JPH09190961A - 半導体露光装置の制御方法 - Google Patents

半導体露光装置の制御方法

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JPH09190961A
JPH09190961A JP8001842A JP184296A JPH09190961A JP H09190961 A JPH09190961 A JP H09190961A JP 8001842 A JP8001842 A JP 8001842A JP 184296 A JP184296 A JP 184296A JP H09190961 A JPH09190961 A JP H09190961A
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JP
Japan
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exposure apparatus
test
lot
test exposure
cycle
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Withdrawn
Application number
JP8001842A
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English (en)
Inventor
Ryuichi Nakada
隆一 中田
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 テスト露光処理周期を自動管理することを可
能にし、作業工数を大幅に削減できる半導体露光装置の
制御方法を提供する。 【解決手段】 制御コンピュータ15はテスト露光周期
設定画面15Aを有し、この設定画面15Aより作業者
は、半導体露光装置14で処理可能な各処理工程に対
し、テスト露光設定周期を設定できるようになってい
る。制御コンピュータ15にはソフトウェア上にテスト
露光周期の設定値を記憶するカウンタが設けられてお
り、そのカウンタ値によって、半導体露光装置14に対
し、テスト露光処理を指示するか本ロット処理を指示す
るかを判断する機能と処理を指示した後、カウンタ値を
1つずつデクリメントする機能を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造装置に
係り、特に、半導体露光装置の制御方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の装置の使い方としては、
先ず半導体ウエハを25枚一塊としたロット単位で、処
理する前にロット毎にテスト露光用のテストウエハを1
枚処理した後、そのテストウエハの検査を行い、その結
果、良の判断を得てから、本処理ウエハロット(以後、
本ロットと呼ぶ)の処理を開始するものであった。
【0003】すなわち、図5に示すように、〜′で
1ロット目テスト露光処理を行い、′〜で1ロット
目本ロット処理、〜′で2ロット目テスト露光処理
を行い、′〜で2ロット目本ロット処理、〜′
で3ロット目テスト露光処理を行い、′〜で3ロッ
ト目本ロット処理を行うようにしていた。また、この半
導体露光装置にロットの自動搬送及び装置の自動処理管
理を実施したシステム構成図を図6に示す。
【0004】本ロットを蓄える本ロットストッカー1よ
り、本ロット自動搬送系2を介して、本ロット3が半導
体露光装置4に自動供給される。その時点で、半導体露
光装置4とオンライン状態にある制御コンピュータ5よ
り処理開始の指示が送信される。半導体露光装置4は処
理開始指示を受けると、付帯のパトライト6を点灯さ
せ、作業者に通知する。
【0005】作業者は前述の通り、先ずテスト露光処理
を行い、その後の検査で、結果良を得て、本ロットの処
理を行う。なお、この時のテスト露光処理並びに本ロッ
ト処理の開始は、半導体露光装置操作パネル7にて作業
者が操作を行うことにより実施される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、昨今で
は、半導体露光装置の特性上の向上や、長年の使用実績
により、図7に示すように、最初の本ロット処理の前の
