JPH09171900A - プラズマ発生装置 - Google Patents

プラズマ発生装置

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JPH09171900A
JPH09171900A JP7331988A JP33198895A JPH09171900A JP H09171900 A JPH09171900 A JP H09171900A JP 7331988 A JP7331988 A JP 7331988A JP 33198895 A JP33198895 A JP 33198895A JP H09171900 A JPH09171900 A JP H09171900A
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plasma
microwave
dielectric
chamber
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JP7331988A
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Kaoru Taki
薫 滝
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、プラズマの活性種密度を広い面積に
おいて均一にかつ高くする。 【解決手段】プラズマチャンバ1内にマイクロ波導入窓
3を通してマイクロ波を導入し、プラズマチャンバ1内
に封入された媒質ガスを励起してプラズマを発生させる
プラズマ発生装置において、マイクロ波導入窓3に隣接
したプラズマチャンバ1の内壁に誘電体30を取り付け
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラズマの発生領
域を改善したプロセスのプラズマ発生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】マイクロ波を用いたプロセスプラズマ装
置としては、例えばエッチング装置やアッシング装置が
ある。このようなプロセスプラズマ装置は、媒質ガスを
圧力数Pa〜数10Paで反応容器に導入するとともに
この反応容器内にマイクロ波電力を導入して媒質ガスを
励起してプラズマ化し、このプラズマで生成されたラジ
カルやイオン等の活性種により被加工物である例えば基
板をエッチング又はアッシングする構成となっている。
【0003】そして、このプロセスプラズマ装置では、
例えば基板に対して広い領域を処理するために、広い面
積で均一なプラズマを生成することが要求されている。
図6はかかるプロセスプラズマ装置の構成図である。
【0004】プラズマチャンバ1の上部には、開口部2
が形成されている。このプラズマチャンバ1の開口部2
には、プラズマ波導入窓3が設けられ、さらにマイクロ
波をプラズマチャンバ1内に導入するためのマイクロ波
導波管4が設けられている。
【0005】なお、マイクロ波導波管4は、マイクロ波
放出口5がプラズマ波導入窓3を介してプラズマチャン
バ1の開口部2に対応する位置に設けられている。この
マイクロ波導波管4には、図示しないマイクロ波発生回
路が接続されている。
【0006】プラズマ波導入窓3は、マイクロ波を効率
よくプラズマチャンバ1内に導入するために例えば石
英、アルミナセラミックの誘電体で形成されている。
又、プラズマチャンバ1の側面には、例えばO2 、CF
4 などの媒質ガスをプラズマチャンバ1内に供給するた
めのガス供給口6が設けられている。
【0007】一方、プラズマチャンバ1の下部には、プ
ロセスチャンバ7が連結されている。このプロセスチャ
ンバ7内には、加工対象を搭載するための加工ステージ
8が設けられ、かつ下部にガスを排気するためのガス排
気口9が設けられている。
【0008】このような構成であれば、マイクロ波発生
回路で発生したマイクロ波は、マイクロ波導波管4を伝
播してマイクロ波放出口5から放出され、プラズマ波導
入窓3を透過してプラズマチャンバ1内に導入される。
【0009】このマイクロ波は、プラズマチャンバ1内
に封入されている媒質ガスを励起し、プラズマ10を発
生させる。このプラズマ10の発生により活性種が生成
され、この活性種は、プロセスチャンバ7の排気口9に
