JPH09292428A - 液晶表示装置の検査方法 - Google Patents
液晶表示装置の検査方法Info
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- JPH09292428A JPH09292428A JP10587096A JP10587096A JPH09292428A JP H09292428 A JPH09292428 A JP H09292428A JP 10587096 A JP10587096 A JP 10587096A JP 10587096 A JP10587096 A JP 10587096A JP H09292428 A JPH09292428 A JP H09292428A
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 液晶表示装置の欠陥検出を非接触かつ容易に
検出する液晶表示装置の検査方法を提供することを目的
とする。 【解決手段】 複数の走査信号配線と複数の画像信号配
線を交差して設け、この交差部に画素電極を設けると共
に、前記走査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期
間と所定電圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号
に基づいて、前記画像信号配線から供給される画像信号
を前記画素電極に供給して表示を行うスイッチング用ト
ランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、
前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときと同一に
するとともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行
うときよりも長くして画素電極部のリーク不良を検査し
たり、前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときよ
りも長くするとともに、前記走査信号のオフ期間を前記
表示を行うときと同一にして画素電極部の充電不良を検
査する。
検出する液晶表示装置の検査方法を提供することを目的
とする。 【解決手段】 複数の走査信号配線と複数の画像信号配
線を交差して設け、この交差部に画素電極を設けると共
に、前記走査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期
間と所定電圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号
に基づいて、前記画像信号配線から供給される画像信号
を前記画素電極に供給して表示を行うスイッチング用ト
ランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、
前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときと同一に
するとともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行
うときよりも長くして画素電極部のリーク不良を検査し
たり、前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときよ
りも長くするとともに、前記走査信号のオフ期間を前記
表示を行うときと同一にして画素電極部の充電不良を検
査する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置の検査
方法に関し、特に画素電極にスイッチング用トランジス
タを介して画像信号が供給されるアクティブマトリック
ス型液晶表示装置の検査方法に関する。
方法に関し、特に画素電極にスイッチング用トランジス
タを介して画像信号が供給されるアクティブマトリック
ス型液晶表示装置の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】表示コントラストや応答速度を向上させ
るために、画素電極にスイッチング用トランジスタを介
して画像信号を供給するアクティブマトリックス型液晶
表示装置が多用されつつある。
るために、画素電極にスイッチング用トランジスタを介
して画像信号を供給するアクティブマトリックス型液晶
表示装置が多用されつつある。
【０００３】図５はアクティブマトリックス型液晶表示
装置の一部等価回路図である。複数の走査信号配線１３
と複数の画像信号配線１４を交差して設け、その各交差
部にスイッチング用トランジスタ１１と、画素電極（不
図示）と対向電極（不図示）間に液晶材料（不図示）を
挟持した液晶容量１２を設けたものである。スイッチン
グ用トランジスタ１１のゲート電極Ｇは走査信号配線１
３に接続されており、スイッチング用トランジスタ１１
のソース電極Ｓは画像信号配線１４に接続されており、
