JPH09191127A - 発光ダイオードの製造方法 - Google Patents
発光ダイオードの製造方法Info
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- JPH09191127A JPH09191127A JP32382396A JP32382396A JPH09191127A JP H09191127 A JPH09191127 A JP H09191127A JP 32382396 A JP32382396 A JP 32382396A JP 32382396 A JP32382396 A JP 32382396A JP H09191127 A JPH09191127 A JP H09191127A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発光効率に優れた発光ダイオードを簡単に製
造できる発光ダイオードの製造方法を提供する。 【解決手段】 まず一面に接触層1が形成されているp
型又はn型シリコン基板の他面をフッ化水素酸溶液に浸
して、バルクシリコン層2と多孔質シリコン層3を形成
する( 図1A) 。次に、多孔質シリコン層3の上に不純
物を含む溶液を塗布した後、熱処理して、不純物のドー
ピングされた多孔質層4を形成する( 図1B) 。ここ
で、不純物を含む溶液は、シリコン基板がn型とp型の
うちどちらかにより異なるようになる。n型の場合には
3族元素イオンを含む溶液を用い、p型の場合には5族
元素イオンを含む溶液を用いる。また、熱処理温度は3
00乃至600℃程度が望ましく、更に望ましくは50
0乃至600℃程度である。pn接合が形成されると、
通常的な方法にて多孔質層4上に接触層5を形成するこ
とにより、発光ダイオードが製造される( 図1C) 。
造できる発光ダイオードの製造方法を提供する。 【解決手段】 まず一面に接触層1が形成されているp
型又はn型シリコン基板の他面をフッ化水素酸溶液に浸
して、バルクシリコン層2と多孔質シリコン層3を形成
する( 図1A) 。次に、多孔質シリコン層3の上に不純
物を含む溶液を塗布した後、熱処理して、不純物のドー
ピングされた多孔質層4を形成する( 図1B) 。ここ
で、不純物を含む溶液は、シリコン基板がn型とp型の
うちどちらかにより異なるようになる。n型の場合には
3族元素イオンを含む溶液を用い、p型の場合には5族
元素イオンを含む溶液を用いる。また、熱処理温度は3
00乃至600℃程度が望ましく、更に望ましくは50
0乃至600℃程度である。pn接合が形成されると、
通常的な方法にて多孔質層4上に接触層5を形成するこ
とにより、発光ダイオードが製造される( 図1C) 。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は発光ダイオードの製
造方法に係り、特に発光効率に優れたダイオードを比較
的低温下で簡単に製造できる発光ダイオードの製造方法
に関する。
造方法に係り、特に発光効率に優れたダイオードを比較
的低温下で簡単に製造できる発光ダイオードの製造方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】現在液晶表示素子は省エネルギーかつ軽
量化できるという長所を有するために多用されている
が、大型化及びカラー化を実現しにくいという欠点があ
る。かかる液晶表示素子における欠点により、発光ダイ
オード(LED)に対する関心が高まりつつある。
量化できるという長所を有するために多用されている
が、大型化及びカラー化を実現しにくいという欠点があ
る。かかる液晶表示素子における欠点により、発光ダイ
オード(LED)に対する関心が高まりつつある。
【0003】発光ダイオードは電気エネルギーが加えら
れる時に可視光線を放出するものであり、このような現
象を電子発光(EL)という。詳しくは、順方向バイア
スpn接合の場合、まず接合の付近で正孔と電子が結合
する。この際、高エネルギーの自由電子は必ずエネルギ
ーを放出しながら正孔と容易に結合できる状態である。
あらゆるpn接合ダイオードにおいて、このエネルギー
の一部は熱や光の形に放出されるが、このうち発光ダイ
オードは可視光線の放出特性を有するのである。
れる時に可視光線を放出するものであり、このような現
象を電子発光(EL)という。詳しくは、順方向バイア
スpn接合の場合、まず接合の付近で正孔と電子が結合
する。この際、高エネルギーの自由電子は必ずエネルギ
ーを放出しながら正孔と容易に結合できる状態である。
あらゆるpn接合ダイオードにおいて、このエネルギー
の一部は熱や光の形に放出されるが、このうち発光ダイ
オードは可視光線の放出特性を有するのである。
【0004】電界発光を用いるダイオードは必ず多孔質
シリコン層と接触層とを含んでなり、接触層材質として