向かうガスの流れに運ばれて加工ステージ8上に搭載さ
れた基板をプロセス加工する。
【0010】ここで、マイクロ波で生成されるプラズマ
10のサイズは、開口部2よりも小さくなる。これは、
プラズマチャンバ1が金属で形成され、この金属表面で
の電界がゼロとなり、この金属表面ではプラズマが生成
されないことと、開口部2の近傍で生成されたプラズマ
中のイオンが金属表面に伝わる電子と再結合し、消滅す
ることによる。
【0011】このようにプラズマ10の存在領域が開口
部2よりも小さいために、加工ステージ8面での活性種
密度の分布は、図6に示すように中央部で高く、開口部
2の周辺部でプラズマ10のに損失が大きくなって低く
なる。
【0012】このようにプラズマ10の活性種密度の分
布であることから、プロセスにおいて、被加工物の加工
量、加工形状は、活性種の密度によって決まるため、加
工状態は基板の面内で不均一となる問題が発生する。
【0013】これを回避するために、プロセスを行う領
域を活性種密度の低下しない領域、すなわち図6に示す
点線内の領域Eに限定して使用している。このため、プ
ロセスの加工範囲が装置サイズよりも小さく、大きな領
域での加工を行うためには大きな装置が必要となる。
又、開口部2面でのプラズマ損失も大きく、生成された
プラズマが有効に活用されない。
【0014】一方、マイクロ波を用いたプラズマ処理装
置としては、例えば特開平6−104210号公報に記
載されている技術がある。図7はかかるプラズマ処理装
置の構成図である。マグネトロン20の設けられた導波
管21の開口部には、石英窓22を介して処理室23が
設けられている。
【0015】この処理室23の側面の外部には、コイル
24が配置され、かつ内部には試料25を搭載する試料
台26が設けられている。又、処理室23の側面には、
ガス配管27が設けられている。
【0016】この処理室23内の石英窓22には、この
処理室23内を分割するように複数の誘電体28が突出
して設けられている。このような構成であれば、マグネ
トロン20により発生したマイクロ波は、導波管21内
を伝播し、石英窓22を透過して処理室23内に入射さ
れる。
【0017】この場合、処理室23内の各誘電体28
は、石英窓22に接続され、かつ大きく突出した状態で
配置されているので、マイクロ波により生成されたプラ
ズマを分割し、これによりプラズマをあまり減衰するこ
となく、プラズマ密度がほぼ均一になる。
【0018】しかしながら、プラズマ10の存在領域を
大きくするものでなく、狭い領域での均一化のみを図る
ものである。従って、大きな領域での加工を行うために
は大きな装置が必要となる。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】以上のようにプラズマ
10の存在領域が開口部2よりも小さいために、プロセ
スを行う領域を活性種密度の低下しない領域に限定して
使用しているため、プロセスの加工範囲が装置サイズよ
りも小さく、大きな領域での加工を行うためには大きな
装置が必要となる。又、開口部2面でのプラズマ損失も
大きく、生成されたプラズマが有効に活用されない。
【0020】又、一方の装置でもプラズマ10の存在領
域を大きくするものでなく、大きな領域での加工を行う
ためには大きな装置が必要となる。そこで本発明は、プ
ラズマの活性種密度を広い面積において均一にかつ高く
できるプラズマ発生装置を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、反応
容器内にマイクロ波導入窓を通してマイクロ波を導入
し、反応容器内に封入された媒質ガスを励起してプラズ
マを発生させるプラズマ発生装置において、少なくとも
マイクロ波導入窓の近傍に反応容器の内壁に誘電体を取
り付けたプラズマ発生装置である。
【0022】このようなプラズマ発生装置であれば、反
応容器内にマイクロ波導入窓を通して反応容器内にマイ
クロ波が導入されると、このマイクロ波は、マイクロ波
導入窓に隣接した反応容器の内壁に設けられた誘電体の
表面に沿って表面波として伝播し、これによりプラズマ
の存在領域は広がる。又、誘電体は導電性がないので、
その表面からは電子が供給されず、再結合が発生しずら
くなり、プラズマの損失はきわめて小さくなる。
【0023】請求項2によれば、請求項1記載のプラズ
