JPH09161539A - 導電性組成物およびそれを用いたセラミック電子部品 - Google Patents

導電性組成物およびそれを用いたセラミック電子部品

Info

Publication number
JPH09161539A
JPH09161539A JP31530895A JP31530895A JPH09161539A JP H09161539 A JPH09161539 A JP H09161539A JP 31530895 A JP31530895 A JP 31530895A JP 31530895 A JP31530895 A JP 31530895A JP H09161539 A JPH09161539 A JP H09161539A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parts
weight
conductive composition
glass frit
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31530895A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshito Otsubo
喜人 大坪
Hisashi Wada
久志 和田
Hirohisa Oya
裕久 大矢
Toshiaki Sugimura
俊明 杉村
Tooru Ebuchi
徹 江渕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP31530895A priority Critical patent/JPH09161539A/ja
Publication of JPH09161539A publication Critical patent/JPH09161539A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 メッキ処理を行っても基板と電極間の高い接
合強度を保持することが可能な導電性組成物を提供す
る。 【解決手段】 (A)銀粉末と、(B)SiO2、MO
(但し、MはBaを含有するか、またはBaを含有しか
つZn、Pbのうち少なくとも1種を含有する)、およ
びRO(但し、Rはアルカリ金属、またはBaを除くア
ルカリ土類金属のうち少なくとも1種を含有する)から
なるガラスフリットと、(C)有機ビヒクルとを含有す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、導電性組成物に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、セラミック電子部品の厚膜電
極は、導電粉末とガラスフリットとを有機ビヒクルによ
りペースト化した導電性組成物を、スクリーン印刷等を
用いて基板に塗布、乾燥させた後、焼き付けを行うこと
により形成されている。
【0003】ところで、このガラスフリットには珪酸鉛
や珪酸亜鉛等が用いられていたが、この場合、ガラスフ
リット中の鉛や亜鉛がメッキ液中、特にクエン酸水素二
アンモニウム等の錯化剤に溶出してしまうため、メッキ
後の電極強度が劣化するという問題があった。
【0004】そこで、上記のような問題を解決するた
め、次のような方法が考えられている。 (1)錯化剤をガラス成分を溶解しないものに変更す
る。
【0005】(2)セラミック誘電体層と化学的反応層
(ケミカルボンド)を形成するようなガラスフリット、
あるいは無機バインダーを用いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の方法
では、次のような問題があった。すなわち、(1)の場
合には、メッキ液自体の種類を見直す必要があり、コス
ト的にも有用でない。また、(2)の場合には、技術的
難度が高く、汎用性に乏しい。
【0007】本発明の目的は、メッキ処理を行っても基
板と電極間の高い接合強度を保持することが可能な導電
性組成物を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記のような
課題を解決するべく、導電性組成物を完成するに至っ
た。本発明の導電性組成物は、(A)銀粉末と、(B)
SiO2、MO(但し、MはBaを含有するか、またはB
aを含有しかつZn、Pbのうち少なくとも1種を含有
する)、およびRO(但し、Rはアルカリ金属、または
