JPH09229911A - 透過型超音波検査装置 - Google Patents

透過型超音波検査装置

Info

Publication number
JPH09229911A
JPH09229911A JP8039622A JP3962296A JPH09229911A JP H09229911 A JPH09229911 A JP H09229911A JP 8039622 A JP8039622 A JP 8039622A JP 3962296 A JP3962296 A JP 3962296A JP H09229911 A JPH09229911 A JP H09229911A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wave
probe
subject
transmitting
receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8039622A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirotoshi Kino
裕敏 木野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP8039622A priority Critical patent/JPH09229911A/ja
Publication of JPH09229911A publication Critical patent/JPH09229911A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/048Transmission, i.e. analysed material between transmitter and receiver

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検体の大きさに制限されず、精度のよい検
査が可能な透過型超音波検査装置を提供する。 【解決手段】 被検体1に向けて超音波を送出する送波
用探触子2と、送波用探触子2から送出され、被検体1
を透過した超音波を受信する受波用探触子12と、送波
用探触子2および受波用探触子12の間に作用する磁力
により送波用探触子2および受波用探触子12を被検体
1を挟んで互いに対向させる磁石6,16と、を備え
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検体を透過した
超音波の情報に基づいて被検体の内部を検査する透過型
超音波検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】超音波を被検体に向けて送出するととも
に、被検体を透過した超音波を受信して被検体の内部検
査を行う透過型超音波検査装置が知られている。図3に
示す超音波検査装置(従来技術1)では、被検体1の検
査領域よりも広い面積を有した板状の受波用探触子10
1の上部に被検体1を配置し、被検体1の上側から送波
用探触子102をXYZ軸の駆動機構を備えるスキャナ
103で走査することにより被検体1の検査を行う。送
波用探触子102はスキャナ103によってXY平面内
で走査され、被検体1の全面に所定ピッチ毎に超音波が
照射される。送波用探触子102から送出された超音波
の一部は被検体1を透過して受波用探触子101で受信
され、超音波の送出点のXY座標の関数として各点での
超音波の受信強度が得られるので、この受信強度に基づ
いて被検体1の2次元像が作成される。
【0003】図4に示す超音波検査装置(従来技術2)
では、枝分れしたアーム104の先端部に送波用探触子
105と受波用探触子106とが互いに対向して取り付
けられ、アーム104はスキャナ(不図示)により駆動
される。対向した送波用探触子105および受波用探触
子106を被検体1を挟んでZY平面内で走査すること
によりZY座標上の各点での超音波の受信強度が求まる
ので、この受信強度に基づいて被検体1の2次元像が得
られる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来技術1の
超音波検査装置では、検査可能な被検体1の大きさ(面
積)が受波用探触子101の面積により制限されるう
え、受波用探触子101の面積が大きくなる程、受波用
探触子101全体の面積に対する受信領域の割合が減少
して受信感度が低下し、検査精度が落ちるという問題が
ある。
【0005】また、従来技術2の超音波検査装置では、
大型(大面積)の被検体1を検査するにはアーム104
を長くせざるを得ないが、アーム長を増やすと走査時の
アーム104の振れが大きくなるため、送波用探触子1
05および受波用探触子106の位置関係が正規の対向
位置からずれ、とくに高速での走査時に検査データの精
度の低下が著しくなるという問題がある。
