JPH09318427A - 電子天びん - Google Patents
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- JPH09318427A JPH09318427A JP13532396A JP13532396A JPH09318427A JP H09318427 A JPH09318427 A JP H09318427A JP 13532396 A JP13532396 A JP 13532396A JP 13532396 A JP13532396 A JP 13532396A JP H09318427 A JPH09318427 A JP H09318427A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基準質量体とその加除機構を内蔵した電子天
びんにおいて、秤量皿上に風袋や試料等が載っていて
も、スパン校正指令の発生によって、これらを降ろすこ
となく自動的にスパン校正を行うことのできる電子天び
んを提供する。 【解決手段】 秤量皿加除機構８を設け、スパン校正指
令の発生時に、まず秤量皿８を荷重感応部４から切り離
し、その状態で基準質量体５を荷重感応部４に負荷し、
これら各状態における荷重感応部４の出力を用いてスパ
ン係数を算出する。
びんにおいて、秤量皿上に風袋や試料等が載っていて
も、スパン校正指令の発生によって、これらを降ろすこ
となく自動的にスパン校正を行うことのできる電子天び
んを提供する。 【解決手段】 秤量皿加除機構８を設け、スパン校正指
令の発生時に、まず秤量皿８を荷重感応部４から切り離
し、その状態で基準質量体５を荷重感応部４に負荷し、
これら各状態における荷重感応部４の出力を用いてスパ
ン係数を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子天びんに関し、
更に詳しくは、スパン校正用の基準質量体を内蔵した電
子天びんに関する。
更に詳しくは、スパン校正用の基準質量体を内蔵した電
子天びんに関する。
【０００２】
【従来の技術】電子天びんにおいては、一般に、秤量皿
に載せた試料の荷重が荷重感応部に伝達され、そのとき
の荷重感応部の出力Ｗと、あらかじめ記憶しているスパ
ン係数Ｋ、および秤量皿上に試料が載っていない状態、
つまり無負荷状態にあるときの荷重感応部の出力ＷT を
用いて、秤量皿上の試料の質量Ｍを、例えば、 Ｍ＝Ｋ（Ｗ−ＷT ） ・・（１） によって算出し、表示器に表示する。
に載せた試料の荷重が荷重感応部に伝達され、そのとき
の荷重感応部の出力Ｗと、あらかじめ記憶しているスパ
ン係数Ｋ、および秤量皿上に試料が載っていない状態、
つまり無負荷状態にあるときの荷重感応部の出力ＷT を
用いて、秤量皿上の試料の質量Ｍを、例えば、 Ｍ＝Ｋ（Ｗ−ＷT ） ・・（１） によって算出し、表示器に表示する。
【０００３】スパン係数Ｋは、スパン校正用の基準質
量、例えば基準となる分銅等を荷重感応部に負荷した状
態における荷重感応部の出力Ｗと、その分銅等の既知質
量値Ａとから、同じく無負荷状態にあるときの荷重感応
部の出力をＷT としたとき、例えば Ｋ＝Ａ／（Ｗ−ＷT ） ・・（２） によって算出され、記憶される。
量、例えば基準となる分銅等を荷重感応部に負荷した状
態における荷重感応部の出力Ｗと、その分銅等の既知質
量値Ａとから、同じく無負荷状態にあるときの荷重感応
部の出力をＷT としたとき、例えば Ｋ＝Ａ／（Ｗ−ＷT ） ・・（２） によって算出され、記憶される。
【０００４】ところで、スパン校正用の基準質量体、例
えば分銅や適当な錘、を内蔵するとともに、その質量体
を荷重感応部に対して負荷／負荷解除する加除機構を備
えた電子天びんにおいては、内蔵する基準質量体の質量
値を記憶しているとともに、スパン校正指令の発生時に
その基準質量体を自動的に荷重感応部に負荷し、そのと
