JPH09230412A - 露光装置 - Google Patents
露光装置Info
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- JPH09230412A JPH09230412A JP8040900A JP4090096A JPH09230412A JP H09230412 A JPH09230412 A JP H09230412A JP 8040900 A JP8040900 A JP 8040900A JP 4090096 A JP4090096 A JP 4090096A JP H09230412 A JPH09230412 A JP H09230412A
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- units
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70358—Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging
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- Liquid Crystal (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
毎に異なる基板サイズへの対応を容易に実現することが
できる柔軟性に富んだ露光装置を提供する。 【解決手段】 ベース金物5上にそれぞれ同一の対称的
な直方体構造を有し、同じ姿勢で相互に固着できるよう
に構成された各投影光学系ユニット4を複数列、千鳥状
に配置する。また、投影光学系ユニット4とそれぞれ光
軸が整合するように配列された投影光学系ユニット4同
様のユニット構造を有する照明ユニット61を設ける。
露光走査に関して互いに隣接する投影光学系ユニット4
の露光領域がオーバーラップするよう構成される。投影
光学系ユニット4には、投影光学系ユニット4の組み付
け誤差、あるいは個々のユニットのばらつきを補正する
ために結像面内で像の位置を調整する結像位置変更手段
が設けられる。
Description
にマスク上に形成された露光パターンを複数の正立正像
の投影光学系を用いて感光基板上に同時に露光する露光
装置に関するものである。
ンピュータ、テレビジョンなどの表示素子として、液晶
表示装置が広く用いられている。液晶表示装置の製造に
おいては、フォトリソグラフィの手法によりマスク上の
原画パターンをガラス基板上のフォトレジスト層に露光
する工程があり、この露光工程においては図6に示すよ
うな投影光学系を有する露光装置が用いられている。
知られているもので、台形ミラー73、凹面鏡74、凸
面鏡75から構成されている。液晶表示装置などの基板
露光においては図6の構成を図7のように2段に配置し
た正立正像等倍の投影光学系も提案されている。光学系
としては、オフナー光学系のみならず、ダイソン光学系
なども用いられている。
表示装置そのものの大型化が進んでおり、また、生産性
の向上を目的として液晶表示装置の製造において露光基
板の大型化が進んでいる。現時点で360mm×460
mmの基板サイズから、550mm×650mmの基板
サイズへの移行が進んでおり、さらに将来は590mm
×720mm、あるいは1m×1mの基板サイズすら予
想されている。
6、図7に示すような投影光学系1つでは無理があり、
従来の技術では、大型基板を露光するためには、投影光
学系を大型化して一括露光領域を拡大するか、マスクと
基板、あるいは基板のみを複数回ずらして走査露光する
ステップ&スキャン方式で露光する必要がある。ところ
が、投影光学系の大型化により一括露光領域を拡大する
場合は、レンズやミラー等の高精度を要求される光学素
子が大きくなるため、投影光学系の製作が困難になり、
製作コストが上昇するという問題点があった。
プ&スキャン方式で大基板を露光する方法は、光学系の
大型化に伴う困難を避けることはできるが、ステップ数
の増大に伴うスループットの低下、ステップ&スキャン
する2軸ステージの大型化による製作費の増大という問
題点があった。また、将来的に予想されるさらなる基板
の大型化への対応は、投影光学系、あるいは2軸ステー
ジの大幅な変更が必要になり、いずれの方法にしても、
困難が予想される。
の対応、および製造ライン毎に異なる基板サイズへの対
応を容易に実現することができる柔軟性に富んだ露光装
置を提供することにある。
め、本発明によれば、マスク上に形成された露光パター
ンを複数の正立正像の投影光学系を用いて感光基板上に
同時に露光する露光装置において、複数の前記投影光学
系がそれぞれ相互に任意の連結数だけ連結可能に構成さ