は金属、ITO(Indium Tin Oxide)、炭化珪素、導電性
ポリマーなどが用いられる。
シリコン層と接触層とを含んでなり、接触層材質として
は金属、ITO(Indium Tin Oxide)、炭化珪素、導電性
ポリマーなどが用いられる。
【0005】現在開発されているダイオードのうち、最
新の構造は多孔質領域内にpn接合を有する形である。
多孔質シリコンは、外部から与えられる電子に対して放
出される光子の比である量子効率に優れるという長所を
有する。そして、ダイオードの発光効率は多孔質層内に
不純物を注入する場合に著しく向上される。
新の構造は多孔質領域内にpn接合を有する形である。
多孔質シリコンは、外部から与えられる電子に対して放
出される光子の比である量子効率に優れるという長所を
有する。そして、ダイオードの発光効率は多孔質層内に
不純物を注入する場合に著しく向上される。
【0006】例えば、p型半導体はホウ素、アルミニウ
ム、ガリウム、インジウムのような3族元素を多孔質シ
リコン内に適切な割合でドーピングすることにより製造
され、n型半導体は燐、ヒ素、アンチモンのような不純
物をドーピングすることにより製造される。
ム、ガリウム、インジウムのような3族元素を多孔質シ
リコン内に適切な割合でドーピングすることにより製造
され、n型半導体は燐、ヒ素、アンチモンのような不純
物をドーピングすることにより製造される。
【0007】多孔質領域内にpn接合を有するダイオー
ドを製造する場合において、従来は注入法や拡散法を用
いてpn接合を形成した後、適切な処理を施してシリコ
ンを多孔質化したり、又はシリコンを多孔質化した後、
多孔質層の上に不純物をドーピングしてpn接合を形成
するのが一般的であった。
ドを製造する場合において、従来は注入法や拡散法を用
いてpn接合を形成した後、適切な処理を施してシリコ
ンを多孔質化したり、又はシリコンを多孔質化した後、
多孔質層の上に不純物をドーピングしてpn接合を形成
するのが一般的であった。
【0008】ところが、すでに形成されたpn接合を多
孔質化すると、途中にpn接合が変形されてダイオード
の発光効率が落ちる恐れがある。その反面、すでに形成
された多孔質内に不純物をドーピングする場合には、拡
散法やインプランテーション(implantation)法が用いら
れるが、このうち拡散法は900℃以上の高温の熱処理
が要り、インプランテーション法は2ステップに細分化
されて工程自体が複雑になる短所がある。
孔質化すると、途中にpn接合が変形されてダイオード
の発光効率が落ちる恐れがある。その反面、すでに形成
された多孔質内に不純物をドーピングする場合には、拡
散法やインプランテーション(implantation)法が用いら
れるが、このうち拡散法は900℃以上の高温の熱処理
が要り、インプランテーション法は2ステップに細分化
されて工程自体が複雑になる短所がある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記のごとき
従来の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、発光効率に優れた発光ダイオードを簡単に製
造できる発光ダイオードの製造方法を提供することにあ
る。
従来の問題点に鑑みてなされたもので、その目的とする
ところは、発光効率に優れた発光ダイオードを簡単に製
造できる発光ダイオードの製造方法を提供することにあ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、p型シリコン基板の一面を多孔質化する
ステップと、前記ステップで形成された多孔質シリコン
層内にn型不純物をドーピングしてpn接合を形成する
ステップと、前記多孔質シリコン層上に接触層を形成す
るステップとを含む発光ダイオードの製造方法におい
て、前記n型不純物ドーピングは前記多孔質シリコン層
上に5族元素イオンを含む溶液をコーティングした後、
熱処理することにより行われることを特徴とする。
に、本発明は、p型シリコン基板の一面を多孔質化する
ステップと、前記ステップで形成された多孔質シリコン
層内にn型不純物をドーピングしてpn接合を形成する
ステップと、前記多孔質シリコン層上に接触層を形成す
るステップとを含む発光ダイオードの製造方法におい
て、前記n型不純物ドーピングは前記多孔質シリコン層
上に5族元素イオンを含む溶液をコーティングした後、
熱処理することにより行われることを特徴とする。
【0011】また、前記目的を達成するために、本発明
は、n型シリコン基板の一面を多孔質化するステップ
と、前記ステップで形成された多孔質シリコン層内にp
型不純物をドーピングしてpn接合を形成するステップ
と、前記多孔質シリコン層上に接触層を形成するステッ
プとを含む発光ダイオードの製造方法において、前記p
型不純物ドーピングは前記多孔質シリコン層上に3族元