マ発生装置において、マイクロ波導入窓に連結された反
応容器の開口部に、この反応容器の内部に向かって広が
るテーパ部を形成し、このテーパ部を含む部分に誘電体
を取り付けた。
【0024】このようなプラズマ発生装置であれば、反
応容器の開口部をテーパ部に形成して誘電体を設けたの
で、プラズマの存在領域はさらに広がる。請求項3によ
れば、請求項1記載のプラズマ発生装置において、マイ
クロ波導入窓にスロットアンテナを形成した。
【0025】このようなプラズマ発生装置であれば、マ
イクロ波がスロットアンテナの狭い溝から放射状に伝播
するので、プラズマの存在領域は誘電体面よりも広がり
易くなる。
【0026】
【発明の実施の形態】
(1) 以下、本発明の第1の実施の形態について図面を参
照して説明する。図1は請求項1に対応するプラズマ発
生装置の構成図である。プラズマチャンバ1の上部に
は、開口部2が形成されている。このプラズマチャンバ
1の開口部2には、プラズマ波導入窓3が設けられ、さ
らにマイクロ波をプラズマチャンバ1内に導入するため
のマイクロ波導波管4が設けられている。
【0027】なお、マイクロ波導波管4は、マイクロ波
放出口5がプラズマ波導入窓3を介してプラズマチャン
バ1の開口部2に対応する位置に設けられている。この
マイクロ波導波管4には、図示しないマイクロ波発生回
路が接続されている。
【0028】プラズマ波導入窓3は、マイクロ波を効率
よくプラズマチャンバ1内に導入するために例えば石
英、アルミナセラミックの誘電体で形成されている。こ
のプラズマ波導入窓3に隣接したプラズマチャンバ1の
内壁には、誘電体30が取り付けられている。
【0029】この誘電体30の材料としては、例えばガ
ラス、セラミック等が用いられている。この誘電体30
の取り付け方としては、例えばねじ止め式、はめ込み
式、接着等のいずれの方式であってもよい。又、セラミ
ック等の誘電体をコーティングしたり、又は溶射による
溶接をしてもよい。
【0030】なお、この誘電体30とプラズマ波導入窓
3を形成する誘電体とは、同一誘電率、同一材質を有す
るものが好ましい。又、プラズマチャンバ1の側面に
は、例えばO2 、CF4 などの媒質ガスをプラズマチャ
ンバ1内に供給するためのガス供給口6が設けられてい
る。
【0031】一方、プラズマチャンバ1の下部には、プ
ロセスチャンバ7が連結されている。このプロセスチャ
ンバ7内には、加工対象を搭載するための加工ステージ
8が設けられ、かつ下部にガスを排気するためのガス排
気口9が設けられている。
【0032】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。マイクロ波発生回路で発生したマイクロ
波は、マイクロ波導波管4を伝播してマイクロ波放出口
5から放出され、プラズマ波導入窓3を透過してプラズ
マチャンバ1内に導入される。
【0033】このマイクロ波は、マイクロ波放出口5か
ら放射状に広がり、表面波として誘電体30の表面を伝
播する。すなわち、マイクロ波は、マイクロ波導入窓3
の下面並びに誘電体30の横及び下面に広がる。
【0034】従って、このマイクロ波によりプラズマチ
ャンバ1内に封入されている媒質ガスが励起され、図2
に示すようにマイクロ波導入窓3の下面並びに誘電体3
0の横及び下面に広がったプラズマ31が発生する。
【0035】この場合、誘電体30は、導電性がないの
で、その表面から電子が供給されることはなく、これら
電子とプラズマ中のイオンとの再結合は発生しずらく、
プラズマの損失はきわめて小さくなる。すなわち、プラ
ズマの活性種密度が高くなる。
【0036】このようなプラズマ30の発生により活性
種が生成され、この活性種は、プロセスチャンバ7の排
気口9に向かうガスの流れに運ばれて加工ステージ8上
に搭載された基板をプロセス加工する。
【0037】このような事から、加工ステージ8上面で
の活性種密度(イ)は、図2に示すように従来の活性種
密度(ロ)に比べ、広い面積での均一性が得られるとと
もに密度の絶対値も高くなる。
【0038】このように上記第1の実施の形態において
は、マイクロ波導入窓3に接したプラズマチャンバ1の
内壁に誘電体30を取り付けたので、マイクロ波は、誘
電体30の表面に沿って表面波として伝播し、これによ
りプラズマの活性種密度を広い面積において均一性にで