み、テスト露光を行い、一定のテスト露光処理の周期は
あるものの、その周期までは、本ロット処理を連続して
処理しても構わない傾向となってきている。
【0007】それにもかかわらず、従来の自動化システ
ムでは、制御コンピュータの処理開始指示に対し、半導
体露光装置は作業者の操作パネルからの処理(テスト露
光又は本ロット露光処理)操作待ちとなってしまい、ロ
ット処理前に必ず作業者が介在し、処理操作を行わなけ
ればならず、一向に作業者の工数削減につながらないば
かりか、作業者が処理開始操作を行わなければ、装置稼
働に空きが発生するという問題があった。
【0008】本発明は、上記問題点を除去し、テスト露
光処理周期を自動管理することを可能にし、作業工数を
大幅に削減できる半導体露光装置の制御方法を提供する
ことを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 (1)半導体露光装置の制御方法において、前記半導体
露光装置をオンラインにて制御する制御コンピュータに
前記半導体露光装置のテスト露光周期を設定可能にし、
ソフトウェア上に設けたカウンタに、そのテスト露光周
期の設定値を記憶してテスト露光周期を管理し、前記カ
ウンタ値より判断して、前記半導体露光装置にテスト露
光処理開始指示と本ロット処理開始指示を振り分けて通
知するようにしたものである。
【0010】したがって、テスト露光処理周期を自動管
理でき、1ロット目のテスト露光処理が必要なロットに
関しては、半導体露光装置にテスト露光処理開始を指示
し、それ以降のロットについては、次のテスト露光周期
がくるまで、半導体露光装置に本ロット処理開始指示を
送信する。このように、作業者が介在することなしに本
ロット処理を連続して行うことができるので、作業工数
を大幅に削減できる。
【0011】また、作業者の操作忘れによる半導体露光
装置の処理待ち状態をなくし、稼働効率の向上を図るこ
とができる。 (2)半導体露光装置の制御方法において、半導体露光
装置をオンラインにて制御する制御コンピュータに半導
体露光装置のテスト露光周期を設定可能にし、このテス
ト露光周期の設定値を初期値及びカウンタ値としてメモ
リにストアし、テスト露光周期を管理し、前記カウンタ
値より判断して、半導体露光装置にテスト露光処理開始
指示と本ロット処理開始指示を振り分けて通知するよう
にしたものである。
【0012】このように、テスト露光周期の設定値を初
期値及びカウンタ値としてそれぞれメモリ上に記憶し、
初期設定値とカウンタ値をメモリ上にストアしているの
で、制御コンピュータを誤ってリセットしても、クリア
されることがなく、リセット後もテスト露光周期を再度
設定することなく、リセット前から継続してテスト露光
の周期管理を行うことができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明の実
施例を示す半導体露光装置のシステム構成図である。こ
の図において、本ロットを在庫しておく本ロットストッ
カー11から本ロット13を自動搬送機構12を介し
て、半導体露光装置14へ自動供給する。この半導体露
光装置14には、オンライン制御するテスト露光周期設
定画面15Aを有する制御コンピュータ15が上位系コ
ンピュータとして設けられている。
【0014】また、半導体露光装置14には、装置状態
を作業者に通知するためのパトライト16と作業者が直
に半導体露光装置14を操作する操作パネル17が付帯
されている。図2は前述した制御コンピュータ15のテ
スト露光周期設定画面15Aであって、このテスト露光
周期設定画面15より作業者は、半導体露光装置14で
処理可能な各処理工程に対し、テスト露光周期を設定で
きるようになっている。制御コンピュータ15にはソフ
トウェア上、このテスト露光周期の設定値を記憶するカ
ウンタが設けられており、そのカウンタ値によって、半
導体露光装置14に対し、テスト露光処理を指示するか
本ロット処理を指示するかを判断する機能と、処理を指
示した後、カウンタ値を1つずつデクリメントする機能
を有する。
【0015】以下、この半導体露光装置の動作について
図3を参照しながら説明する。 (1)まず、本システムを立ち上げる前に、作業者は、
図2に示すように、制御コンピュータ15のテスト露光