れた投影光学系ユニットから構成される構成を採用し
た。
の形態を説明する。本発明では、露光領域の拡大のた
め、投影光学系の大型化ではなく、複数の投影光学系の
露光領域を継ぐことにより、露光領域の拡大を実現す
る。さらに、本発明では、投影光学系をユニット化し、
ユニット相互の連結を可能とする構造を採用する。これ
により、将来、基板サイズが拡大した場合にも、投影光
学系ユニットを追加することにより、露光領域を拡大す
ることが可能となる。
構成を示している。図において符号3はマルチ投影光学
系で、不図示の基台上に固定されたこのマルチ投影光学
系3に対して、不図示の駆動系により移動されるスキャ
ンステージ上に載置されたマスク(原版)1と被露光基
板2が一体となって矢印方向に走査され、マスク1上の
パターンが、被露光基板2に転写されるよう構成されて
いる。
ース金物5に直方体状の投影光学系のユニット4を5個
装着したものであり、本実施形態では投影光学系ユニッ
ト4は3個および2個の組を千鳥状に配置してある。各
々の投影光学系のユニット4は後述するように相互連結
が可能で、その数および配置を任意に選択することがで
きるようになっている。
て投影光学系ユニット4を2個増設して全部で7個連結
されたもので、このような増設を行なうことにより図1
の構成から露光領域を拡大することができる。また、図
1および図2において、符号60は、光源、照明光学系
をそれぞれ内蔵した照明ユニット61を相互に連結して
構成された照明系である。
4と同じ数だけ用意され、後述の投影光学系ユニット4
と同様の構造により相互に連結される。その際、照明ユ
ニット61の投光部62の光軸は各投影光学系ユニット
4の入射開口部(後述)に整合するように配置される。
このように、投影光学系のみならず照明光学系をもユニ
ット化することによって、よりシステムの柔軟性が増
す。
を詳細に示す。図3は投影光学系ユニット4の筐体部分
を、また、図4は内部の光学系の構造を示している。図
3に示すように、投影光学系ユニット4は、直方体状の
筐体41を有しており、この筐体は図1ないし図2に示
すようにユニットを相互に固定するための構造を有して
いる。
に2個、もう片側に1個)の長方形の開口部42、4
2、42が設けられている。この開口部42の図中上側
の壁には筐体41外部へ貫通した透孔43が穿たれてお
り、また下側の壁には同様のビス穴44が設けられてい
る。筐体41の寸法、開口部42、透孔43、ビス穴4
4の配置位置は全てのユニットで同じであり、したがっ
て、投影光学系ユニット4を積み重ねてビス7を透孔4
3を介して上側の投影光学系ユニット4のビス穴44に
ネジ止めすることにより、上下の投影光学系ユニット4
が3点止めで固定されることになる。なお、ユニットど
うしを固着せず、各ユニットをベース金物5に予め形成
したハウジング内にビス7により固定してもよい。
ことにより、投影光学系ユニットの取付時の変形を防止
できる。なお、図3において、符号45、46はそれぞ
れ投影光の入射および出射用の開口部、符号47は後述
の光学系内の凹面鏡のためのハウジングである。図5は
図2におけるように7個の投影光学系ユニット4をベー
ス金物5上に組み込んだ状態を示している。
はあくまでも一例であり、要は各投影光学系ユニット4
が同一の対称的な構造を有し、同じ姿勢で相互に固着で
きるようになっていることが重要であり、ユニット相互
の組立構造に関しては図3のものに限定されず、当業者
において任意の構造を採用することができる。さて、本
実施形態において、投影光学系ユニット4の内部の光学
系は、図4に示すように、2段のダイソン光学系8(符
号8は光軸、正確には結像中心点の主光線を指す)から
構成されており、正立正像等倍の投影光学系になってい
る。すなわち、1つの光学系はプリズム51、レンズ5
2、凹面鏡53から構成され、その中間部に視野絞り1
0、および結像位置変更手段9が配置される。
ユニット4を相互に装着した際の光学系のアライメント
を取るためのものであり、その構造および機能について
は後述する。2段のダイソン光学系の中間部には等倍の
中間像が形成され、この位置に設置された視野絞り10
によって、露光領域6が規定される。なお、符号6’は
マスク1上の原画パターン領域を示している。
(mJ/平方cm)は、プレート上の照度をP(mW/
平方cm)、クロススキャン方向の露光幅をW(c
m)、走査速度をV(cm/s)としたとき、次の式に
より決定される。 E=PW/V 本実施形態のようなマルチ投影光学系においては、露光
量を一定にするために、複数の露光領域6の照度を同一
にし、かつ走査方向(図1、図4中の矢印)に直交する
方向(以下「クロススキャン方向」という)に関して各
投影光学系ユニット4内の視野絞り10の幅を等しくし
ている。
