触条件であり、サンプル交換の際に接触部分にお
ける音響の伝搬条件(即ち、接触条件)が異なると、信
号強度が変化するという問題点がある。
プルなどの固体サンプルの測定において、信号強度とし
て大きな接触タイプの音響検出を行なおうとすると、そ
の音響伝搬条件を一定に保つことは容易ではないという
問題点がある。ここで、特に重要なことは、固体サンプ
ルと、音響検知素子またはサンプルホルダーとの接触部
分の接触条件であり、サンプル交換の際に接触部分にお
ける音響の伝搬条件(即ち、接触条件)が異なると、信
号強度が変化するという問題点がある。
【0012】例えば、固体サンプルとサンプルホルダー
(または音響検知素子)との直接的な押さえつけにより
両者の接触をとると、サンプルおよびホルダー(または
音響検知素子)はリジッドな固体であることが一般的で
あるため、その表面の凹凸(又は汚れ)により僅かな空
隙層ができる。そのため、音響的な接触条件を一定に保
つことは困難であり、信号強度が大きくずれて(ばらつ
いて)、計測の信頼性が低下するという問題点があるこ
とを我々は確認している。
(または音響検知素子)との直接的な押さえつけにより
両者の接触をとると、サンプルおよびホルダー(または
音響検知素子)はリジッドな固体であることが一般的で
あるため、その表面の凹凸(又は汚れ)により僅かな空
隙層ができる。そのため、音響的な接触条件を一定に保
つことは困難であり、信号強度が大きくずれて(ばらつ
いて)、計測の信頼性が低下するという問題点があるこ
とを我々は確認している。
【0013】また、音響マッチング材としてよく用いら
れるグリース等により両者の接触をとった場合、押さえ
つけを注意深く行なわないと、このマッチング材層の厚
さやサンプルとの接触状態が変化して音響強度が大きく
ずれる(ばらつく)ことが多くなり、その結果、計測の
信頼性が低下するという問題点がある。グリース等を用
いた場合の問題点は他にもある。即ち、この場合、サン
プルセッティングの際に、グリース等がサンプルやホル
ダーに付着するので、サンプル交換の度に、サンプルや
ホルダーの洗浄及びマッチング材の塗布(補給)を行な
う必要があり、計測効率が低下するという問題点があ
る。
れるグリース等により両者の接触をとった場合、押さえ
つけを注意深く行なわないと、このマッチング材層の厚
さやサンプルとの接触状態が変化して音響強度が大きく
ずれる(ばらつく)ことが多くなり、その結果、計測の
信頼性が低下するという問題点がある。グリース等を用
いた場合の問題点は他にもある。即ち、この場合、サン
プルセッティングの際に、グリース等がサンプルやホル
ダーに付着するので、サンプル交換の度に、サンプルや
ホルダーの洗浄及びマッチング材の塗布(補給)を行な
う必要があり、計測効率が低下するという問題点があ
る。
【0014】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、光吸収計測装置に用いるサンプルホルダー
であって、簡便に固体サンプルとの音響的な接触条件を
一定に保つことが可能であり、その結果、計測の信頼性
及び効率を向上させることができる光吸収計測装置用サ
ンプルホルダーを提供することを目的とする。
ものであり、光吸収計測装置に用いるサンプルホルダー
であって、簡便に固体サンプルとの音響的な接触条件を
一定に保つことが可能であり、その結果、計測の信頼性
及び効率を向上させることができる光吸収計測装置用サ
ンプルホルダーを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明は第一
に「サンプルに光を照射したときの光吸収に起因するサ
ンプルの体積変化により発生する音響信号を計測するこ
とで、サンプルの光吸収を計測する光吸収計測装置に用
いられるサンプルホルダーであり、前記サンプルの弾性
支持部材を用いたサンプルの吸引保持機構を備えた光吸
収計測装置用サンプルホルダー(請求項1)」を提供す
る。
に「サンプルに光を照射したときの光吸収に起因するサ
ンプルの体積変化により発生する音響信号を計測するこ
とで、サンプルの光吸収を計測する光吸収計測装置に用
いられるサンプルホルダーであり、前記サンプルの弾性
支持部材を用いたサンプルの吸引保持機構を備えた光吸
収計測装置用サンプルホルダー(請求項1)」を提供す
る。
【0016】また、本発明は第二に「音響計測センサー
が音響整合をとられた状態にて設けられていることを特
徴とする請求項1記載の光吸収計測装置用サンプルホル
ダー(請求項2)」を提供する。また、本発明は第三に
「照射光の光路を遮らないように構成及び/または配置
されてなることを特徴とする請求項1または2記載の光
吸収計測装置用サンプルホルダー(請求項3)」を提供
する。
が音響整合をとられた状態にて設けられていることを特