スイッチング用トランジスタ１１のドレイン電極Ｄは液
晶容量１２部分の画素電極にそれぞれ接続されている。
装置の一部等価回路図である。複数の走査信号配線１３
と複数の画像信号配線１４を交差して設け、その各交差
部にスイッチング用トランジスタ１１と、画素電極（不
図示）と対向電極（不図示）間に液晶材料（不図示）を
挟持した液晶容量１２を設けたものである。スイッチン
グ用トランジスタ１１のゲート電極Ｇは走査信号配線１
３に接続されており、スイッチング用トランジスタ１１
のソース電極Ｓは画像信号配線１４に接続されており、
スイッチング用トランジスタ１１のドレイン電極Ｄは液
晶容量１２部分の画素電極にそれぞれ接続されている。
【０００４】スイッチング用トランジスタ１１のゲート
電極Ｇに走査信号配線１３から走査信号が供給されてス
イッチング用トランジスタ１１がオンして画像信号配線
１４からソース電極Ｓとドレイン電極Ｄを介して液晶材
料に充電され、スイッチング用トランジスタがオフし
て、次にスイッチング用トランジスタ１１がオンするま
で液晶材料１２部分で電荷が保持される。この間、当該
液晶材料１２部分の画素が選択されて表示されることに
なる。
電極Ｇに走査信号配線１３から走査信号が供給されてス
イッチング用トランジスタ１１がオンして画像信号配線
１４からソース電極Ｓとドレイン電極Ｄを介して液晶材
料に充電され、スイッチング用トランジスタがオフし
て、次にスイッチング用トランジスタ１１がオンするま
で液晶材料１２部分で電荷が保持される。この間、当該
液晶材料１２部分の画素が選択されて表示されることに
なる。
【０００５】このスイッチング用トランジスタ１１のゲ
ート電極Ｇとソース電極Ｓ間が短絡すると、当該画素の
液晶材料１２に充分充電されず、表示不良となる。ま
た、スイッチング用トランジスタ１１のゲート電極Ｇと
ドレイン電極Ｄ、及びソース電極Ｓとドレイン電極Ｄ間
が短絡すると、当該画素の液晶材料１２に充分充電され
ないか、一旦充電された電荷がリークして表示不良とな
る。
ート電極Ｇとソース電極Ｓ間が短絡すると、当該画素の
液晶材料１２に充分充電されず、表示不良となる。ま
た、スイッチング用トランジスタ１１のゲート電極Ｇと
ドレイン電極Ｄ、及びソース電極Ｓとドレイン電極Ｄ間
が短絡すると、当該画素の液晶材料１２に充分充電され
ないか、一旦充電された電荷がリークして表示不良とな
る。
【０００６】このような表示不良を製造工程の検査で未
然に防止するために、従来からテストプローブを使用し
た検査を行っていた。この従来の検査方法を図６に基づ
いて説明する。図６において、１５は液晶表示装置であ
り、スイッチング用トランジスタＴmn（ｍ、ｎは整
数）、液晶容量Ｃmn（ｍ、ｎは整数）、走査信号配線Ｘ
m（ｍは整数）、画像信号配線Ｙn （ｎは整数）で構成
されている。また、図６中、１６はゲート電極Ｇとドレ
イン電極Ｄ間の短絡欠陥を、１７はソース電極Ｓとドレ
イン電極Ｄ間の短絡欠陥を生じているところを示してい
る。１８は画像信号配線Ｙn との接続手段、１９は走査
信号配線Ｘn との接続手段、２０は抵抗値測定手段、２
１はテストブローブ位置決め手段、２２はテストプロー
ブ、Ｓ1m（ｍは整数）は走査信号配線Ｘn との接続手段
１９中に設けられたスイッチ、Ｓ2n（ｎは整数）は画像
信号配線Ｙn との接続手段１８中に設けられたスイッチ
である。走査信号配線Ｘn との接続手段１９は液晶表示
装置１５の任意の走査信号配線Ｘn と電気的接続をとる
ことができ、画像信号配線Ｙn との接続手段１８は液晶
表示装置１５の任意の画像信号配線Ｙn と電気的接続を
とることができ、テストプローブ位置決め手段２１は任
意の画素のドレイン端子にテストプローブ２２を位置決
めすることができる。また抵抗値測定手段２０はテスト
プローブ２２と画像信号配線接続手段１８と走査信号配
線接続手段１９とに接続されており、任意の走査信号配
線Ｘn または画像信号配線Ｙn と任意のスイッチング用
トランジスタＴmnのドレイン端子間の抵抗値を測定する
ことができる。
然に防止するために、従来からテストプローブを使用し
た検査を行っていた。この従来の検査方法を図６に基づ
いて説明する。図６において、１５は液晶表示装置であ
り、スイッチング用トランジスタＴmn（ｍ、ｎは整
数）、液晶容量Ｃmn（ｍ、ｎは整数）、走査信号配線Ｘ
m（ｍは整数）、画像信号配線Ｙn （ｎは整数）で構成
されている。また、図６中、１６はゲート電極Ｇとドレ
イン電極Ｄ間の短絡欠陥を、１７はソース電極Ｓとドレ
イン電極Ｄ間の短絡欠陥を生じているところを示してい
る。１８は画像信号配線Ｙn との接続手段、１９は走査
信号配線Ｘn との接続手段、２０は抵抗値測定手段、２
１はテストブローブ位置決め手段、２２はテストプロー
ブ、Ｓ1m（ｍは整数）は走査信号配線Ｘn との接続手段
１９中に設けられたスイッチ、Ｓ2n（ｎは整数）は画像
信号配線Ｙn との接続手段１８中に設けられたスイッチ
である。走査信号配線Ｘn との接続手段１９は液晶表示
装置１５の任意の走査信号配線Ｘn と電気的接続をとる