きの荷重感応部の出力と、記憶している基準質量体の質
量値を用いて、（２）式に準じてスパン係数Ｋを算出
し、その算出結果によってそれまで用いていたスパン係
数を更新する。
えば分銅や適当な錘、を内蔵するとともに、その質量体
を荷重感応部に対して負荷／負荷解除する加除機構を備
えた電子天びんにおいては、内蔵する基準質量体の質量
値を記憶しているとともに、スパン校正指令の発生時に
その基準質量体を自動的に荷重感応部に負荷し、そのと
きの荷重感応部の出力と、記憶している基準質量体の質
量値を用いて、（２）式に準じてスパン係数Ｋを算出
し、その算出結果によってそれまで用いていたスパン係
数を更新する。
【０００５】ここで、スパン校正指令は、例えば付設の
スイッチを操作することによって発生するように構成さ
れたもののほか、所定の温度変化があったとき、あるい
は所定の時刻に達したとき、もしくは所定の時間が経過
するなど、あらかじめ設定されたスパン校正開始条件が
満たされた時点で自動的に発生するように構成されたも
のもある。
スイッチを操作することによって発生するように構成さ
れたもののほか、所定の温度変化があったとき、あるい
は所定の時刻に達したとき、もしくは所定の時間が経過
するなど、あらかじめ設定されたスパン校正開始条件が
満たされた時点で自動的に発生するように構成されたも
のもある。
【０００６】また、以上のようなスパン校正動作は、秤
量皿上に試料や風袋等が載っていない、いわゆる無負荷
状態において行われる。
量皿上に試料や風袋等が載っていない、いわゆる無負荷
状態において行われる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、基準質量体
とその加除機構を内蔵した電子天びんにおいては、ある
条件が満たされたときに自動的に、あるいはスイッチ操
作することによって後は自動的にスパン校正動作が実行
されるために、良好な操作性のもとに正確な計量値を得
ることができるが、以下に示すような使い方にあって
は、スパン校正動作の完全自動化は不可能である。
とその加除機構を内蔵した電子天びんにおいては、ある
条件が満たされたときに自動的に、あるいはスイッチ操
作することによって後は自動的にスパン校正動作が実行
されるために、良好な操作性のもとに正確な計量値を得
ることができるが、以下に示すような使い方にあって
は、スパン校正動作の完全自動化は不可能である。
【０００８】すなわち、例えば常に風袋を秤量皿上に載
せた状態で使用される電子天びんや、あるいは試料の質
量変化を測定すべく、秤量皿上に試料を長時間にわたっ
て載せたまま刻々のデータを採取するような使い方にあ
っては、スパン校正時において秤量皿を無負荷状態とす
る必要があるが故に、秤量皿上から風袋や試料を降ろす
という行為が必要となる。
せた状態で使用される電子天びんや、あるいは試料の質
量変化を測定すべく、秤量皿上に試料を長時間にわたっ
て載せたまま刻々のデータを採取するような使い方にあ
っては、スパン校正時において秤量皿を無負荷状態とす
る必要があるが故に、秤量皿上から風袋や試料を降ろす
という行為が必要となる。
【０００９】本発明の目的は、基準質量体とその加除機
構を内蔵した電子天びんにおいて、秤量皿上に風袋や試
料等が載っていても、スパン校正指令の発生によって自
動的にスパン校正を行うことのできる電子天びんを提供
することにある。
構を内蔵した電子天びんにおいて、秤量皿上に風袋や試
料等が載っていても、スパン校正指令の発生によって自
動的にスパン校正を行うことのできる電子天びんを提供
することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの構成を、実施の形態を表す図１，図２を参照しつつ
説明すると、本発明の電子天びんは、スパン校正用の質
量既知の基準質量体５を内蔵するとともに、その基準質
量体５を荷重感応部４に対して加除する基準質量体加除