徴とする請求項1記載の光吸収計測装置用サンプルホル
ダー(請求項2)」を提供する。また、本発明は第三に
「照射光の光路を遮らないように構成及び/または配置
されてなることを特徴とする請求項1または2記載の光
吸収計測装置用サンプルホルダー(請求項3)」を提供
する。
【0017】また、本発明は第四に「前記サンプルホル
ダーを構成する部材であり、前記サンプルを透過した照
射光の光路上に位置する部材に、該照射光に対する吸
収、散乱に相当する損失が0.1 %以下の材料を用いたこ
とを特徴とする請求項1または2記載の光吸収計測装置
用サンプルホルダー(請求項4)」を提供する。また、
本発明は第五に「前記部材には、前記照射光の反射を防
止する処理が施されてなることを特徴とする請求項4記
載の光吸収計測装置用サンプルホルダー(請求項5)」
を提供する。
ダーを構成する部材であり、前記サンプルを透過した照
射光の光路上に位置する部材に、該照射光に対する吸
収、散乱に相当する損失が0.1 %以下の材料を用いたこ
とを特徴とする請求項1または2記載の光吸収計測装置
用サンプルホルダー(請求項4)」を提供する。また、
本発明は第五に「前記部材には、前記照射光の反射を防
止する処理が施されてなることを特徴とする請求項4記
載の光吸収計測装置用サンプルホルダー(請求項5)」
を提供する。
【0018】また、本発明は第六に「サンプル位置決め
機構を設けたことを特徴とする請求項1〜5記載の光吸
収計測装置用サンプルホルダー(請求項6)」を提供す
る。
機構を設けたことを特徴とする請求項1〜5記載の光吸
収計測装置用サンプルホルダー(請求項6)」を提供す
る。
【0019】
【作用】本発明にかかる光吸収計測装置用サンプルホル
ダー及び光吸収計測装置について図面を引用して説明す
るが、本発明はかかる図面の例に限定されるものではな
い。図面に例示した光吸収計測装置においては、光源か
らの光が各種光学系により集光されて、サンプルに照射
されるシステムとなっている。照射にあたっては、適切
な光量調節部分で照射光強度(光量)を変化させ、また
その照射光強度を分岐光路においてモニタし、さらに照
射光強度と音響信号との相関から光吸収量を算出するシ
ステムである。
ダー及び光吸収計測装置について図面を引用して説明す
るが、本発明はかかる図面の例に限定されるものではな
い。図面に例示した光吸収計測装置においては、光源か
らの光が各種光学系により集光されて、サンプルに照射
されるシステムとなっている。照射にあたっては、適切
な光量調節部分で照射光強度(光量)を変化させ、また
その照射光強度を分岐光路においてモニタし、さらに照
射光強度と音響信号との相関から光吸収量を算出するシ
ステムである。
【0020】図1の例では、測定サンプル7はガラス基
板上に形成した薄膜である。基板の材料と大きさはとも
に一定であり、また十分に平滑な基板面を有する。基板
が測定光を吸収する量は、測定すべき薄膜が測定光を吸
収する量に対して十分小さいことが好ましい。この例で
は、円形ペレット状のガラス基板としている。サンプル
基板7は、例えば図1に示すように、サンプルホルダー
1にセッティングされるにあたり、Oリング(弾性支持
部材の一例、例えばバイトン等のゴム製のOリング)2
に支持された状態における吸引装置からの吸引5(弾性
支持部材を用いた吸引保持機構の一例)により保持され
る。
板上に形成した薄膜である。基板の材料と大きさはとも
に一定であり、また十分に平滑な基板面を有する。基板
が測定光を吸収する量は、測定すべき薄膜が測定光を吸
収する量に対して十分小さいことが好ましい。この例で
は、円形ペレット状のガラス基板としている。サンプル
基板7は、例えば図1に示すように、サンプルホルダー
1にセッティングされるにあたり、Oリング(弾性支持
部材の一例、例えばバイトン等のゴム製のOリング)2
に支持された状態における吸引装置からの吸引5(弾性
支持部材を用いた吸引保持機構の一例)により保持され
る。
【0021】吸引装置としては、例えば油回転式ポンプ
等の一般的な真空排気用ポンプを使用すればよい。サン
プル7を吸引保持する前に予め、弾性支持部材2のサン
プル7との接触面から、ごみや汚れ等を拭き取ってお
き、接触面を清浄面に保持することが好ましい。従っ
て、サンプル交換の作業は、接触面が汚れないように、
できるだけ粉塵のない清浄な雰囲気(クリーンルームな
ど)で行なうことが好ましい。
等の一般的な真空排気用ポンプを使用すればよい。サン
プル7を吸引保持する前に予め、弾性支持部材2のサン
プル7との接触面から、ごみや汚れ等を拭き取ってお
き、接触面を清浄面に保持することが好ましい。従っ
て、サンプル交換の作業は、接触面が汚れないように、
できるだけ粉塵のない清浄な雰囲気(クリーンルームな
ど)で行なうことが好ましい。
【0022】Oリング等の弾性支持部材2の材料は、弾
