JPH09257678A - 材料試験機への試験片の取付方法 - Google Patents
材料試験機への試験片の取付方法Info
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- JPH09257678A JPH09257678A JP7172396A JP7172396A JPH09257678A JP H09257678 A JPH09257678 A JP H09257678A JP 7172396 A JP7172396 A JP 7172396A JP 7172396 A JP7172396 A JP 7172396A JP H09257678 A JPH09257678 A JP H09257678A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試験片を掴み具に対して常に一定の位置関
係、姿勢で取り付けることができ、非接触伸び計等を用
いて、伸びの大きな試験片の伸びを試験終了まで確実に
測定することのできる試験片の取付方法を提供する。 【解決手段】 一対の掴み具２１，２２に対して一定の
位置関係で配置可能な治具Ｊに、少なくとも試験片Ｗの
一端部と中央部に対する当たり部Ｐ3 〜Ｐ6を設け、こ
の治具Ｊを介して試験片Ｗを取り付けることで、その中
心Ｃw と非接触伸び計３０のビーム照射領域Ｌの中心Ｃ
L とを一致させ、試験の進行に伴う標点ａ，ｂの領域Ｌ
からの逸脱を防止する。
係、姿勢で取り付けることができ、非接触伸び計等を用
いて、伸びの大きな試験片の伸びを試験終了まで確実に
測定することのできる試験片の取付方法を提供する。 【解決手段】 一対の掴み具２１，２２に対して一定の
位置関係で配置可能な治具Ｊに、少なくとも試験片Ｗの
一端部と中央部に対する当たり部Ｐ3 〜Ｐ6を設け、こ
の治具Ｊを介して試験片Ｗを取り付けることで、その中
心Ｃw と非接触伸び計３０のビーム照射領域Ｌの中心Ｃ
L とを一致させ、試験の進行に伴う標点ａ，ｂの領域Ｌ
からの逸脱を防止する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験片の両端を把
持して負荷を与えるための一対の掴み具を備えた材料試
験機に対する試験片の取付方法に関し、特に、非接触の
伸び計ないしは歪み計を備えた材料試験機に対して試験
片を取り付けるのに適用して有効な試験片の取付方法に
関する。
持して負荷を与えるための一対の掴み具を備えた材料試
験機に対する試験片の取付方法に関し、特に、非接触の
伸び計ないしは歪み計を備えた材料試験機に対して試験
片を取り付けるのに適用して有効な試験片の取付方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば試験片の引張試験を行う場合、通
常、対向配置された一対の掴み具を備えた材料試験機を
用い、その各掴み具の間隔を順次増大させることによっ
て試験片に引張負荷を与えるとともに、試験片の２箇所
の標点間の刻々の伸びを伸び計によって測定することが
行われる。
常、対向配置された一対の掴み具を備えた材料試験機を
用い、その各掴み具の間隔を順次増大させることによっ
て試験片に引張負荷を与えるとともに、試験片の２箇所
の標点間の刻々の伸びを伸び計によって測定することが
行われる。
【０００３】このような材料試験において試験片の伸び
を測定するための伸び計としては、従来、試験片の２箇
所の標点のそれぞれに対してナイフエッジ等を接触させ
る接触式のほか、レーザビーム等を２箇所の標点に照射
し、その反射光または散乱光を検出して標点間の刻々の
伸びを非接触のもとに測定する非接触式のものがある
（例えば特開平８−４３０３６号）。
を測定するための伸び計としては、従来、試験片の２箇
所の標点のそれぞれに対してナイフエッジ等を接触させ