機構７と、基準質量体５を負荷したときの荷重感応部４
の出力と当該基準質量体５の質量値を用いてスパン係数
を求める演算手段１１を備えた電子天びんにおいて、被
測定試料を載置するための秤量皿１を荷重感応部４に対
して加除する秤量皿加除機構８と、この秤量皿加除機構
８および基準質量体加除機構７を駆動制御する制御手段
１４を備え、この制御手段１４は、スパン校正指令の発
生時に荷重感応部４から秤量皿１を切り離した後、その
状態で荷重感応部４に基準質量体５を負荷する。そし
て、演算手段１１は、基準質量体５の負荷状態における
荷重感応部の出力と、秤量皿を切り離した状態での荷重
感応部の出力を用いて、スパン係数を算出する。
めの構成を、実施の形態を表す図１，図２を参照しつつ
説明すると、本発明の電子天びんは、スパン校正用の質
量既知の基準質量体５を内蔵するとともに、その基準質
量体５を荷重感応部４に対して加除する基準質量体加除
機構７と、基準質量体５を負荷したときの荷重感応部４
の出力と当該基準質量体５の質量値を用いてスパン係数
を求める演算手段１１を備えた電子天びんにおいて、被
測定試料を載置するための秤量皿１を荷重感応部４に対
して加除する秤量皿加除機構８と、この秤量皿加除機構
８および基準質量体加除機構７を駆動制御する制御手段
１４を備え、この制御手段１４は、スパン校正指令の発
生時に荷重感応部４から秤量皿１を切り離した後、その
状態で荷重感応部４に基準質量体５を負荷する。そし
て、演算手段１１は、基準質量体５の負荷状態における
荷重感応部の出力と、秤量皿を切り離した状態での荷重
感応部の出力を用いて、スパン係数を算出する。
【００１１】以上の本発明の構成によれば、スパン校正
指令の発生時に秤量皿１が荷重感応部４から切り離され
るため、秤量皿１上に風袋や試料などの任意荷重が負荷
されていても、その荷重が荷重感応部４に伝達されてい
ない状態でスパン校正動作が実行され、従って秤量皿１
から試料等を降ろすことなくスパン校正を実行すること
ができる。
指令の発生時に秤量皿１が荷重感応部４から切り離され
るため、秤量皿１上に風袋や試料などの任意荷重が負荷
されていても、その荷重が荷重感応部４に伝達されてい
ない状態でスパン校正動作が実行され、従って秤量皿１
から試料等を降ろすことなくスパン校正を実行すること
ができる。
【００１２】ここで、スパン係数は、天びんのリニアリ
ティが正しく調整されている限り、荷重感応部に対して
既知質量を負荷したときに、その負荷前後における荷重
感応部の出力の増加量と既知質量とから算出することが
できる。
ティが正しく調整されている限り、荷重感応部に対して
既知質量を負荷したときに、その負荷前後における荷重
感応部の出力の増加量と既知質量とから算出することが
できる。
【００１３】従来の電子天びんにおいて、秤量皿を無負
荷状態としてスパン校正を行う主たる理由は、秤量皿上
の荷重と基準質量体とを同時に荷重感応部に対して負荷
したときに、その合計質量が電子天びんの秤量を越え、
荷重感応部の出力がオーバースケール状態となってしま
う可能性があるためである。本発明の構成によれば、ス
パン校正指令の発生により、基準質量体を荷重感応部に
負荷する前に、秤量皿が荷重感応部から切り離されるた
め、上記のような可能性は全くなくなる。
荷状態としてスパン校正を行う主たる理由は、秤量皿上
の荷重と基準質量体とを同時に荷重感応部に対して負荷
したときに、その合計質量が電子天びんの秤量を越え、
荷重感応部の出力がオーバースケール状態となってしま
う可能性があるためである。本発明の構成によれば、ス
パン校正指令の発生により、基準質量体を荷重感応部に
負荷する前に、秤量皿が荷重感応部から切り離されるた
め、上記のような可能性は全くなくなる。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施の形態の構成
