JPH09297830A

JPH09297830A - Ｉｃカード

Info

Publication number: JPH09297830A
Application number: JP8110913A
Authority: JP
Inventors: Seiji Hirano; 誠治平野; Fumihiro Takayama; 文博高山; Kenichi Yamaoka; 憲一山岡
Original assignee: Toppan Printing Co Ltd
Current assignee: Toppan Inc
Priority date: 1996-05-01
Filing date: 1996-05-01
Publication date: 1997-11-18

Abstract

(57)【要約】【課題】ＩＣカードにおいて、リセット時の待ち時間
を短縮するとともに、データ書き込み後に不揮発性デー
タ記憶手段に生じた不良による影響を低減する。【解決手段】ＲＯＭ２に格納されたプログラムを実行
するＣＰＵ１は、自己診断処理コマンドを受信したとき
のみ、ＲＯＭ２の診断処理、ＥＥＰＲＯＭ４の診断処
理、およびＥＥＰＲＯＭ４の修復処理のうち、当該コマ
ンドのパラメータに応じた処理を実行する。また、ＣＰ
Ｕ１は、ＥＥＰＲＯＭ４の診断処理において、ＥＥＰＲ
ＯＭ４のデータ記憶領域を構成する各セクタのＳＵＭと
各セクタの順序を表す繋ぎ情報とを診断し、後の修復処
理でＳＵＭおよび繋ぎ情報を修復できるようにしてい
る。さらにＣＰＵ１は、ＥＥＰＲＯＭ４の修復処理にお
いて、修復の態様を当該コマンドのパラメータに基づい
て決定し、該当する態様の修復処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＥＥＰＲＯＭやＦ
ＲＡＭ等の不揮発性データ記憶手段を複数のセクタに分
割しこれら複数のセクタにまたがってファイルを格納す
るＩＣカードにおいて、メモリ不良によってＩＣカード
が使用不能となるのを抑制するＩＣカードに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、メモリ不良の検出機能を有す
るＩＣカードが開発されている。例えば、不揮発性デー
タ記憶手段の特定領域に格納されたファイル制御用の情
報（例えば、ディレクトリ情報）をリセット直後にチェ
ックし、このチェック結果がエラーであれば、外部機器
（上位システム）に対して当該情報にエラーが発生した
旨のデータを返送するＩＣカードが存在する。また、Ｉ
Ｃカード活性化後にＰＲＯＭに格納されたプログラムコ
ードに対してチェック用のＳＵＭを付加し、リセット直
後にプログラムコードのチェックを行うようにしたカー
ドも存在する。

【０００３】また、不揮発性データ記憶手段の不良を検
出し、この不良を自動的に修復する機能を有するＩＣカ
ードも存在する。この種のＩＣカードでは、不揮発性デ
ータ記憶手段のあるセクタに不良が発生してもＩＣカー
ド全体が使用不能とならないよう不良セクタを使用不可
としてロックし、この不良セクタをスキップしてデータ
を書き込むという処理が行われている。こうして書き込
まれたデータは、ロックされた使用不可セクタを自動的
にスキップして正しく連続するよう読み出される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、ＲＡ
Ｍ、ＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、ＦＲＡＭ等の半導体素子
の信頼性は極めて向上しており、以前のようにリセット
処理毎にチェックする必要はなくなってきている。しか
しながら、従来のＩＣカードでは、上述したように、デ
ィレクトリ情報のチェック処理およびプログラムコード
のチェック処理を、いずれもリセット直後に自動的かつ
強制的に行っている。

【０００５】もちろん、リセット毎に必ず上記チェック
を行うようにしてもよいが、当該チェック処理の間、外
部機器はＩＣカードからの返信（ＡＴＲ：Answer To Re
turn）を待っていなければならない。発生する確率が極
めて低いメモリ不良の有無を確認するだけのために必ず
少なからぬ時間だけ処理が停滞してしまうのである。ま
た、データ書き込み時に不揮発性データ記憶手段の不良
セクタをロックする従来のＩＣカードでは、データを書
き込んだ後にメモリ不良が発生した場合、この不良セク
タをロックしスキップすることができず、当該不良セク
タ以降のデータを正常に読み出すことができなくなる。