性のある柔軟な材料であるため、サンプル7とホルダー
2の吸引圧着に際し、固体と固体の接触圧着において問
題となる空隙は発生しない。そのため、音響インピーダ
ンスの整合が良好になり、検出する信号強度が大きくな
るとともに、音響伝搬の条件の再現性も良くなるという
効果を有する。
性のある柔軟な材料であるため、サンプル7とホルダー
2の吸引圧着に際し、固体と固体の接触圧着において問
題となる空隙は発生しない。そのため、音響インピーダ
ンスの整合が良好になり、検出する信号強度が大きくな
るとともに、音響伝搬の条件の再現性も良くなるという
効果を有する。
【0023】これに対して、一般的な押さえつけ方法で
ある、ねじやスプリングによるサンプルのホルダーへの
圧着の場合、押さえつけを一様かつ一定にすることが面
倒(ねじのトルクを調節するなど)であったり、押さえ
つけの圧力が変動したりする(スプリングの弱り)こと
が起こるなどの問題がある。しかるに、本願発明にかか
る、サンプル7の弾性支持部材2を用いた吸引保持機構
による押さえつけによれば、大気圧と、吸引した真空圧
の差圧で押さえつけ圧力が決まるので、ある程度以上の
真空度(例えば10-2torr程度)まで真空引きすれ
ば、簡単に押さえつけ条件を一定に保つことができる。
ある、ねじやスプリングによるサンプルのホルダーへの
圧着の場合、押さえつけを一様かつ一定にすることが面
倒(ねじのトルクを調節するなど)であったり、押さえ
つけの圧力が変動したりする(スプリングの弱り)こと
が起こるなどの問題がある。しかるに、本願発明にかか
る、サンプル7の弾性支持部材2を用いた吸引保持機構
による押さえつけによれば、大気圧と、吸引した真空圧
の差圧で押さえつけ圧力が決まるので、ある程度以上の
真空度(例えば10-2torr程度)まで真空引きすれ
ば、簡単に押さえつけ条件を一定に保つことができる。
【0024】従って、本発明の光吸収計測装置用サンプ
ルホルダーは、固体サンプルとの音響的な接触条件を一
定に保つことが可能であり、その結果、計測の信頼性を
向上させることができる。また、吸引のON,OFF
は、弁の開閉などにより簡単に行なうことが可能であ
り、グリース等のマッチング材も不要であるから、マッ
チング材の補給や除去の手間もなく、迅速で簡便な計測
が可能となる。
ルホルダーは、固体サンプルとの音響的な接触条件を一
定に保つことが可能であり、その結果、計測の信頼性を
向上させることができる。また、吸引のON,OFF
は、弁の開閉などにより簡単に行なうことが可能であ
り、グリース等のマッチング材も不要であるから、マッ
チング材の補給や除去の手間もなく、迅速で簡便な計測
が可能となる。
【0025】従って、本発明の光吸収計測装置用サンプ
ルホルダーを用いると、計測効率を向上させることがで
きる。本発明にかかる音響信号の検出は、例えば図1に
示すようなサンプルホルダー1に取り付けた圧電素子
(音響計測センサーの一例)3によって行なわれる。圧
電素子3は、接着剤4等によりホルダー1に強固に固定
されている。これにより、圧電素子3とホルダー1と
は、安定に音響整合がとられ、計測の信頼性が向上す
る。
ルホルダーを用いると、計測効率を向上させることがで
きる。本発明にかかる音響信号の検出は、例えば図1に
示すようなサンプルホルダー1に取り付けた圧電素子
(音響計測センサーの一例)3によって行なわれる。圧
電素子3は、接着剤4等によりホルダー1に強固に固定
されている。これにより、圧電素子3とホルダー1と
は、安定に音響整合がとられ、計測の信頼性が向上す
る。
【0026】即ち、計測の信頼性向上のため、サンプル
ホルダーには、音響計測センサーが音響整合をとられた
状態にて設けられていることが好ましい(請求項2)。
光吸収計測装置による計測の際に留意すべきことの一つ
として、サンプルホルダーと照射光光路の関係がある。
例えば、図1に示すようなサンプルホルダー1と照射光
6光路の関係の場合を考えてみる。この場合には、サン
プル1を透過した後の照射光はサンプルホルダー1の裏
側に位置するサンプルホルダーの構成部材9に到達する
が、この部材9が当該照射光を吸収するような材料であ
ると、ここでも音響を発生するので、音響検出において
雑音として影響を及ぼす可能性がある。
ホルダーには、音響計測センサーが音響整合をとられた
状態にて設けられていることが好ましい(請求項2)。
光吸収計測装置による計測の際に留意すべきことの一つ
として、サンプルホルダーと照射光光路の関係がある。
例えば、図1に示すようなサンプルホルダー1と照射光
6光路の関係の場合を考えてみる。この場合には、サン
プル1を透過した後の照射光はサンプルホルダー1の裏
側に位置するサンプルホルダーの構成部材9に到達する
が、この部材9が当該照射光を吸収するような材料であ
ると、ここでも音響を発生するので、音響検出において