ことができ、画像信号配線Ｙn との接続手段１８は液晶
表示装置１５の任意の画像信号配線Ｙn と電気的接続を
とることができ、テストプローブ位置決め手段２１は任
意の画素のドレイン端子にテストプローブ２２を位置決
めすることができる。また抵抗値測定手段２０はテスト
プローブ２２と画像信号配線接続手段１８と走査信号配
線接続手段１９とに接続されており、任意の走査信号配
線Ｘn または画像信号配線Ｙn と任意のスイッチング用
トランジスタＴmnのドレイン端子間の抵抗値を測定する
ことができる。
【０００７】まず、ゲート電極とドレイン電極間の欠陥
検出方法について説明する。画像信号配線Ｙn との接続
手段１８はＹ1 端子のスイッチＳ21を開放するととも
に、走査信号配線接続手段１９はＸ1 端子のスイッチＳ
11を閉じる。つぎに、テストプローブ位置決め手段２１
はスイッチング用トランジスタＴ11のドレイン端子にテ
ストプローブ２２を位置決めする。次に抵抗値測定手段
２０はスイッチング用トランジスタＴ11のゲート電極と
ドレイン電極間の抵抗値を測定する。測定された抵抗値
より欠陥を検出することができる。同じようにスイッチ
ング用トランジスタＴ21についてはＸ1 端子のスイッチ
Ｓ11を開放し、Ｘ2 端子のスイッチＳ12を閉じ、テスト
プローブ２２をスイッチング用トランジスタＴ21のドレ
イン端子に位置決めし、抵抗値を測定するという動作を
繰り返せばよい。スイッチング用トランジスタＴm1まで
終了すればつぎつぎに画像信号配線接続手段１８はＹ2
端子のスイッチＳ22を開放し、今回はスイッチング用ト
ランジスタＴ12に対して前述と同じ動作を繰り返し、抵
抗値を測定していけばよい。以上の動作をスイッチング
用トランジスタＴmnまで繰り返せばよい。
検出方法について説明する。画像信号配線Ｙn との接続
手段１８はＹ1 端子のスイッチＳ21を開放するととも
に、走査信号配線接続手段１９はＸ1 端子のスイッチＳ
11を閉じる。つぎに、テストプローブ位置決め手段２１
はスイッチング用トランジスタＴ11のドレイン端子にテ
ストプローブ２２を位置決めする。次に抵抗値測定手段
２０はスイッチング用トランジスタＴ11のゲート電極と
ドレイン電極間の抵抗値を測定する。測定された抵抗値
より欠陥を検出することができる。同じようにスイッチ
ング用トランジスタＴ21についてはＸ1 端子のスイッチ
Ｓ11を開放し、Ｘ2 端子のスイッチＳ12を閉じ、テスト
プローブ２２をスイッチング用トランジスタＴ21のドレ
イン端子に位置決めし、抵抗値を測定するという動作を
繰り返せばよい。スイッチング用トランジスタＴm1まで
終了すればつぎつぎに画像信号配線接続手段１８はＹ2
端子のスイッチＳ22を開放し、今回はスイッチング用ト
ランジスタＴ12に対して前述と同じ動作を繰り返し、抵
抗値を測定していけばよい。以上の動作をスイッチング
用トランジスタＴmnまで繰り返せばよい。
【０００８】つぎにソース電極とドレイン電極間の欠陥
検出方法について説明する。この場合は走査信号配線Ｘ
n との接続手段１９はＸ1 端子のスイッチＳ11を開放す
るとともに、画像信号配線Ｙn との接続手段１８はＹ1
端子のスイッチＳ21を閉じる。つぎにテストプローブ位
置決め手段２１はスイッチング用トランジスタＴ11のド
レイン端子にテストプローブ２２を位置決めする。次
に、抵抗値測定手段２０はスイッチング用トランジスタ
Ｔ11のソース電極とドレイン電極間の抵抗値を測定す
る。測定された抵抗値より欠陥を検出することができ
る。同じように、スイッチング用トランジスタＴ21につ
いてはＸ2 端子のスイッチＳ12を開放し、テストプロー
ブ１２をスイッチング用トランジスタＴ21のドレイン端
子に位置決めし、抵抗値を測定するという動作をくりか
えせばよい。スイッチング用トランジスタＴm1まで終了
すればつぎに画像信号配線Ｙn との接続手段１８はＹ1
端子のスイッチＳ22を開放し、スイッチＳ22を閉じ今回
はスイッチング用トランジスタＴ12に対して前述と同じ
動作を繰り返して抵抗値を測定していけばよい。以上の
動作をスイッチング用トランジスタＴmnまでくりかえせ
ばよい。
検出方法について説明する。この場合は走査信号配線Ｘ
n との接続手段１９はＸ1 端子のスイッチＳ11を開放す
るとともに、画像信号配線Ｙn との接続手段１８はＹ1
端子のスイッチＳ21を閉じる。つぎにテストプローブ位
置決め手段２１はスイッチング用トランジスタＴ11のド
レイン端子にテストプローブ２２を位置決めする。次
に、抵抗値測定手段２０はスイッチング用トランジスタ
Ｔ11のソース電極とドレイン電極間の抵抗値を測定す
る。測定された抵抗値より欠陥を検出することができ
る。同じように、スイッチング用トランジスタＴ21につ
いてはＸ2 端子のスイッチＳ12を開放し、テストプロー
ブ１２をスイッチング用トランジスタＴ21のドレイン端
子に位置決めし、抵抗値を測定するという動作をくりか
えせばよい。スイッチング用トランジスタＴm1まで終了
すればつぎに画像信号配線Ｙn との接続手段１８はＹ1