Baを除くアルカリ土類金属のうち少なくとも1種を含
有する)からなるガラスフリットと、(C)有機ビヒク
ルとを含有することに特徴がある。
【0009】また、本発明の導電性組成物においては、
(B)のガラスフリットは、Al23を含有してもよ
い。
【0010】また、本発明の導電性組成物においては、
(B)のガラスフリットは、B23を含有してもよい。
【0011】また、本発明の導電性組成物においては、
(B)のガラスフリット中の組成の配合量を限定するの
であれば、SiO2100重量部に対して、Al23
1〜60重量部含有することが好ましい。
【0012】また、本発明の導電性組成物においては、
(B)のガラスフリット中の組成の配合量を限定するの
であれば、SiO2100重量部に対して、B23を1
〜60重量部含有することが好ましい。
【0013】また、本発明の導電性組成物においては、
(B)のガラスフリット中の組成の配合量を限定するの
であれば、SiO2100重量部に対して、MOとして
含有される金属酸化物の合計の配合量が15〜60重量
部の範囲内であることが好ましい。
【0014】また、本発明の導電性組成物においては、
(B)のガラスフリット中の組成の配合量を限定するの
であれば、SiO2100重量部に対して、ROとして
含有される金属酸化物の合計の配合量が14〜30重量
部の範囲内であることが好ましい。
【0015】また、本発明のセラミック電子部品は、セ
ラミック素体と、セラミック素体に上記いずれかに記載
の導電性組成物を焼き付けた厚膜電極とを備えているこ
とに特徴がある。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。本発明の導電性組成物は、(A)銀粉末
と、(B)SiO2、MO(但し、MはBaを含有する
か、またはBaを含有しかつZn、Pbのうち少なくと
も1種を含有する)、およびRO(但し、Rはアルカリ
金属、またはBaを除くアルカリ土類金属のうち少なく
とも1種を含有する)からなるガラスフリットと、
(C)有機ビヒクルとを含有している。従って、これら
の成分を焼き付け形成された厚膜電極は、メッキ処理を
行っても基板と電極間の高い接合強度を保持することが
可能となる。
【0017】本発明の導電性組成物に用いられる(A)
銀粉末は、銀粉の形状、粒径などには特に限定されな
い。例えば、形状は球形状、扁平状など、どのような形
状のものであっても使用でき、もちろん互いに異なる形
状のものを混合して用いても構わない。
【0018】本発明の導電性組成物に用いられる(B)
ガラスフリットは、例えば、本発明の導電性組成物がセ
ラミック電子部品の製造に用いられる場合には、焼き付
けられた厚膜電極とセラミック素体とを強固に結合させ
るための成分である。
【0019】このガラスフリットは、上述したように、
SiO2、MO(但し、MはBaを含有するか、またはB
aを含有しかつZn、Pbのうち少なくとも1種を含有
する)、およびRO(但し、Rはアルカリ金属、または
Baを除くアルカリ土類金属のうち少なくとも1種を含
有する)を配合している。
【0020】なお、MOについては、BaOを必須成分
として配合することによって、ガラスフリットのメッキ
液への溶出を低減するという効果が顕著となる。なお、
ROについては、Li、Na、K、Ca等であれば特に
限定されない。
【0021】また、このガラスフリットは、耐メッキ性
向上のためにAl23を配合してもよいし、あるいは、
ガラスの軟化点を下げるためにB2O3を配合してもよ
い。この場合にも、ガラスフリット成分中において、S
iO2の配合比が最も高くなるように配合されている。
【0022】次に、上記ガラスフリットの組成比率につ
いて説明する。MOにおいては、SiO2100重量部
に対して、MOとして含有される金属酸化物の合計の配
合量が15〜60重量部の範囲内であることが好まし
い。配合量が15重量部未満の場合には、ガラスの軟化
点が高くなるので好ましくない。一方、60重量部を越
える場合には、ガラスフリットのメッキ液への溶出が起
こり、メッキ処理後、電極強度が劣化してしまうので好
ましくない。
【0023】さらに好ましくは、MOとして含有される
金属酸化物の合計の配合量が15〜60重量部の範囲内
であって、ZnOもしくはPbOの配合量が10重量部
未満の場合である。例えば、MOとしてZnOを含有す
る場合には、配合量が多いと溶出量も多くなることを実