雑音として影響を及ぼす可能性がある。
【0027】そこで、部材9を圧電素子3と音響的にで
きる限り切り離すことが好ましい。そのために、部材9
は、例えば弾性体等の音を伝えにくい材料で構成するこ
とが好ましい。或いは、サンプルホルダーは、照射光の
光路を遮らないように構成及び/または配置されている
ことが好ましい(請求項3)。例えば図2及び図4に示
すように、サンプル7、16の一部のみを吸引保持する
ことで、サンプルホルダー1、23が照射光の光路を遮
らないようにすることができる。
きる限り切り離すことが好ましい。そのために、部材9
は、例えば弾性体等の音を伝えにくい材料で構成するこ
とが好ましい。或いは、サンプルホルダーは、照射光の
光路を遮らないように構成及び/または配置されている
ことが好ましい(請求項3)。例えば図2及び図4に示
すように、サンプル7、16の一部のみを吸引保持する
ことで、サンプルホルダー1、23が照射光の光路を遮
らないようにすることができる。
【0028】或いは、サンプルホルダーを構成する部材
であり、前記サンプルを透過した照射光の光路上に位置
する部材に、該照射光に対する吸収、散乱に相当する損
失が0.1 %以下の材料を用いれば、該部材や近接雰囲気
における音響発生を抑えることができるので好ましい
(請求項4)。また、前記部材により反射した照射光が
再びサンプルまたはホルダーに到達して、そこでの音響
が同様に検出信号に雑音となって影響を及ぼす可能性が
あるので、前記部材の照射光に対する反射率を小さくす
ることが好ましい。
であり、前記サンプルを透過した照射光の光路上に位置
する部材に、該照射光に対する吸収、散乱に相当する損
失が0.1 %以下の材料を用いれば、該部材や近接雰囲気
における音響発生を抑えることができるので好ましい
(請求項4)。また、前記部材により反射した照射光が
再びサンプルまたはホルダーに到達して、そこでの音響
が同様に検出信号に雑音となって影響を及ぼす可能性が
あるので、前記部材の照射光に対する反射率を小さくす
ることが好ましい。
【0029】即ち、前記部材には、前記照射光の反射を
防止する処理が施されてなることが好ましい(請求項
5)。かかる処理としては、例えば部材に薄膜を積層し
て行う反射防止コートなどがある。以上のような構成を
とることにより、照射光によるサンプル以外からの音響
の影響は小さく抑えることができるので、計測の信頼性
がさらに向上する。
防止する処理が施されてなることが好ましい(請求項
5)。かかる処理としては、例えば部材に薄膜を積層し
て行う反射防止コートなどがある。以上のような構成を
とることにより、照射光によるサンプル以外からの音響
の影響は小さく抑えることができるので、計測の信頼性
がさらに向上する。
【0030】なお、本発明のサンプルホルダーには、サ
ンプル位置決め機構を設けることが好ましい(請求項
6)。例えば図1に示すようなガイド(サンプル位置決
め機構の一例)8を設けてサンプル7の位置ぎめを行な
うと、サンプルを交換しても常に同じ位置にサンプルが
正確にセットされ、その結果、計測の信頼性がさらに向
上するので好ましい。
ンプル位置決め機構を設けることが好ましい(請求項
6)。例えば図1に示すようなガイド(サンプル位置決
め機構の一例)8を設けてサンプル7の位置ぎめを行な
うと、サンプルを交換しても常に同じ位置にサンプルが
正確にセットされ、その結果、計測の信頼性がさらに向
上するので好ましい。
【0031】以下、本発明を実施例により更に詳細に説
明するが、本発明はこれらの例に限定されるものではな
い。
明するが、本発明はこれらの例に限定されるものではな
い。
【0032】
【実施例1】図3は本実施例のサンプルホルダー15,
23(図4参照)を用いた光吸収計測装置の概略構成図
であり、この装置を用いて光音響測定を行なった。光源
は、ArFエキシマレーザー(波長193nm)10であ
り、パルス幅が約20nsecのものを用いている。パルス
照射(測定)光は、レンズ光学系12により集光されて
サンプル16に照射され、サンプル面での光径は約2mm
Φである。
23(図4参照)を用いた光吸収計測装置の概略構成図
であり、この装置を用いて光音響測定を行なった。光源
は、ArFエキシマレーザー(波長193nm)10であ
り、パルス幅が約20nsecのものを用いている。パルス
照射(測定)光は、レンズ光学系12により集光されて
サンプル16に照射され、サンプル面での光径は約2mm
Φである。
【0033】照射光の強度は、光学系12に挿入したズ
ームレンズにより調節されており、また照射光強度は石
英ガラス13の反射を用いた分岐光路において、光セン
サ(バイプラナ型フォトマルチプライヤ)14によりモ
ニタされている。サンプル16を透過した光は、戻りを
防ぐために、吸収体18でブロックされる。なお、吸収