きるとともに密度の絶対値も高くでき、さらに誘電体3
0は導電性がないことからその表面からは電子が供給さ
れず、プラズマ中のイオンと再結合が発生しずらくな
り、プラズマの損失をきわめて小さくできる。
【0039】従って、加工プロセスに適した範囲を図2
に示す従来の領域Eから本発明の領域Qに広げることが
できる。換言すれば、加工サイズが同一であれば、装置
自体を小型化でき、その分装置のコストを低減できる。
【0040】さらに、全領域での活性種密度を高くでき
るので、加工速度を速くできる。又、誘電体30を取り
付けるだけなので、既存のプラズマ発生装置にも容易に
誘電体30を取り付けて、プラズマの活性種密度を広い
面積において均一性にできるとともに密度の絶対値も高
くできる。 (2) 次に本発明の第2の実施の形態について説明する。
なお、図1と同一部分には同一符号を付してその詳しい
説明は省略する。
【0041】図3は請求項2に対応するプラズマ発生装
置の構成図である。プラズマチャンバ1の開口部32
は、マイクロ波導波管4からプラズマチャンバ1内に向
かう方向に広がるテーパ状(以下、テーパ部32と称す
る)に形成されている。
【0042】このテーパ部32及びこのテーパ部32に
連続するプラズマチャンバ1の内壁には、誘電体33が
取り付けられている。この誘電体33の材料としては、
上記度同様に、例えばガラス、セラミック等が用いら
れ、かつその取り付け方としては、例えばねじ止め式、
はめ込み式、接着等のいずれの方式であってもよい。
又、セラミック等の誘電体をコーティングしたり又は溶
射による溶接をしてもよい。
【0043】このような構成であれば、マイクロ波発生
回路で発生したマイクロ波は、マイクロ波導波管4を伝
播してマイクロ波放出口5から放出され、プラズマ波導
入窓3を透過してプラズマチャンバ1内に導入される。
【0044】このマイクロ波は、マイクロ波放出口5か
ら放射状に広がり、表面波として誘電体33の表面を伝
播し、プラズマチャンバ1内に封入されている媒質ガス
が励起され、プラズマ34が発生する。
【0045】この場合、プラズマチャンバ1の開口部3
2はテーパ状に形成されているので、プラズマ34は、
マイクロ波導入窓3の下面、誘電体33の横及び下面に
広がるとともに、さらにテーパ形状に沿って横方向に広
がる。
【0046】このようなプラズマ33の発生により活性
種が生成され、この活性種は、プロセスチャンバ7の排
気口9に向かうガスの流れに運ばれて加工ステージ8上
に搭載された基板をプロセス加工する。
【0047】このように上記第2の実施の形態において
は、プラズマチャンバ1の開口部32をプラズマチャン
バ1内に向かって広がるテーパ部32に形成し、このテ
ーパ部32及びこのテーパ部32に連続するプラズマチ
ャンバ1の内壁に誘電体33を取り付けたので、マイク
ロ波は、テーパ状の形状の誘電体33の表面に沿って表
面波として伝播し、これによりプラズマの活性種密度を
広い面積において均一性にできるとともに密度の絶対値
も高くでき、さらに誘電体30は導電性がないことから
その表面からは電子が供給されず、プラズマ中のイオン
と再結合が発生しずらくなり、プラズマの損失をきわめ
て小さくできる。
【0048】従って、加工プロセスに適した範囲を従来
の領域よりも広げることができ、かつ全領域での活性種
密度を高くできるので、加工速度を速くできる。又、誘
電体30を取り付けるだけなので、既存のプラズマ発生
装置にも容易に誘電体30を取り付けて、プラズマの活
性種密度を広い面積において均一性にできるとともに密
度の絶対値も高くできる。 (3) 次に本発明の第3の実施の形態について説明する。
なお、図1と同一部分には同一符号を付してその詳しい
説明は省略する。
【0049】図4は請求項3に対応するプラズマ発生装
置の構成図である。マイクロ波導波管4には、マイクロ
波放出口としてのスロットアンテナ35と称する切り溝
が形成されている。
【0050】図4(b) は図4のC−C´方向から見た断
面図であり、スロットアンテナ35が複数、例えば4箇
所に形成されている。このような構成であれば、マイク
ロ波発生回路で発生したマイクロ波は、マイクロ波導波
管4を伝播し、各スロットアンテナ35の切り溝から放
射状に放出され、プラズマ波導入窓3を透過してプラズ
マチャンバ1内に導入される。