端子のスイッチＳ22を開放し、スイッチＳ22を閉じ今回
はスイッチング用トランジスタＴ12に対して前述と同じ
動作を繰り返して抵抗値を測定していけばよい。以上の
動作をスイッチング用トランジスタＴmnまでくりかえせ
ばよい。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような構成ではテストプローブ２２を用いるために、テ
ストプローブ２２を直接スイッチング用トランジスタＴ
11〜Ｔmnのソース端子やドレイン端子に接続された画素
電極に接触させる必要があり、素子表面を損傷するおそ
れがある。また、テストプローブ２２の接触不良による
欠陥検出もれがおこりやすい。そのうえ、テストプロー
ブ２２を移動させながら欠陥検出を行う必要があるた
め、位置決め時間に膨大な時間を要するという問題点を
有していた。
ような構成ではテストプローブ２２を用いるために、テ
ストプローブ２２を直接スイッチング用トランジスタＴ
11〜Ｔmnのソース端子やドレイン端子に接続された画素
電極に接触させる必要があり、素子表面を損傷するおそ
れがある。また、テストプローブ２２の接触不良による
欠陥検出もれがおこりやすい。そのうえ、テストプロー
ブ２２を移動させながら欠陥検出を行う必要があるた
め、位置決め時間に膨大な時間を要するという問題点を
有していた。
【００１０】本発明は上記問題点に鑑みて発明されたも
のであり、液晶表示装置の検査を非接触かつ容易に行う
ことができる液晶表示装置の検査方法を提供することを
目的とする。
のであり、液晶表示装置の検査を非接触かつ容易に行う
ことができる液晶表示装置の検査方法を提供することを
目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に係わる液晶表示装置の検査方法によれ
ば、複数の走査信号配線と複数の画像信号配線を交差し
て設け、この交差部に画素電極を設けると共に、前記走
査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期間と所定電
圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号に基づい
て、前記画像信号配線から供給される画像信号を前記画
素電極に供給して表示を行うスイッチング用トランジス
タを設けた液晶表示装置の検査方法において、前記走査
信号のオン期間を前記表示を行うときよりも長くすると
ともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行うとき
と同一にして画素電極部の充電不良を検査する。
に、請求項１に係わる液晶表示装置の検査方法によれ
ば、複数の走査信号配線と複数の画像信号配線を交差し
て設け、この交差部に画素電極を設けると共に、前記走
査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期間と所定電
圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号に基づい
て、前記画像信号配線から供給される画像信号を前記画
素電極に供給して表示を行うスイッチング用トランジス
タを設けた液晶表示装置の検査方法において、前記走査
信号のオン期間を前記表示を行うときよりも長くすると
ともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行うとき
と同一にして画素電極部の充電不良を検査する。
【００１２】また、請求項２に係る液晶表示装置の検査
方法によれば、複数の走査信号配線と複数の画像信号配
線を交差して設け、この交差部に画素電極を設けると共
に、前記走査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期
間と所定電圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号
に基づいて、前記画像信号配線から供給される画像信号
を前記画素電極に供給して表示を行うスイッチング用ト
ランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、
前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときと同一に
するとともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行
うときよりも長くして画素電極部のリーク不良を検査す
る。
方法によれば、複数の走査信号配線と複数の画像信号配
線を交差して設け、この交差部に画素電極を設けると共
に、前記走査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期
間と所定電圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号
に基づいて、前記画像信号配線から供給される画像信号