験により確認している。
【0024】なお、MOの合計の配合量としてより好ま
しくは、実施例に示すように、MOとして含有される金
属酸化物の合計の配合量が19〜52重量部の範囲内で
ある。
【0025】また、ROにおいては、SiO2100重
量部に対して、ROとして含有される金属酸化物の合計
の配合量が14〜30重量部の範囲内であることが好ま
しい。アルカリ金属の酸化物の場合において、含有量が
14重量部未満の場合には、ガラスフリットの作業温度
が高くなるので好ましくない。一方、30重量部を越え
る場合には、ガラスフリットの耐水性が悪くなり好まし
くない。また、アルカリ土類金属の酸化物の場合におい
て、14重量部未満の場合には、ガラスフリットの安定
化が悪く好ましくない。一方、30重量部を越える場合
には、ガラスフリットの軟化温度が高くなり好ましくな
い。なお、より好ましくは、実施例に示すように28〜
30重量部の範囲内である。
【0026】また、Al23を含有する場合において
は、SiO2100重量部に対して、1〜60重量部含
有することが好ましい。含有量が60重量部を越える場
合には、ガラス化しにくくなり、軟化温度も高くなるの
で好ましくない。なお、より好ましくは、実施例に示す
ように9〜26重量部の範囲内である。
【0027】また、B23を含有する場合においては、
SiO2100重量部に対して、1〜60重量部含有す
ることが好ましい。含有量が60重量部を越える場合に
は、ガラスフリットのメッキ液への溶出が起こり、メッ
キ処理後、電極強度が劣化してしまうので好ましくな
い。B23については、配合量が多くなればなるほど溶
出量が多くなることを実験により確認している。なお、
より好ましくは、実施例に示すように15〜20重量部
の範囲内である。
【0028】上記ガラスフリットの使用量は、本発明の
導電性組成物を用いる物品に応じて変更すればよく、従
って、必ずしも限定する必要はないが、例えば、本発明
の導電性組成物がセラミック発振子の製造に用いられる
場合には、本発明の導電性組成物中の銀粉末100重量
部に対して、2〜10重量部含有することが好ましい。
使用量が2重量部未満の場合には、電極とセラミックと
の密着強度が劣化してしまうので好ましくない。一方、
10重量部を越える場合には、メッキ付き性が劣化して
しまうので好ましくない。
【0029】本発明の導電性組成物に用いられる(C)
有機ビヒクルは、上記(A)銀粉末、(B)ガラスフリ
ットの成分をペースト化するための成分であり、このよ
うな有機ビヒクルは特に限定されない。好ましい具体例
としては、例えば、エチルセロロース樹脂、アルキッド
樹脂などを樹脂成分とし、テルペン系溶剤、グリコール
系溶剤などを有機溶剤として、樹脂成分の濃度が5〜1
0%になるように溶解したものなどが挙げられる。
【0030】上記有機ビヒクルの使用量は、本発明の導
電性組成物を用いる物品に応じて変更すればよく、従っ
て、必ずしも限定する必要はないが、例えば、本発明の
導電性組成物がセラミック電子部品の製造に用いられる
場合には、本発明の導電性組成物中の銀粉末100重量
部に対して、30〜150重量部含有することが好まし
い。使用量が30重量部未満の場合には、ペースト化が
困難となり好ましくない。一方、150重量部を越える
場合には、銀粉末の分散が悪く、適切な導電性が得られ
ないので好ましくない。
【0031】本発明の導電性組成物は、これら上記の成
分をあらかじめ混合し、混練させてペースト化すること
により、容易に作製することができる。
【0032】このようにして作製された本発明の導電性
組成物は、セラミック素体に印刷し、焼き付けてメッキ
処理を施した場合、メッキ液へのガラス溶出量が低減で
きる。また、テープ剥離試験においてもほとんど剥離す
ることなく、従来のものより優れた接合強度を有するも
のである。さらに、耐湿試験後にテープ剥離試験を行っ
ても、ほとんど剥離することなく、従来のものより優れ
た接合強度を維持するものである。
【0033】また、本発明の導電性組成物を用いてセラ
ミック電子部品の厚膜電極を製造する場合には、従来の
導電性組成物を用いる方法と同様の方法で用いればよ
く、例えば、上記のようにして得られたペーストをセラ
ミック素体上にスクリーン印刷し、100〜200℃で
3〜10分間乾燥させた後、750〜900℃で10〜
20分間焼き付けを行えばよい。
【0034】このようにして製造されたセラミック電子