周期設定画面15Aにて、予めその半導体露光装置14
で処理可能な各処理工程に対し、テスト露光周期を設定
する。設定を行うと、制御コンピュータ15はソフトウ
ェア上のカウンタにテスト周期の設定値を格納する(ス
テップS1)。
【0016】(2)その後、システムの立ち上げを行
い、ロットの自動搬送を行うと、最初の本ロット13が
本ロットストッカ11より、自動搬送機構12を介して
半導体露光装置14に搬送される。ここで半導体露光装
置14とオンライン状態にある制御コンピュータ15
は、ソフトウェア上のカウンタ値とテスト露光周期の設
定値とを比較し、両者が等しいか否かを比較する(ステ
ップS2)。
【0017】(3)ステップS2において、ソフトウェ
ア上のカウンタ値とテスト露光周期の設定値とを比較
し、両者が等しい場合、半導体露光装置14に対しテス
ト露光処理開始指示を通知する(ステップS3)。 (4)次に、作業者テスト露光処理操作を行う(ステッ
プS4)。 (5)次に、テスト露光処理を行う(ステップS5)。
【0018】(6)ステップS2において、ソフトウェ
ア上のカウンタ値とテスト露光周期の設定値とが等しく
ない場合には、本ロット処理開始指示を行う(ステップ
S6)。 (7)次に、本ロット処理を行う(ステップS7)。 (8)次に、制御コンピュータ15は半導体露光装置1
4に処理開始指示を通知する毎に、ソフトウェア上のカ
ウンタ値を1つずつデクリメントする(ステップS
8)。
【0019】(9)次に、カウンタ値が0になるまで、
上記ステップを繰り返す(ステップS9)。 次いで、2ロット目の本ロット13が半導体露光装置1
4に搬送される。ここでも制御コンピュータ15はカウ
ンタ値とテスト露光周期の設定値とを比較する。1ロッ
ト目の時に、カウンタ値を1デクリメントしているの
で、カウンタ値と設定値が等しくない。その場合、制御
コンピュータ15は半導体露光装置14に対し、本ロッ
ト処理開始指示を通知する(ステップS2〜ステップS
6)。
【0020】本ロット処理開始指示を受けた半導体露光
装置14は、作業者が半導体露光装置操作パネル17を
操作することなしに、自動で本ロット処理を開始する。
このように制御コンピュータ15は、ある処理工程の最
初の本ロット13を処理する時は、半導体露光装置14
にテスト露光処理開始指示を通知し、それ以降の本ロッ
ト13を処理する時は、半導体露光装置14に本ロット
処理開始指示を通知する。また、処理開始指示を通知す
る毎に、制御コンピュータ15のカウンタ値を1つずつ
デクリメントして行き、カウンタ値が0になると再度、
テスト露光周期設定値をカウンタに格納する(ステップ
S9〜ステップS1)。
【0021】次の本ロットを処理する時はカウンタ値と
設定値が等しくなっているので、制御コンピュータ15
は半導体露光装置14に対しテスト露光処理開始指示を
通知する。以上の制御を繰り返すことで、制御コンピュ
ータ15は設定された通りにテスト露光周期を管理す
る。
【0022】このように構成したので、第1実施例によ
れば、制御コンピュータにテスト露光周期設定画面を設
け、作業者が処理工程別にテスト露光周期を設定できる
ようにし、制御コンピュータのソフトウェア上のカウン
タに、そのテスト露光周期の設定値を格納しておく。制
御コンピュータには半導体露光装置に処理開始指示を送
信する際、カウンタ値と設定値を比較し、同じであれば
テスト露光処理開始指示し、違っていれば、本ロット処
理開始指示を半導体露光装置に送信する。
【0023】また、制御コンピュータが半導体露光装置
にテスト露光処理開始指示又は、本ロット処理開始指示
を送信する毎に、ソフトウェア上のカウンタ値を1つず
つデクリメントして行き、カウンタ値が0になると作業
者が設定したテスト露光周期を再度カウンタに格納す
る。このように構成することによって、次の本ロットを
処理する時はカウンタ値と設定値が同じなので、制御コ
ンピュータは半導体露光装置に対しテスト露光処理開始
指示を送信する。
【0024】以上の制御を行う機能を設けることによっ
て、テスト露光処理周期を自動管理でき、1ロット目の
テスト露光処理が必要なロットに関しては、半導体露光
装置にテスト露光処理開始を指示し、それ以降のロット
については、次のテスト露光周期がくるまで、半導体露
光装置に本ロット処理開始指示を送信し、作業者が介在