体18は、弾性体等の音を伝えにくい材料で構成するこ
とが好ましい。
ームレンズにより調節されており、また照射光強度は石
英ガラス13の反射を用いた分岐光路において、光セン
サ(バイプラナ型フォトマルチプライヤ)14によりモ
ニタされている。サンプル16を透過した光は、戻りを
防ぐために、吸収体18でブロックされる。なお、吸収
体18は、弾性体等の音を伝えにくい材料で構成するこ
とが好ましい。
【0034】照射光は、酸素中において発生するオゾン
により吸収されるので、光学系は窒素パージされたチャ
ンバー11内に配置されている。サンプルホルダー23
は、アルミ製であり、図4に示すような、Oリング32
のガイド溝26、26’を25mmΦと15mmΦにて
二重に設けた円筒タイプである。また、ガイド溝26、
26’の間に、吸引用の穴27が設けてある。
により吸収されるので、光学系は窒素パージされたチャ
ンバー11内に配置されている。サンプルホルダー23
は、アルミ製であり、図4に示すような、Oリング32
のガイド溝26、26’を25mmΦと15mmΦにて
二重に設けた円筒タイプである。また、ガイド溝26、
26’の間に、吸引用の穴27が設けてある。
【0035】バイトンOリング32をガイド溝26、2
6’にそれぞれセットした後、サンプル16をサンプル
ホルダー23にセットして、ホルダー23の吸引口から
油回転ポンプで吸引24する機構になっている。サンプ
ル16は、30mmΦで厚さ2mmの円形ペレット状の
石英ガラス基板(測定波長光透過)上に薄膜を1μm以
下の厚さにて形成したものであり、サンプルホルダー2
3に設けたガイド(サンプル位置決め機構の一例)28
により、サンプルホルダー23の常に決まった位置にセ
ットされるようになっている。
6’にそれぞれセットした後、サンプル16をサンプル
ホルダー23にセットして、ホルダー23の吸引口から
油回転ポンプで吸引24する機構になっている。サンプ
ル16は、30mmΦで厚さ2mmの円形ペレット状の
石英ガラス基板(測定波長光透過)上に薄膜を1μm以
下の厚さにて形成したものであり、サンプルホルダー2
3に設けたガイド(サンプル位置決め機構の一例)28
により、サンプルホルダー23の常に決まった位置にセ
ットされるようになっている。
【0036】音響信号は、圧電材料であるPZT(ジル
コン酸チタン酸鉛)31に、アルミナの受信板30を付
けた構成のセンサー(音響計測センサーの一例)により
検出する。センサーは感熱接着材29によりホルダー2
3に固定されており、センサーとホルダは、安定に音響
整合がとられている。このようにしてセットされたサン
プル16に、ズームレンズ12を駆動して光強度を変え
ながら光照射を行ない、光モニターセンサー14の出力
(電圧)を計測する。
コン酸チタン酸鉛)31に、アルミナの受信板30を付
けた構成のセンサー(音響計測センサーの一例)により
検出する。センサーは感熱接着材29によりホルダー2
3に固定されており、センサーとホルダは、安定に音響
整合がとられている。このようにしてセットされたサン
プル16に、ズームレンズ12を駆動して光強度を変え
ながら光照射を行ない、光モニターセンサー14の出力
(電圧)を計測する。
【0037】信号は適切なフィルタリングをされて雑音
を除かれる。この例では、音響のメインの周波数が10
0kHZ程度であり、この付近の波長を選択して(FF
T19による)記録している。音響信号22’及び光強
度信号22は、ズームレンズ12を制御しているコンピ
ュータ20により、連動して計測される。
を除かれる。この例では、音響のメインの周波数が10
0kHZ程度であり、この付近の波長を選択して(FF
T19による)記録している。音響信号22’及び光強
度信号22は、ズームレンズ12を制御しているコンピ
ュータ20により、連動して計測される。
【0038】計測(照射)波長における吸収が約5%の
薄膜を基板上に形成したサンプルを本実施例のサンプル
ホルダー23にセットして、図3の計測装置を用いて計
測した結果を図5に示す。図5において、入射(照射)
光強度と信号強度は線形関係にあり、傾きが吸収係数を
表している。同一サンプルを付け換えて計測した結果、
計測値は同一の直線上にのり(3回目以降の計測でも同
様であり)、本実施例のサンプルホルダー23を用いた
計測が再現性にすぐれていることが実証された。
薄膜を基板上に形成したサンプルを本実施例のサンプル
ホルダー23にセットして、図3の計測装置を用いて計
測した結果を図5に示す。図5において、入射(照射)
光強度と信号強度は線形関係にあり、傾きが吸収係数を
表している。同一サンプルを付け換えて計測した結果、
計測値は同一の直線上にのり(3回目以降の計測でも同
様であり)、本実施例のサンプルホルダー23を用いた
計測が再現性にすぐれていることが実証された。