素イオンを含む溶液をコーティングした後、熱処理する
ことにより行われることを特徴とする。
は、n型シリコン基板の一面を多孔質化するステップ
と、前記ステップで形成された多孔質シリコン層内にp
型不純物をドーピングしてpn接合を形成するステップ
と、前記多孔質シリコン層上に接触層を形成するステッ
プとを含む発光ダイオードの製造方法において、前記p
型不純物ドーピングは前記多孔質シリコン層上に3族元
素イオンを含む溶液をコーティングした後、熱処理する
ことにより行われることを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る発光ダイオー
ドの製造方法の実施の形態を添付した図面に基づき更に
詳細に説明する。
ドの製造方法の実施の形態を添付した図面に基づき更に
詳細に説明する。
【0013】まず一面に接触層1が形成されているp型
又はn型シリコン基板の他面をフッ化水素酸溶液に浸す
と、浸された面が多孔質化されるので、バルクシリコン
層2と多孔質シリコン層3とからなる構造が形成される
( 図1A) 。ダイオードが優れた発光特性を有するため
には、形成される気孔のサイズが数ナノメートル程度に
保たれなければならない。従って、多孔質層の形成過程
で紫外線を照射する必要がある。
又はn型シリコン基板の他面をフッ化水素酸溶液に浸す
と、浸された面が多孔質化されるので、バルクシリコン
層2と多孔質シリコン層3とからなる構造が形成される
( 図1A) 。ダイオードが優れた発光特性を有するため
には、形成される気孔のサイズが数ナノメートル程度に
保たれなければならない。従って、多孔質層の形成過程
で紫外線を照射する必要がある。
【0014】形成された多孔質シリコン層3の上に不純
物を含む溶液を塗布した後、熱処理すると、不純物のド
ーピングされた多孔質層4が形成される( 図1B) 。こ
こで、不純物を含む溶液は、シリコン基板がn型とp型
のうちどちらかにより異なるようになる。n型の場合に
は3族元素イオンを含む溶液を用い、p型の場合には5
族元素イオンを含む溶液を用いる。また、熱処理温度は
300乃至600℃程度が望ましく、更に望ましくは5
00乃至600℃程度である。
物を含む溶液を塗布した後、熱処理すると、不純物のド
ーピングされた多孔質層4が形成される( 図1B) 。こ
こで、不純物を含む溶液は、シリコン基板がn型とp型
のうちどちらかにより異なるようになる。n型の場合に
は3族元素イオンを含む溶液を用い、p型の場合には5
族元素イオンを含む溶液を用いる。また、熱処理温度は
300乃至600℃程度が望ましく、更に望ましくは5
00乃至600℃程度である。
【0015】本発明では、3族元素イオンを含む溶液と
してはホウ素、アルミニウム、ガリウム又はインジウム
が酸か塩基水溶液に溶解されているものを用いる。例え
ば、アルミニウム、ガリウム、インジウムは硝酸水溶液
に溶解させ、ホウ素は過酸化水素又は水酸化アンモニウ
ム水溶液に溶解させて用いることができる。また、酸か
塩基水溶液は酸又は塩基の濃度が1乃至10%であるこ
とが望ましい。
してはホウ素、アルミニウム、ガリウム又はインジウム
が酸か塩基水溶液に溶解されているものを用いる。例え
ば、アルミニウム、ガリウム、インジウムは硝酸水溶液
に溶解させ、ホウ素は過酸化水素又は水酸化アンモニウ
ム水溶液に溶解させて用いることができる。また、酸か
塩基水溶液は酸又は塩基の濃度が1乃至10%であるこ
とが望ましい。
【0016】5族元素を含む溶液としては、燐又はアン
チモンが酸水溶液に溶解されているものを用いる。例え
ば、燐は硝酸水溶液に溶解させ、アンチモンは塩酸水溶
液に溶解させて用いる。硝酸又は塩酸の濃度は1乃至1
0%であることが望ましい。
チモンが酸水溶液に溶解されているものを用いる。例え
ば、燐は硝酸水溶液に溶解させ、アンチモンは塩酸水溶
液に溶解させて用いる。硝酸又は塩酸の濃度は1乃至1
0%であることが望ましい。
【0017】pn接合が形成されると、通常的な方法に
て多孔質層上に接触層5を形成することにより、本発明
の発光ダイオードが製造される( 図1C) 。接触層の材
質としては金やアルミニウムのような金属、ITO、炭
化珪素、導電性ポリマーなどがあるが、このような材料
は接触層の材質に要求される透明性、導電性、表面安定
性などの特性を有する。
て多孔質層上に接触層5を形成することにより、本発明
の発光ダイオードが製造される( 図1C) 。接触層の材
質としては金やアルミニウムのような金属、ITO、炭
化珪素、導電性ポリマーなどがあるが、このような材料
は接触層の材質に要求される透明性、導電性、表面安定
性などの特性を有する。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、シリ
コンを多孔質化させてからpn接合を形成するので、p
n接合が変形されなくなり、発光効率に優れた発光ダイ