【０００６】本発明はこのような背景の下になされたも
ので、リセット時の待ち時間を短縮するとともに、デー
タ書き込み後に不揮発性データ記憶手段に生じた不良に
よる影響を低減することができるＩＣカードを提供する
ことを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項１記載の発明は、プログラムを格納した
第１の不揮発性データ記憶手段と、データを記憶する第
２の不揮発性データ記憶手段と、外部機器との間でデー
タを送受する通信手段と、前記第１の不揮発性データ記
憶手段に格納されたプログラムに基づいて、前記通信手
段を介して受信した命令を実行するとともに、命令の実
行結果を前記通信手段を介して外部へ送信する処理手段
とを具備したＩＣカードであって、前記処理手段は、前
記第１の不揮発性データ記憶手段に格納されたプログラ
ム中に記述された、前記第１の不揮発性データ記憶手段
に対する診断処理、前記第２の不揮発性データ記憶手段
に対する診断処理、および前記第２の不揮発性データ記
憶手段の修復処理のうち、前記通信手段を介して受信し
た命令に対応した処理を選択実行することを特徴として
いる。

【０００８】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載のものにおいて、前記第２の不揮発性データ記憶手段
は複数のセクタから構成され、かつ複数のセクタに連続
してデータが記憶されてなる場合において、前記セクタ
は実データと該実データに対応した診断用データを含
み、前記処理手段は、前記第２の不揮発性データ記憶手
段の修復処理の選択実行により、実データと診断用デー
タとの対応関係が異常とされたセクタの診断用データを
再設定することを特徴としている。

【０００９】さらに、請求項３記載の発明は、請求項２
記載のものにおいて、前記セクタは実データと、セクタ
の順序を表す繋ぎ情報と、実データおよび繋ぎ情報に対
応した診断用データとを含み、前記処理手段は、実デー
タおよび繋ぎ情報と診断用データとの対応関係が正常と
されたセクタの繋ぎ情報の整合性を診断するとともに、
この診断結果を前記通信手段を介して外部機器へ送信す
ることを特徴としている。

【００１０】また、請求項４記載の発明は、請求項２記
載のものにおいて、前記セクタは実データと、セクタの
順序を表す繋ぎ情報と、実データおよび繋ぎ情報に対応
した診断用データとを含み、前記処理手段は、実データ
および繋ぎ情報と診断用データとの対応関係が正常とさ
れたセクタの繋ぎ情報の整合性を診断するとともに、こ
の診断結果において整合性がとれていないとされたセク
タの繋ぎ情報を修復し、該セクタの診断用データを再設
定することを特徴としている。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
一実施形態について説明する。図１は本発明の一実施形
態によるＩＣカードの構成を示す図である。この図にお
いて１はＣＰＵ（中央処理装置）であり、ＣＰＵ１に実
行されるプログラムを格納したＲＯＭ（Read Only Memo
ry）２、コマンドデータの一時格納領域やＣＰＵ１の作
業領域等として使用されるＲＡＭ（Random Access Memo
ry、揮発性メモリ）３、ＥＥＰＲＯＭ(Electrically Er
asable Programmable ROM)４と所定幅のバスを介して接
続されている。このＣＰＵ１は、図示せぬＩＣカード端
子部（通信手段）から供給されるＶｃｃ（電源電圧）、
ＲＳＴ信号（リセット信号）、ＣＬＫ信号（クロック信
号）に基づいて、ＲＯＭ２に格納されたプログラムを読
み出し実行し、ＲＡＭ３およびＥＥＰＲＯＭ４に対して
データの書き込み及び読み出しを行うとともに、Ｉ／Ｏ
インタフェースを介して外部機器との間でデータ（図中
Ｉ／Ｏで表される）を送受する。

