JPH09281157A - センサ用信号処理回路 - Google Patents
センサ用信号処理回路Info
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- JPH09281157A JPH09281157A JP8115723A JP11572396A JPH09281157A JP H09281157 A JPH09281157 A JP H09281157A JP 8115723 A JP8115723 A JP 8115723A JP 11572396 A JP11572396 A JP 11572396A JP H09281157 A JPH09281157 A JP H09281157A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 回路構成が簡単であり、検出精度が高く、セ
ンサの検知動作も正確なものにする。 【解決手段】 複数のセンサ用抵抗Ｒ１〜Ｒ６が直列に
接続されているとともにこのセンサ用抵抗列が３列並列
に接続されて抵抗ブリッジが形成されたセンサ素子１１
を有する。複数の抵抗列の２つの抵抗列の各抵抗間の電
位が、センサ出力としてセンサ用の比較器２，４，６に
入力し、抵抗列のうちに２対の抵抗列の抵抗間の電位を
センサ出力信号としてバッファアンプ４０を経て、基準
電圧形成回路に入力する。センサ用抵抗の出力信号をも
とにして、センサ用比較器２，４，６の基準電圧を形成
し、センサ用比較器２，４，６に入力させる。
ンサの検知動作も正確なものにする。 【解決手段】 複数のセンサ用抵抗Ｒ１〜Ｒ６が直列に
接続されているとともにこのセンサ用抵抗列が３列並列
に接続されて抵抗ブリッジが形成されたセンサ素子１１
を有する。複数の抵抗列の２つの抵抗列の各抵抗間の電
位が、センサ出力としてセンサ用の比較器２，４，６に
入力し、抵抗列のうちに２対の抵抗列の抵抗間の電位を
センサ出力信号としてバッファアンプ４０を経て、基準
電圧形成回路に入力する。センサ用抵抗の出力信号をも
とにして、センサ用比較器２，４，６の基準電圧を形成
し、センサ用比較器２，４，６に入力させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、センサの出力を
増幅し所定の基準値と比較してその比較結果を得るため
の信号処理回路に関する。
増幅し所定の基準値と比較してその比較結果を得るため
の信号処理回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、図２に示すように、例えば磁気セ
ンサ素子１の回路は、ブリッジ状に組まれた抵抗Ｒ１，
Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４からなる磁気センサ素子１と、磁気セ
ンサ素子１の出力信号が入力する比較器２，４を有して
いる。抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力は、比較器２の反転入力
端子に接続され、抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出力が比較器４の
反転入力端子に接続されている。磁気センサ素子１の抵
抗Ｒ１，Ｒ３間の出力と抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出力は、互
いに正弦波出力と余弦波出力の関係にある。比較器２の
出力は、直列の抵抗Ｒ１１の一端に接続され、比較器４
の出力は、抵抗Ｒ１２の他端に接続され、抵抗Ｒ１１，
Ｒ１２により分割された電位が、比較器６の反転入力端
子に入力している。
ンサ素子１の回路は、ブリッジ状に組まれた抵抗Ｒ１，
Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４からなる磁気センサ素子１と、磁気セ
ンサ素子１の出力信号が入力する比較器２，４を有して
いる。抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力は、比較器２の反転入力
端子に接続され、抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出力が比較器４の