オードを製造することができる。また、インプランテー
ション法に比べて工程が簡単な上、熱処理温度も比較的
低く、製造しやすい。
コンを多孔質化させてからpn接合を形成するので、p
n接合が変形されなくなり、発光効率に優れた発光ダイ
オードを製造することができる。また、インプランテー
ション法に比べて工程が簡単な上、熱処理温度も比較的
低く、製造しやすい。
【図1】A乃至Cは本発明の一実施形態による発光ダイ
オードの製造方法を概略的に示した図。
オードの製造方法を概略的に示した図。
1 接触層 2 バルクシリコン層 3 多孔質シリコン層 4 多孔質層 5 接触層
Claims (12)
- 【請求項1】 p型シリコン基板の一面を多孔質化する
ステップと、前記ステップで形成された多孔質シリコン
層内にn型不純物をドーピングしてpn接合を形成する
ステップと、前記多孔質シリコン層上に接触層を形成す
るステップとを含む発光ダイオードの製造方法におい
て、 前記n型不純物ドーピングは前記多孔質シリコン層上に
5族元素イオンを含む溶液をコーティングした後、熱処
理することにより行われることを特徴とする発光ダイオ
ードの製造方法。 - 【請求項2】 前記接触層は金、アルミニウム、IT
O、炭化珪素及び伝導性高分子からなる群から選択され
た一つよりなることを特徴とする請求項1に記載の発光
ダイオードの製造方法。 - 【請求項3】 前記5族元素イオンを含む溶液は燐が溶
解されている硝酸水溶液であることを特徴とする請求項
1に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 【請求項4】 前記5族元素を含む溶液はアンチモンが
溶解されている塩酸水溶液であることを特徴とする請求
項1に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 【請求項5】 前記熱処理は300乃至600℃の温度
で行われることを特徴とする請求項1に記載の発光ダイ
オードの製造方法。 - 【請求項6】 前記熱処理は500乃至600℃の温度
で行われることを特徴とする請求項5に記載の発光ダイ
オードの製造方法。 - 【請求項7】 n型シリコン基板の一面を多孔質化する
ステップと、前記ステップで形成された多孔質シリコン
層内にp型不純物をドーピングしてpn接合を形成する
ステップと、前記多孔質シリコン層上に接触層を形成す
るステップとを含む発光ダイオードの製造方法におい
て、 前記p型不純物ドーピングは前記多孔質シリコン層の上
に3族元素イオンを含む溶液をコーティングした後、熱
処理することにより行われることを特徴とする発光ダイ
オードの製造方法。 - 【請求項8】 前記接触層は金、アルミニウム、IT
O、炭化珪素及び伝導性高分子からなる群から選択され
た一つよりなることを特徴とする請求項7に記載の発光
ダイオードの製造方法。 - 【請求項9】 前記3族元素イオンを含む溶液はアルミ
ニウム、ガリウム、インジウムからなる群から選ばれた
一つが硝酸水溶液に溶解されていることを特徴とする請
求項7に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 【請求項10】 前記3族元素イオンを含む溶液はホウ
素が過酸化水素及び水酸化アンモニウムからなる群から
選ばれた一つの水溶液に溶解されていることを特徴とす
る請求項7に記載の発光ダイオードの製造方法。 - 【請求項11】 前記熱処理は300乃至600℃の温
度で行われることを特徴とする請求項7に記載の発光ダ
イオードの製造方法。 - 【請求項12】 前記熱処理は500乃至600℃の温
度で行われることを特徴とする請求項11に記載の発光
ダイオードの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950069765A KR970054583A (ko) | 1995-12-30 | 1995-12-30 | 발광 다이오드의 제조 방법 |
| KR1995-69765 | 1995-12-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09191127A true JPH09191127A (ja) | 1997-07-22 |
Family
ID=19448589
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32382396A Pending JPH09191127A (ja) | 1995-12-30 | 1996-12-04 | 発光ダイオードの製造方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5908303A (ja) |
| JP (1) | JPH09191127A (ja) |
| KR (1) | KR970054583A (ja) |