【００１２】ＲＯＭ２（第１の不揮発性データ記憶手
段）としては、マスクＲＯＭ、ＰＲＯＭ（Programmable
ROM）、ＥＰＲＯＭが用いられ、予め所望のプログラム
が格納される。また、第２の不揮発性データ記憶手段と
してＥＥＰＲＯＭ４を用いる構成を示したが、これに限
らず、例えば、ＳＲＡＭ（Static RAM）にバッテリを組
み合わせて不揮発性データ記憶手段を構成し、これを不
揮発性データ記憶手段として用いてもよいし、ＦＲＡＭ
（Flash RAM）を用いてもよい。なお、ＲＯＭ２，ＲＡ
Ｍ３，ＥＥＰＲＯＭ４のデータ記憶領域を以後、それぞ
れＲＯＭ領域、ＲＡＭ領域、ＥＥＰＲＯＭ領域と称す。

【００１３】上記構成のＩＣカードは、通常、ＩＣカー
ドリーダライタに挿入された状態でこのＩＣカードリー
ダライタに接続されたコンピュータにアクセスされるも
のである。本明細書中では、上記ＩＣカードリーダライ
タとコンピュータを含めて外部機器と呼ぶ。

【００１４】次に、上記構成のＩＣカードが行う処理に
ついて説明する。ただし、以降の説明において、処理の
主体が省略されている場合には、ＣＰＵ１が主体である
ものとする。ＩＣカードは、Ｖｃｃ、ＣＬＫ信号が供給
された状態でＲＳＴ信号を受信することによって活性化
し、ＡＴＲ情報を送出する（ＩＳＯ７８１６）。そし
て、この活性化後、外部機器から送信されたデータブロ
ック（コマンド等）に対して図２に示されるような処理
を行う。

【００１５】図２は上記ＩＣカードにおけるアクセス処
理のフローチャートであり、この図に示されるように、
ステップＳＡ１では、外部機器から送信されたデータブ
ロックを受信するまで待機処理が行われる。データブロ
ックを受信すると、当該データブロックが正しい書式で
あるか否かが判断され（ステップＳＡ２，ＳＡ３）、正
しい書式であると判断された場合には、当該データブロ
ックに含まれるコマンドを処理し（ステップＳＡ４）、
その処理結果からなるレスポンスを外部機器へ返送する
（ステップＳＡ５）。逆に、ステップＳＡ２，ＳＡ３に
おいて正しい書式ではないと判断された場合には、エラ
ー処理を行い（ステップＳＡ６）、正しい書式ではない
旨のレスポンスを外部機器へ返送する（ステップＳＡ
５）。なお、ＩＣカードと外部機器との間の通信制御は
上述したブロック単位でもよいし、キャラクタ単位でも
よい。要するに、ステップＳＡ２の段階でブロック単位
になっていれば良いのである。

【００１６】図３は自己診断処理コマンドの処理を示す
フローチャートであり、この図に示される処理は、図２
において、受信したデータブロックが自己診断処理コマ
ンドを含んでいる場合のステップＳＡ４の処理に相当す
る。自己診断処理コマンドの処理では、まず、ＲＯＭ２
に格納されたプログラムコードのチェックを行うか否か
が判断される（ステップＳＢ１）。この判断は、コマン
ドに付加されたスイッチ（パラメータ）に基づいてなさ
れる。ここで、図９を参照し、自己診断処理コマンドの
書式について説明する。

【００１７】図９は本実施形態で使用される自己診断処
理コマンドの書式の一例を示す図であり、この例の自己
診断処理コマンドは、予約語“ＣＨＥＣＫ”とこれに続
く省略可能なパラメータＰ１，Ｐ２とからなる。パラメ
ータＰ１は値００、０１、０２をとり得るものであり、
それぞれ、ＲＯＭ２のチェック処理、ＥＥＰＲＯＭ４の
繋ぎ情報のチェック処理、ＥＥＰＲＯＭ４の修復処理
（後述する）を意味している。また、パラメータＰ２は
修復処理の態様を表しており、値００、０１をとり得る
ものであり、それぞれ、後述する強制修復処理、通常の
修復処理を意味している。よって、例えば、“ＣＨＥＣ
Ｋ／００”というコマンドは、ＲＯＭ２のチェック処
理のみを行うコマンドとして処理される。なお、各パラ
メータは省略可能であり、ここでは、パラメータＰ１が
省略された場合にはＲＯＭ２のチェック処理、パラメー
タＰ２が省略された場合には通常の修復処理が選択され
たものとして処理するよう設定されている。