反転入力端子に接続されている。磁気センサ素子１の抵
抗Ｒ１，Ｒ３間の出力と抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出力は、互
いに正弦波出力と余弦波出力の関係にある。比較器２の
出力は、直列の抵抗Ｒ１１の一端に接続され、比較器４
の出力は、抵抗Ｒ１２の他端に接続され、抵抗Ｒ１１，
Ｒ１２により分割された電位が、比較器６の反転入力端
子に入力している。
【０００３】この回路の電源は、直流電源１０の電位が
抵抗Ｒ２１，可変抵抗Ｒ２２、及びツェナダイオード１
２により所定の電圧であるほぼ５Ｖに分圧され、抵抗Ｒ
２３とバッファアンプ１４により正確に５Ｖに設定さ
れ、センサ素子１に供給される。また、この５Ｖの電圧
は、所定電位に分圧されて比較器２，４及び比較器６に
入力される。比較器２の非反転入力端子に入力する電位
は、バッファアンプ１４の出力が抵抗Ｒ２４，Ｒ２５、
及び可変抵抗Ｒ２６により分圧され、バッファアンプ２
８により精密に２．５Ｖに分圧されて出力され、抵抗Ｒ
２８、バッファアンプ３０、抵抗Ｒ３０、可変抵抗Ｒ３
２を経て比較器２の非反転入力端子に接続されている。
同様に、比較器４には、バッファアンプ１４の出力とバ
ッファアンプ２８の出力との間で、ツェナダイオード３
１と抵抗Ｒ３４の間の電位が、バッファアンプ３２に接
続され、その出力が、抵抗Ｒ３４、可変抵抗Ｒ３６を介
して、比較器４の非反転入力端子に接続されている。
抵抗Ｒ２１，可変抵抗Ｒ２２、及びツェナダイオード１
２により所定の電圧であるほぼ５Ｖに分圧され、抵抗Ｒ
２３とバッファアンプ１４により正確に５Ｖに設定さ
れ、センサ素子１に供給される。また、この５Ｖの電圧
は、所定電位に分圧されて比較器２，４及び比較器６に
入力される。比較器２の非反転入力端子に入力する電位
は、バッファアンプ１４の出力が抵抗Ｒ２４，Ｒ２５、
及び可変抵抗Ｒ２６により分圧され、バッファアンプ２
８により精密に２．５Ｖに分圧されて出力され、抵抗Ｒ
２８、バッファアンプ３０、抵抗Ｒ３０、可変抵抗Ｒ３
２を経て比較器２の非反転入力端子に接続されている。
同様に、比較器４には、バッファアンプ１４の出力とバ
ッファアンプ２８の出力との間で、ツェナダイオード３
１と抵抗Ｒ３４の間の電位が、バッファアンプ３２に接
続され、その出力が、抵抗Ｒ３４、可変抵抗Ｒ３６を介
して、比較器４の非反転入力端子に接続されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術の技術
において、例えばセンサ素子１がエンコーダの場合、比
較器６の出力が、各電子素子の経時変化や温度変化によ
る調整電圧の変動により、センサ素子１の出力と基準電
圧の各々が別々に変化し、検出誤差が生じ、正確な位置
出しができないという問題があった。即ち、比較器２，
４や比較器６に入力する所定の基準電圧と、正弦波曲線
で変化するセンサ素子１の出力信号とが、温度変化や経
時的変化等により、各々別々にその出力に誤差が生じ、
その信号電圧の相対的ずれが比較器６の出力の反転時期
のタイミングのずれとして現れる位置検出誤差となるも
のであった。
において、例えばセンサ素子１がエンコーダの場合、比
較器６の出力が、各電子素子の経時変化や温度変化によ
る調整電圧の変動により、センサ素子１の出力と基準電
圧の各々が別々に変化し、検出誤差が生じ、正確な位置
出しができないという問題があった。即ち、比較器２，
４や比較器６に入力する所定の基準電圧と、正弦波曲線
で変化するセンサ素子１の出力信号とが、温度変化や経
時的変化等により、各々別々にその出力に誤差が生じ、
その信号電圧の相対的ずれが比較器６の出力の反転時期
のタイミングのずれとして現れる位置検出誤差となるも
のであった。
【０００５】この発明は、上記従来の技術の問題点に鑑
みて成されたもので、回路構成が簡単であり、検出精度
が高く、センサの検知動作も正確なセンサ用信号処理回
路を提供することを目的とする。
みて成されたもので、回路構成が簡単であり、検出精度
が高く、センサの検知動作も正確なセンサ用信号処理回
路を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、複数のセン
サ用抵抗が直列に接続されているとともにこのセンサ用