【0039】図6は、アルミ製のサンプルホルダーにシ
リコングリースを介してサンプルをセットした他は本実
施例と同様にして、同一サンプルの付け換えを行って計
測した結果を示す。この結果と比較すると、本実施例の
サンプルホルダー23を用いた計測が再現性に極めてす
ぐれていることが判る。
リコングリースを介してサンプルをセットした他は本実
施例と同様にして、同一サンプルの付け換えを行って計
測した結果を示す。この結果と比較すると、本実施例の
サンプルホルダー23を用いた計測が再現性に極めてす
ぐれていることが判る。
【0040】
【実施例2】図7は本実施例のサンプルホルダー23’
の概略断面図である。このサンプルホルダー23’を用
いて、実施例1と同様の計測を行なった。このホルダー
23’では、Oリング32一つで、サンプル16を固定
しておりサンプル16を透過した測定光は、吸引セル中
に進入した後、部材34に入射する。
の概略断面図である。このサンプルホルダー23’を用
いて、実施例1と同様の計測を行なった。このホルダー
23’では、Oリング32一つで、サンプル16を固定
しておりサンプル16を透過した測定光は、吸引セル中
に進入した後、部材34に入射する。
【0041】この部材34は、合成石英ガラスでできて
おり、照射光(193nm)に対する吸収率が0.1 %/
cm以下、散乱率が0.2 %/cm以下であり、厚さを約
3mmとしているので、損失は0.1 %以下である。さら
に、該部材34の表面には193nm波長用の反射防止
コート35がなされている。こうすることにより、サン
プルホルダー23’にサンプルをセットしていないとき
の信号は、測定時(サンプルをセットしたとき)と比較
して0.1 %以下に抑えることができた。また、測定結果
は実施例1と同様に、良好な再現性が得られた。
おり、照射光(193nm)に対する吸収率が0.1 %/
cm以下、散乱率が0.2 %/cm以下であり、厚さを約
3mmとしているので、損失は0.1 %以下である。さら
に、該部材34の表面には193nm波長用の反射防止
コート35がなされている。こうすることにより、サン
プルホルダー23’にサンプルをセットしていないとき
の信号は、測定時(サンプルをセットしたとき)と比較
して0.1 %以下に抑えることができた。また、測定結果
は実施例1と同様に、良好な再現性が得られた。
【0042】以上の実施例では、例えば、単一波長のパ
ルスレーザを照射する測定系を一例として示している
が、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば連
続発振レーザを間欠的に照射する測定系においても適用
できるものである。
ルスレーザを照射する測定系を一例として示している
が、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば連
続発振レーザを間欠的に照射する測定系においても適用
できるものである。
【0043】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明の光吸収計
測装置用サンプルホルダーによれば、簡便に固体サンプ
ルとの音響的な接触条件を一定に保つことが可能であ
り、その結果、計測の信頼性及び効率を向上させること
ができる。
測装置用サンプルホルダーによれば、簡便に固体サンプ
ルとの音響的な接触条件を一定に保つことが可能であ
り、その結果、計測の信頼性及び効率を向上させること
ができる。
【図1】は、本発明のサンプルホルダーの一例を示す概
略断面図(上)及び概略正面図(下)である。
略断面図(上)及び概略正面図(下)である。
【図2】は、本発明のサンプルホルダーの別例であり、
照射光の光路上に部材を配置しない構成のサンプルホル
ダーの一例を示す概略断面図(上)及び概略正面図
(下)である。
照射光の光路上に部材を配置しない構成のサンプルホル
ダーの一例を示す概略断面図(上)及び概略正面図
(下)である。
【図3】は、実施例における計測に用いた光吸収計測装
置の概略構成図である。
置の概略構成図である。
【図4】は、実施例1のサンプルホルダーを示す概略断
面図(上)及び概略正面図(下)である。
面図(上)及び概略正面図(下)である。
【図5】は、実施例1のサンプルホルダーを用いて行っ
た光吸収計測の結果を示すデータ図である。
た光吸収計測の結果を示すデータ図である。
【図6】は、グリースを介してサンプルを保持する従来
のサンプルホルダーを用いて行った光吸収計測の結果を
示すデータ図である。
のサンプルホルダーを用いて行った光吸収計測の結果を
示すデータ図である。
【図7】は、実施例2のサンプルホルダーを示す概略断
面図(上)及び概略正面図(下)である。
面図(上)及び概略正面図(下)である。