【００１８】ＲＯＭ２のチェック処理においては、ＲＯ
Ｍ２に格納されたプログラムコードと診断用データとし
てプログラムコードに付記されたＳＵＭチェック（合計
検査）用コード（以後、ＳＵＭと称す）を０番地から最
終番地まで加算し（図３のステップＳＢ２）、その合計
が０であるか否かを判断する。なお、ＳＵＭは、ＲＯＭ
２の０番地から最終番地までの合計が０となるよう予め
ＲＯＭ２に書き込まれているので、ＲＯＭ２にメモリ不
良がなければ、上記合計は必ず０になる。

【００１９】ＲＯＭ２の０番地から最終番地までの合計
が０であった場合、すなわちＲＯＭ２が正常であると判
断された場合、チェック処理が正常終了した旨のレスポ
ンスを生成する（ステップＳＢ３，ＳＢ４）。逆に、上
記合計が０でなく、ＲＯＭ２にメモリ不良が発生したと
判断された場合、チェック処理が異常終了した旨のレス
ポンス（エラーレスポンス）を生成する（ステップＳＢ
３，ＳＢ５）。こうして生成されたレスポンスは図２の
ステップＳＡ５において外部機器へ返送される。

【００２０】また、ステップＳＢ１において、パラメー
タＰ１が００でなく、ＲＯＭ２のチェック処理を行わな
いと判断した場合には、ＥＥＰＲＯＭ４の各セクタに記
憶された繋ぎ情報のチェック処理を行う（ステップＳＢ
６）。繋ぎ情報のチェック処理は図４に示される処理で
あるが、ここでは、まず、図８（ａ）および図８（ｂ）
を参照してＥＥＰＲＯＭ４のデータ構造について説明
し、次に繋ぎ情報のチェック処理について説明する。

【００２１】図８（ａ）および図８（ｂ）は、それぞれ
ＥＥＰＲＯＭ４のデータ構造を概念的に示す図である。
これらの図において、１６進表現で００、０１、…、Ｆ
Ｆと番号が付された行はＥＥＰＲＯＭ領域内のセクタに
対応しており、各セクタには実データ領域、前セクタ領
域、後セクタ領域、およびＳＵＭ領域が設けられてい
る。実データ領域にはファイル等のデータ実体、前セク
タ領域には当該セクタの直前に位置するセクタの番号
（以後、前セクタ番号と称す）、後セクタ領域には当該
セクタの直後に位置するセクタの番号（以後、後セクタ
番号と称す）が格納されており、先頭セクタの前セクタ
番号および最終セクタの後セクタ番号はともに００にな
っている。なお、先頭セクタの前セクタ番号をＦＦとし
てＥＥＰＲＯＭ領域をリング状に構成してもよい。ま
た、ＳＵＭ領域には当該セクタのデータ実体、前セクタ
番号、および後セクタ番号との和が０になるＳＵＭが格
納されている。

【００２２】次に、図４を参照して、ＥＥＰＲＯＭ領域
内の繋ぎ情報のチェック処理について説明する。まず、
ステップＳＣ１では、コマンドを解析し、修復処理を行
うべきか否か、すなわちパラメータＰ１が０２であるか
否かを判断する。繋ぎ情報のチェック処理を行う場合に
はコマンドは“ＣＨＥＣＫ／０１”となっているの
で、処理はステップＳＣ２へ進む。ステップＳＣ２で
は、前セクタ番号を表す変数ＦＳＣＴに００、処置対象
のセクタ番号（以後、現セクタ番号と称す）を表す変数
ＳＣＴに０１を代入する。そして、ＥＥＰＲＯＭ領域に
おける読み出しポインタの現在位置を表す“カレント”
が０１でない場合には、変数ＳＣＴにカレントを代入す
る（ステップＳＣ３，ＳＣ４）。こうして、初期設定が
完了する。