【0006】本発明の目的は、大面積の被検体に対して
も精度のよい検査が可能な透過型超音波検査装置を提供
することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】一実施の形態を示す図1
および図2に対応づけて説明すると、請求項1に記載の
発明は、被検体1に向けて超音波を送出する送波用探触
子2と、被検体1を透過した送波用探触子2からの超音
波を受信する受波用探触子12と、送波用探触子2およ
び受波用探触子12の間に作用する磁力により、送波用
探触子2および受波用探触子12を被検体1を挟んで互
いに対向させる位置合わせ手段6,16と、を備えるこ
とにより上述の目的が達成される。請求項2に記載の発
明は、液体中の被検体1に向けて液体中から超音波を送
出する送波用探触子2と、被検体1を透過した送波用探
触子2からの超音波を液体中で受信する受波用探触子1
2と、送波用探触子2および受波用探触子12の間に作
用する磁力により、送波用探触子2および受波用探触子
12を被検体1を挟んで互いに対向させる位置合わせ手
段6,16と、送波用探触子2に浮力を与える浮上手段
と、を備えることにより上述の目的が達成される。請求
項3に記載の発明は、液体中の被検体1に向けて液体中
から超音波を送出する送波用探触子2と、被検体1を透
過した送波用探触子2からの超音波を液体中で受信する
受波用探触子12と、送波用探触子2および受波用探触
子12の間に作用する磁力により、送波用探触子2およ
び受波用探触子12を被検体1を挟んで互いに対向させ
る位置合わせ手段6,16と、受波用探触子2に浮力を
与える浮上手段と、を備えることにより上述の目的が達
成される。請求項4に記載の発明は、請求項1〜3のい
ずれか1項に記載の透過型超音波検査装置において、送
波用探触子2および受波用探触子12のうちのいずれか
の探触子を被検体1に即して走査する走査手段9をさら
に備えるものである。請求項5に記載の発明は、請求項
1〜4のいずれか1項に記載の透過型超音波検査装置に
おいて、送波用探触子2と被検体1との間の摩擦力を低
減するそり状の摺動部5Aを送波用探触子2に取り付け
たものである。請求項6に記載の発明は、請求項1〜5
のいずれか1項に記載の透過型超音波検査装置におい
て、受波用探触子12と被検体1との間の摩擦力を低減
するそり状の摺動部15Aを受波用探触子12に取り付
けたものである。
【0008】請求項1に記載の発明では、位置合わせ手
段6,16が磁力により送波用探触子2および受波用探
触子12を被検体1を挟んで互いに対向させる。請求項
2に記載の発明では、位置合わせ手段6,16が磁力に
より送波用探触子2および受波用探触子12を被検体1
を挟んで互いに対向させ、浮上手段が送波用探触子2に
浮力を与える。請求項3に記載の発明では、位置合わせ
手段6,16が磁力により送波用探触子2および受波用
探触子12を被検体1を挟んで互いに対向させ、浮上手
段が受波用探触子2に浮力を与える。請求項4に記載の
発明では、走査手段9が送波用探触子2および受波用探
触子12のうちのいずれかの探触子を被検体1に即して
走査する。請求項5に記載の発明では、そり状の摺動部
5Aが送波用探触子2と被検体1との間の摩擦力を低減
する。請求項6に記載の発明では、そり状の摺動部15
Aが受波用探触子12と被検体1との間の摩擦力を低減
する。
【0009】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
【0010】
【発明の実施の形態】
−第1の実施の形態− 以下、図1を用いて本発明による透過型超音波検査装置
の第1の実施の形態について説明する。図1において、
1は水槽(不図示)の水中に載置された板状の被検体
(例えば、液晶ディスプレイ製造時のスパッタリング用
ターゲット材)、2は図1において下向きに超音波を送
出する円柱状の送波用探触子、3は被検体1に対して所
定の間隔を確保して送波用探触子2を保持する送波用探
触子ホルダ、4は送波用探触子2と送波用探触子ホルダ
3との取り付け位置関係を調節するための調整ねじ、5
は送波用探触子ホルダ3の端部に取り付けられた摺動部
材(例えばフッ素樹脂あるいはポリイミド樹脂製)、6
は送波用探触子2と同軸に設けられた円筒状の吸着用磁
石、7は送波用探触子ホルダ3に対して吸着用磁石6を
摺動可能に取り付ける磁石用ホルダ、8は磁石ホルダ6
と送波用探触子ホルダ3との取り付け関係を調節する調
整ねじである。送波用探触子2、送波用探触子ホルダ
3、調整ねじ4、摺動部材5、吸着用磁石6、磁石用ホ
ルダ7および調整ねじ8は送波用ユニットU1を構成す
る。また、9は送波用探触子ホルダ3に取り付けられ送
波用ユニットU1を被検体1に即して走査するスキャナ
である。
【0011】一方、12は被検体1を透過した超音波を
受信する円柱状の受波用探触子、13は被検体1に対し
て所定の間隔を確保して受波用探触子12を保持する受