することなしに、本ロット処理を連続して行うことがで
きるので、作業工数を大幅に削減でき、また、作業者の
操作忘れによる半導体露光装置の処理待ち状態をなく
し、稼働効率の向上を図ることができる。
【0025】次に、本発明の第2実施例について説明す
る。第1実施例においては、制御コンピュータのテスト
露光周期にて設定されたテスト露光周期の設定値を初期
値としてメモリに記憶するようにしたが、この実施例で
は、同じテスト露光周期の設定値をカウンタ値としてメ
モリに記憶する機能を有する。
【0026】以下、この第2実施例の動作について図4
を参照しながら説明する。本システムを立ち上げる前
に、作業者は制御コンピュータ15のテスト露光周期設
定画面(図2参照)にて、予めその半導体露光装置14
で処理可能な各処理工程に対し、テスト露光周期を設定
する。設定を行うと制御コンピュータ15はメモリ上に
初期値及びカウンタ値として設定値を格納する。(ステ
ップS11)その後、システムの立ち上げを行い、ロッ
トの自動搬送を行うと、最初の本ロット13が本ロット
ストッカー11より自動搬送機構12を介して半導体露
光装置14に搬送される。ここで半導体露光装置14と
オンライン状態にある制御コンピュータ15は、メモリ
上のカウンタ値とテスト露光周期の設定初期値とを比較
し、両者が等しい場合、半導体露光装置14に対しテス
ト露光処理開始指示を通知する(ステップS12〜S1
3)。
【0027】テスト露光処理開始指示を受けた半導体露
光装置14は付帯のパトライト16を点灯させ、作業者
に通知する。作業者はテスト露光を行い(ステップS1
4,ステップS15)、その検査で露光結果が良であれ
ば、本ロット13の処理を半導体露光装置操作パネル1
7を操作して行う。制御コンピュータ15は半導体露光
装置14に処理開始指示を通知する毎に、メモリ上のカ
ウンタ値を1つずつデクリメントする(ステップS1
8)。
【0028】次いで、2ロット目の本ロット13が半導
体露光装置14に搬送される。ここでも制御コンピュー
タ15はメモリ上のカウンタ値とテスト露光周期の初期
設定値とを比較する。1ロット目の時に、カウンタ値を
1デクリメントしているので、カウンタ値と初期値が等
しくない。その場合、制御コンピュータ15は半導体露
光装置14に対し、本ロット処理開始指示を通知する
(ステップS11〜S16)。
【0029】本ロット処理開始指示を受けた半導体露光
装置14は、作業者が半導体露光装置操作パネル17を
操作することなしに、自動で本ロット処理を開始する
(ステップS17)。このように制御コンピュータ15
はある処理工程の最初の本ロット13を処理する時は、
半導体露光装置14にテスト露光処理開始指示を通知
し、それ以降の本ロット13を処理する時は、半導体露
光装置14に本ロット処理開始指示を通知する。また、
処理開始指示を通知する毎に、制御コンピュータ15の
カウンタ値を1つずつデクリメントして行き、カウンタ
値が0になると再度、テスト露光周期初期設定値をカウ
ンタ値としてメモリに格納する(ステップS18〜ステ
ップS11)。
【0030】次の本ロットを処理する時は、カウンタ値
と初期値が等しくなっているので、制御コンピュータ1
5は半導体露光装置14に対しテスト露光処理開始指示
を通知する。以上の制御を繰り返すことで、制御コンピ
ュータ15は設定された通りにテスト露光周期を管理す
る。
【0031】このように構成したので、第2実施例によ
れば、テスト露光周期の設定値を初期値及びカウンタ値
としてそれぞれメモリ上に記憶する機能を設け、初期設
定値とカウンタ値をメモリ上にストアしているので、制
御コンピュータを誤ってリセットしても、クリアされる
ことがなく、リセット後もテスト露光周期を再度設定す
ることなく、リセット前から継続してテスト露光の周期
管理が行えるという効果が得られる。
【0032】また、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の趣旨に基づき種々の変形が可能で
あり、それらを本発明の範囲から排除するものではな
い。
【0033】
【発明の効果】以上、詳細に述べたように、本発明によ
れば、以下のような効果を奏することができる。 (1)請求項1記載の発明によれば、制御コンピュータ