を前記画素電極に供給して表示を行うスイッチング用ト
ランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、
前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときと同一に
するとともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行
うときよりも長くして画素電極部のリーク不良を検査す
る。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明を添付図面に基づき
詳細に説明する。本発明に係る液晶表示装置の検査方法
の検査対象となる液晶表示装置の構成は、図５、図６に
示す液晶表示装置の構成と同一である。
詳細に説明する。本発明に係る液晶表示装置の検査方法
の検査対象となる液晶表示装置の構成は、図５、図６に
示す液晶表示装置の構成と同一である。
【００１４】図１は検査対象となる液晶表示装置におけ
るスイッチング用トランジスタ部及び画素部分の等価回
路図であり、１は走査信号配線、２は画像信号配線、３
はスイッチング用トランジスタ、４は画素電極、５は対
向電極である。
るスイッチング用トランジスタ部及び画素部分の等価回
路図であり、１は走査信号配線、２は画像信号配線、３
はスイッチング用トランジスタ、４は画素電極、５は対
向電極である。
【００１５】図２は走査信号、画像信号、及び液晶材料
に印加される電圧の波形図である。図２中、ＶG は走査
信号配線１からスイッチング用トランジスタ３のゲート
電極Ｇに供給される走査信号、ＶS は画像信号配線２か
らスイッチング用トランジスタのソース電極Ｓに供給さ
れる画像信号である。図２中、ｔはスイッチング用トラ
ンジスタ３がオンしている時間、Ｔはスイッチング用ト
ランジスタ３がオフしている時間である。画像信号配線
２に正極性の所定電圧が印加された状態で走査信号配線
に所定電圧が印加されると、液晶材料に正極性の電圧が
印加されはじめ、スイッチング用トランジスタ３がオフ
した後も液晶材料に正極性の電圧が印加され続ける。
に印加される電圧の波形図である。図２中、ＶG は走査
信号配線１からスイッチング用トランジスタ３のゲート
電極Ｇに供給される走査信号、ＶS は画像信号配線２か
らスイッチング用トランジスタのソース電極Ｓに供給さ
れる画像信号である。図２中、ｔはスイッチング用トラ
ンジスタ３がオンしている時間、Ｔはスイッチング用ト
ランジスタ３がオフしている時間である。画像信号配線
２に正極性の所定電圧が印加された状態で走査信号配線
に所定電圧が印加されると、液晶材料に正極性の電圧が
印加されはじめ、スイッチング用トランジスタ３がオフ
した後も液晶材料に正極性の電圧が印加され続ける。
【００１６】次に、画像信号配線２に負極性の所定電圧
が印加された状態で走査信号配線１に所定電圧が印加さ
れると、液晶材料に負極性の電圧が印加されはじめ、走
査信号配線１の所定電圧の印加状態が停止した後も液晶
材料に負極性の電圧が印加されつづける。このように走
査信号ＶG を一定期間（ｔ）オンするとともに、他の期
間（Ｔ）オフにし、走査信号ＶG がオンしている期間ｔ
に正極性と負極性の画像信号ＶS を交互に印加すること
により、正極性と負極性の電圧を液晶材料に交互に印加
する。
が印加された状態で走査信号配線１に所定電圧が印加さ
れると、液晶材料に負極性の電圧が印加されはじめ、走
査信号配線１の所定電圧の印加状態が停止した後も液晶
材料に負極性の電圧が印加されつづける。このように走
査信号ＶG を一定期間（ｔ）オンするとともに、他の期
間（Ｔ）オフにし、走査信号ＶG がオンしている期間ｔ
に正極性と負極性の画像信号ＶS を交互に印加すること
により、正極性と負極性の電圧を液晶材料に交互に印加
する。
【００１７】ところが、液晶表示装置における表示部内
のスイッチング用トランジスタ３が正常でない場合、こ
のような正極性と負極性の電圧を液晶材料に交互に印加
することができない事態を招来する。このような事態を
招来する原因として、次の２通りが考えられる。まず、
走査信号ＶG が供給されてスイッチング用トランジスタ
３がオンになって、ソース電極Ｓから充電され、スイッ
チング用トランジスタ３がオフになってもすぐリーク
し、液晶材料で電荷を保持できないリーク状態である。
つぎに、走査信号ＶG が供給されてスイッチング用トラ
ンジスタ３がオンになってもソース電極Ｓから充分に充
電されず、液晶材料で電荷を保持できない充電不良状態
である。
のスイッチング用トランジスタ３が正常でない場合、こ
のような正極性と負極性の電圧を液晶材料に交互に印加
することができない事態を招来する。このような事態を
招来する原因として、次の２通りが考えられる。まず、
走査信号ＶG が供給されてスイッチング用トランジスタ
３がオンになって、ソース電極Ｓから充電され、スイッ
チング用トランジスタ３がオフになってもすぐリーク
し、液晶材料で電荷を保持できないリーク状態である。