【００２３】次に、ステップＳＣ５〜ＳＣ１１の処理を
後述する条件が成立するまで繰り返し行う。まず、変数
ＳＣＴで表される現セクタ（ここでは０１のセクタ）に
対して読み出し処理が行われる（ステップＳＣ５）。こ
の読み出し処理は図５のフローチャートに示されるよう
に、現セクタ内の全データをＲＡＭ領域上に読み出し
（ステップＳＤ１）、読み出したデータに対してＳＵＭ
チェック処理を行う（ステップＳＤ２）処理である。

【００２４】次に、ステップＳＣ６では、ステップＳＤ
２のＳＵＭチェック処理においてＳＵＭエラーが検出さ
れたか否かを判断し、ＳＵＭエラーが検出されなかった
場合、すなわち現セクタにおけるデータ実体、前セクタ
番号、後セクタ番号、およびＳＵＭの対応関係が正常と
された場合には現セクタ内の繋ぎ情報、すなわちＲＡＭ
領域上の前セクタ番号および後セクタ番号に基づいて繋
ぎ情報確認処理を行う（ステップＳＣ７）。この確認処
理は図６のフローチャートに示されるように、ＲＡＭ領
域上の前セクタ番号と変数ＦＳＣＴとが一致する場合に
は変数ＦＳＣＴに変数ＳＣＴの値を代入し（ステップＳ
Ｅ１，ＳＥ２）、等しくない場合には繋ぎエラーを検出
した旨の情報をＲＡＭ領域の特定領域に書き込む（ステ
ップＳＥ１，ＳＥ３）、という処理である。

【００２５】変数ＦＳＣＴには前セクタ番号となるべき
値（ここでは００）が格納されているので、現セクタの
前セクタ番号が００でない場合には繋ぎエラーとなる。
なお、ステップＳＥ２において変数ＦＳＣＴに変数ＳＣ
Ｔの値を代入するのは、次のループに備えるためであ
り、例えば、変数ＦＳＣＴの値が００から０１へ変わ
る。

【００２６】次に、ステップＳＣ９では、変数ＮＳＣＴ
にＲＡＭ領域上の後セクタ番号を代入する。そして、ス
テップＳＣ７での診断処理において繋ぎエラーを検出し
た場合には、変数ＳＣＴにＲＡＭ領域上の後セクタ番号
を代入し（ステップＳＣ１０）、変数ＮＳＣＴの値が０
でない場合にはステップＳＣ５の処理に戻る。ただし、
ここでは、ＦＳＣＴ＝０１、ＳＣＴ＝０２になってい
る。上記ステップＳＣ５〜ＳＣ１１の処理は、ステップ
ＳＣ１１にて変数ＮＳＣＴの値が０になるまで繰り返さ
れ、０になった時点で繋ぎ情報チェック処理を終了す
る。

【００２７】一方、上記ループにおいてＳＵＭエラーが
検出された場合、すなわち現セクタにおけるデータ実
体、前セクタ番号、後セクタ番号、およびＳＵＭの対応
関係が異常とされた場合には、その旨を示す情報をＲＡ
Ｍ領域の特定領域に書き込み、繋ぎ情報チェック処理を
終了する（ステップＳＣ１２）。図８（ａ）、図８
（ｂ）の例ではＦＳＣＴ＝０２、ＳＣＴ＝０３、ＮＳＣ
Ｔ＝０３の状態で処理を終了する。また、上記ループに
おいて繋ぎエラーが検出された場合には、その旨を示す
情報をＲＡＭ領域の特定領域に書き込み繋ぎ情報チェッ
ク処理を終了する（ステップＳＣ１２）。ＳＵＭエラー
が発生せず、かつ繋ぎエラーが発生するケースとして
は、例えば、図８（ａ）および図８（ｂ）の＊＊部分お
よび実データ領域の不良部分が偶然にもＳＵＭエラーを
生じない変化をしている場合などがあり、図８（ａ）の
例ではＦＳＣＴ＝０２、ＳＣＴ＝０３、ＮＳＣＴ＝０４
の状態で、図８（ｂ）の例ではＦＳＣＴ＝０３、ＳＣＴ
＝０３、ＮＳＣＴ＝＊＊の状態で処理を終了する。そし
て、処理は図２のステップＳＡ５に戻り、繋ぎ情報チェ
ック処理における診断結果（上記処理の各時点でＲＡＭ
領域の特定領域に書き込まれた情報）に基づいたレスポ
ンスが外部機器へ返送される。

【００２８】ところで、コマンドのパラメータＰ１が０
２である場合、図４のステップＳＣ１４の修復処理を行
う。この修復処理は、前述した繋ぎ情報チェック処理の
後に、再度コマンドを発行することにより行われるもの
であり、前回のチェック処理終了時の各変数値はＲＡＭ
領域上に維持されている。以下、図７のフローチャート
を参照して修復処理について説明する。

【００２９】まず、ステップＳＦ１では、変数ＳＣＴＮ
に０を代入する。次に、前セクタ番号がＳＣＴ（現セク
タ番号）と一致するセクタを検索し、ヒットしたセクタ
の番号を変数ＳＣＴＮに代入する（ステップＳＦ２）。
ヒットしたセクタが１個であった場合には、ＳＣＴで表
されるセクタの後セクタ番号に変数ＳＣＴＮの値を再設
定する（ステップＳＦ３，ＳＦ４）。

【００３０】次に、ステップＳＦ５では、変数ＳＣＴＦ
に０を代入する。そして、後セクタ番号がＳＣＴ（現セ
クタ番号）と一致するセクタを検索し、ヒットしたセク
タの番号を変数ＳＣＴＦに代入する（ステップＳＦ
６）。ヒットしたセクタが１個であった場合には、ＳＣ
Ｔで表されるセクタの前セクタ番号に変数ＳＣＴＦの値
を設定する（ステップＳＦ７，ＳＦ８）。

【００３１】例えば、図８（ａ）、図８（ｂ）の例で
は、ＳＣＴ＝０３の状態で修復処理に入り、前セクタが
０３なるセクタが検索され、その結果セクタ番号が０４
のセクタのみが抽出される。セクタ番号０４はＳＣＴＮ
に代入され、セクタ番号が０３のセクタの後セクタ番号
として設定される。そして、後セクタが０３なるセクタ
が検索され、その結果セクタ番号が０２のセクタのみが
抽出される。セクタ番号０２はＳＣＴＦに代入され、セ
クタ番号が０３のセクタの前セクタ番号として設定され
る。上述した過程を経て繋ぎ情報を修復した後に、変数
ＳＣＴで表される現セクタのＳＵＭを再計算し（ステッ
プＳＦ９）、現セクタのＳＵＭとして再設定し（ステッ
プＳＦ１０）、最後にデータのベリファイ（照合）を行
う（ステップＳＦ１１）。

【００３２】ところで、各検索処理においてヒットした
セクタが複数存在する場合には、強制修復処理が指定さ
れているか否かを判断し（ステップＳＦ１２，ＳＦ１
３）、強制修復が指定されていれば、最後にヒットした
セクタの番号、すなわちＳＣＴＮの現在値を用いて、ス
テップＳＦ４、ＳＦ８以降の処理を行う。逆に強制修復
が指定されていなければ、いずれのセクタ番号に基づい
て修復すべきか判断できないため、修復に失敗した旨の
情報をＲＡＭ領域の特定領域に書き込むのみに止める
（ステップＳＦ１４）。そして、処理は図２のステップ
ＳＡ５に戻り、繋ぎ情報チェック処理の場合と同様に、
ＲＡＭ領域の特定領域に書き込まれた情報に基づいたレ
スポンスが外部機器へ返送される。

【００３３】以上説明したように、本発明の一実施形態
によれば、ＲＯＭ領域のチェック処理、ＥＥＰＲＯＭ領
域のチェック処理、ＥＥＰＲＯＭ領域の修復処理をコマ
ンド化し、任意の時点で実行できるようにしたため、リ
セット時に各種処理を実行していた従来のものに比較し
て、待ち時間を短縮することができる。また、データ書
き込み後にＥＥＰＲＯＭ領域に不良が発生しても、ＳＵ
Ｍを再設定することにより、その影響を後続のデータに
及ぼさずに済む。

【００３４】さらに、繋ぎ情報自体にエラーが発生して
も、前後の繋ぎ情報からこれを再生することができる。
また、強制修復と通常の修復とを選択できるようにした
ため、不用意な修復によるデータの破壊を確実に回避す
ることができるとともに、状況に応じた修復処理を行う
ことができる。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第１の不揮発性データ記憶手段の診断処理、第２の不揮
発性データ記憶手段の診断処理、および第２の不揮発性
データ記憶手段の修復処理を外部機器からの命令で選択
実行できるため、リセット時に必ず実行する場合に比較
して、所用時間を短縮できる（請求項１）。

【００３６】また、第２の不揮発性データ記憶手段にお
いては、セクタに診断用コードを含め、これを修復する
ようにしたため、後続するセクタに与える影響を抑制す
ることができる（請求項２）。さらに、繋ぎ情報を診断
することによって、第２の不揮発性データ記憶手段にお
けるメモリ不良を確実に検出することができる（請求項
３）。また、繋ぎ情報を修復することによって、後続す
るセクタに与える影響を抑制することができる（請求項
４）。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態によるＩＣカードの構成
を示す図である。

【図２】同ＩＣカードにおけるアクセス処理のフロー
チャートである。

【図３】同ＩＣカードに対する自己診断処理の一例を
示すフローチャートである。

【図４】同ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭ４に対する繋ぎ
情報のチェック処理を示すフローチャートである。

【図５】同ＥＥＰＲＯＭ４からのセクタ読み出し処理
を示すフローチャートである。

【図６】同ＥＥＰＲＯＭ４からの繋ぎ情報読み出し処
理を示すフローチャートである。

【図７】同ＥＥＰＲＯＭ４に対する修復処理を示すフ
ローチャートである。

【図８】同ＥＥＰＲＯＭ４のデータ構造を概念的に示
す図である。

【図９】同ＩＣカードが受信する修復コマンドの書式
の一例を示す図である。

【符号の説明】

１…ＣＰＵ、２…ＲＯＭ、３…ＲＡＭ、４…ＥＥＰＲＯ
Ｍ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】プログラムを格納した第１の不揮発性デ
ータ記憶手段と、データを記憶する第２の不揮発性データ記憶手段と、外部機器との間でデータを送受する通信手段と、前記第１の不揮発性データ記憶手段に格納されたプログ
ラムに基づいて、前記通信手段を介して受信した命令を
実行するとともに、命令の実行結果を前記通信手段を介
して外部へ送信する処理手段とを具備したＩＣカードで
あって、前記処理手段は、前記第１の不揮発性データ記憶手段に
格納されたプログラム中に記述された、前記第１の不揮
発性データ記憶手段に対する診断処理、前記第２の不揮
発性データ記憶手段に対する診断処理、および前記第２
の不揮発性データ記憶手段の修復処理のうち、前記通信
手段を介して受信した命令に対応した処理を選択実行す
ることを特徴としたＩＣカード。
【請求項２】前記第２の不揮発性データ記憶手段は複
数のセクタから構成され、かつ複数のセクタに連続して
データが記憶されてなる場合において、前記セクタは実データと該実データに対応した診断用デ
ータを含み、前記処理手段は、前記第２の不揮発性データ記憶手段の
修復処理の選択実行により、実データと診断用データと
の対応関係が異常とされたセクタの診断用データを再設
定することを特徴とする請求項１記載のＩＣカード。
【請求項３】前記セクタは実データと、セクタの順序
を表す繋ぎ情報と、実データおよび繋ぎ情報に対応した
診断用データとを含み、前記処理手段は、実データおよび繋ぎ情報と診断用デー
タとの対応関係が正常とされたセクタの繋ぎ情報の整合
性を診断するとともに、この診断結果を前記通信手段を
介して外部機器へ送信することを特徴とする請求項２記
載のＩＣカード。
【請求項４】前記セクタは実データと、セクタの順序
を表す繋ぎ情報と、実データおよび繋ぎ情報に対応した
診断用データとを含み、前記処理手段は、実データおよび繋ぎ情報と診断用デー
タとの対応関係が正常とされたセクタの繋ぎ情報の整合
性を診断するとともに、この診断結果において整合性が
とれていないとされたセクタの繋ぎ情報を修復し、該セ
クタの診断用データを再設定することを特徴とする請求
項２記載のＩＣカード。