にテスト露光周期設定画面を設け、作業者が処理工程に
テスト露光周期を設定できるようにし、制御コンピュー
タのソフトウェア上のカウンタにそのテスト露光周期の
設定値を格納しておく。制御コンピュータには半導体露
光装置に処理開始指示を送信する際、カウンタの値と設
定値を比較し、同じであればテスト露光処理開始指示
を、違っていれば本ロット処理開始指示を半導体露光装
置に送信する機能を設ける。
【0034】また、制御コンピュータが半導体露光装置
にテスト露光処理開始指示又は本ロット処理開始指示を
送信する毎に、ソフトウェア上のカウンタ値を1つずつ
デクリメントして行き、カウンタ値が0になると作業が
設定したテスト露光周期を再度カウンタに格納する。し
たがって、次の本ロットを処理する時はカウンタ値と設
定値が同じなので、制御コンピュータは半導体露光装置
に対しテスト露光処理開始指示を送信することができ
る。
【0035】以上の制御を行うことによって、テスト露
光処理周期を自動管理でき、1ロット目のテスト露光処
理が必要なロットに関しては、半導体露光装置にテスト
露光処理開始を指示し、それ以降のロットについては、
次のテスト露光周期がくるまで、半導体露光装置に本ロ
ット処理開始指示を送信する。このように、作業者が介
在することなしに、本ロット処理を連続して行うことが
できるので、作業工数を大幅に削減できる。また、作業
者の操作忘れによる半導体露光装置の処理待ち状態をな
くし、稼働効率の向上を図ることができる。
【0036】(2)請求項2記載の発明によれば、テス
ト露光周期の設定値の設定値を初期値及びカウンタ値と
してそれぞれメモリ上に記憶し、初期設定値とカウンタ
値をメモリ上にストアしているので、制御コンピュータ
を誤ってリセットしても、クリアされることがなく、リ
セット後もテスト露光周期を再度設定することなくリセ
ット前から継続してテスト露光の周期管理を行うことが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す半導体露光装置のシステ
ム構成図である。
【図2】本発明の実施例を示す制御コンピュータのテス
ト露光周期設定画面を示す図である。
【図3】本発明の第1実施例を示す半導体露光装置の動
作フローチャートである。
【図4】本発明の第2実施例を示す半導体露光装置の動
作フローチャートである。
【図5】従来の半導体露光装置の処理工程を示す図であ
る。
【図6】従来の半導体露光装置のシステム構成図であ
る。
【図7】従来の他の半導体露光装置の処理工程を示す図
である。
【符号の説明】
11 本ロットストッカー 12 自動搬送機構 13 本ロット 14 半導体露光装置 15 制御コンピュータ 15A テスト露光周期設定画面 16 パトライト 17 操作パネル

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体露光装置の制御方法において、前
    記半導体露光装置をオンラインにて制御する制御コンピ
    ュータに前記半導体露光装置のテスト露光周期を設定可
    能にし、ソフトウェア上に設けたカウンタにテスト露光
    周期の設定値を記憶してテスト露光周期を管理し、前記
    カウンタ値より判断して、前記半導体露光装置にテスト
    露光処理開始指示と本ロット処理開始指示を振り分けて
    通知することを特徴とする半導体露光装置の制御方法。
  2. 【請求項2】 半導体露光装置の制御方法において、前
    記半導体露光装置をオンラインにて制御する制御コンピ
    ュータに前記半導体露光装置のテスト露光周期を設定可
    能にし、テスト露光周期の設定値を初期値及びカウンタ
    値としてメモリにストアし、テスト露光周期を管理し、
    前記カウンタ値より判断して、前記半導体露光装置にテ
    スト露光処理開始指示と本ロット処理開始指示を振り分
    けて通知することを特徴とする半導体露光装置の制御方
    法。
JP8001842A 1996-01-10 1996-01-10 半導体露光装置の制御方法 Withdrawn JPH09190961A (ja)

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Effective date: 20030401