る接触式のほか、レーザビーム等を２箇所の標点に照射
し、その反射光または散乱光を検出して標点間の刻々の
伸びを非接触のもとに測定する非接触式のものがある
（例えば特開平８−４３０３６号）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上のよう
な引張試験等に際して、接触式の伸び計を用いる場合に
は、伸び計のナイフエッジ等を試験片の各標点に接触さ
せさえすれば、試験片の掴み具に対する取付精度は特に
必要ではないが、非接触式の伸び計を用いる場合には、
試験片がある程度正確に位置決めされていないと、試験
当初においてビームの照射領域内に位置していた２箇所
の標点のいずれかまたは双方が、試験の進行に伴う試験
片の変形等によって、ビームの照射領域から逸脱してし
まい、測定を継続できなくなる場合がある。特に、比較
的伸びが大きく、引張によりその断面が細くなるような
試験片においては、この問題は顕著となる。
な引張試験等に際して、接触式の伸び計を用いる場合に
は、伸び計のナイフエッジ等を試験片の各標点に接触さ
せさえすれば、試験片の掴み具に対する取付精度は特に
必要ではないが、非接触式の伸び計を用いる場合には、
試験片がある程度正確に位置決めされていないと、試験
当初においてビームの照射領域内に位置していた２箇所
の標点のいずれかまたは双方が、試験の進行に伴う試験
片の変形等によって、ビームの照射領域から逸脱してし
まい、測定を継続できなくなる場合がある。特に、比較
的伸びが大きく、引張によりその断面が細くなるような
試験片においては、この問題は顕著となる。
【０００５】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、試験片を掴み具に対して常に正確に一定の位置
関係で取り付けることができ、もって比較的伸び等の大
きな材料でも、非接触式の伸び計ないしは歪み計等を用
いた測定を試験の終了まで確実に行うことのできる、材
料試験機への試験片の取付方法の提供を目的としてい
る。
もので、試験片を掴み具に対して常に正確に一定の位置
関係で取り付けることができ、もって比較的伸び等の大
きな材料でも、非接触式の伸び計ないしは歪み計等を用
いた測定を試験の終了まで確実に行うことのできる、材
料試験機への試験片の取付方法の提供を目的としてい
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の材料試験機への試験片の取付方法では、図
２に例示するように、一対の掴み具２１，２２の少なく
とも一方に対てし所定の位置関係に配置可能で、かつ、
試験片Ｗの中央部と一端部を含む少なくとも２箇所に対
する当たりＰ3 ・・Ｐ6 が設けられた治具Ｊを用い、その
治具Ｊを掴み具（２１または２２、もしくは２１と２
２）に所定の位置関係で配置し、かつ、試験片Ｗの該当
箇所を治具１の当たりに当接させた状態で、試験片Ｗの
両端を各掴み具２１，２２に装着する、という手段を講
じている。
め、本発明の材料試験機への試験片の取付方法では、図
２に例示するように、一対の掴み具２１，２２の少なく
とも一方に対てし所定の位置関係に配置可能で、かつ、
試験片Ｗの中央部と一端部を含む少なくとも２箇所に対
する当たりＰ3 ・・Ｐ6 が設けられた治具Ｊを用い、その
治具Ｊを掴み具（２１または２２、もしくは２１と２
２）に所定の位置関係で配置し、かつ、試験片Ｗの該当
箇所を治具１の当たりに当接させた状態で、試験片Ｗの
両端を各掴み具２１，２２に装着する、という手段を講
じている。
【０００７】本発明の試験片の取付方法によれば、試験
片Ｗは、治具Ｊを介して一対の掴み具２１，２２に対し
少なくとも一端部と中央部が位置決めされるため、掴み
具２１，２２に対して常に一定の位置関係並びに姿勢で