波用探触子ホルダ、14は受波用探触子12と受波用探
触子ホルダ13との取り付け位置関係を調節するための
調整ねじ、15は受波用探触子ホルダ13の端部に取り
付けられた摺動部材(例えばフッ素樹脂あるいはポリイ
ミド樹脂製)、16は受波用探触子12と同軸に設けら
れた円筒状の吸着用磁石、17は受波用探触子ホルダ1
3に対して吸着用磁石16を摺動可能に取り付ける磁石
ホルダ、18は磁石ホルダ16と受波用探触子ホルダ1
3との取り付け関係を調節する調整ねじである。受波用
探触子12、受波用探触子ホルダ13、調整ねじ14、
摺動部材15、吸着用磁石16、磁石ホルダ17および
調整ねじ18は受波用ユニットU2を構成する。
【0012】以上のように構成された第1の実施の形態
の装置を用いて、被検体1の検査をする場合の動作につ
いて次に説明する。図1において送波用探触子ホルダ3
および受波用探触子ホルダ13の内部には水槽の水が侵
入しており、送波用探触子2と被検体1との間および受
波用探触子12と被検体1との間は水により完全に満た
されている。
【0013】図1に示すように、送波用ユニットU1の
磁石6はN極を、受波用ユニットU2の磁石16はS極
を、それぞれ被検体1に向けて取り付けられているの
で、磁石6および磁石16の間の吸引力により送波用ユ
ニットU1および受波用ユニットU2は互いに被検体1
を挟んで吸引され、送波用ユニットU1および受波用ユ
ニットU2は、それぞれ摺動部材5および摺動部材15
を介して被検体1の両面に密着する。また、送波用ユニ
ットU1は摺動部材5により、受波用ユニットU2は摺
動部材15により、それぞれ被検体1に対して摺動可能
とされているので、磁力により送波用ユニットU1ある
いは受波用ユニットU2は被検体1に即して摺動し、磁
石6および磁石16が互いに同軸に対向する位置に配置
される。上述のように、磁石6と送波用探触子2と、お
よび磁石16と受波用探触子12と、はそれぞれ同軸に
設けられているので、送波用探触子2および受波用探触
子12は互いに同軸に配置されることとなる。
【0014】送波用探触子2はホルダ3に対し、図1に
おいて上下方向に摺動可能に設けられ、調整ねじ4によ
り任意の位置で固定可能とされる。また、受波用探触子
12はホルダ13に対し、図1において上下方向に摺動
可能に設けられ、調整ねじ14により任意の位置で固定
可能とされる。送波用探触子2および受波用探触子12
の焦点を被検体1の所定部位の深さに合わせることによ
り被検体1の検査が可能となる。
【0015】磁石6はホルダ3に対し、図1において上
下方向に摺動可能に取り付けられ、調整ねじ8により任
意の位置で固定可能とされる。また磁石16はホルダ1
3に対し図1において上下方向に摺動可能に取り付けら
れ、調整ねじ18により任意の位置で固定可能とされ
る。磁石6および磁石16の固定位置を変えることによ
り磁石6および磁石16の間隔を変化させ、送波用ユニ
ットU1および受波用ユニットU2間の吸引力を最適化
することができる。後述する検査時において探触子2と
探触子12との間の同軸関係が最も正確に保たれるよう
な吸引力に調節すればよい。被検体1の厚みにより、あ
るいは被検体1が磁性体であるか否か等により磁石6お
よび磁石16の最適な位置が異なる。
【0016】送波用探触子2と受波用探触子12とを磁
気的吸引力により互いに対向させた状態でスキャナ9を
動作させると、被検体1に即して送波用探触子2が走査
される。このとき送波用ユニットU1に加えられるスキ
ャナ9の駆動力は、図1においてA−B方向成分のみで
あり上下方向に駆動力が作用しないようにされているの
で、スキャナ9での走査により送波用ユニットU1が被
検体1から浮き上がることも、また、送波用ユニットU
1により被検体1が下向きに押込まれることもない。
【0017】スキャナ9により送波用ユニットU1が被
検体1に即してA−B方向に走査されると、磁石6と磁
石16との間の磁力によって受波用ユニットU2は送波
用ユニットU1に追従してA−B方向に移動する。この
とき、送波用探触子2と受波用探触子12とは互いにほ
ぼ同軸になるような位置関係に維持される。
【0018】このように、送波用探触子2および受波用
探触子12が被検体1を挟んで互いに対向して走査され
る状態において、送波用探触子2に定期的に電気パルス
が印加される。電気パルスを受けて送波用探触子2から
超音波パルスが送出されると、送出された超音波は送波
用探触子ホルダ3の内部の水中を伝播し、被検体1に入
射する。被検体1内に伝播した超音波の一部は被検体1
を透過して受波用探触子ホルダ13の内部の水中を伝播
し、受波用探触子12で受信される。このように走査面
の各点で被検体1を透過した超音波は、受波用探触子1
2において受信信号(電気信号)に変換される。そして
各点での受信波の受信強度に基づいて、被検体1の2次
元映像が表示される。
【0019】以上のように第1の実施の形態の装置で
は、磁石6および磁石16により送波用ユニットU1お