【0051】このようにマイクロ波は、スロットアンテ
ナ35から放射状に放出されるので、誘電体30面でよ
り広がりやすくなる。このマイクロ波は、スロットアン
テナ35から放射状に広がり、表面波として誘電体30
の表面を伝播し、プラズマチャンバ1内に封入されてい
る媒質ガスが励起され、プラズマ36が発生する。
【0052】このようなプラズマ36の発生により活性
種が生成され、この活性種は、プロセスチャンバ7の排
気口9に向かうガスの流れに運ばれて加工ステージ8上
に搭載された基板をプロセス加工する。
【0053】このように上記第3の実施の形態において
は、マイクロ波導波管4にマイクロ波放出口としてのス
ロットアンテナ35と称する切り溝を形成したので、マ
イクロ波がスロットアンテナ35から放射状に放出され
ることから誘電体30面でより広がりやすくなり、上記
第1及び第2の実施の形態と同様に、プラズマの活性種
密度を広い面積において均一性にできるとともに密度の
絶対値も高くでき、さらに誘電体30は導電性がないこ
とからその表面からは電子が供給されず、プラズマ中の
イオンと再結合が発生しずらくなり、プラズマの損失を
きわめて小さくできる。
【0054】従って、加工プロセスに適した範囲を従来
の領域よりも広げることができ、かつ全領域での活性種
密度を高くできるので、加工速度を速くできる。又、誘
電体30を取り付けるだけなので、既存のプラズマ発生
装置にも容易に誘電体30を取り付けて、プラズマの活
性種密度を広い面積において均一性にできるとともに密
度の絶対値も高くできる。 (4) 次に本発明の第4の実施の形態について説明する。
【0055】図5はプラズマ発生装置の構成図である。
このプラズマ発生装置は、第1のプラズマ発生装置本体
40と第2のプラズマ発生装置本体50とを配列した構
成となっている。
【0056】第1のプラズマ発生装置本体40は、プラ
ズマチャンバ41の開口部42にプラズマ波導入窓43
が設けられ、このプラズマ波導入窓43にマイクロ波導
波管44が設けられている。
【0057】プラズマ波導入窓43に隣接したプラズマ
チャンバ41の内壁には、誘電体45が取り付けられて
いる。なお、この誘電体45の材料としては、例えばガ
ラス、セラミック等が用いられ、かつその取り付け方と
しては、例えばねじ止め式、はめ込み式、接着等のいず
れの方式であってもよい。又、セラミック等の誘電体を
コーティングしたり又は溶射による溶接をしてもよい。
【0058】一方、第2のプラズマ発生装置本体50
は、プラズマチャンバ51の開口部52にプラズマ波導
入窓53が設けられ、このプラズマ波導入窓53にマイ
クロ波導波管54が設けられている。
【0059】プラズマ波導入窓53に隣接したプラズマ
チャンバ51の内壁には、誘電体55が取り付けられて
いる。なお、この誘電体55の材料としては、誘電体5
5と同様に、例えばガラス、セラミック等が用いられ、
かつその取り付け方としては、例えばねじ止め式、はめ
込み式、接着等のいずれの方式であってもよい。又、セ
ラミック等の誘電体をコーティングしたり又は溶射によ
る溶接をしてもよい。
【0060】なお、プラズマチャンバ41、51の下部
には、プロセスチャンバ7が設けられている。このプロ
セスチャンバ7の内部で加工対象の処理がなされる。こ
のような構成であれば、各マイクロ波導波管44、45
を伝播してきたマイクロ波は、それぞれマイクロ波放出
口から放射状に広がり、表面波として各誘電体45、5
5の表面を伝播する。
【0061】従って、このマイクロ波によりプラズマチ
ャンバ41、51内に封入されている媒質ガスが励起さ
れ、マイクロ波導入窓43、53の下面、各誘電体4
5、55の横及び下面に広がったプラズマ46、56が
発生する。
【0062】このようなプラズマ46、56の発生によ
り活性種が生成され、この活性種は、プロセスチャンバ
7の排気口9に向かうガスの流れに運ばれて加工ステー
ジ8上に搭載された基板をプロセス加工する。
【0063】このような事から、加工ステージ8上面で
の活性種密度は、図5に示すように広い面積での均一性
が得られるとともに密度の絶対値も高くなる。又、誘電
体30を取り付けるだけなので、既存のプラズマ発生装
置にも容易に誘電体30を取り付けて、プラズマの活性
種密度を広い面積において均一性にできるとともに密度
の絶対値も高くできる。