つぎに、走査信号ＶG が供給されてスイッチング用トラ
ンジスタ３がオンになってもソース電極Ｓから充分に充
電されず、液晶材料で電荷を保持できない充電不良状態
である。
【００１８】本発明に係る液晶表示装置の検査方法で
は、走査信号ＶG のオン期間ｔを通常の表示を行うとき
と同一にするとともに、走査信号ＶG のオフ期間Ｔを通
常の表示を行うときの２倍の期間２Ｔに設定して黒表示
を行い、その時の輝度を測定して正常状態の輝度と比較
して判定する。このように、走査信号ＶG のオフ期間Ｔ
を通常の表示を行うときの２倍の期間２Ｔに設定して黒
表示を行うと、リークする期間が２倍になり、リークが
あるのであれば、このリーク不良を極めて精度よく検知
できる。
は、走査信号ＶG のオン期間ｔを通常の表示を行うとき
と同一にするとともに、走査信号ＶG のオフ期間Ｔを通
常の表示を行うときの２倍の期間２Ｔに設定して黒表示
を行い、その時の輝度を測定して正常状態の輝度と比較
して判定する。このように、走査信号ＶG のオフ期間Ｔ
を通常の表示を行うときの２倍の期間２Ｔに設定して黒
表示を行うと、リークする期間が２倍になり、リークが
あるのであれば、このリーク不良を極めて精度よく検知
できる。
【００１９】また、走査信号ＶG のオン期間ｔを通常の
表示を行うときの２倍の期間２ｔにするとともに、走査
信号ＶG のオフ期間Ｔを通常の表示を行うときと同じに
設定して黒表示を行い、そのときの輝度を測定して正常
状態の輝度と比較して判定する。このように、走査信号
ＶG のオン期間ｔを通常の表示を行うときの２倍の期間
２ｔに設定して黒表示を行うと、充電される期間が２倍
になり、充電不良があるのであれば、この充電不良状態
を極めて精度よく検知できる。
表示を行うときの２倍の期間２ｔにするとともに、走査
信号ＶG のオフ期間Ｔを通常の表示を行うときと同じに
設定して黒表示を行い、そのときの輝度を測定して正常
状態の輝度と比較して判定する。このように、走査信号
ＶG のオン期間ｔを通常の表示を行うときの２倍の期間
２ｔに設定して黒表示を行うと、充電される期間が２倍
になり、充電不良があるのであれば、この充電不良状態
を極めて精度よく検知できる。
【００２０】なお、上記実施例では、走査信号ＶG のオ
ン期間ｔと走査信号のオフ期間Ｔをそれぞれ２倍にする
ことについて述べたが、この実施例に限定されるもので
はなく、少なくとも通常の表示状態における期間よりも
長がければリーク状態または充電不良状態をより高い精
度で検知できる。また、リーク状態または充電不良状態
を区別する必要がない場合は、走査信号ＶG のオン期間
ｔとオフ期間Ｔの双方を長くすればよい。
ン期間ｔと走査信号のオフ期間Ｔをそれぞれ２倍にする
ことについて述べたが、この実施例に限定されるもので
はなく、少なくとも通常の表示状態における期間よりも
長がければリーク状態または充電不良状態をより高い精
度で検知できる。また、リーク状態または充電不良状態
を区別する必要がない場合は、走査信号ＶG のオン期間
ｔとオフ期間Ｔの双方を長くすればよい。
【００２１】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る液晶表示装
置の検査方法によれば、走査信号のオン期間を表示を行
うときよりも長くするとともに、走査信号のオフ期間を
表示を行うときと同一にして画素電極部の充電不良を検
査したり、走査信号のオン期間を表示を行うときと同一
にするとともに、走査信号のオフ期間を表示を行うとき
よりも長くして画素電極部のリーク不良を検査すること
から、駆動用ＩＣを実装する前の状態で表示部内のスイ
ッチング用トランジスタに異常があるかどうかを把握で
きる。また、この検査を行うための特別な設備は必要な
く、信号発生器のプログラムを追加するだけで検査でき
る。
置の検査方法によれば、走査信号のオン期間を表示を行
うときよりも長くするとともに、走査信号のオフ期間を
表示を行うときと同一にして画素電極部の充電不良を検
査したり、走査信号のオン期間を表示を行うときと同一
にするとともに、走査信号のオフ期間を表示を行うとき
よりも長くして画素電極部のリーク不良を検査すること
から、駆動用ＩＣを実装する前の状態で表示部内のスイ
ッチング用トランジスタに異常があるかどうかを把握で
きる。また、この検査を行うための特別な設備は必要な
く、信号発生器のプログラムを追加するだけで検査でき
る。
【図１】液晶表示装置の一画素部分を示す等価回路図で
ある。
ある。
【図２】走査信号、画像信号、液晶材料への印加電圧を
示す波形図である。
示す波形図である。
【図３】リーク不良検査時に用いられる信号の波形図で
ある。
ある。
【図４】充電不良検査時に用いられる信号の波形図であ
る。
る。
【図５】従来の液晶表示装置の等価回路図である。
【図６】従来の液晶表示装置の検査方法を説明するため
の図である。
の図である。
１・・・走査信号配線、２・・・画像信号配線、３・・
・スイッチング用トランジスタ、４・・・画素電極、５
・・・対向電極