部品は、電子部品の特性を劣化させることなく、メッキ
処理後の電極強度を大きく向上させることができる。
【0035】次に、本発明を実施例に基づき、さらに具
体的に説明するが、本発明はかかる実施例のみに限定さ
れるものではない。
【0036】
【実施例】以下、本実施例の導電性組成物をセラミック
電子部品である圧電電子部品に用いた場合について説明
する。図1は、圧電電子部品の概略構造を示す分解斜視
図である。図1に示すように、対向する主表面上に振動
電極1が形成された短冊形状の圧電振動子2と、この圧
電振動子2の端部2aそれぞれを主表面側から挟持して
接着されることによって、中央部2bを振動可能に支持
する一対の保持枠体3とが一体化されてなる圧電振動体
4、およびこの圧電振動体4を挟み込んで収納する一対
のケース体5を備えて構成されたものがある。そして、
保持枠体3のそれぞれはアルミナなどのセラミック材料
を用いて作製されたものであり、金属酸化物を焼結して
得られた圧電性セラミックからなる圧電振動子2の主表
面と対面することによって、振動空間となる開口部3a
が形成された平面視「コ」字形状とされている。
【0037】また、ケース体5のそれぞれはセラミック
材料や絶縁性樹脂材料からなっており、これらの内側表
面には圧電振動子2の振動を確保するための凹部5aが
それぞれ形成されている。さらに、圧電振動子2の主表
面上に形成された振動電極1のそれぞれは圧電振動子2
の互いに異なる端部2aにまで延出されており、各々の
振動電極1は圧電振動体4を挟み込んで接着されたケー
ス体5の互いに異なる端面上に形成された引き出し電極
(図示せず。)とそれぞれ接続されることによって導通
している。
【0038】このような圧電電子部品の振動電極1が本
発明に係る導電性組成物を焼き付け形成された焼結膜か
らなる厚膜電極である。
【0039】次に、本発明に係る導電性組成物について
詳述する。表1に、本実施例である実施例1〜実施例3
の導電性組成物のガラスフリットの組成比率(単位:重
量部)を、また、表2に、ガラスフリットの溶出量(単
位:μg)を示す。なお、比較例として、比較例1〜比
較例3の組成比率、溶出量を表1および表2に併せて示
す。
【0040】
【表1】
【0041】
【表2】
【0042】ここで、上記ガラスフリットの溶出量の測
定方法について説明する。まず、このペースト状のガラ
スフリット(グレーズフリット)をセラミック基板にス
クリーン印刷した。次に、この印刷基板を810℃で焼
成した。そして、110g/lの錯化剤(クエン酸水素
二アンモニウム)50mlをビーカーに入れ、恒温槽中
で35℃に保ち、その中に上記印刷基板を各実施例毎に
2枚ずつ入れて60分放置した。60分後基板を取り出
し、取り出し後の錯化剤液を原子吸光およびICP−A
ESにより、ガラス成分溶出量の定量を行った。
【0043】次に、表3に、本実施例である実施例1−
1〜実施例1−3、および実施例2−1の導電性組成物
の組成比率、および圧電電子部品の振動電極に用いた場
合の電極剥離数について示す。なお、比較例として、比
較例2−1、比較例3−1の場合についても表3に併せ
て示す。ここで、実施例1−1〜実施例1−3は、表1
中の実施例1のガラスフリットを用いており、実施例2
−1は、表1中の実施例2のガラスフリットを用いてい
る。また、比較例2−1は、表1中の比較例2のガラス
フリットを用いており、比較例3−1は、表1中の比較
例3のガラスフリットを用いている。
【0044】
【表3】
【0045】なお、本実施例では、銀粉末としては、平
均粒径1〜5μmの球形状の銀粉末を100重量部用い
ている。
【0046】また、有機ビヒクルとしては、エチルセル
ロース樹脂とアルキッド樹脂とを樹脂成分の濃度が8%
となるようにテルペン系溶剤に溶解した有機ビヒクルを
銀粉末100重量部に対して45重量部用いている。
【0047】ここで、上記圧電電子部品の電極剥離数の
測定方法について説明する。まず、上記導電性組成物を
圧電電子部品の振動電極としてスクリーン印刷した。次
に、この印刷基板を810℃で焼成した。そして、錯化
剤(クエン酸水素二アンモニウム)液を40℃にし、上
記焼成基板を60分間浸漬した。次に、テープを銀電極
膜に貼り付け、テープを剥がした後、電極が剥がれるか
どうか調べた。
【0048】実施例1−1〜実施例1−3は、いずれも
1枚も剥離することなく良好であった。また、実施例2