取り付けられる。図２（Ｂ）のように、この取付状態に
おける試験片Ｗの中心Ｃw （引張方向に沿った中心線、
以下同）を、例えば掴み具２１，２２の中心Ｃc （各掴
み具２１，２２の中心を結ぶ引張方向に沿う線、以下
同）と重なるように設定しておき、また、非接触伸び計
等のビーム照射領域Ｌの中心ＣL （引張方向に沿った中
心線、以下同）を掴み具２１，２２の中心Ｃc と重なる
ように設定しておくことにより、試験の進行に伴って試
験片Ｗの断面が小さくなっても、ビーム照射領域Ｌは常
に試験片Ｗの中心Ｃw 上に位置することになるため、試
験を開始する前にビーム照射領域Ｌ上に設定した２つの
標点ａ，ｂはビーム照射領域Ｌから逸脱することがな
い。
片Ｗは、治具Ｊを介して一対の掴み具２１，２２に対し
少なくとも一端部と中央部が位置決めされるため、掴み
具２１，２２に対して常に一定の位置関係並びに姿勢で
取り付けられる。図２（Ｂ）のように、この取付状態に
おける試験片Ｗの中心Ｃw （引張方向に沿った中心線、
以下同）を、例えば掴み具２１，２２の中心Ｃc （各掴
み具２１，２２の中心を結ぶ引張方向に沿う線、以下
同）と重なるように設定しておき、また、非接触伸び計
等のビーム照射領域Ｌの中心ＣL （引張方向に沿った中
心線、以下同）を掴み具２１，２２の中心Ｃc と重なる
ように設定しておくことにより、試験の進行に伴って試
験片Ｗの断面が小さくなっても、ビーム照射領域Ｌは常
に試験片Ｗの中心Ｃw 上に位置することになるため、試
験を開始する前にビーム照射領域Ｌ上に設定した２つの
標点ａ，ｂはビーム照射領域Ｌから逸脱することがな
い。
【０００８】すなわち、試験当初にビームの照射領域Ｌ
内に位置していた２箇所の標点のいずれかまたは双方
が、試験の進行に伴ってビーム照射領域Ｌから逸脱する
のは、図４に模式的に示すように、試験片Ｗの中心Ｃw
の位置がビーム照射領域Ｌの中心ＣL に対して平行にず
れている場合（Ａ）と、試験片の中心Ｃw がビーム照射
領域Ｌの中心ＣL に対して傾いている場合（Ｂ）、およ
びこれらが複合している場合である。
内に位置していた２箇所の標点のいずれかまたは双方
が、試験の進行に伴ってビーム照射領域Ｌから逸脱する
のは、図４に模式的に示すように、試験片Ｗの中心Ｃw
の位置がビーム照射領域Ｌの中心ＣL に対して平行にず
れている場合（Ａ）と、試験片の中心Ｃw がビーム照射
領域Ｌの中心ＣL に対して傾いている場合（Ｂ）、およ
びこれらが複合している場合である。
【０００９】本発明の方法により、試験片Ｗの中心Ｃw
は常に掴み具２１，２２の中心Ｃcと一定の位置関係並
びに姿勢を保って取り付け、また、それと同じ位置関係
並びに姿勢のもとに掴み具中心Ｃc に対してビーム照射
領域中心ＣL を設定しておけば、試験片Ｗの中心Ｃw と
ビーム照射領域中心ＣL とが常に一致した状態となるた
め、上記のようなビーム照射領域Ｌからの標点ａ，ｂの
逸脱は生じない。
は常に掴み具２１，２２の中心Ｃcと一定の位置関係並
びに姿勢を保って取り付け、また、それと同じ位置関係
並びに姿勢のもとに掴み具中心Ｃc に対してビーム照射
領域中心ＣL を設定しておけば、試験片Ｗの中心Ｃw と
ビーム照射領域中心ＣL とが常に一致した状態となるた
め、上記のようなビーム照射領域Ｌからの標点ａ，ｂの
逸脱は生じない。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照しつつ説明する。図１は本発明方法によって験
片Ｗを取り付けるのに適した材料試験機の構成例を示す
図で、図２は、その試験機への試験片Ｗの取り付け方法
を、分解斜視図（Ａ）および正面図（Ｂ）で示す説明図
である。
面を参照しつつ説明する。図１は本発明方法によって験
片Ｗを取り付けるのに適した材料試験機の構成例を示す
図で、図２は、その試験機への試験片Ｗの取り付け方法