絞り10の形状は、図1、図4などに示すように台形形
状であり、走査露光の際には、図1に示すように千鳥状
に配置された台形の露光領域6(斜線部)の端部がオー
バーラップして露光されるように各ユニットが組み付け
られる。このとき、隣接する露光領域との間のオーバー
ラップ部の露光量をオーバーラップ部以外の場所の露光
量と等しくするために、正確に視野絞り10を配置する
必要がある。
る1つの投影光学系ユニットの露光領域が、図3の符号
6のような台形形状の場合は、露光領域のクロススキャ
ン方向の中心長をL、オーバーラップ部のクロススキャ
ン方向の長さをp、連結された投影光学系ユニットの数
をnとした時、全露光領域のクロススキャン方向の長さ
wは、次の式のようになる。
連結してマルチ投影光学系を構成する場合、上記露光領
域のクロススキャン方向の中心長Lが、投影光学系ユニ
ットの外形幅、(あるいはユニットの取付間隔といって
も良い)の半分の場合に、整合性を持つ。すなわち、投
影光学系ユニットの外形幅は、ほぼ2Lに構成される。
影光学系では、複数の領域を同時に露光するので、隣接
した露光領域の像をズレ無しに継ぐためには、複数の投
影光学系の間で、光軸アライメントによる結像位置調整
が必要である。結像位置変更手段9は光軸アライメント
のために設けられるもので、たとえば、結像位置変更手
段9は図4に示したような平行平面ガラスから構成する
ことが考えられる。
の平行平面ガラスから構成され、不図示の機構によりそ
れぞれ異なる2本の軸(たとえば、上記の露光走査方向
と、クロススキャン方向にそれぞれ沿った支軸)周りに
微動可能とし、光軸シフトを行なう。このような構造に
より、2つのダイソン投影光学系の間で光軸アライメン
トを取り、結像位置調整を行なうことにより、隣接した
露光領域の像をズレ無しに継ぐことが可能となる。
ユニット4を組み付け、相互に固定した後、結像位置変
更手段9を調整するが、複数の露光領域6の結像位置
は、マスク1に設けた基準マークとプレートに設けた基
準マークとの比較により検出し、結像位置変更手段9に
より調整することが考えられる。なお、上記の光軸アラ
イメントのために、たとえばアライメント用のマスク、
プレートををユーザ、あるいはサービスマンに供給し、
アライメント作業を行なわせることが考えられる。
み付け、相互に固定した後、光軸アライメントを取るこ
とにより、投影光学系ユニット4の組み付け誤差、ある
いは個々のユニットのばらつきを補正することができ
る。以上の実施形態におけるように、複数の直方体状に
完成した投影光学系ユニットを連結してマルチ投影光学
系を構成することにより、露光システムをきわめて柔軟
に構成し、運用することができる。
場合でも、装置全体を換装することなく投影光学系を追
加して露光領域を広げることが容易であり、露光装置の
工期短縮、コストダウン、ひいては液晶デバイス等の製
品のコストダウンが可能になるという利点がある。ま
た、露光システムの製造においても、投影光学素子の製
造設備(溶融、研摩、コート等)を大型化することなく
露光領域を拡大することができ、被露光基板の大型化へ
の対応が可能になる。
ズへの対応も容易である。さらに、図1、図2に示した
ように、投影光学系のみならず照明光学系をもユニット
化することによって、よりシステムの柔軟性が増すのは
いうまでもない。なお、上記実施形態においては、ダイ
ソン光学系を例示したが、光学系としては任意の構成を
用いることができ、たとえば、従来技術として示したオ
フナー光学系などを採用する場合でも同様の構成を実施
できるのはもちろんである。
によれば、複数の投影光学系をそれぞれ相互に任意の連
結数だけ連結可能に構成された投影光学系ユニットから
構成するようにしているので、露光基板サイズに変更が
あっても装置全体を換装することなく投影光学系を追加
して露光領域を変更することができ、露光装置の工期短
縮、コストダウン、ひいては液晶デバイス等の製品のコ
ストダウンが可能となる。また、露光システムの製造に
おいても、投影光学素子の製造設備を大型化することな
く任意の露光領域を設定することができ、したがって露
光システムをきわめて柔軟に構成し、運用することがで
きる、という優れた効果が得られる。
態の外観図である。
観図である。
示した外観図である。
造を示した説明図である。
図である。
る。
る。
Claims (6)
- 【請求項1】 マスク上に形成された露光パターンを複
数の正立正像の投影光学系を用いて感光基板上に同時に
露光する露光装置において、 複数の前記投影光学系がそれぞれ相互に任意の連結数だ
け連結可能に構成された投影光学系ユニットから構成さ
れることを特徴とする露光装置。 - 【請求項2】 前記投影光学系ユニットに結像面内で像
の位置を調整する結像位置変更手段が設けられることを
特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項3】 前記投影光学系ユニットにそのユニット
の露光領域を画成する視野絞りが設けられることを特徴
とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項4】 前記投影光学系ユニットが複数列、千鳥
状に配置され、露光走査に関して互いに隣接する投影光
学系ユニットの露光領域がオーバーラップするよう構成
されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。 - 【請求項5】 前記投影光学系ユニットの各列方向の外
形幅が、その内部の光学系の露光領域の同方向に沿った
幅のほぼ2倍であることを特徴とする請求項4に記載の
露光装置。 - 【請求項6】 相互に任意の連結数だけ連結可能に構成
され、前記投影光学系ユニットとそれぞれ光軸が整合す
るように配列可能な照明ユニットが設けられることを特
徴とする請求項1に記載の露光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04090096A JP3791037B2 (ja) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | 露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04090096A JP3791037B2 (ja) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | 露光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09230412A true JPH09230412A (ja) | 1997-09-05 |
| JP3791037B2 JP3791037B2 (ja) | 2006-06-28 |
Family
ID=12593395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04090096A Expired - Lifetime JP3791037B2 (ja) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | 露光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3791037B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000047390A (ja) * | 1998-05-22 | 2000-02-18 | Nikon Corp | 露光装置およびその製造方法 |
| JP2001166497A (ja) * | 1999-10-01 | 2001-06-22 | Nikon Corp | 露光方法及び露光装置 |
| JP2013174844A (ja) * | 2012-01-27 | 2013-09-05 | Mejiro Genossen:Kk | 等倍反射型結像光学系 |
| WO2016125325A1 (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-11 | 株式会社目白ゲノッセン | 観察装置 |
| JP2016148829A (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-18 | 株式会社目白ゲノッセン | 観察装置 |
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| JPH0855783A (ja) * | 1994-08-16 | 1996-02-27 | Nikon Corp | 露光装置 |
-
1996
- 1996-02-28 JP JP04090096A patent/JP3791037B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3791037B2 (ja) | 2006-06-28 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150414 Year of fee payment: 9 |
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| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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