−1は、少し剥離したが実用上問題はなかった。一方、
比較例2−1は、すべてが剥離し不良であった。また、
比較例3−1は、ほとんどが剥離し不良であった。
【0049】次に、表4に、本実施例である実施例1−
1〜実施例1−3を圧電電子部品の振動電極に用いた場
合の耐湿試験後の電極剥離数について示す。なお、比較
例として、比較例3−1の場合についても表4に併せて
示す。
【0050】
【表4】
【0051】ここで、上記セラミック発振子の耐湿試験
後の電極剥離数の測定方法について説明する。まず、上
記導電性組成物を圧電電子部品の振動電極としてスクリ
ーン印刷した。次に、この印刷基板を810℃で焼成し
た。そして、耐湿試験(121℃、2atm、100%
RH、20hr放置)を行った。次に、テープを銀電極
膜に貼り付け、テープを剥がした後、電極が剥がれるか
どうか調べた。
【0052】実施例1−1〜実施例1−3は、いずれも
1枚も剥離することなく良好であった。一方、比較例3
−1は、ほとんどが剥離してしまい不良であった。
【0053】
【発明の効果】本発明の導電性組成物を用いれば、電極
形成時のメッキ処理後もメッキ液へのガラス溶出量が低
減できるとともに、優れた電極接合強度を維持すること
が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の導電性組成物を用いて厚膜電極を形成
した圧電電子部品の概略構造を示す分解斜視図。
【符号の説明】
1 振動電極 2 圧電振動子 2a 端部 2b 中央部 3 保持枠体 4 圧電振動体 5 ケース体 5a 凹部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉村 俊明 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 (72)発明者 江渕 徹 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)銀粉末と、(B)SiO2、MO
    (但し、MはBaを含有するか、またはBaを含有しか
    つZn、Pbのうち少なくとも1種を含有する)、およ
    びRO(但し、Rはアルカリ金属、またはBaを除くア
    ルカリ土類金属のうち少なくとも1種を含有する)から
    なるガラスフリットと、(C)有機ビヒクルと、を含有
    することを特徴とする導電性組成物。
  2. 【請求項2】 前記(B)のガラスフリットは、Al2
    3を含有することを特徴とする請求項1に記載の導電
    性組成物。
  3. 【請求項3】 前記(B)のガラスフリットは、B23
    を含有することを特徴とする請求項1または請求項2に
    記載の導電性組成物。
  4. 【請求項4】 前記(B)のガラスフリットは、前記S
    iO2100重量部に対して、Al23を1〜60重量
    部含有することを特徴とする請求項2に記載の導電性組
    成物。
  5. 【請求項5】 前記(B)のガラスフリットは、前記S
    iO2100重量部に対して、B23を1〜60重量部
    含有することを特徴とする請求項3に記載の導電性組成
    物。
  6. 【請求項6】 前記(B)のガラスフリットは、前記S
    iO2100重量部に対して、MOを15〜60重量部
    含有することを特徴とする請求項1から請求項5のいず
    れかに記載の導電性組成物。
  7. 【請求項7】 前記(B)のガラスフリットは、前記S
    iO2100重量部に対して、ROを14〜30重量部
    含有することを特徴とする請求項1から請求項6のいず
    れかに記載の導電性組成物。
  8. 【請求項8】 セラミック素体と、前記セラミック素体
    に請求項1から請求項7のいずれかに記載の導電性組成
    物を焼き付けた厚膜電極とを備えていることを特徴とす
    るセラミック電子部品。
JP31530895A 1995-12-04 1995-12-04 導電性組成物およびそれを用いたセラミック電子部品 Pending JPH09161539A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31530895A JPH09161539A (ja) 1995-12-04 1995-12-04 導電性組成物およびそれを用いたセラミック電子部品