図で、要部のメカニズムを示す模式図と、電気的構成を
併記して示す図である。
図で、要部のメカニズムを示す模式図と、電気的構成を
併記して示す図である。
【００１５】秤量皿１は、皿受け２および皿受け軸３を
介して荷重感応部４に支承されている。荷重感応部４
は、例えば電磁力発生装置と皿受け軸３の変位を検出す
るための変位センサ等によって構成された公知のもの
で、皿受け軸３の変位が常に０となるような電磁力を発
生して、その電磁力を発生するのに要した電流が精密抵
抗等によって電圧信号に変換され、その変換信号が荷重
検出出力となる。
介して荷重感応部４に支承されている。荷重感応部４
は、例えば電磁力発生装置と皿受け軸３の変位を検出す
るための変位センサ等によって構成された公知のもの
で、皿受け軸３の変位が常に０となるような電磁力を発
生して、その電磁力を発生するのに要した電流が精密抵
抗等によって電圧信号に変換され、その変換信号が荷重
検出出力となる。
【００１６】基準質量体５はこの例においてリング状を
しており、皿受け軸３には、その基準質量体５を支承す
るための受け部６が形成されている。基準質量体加除機
構７は、例えば偏心カムと、その偏心カムを回動させる
ためのモータ、および偏心カムによって揺動されるレバ
ー（いずれも図示せず）等によって構成された公知の機
構であり、そのレバーの先端には基準質量体５を支承し
て上下動させるための支持部材７１が設けられている。
通常の測定状態においては、基準質量体５は、図１に示
すように基準質量体加除機構７の支持部材７１によって
支持された状態となり、荷重感応部４に対して負荷され
ない状態となっている。
しており、皿受け軸３には、その基準質量体５を支承す
るための受け部６が形成されている。基準質量体加除機
構７は、例えば偏心カムと、その偏心カムを回動させる
ためのモータ、および偏心カムによって揺動されるレバ
ー（いずれも図示せず）等によって構成された公知の機
構であり、そのレバーの先端には基準質量体５を支承し
て上下動させるための支持部材７１が設けられている。
通常の測定状態においては、基準質量体５は、図１に示
すように基準質量体加除機構７の支持部材７１によって
支持された状態となり、荷重感応部４に対して負荷され
ない状態となっている。
【００１７】秤量皿１は秤量皿加除機構８によって上下
動される。秤量皿加除機構８は、基準質量体加除機構７
と同等の機構、つまり、偏心カム、モータおよびレバー
（いずれも図示せず）等によって構成することができ、
そのレバーの先端には、皿受け２に穿たれた複数（３個
以上）の貫通孔２１をそれぞれ下から貫通して秤量皿１
の裏面側に臨む複数本の棒状の皿持ち上げ部材８１が設
けられている。通常の測定状態においては、秤量皿１は
図１に示すように皿受け２に支持された状態となり、皿
持ち上げ部材８１は秤量皿１並びに皿受け２等には一切
接触しない状態となっている。
動される。秤量皿加除機構８は、基準質量体加除機構７
と同等の機構、つまり、偏心カム、モータおよびレバー
（いずれも図示せず）等によって構成することができ、
そのレバーの先端には、皿受け２に穿たれた複数（３個
以上）の貫通孔２１をそれぞれ下から貫通して秤量皿１
の裏面側に臨む複数本の棒状の皿持ち上げ部材８１が設
けられている。通常の測定状態においては、秤量皿１は
図１に示すように皿受け２に支持された状態となり、皿
持ち上げ部材８１は秤量皿１並びに皿受け２等には一切
接触しない状態となっている。
【００１８】この秤量皿加除機構８および上記した基準
質量体加除機構７は、スパン校正指令の発生時に制御部
１４から供給される信号によって、後述する手順のもと
に駆動制御される。
質量体加除機構７は、スパン校正指令の発生時に制御部
１４から供給される信号によって、後述する手順のもと
に駆動制御される。
【００１９】前記した荷重感応部４からの荷重検出出力
は演算部１１に取り込まれ、通常の測定状態において演