【0064】なお、本発明は、上記各実施の形態に限定
されるものでなく次の通り変形してもよい。例えば、第
4の実施の形態で、プラズマ発生装置本体を1台のみ設
けて、マイクロ波導波管で2か所マイクロ波放出口を設
ける構成としても同様の効果が得られる。
【0065】
【発明の効果】以上詳記したように本発明の請求項1に
よれば、プラズマの活性種密度を広い面積において均一
にかつ高くできるプラズマ発生装置を提供できる。又、
本発明の請求項2によれば、プラズマをマイクロ波導入
窓の下面、誘電体の横及び下面に広がるとともに、さら
にテーパ形状に沿って横方向に広げることができ、プラ
ズマの活性種密度を広い面積において均一にかつ高くで
きるプラズマ発生装置を提供できる。
【0066】又、本発明の請求項3によれば、マイクロ
波をスロットアンテナから放射状に放出して誘電体面で
より広がりやすくなり、プラズマの活性種密度を広い面
積において均一にかつ高くできるプラズマ発生装置を提
供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるプラズマ発生装置の第1の実施
の形態を示す構成図。
【図2】プラズマの活性種密度の広い面積での均一性及
び密度の絶対値を示す図。
【図3】本発明に係わるプラズマ発生装置の第2の実施
の形態を示す構成図。
【図4】本発明に係わるプラズマ発生装置の第3の実施
の形態を示す構成図。
【図5】本発明に係わるプラズマ発生装置の第4の実施
の形態を示す構成図。
【図6】従来のプラズマ発生装置の構成図。
【図7】従来のプラズマ発生装置の構成図。
【符号の説明】
1…プラズマチャンバ、2…開口部、3…プラズマ波導
入窓、4…マイクロ波導波管、5…マイクロ波放出口、
30…誘電体、6…ガス供給口、7…プロセスチャン
バ、8…加工ステージ、9…ガス排気口、32…テーパ
部、33…誘電体、35…スロットアンテナ、40…第
1のプラズマ発生装置本体、50…第2のプラズマ発生
装置本体、41,51…プラズマチャンバ、42,52
…開口部、43,53…プラズマ波導入窓、44,54
…マイクロ波導波管、45,55…誘電体。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 反応容器内にマイクロ波導入窓を通して
    マイクロ波を導入し、前記反応容器内に封入された媒質
    ガスを励起してプラズマを発生させるプラズマ発生装置
    において、 少なくとも前記マイクロ波導入窓の近傍に前記反応容器
    の内壁に誘電体を取り付けたことを特徴とするプラズマ
    発生装置。
  2. 【請求項2】 前記マイクロ波導入窓に連結された前記
    反応容器の開口部に、この反応容器の内部に向かって広
    がるテーパ部を形成し、このテーパ部を含む部分に誘電
    体を取り付けたことを特徴とする請求項1記載のプラズ
    マ発生装置。
  3. 【請求項3】 前記マイクロ波導入窓にスロットアンテ
    ナを形成したことを特徴とする請求項1記載のプラズマ
    発生装置。
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JP (1) JPH09171900A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0827182A3 (en) * 1996-09-02 1998-08-26 Hitachi, Ltd. Surface wave plasma processing apparatus
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CN1795287B (zh) 2003-06-02 2012-07-04 株式会社新柯隆 薄膜形成装置和薄膜形成方法
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JP2023505764A (ja) * 2019-12-10 2023-02-13 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 真空及びマイクロ波環境における温度を測定するための装置

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