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31530895A JPH09161539A (ja) 1995-12-04 1995-12-04 導電性組成物およびそれを用いたセラミック電子部品

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09161539A true JPH09161539A (ja) 1997-06-20

Family

ID=18063841

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31530895A Pending JPH09161539A (ja) 1995-12-04 1995-12-04 導電性組成物およびそれを用いたセラミック電子部品

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09161539A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007084384A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Seiko Epson Corp セラミックス電子部品の製造方法およびセラミックス電子部品
JP2008543080A (ja) * 2005-06-03 2008-11-27 フエロ コーポレーション 鉛フリー太陽電池コンタクト
WO2009122806A1 (ja) * 2008-03-31 2009-10-08 三菱電機株式会社 低温焼成セラミック回路基板
JP2010006702A (ja) * 2009-10-14 2010-01-14 Shoei Chem Ind Co 導体ペースト

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008543080A (ja) * 2005-06-03 2008-11-27 フエロ コーポレーション 鉛フリー太陽電池コンタクト
JP2007084384A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Seiko Epson Corp セラミックス電子部品の製造方法およびセラミックス電子部品
WO2009122806A1 (ja) * 2008-03-31 2009-10-08 三菱電機株式会社 低温焼成セラミック回路基板
US8298448B2 (en) 2008-03-31 2012-10-30 Mitsubishi Electric Corporation Low temperature co-fired ceramic circuit board
JP2010006702A (ja) * 2009-10-14 2010-01-14 Shoei Chem Ind Co 導体ペースト

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5561587A (en) Conductive paste and multilayer ceramic capacitor
US20010016252A1 (en) Conductive paste and ceramic electronic device using the same
JP3018866B2 (ja) 積層電子部品の外部電極用卑金属組成物
US4160227A (en) Thermistor composition and thick film thermistor
JP3297531B2 (ja) 導電性ペースト
JP3419321B2 (ja) セラミック電子部品およびその製造方法
JPH0239410A (ja) セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物
JPH087645A (ja) 導電性ペーストおよび積層セラミックコンデンサ
JPH0834168B2 (ja) セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物
JPH0950708A (ja) 導電性ペースト及び積層セラミック電子部品
JPH08138969A (ja) 電子部品の製造方法
JPS60264383A (ja) 非酸化物系セラミツク配線板の製造方法
JP3003405B2 (ja) 導電ペースト及びそれを用いたセラミック電子部品の電極形成方法
US5707555A (en) Conductive paste and external electrodes for electronic product formed using same
JPH02227908A (ja) フェライトチップ部品
JPS6315866A (ja) 厚膜ペ−スト用導電性組成物
JP3318299B2 (ja) Pbフリー低温焼成型導電塗料
JP2968316B2 (ja) 積層型セラミックコンデンサ
JPH05182514A (ja) 導電ペースト組成物
JPH0817136B2 (ja) セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物
JPS6340326B2 (ja)
JPH0817141B2 (ja) セラミックコンデンサ端子電極用導電性組成物
JPH08148031A (ja) 導電性ペースト
JPH06103810A (ja) 導電ペースト
JP3760359B2 (ja) 半導体セラミックコンデンサ用導電性組成物および半導体セラミックコンデンサ