を、分解斜視図（Ａ）および正面図（Ｂ）で示す説明図
である。
【００１１】この図１に例示する試験機は、ベッド１１
の上に左右一対のねじ棹１２，１３が垂直に設けられて
おり、このねじ棹１２，１３にクロスヘッド１４の両端
がそれぞれナット１４ａ，１４ｂを介して支承されてい
る。各ねじ棹１２，１３はベッド１１内に設けられた駆
動機構（図示せず）によって互いに同方向に回動され、
この各ねじ棹１２，１３の回動により、クロスヘッド１
４がベッド１１に対して上下動する。
の上に左右一対のねじ棹１２，１３が垂直に設けられて
おり、このねじ棹１２，１３にクロスヘッド１４の両端
がそれぞれナット１４ａ，１４ｂを介して支承されてい
る。各ねじ棹１２，１３はベッド１１内に設けられた駆
動機構（図示せず）によって互いに同方向に回動され、
この各ねじ棹１２，１３の回動により、クロスヘッド１
４がベッド１１に対して上下動する。
【００１２】ベッド１１の上面には一方の掴み具２１が
配設されているとともに、この掴み具２１に対向して、
クロスヘッド１４の下面に他方の掴み具２２が配設され
ており、これらによって試験片Ｗの両端が把持され、そ
の状態でクロスヘッド１４を上昇させることによって試
験片Ｗに引張負荷が与えられる。各掴み具２１，２２
は、それぞれ対向配置された２枚のチャック歯（掴み
歯）により、試験片Ｗをその板厚方向に挟着する公知の
ものである。
配設されているとともに、この掴み具２１に対向して、
クロスヘッド１４の下面に他方の掴み具２２が配設され
ており、これらによって試験片Ｗの両端が把持され、そ
の状態でクロスヘッド１４を上昇させることによって試
験片Ｗに引張負荷が与えられる。各掴み具２１，２２
は、それぞれ対向配置された２枚のチャック歯（掴み
歯）により、試験片Ｗをその板厚方向に挟着する公知の
ものである。
【００１３】掴み具２１，２２に把手された状態の試験
片Ｗの伸びは、レーザ非接触伸び計３０によって非接触
のもとに計測される。レーザ非接触伸び計３０は、例え
ば前記した特開平８−４３０３６号等において開示され
ている、スペックルパターンを利用した公知のもので、
試験片Ｗの引張方向に伸びる一様なレーザビームを照射
する照射光学系と、試験片Ｗの表面によるレーザビーム
の散乱光を入射して、その散乱光中に含まれるスペック
ルパターンデータを得るための１次元イメージセンサ、
並びにそのイメージセンサの出力を用いて、試験片Ｗの
表面上の２箇所の標点ａ，ｂからのスペックルパターン
の移動量、従って各標点ａ，ｂの移動量を、各標点ごと
のスペックルパターンデータの経時的変化からその相互
相関関数を算出することによって個別に求めるととも
に、その算出結果に従って各標点ａ，ｂを演算上で追尾
しながら、各標点ａ，ｂの刻々の移動量の差から、その
標点ａ，ｂ間の刻々の伸びを計測することができる。
片Ｗの伸びは、レーザ非接触伸び計３０によって非接触
のもとに計測される。レーザ非接触伸び計３０は、例え
ば前記した特開平８−４３０３６号等において開示され
ている、スペックルパターンを利用した公知のもので、
試験片Ｗの引張方向に伸びる一様なレーザビームを照射
する照射光学系と、試験片Ｗの表面によるレーザビーム
の散乱光を入射して、その散乱光中に含まれるスペック
ルパターンデータを得るための１次元イメージセンサ、
並びにそのイメージセンサの出力を用いて、試験片Ｗの
表面上の２箇所の標点ａ，ｂからのスペックルパターン
の移動量、従って各標点ａ，ｂの移動量を、各標点ごと
のスペックルパターンデータの経時的変化からその相互
相関関数を算出することによって個別に求めるととも
に、その算出結果に従って各標点ａ，ｂを演算上で追尾
しながら、各標点ａ，ｂの刻々の移動量の差から、その
標点ａ，ｂ間の刻々の伸びを計測することができる。
【００１４】このレーザ非接触伸び計３０のレーザビー