| DE (1) | DE19651772A1 (ja) |
| GB (1) | GB2308918B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008053446A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Hamamatsu Photonics Kk | 半導体素子 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6406984B1 (en) * | 1997-10-06 | 2002-06-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method of making improved electrical contact to porous silicon using intercalated conductive materials |
| KR20000066564A (ko) * | 1999-04-19 | 2000-11-15 | 장용화 | 다목적 다이오드 센서 및 그 제조 방법 |
| DE10160987B4 (de) | 2001-12-05 | 2005-08-04 | Siemens Ag | Baueinheit zur simultanen, optischen Beleuchtung einer Vielzahl von Proben |
| US8456393B2 (en) * | 2007-05-31 | 2013-06-04 | Nthdegree Technologies Worldwide Inc | Method of manufacturing a light emitting, photovoltaic or other electronic apparatus and system |
| WO2016107977A1 (en) * | 2014-12-31 | 2016-07-07 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt Oy | A method of doping wafers |
| CN111916347B (zh) * | 2020-08-13 | 2023-03-21 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 | 一种用于soi片的磷扩散掺杂方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2931204B2 (ja) * | 1994-03-16 | 1999-08-09 | 株式会社フジクラ | 半導体発光装置の製造方法 |
-
1995
- 1995-12-30 KR KR1019950069765A patent/KR970054583A/ko not_active Abandoned
-
1996
- 1996-12-04 JP JP32382396A patent/JPH09191127A/ja active Pending
- 1996-12-12 DE DE19651772A patent/DE19651772A1/de not_active Withdrawn
- 1996-12-13 GB GB9625974A patent/GB2308918B/en not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-30 US US08/777,121 patent/US5908303A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008053446A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Hamamatsu Photonics Kk | 半導体素子 |
| US8110836B2 (en) | 2006-08-24 | 2012-02-07 | Hamamatsu Photonics K.K. | Semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5908303A (en) | 1999-06-01 |
| GB2308918B (en) | 2000-02-23 |
| GB2308918A (en) | 1997-07-09 |
| DE19651772A1 (de) | 1997-07-03 |
| GB9625974D0 (en) | 1997-01-29 |
| KR970054583A (ko) | 1997-07-31 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011002 |