JPH09178705A - 液体クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

液体クロマトグラフ質量分析装置

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JPH09178705A
JPH09178705A JP7339576A JP33957695A JPH09178705A JP H09178705 A JPH09178705 A JP H09178705A JP 7339576 A JP7339576 A JP 7339576A JP 33957695 A JP33957695 A JP 33957695A JP H09178705 A JPH09178705 A JP H09178705A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 イオン化部を取り替えたときの誤設定を防止
する。 【解決手段】 インタフェース部30はエレクトロスプ
レーイオン化部31と、大気圧化学イオン化部34とが
互換的に取り付け可能なイオン化手段取付け部33aが
あり、この場所に取り付けられたイオン化部がエレクト
ロスプレーイオン化部31であるか大気圧化学イオン化
部34であるかを識別手段40により識別し、識別手段
40による識別結果に応じてパラメータ設定を自動設定
部41にて自動的に行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フ質量分析装置(以下LC/MSという)に関し、さら
に詳しくはエレクトロスプレーイオン化用プローブと、
大気圧化学イオン化プローブとを選択して取り付けて使
用することができるLC/MSに関する。
【0002】
【従来の技術】LC/MSでは、液体クロマトグラフ部
で分離された成分をイオン化して質量分析部に導入す
る。したがって、分離成分をイオン化するインタフェー
スが必要である。LC/MSに一般的に用いられるイン
タフェースとしては、エレクトロスプレイインタフェー
ス(ESI)や大気圧化学イオン化インタフェース(A
PCI)等、いくつかの種類がある。
【0003】ESI法では液体試料を細いノズルの先端
に送り、そのノズルの先端に高電圧を印加する。これに
よりノズル先端には強い不平等電界が形成され、この強
い電界により液体試料が帯電液滴として噴霧され、更
に、液滴内でのイオンのクーロン反発力により液滴の分
裂が進行してイオン化が行われる。
【0004】一方、APCI法ではネブライザ(霧化
器)においてガス流により液体試料を強制噴霧し、これ
を加熱することにより液滴の脱溶媒化を行った後、コロ
ナ放電により生成したバッファイオンにより試料のイオ
ン化(化学イオン化)を行う。図3は従来からのLC/
MSの一般的な構成を示す図である。10は液体クロマ
トグラフ部、20は質量分析部である。30はインタフ
ェース部で、本図のものはESI法を用いたエレクトロ
スプレーイオン化部31を有している。エレクトロスプ
レーイオン化部31は、固定部材33により固定され
る。固定部材33は、質量分析部20への試料の入口と
なるパイプ32に対する位置が定まったもので、本図で
は質量分析部20と共用のハウジングを固定部材33と
して用いている。すなわち、ハウジングに設けられた孔
33aがエレクトロスプレーイオン化部31の取り付け
部として機能し、この孔33aにエレクトロスプレーイ
オン化部31を挿入して、図示しない取付用ネジで固定
することにより、エレクトロスプレーイオン化部31の
質量分析部20に対する位置関係が決められる。エレク
トロスプレーイオン化部31のエレクトロスプレープロ
ーブ31aは液体クロマトグラフ部10から送られてく
る試料液体が通過する細管を有し、パイプ32に対向す
る側の先端はニードル状にしてあり、細管を通過した液
体がニードル先端のノズル部分から噴出されるようにな
っている。そして図示しない高電圧発生回路よりエレク
トロスプレープローブ31aに数KV程度の高電圧が印
加される。このように設定することにより液体クロマト
グラフ部10から送られてくる液体試料は、ニードル先
端のノズル付近に形成された強い電界によりスプレー状
に引き出され、イオンや荷電微小液滴となってパイプ3
2に入る。
【0005】荷電微小液滴はパイプ32内で、図示しな
い巻回されたヒータにより加熱されることにより溶媒が
蒸発し、かつ、他の粒子との衝突等を経ることによりさ
らに微小化してイオン化が促進され、生成されたイオン
がパイプ32から引き出されて質量分析部20の中に送
られる。
【0006】これに対し、APCI法によるイオン化を
行うときは図3のエレクトロスプレーイオン化部31の
代わりに図4に示すような大気圧化学イオン化部34が
固定部材33であるハウジングの孔33aに取り付けら
