JPH09218107A - 熱電対劣化検知装置 - Google Patents

熱電対劣化検知装置

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JPH09218107A
JPH09218107A JP8046769A JP4676996A JPH09218107A JP H09218107 A JPH09218107 A JP H09218107A JP 8046769 A JP8046769 A JP 8046769A JP 4676996 A JP4676996 A JP 4676996A JP H09218107 A JPH09218107 A JP H09218107A
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JP
Japan
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thermocouple
temperature
output
deterioration
deterioration detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP8046769A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Hishikari
功 菱刈
Yukikoto Hosoya
幸言 細矢
Mitsuo Ishige
光雄 石毛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chino Corp
Original Assignee
Chino Corp
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Publication date
Application filed by Chino Corp filed Critical Chino Corp
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Publication of JPH09218107A publication Critical patent/JPH09218107A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】簡易な構成で、容易に熱電対の劣化を検知、予
知できる熱電対劣化検知装置を提供する。 【解決手段】先端部が測定対象に設けられた第1の熱電
対1と、この第1の熱電対と近接させて設けられた第1
の熱電対より短い第2の熱電対2と、第1の熱電対の出
力と第2の熱電対の出力とを比較し両熱電対の出力差が
所定の値を越えたとき第1の熱電対が劣化したと判断し
劣化検知信号を発生する処理手段6とを備えるようにし
た熱電対劣化検知装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、熱電対の劣化を
検知する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】熱電対は、加熱炉その他の温度測定に広
く使用されている。ところが、高温雰囲気で長時間使用
していると劣化するおそれがある。
【0003】従来、劣化を検知する良い方法はなく、定
期的に標準の熱電対と比較検定したり、経験的に所定時
間使用する毎に定期的に交換していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、比較検
定をする為には、高価な検定装置を用意する必要があ
り、熱電対の取り外しや再設置を含めて検定の手間を大
きく要し、また、熱電対を定期的に交換する場合では使
用可能な熱電対まで交換することもあり無駄を生じるお
それがあった。
【0005】この発明の目的は、以上の点に鑑み、簡易
な構成で、容易に熱電対の劣化を検知、予知できる熱電
対劣化検知装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は、先端部が測
定対象に設けられた第1の熱電対と、この第1の熱電対
と近接させて設けられた第1の熱電対より短い第2の熱
電対と、第1の熱電対の出力と第2の熱電対の出力とを
比較し両熱電対の出力差が所定の値を越えたとき第1の
熱電対が劣化したと判断し劣化検知信号を発生する処理
手段とを備えるようにした熱電対劣化検知装置である。
【0007】
【実施例】図1は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。図1において、1は、加熱炉の雰囲気中等の
測定対象に先端部の測温接点が設けられた第1の熱電対
で、この第1の熱電対1の先端部の測温接点よりも短い
位置に測温接点を有する第2の熱電対2が第1の熱電対
1と近接させて設けられ、これらの第1、第2の熱電対
1,2は、加熱炉の壁面4から突出した金属等の保護管
3内に設けられている。つまり、第1の熱電対1の先端
部は保護管3の先端部に位置し、第2の熱電対2の先端
部は熱電対1の先端部と所定の距離L離れ、例えば保護
管3の基部の壁面4から中へ入った位置等に設けられて
いる。これら熱電対1,2からの熱起電力は、増幅器、
A/D変換器等を含む測定手段5で測定され、この測定
電圧e1,e2は処理手段6に供給される。μCPU等
よりなる処理手段6は、あらかじめメモリ7に記憶され
た熱電対の種類により定められた通常の熱起電力と温度
との関係を用い、測定電圧から温度に換算する演算処理
を行い温度出力T1,T2を取り出すことができる。そ
して、処理手段6は、通常は第1の熱電対1の温度出力