よび受波用ユニットU2を被検体1を挟んで互いに吸引
させ、探触子2と探触子12とを互いに常に同軸に維持
するようにしているので、送波用ユニットU1を駆動す
るだけで受波用ユニットU2が追従し被検体の走査が可
能となる。したがって、大面積の被検体について、容易
に、かつ感度を落とすことなく高精度な検査をすること
ができる。
【0020】第1の実施の形態では、送波用ユニットU
1をスキャナ9で駆動するようにしているが、送波用ユ
ニットU1を駆動する代りに受波用ユニットU2を駆動
するようにしてもよい。受波用ユニットU2を駆動する
場合には送波用ユニットU1が受波用ユニットU2に追
従して移動するので、第1の実施の形態と同様、送波用
探触子2と受波用探触子12との間の同軸関係が保たれ
る。また、送波用ユニットおよび受波用ユニットの上下
位置を入替えてもよく、この場合にもいずれか一方のユ
ニットを駆動することで検査をすることができる。
【0021】摺動部材5,15の材質として種々の材料
を用いることができるが、被検体1との間での摩擦抵抗
が小さく、かつ被検体1を傷つけないように被検体1よ
りも柔らかい材質を使用することが好ましい。また、樹
脂等の摺動部材に代えて、例えば、送波用ユニットU1
あるいは受波用ユニットU2の被検体1との接触面に多
数の回転自在のボール等を取り付け、ボール等の回転に
より摩擦力を低減させるようにしてもよい。
【0022】送波用ユニットU1または受波用ユニット
U2の一部を水よりも比重の小さな部材で構成し、ある
いは空気層を設けることにより水中での浮力を与えるこ
とができる。例えば、図1において受波用ユニットU2
の一部を比重の小さな材質で構成して水中での浮力を与
えると、浮力は磁石6,16による磁力を補助する方向
へ作用するので、磁石6,16の吸引力を小さくするこ
とが可能となる。また、受波用ユニットU2を浮力のみ
で被検体1に密着可能とすれば、吸引方向に磁力が作用
しなくとも受波用ユニットU2が被検体1の表面から落
下しなくなる。このように水中での浮力を利用すると、
送波用ユニットU1と受波用ユニットU2との間の磁気
的作用力の吸引方向のベクトルを小さく、あるいはゼロ
または負(反発方向)とすることが可能となり、受波用
ユニットU2の追従性能をさらに向上させる磁石の配置
を選択することができる。
【0023】また、例えば、図1において送波用ユニッ
トU1に浮力を与えるようにした場合には、送波用ユニ
ットU1と被検体1との間の接触圧を低減することがで
きるので、両者間の摩擦を減らしスキャナ9による駆動
をよりスムーズなものとすることができる。このよう
に、浮力と磁力を適宜組合せることにより、設計の自由
度を高め、送波用ユニットU1と受波用ユニットU2と
の相対位置精度を向上させることができる。
【0024】第1の実施の形態では、超音波を伝播させ
る媒体として水を用いているが、被検体の特性等に応じ
て、種々の超音波伝播媒体(液体)を使用することがで
きる。また、第1の実施の形態では、被検体全体を水槽
中に載置する方法、いわゆる全没液浸法を採る場合につ
いて説明したが、本発明による超音波検査装置を局部液
浸法に適用することもできる。
【0025】−第2の実施の形態− 以下、図2を用いて本発明による透過型超音波検査装置
の第2の実施の形態について説明する。なお、第1の実
施の形態と同一の要素には同一符号を付してその説明を
省略する。
【0026】図2において、U1Aは超音波を被検体1
に向けて送出する送波用ユニットであり、5Aは一対の
そり状摺動部(例えばフッ素系樹脂あるいはポリイミド
樹脂製)、19はそり状摺動部5Aを探触子ホルダ3に
対して取り付ける支持部材、6Aは支持部材19に埋設
された磁石である。また、U2Aは被検体1を透過した
超音波を受信する受波用ユニットであり、15Aは一対
のそり状摺動部(例えばフッ素系樹脂あるいはポリイミ
ド樹脂製)、29はそり状摺動部15Aを探触子ホルダ
13に対して取り付ける支持部材、16Aは支持部材2
9に埋設された磁石である。
【0027】図2において磁石6Aと磁石16Aとは、
互いに吸引力を生ずる方向に取り付けられ、この吸引力
によって、そり状摺動部5Aおよびそり状摺動部15A
は被検体1を挟んで互いに対向し、送波用ユニットU1
Aはそり状摺動部5Aを介して、受波用ユニットU2A
はそり状摺動部15Aを介して、それぞれ被検体1に密
着される。送波用ユニットU1Aおよび受波用ユニット
U2Aが被検体1を介して互いに吸引された図2に示す
状態において、送波用ユニットU1Aの送波用探触子2
および受波用ユニットU2Aの受波用探触子12は互い
に同軸に配置される。
【0028】以上のように構成された第2の実施の形態
において、不図示のスキャナにより送波用ユニットU1
Aを駆動すると、磁石6Aおよび磁石16Aの間の磁力
によって受波用ユニットU2Aが送波用ユニットU1A
に追従して移動し、送波用探触子2および受波用探触子
12の同軸関係が維持されるので、第1の実施の形態と
同様に透過型の超音波検査が可能となる。
【0029】第2の実施の形態では、摺動部5Aおよび
摺動部15Aがそり状に形成されているので、送波用ユ
ニットU1Aと被検体1との間の摩擦力および受波用ユ
ニットU2Aと被検体1との間の摩擦力を第1の実施の
形態よりもさらに低減できる。したがって、送波用ユニ
ットU1Aの運動がよりスムーズなものとなり、また、
受波用ユニットU2Aの追従性が向上するので、探触子
2と探触子12との相対位置精度をより向上させること
ができる。また、そり状の摺動部5A,15Aを設ける
ことにより、被検体1の端部に接近した位置でも送波用
ユニットU1Aおよび受波用ユニットU2Aを安定して
被検体1に密着させることができる。
【0030】さらに、被検体1が存在しない状態では、
磁石6Aおよび磁石16Aにより送波用ユニットU1A
および受波用ユニットU2Aを互いに吸引密着すること
ができるが、その場合、摺動部5Aと摺動部15Aは互
いに反対側にそり上がっているために、摺動部5Aおよ
び15Aの先端が二股に分れた状態となる(図2参
照)。したがって被検体1の検査を開始するに際し、送
波用ユニットU1Aと受波用ユニットU2Aとを吸着し
ておき、摺動部5A,15Aの先端に生じた二股の間隙
に被検体1を差込むようにして送波用ユニットU1Aお
よび受波用ユニットU2Aを被検体1にセットすれば、
検査開始時における送波用ユニットU1Aと受波用ユニ
ットU2Aの軸合わせが簡単にできる。また、検査終了
後には、送波用ユニットU1Aと受波用ユニットU2A
とを対向させたまま、被検体1の端部から両ユニットU
1A,U2Aを引き抜くことができるので、作業が簡単
になる。
【0031】摺動部5A,15Aの材質として種々の材
料を用いることができるが、被検体1との間での摩擦抵
抗が小さく、かつ被検体1を傷つけないように被検体1
よりも柔らかい材質を使用することが好ましい。また、
樹脂等を用いる代りに、例えば、そり状摺動部5A,1
5Aの被検体1との接触面に多数の回転自在のボール等
を取り付け、ボール等の回転により摩擦力を低減させる
ようにしてもよい。
【0032】実施の形態の記載および請求項の記載にお
いて、吸引用磁石6および吸引用磁石16は位置合わせ
手段に、スキャナ9は走査手段に、それぞれ対応する。
【0033】
【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、送波用
探触子および受波用探触子の間に作用する磁力により送
波用探触子および受波用探触子を被検体を挟んで互いに
対向させるようにしているので、送波用探触子あるいは
受波用探触子のみを駆動することにより、送波用探触子
および受波用探触子を走査することができる。したがっ
て、大面積の被検体の検査が精度良く容易に行える。請
求項2に記載の発明によれば、送波用探触子に浮力を与
える浮上手段を備えるので、送波用探触子および受波用
探触子の走査をスムーズにすることができる。請求項3
に記載の発明によれば、受波用探触子に浮力を与える浮
上手段を備えるので、送波用探触子および受波用探触子
の走査をスムーズにすることができる。請求項5に記載
の発明によれば、送波用探触子と被検体との間の摩擦力
を低減するそり状の摺動部を送波用探触子に取り付けた
ので、送波用探触子の走査をスムーズにすることがで
き、被検体の端部まで検査ができる。請求項6に記載の
発明によれば、受波用探触子と被検体との間の摩擦力を
低減するそり状の摺動部を受波用探触子に取り付けたの
で、受波用探触子の走査をスムーズにすることができ、
被検体の端部まで検査ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による透過型超音波検査装置の第1の実
施の形態を示す図。
【図2】本発明による透過型超音波検査装置の第2の実
施の形態を示す図。
【図3】従来の透過型超音波検査装置(従来技術1)を
示す図。
【図4】従来の透過型超音波検査装置(従来技術2)を
示す図。
【符号の説明】
1 被検体 2 送波用探触子 5A 摺動部 6 吸引用磁石 9 スキャナ 12 受波用探触子 15A 摺動部 16 吸引用磁石

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体に向けて超音波を送出する送波用
    探触子と、 前記被検体を透過した前記送波用探触子からの前記超音
    波を受信する受波用探触子と、 前記送波用探触子および前記受波用探触子の間に作用す
    る磁力により、前記送波用探触子および前記受波用探触
    子を前記被検体を挟んで互いに対向させる位置合わせ手
    段と、を備えることを特徴とする透過型超音波検査装
    置。
  2. 【請求項2】 液体中の被検体に向けて前記液体中から
    超音波を送出する送波用探触子と、 前記被検体を透過した前記送波用探触子からの前記超音