抵抗列が少なくとも３列並列に接続されて抵抗ブリッジ
が形成され、そのうちの２つの抵抗列の各抵抗間の電位
がセンサ出力としてセンサ用の比較器に入力し、上記抵
抗列のうちに２対の抵抗列の抵抗間の電位をセンサ出力
信号としてバッファアンプを経て、基準電圧形成回路に
入力し、このセンサ用抵抗の出力信号をもとに、上記セ
ンサ用比較器の基準電圧を形成し上記センサ用比較器に
入力させたセンサ用信号処理回路である。上記複数のセ
ンサ用抵抗の各抵抗間からセンサ出力信号を取出すもの
で、上記３列の各センサ出力信号は、相対的に正弦波と
余弦波、及び正負が逆転した正弦波の３種類の信号であ
り、上記正弦波と相対的にマイナスの正弦波とにより、
センサ素子出力信号の平均値を形成しこの平均値をもと
にして基準電圧を設定し、この基準電圧を上記センサ用
比較回路に入力したものである。
サ用抵抗が直列に接続されているとともにこのセンサ用
抵抗列が少なくとも３列並列に接続されて抵抗ブリッジ
が形成され、そのうちの２つの抵抗列の各抵抗間の電位
がセンサ出力としてセンサ用の比較器に入力し、上記抵
抗列のうちに２対の抵抗列の抵抗間の電位をセンサ出力
信号としてバッファアンプを経て、基準電圧形成回路に
入力し、このセンサ用抵抗の出力信号をもとに、上記セ
ンサ用比較器の基準電圧を形成し上記センサ用比較器に
入力させたセンサ用信号処理回路である。上記複数のセ
ンサ用抵抗の各抵抗間からセンサ出力信号を取出すもの
で、上記３列の各センサ出力信号は、相対的に正弦波と
余弦波、及び正負が逆転した正弦波の３種類の信号であ
り、上記正弦波と相対的にマイナスの正弦波とにより、
センサ素子出力信号の平均値を形成しこの平均値をもと
にして基準電圧を設定し、この基準電圧を上記センサ用
比較回路に入力したものである。
【０００７】この発明のセンサ用信号処理回路は、セン
サ用比較器に入力する基準電圧が、センサ素子からの出
力をもとに形成され、センサ素子の出力の変動に対応し
て基準電圧も変動し、正確な比較動作を可能にするもの
である。
サ用比較器に入力する基準電圧が、センサ素子からの出
力をもとに形成され、センサ素子の出力の変動に対応し
て基準電圧も変動し、正確な比較動作を可能にするもの
である。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下この発明の実施の形態につい
て図面に基づいて説明する。図１はこの発明の一実施形
態のセンサ用信号処理回路を示すもので、この実施形態
は磁気センサのセンサ素子１１に接続する処理回路につ
いてのものである。先ず、この実施形態のセンサ素子１
１は、センサ用抵抗である抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３，Ｒ
４，Ｒ５，Ｒ６が１対づつ直列に接続され、この抵抗列
が３列並列に接続されて、一端が電源Ｖｃｃに接続さ
れ、他端が接地されている。そして、磁気センサ素子１
１の直列の抵抗Ｒ１，Ｒ３間と、抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出
力が、各々オペアンプからなる比較器２，４の反転入力
端子に接続されている。また、磁気センサ素子１１の抵
抗Ｒ１，Ｒ３間の出力と抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出力は、互
いに正弦波出力と余弦波出力の関係にある。さらに、抵
抗Ｒ５，Ｒ６間の出力は、抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力とは
逆極性のマイナスの正弦波として出力される。
て図面に基づいて説明する。図１はこの発明の一実施形
態のセンサ用信号処理回路を示すもので、この実施形態
は磁気センサのセンサ素子１１に接続する処理回路につ
いてのものである。先ず、この実施形態のセンサ素子１
１は、センサ用抵抗である抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３，Ｒ
４，Ｒ５，Ｒ６が１対づつ直列に接続され、この抵抗列
が３列並列に接続されて、一端が電源Ｖｃｃに接続さ
れ、他端が接地されている。そして、磁気センサ素子１
１の直列の抵抗Ｒ１，Ｒ３間と、抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出
力が、各々オペアンプからなる比較器２，４の反転入力
端子に接続されている。また、磁気センサ素子１１の抵
抗Ｒ１，Ｒ３間の出力と抵抗Ｒ２，Ｒ４間の出力は、互
いに正弦波出力と余弦波出力の関係にある。さらに、抵
抗Ｒ５，Ｒ６間の出力は、抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力とは
逆極性のマイナスの正弦波として出力される。
【０００９】そして、比較器２，４の出力は、直列の抵
抗Ｒ１１，Ｒ１２の両端に接続され、抵抗Ｒ１１，Ｒ１
２により分割された電位が、比較器６の反転入力端子に
接続されている。
抗Ｒ１１，Ｒ１２の両端に接続され、抵抗Ｒ１１，Ｒ１
２により分割された電位が、比較器６の反転入力端子に
接続されている。
【００１０】また、抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力及び抵抗Ｒ
５，Ｒ６間の出力は、各々抵抗Ｒ４０，Ｒ４２に接続さ
れ、この抵抗Ｒ４０，Ｒ４２の各端部が、直列の抵抗Ｒ
４３，４４の両端に各々接続している。抵抗Ｒ４３，Ｒ
４４間の出力は、バッファアンプ４０の非反転入力端子
に接続されている。また、抵抗Ｒ４２，Ｒ４０は、各々
コンデンサ４５，４６が直列に接続されて設置され、バ
ッファアンプ４０の非反転入力端子も、コンデンサ４７
を介して設置されている。
５，Ｒ６間の出力は、各々抵抗Ｒ４０，Ｒ４２に接続さ
れ、この抵抗Ｒ４０，Ｒ４２の各端部が、直列の抵抗Ｒ
４３，４４の両端に各々接続している。抵抗Ｒ４３，Ｒ
４４間の出力は、バッファアンプ４０の非反転入力端子
に接続されている。また、抵抗Ｒ４２，Ｒ４０は、各々
コンデンサ４５，４６が直列に接続されて設置され、バ
ッファアンプ４０の非反転入力端子も、コンデンサ４７
を介して設置されている。
【００１１】バッファアンプ４０の出力は、抵抗Ｒ４８
が抵抗Ｒ５０を介して電源Ｖｃｃに接続されているとと
もに、基準電圧形成回路である抵抗Ｒ４９、抵抗Ｒ５１
を介して接地されている。そして、抵抗Ｒ５０と抵抗Ｒ
５１の各抵抗Ｒ４８，Ｒ４９側の接点間が、並列に接続
された可変抵抗Ｒ５３，Ｒ５４，Ｒ５５の両端部に各々
接続されている。そして、可変抵抗Ｒ５３，Ｒ５４，Ｒ
５５の中端子は、比較器６、比較器２，４の基準電圧と
して非反転入力端子に接続され、さらに、可変抵抗Ｒ５
３，Ｒ５４，Ｒ５５の中端子は、各々コンデンサ４８，
４９，５０を介して接地されている。
が抵抗Ｒ５０を介して電源Ｖｃｃに接続されているとと
もに、基準電圧形成回路である抵抗Ｒ４９、抵抗Ｒ５１
を介して接地されている。そして、抵抗Ｒ５０と抵抗Ｒ
５１の各抵抗Ｒ４８，Ｒ４９側の接点間が、並列に接続
された可変抵抗Ｒ５３，Ｒ５４，Ｒ５５の両端部に各々
接続されている。そして、可変抵抗Ｒ５３，Ｒ５４，Ｒ
５５の中端子は、比較器６、比較器２，４の基準電圧と
して非反転入力端子に接続され、さらに、可変抵抗Ｒ５
３，Ｒ５４，Ｒ５５の中端子は、各々コンデンサ４８，
４９，５０を介して接地されている。
【００１２】この実施形態のセンサ用信号処理回路は、
磁気センサ素子１１の抵抗Ｒ１，Ｒ３間の電位が正弦波
出力信号として出力され、抵抗Ｒ２，Ｒ４間の電位が余
弦波出力信号として出力され、各々比較器２，４の反転
入力端子に入力する。また、比較器２，４の非反転入力
端子には、可変抵抗Ｒ５４，Ｒ５５による基準電圧が入
力している。この基準電圧は、センサ素子１１の抵抗Ｒ
１，Ｒ３及び抵抗Ｒ５，Ｒ６間の正負の正弦波の平均電
位を抵抗とコンデンサによる平滑回路により取り出した
もので、さらにノイズも除去された平均値電位として設
定される。
磁気センサ素子１１の抵抗Ｒ１，Ｒ３間の電位が正弦波
出力信号として出力され、抵抗Ｒ２，Ｒ４間の電位が余
弦波出力信号として出力され、各々比較器２，４の反転
入力端子に入力する。また、比較器２，４の非反転入力
端子には、可変抵抗Ｒ５４，Ｒ５５による基準電圧が入
力している。この基準電圧は、センサ素子１１の抵抗Ｒ
１，Ｒ３及び抵抗Ｒ５，Ｒ６間の正負の正弦波の平均電
位を抵抗とコンデンサによる平滑回路により取り出した
もので、さらにノイズも除去された平均値電位として設
定される。
【００１３】センサ素子１１の出力信号による上記基準
電圧の設定は、先ず互いに正負の符号が逆の信号である
抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力及び抵抗Ｒ５，Ｒ６間の出力
を、抵抗Ｒ４０，Ｒ４２及び抵抗Ｒ４３，Ｒ４４、さら
にコンデンサ４５，４６に接続して、平滑化し、その中
間点の抵抗Ｒ４３，Ｒ４４間の出力として、バッファア
ンプ４０の非反転入力端子に入力して、平均値の電圧を
得ている。また、コンデンサ４７によりさらにノイズの
除去がなされる。
電圧の設定は、先ず互いに正負の符号が逆の信号である
抵抗Ｒ１，Ｒ３間の出力及び抵抗Ｒ５，Ｒ６間の出力
を、抵抗Ｒ４０，Ｒ４２及び抵抗Ｒ４３，Ｒ４４、さら
にコンデンサ４５，４６に接続して、平滑化し、その中
間点の抵抗Ｒ４３，Ｒ４４間の出力として、バッファア
ンプ４０の非反転入力端子に入力して、平均値の電圧を
得ている。また、コンデンサ４７によりさらにノイズの
除去がなされる。
【００１４】そして、バッファアンプ４０の出力は、電
源Ｖｃｃに対して、抵抗Ｒ５０，Ｒ４８，Ｒ４９，Ｒ５
１の、抵抗Ｒ４８，Ｒ４９間に接続されて、センサ素子
１１の出力の平均値を出力している。可変抵抗器Ｒ５
３，Ｒ５４，Ｒ５５の両端は、バッファアンプ４０の出
力を抵抗Ｒ４８，Ｒ４９によりプラス、マイナスに調整
した各電位間に接続され、比較器２，４のオフセット調
整を可能にしている。
源Ｖｃｃに対して、抵抗Ｒ５０，Ｒ４８，Ｒ４９，Ｒ５
１の、抵抗Ｒ４８，Ｒ４９間に接続されて、センサ素子
１１の出力の平均値を出力している。可変抵抗器Ｒ５
３，Ｒ５４，Ｒ５５の両端は、バッファアンプ４０の出
力を抵抗Ｒ４８，Ｒ４９によりプラス、マイナスに調整
した各電位間に接続され、比較器２，４のオフセット調
整を可能にしている。
【００１５】この実施形態のセンサ用信号処理回路によ
れば、センサ素子１１の出力を、正弦波出力、余弦波出
力、及びマイナスの正弦波出力の３種類の出力として取
出し、その平均値をセンサ用の比較器２，４，６の基準
電圧として設定しているので、センサ素子１１と電源電
圧の変動に対して、基準電圧も対応して変動し、センサ
素子１１の出力の判別誤差を少なくしている。
れば、センサ素子１１の出力を、正弦波出力、余弦波出
力、及びマイナスの正弦波出力の３種類の出力として取
出し、その平均値をセンサ用の比較器２，４，６の基準
電圧として設定しているので、センサ素子１１と電源電
圧の変動に対して、基準電圧も対応して変動し、センサ
素子１１の出力の判別誤差を少なくしている。
【００１６】これにより、判別信号の誤差がきわめて少
なくなり、エンコーダのセンサ用信号処理回路の場合、
センサ出力を処理する抵抗Ｒ１１，Ｒ１２と比較器６か
らなる比較回路の組数を増やして、抵抗Ｒ１１，１２に
よる電位の分割数を増かさせることができ、エンコーダ
による検知精度を向上させることもできる。
なくなり、エンコーダのセンサ用信号処理回路の場合、
センサ出力を処理する抵抗Ｒ１１，Ｒ１２と比較器６か
らなる比較回路の組数を増やして、抵抗Ｒ１１，１２に
よる電位の分割数を増かさせることができ、エンコーダ
による検知精度を向上させることもできる。
【００１７】なお、この発明のセンサ用信号処理回路は
上記実施形態以外に、センサ出力の平均値を適宜の平滑
回路またはフィルタにより検知して、その検知電圧を適
宜処理してその比較器に基準電圧として入力するもので
あれば良い。さらに、センサ素子も、磁気センサ以外の
センサ素子に利用しても良いものである。また、増幅さ
れたセンサ出力は、他の処理回路例えば、Ａ／Ｄ変換し
てデジタル処理しても良いものである。
上記実施形態以外に、センサ出力の平均値を適宜の平滑
回路またはフィルタにより検知して、その検知電圧を適
宜処理してその比較器に基準電圧として入力するもので
あれば良い。さらに、センサ素子も、磁気センサ以外の
センサ素子に利用しても良いものである。また、増幅さ
れたセンサ出力は、他の処理回路例えば、Ａ／Ｄ変換し
てデジタル処理しても良いものである。
【００１８】
【発明の効果】この発明のセンサ用信号処理回路は、セ
ンサの精度を上げることができ、ノイズの影響も小さく
することができる。さらに、エンコーダ等に利用した場
合、測定精度を向上させることができ、また、長期間に
渡って安定した測定を可能にするものである。
ンサの精度を上げることができ、ノイズの影響も小さく
することができる。さらに、エンコーダ等に利用した場
合、測定精度を向上させることができ、また、長期間に
渡って安定した測定を可能にするものである。
【図１】この発明のセンサ用信号処理回路の一実施形態
の回路図である。
の回路図である。
【図２】従来のセンサ用信号処理回路の回路図である。
１，１１ センサ素子 ２，４，６ 比較器 １４，２８，３０，３２，４０ バッファアンプ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小原 陽三 富山県上新川郡大沢野町下大久保3158番地 北陸電気工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 複数のセンサ用抵抗が直列に接続されて
複数組設けられ、各抵抗列の組によりブリッジが形成さ
れ、そのうちの２組の抵抗列の各抵抗間の電位がセンサ
用の比較器に入力し、上記複数の抵抗列のうちの２組の
抵抗列の抵抗間の出力信号がバッファアンプを経て、基
準電圧形成回路に入力し、このセンサ用抵抗の出力信号
をもとに、上記センサ用比較器の基準電圧を形成し上記
センサ用比較器に入力させたセンサ用信号処理回路。 - 【請求項２】 複数のセンサ用抵抗が直列に接続されて
複数組設けられ、複数のセンサ用抵抗の各抵抗間からセ
ンサ出力信号を取出すものであって、上記抵抗列が少な
くとも３組設けられ、上記各抵抗列のセンサ出力信号
は、相対的に正弦波と余弦波、及び正負が逆転した正弦
波の３種類の信号であり、上記正弦波と相対的にマイナ
スの正弦波とにより、上記センサ素子出力信号の平均値
から基準電圧を形成し、この基準電圧を上記センサ用比
較回路に入力したセンサ用信号処理回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8115723A JPH09281157A (ja) | 1996-04-12 | 1996-04-12 | センサ用信号処理回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8115723A JPH09281157A (ja) | 1996-04-12 | 1996-04-12 | センサ用信号処理回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09281157A true JPH09281157A (ja) | 1997-10-31 |
Family
ID=14669535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8115723A Pending JPH09281157A (ja) | 1996-04-12 | 1996-04-12 | センサ用信号処理回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09281157A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11202037A (ja) * | 1998-01-14 | 1999-07-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気信号検出装置 |
| JP2006098307A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
-
1996
- 1996-04-12 JP JP8115723A patent/JPH09281157A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11202037A (ja) * | 1998-01-14 | 1999-07-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気信号検出装置 |
| JP2006098307A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Yamaha Corp | 磁気測定装置 |
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