れる。すなわち、試料液体が通過する細管を有するとと
もに先端がニードル状してあるプローブ34a、プロー
ブ34aのニードル部分を囲むように設けられる霧化室
34b、霧化室の開口部前面に取り付けられる放電電極
34cを具備する大気圧化学イオン化部34が取り付け
られる。霧化室34bを図示しないヒータにより加熱す
るとともに、放電電極34cに数KVの電圧を印加す
る。このようにすることにより、液体クロマトグラフ部
10から送られてくる液体試料は別途にプローブ34a
に接続されたガスラインからの霧化用ガスによりプロー
ブ34aのニードル先端のノズルから霧化室34b内に
噴霧され、ヒータにより脱溶媒化された後放電電極にお
いて生成されるバッファイオンとの接触によりイオン化
される。そして、生成されたイオンは加熱されたパイプ
32を介して前述のESI法と同様にイオン化が促進さ
れつつ、質量分析部20に送られる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来のLC/MSで
は、エレクトロスプレーイオン化部31と、大気圧化学
イオン化部34とのいずれかを測定試料に応じて選択し
て適当な方をインタフェース部に取り付け、そのイオン
化部に応じてパラメータの設定をやり直してから測定を
行うようにしていた。
【0008】このエレクトロスプレーイオン化部と、大
気圧化学イオン化部との交換作業およびその後の設定電
圧等のパラメータ設定は測定者が行うのであるが、その
際、いずれのイオン化部が付けてあるかの判断は測定者
が目視で決定していたため、誤操作をするおそれがあ
り、もしも誤った操作をするとイオン化部を壊してしま
ったり、不適当な設定条件での測定を行うことになっ
た。 本発明は以上のような課題を解決し、イオン化部
の交換の際に、取り付けたイオン化部に応じて正しい設
定を自動的に行い、誤操作をなくすようにしたLC/M
Sを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置
(LC/MS)は、液体クロマトグラフ部と質量分析部
との間に、液体クロマトグラフ部から与えられる液体試
料をイオン化して質量分析部に与えるインタフェース部
を備えた液体クロマトグラフ質量分析装置において、前
記インタフェース部に着脱することができるエレクトロ
スプレーイオン化部および大気圧化学イオン化部と、前
記エレクトロスプレーイオン化部および大気圧化学イオ
ン化部が互換的に取り付け可能なインターフェース部の
イオン化手段取り付け部と、取り付けられたイオン化部
がエレクトロスプレーイオン化部であるか大気圧化学イ
オン化部であるかを識別する識別手段と、識別手段によ
る識別結果に応じてエレクトロスプレーイオン化部ある
いは大気圧化学イオン化部のパラメータ設定をする自動
設定部とを備えたことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明のLC/MSでは、インタ
フェース部には、取り付けられたプローブがエレクトロ
スプレーイオン化部か大気圧化学イオン化部かを識別す
る識別手段が設けられているので、これによりいずれの
イオン化部が取り付けてあるかが識別される。そして、
識別手段の結果に応じてエレクトロスプレーイオン化
部、あるいは大気圧化学イオン化部のそれぞれに適した
設定が自動設定部により自動的に行われる。これによ
り、イオン化部に応じた設定がなされているので、誤操
作による問題がなくなる。
【0011】以下、本発明の実施例を図を用いて説明す
る。図1は本発明の一実施例を示すLC/MSの要部を
示す構成図である。なお、従来例と同じものについては
図3、図4と同符号を付することにより説明を省略す
る。
【0012】図に示すようにインタフェース部30は、
エレクトロスプレーイオン化部31が、ハウジングを利
用した固定部材33の取付部としての孔33aに挿入さ
れている。そして、エレクトロスプレーイオン化部31
のエレクトロスプレープローブ31aのニードル先端付
近にこれと対向して質量分析部20への試料導入路とし
てのパイプ32が取り付けられている。このパイプ32
には図示しないヒータが設けてある。また、図2に示す
ように、エレクトロスプレーイオン化部31と交換する
ことにより、大気圧化学イオン化部34が孔33aに取
り付けることができるようになっている。すなわち、エ
レクトロスプレーイオン化部31と大気圧化学イオン化
部34とはいずれも孔33aに取り付け取り外しが可能
にしてある。インターフェース部30内にはマイクロス
イッチ40が取り付けられており、マイクロスイッチ4
0の接点は、エレクトロスプレーイオン化部31が取り
付けられてあるときはOFFに、大気圧化学イオン化部
34が取り付けてあるときはONになる。すなわち、図
2に示すように大気圧イオン化部34が孔33a挿入さ
れたときにマイクロスイッチの接点が押される一方、図
1に示すようにエレクトロスプレーイオン化部31が取
り付けられたときは接点に当たらないようになってい
る。本実施例では2つのイオン化部の軸方向の長さの違
いを利用してマイクロスイッチの切換を行っているが、
これに限らず、たとえば一方のイオン化部に接点を押す
ための凸部を設けてこれによりスイッチの切換を行って
もよい。要するに片方のイオン化部が取り付けられたと
きだけ接点が押されるようにすればよい。マイクロスイ
ッチ40の接点信号は液体クロマトグラフ質量分析装置
の制御を行うコンピュータのCPU41に送られるよう
に接続されており(図中Aで示す)、マイクロスイッチ
41からの信号によりいずれのイオン化部が接続されて
いるかが識別できるようになっている。CPU41は、
エレクトロスプレーイオン化部31へ高電圧を印加する
ための高圧電源装置や、大気圧化学イオン化部34への
高電圧を印加するための高圧電源装置(エレクトロスプ
レーイオン化部用と共用してもよい)およびヒータ温度
調節装置がケーブルにより接続され、これらの制御をも
行う。
【0013】次に本実施例の動作を説明する。最初にエ
レクトロスプレー部31を孔33aに取り付ける。する
と、CPU41は、マイクロスイッチ40の接点が押さ
れていないことから、現在はエレクトロスプレーイオン
化部31が装着されていると判断し、CPU41から高
圧電源装置への設定電圧信号としてたとえば4KVにす
るための設定信号を送られる。高圧電源装置はこの信号
を受けて設定信号の指示する設定値にパラメータを設定
することになる。
【0014】次に、イオン化部を大気圧化学イオン化部
34に交換すると、マイクロスイッチ40の接点が押さ
れることとなり、これにより、現在は大気圧化学イオン
化部34が装着されていると判断される。そして、CP
U41から高圧電源装置への設定電圧信号としてたとえ
ば5KVにするための設定信号が送られるとともに、ヒ
ータ温度調節装置には設定温度をたとえば摂氏400度
に設定するための設定信号がを送られる。これらの信号
を受けて高圧電源装置および温度調節置はそれぞれの設
定値にパラメータが設定されることになる。
【0015】このように自動設定がなされた上で測定者
が測定を開始するので、イオン化部の交換の際の誤設定
による問題はなくなる。
【0016】
【発明の効果】以上、説明したように本発明のLC/M
Sでは、インタフェース部に取り付けたイオン化部の識
別をする識別手段を設け、識別手段からの信号を受けて
適当なパラメータ設定を自動的に行うようにしたので、
誤設定が生じることがなくなる。したがって、誤設定に
よりイオン化部を破損したり、誤った設定の下で測定す
ることがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である液体クロマトグラフ質
量分析装置のインターフェース部にエレクトロスプレー
イオン化部を取り付けたときの構成図。
【図2】本発明の一実施例である液体クロマトグラフ質
量分析装置のインターフェース部に大気圧化学イオン化
部を取り付けたときの構成図。
【図3】従来からの液体クロマトグラフ質量分析装置の
構成図(ESI法)。
【図4】従来からの液体クロマトグラフ質量分析装置の
構成図(APCI法)。
【符号の説明】
10:液体クロマトグラフ部 20:質量分析部 30:インタフェース部 31:エレクトロスプレーイオン化部 33:固定部材、33a:孔(イオン化手段取付け部) 34:大気圧化学イオン化部 40:マイクロスイッチ(識別手段) 41:CPU(自動設定部)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液体クロマトグラフ部と質量分析部との
    間に、液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料を
    イオン化して質量分析部に与えるインタフェース部を備
    えた液体クロマトグラフ質量分析装置において、前記イ
    ンタフェース部に着脱することができるエレクトロスプ
    レーイオン化部および大気圧化学イオン化部と、前記エ
    レクトロスプレーイオン化部および大気圧化学イオン化
    部が互換的に取り付け可能なインターフェース部のイオ
    ン化手段取り付け部と、取り付けられたイオン化部がエ
    レクトロスプレーイオン化部であるか大気圧化学イオン
    化部であるかを識別する識別手段と、識別手段による識
    別結果に応じてエレクトロスプレーイオン化部あるいは
    大気圧化学イオン化部のパラメータ設定をする自動設定
    部とを備えたことを特徴とする液体クロマトグラフ質量
    分析装置。
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