JPH09265318A - 計測異常検出方法 - Google Patents

計測異常検出方法

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JPH09265318A
JPH09265318A JP10349796A JP10349796A JPH09265318A JP H09265318 A JPH09265318 A JP H09265318A JP 10349796 A JP10349796 A JP 10349796A JP 10349796 A JP10349796 A JP 10349796A JP H09265318 A JPH09265318 A JP H09265318A
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JP
Japan
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δxk
change
measurement
sensor
judgment
Prior art date
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Pending
Application number
JP10349796A
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English (en)
Inventor
Koji Tsubota
浩治 坪田
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP10349796A priority Critical patent/JPH09265318A/ja
Publication of JPH09265318A publication Critical patent/JPH09265318A/ja
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  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】較正のずれやセンサ窓の汚れ等検出状態の劣化
による計測異常の発生を、各センサの出力が計測範囲内
にある場合でも自動的に検出できるようにする。 【解決手段】各センサの計測信号Xkの単位時間の変化
量の絶対値をくり返し求め、その値からしきい値を用い
て変化量ΔXkを1もしくは0と2値化して求める。Δ
Xkのk=1…nの総和をY1として求め、(ΔXk・
F)/Fのk=1…nの総和をY2として求める(ただ
し、Fは(ΔXmのm=1…nの総和)−ΔXk)。Y
1が0にならず、かつ、Y2が0になるときに、ΔXkが
1であるセンサを測定異常が発生したセンサとして検出
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のアナログ状
態変化に相関性がある種々のプロセスの複数のセンサの
計測異常を、それらの出力の変化から検出する計測異常
検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、温度変化,圧力変化又は液体の濃
度変化や酸性度の変化等の複数のアナログ状態変化が同
時に又は連鎖的に生じる種々のプロセスは、複数のセン
サの出力を用いて監視,制御される。
【0003】そして、各センサの計測範囲の出力(計測
信号)は、通常、0を含まないように、4〜20mA,
1〜5V程度に設定され、各センサの断線,短絡等のい
わゆる故障は、それらの出力が0又は前記計測範囲外の
極端な値になることから検出される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の故障の検出
では、各センサの出力が計測範囲内にあれば、それらの
較正のずれ,センサ窓の汚れ等の検出状態の劣化が生じ
て計測異常が発生しても、この異常の発生を検出するこ
とができない問題点がある。
【0005】そして、従来は作業員(オペレータ)が各
センサの出力の表示値の変化傾向等から異常に気付くま
で前記の計測異常の発生を検出することができず、プロ
セス制御の自動化,精度向上が図れなかった。
【0006】本発明は、各センサの出力(計測信号)が
計測範囲内にあるときにもそれらの計測異常の発生を自
動的に検出し得るようにすることを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記の課題を達成するた
めに、本発明の計測異常検出方法は、複数のアナログ状
態変化に相関性があるプロセスの複数のセンサの計測信
号Xk(=X1 ,X2,…,Xn)の単位時間の変化量
(絶対値)ΔXk(=ΔX1 ,ΔX2 ,…,ΔXn)を
くり返し求め、
【0008】変化量ΔXkそれぞれにつき、変化の有無
の判定のしきい値Ak(=A1 ,A 2 ,…,An)との
比較に基づき、ΔXk≦Akの変化量ΔXkを変化無し
を示す0にし、ΔXk>Akの変化量ΔXkを変化有り
を示す1にして2値化し、
【0009】2値化後の変化量ΔXkに基づき、つぎの
第1,第2の判定式Y1 ,Y2 を演算し、
【0010】
【数3】
【0011】
【数4】
【0012】第1の判定式Y1 が0にならず、かつ、第
2の判定式Y2 が0になるときに、変化量ΔXkが1の
センサを測定異常が発生したセンサとして検出する。
【0013】そして、この種プロセスにおいては、その
変化が生じたときは複数のセンサの出力(計測信号)が
同時に又は連鎖的に変化するが、各センサのいずれかに
測定異常が発生したときはそのセンサの出力のみが変化
する。
【0014】また、第1の判定式Y1 は前記のプロセス
の変化又は測定異常が生じたときにY1 ≠0になり、第
2の判定式Y2 はいずれか1つのセンサの出力が変化し
たときにのみY2 =0になり、前記のプロセスの変化が
生じたときはY2 ≠0になる。
【0015】したがって、いずれかのセンサに計測異常
が発生し、第1の判定式Y1 が0にならず、かつ、第2
の判定式Y2 が0になると、変化量ΔXkが1になった
そのセンサは出力が計測範囲内であっても計測異常が発
生しており、この異常の発生が自動的に検出される。し
かも、両判定式Y1 ,Y2 が0又は簡単な整数になり、
判定,演算が容易である。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施の1形態につき、図
1を参照して説明する。図1は各センサの出力(計測信
号)をマイクロコンピュータにより処理して検出する場
合を示し、まず、ステップS1によりn個のセンサのア
ナログ出力,すなわち計測信号Xk(=X1 ,X2 ,
…,Xn)を、一定のサンプリング周期でサンプリング
する。
【0017】つぎに、ステップS2によりサンプリング
した最新の各計測信号Xkとレジスタ又はメモリに保持
されていた前回の各計測信号Xkとの差の絶対値を算出
し、各センサの出力の単位時間当りの変化量ΔXk(=
ΔX1 ,ΔX2 ,…,ΔXn)(絶対値)を求めた後、
サンプリングした計測信号Xkをレジスタ又はメモリに
保持する。
【0018】なお、最初のサンプリングのときは、例え
ば各計測信号Xkとレジスタ又はメモリに保持された各
計測信号Xkの標準値との差の絶対値を変化量ΔXkと
して求める。
【0019】つぎに、ステップS3により各変化量ΔX
kと例えばメモリに保持されたセンサ毎の変化の有無の
判定のしきい値Ak(=A1 ,A2 ,…,An)とを比
較する。
【0020】各しきい値Akはセンサそれぞれの変化量
ΔXkのノイズ等による微小変動より少し大きい信号値
に設定され、この比較により各計測信号Xkの単位時間
の変化の有無が検出される。
【0021】そして、ステップS4によりΔXk≦Ak
の変化量ΔXkを変化無しを示す0にし、ΔXk>Ak
の変化量ΔXkを変化有りを示す1にし、変化量ΔXk
を計測信号Xkの変化の有無にしたがって2値化する。
【0022】つぎに、ステップS5により2値化した計
測信号Xkに基づき、つぎの第1,第2の判定式Y1 ,
Y2 の演算を行う。
【0023】
【数5】
【0024】
【数6】
【0025】このとき、第1の判定式Y1 については、
プロセスが平衡状態にあって全ての計測信号Xkに変化
がないときにのみY1 =0になり、計測信号Xkのいず
れか1つにでも変化があれば、1〜nの整数になってY
1 ≠0になる。
【0026】また、第2の判定式Y2 については、プロ
セスの状態変化に伴う正常変化であれば、複数のセンサ
の計測信号Xkが変化有りになり、一方、各センサのい
ずれか1つがその較正ずれ,センサ窓等の汚れ等で計測
異常になれば、そのセンサの計測信号Xkのみが変化有
りになることに着目したものであり、前記正常変化のと
きに整数n−1又はnになってY2 ≠0になり、前記計
測異常のときにY2 =0になる。なお、Y1 =0のとき
はY2 =0になる。
【0027】したがって、各センサの計測信号Xkがい
ずれも計測範囲内の信号であっても、いずれか1つのセ
ンサの計測信号Xkに計測異常に基づく信号変化が生じ
たときは、Y1 ≠0かつY2 =0になることからこの計
測異常が自動的に検出される。
【0028】そして、図1の場合は、ステップS6によ
り第1の判定式Y1 が0か否かを判別し、Y1 =0の無
変化時は、ステップS7によりつぎのサンプリングのタ
イミングまで待機し、そのタイミングになるとステップ
S1からの処理をくり返す。
【0029】また、第1の判定式Y1 が0でなければ、
ステップS6からステップS8に移行し、このステップ
S8により第2の判定式Y2 が0か否かを判定し、Y1
≠0かつY2 ≠0の正常変化時はステップS8からステ
ップS7に移行して無変化時と同様の処理をくり返す。
【0030】つぎに、Y1 ≠0かつY2 =0になって計
測異常の発生が検出されると、ステップS6からステッ
プS8を介してステップS9に移行する。
【0031】このとき、2値化された各計測信号Xkの
うちの計測異常が発生した信号のみが1になっているた
め、この1の信号が発生したセンサを計測異常が発生し
たセンサとして特定し、このセンサの計測異常を報知
し、そのメンテナンスを促す。なお、計測異常の報知は
例えば監視CRTに異常メッセージを表示したりプリン
タに印字したりして行われる。
【0032】したがって、各センサの計測異常の検出が
マイクロコンピュータの演算処理により自動的に行え、
プロセス制御の省人化及び大幅な精度の向上が図られ
る。
【0033】しかも、判定式Y1 ,Y2 がいずれも0又
は整数になるため、判定,演算が容易に行える利点もあ
る。そして、複数のアナログ状態変化に相関性がある種
々のプロセスの計測異常検出に適用することができる。
【0034】
【発明の効果】本発明は、以下に説明する効果を奏す
る。複数のアナログ状態変化に相関性があるこの種プロ
セスにおいては、プロセスの変化が生じたときは複数の
センサの計測信号Xkが変化するが、各センサのいずれ
かに計測異常が発生したときはそのセンサの計測信号X
kのみが変化する。
【0035】そして、各センサの計測信号Xkの単位時
間の変化量ΔXkを変化の有無によって2値化したた
め、第1の判定式Y1 は前記のプロセスの変化又は計測
異常が生じたときにY1 ≠0になり、第2の判定式Y2
はいずれか1つのセンサの出力が変化したときにのみY
2 =0になり、前記のプロセスの変化が生じたときはY
2 ≠0になる。
【0036】したがって、いずれかのセンサに計測異常
が発生し、第1の判定式Y1 が0にならず、かつ、第2
の判定式Y2 が0になったときに、そのセンサの計測信
号Xkが計測範囲内であってもその測定異常の発生を自
動的に検出することができ、従来は不可能であった計測
信号Xkが計測範囲内にある計測異常の発生を、各セン
サの計測信号Xkの変化を監視する簡単な手法で検出す
ることができる。
【0037】しかも、両判定式Y1 ,Y2 が0又は簡単
な整数となるため、判定,演算等が容易に行える利点も
ある。
【0038】そのため、簡単にプロセス制御の大幅な省
人化及び精度の向上等を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の1形態のフローチャートであ
る。
【符号の説明】
S1〜S9 検出処理の各ステップ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のアナログ状態変化に相関性がある
    プロセスの複数のセンサの計測信号Xk(=X1 ,
    X2 ,…,Xn)の単位時間の変化量(絶対値)ΔXk
    (=ΔX1 ,ΔX2 ,…,ΔXn)をくり返し求め、 変化量ΔXkそれぞれにつき、変化の有無の判定のしき
    い値Ak(=A1 ,A2 ,…,An )との比較に基づ
    き、ΔXk≦Akの変化量ΔXkを変化無しを示す0に
    し、ΔXk>Akの変化量ΔXkを変化有りを示す1に
    して2値化し、 2値化後の変化量ΔXkに基づき、つぎの第1,第2の
    判定式Y1 ,Y2 を演算し、 【数1】 【数2】 第1の判定式Y1 が0にならず、かつ、第2の判定式Y
    2 が0になるときに、変化量ΔXkが1のセンサを測定
    異常が発生したセンサとして検出することを特徴とする
    計測異常検出方法。
JP10349796A 1996-03-28 1996-03-28 計測異常検出方法 Pending JPH09265318A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014199621A (ja) * 2013-03-29 2014-10-23 富士通株式会社 センサの正常性判定方法、正常性判定プログラム及びシステム
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