ムの照射領域Ｌは自由に設定することができるが、この
例においては、そのビーム照射領域Ｌの中心ＣL が上下
の掴み具２１，２２の中心Ｃc と一致するように設定さ
れる。
ムの照射領域Ｌは自由に設定することができるが、この
例においては、そのビーム照射領域Ｌの中心ＣL が上下
の掴み具２１，２２の中心Ｃc と一致するように設定さ
れる。
【００１５】さて、以上のような材料試験機に対して試
験片Ｗを取り付けるに当たり、図２のような治具Ｊを用
いて、以下に示す手順で試験片Ｗを掴み具２１，２２に
装着することで、試験片Ｗが大きく伸びてその断面が大
幅に小さくなっても、レーザ非接触伸び計３０により継
続して伸びを計測することか可能となる。
験片Ｗを取り付けるに当たり、図２のような治具Ｊを用
いて、以下に示す手順で試験片Ｗを掴み具２１，２２に
装着することで、試験片Ｗが大きく伸びてその断面が大
幅に小さくなっても、レーザ非接触伸び計３０により継
続して伸びを計測することか可能となる。
【００１６】この例において治具Ｊは、全体として板状
でその一面側に一様な深さの凹所Ｄが形成されたもの
で、その下縁部両側には、下側の掴み具２１の２つのチ
ャック歯２１ａ，２１ｂのうちの一方のチャック歯２１
ａの上縁両側の直角のコーナー部分に当接してこの治具
Ｊを掴み具２１に対して一定の位置関係に位置決めるた
めの、直角の切欠状の当たり部Ｐ1 ，Ｐ2 が形成されて
いる。
でその一面側に一様な深さの凹所Ｄが形成されたもの
で、その下縁部両側には、下側の掴み具２１の２つのチ
ャック歯２１ａ，２１ｂのうちの一方のチャック歯２１
ａの上縁両側の直角のコーナー部分に当接してこの治具
Ｊを掴み具２１に対して一定の位置関係に位置決めるた
めの、直角の切欠状の当たり部Ｐ1 ，Ｐ2 が形成されて
いる。
【００１７】また、凹所Ｄの輪郭は、試験片Ｗの一方の
掴み部Ｗe の幅と同等の幅を有する幅広部Ｄe に隣接し
て、同試験片Ｗの中央部Ｗc の幅と同等の幅を有する狭
窄部Ｄc が配置された形状を持ち、幅広部Ｄe の下端部
の両側の内側面が試験片Ｗの掴み部Ｗe の両側面に当接
する平坦面状の当たり部Ｐ3 ，Ｐ4 を形成し、狭窄部Ｄ
c の両側の内側面が試験片Ｗの中央部Ｗc の両側面に当
接する平坦面状の当たり部Ｐ5 ，Ｐ6 を形成している。
この凹所Ｄの全体および前記した切欠状の当たり部
Ｐ1 ，Ｐ2 は、左右対称である。
掴み部Ｗe の幅と同等の幅を有する幅広部Ｄe に隣接し
て、同試験片Ｗの中央部Ｗc の幅と同等の幅を有する狭
窄部Ｄc が配置された形状を持ち、幅広部Ｄe の下端部
の両側の内側面が試験片Ｗの掴み部Ｗe の両側面に当接
する平坦面状の当たり部Ｐ3 ，Ｐ4 を形成し、狭窄部Ｄ
c の両側の内側面が試験片Ｗの中央部Ｗc の両側面に当
接する平坦面状の当たり部Ｐ5 ，Ｐ6 を形成している。
この凹所Ｄの全体および前記した切欠状の当たり部
Ｐ1 ，Ｐ2 は、左右対称である。
【００１８】試験片Ｗを掴み具２１，２２に取り付ける
に当たっては、まず、図２（Ａ）に示すように、掴み具
２１，２２のチャック歯を開放状態としておき、図中一
点鎖線で示すように試験片Ｗを治具Ｊの凹所Ｄ内に嵌め
込み、試験片Ｗの下側の掴み部Ｗe の両側面および中央
部Ｗc をそれぞれ当たり部Ｐ3 ，Ｐ4 、およびＰ5 ，Ｐ
6 に当接させる。次に、その状態で、同図に二点鎖線で
に示すように、治具Ｊの当たり部Ｐ1 ，Ｐ2 を掴み具２
１のチャック歯２１ａの上側両コーナー部に当接させ、
その状態で上下の掴み具２１，２２のチャック歯を閉じ
て試験片Ｗを把持する。
に当たっては、まず、図２（Ａ）に示すように、掴み具
２１，２２のチャック歯を開放状態としておき、図中一
点鎖線で示すように試験片Ｗを治具Ｊの凹所Ｄ内に嵌め
込み、試験片Ｗの下側の掴み部Ｗe の両側面および中央
部Ｗc をそれぞれ当たり部Ｐ3 ，Ｐ4 、およびＰ5 ，Ｐ
6 に当接させる。次に、その状態で、同図に二点鎖線で
に示すように、治具Ｊの当たり部Ｐ1 ，Ｐ2 を掴み具２
１のチャック歯２１ａの上側両コーナー部に当接させ、
その状態で上下の掴み具２１，２２のチャック歯を閉じ
て試験片Ｗを把持する。
【００１９】以上の方法によれば、試験片Ｗが治具Ｊに
対して当たり部Ｐ3 〜Ｐ6 によって上下左右に規制さ
れ、かつ、治具Ｊが当たり部Ｐ1 ，Ｐ2 によってチャッ
ク歯２１ａに対して上下左右に規制された状態で、試験
片Ｗが掴み具２１，２２に把持される。治具Ｊは前記し
たように左右対称形であり、また、試験片ＷもＪＩＳに
規定されるように左右対称形であり、従って試験片Ｗ
は、図２（Ｂ）のようにその中心Ｃw が常に掴み具２
１，２２の中心Ｃc と同一線状に位置した状態で掴み具
２１，２２に把持されることになる。また、前記したよ
うに、レーザ非接触伸び計３０からのレーザビームの照
射領域Ｌの中心ＣL は、掴み具２１，２２の中心Ｃc に
一致しており、よって試験片Ｗは、その中心Ｃw が常に
ビーム照射領域ＣL と同一線状に位置した状態で、試験
機に対して取り付けられることになる。
対して当たり部Ｐ3 〜Ｐ6 によって上下左右に規制さ
れ、かつ、治具Ｊが当たり部Ｐ1 ，Ｐ2 によってチャッ
ク歯２１ａに対して上下左右に規制された状態で、試験
片Ｗが掴み具２１，２２に把持される。治具Ｊは前記し
たように左右対称形であり、また、試験片ＷもＪＩＳに
規定されるように左右対称形であり、従って試験片Ｗ
は、図２（Ｂ）のようにその中心Ｃw が常に掴み具２
１，２２の中心Ｃc と同一線状に位置した状態で掴み具
２１，２２に把持されることになる。また、前記したよ
うに、レーザ非接触伸び計３０からのレーザビームの照
射領域Ｌの中心ＣL は、掴み具２１，２２の中心Ｃc に
一致しており、よって試験片Ｗは、その中心Ｃw が常に
ビーム照射領域ＣL と同一線状に位置した状態で、試験
機に対して取り付けられることになる。
【００２０】ここで、試験片Ｗは、引張負荷により伸び
てその断面が小さく変形しても、変形はその中心Ｃw を
対称軸として生じるため、上記のような試験片Ｗの取付
状態によれば、当初にビーム照射領域Ｌ上に設定された
２つの標点ａ，ｂは、試験片Ｗが大きく伸びてその断面
が小さくなっても、ビーム照射領域Ｌから逸脱すること
がない。
てその断面が小さく変形しても、変形はその中心Ｃw を
対称軸として生じるため、上記のような試験片Ｗの取付
状態によれば、当初にビーム照射領域Ｌ上に設定された
２つの標点ａ，ｂは、試験片Ｗが大きく伸びてその断面
が小さくなっても、ビーム照射領域Ｌから逸脱すること
がない。
【００２１】なお、本発明において用いられる治具Ｊの
形状は、以上の実施の形態に限られないことは勿論であ
り、要は、掴み具２１ないしは２２に対して一定の位置
関係で配置することが可能であること、および、試験片
Ｗの少なくとも一端部と中央部に対して当接してこれを
一定の位置並びに姿勢に規制し得る当たり部を有してい
れば足りる。従って、治具Ｊとして、図２に例示した形
状のものを上下に対称に一体化した形状のもの、あるい
は、図３に正面図を例示するように、両端に上下の掴み
具２１，２２に対する当たり部を有し、かつ、その間に
試験片Ｗの輪郭に沿った凹所Ｄ′を備えたもの、つまり
掴み具２１，２２に把持されていない部分の試験片Ｗの
側面全面に対する当たりを備えたもの等、上記の条件を
満足するものであれば任意の形状とすることができる。
形状は、以上の実施の形態に限られないことは勿論であ
り、要は、掴み具２１ないしは２２に対して一定の位置
関係で配置することが可能であること、および、試験片
Ｗの少なくとも一端部と中央部に対して当接してこれを
一定の位置並びに姿勢に規制し得る当たり部を有してい
れば足りる。従って、治具Ｊとして、図２に例示した形
状のものを上下に対称に一体化した形状のもの、あるい
は、図３に正面図を例示するように、両端に上下の掴み
具２１，２２に対する当たり部を有し、かつ、その間に
試験片Ｗの輪郭に沿った凹所Ｄ′を備えたもの、つまり
掴み具２１，２２に把持されていない部分の試験片Ｗの
側面全面に対する当たりを備えたもの等、上記の条件を
満足するものであれば任意の形状とすることができる。
【００２２】また、本発明に用いる治具Ｊは、先の例の
ように掴み具に対して当たり部Ｐ1，Ｐ2 等によって位
置決めするほか、いずれか一方の掴み具に対して、一定
の位置関係で固定または支持されるものであってもよ
い。
ように掴み具に対して当たり部Ｐ1，Ｐ2 等によって位
置決めするほか、いずれか一方の掴み具に対して、一定
の位置関係で固定または支持されるものであってもよ
い。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、試験片
は、治具によって常に一対の掴み具に対して一定の位置
関係並びに姿勢のもとに把持され、非接触伸び計または
歪み計を備えた材料試験機により、大きな伸びを示す材
料の引張試験等を行った場合でも、非接触伸び計のビー
ム照射領域から試験片の標点が逸脱してしまう恐れがな
くなり、常に試験の終了まで確実に伸びを測定すること
が可能となった。
は、治具によって常に一対の掴み具に対して一定の位置
関係並びに姿勢のもとに把持され、非接触伸び計または
歪み計を備えた材料試験機により、大きな伸びを示す材
料の引張試験等を行った場合でも、非接触伸び計のビー
ム照射領域から試験片の標点が逸脱してしまう恐れがな
くなり、常に試験の終了まで確実に伸びを測定すること
が可能となった。
【００２４】また、本発明は治具を用いて簡単に試験片
を正確に位置決めできるため、人為的なミスがなく、か
つ、試験の再現性並びに信頼性が向上する。そして、本
発明により、非接触式伸び計の長所を有効に引き出すこ
とが可能となる。すなわち、接触式の伸び計ではその測
定範囲の関係から測定不能であったエラストマー等の極
めて伸びの大きな材料では、非接触式の伸び計では論理
的には測定が可能であるものの、非接触であるが故にビ
ーム照射領域から標点が逸脱することによって実質的に
測定が困難であったものが、本発明の採用によってその
測定を現実のものとすることができる。
を正確に位置決めできるため、人為的なミスがなく、か
つ、試験の再現性並びに信頼性が向上する。そして、本
発明により、非接触式伸び計の長所を有効に引き出すこ
とが可能となる。すなわち、接触式の伸び計ではその測
定範囲の関係から測定不能であったエラストマー等の極
めて伸びの大きな材料では、非接触式の伸び計では論理
的には測定が可能であるものの、非接触であるが故にビ
ーム照射領域から標点が逸脱することによって実質的に
測定が困難であったものが、本発明の採用によってその
測定を現実のものとすることができる。
【図１】本発明方法によって験片Ｗを取り付けるのに適
した材料試験機の構成例を示す図
した材料試験機の構成例を示す図
【図２】その試験機への試験片Ｗの取り付け方法の説明
ずで、（Ａ）は取付時における分解斜視図を、（Ｂ）は
試験片Ｗの取付状態を示す正面図
ずで、（Ａ）は取付時における分解斜視図を、（Ｂ）は
試験片Ｗの取付状態を示す正面図
【図３】本発明方法に用いることのできる治具Ｊの他の
例を示す正面図
例を示す正面図
【図４】従来の方法で取り付けられた試験片Ｗが、非接
触伸び計等による測定では試験の進行に伴って測定不能
となる原因の説明図
触伸び計等による測定では試験の進行に伴って測定不能
となる原因の説明図
１１ ベッド １２，１３ ねじ棹 １４ クロスヘッド ２１，２２ 掴み具 ２１ａ チャック歯 ３０ レーザ非接触伸び計 Ｊ 治具 Ｄ 凹所 Ｐ1 〜Ｐ6 当たり部 Ｌ ビーム照射領域 Ｗ 試験片 Ｃc 掴み具中心 ＣL ビーム照射領域中心 Ｃw 試験片中心