1・・筒状サンプルホルダー 2・・Oリング(弾性支持部材の一例) 3・・圧電素子(音響計測センサーの一例) 4・・接着剤 5・・真空ポンプによる吸引 6・・計測光(照射光) 7・・測定サンプル 8・・サンプルガイド(サンプル位置決め機構の一例) 9・・サンプルホルダー裏面部材 10・・ArFエキシマレーザ光源 11・・窒素パージチェンバー 12・・光量調節光学系(ズームレンズを含む) 13・・石英ガラス板 14・・光量モニタセンサ 15・・サンプルホルダー 16・・薄膜測定サンプル 17・・音響検出素子(音響計測センサーの一例) 18・・光ブロック吸収体 19・・アンプ、周波数選別装置(FFT) 20・・パーソナルコンピュータ 21・・ズームレンズ制御を表す。 22・・光信号(または光信号の取込みを表す) 22’・・音響信号(または音響信号の取込みを表す) 23・・アルミ製サンプルホルダー 24・・油回転ポンプからの吸引 25・・ArFレーザ光 26・・外側Oリング溝 26’・・内側Oリング溝 27・・吸引口 28・・サンプルガイド(サンプル位置決め機構の一
例) 29・・感熱接着剤 30・・アルミナ受信板 31・・PZT圧電素子(音響計測センサーの一例) 32・・バイトンOリング(弾性支持部材の一例) 33・・Oリング溝 34・・石英ガラス 35・・反射防止コート 以 上
例) 29・・感熱接着剤 30・・アルミナ受信板 31・・PZT圧電素子(音響計測センサーの一例) 32・・バイトンOリング(弾性支持部材の一例) 33・・Oリング溝 34・・石英ガラス 35・・反射防止コート 以 上
Claims (6)
- 【請求項1】 サンプルに光を照射したときの光吸収に
起因するサンプルの体積変化により発生する音響信号を
計測することで、サンプルの光吸収を計測する光吸収計
測装置に用いられるサンプルホルダーであり、前記サン
プルの弾性支持部材を用いたサンプルの吸引保持機構を
備えた光吸収計測装置用サンプルホルダー。 - 【請求項2】 音響計測センサーが音響整合をとられた
状態にて設けられていることを特徴とする請求項1記載
の光吸収計測装置用サンプルホルダー。 - 【請求項3】 照射光の光路を遮らないように構成及び
/または配置されてなることを特徴とする請求項1また
は2記載の光吸収計測装置用サンプルホルダー。 - 【請求項4】 前記サンプルホルダーを構成する部材で
あり、前記サンプルを透過した照射光の光路上に位置す
る部材に、該照射光に対する吸収、散乱に相当する損失
が0.1 %以下の材料を用いたことを特徴とする請求項1
または2記載の光吸収計測装置用サンプルホルダー。 - 【請求項5】 前記部材には、前記照射光の反射を防止
する処理が施されてなることを特徴とする請求項4記載
の光吸収計測装置用サンプルホルダー。 - 【請求項6】 サンプル位置決め機構を設けたことを特
徴とする請求項1〜5記載の光吸収計測装置用サンプル
ホルダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7160311A JPH0915213A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 光吸収計測装置用サンプルホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7160311A JPH0915213A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 光吸収計測装置用サンプルホルダー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0915213A true JPH0915213A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15712221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7160311A Pending JPH0915213A (ja) | 1995-06-27 | 1995-06-27 | 光吸収計測装置用サンプルホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0915213A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011232327A (ja) * | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Kofukin Seimitsu Kogyo (Shenzhen) Yugenkoshi | 吸着治具 |
| CN102854254A (zh) * | 2012-10-11 | 2013-01-02 | 西安永电电气有限责任公司 | 一种igbt超声检测工装 |
| JP2014209063A (ja) * | 2013-04-16 | 2014-11-06 | 横河電機株式会社 | 分光分析装置 |
| CN105619512A (zh) * | 2014-08-27 | 2016-06-01 | 朱保生 | 一种电线电缆用哑铃片及其制作方法 |
-
1995
- 1995-06-27 JP JP7160311A patent/JPH0915213A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011232327A (ja) * | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Kofukin Seimitsu Kogyo (Shenzhen) Yugenkoshi | 吸着治具 |
| CN102854254A (zh) * | 2012-10-11 | 2013-01-02 | 西安永电电气有限责任公司 | 一种igbt超声检测工装 |
| JP2014209063A (ja) * | 2013-04-16 | 2014-11-06 | 横河電機株式会社 | 分光分析装置 |
| CN105619512A (zh) * | 2014-08-27 | 2016-06-01 | 朱保生 | 一种电线电缆用哑铃片及其制作方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7521257B2 (en) | Chemical sensor with oscillating cantilevered probe and mechanical stop | |
| US8746039B2 (en) | Cantilevered probes having piezoelectric layer, treated section, and resistive heater, and method of use for chemical detection | |
| US8220318B2 (en) | Fast microscale actuators for probe microscopy | |
| CN111788482A (zh) | 用于分析物质的装置和方法 | |
| US4683750A (en) | Thermal acoustic probe | |
| CN114868007B (zh) | 包括光学换能器的光声或光热检测器 | |
| JP6025074B2 (ja) | 被測定対象の熱輻射測定装置、及び被測定対象の熱輻射測定方法 | |
| US5673114A (en) | Apparatus for measuring optical absorption of sample and sample holder applicable to the same | |
| JP2000199736A (ja) | 走査型近視野顕微鏡 | |
| JPWO2005090909A1 (ja) | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 | |
| US20250102352A1 (en) | Monolithic optical pressure sensors and transducers | |
| JP4388559B2 (ja) | 走査型近視野顕微鏡 | |
| JP2007170960A (ja) | 熱弾性特性測定装置、熱弾性特性測定方法 | |
| JP2009210277A (ja) | 光熱分光法及び光熱分光装置 | |
| JPH10177012A (ja) | 光吸収測定装置及びその測定方法 | |
| JPH0915214A (ja) | 光吸収計測装置用サンプルホルダー | |
| JPH0989650A (ja) | 光量計測装置 | |
| JPH0961405A (ja) | 光吸収計測装置 | |
| JP5627472B2 (ja) | カンチレバーホルダ及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 | |
| JP2005091119A (ja) | 微小領域熱物性解析方法及び装置 | |
| JP2000074783A (ja) | 光学測定方法及び光学測定装置 | |
| JPH1164296A (ja) | 光吸収測定方法及び光吸収測定装置 | |
| JPH09152373A (ja) | 光量計測装置 | |
| JPH09126994A (ja) | 光吸収測定装置 | |
| Ushio et al. | Optical loss estimation of coatings at the ArF excimer laser wavelength |