    波を前記液体中で受信する受波用探触子と、 前記送波用探触子および前記受波用探触子の間に作用す
    る磁力により、前記送波用探触子および前記受波用探触
    子を前記被検体を挟んで互いに対向させる位置合わせ手
    段と、 前記送波用探触子に浮力を与える浮上手段と、を備える
    ことを特徴とする透過型超音波検査装置。
  3. 【請求項3】 液体中の被検体に向けて前記液体中から
    超音波を送出する送波用探触子と、 前記被検体を透過した前記送波用探触子からの前記超音
    波を前記液体中で受信する受波用探触子と、 前記送波用探触子および前記受波用探触子の間に作用す
    る磁力により、前記送波用探触子および前記受波用探触
    子を前記被検体を挟んで互いに対向させる位置合わせ手
    段と、 前記受波用探触子に浮力を与える浮上手段と、を備える
    ことを特徴とする透過型超音波検査装置。
  4. 【請求項4】 前記送波用探触子および前記受波用探触
    子のうちのいずれかの探触子を前記被検体に即して走査
    する走査手段をさらに備えることを特徴とする請求項1
    〜3のいずれか1項に記載の透過型超音波検査装置。
  5. 【請求項5】 前記送波用探触子と前記被検体との間の
    摩擦力を低減するそり状の摺動部を前記送波用探触子に
    取り付けたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1
    項に記載の透過型超音波検査装置。
  6. 【請求項6】 前記受波用探触子と前記被検体との間の
    摩擦力を低減するそり状の摺動部を前記受波用探触子に
    取り付けたことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1
    項に記載の透過型超音波検査装置。
JP8039622A 1996-02-27 1996-02-27 透過型超音波検査装置 Pending JPH09229911A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8039622A JPH09229911A (ja) 1996-02-27 1996-02-27 透過型超音波検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8039622A JPH09229911A (ja) 1996-02-27 1996-02-27 透過型超音波検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09229911A true JPH09229911A (ja) 1997-09-05

Family

ID=12558218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8039622A Pending JPH09229911A (ja) 1996-02-27 1996-02-27 透過型超音波検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09229911A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1324032A1 (en) * 2001-12-28 2003-07-02 Imal S.R.L. Method and device for testing the presence of defects in the production of plane boards
WO2006006951A1 (en) 2004-01-07 2006-01-19 The Boeing Company Non-destructive inspection device for inspecting limited-acces features of a structure
WO2006034066A3 (en) * 2004-09-16 2006-07-27 Boeing Co Transmission type inspection apparatus and method with the transmitter and the receiver being mutually magnetically attracted across the planer object to be inspected
WO2007001375A1 (en) * 2004-09-16 2007-01-04 The Boeing Company Alignment compensator for magnetically attracted inspecting apparatus and method
US7315609B2 (en) 2004-09-16 2008-01-01 The Boeing Company Real-time X-ray scanner and remote crawler apparatus and method
US7313959B2 (en) 2005-05-25 2008-01-01 The Boeing Company Magnetically attracted apparatus, system, and method for remote bondline thickness measurement
US7320249B2 (en) 2004-09-16 2008-01-22 The Boeing Company Magnetically attracted inspecting apparatus and method using a fluid bearing
US7395714B2 (en) 2004-09-16 2008-07-08 The Boeing Company Magnetically attracted inspecting apparatus and method using a ball bearing
JP2008528971A (ja) * 2005-01-24 2008-07-31 ザ・ボーイング・カンパニー 非破壊ストリンガ検査装置および方法
JP2009513979A (ja) * 2005-10-28 2009-04-02 ザ・ボーイング・カンパニー 複合接合の遠隔的な半径検査ツール
US7703327B2 (en) 2004-09-16 2010-04-27 The Boeing Company Apparatus and method for area limited-access through transmission ultrasonic inspection
CN102656451A (zh) * 2009-12-18 2012-09-05 波音公司 包括具有磁力弹簧平衡的桁条探头的无损检测装置
JP2015129656A (ja) * 2014-01-06 2015-07-16 株式会社アトックス 走行型測定装置

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1324032A1 (en) * 2001-12-28 2003-07-02 Imal S.R.L. Method and device for testing the presence of defects in the production of plane boards
WO2006006951A1 (en) 2004-01-07 2006-01-19 The Boeing Company Non-destructive inspection device for inspecting limited-acces features of a structure
EP1709438B1 (en) * 2004-01-07 2015-11-04 The Boeing Company Non-destructive inspection device for inspecting limited-acces features of a structure
US7395714B2 (en) 2004-09-16 2008-07-08 The Boeing Company Magnetically attracted inspecting apparatus and method using a ball bearing
WO2006034066A3 (en) * 2004-09-16 2006-07-27 Boeing Co Transmission type inspection apparatus and method with the transmitter and the receiver being mutually magnetically attracted across the planer object to be inspected
US7315609B2 (en) 2004-09-16 2008-01-01 The Boeing Company Real-time X-ray scanner and remote crawler apparatus and method
US7320249B2 (en) 2004-09-16 2008-01-22 The Boeing Company Magnetically attracted inspecting apparatus and method using a fluid bearing
WO2007001375A1 (en) * 2004-09-16 2007-01-04 The Boeing Company Alignment compensator for magnetically attracted inspecting apparatus and method