Claims (1)
- 【請求項１】 対向する一対の掴み具により試験片の両
端部を把持し、その掴み具を介して試験片に負荷を与え
る材料試験機に対し、試験片を取り付ける方法であっ
て、上記一対の掴み具の少なくとも一方に対てし所定の
位置関係に配置可能で、かつ、試験片の一端部と中央部
を含む少なくとも２箇所に対する当たりが設けられた治
具を用い、その治具を掴み具に上記関係で配置し、か
つ、試験片の該当箇所を当該治具の当たりに当接させた
状態で、試験片の両端を各掴み具に装着することを特徴
とする材料試験機への試験片の取付方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7172396A JPH09257678A (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 材料試験機への試験片の取付方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7172396A JPH09257678A (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 材料試験機への試験片の取付方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09257678A true JPH09257678A (ja) | 1997-10-03 |
Family
ID=13468734
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7172396A Pending JPH09257678A (ja) | 1996-03-27 | 1996-03-27 | 材料試験機への試験片の取付方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09257678A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100940655B1 (ko) * | 2007-12-26 | 2010-02-05 | 주식회사 포스코 | 시험편 굽힘방지용 지그장치 |
| JP2011080918A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| CN108362555A (zh) * | 2018-01-15 | 2018-08-03 | 南京航空航天大学 | 一种材料轴向疲劳可调对中试验夹具及其载荷分配方法 |
-
1996
- 1996-03-27 JP JP7172396A patent/JPH09257678A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100940655B1 (ko) * | 2007-12-26 | 2010-02-05 | 주식회사 포스코 | 시험편 굽힘방지용 지그장치 |
| JP2011080918A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
| CN108362555A (zh) * | 2018-01-15 | 2018-08-03 | 南京航空航天大学 | 一种材料轴向疲劳可调对中试验夹具及其载荷分配方法 |
| CN108362555B (zh) * | 2018-01-15 | 2020-07-07 | 南京航空航天大学 | 一种材料轴向疲劳可调对中试验夹具及其载荷分配方法 |
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