・スイッチング用トランジスタ、４・・・画素電極、５
・・・対向電極
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の走査信号配線と複数の画像信号配
線を交差して設け、この交差部に画素電極を設けると共
に、前記走査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期
間と所定電圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号
に基づいて、前記画像信号配線から供給される画像信号
を前記画素電極に供給して表示を行うスイッチング用ト
ランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、
前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときよりも長
くするとともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を
行うときと同一にして前記画素電極部の充電不良を検査
することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項２】 複数の走査信号配線と複数の画像信号配
線を交差して設け、この交差部に画素電極を設けると共
に、前記走査信号配線を所定電圧以上に維持するオン期
間と所定電圧以下に維持するオフ期間を有する走査信号
に基づいて、前記画像信号配線から供給される画像信号
を前記画素電極に供給して表示を行うスイッチング用ト
ランジスタを設けた液晶表示装置の検査方法において、
前記走査信号のオン期間を前記表示を行うときと同一に
するとともに、前記走査信号のオフ期間を前記表示を行
うときよりも長くして前記画素電極部のリーク不良を検
査することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10587096A JP3266502B2 (ja) | 1996-04-25 | 1996-04-25 | 液晶表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10587096A JP3266502B2 (ja) | 1996-04-25 | 1996-04-25 | 液晶表示装置の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09292428A true JPH09292428A (ja) | 1997-11-11 |
| JP3266502B2 JP3266502B2 (ja) | 2002-03-18 |
Family
ID=14418996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10587096A Expired - Fee Related JP3266502B2 (ja) | 1996-04-25 | 1996-04-25 | 液晶表示装置の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3266502B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007156127A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の検査方法 |
| WO2020249034A1 (zh) * | 2019-06-12 | 2020-12-17 | 北海惠科光电技术有限公司 | 栅线不良的检测方法、显示面板及可读存储介质 |
-
1996
- 1996-04-25 JP JP10587096A patent/JP3266502B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007156127A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の検査方法 |
| WO2020249034A1 (zh) * | 2019-06-12 | 2020-12-17 | 北海惠科光电技术有限公司 | 栅线不良的检测方法、显示面板及可读存储介质 |
| US11705027B2 (en) | 2019-06-12 | 2023-07-18 | Beihai Hkc Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Method for detecting gate line defects, display panel and readable storage medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3266502B2 (ja) | 2002-03-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |