JPH09283586A - 受光装置及び受光方法 - Google Patents

受光装置及び受光方法

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Publication number
JPH09283586A
JPH09283586A JP8098130A JP9813096A JPH09283586A JP H09283586 A JPH09283586 A JP H09283586A JP 8098130 A JP8098130 A JP 8098130A JP 9813096 A JP9813096 A JP 9813096A JP H09283586 A JPH09283586 A JP H09283586A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
metal probe
receiving
optical fiber
self
Prior art date
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Pending
Application number
JP8098130A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryuichi Nakazono
隆一 中園
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP8098130A priority Critical patent/JPH09283586A/ja
Publication of JPH09283586A publication Critical patent/JPH09283586A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】電光変換材料に金属プローブにより通電し、発
光スペクトルを評価する際、金属プローブと発光する光
を受光する受光部との位置合わせが不要な、受光装置と
受光方法を提供することにある。 【解決手段】金属プローブ5と、ウエハ状の電光変換材
料2から発光する光を受光するための、自己収束型レン
ズ付光ファイバ3を接続治具7を介して一体化したこと
にある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は受光装置、特に電光
変換材料に通電して、該電光変換材料から発光する光を
受光する受光装置及び受光方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電光変換素子である発光ダイオード(Li
ght Emitting Diode)、略してLEDは各種の計測シス
テムや通信システムに広く使用されている。このLED
は半導体材料からチップ化されて作製される。チップ化
される前は、板状のウエハであり、このウエハの状態で
発光特性が評価される。低価格で、高信頼性のLEDを
得るためには、この段階での発光特性の評価が重要であ
る。
【0003】図2は、従来技術の発光特性の評価方法、
特に電光変換材料に通電して特定の部分を発光させ、そ
の発光した光を受光する装置と方法を示す。電光変換材
料はウエハの状態になっている。このウエハ2をステー
ジ1に載せる。そして金属プローブ5で通電して特定の
部分を発光させる。つまり、金属プローブ5とステージ
1との間に電圧が印加され、金属プローブ5の先端がウ
エハ2と接触する部分が発光する。自己収束型レンズ付
光ファイバ3は、発光する光の一部を受光し、発光スペ
クトルを評価する計測装置6へ導くものである。発光す
る光の全電力は光電セル4で測定される。
【0004】発光特性を良好に評価する上で、ウエハ2
に対して金属プローブ5、光電セル4、自己収束型レン
ズ付光ファイバ3の位置関係は重要である。金属プロー
ブ5により通電して特定の部分を発光させるが、発光さ
れる全ての光を受けるように光電セル4が近接される。
つまり、光電セル4の中心と発光部分をほぼ一致させ
て、間隔が約5mmとなるように近接する。このようにし
て、発光電力を測定する。
【0005】発光部分と自己収束型レンズ付光ファイバ
3の位置関係は、使用する自己収束型レンズの焦点距離
の位置に発光部分が来るように調整する。そのようにし
て、発光する光の一部を受光し、その光を光ファイバに
て計測装置6へ導き、発光スペクトルを計測する。な
お、光ファイバは効率良く光を伝送するものであれば、
種類は問わない。通常、太径の多モード光ファイバや多
モード光ファイバを束にしたバンドル光ファイバが用い
られる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ウエハ2の発光部分と
光電セル4の位置合わせは、光電セル4の受光面積が比
較的大きいため特に問題とはならない。しかし、発光部
分と自己収束型レンズ付光ファイバ3の位置合わせは、
自己収束型レンズの径が約1mmと小さいこと、そして焦
点距離は数mmと短いことから、非常に時間がかり、熟練
を要する作業となっている。
【0007】更に、自己収束型レンズの焦点距離とこの
レンズから発光部分までの距離が合わないと、発光する
光の一部分を効率良く光ファイバに取り入れることがで
きない。焦点距離の位置に発光部分を合わせるのに許容
されるずれ幅は、通常数百μmであり、そのため位置合
わせが非常に難しくなっている。
【0008】以上に説明したように、発光部分と自己収
束型レンズ付光ファイバ3との位置合わせに時間がかか
るため、結果として製品化されたLEDのコストが高い
という問題もあった。なお、発光部分は金属プローブ5
によって決まるため、発光部分と自己収束型レンズ付光
ファイバ3の位置合わせという表現は、金属プローブ5
と自己収束型レンズ付光ファイバ3の位置合わせと言い
換えることができる。従って、本発明の目的は、前記し
た従来技術の問題点を解決し、金属プローブ5と自己収
束型レンズ付光ファイバ3の位置合わせを無くした、発
光部分からの光を受光する装置及び受光方法を提供する
ことにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を実
現するため、電光変換材料から発光する光を受光するた
めの受光部が、前記電光変換材料に通電するための金属
プローブと一体であることを特徴とする受光装置を用い
て、電光変換材料から発光する光を受光する方法を採用
した。
【0010】
【発明の実施の形態】図1に本発明の実施例を示す。評
価すべき電光変換材料はウエハ状であり、このウエハ2
はステージ1に載せられている。通電は金属プローブ5
を通して行われる。つまり、ウエハは金属プローブ5と
ステージ1により電圧が印加される。この金属プローブ
5には、自己収束型レンズ付光ファイバ3が接続治具7
を介して取り付けられており、金属プローブ5と自己収
束型レンズ付光ファイバ3は一体化されている。
【0011】金属プローブ5の先端がウエハ2に接触し
た部分が発光する。自己収束型レンズの焦点は、ちょう
どこの金属プローブ5の先端に合っている。従って、金
属プローブ5がウエハ2上のどこへ移動しても、自己収
束型レンズの焦点は発光する部分に一致しており、これ
までの金属プローブ5と自己収束型レンズ付光ファイバ
3との位置合わせは不要である。
【0012】このようにして、発光する光の一部分は常
に効率良く光ファイバに取り込まれて計測装置6に導か
れ、発光スペクトルが計測される。また、発光する光電
力は従来技術と同様に、光電セル4により計測される。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、電光変換材料から発光
する光を受光するための自己収束型レンズ付光ファイバ
が、電光変換材料に通電するための金属プローブと一体
である受光装置が提供され、電光変換材料に通電するた
めの金属プローブと一体である自己収束型レンズ付光フ
ァイバを用いて、電光変換材料から発光する光を受光す
る方法を用いるため、金属プローブと自己収束型レンズ
付光ファイバとの位置は不要となり、計測時間が大幅に
短縮され、そして簡略化される。
【0014】従って、製品化されるLEDの低コスト化
も促進し、工業上有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる一実施例を示す説明図である。
【図2】従来技術に係わり、電光変換材料の発光特性評
価装置の構成図である。
【符号の説明】
1 ステージ 2 電光変換材料 3 自己収束型レンズ付光ファイバ 4 光電セル 5 金属プローブ 6 計測装置 7 接続治具

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】電光変換材料から発光する光を受光するた
    めの受光部が、前記電光変換材料に通電するための金属
    プローブと一体であることを特徴とする受光装置。
  2. 【請求項2】電光変換材料に通電するための金属プロー
    ブと一体である受光部を用いて、前記電光変換材料から
    発光する光を受光する受光方法。
JP8098130A 1996-04-19 1996-04-19 受光装置及び受光方法 Pending JPH09283586A (ja)

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JP8098130A JPH09283586A (ja) 1996-04-19 1996-04-19 受光装置及び受光方法

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006258774A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Fujitsu Ltd 4探針プローブヘッドおよび半導体特性の評価方法
JP2008283089A (ja) * 2007-05-14 2008-11-20 Denso Corp 検査装置
CN102686990A (zh) * 2010-11-30 2012-09-19 日本先锋公司 发光元件用光接收模块及发光元件用检查装置

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JP2008283089A (ja) * 2007-05-14 2008-11-20 Denso Corp 検査装置
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