T1を温度信号として外部に出力する。
【0008】一般に熱電対は異種の金属の対で構成さ
れ、ゼーベック効果による熱起電力から温度を検出する
ものであるが、これら金属は高温状態で使用している
と、酸化、腐食等で、その特性を失い熱起電力が低下し
てくる。このため、高温にさらされる第1の熱電対1の
方が第2の熱電対2よりも劣化が進む。低温標準ではこ
の逆となり、劣化検知の必要がある。
【0009】又、第1,第2の熱電対1,2の温度出力
T1,T2は、通常第1の熱電対1の出力T1の方が高
く、第2の熱電対2の出力T2と所定の温度出力差ΔT
がある。
【0010】例えば、通常、この温度T1,T2の関係
は、aを定数として、 T2=T1・exp(−aL) (1) であり、温度差ΔT=T1−T2も距離Lに応じて次式
の所定の関係にある。
【0011】 ΔT=T1−T2=T1・[1−exp(−aL)] (2) そして、図2で時間tに対する温度Tの変化を示すよう
に温度上昇、温度下降、各種の一定温度等の様々な場合
に応じて第1,第2の熱電対1,2の温度出力T1,T
2の差ΔTは所定の値で変化し、その両温度パターンや
出力差パターンもあらかじめ測定で求められる。つまり
処理手段6によりメモリ7にあらかじめ求めた、時間の
関数又は温度の関数又は温度の変化率の関数等で定まる
各種の場合における所定の出力差パターン等を記憶して
おき、第1の熱電対1の温度出力T1と第2の熱電対2
の温度出力T2とを比較し両熱電対の出力差が通常の所
定の値ΔTを越えて外れたとき等に第1の熱電対1が劣
化したと判断し劣化検知する。
【0012】つまり、図2で示すように、例えば所定温
度で使用を続け、第1の熱電対1の本来の出力T1が点
線T1´のように劣化で低下したとする。このとき、第
2の熱電対2はそれほど高温にさらされていないので劣
化は小さくほぼ一定の温度T2を保つ。この両者の温度
出力差T1´−T2が、あらかじめメモリ7に記憶され
た所定の値ΔTを越えて小さくなったとき等に第1の熱
電対1は劣化したと判断し、この劣化検知信号を処理手
段6は外部に出力する。又、出力差ΔTにある程度の幅
を持たせたり、変化パターンや変化率等から劣化予測を
してもよい。
【0013】この場合、劣化していない第2の熱電対2
の出力を測定出力として用いてもよい。このとき温度出
力T2をそのまま出力してもよいが、あらかじめメモリ
7格納された所定の温度差を温度出力T2に加算してほ
ぼ正しい温度出力としてT1の代りに用いるようにして
もよい。
【0014】なお、図1において、熱電対1,2は、夫
々いわゆるシース熱電対としてもよいし、メモリ7の起
電力表を用いるので熱電対の種類は同一でも、異なって
いてもよい。異なる場合、劣化の程度が異なるので、こ
れをあらかじめ測定で求め、出力差を利用して劣化を精
密に検知できる。又、熱電対は保護管3に2本と入れな
くともよく、別々に設置してもよい。又、出力差の比較
も温度値でなく、測定手段5の測定電圧値e1,e2の
比較でもよい。又、複数の熱電対の一方の金属を共通と
し多点化を図ってもよい。
【0015】
【発明の効果】以上述べたように、この発明は、先端部
が測定対象に設けられた第1の熱電対と、この第1の熱
電対と近接させて設けられた第1の熱電対より短い第2
の熱電対と、第1の熱電対の出力と第2の熱電対の出力
とを比較し両熱電対の出力差が所定の値を越えたとき第
1の熱電対が劣化したと判断し劣化検知信号を発生する
処理手段とを備えるようにした熱電対劣化検知装置であ
る。このため、常時、熱電対の測定温度値の変化から、
熱電対の劣化を検知、予知することができ、しかも、そ
のときの測定温度に対応したもう1つの熱電対の出力値
との差を求め、あらかじめ測定で求めた所定の温度差と
比較しているので、熱電対がどのような温度パターンで
測定していたとしても、十分に劣化の検知が可能とな
る。また、また、熱電対が複数チャンネルの場合、入力
切換器で各チャンネルの入力取り込み毎に測定を行っ
て、各熱電対毎の劣化検知が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示す構成説明図である。
【図2】この発明の一実施例を示す動作説明図である。
【符号の説明】
1,2 熱電対 3 保護管 4 壁面 5 測定手段 6 処理手段 7 メモリ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】先端部が測定対象に設けられた第1の熱電
    対と、この第1の熱電対と近接させて設けられた第1の
    熱電対より短い第2の熱電対と、第1の熱電対の出力と
    第2の熱電対の出力とを比較し両熱電対の出力差が所定
    の値を越えたとき第1の熱電対が劣化したと判断し劣化
    検知信号を発生する処理手段とを備えたことを特徴とす
    る熱電対劣化検知装置。
  2. 【請求項2】前記所定の値は、時間の関数又は温度の関
    数又は温度の変化率の関数等で定まる値であることを特
    徴とする請求項1記載の熱電対劣化検知装置。
  3. 【請求項3】第1の熱電対の劣化が検知されたとき第1
    の熱電対に代えて第2の熱電対の出力を用いることを特
    徴とする請求項1又は請求項2記載の熱電対劣化検知装
    置。
JP8046769A 1996-02-08 1996-02-08 熱電対劣化検知装置 Pending JPH09218107A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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