US7228741B2 (en) 2004-09-16 2007-06-12 The Boeing Company Alignment compensator for magnetically attracted inspecting apparatus and method
EP2045600A1 (en) * 2004-09-16 2009-04-08 The Boeing Company Transmission type inspection apparatus and method with the transmitter and the receiver being mutually magnetically attracted across the planar object to be inspected
US7703327B2 (en) 2004-09-16 2010-04-27 The Boeing Company Apparatus and method for area limited-access through transmission ultrasonic inspection
JP2008528971A (ja) * 2005-01-24 2008-07-31 ザ・ボーイング・カンパニー 非破壊ストリンガ検査装置および方法
US7313959B2 (en) 2005-05-25 2008-01-01 The Boeing Company Magnetically attracted apparatus, system, and method for remote bondline thickness measurement
JP2009513979A (ja) * 2005-10-28 2009-04-02 ザ・ボーイング・カンパニー 複合接合の遠隔的な半径検査ツール
JP2013514532A (ja) * 2009-12-18 2013-04-25 ザ・ボーイング・カンパニー 磁気ばねバランス式ストリンガプローブを備える非破壊検査装置
CN102656451A (zh) * 2009-12-18 2012-09-05 波音公司 包括具有磁力弹簧平衡的桁条探头的无损检测装置
JP2015129656A (ja) * 2014-01-06 2015-07-16 株式会社アトックス 走行型測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09229911A (ja) 透過型超音波検査装置
JP4789947B2 (ja) 磁気的に引付けられた検査機器用位置合わせ補償器および方法
JP4620398B2 (ja) 構造を超音波で検査するための装置、および構造を検査する方法
US7249512B2 (en) Non-destructive stringer inspection apparatus and method
US7320249B2 (en) Magnetically attracted inspecting apparatus and method using a fluid bearing
US7703327B2 (en) Apparatus and method for area limited-access through transmission ultrasonic inspection
JP6397600B1 (ja) 位置制御装置、位置制御方法、及び超音波映像システム
CN213091502U (zh) 一种可旋转激光样品台
EP0977066A1 (en) Radiation-beam manipulator having a pretensioned thrust bearing
JPH09520A (ja) 超音波スキャナ
JPH03272462A (ja) 超音波探触子の駆動装置
JPH0231345B2 (ja)
JPH056532Y2 (ja)
US20220328341A1 (en) Wafer chuck for handling a wafer
JP2003329652A (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
KR100467405B1 (ko) 대형 파이프 자동 흠탐상 이동로봇용 전자기유도 초음파탐촉자 탈부착 기구
JP2004340667A (ja) 可搬式x線撮影装置
JP7287670B2 (ja) 粘性又は弾性の測定装置及び方法
JP2006189380A (ja) 半導体装置の解析装置及びその解析方法
JPS6324260B2 (ja)
JP2683719B2 (ja) 超音波撮像装置
JP2021188990A (ja) プローブホルダ
JPH0518945A (ja) 送受並置型の超音波探触子
JPS6395350A (ja) 超音波顕微鏡の走査装置
JPH10160742A (ja) 走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダー