JPH09257683A - 散乱光検出器 - Google Patents
散乱光検出器Info
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- JPH09257683A JPH09257683A JP8096062A JP9606296A JPH09257683A JP H09257683 A JPH09257683 A JP H09257683A JP 8096062 A JP8096062 A JP 8096062A JP 9606296 A JP9606296 A JP 9606296A JP H09257683 A JPH09257683 A JP H09257683A
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 12
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 散乱光の偏光情報を単純化して精度の高い測
定ができるコンパクトな散乱光検出器を提供する。 【解決手段】 一方の受光素子列72と他方の受光素子
列73とが互いに180度位相を異にして対向し合う扇
形状に配置され、かつ前記一方または他方の受光素子列
72(73)の各受光素子間の間隙G(g)と同心円上
に対応する位置に前記他方または一方の受光素子列73
(72)の各受光素子を配置することにより、前記両受
光素子列72,73間で交互に連続する各受光素子間で
の間隙G(g)をなくしている。
定ができるコンパクトな散乱光検出器を提供する。 【解決手段】 一方の受光素子列72と他方の受光素子
列73とが互いに180度位相を異にして対向し合う扇
形状に配置され、かつ前記一方または他方の受光素子列
72(73)の各受光素子間の間隙G(g)と同心円上
に対応する位置に前記他方または一方の受光素子列73
(72)の各受光素子を配置することにより、前記両受
光素子列72,73間で交互に連続する各受光素子間で
の間隙G(g)をなくしている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料に対して光源
光を照射させ、その散乱光を受光素子列で検出する散乱
光検出器に関し、例えば試料中の粒度分布を測定するた
めの装置の技術分野に属する。
光を照射させ、その散乱光を受光素子列で検出する散乱
光検出器に関し、例えば試料中の粒度分布を測定するた
めの装置の技術分野に属する。
【0002】
【従来の技術】円弧状に形成した複数個のフォトダイオ
ード等の受光素子を同心円上に扇形状に配列したリング
ディテクタと称される散乱光検出器が公知である。
ード等の受光素子を同心円上に扇形状に配列したリング
ディテクタと称される散乱光検出器が公知である。
【0003】しかし、このような散乱光検出器では、各
受光素子からのリーク電流によるクロストークの発生回
避のためおよび各受光素子からリード線を取り出す必要
上から、各受光素子間に適当な間隙を設けなければなら
ず、また、各受光素子の幅(面積)を小さくすると感度
が低下することから、中心部では配列できる受光素子の
数が制約される。
受光素子からのリーク電流によるクロストークの発生回
避のためおよび各受光素子からリード線を取り出す必要
上から、各受光素子間に適当な間隙を設けなければなら
ず、また、各受光素子の幅(面積)を小さくすると感度
が低下することから、中心部では配列できる受光素子の
数が制約される。
【0004】そのため、回析角の小さい散乱光を精度よ
く検出するのが難しく、従って、粒子径の大きい側の測
定範囲が制約されるという問題があった。
く検出するのが難しく、従って、粒子径の大きい側の測
定範囲が制約されるという問題があった。
【0005】そこで、このような難点を解消するため
に、例えば特公平7−86454号公報には、受光素子
列を左右対称に2分割し、互いに他方側のギャップを一
方側の受光素子がカバーするようにずらせて組み合わせ
た散乱光検出器が記載されている。(図3参照)。
に、例えば特公平7−86454号公報には、受光素子
列を左右対称に2分割し、互いに他方側のギャップを一
方側の受光素子がカバーするようにずらせて組み合わせ
た散乱光検出器が記載されている。(図3参照)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、そもそも粒子
にはビーム拡大器によって拡大された偏光が照射される
ため、散乱光も偏光しており、上述した従来例の検出器
では、受光素子列が入射する偏光方向に対して左右対称
の配置となっていることから、左右で異なった偏光情報
が検出されることになる。
にはビーム拡大器によって拡大された偏光が照射される
ため、散乱光も偏光しており、上述した従来例の検出器
では、受光素子列が入射する偏光方向に対して左右対称
の配置となっていることから、左右で異なった偏光情報
が検出されることになる。
【0007】一方、各受光素子によって検出される受光
強度は偏光角によって変化する。従って、上述のよう
に、左右で異なった偏光情報を検出する場合には、補正
や再演算による偏光情報の処理がきわめて難しくなり、
精度の高い測定値を得るのは容易ではなかった。
強度は偏光角によって変化する。従って、上述のよう
に、左右で異なった偏光情報を検出する場合には、補正
や再演算による偏光情報の処理がきわめて難しくなり、
精度の高い測定値を得るのは容易ではなかった。
【0008】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
散乱光の偏光情報を単純化して精度の高い測定ができる
コンパクトな散乱光検出器を提供することを目的として
いる。
散乱光の偏光情報を単純化して精度の高い測定ができる
コンパクトな散乱光検出器を提供することを目的として
いる。
【0009】本発明は上述の課題を解決するための手段
を以下のように構成している。すなわち、光源光を試料
に照射させ、その散乱光を、同心円上に扇形状に配置し
た複数の円弧状の受光素子よりなる受光素子列で検出す
る散乱光検出器にあって、一方の受光素子列と他方の受
光素子列とが互いに180度位相を異にして対向し合う
扇形状に配置され、かつ前記一方または他方の受光素子
列の各受光素子間の間隙と同心円上に対応する位置に前
記他方または一方の受光素子列の各受光素子を配置する
ことにより、前記両受光素子列間で交互に連続する各受
光素子間での間隙をなくしたことを特徴としている。
を以下のように構成している。すなわち、光源光を試料
に照射させ、その散乱光を、同心円上に扇形状に配置し
た複数の円弧状の受光素子よりなる受光素子列で検出す
る散乱光検出器にあって、一方の受光素子列と他方の受
光素子列とが互いに180度位相を異にして対向し合う
扇形状に配置され、かつ前記一方または他方の受光素子
列の各受光素子間の間隙と同心円上に対応する位置に前
記他方または一方の受光素子列の各受光素子を配置する
ことにより、前記両受光素子列間で交互に連続する各受
光素子間での間隙をなくしたことを特徴としている。
【0010】互いに対向し合うように180度位相を異
ならせて2つの扇形状の受光素子列を配置したことによ
り、両受光素子列間では、一致した偏光情報が得られる
ため、偏光情報の処理が容易となる。
ならせて2つの扇形状の受光素子列を配置したことによ
り、両受光素子列間では、一致した偏光情報が得られる
ため、偏光情報の処理が容易となる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下に本発明の散乱光検出器の一
実施形態を図面を参照しつつ説明する。図2は粒度分布
測定装置の要部構成を示し、同図にて、符号1はレーザ
光2を発する光源としてのレーザ管、3はレーザ光2を
適宜拡大するビーム拡大器、4は試料5を収納したセ
ル、6はセル4の後方に設けられる集光レンズ、7は集
光レンズ6からの散乱光を検出するフォトダイオードよ
りなる散乱光検出器、8は散乱光検出器7からの検出信
号を取り込むマルチプレクサ、9はマルチプレクサ8か
らの信号が入力され、散乱光強度パターンに基づいて粒
度分布をおこなうためのCPUである。
実施形態を図面を参照しつつ説明する。図2は粒度分布
測定装置の要部構成を示し、同図にて、符号1はレーザ
光2を発する光源としてのレーザ管、3はレーザ光2を
適宜拡大するビーム拡大器、4は試料5を収納したセ
ル、6はセル4の後方に設けられる集光レンズ、7は集
光レンズ6からの散乱光を検出するフォトダイオードよ
りなる散乱光検出器、8は散乱光検出器7からの検出信
号を取り込むマルチプレクサ、9はマルチプレクサ8か
らの信号が入力され、散乱光強度パターンに基づいて粒
度分布をおこなうためのCPUである。
【0012】このような粒度分布測定装置においては、
セル4に試料5を収容して、レーザ光2を試料セル4に
対して照射すると、レーザ光2の一部がセル4内の試料
5中の粒子を照射して散乱光10となり、残りの光は粒
子と粒子との間を通過して透過光11となる。そして、
これら散乱光10および透過光11はともに、集光レン
ズ6を経て散乱光検出器7に至る。
セル4に試料5を収容して、レーザ光2を試料セル4に
対して照射すると、レーザ光2の一部がセル4内の試料
5中の粒子を照射して散乱光10となり、残りの光は粒
子と粒子との間を通過して透過光11となる。そして、
これら散乱光10および透過光11はともに、集光レン
ズ6を経て散乱光検出器7に至る。
【0013】上述の散乱光検出器7の構成は図1に示さ
れ、71は4つの受光素子よりなる光軸調整用の透過光
検出用測定部で、その中心部に透過光を促えることによ
って光軸を調整することができる。72,73は透過光
検出用測定部71を含む一つの検出平面(この実施形態
では紙面)に設けられる散乱光検出用測定部(受光素子
列)である。
れ、71は4つの受光素子よりなる光軸調整用の透過光
検出用測定部で、その中心部に透過光を促えることによ
って光軸を調整することができる。72,73は透過光
検出用測定部71を含む一つの検出平面(この実施形態
では紙面)に設けられる散乱光検出用測定部(受光素子
列)である。
【0014】その一方の受光素子列72と他方の受光素
子列73とは互いに180度位相を異にして対向し合う
扇形状に形成され、かつ一方の受光素子列72の各受光
素子72a,72b,72c,…の間隙(アイソレーシ
ョンギャップ)G,…と同一円上の位置には、それぞれ
各受光素子73b,73c,73d,…が配置され、ま
た、他方の受光素子列73の各受光素子73の間隙g,
…の同一円上には、それぞれ各受光素子72a,72
b,72c,…が配置されている。
子列73とは互いに180度位相を異にして対向し合う
扇形状に形成され、かつ一方の受光素子列72の各受光
素子72a,72b,72c,…の間隙(アイソレーシ
ョンギャップ)G,…と同一円上の位置には、それぞれ
各受光素子73b,73c,73d,…が配置され、ま
た、他方の受光素子列73の各受光素子73の間隙g,
…の同一円上には、それぞれ各受光素子72a,72
b,72c,…が配置されている。
【0015】このような構成では、両受光素子列72,
73間で交互に連続する各受光素子73aと72aとの
間、73bと72bとの間、73cと72cとの間、…
の各間隙が実質的に形成されず、不感帯をなくした構成
となっており、しかも、一方の受光素子列72と他方の
受光素子列73とが180度回転した対応位置にあり、
両者間では、一致した偏光情報が得られる。
73間で交互に連続する各受光素子73aと72aとの
間、73bと72bとの間、73cと72cとの間、…
の各間隙が実質的に形成されず、不感帯をなくした構成
となっており、しかも、一方の受光素子列72と他方の
受光素子列73とが180度回転した対応位置にあり、
両者間では、一致した偏光情報が得られる。
【0016】ところで、試料中に混在する粒子に偏光が
照射されたときの散乱光の角度分布Iaは、 Ia=λ2 /(8π2 R2 )・(i1 +i2 ) R:粒子からの距離 λ:光の波長 i1 :散乱光の入射光に対して垂直の偏光成分 i2 :散乱光の入射光に対して水平の偏光成分 で表すことが出来る。
照射されたときの散乱光の角度分布Iaは、 Ia=λ2 /(8π2 R2 )・(i1 +i2 ) R:粒子からの距離 λ:光の波長 i1 :散乱光の入射光に対して垂直の偏光成分 i2 :散乱光の入射光に対して水平の偏光成分 で表すことが出来る。
【0017】上述のように、180度位相が異なる両受
光素子列72,73間では、その偏光成分(i1 +
i2 )が等しくなる。従って、両受光素子列72,73
の散乱光情報を合算することにより、面倒な補正や再演
算を要することなく、精度の高い角度分布Iaを求める
ことができる。
光素子列72,73間では、その偏光成分(i1 +
i2 )が等しくなる。従って、両受光素子列72,73
の散乱光情報を合算することにより、面倒な補正や再演
算を要することなく、精度の高い角度分布Iaを求める
ことができる。
【0018】上述のような構成の散乱光検出器では、実
質的に間隙を設けることなく、2つの受光素子列72,
73を形成するので、コンパクト化を図ることができ、
かつ検出器特性の単純化が可能となり、しかも高精度の
測定値を得ることができる。
質的に間隙を設けることなく、2つの受光素子列72,
73を形成するので、コンパクト化を図ることができ、
かつ検出器特性の単純化が可能となり、しかも高精度の
測定値を得ることができる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の散乱光検
出器によれば、一方の受光素子列と他方の受光素子列と
を互いに180度位相を異にして対向し合う扇形状に配
置し、かつ前記一方または他方の受光素子列の各受光素
子間の間隙と同心円上に対応する位置に前記他方または
一方の受光素子列の各受光素子を配置することにより、
前記両受光素子列間で交互に連続する各受光素子間での
間隙をなくしたので、両受光素子列間で偏光方向の情報
を等しくすることができ、面倒な補正や再演算を要する
ことなく、高精度な測定値を得ることができ、また、コ
ンパクト化を図ることもできる。
出器によれば、一方の受光素子列と他方の受光素子列と
を互いに180度位相を異にして対向し合う扇形状に配
置し、かつ前記一方または他方の受光素子列の各受光素
子間の間隙と同心円上に対応する位置に前記他方または
一方の受光素子列の各受光素子を配置することにより、
前記両受光素子列間で交互に連続する各受光素子間での
間隙をなくしたので、両受光素子列間で偏光方向の情報
を等しくすることができ、面倒な補正や再演算を要する
ことなく、高精度な測定値を得ることができ、また、コ
ンパクト化を図ることもできる。
【図1】本発明の散乱光検出器の一実施形態における受
光素子の配置図である。
光素子の配置図である。
【図2】同粒度分布測定装置の構成図である。
【図3】従来の散乱光検出器の受光素子の配置図の一例
である。
である。
2…光源光、5…試料、10…散乱光、11…透過光、
72,73…受光素子列,72a,72b,72c…受
光素子、73a,73b,73c…受光素子、G,g…
間隙。
72,73…受光素子列,72a,72b,72c…受
光素子、73a,73b,73c…受光素子、G,g…
間隙。
Claims (1)
- 【請求項1】 光源光を試料に照射させ、その散乱光
を、同心円上に配置した複数の円弧状の受光素子よりな
る受光素子列で検出する散乱光検出器において、一方の
受光素子列と他方の受光素子列とが互いに180度位相
を異にして対向し合うように配置され、かつ前記一方ま
たは他方の受光素子列の各受光素子間の間隙と同心円上
に対応する位置に前記他方または一方の受光素子列の各
受光素子を配置することにより、前記両受光素子列間で
交互に連続する各受光素子間での間隙をなくしたことを
特徴とする散乱光検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8096062A JPH09257683A (ja) | 1996-03-26 | 1996-03-26 | 散乱光検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8096062A JPH09257683A (ja) | 1996-03-26 | 1996-03-26 | 散乱光検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09257683A true JPH09257683A (ja) | 1997-10-03 |
Family
ID=14154955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8096062A Pending JPH09257683A (ja) | 1996-03-26 | 1996-03-26 | 散乱光検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09257683A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008128987A (ja) * | 2006-11-24 | 2008-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | ビームプロファイル測定装置及びレーザ加工装置 |
| JP2009162714A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-23 | Shimadzu Corp | 散乱特性評価装置及び散乱特性評価方法 |
| JP2011529183A (ja) * | 2008-07-24 | 2011-12-01 | ベックマン コールター, インコーポレイテッド | トランスデューサモジュール |
| WO2020096038A1 (ja) * | 2018-11-08 | 2020-05-14 | 国立大学法人群馬大学 | 粒子群計測装置 |
-
1996
- 1996-03-26 JP JP8096062A patent/JPH09257683A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008128987A (ja) * | 2006-11-24 | 2008-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | ビームプロファイル測定装置及びレーザ加工装置 |
| JP2009162714A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-23 | Shimadzu Corp | 散乱特性評価装置及び散乱特性評価方法 |
| JP2011529183A (ja) * | 2008-07-24 | 2011-12-01 | ベックマン コールター, インコーポレイテッド | トランスデューサモジュール |
| JP2013235016A (ja) * | 2008-07-24 | 2013-11-21 | Beckman Coulter Inc | トランスデューサモジュール |
| WO2020096038A1 (ja) * | 2018-11-08 | 2020-05-14 | 国立大学法人群馬大学 | 粒子群計測装置 |
| JPWO2020096038A1 (ja) * | 2018-11-08 | 2021-09-24 | 国立大学法人群馬大学 | 粒子群計測装置 |
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