算部１１では、その荷重検出出力を記憶部１２に記憶さ
れたスパン係数を用いて質量値に換算して表示器１３に
表示する。
は演算部１１に取り込まれ、通常の測定状態において演
算部１１では、その荷重検出出力を記憶部１２に記憶さ
れたスパン係数を用いて質量値に換算して表示器１３に
表示する。
【００２０】記憶部１２は、スパン係数のほか、あらか
じめ精密に測定された基準質量体５の質量値を記憶して
いるとともに、後述するスパン校正動作時におけるゼロ
荷重出力等を記憶するエリアを備えている。
じめ精密に測定された基準質量体５の質量値を記憶して
いるとともに、後述するスパン校正動作時におけるゼロ
荷重出力等を記憶するエリアを備えている。
【００２１】上記した制御部１４、演算部１１、並びに
記憶部１２は、実際にはＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭを主体
とするコンピュータとその周辺機器によって構成され
る。従って記憶部１２は、実際にはＲＯＭおよびＲＡ
Ｍ、あるいはこれに加えて外部記憶装置等によって構成
され、この記憶部１２に記憶すべき内容は、これらの記
憶装置のうち、記憶すべき個々の内容に適した機器が割
当てられてそこに記憶される。また、スパン校正指令
は、天びんに付設されたスイッチ操作等によって人為的
に発生するほか、ＲＯＭに書き込まれたプログラムに従
い、一定の温度変化や一定の時間経過、あるいは所定の
時刻に達した時点において、制御部１４から自発的に発
生する場合もある。
記憶部１２は、実際にはＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭを主体
とするコンピュータとその周辺機器によって構成され
る。従って記憶部１２は、実際にはＲＯＭおよびＲＡ
Ｍ、あるいはこれに加えて外部記憶装置等によって構成
され、この記憶部１２に記憶すべき内容は、これらの記
憶装置のうち、記憶すべき個々の内容に適した機器が割
当てられてそこに記憶される。また、スパン校正指令
は、天びんに付設されたスイッチ操作等によって人為的
に発生するほか、ＲＯＭに書き込まれたプログラムに従
い、一定の温度変化や一定の時間経過、あるいは所定の
時刻に達した時点において、制御部１４から自発的に発
生する場合もある。
【００２２】次に、以上の実施の形態のスパン校正時に
おける動作について述べる。図２はその動作の説明図で
ある。スパン校正指令が発生すると、まず、秤量皿加除
機構８の皿持ち上げ部材８１が上方に移動し、図２
（Ａ）に示すように秤量皿１が持ち上げられて皿受け２
に対する接触が絶たれる。この状態での荷重感応部４か
らの荷重検出出力が、ゼロ荷重出力Ｗ0 として記憶部１
２に記憶される。
おける動作について述べる。図２はその動作の説明図で
ある。スパン校正指令が発生すると、まず、秤量皿加除
機構８の皿持ち上げ部材８１が上方に移動し、図２
（Ａ）に示すように秤量皿１が持ち上げられて皿受け２
に対する接触が絶たれる。この状態での荷重感応部４か
らの荷重検出出力が、ゼロ荷重出力Ｗ0 として記憶部１
２に記憶される。
【００２３】次に、基準質量体加除機構７の支持部材７
１が下方に移動し、図２（Ｂ）に示すように基準質量体
５が皿受け軸３の受け部６上に載った状態となる。演算
部１１は、この状態での荷重感応部４からの荷重検出出
力ＷF と、先に記憶しているゼロ荷重出力Ｗ0 を用い
て、以下の式（３）によってスパン係数Ｋを算出する。
１が下方に移動し、図２（Ｂ）に示すように基準質量体
５が皿受け軸３の受け部６上に載った状態となる。演算
部１１は、この状態での荷重感応部４からの荷重検出出
力ＷF と、先に記憶しているゼロ荷重出力Ｗ0 を用い
て、以下の式（３）によってスパン係数Ｋを算出する。
【００２４】すなわち、基準質量体５の質量値をＡとす
ると、 Ｋ＝Ａ／（ＷF −Ｗ0 ） ・・（３） このようにして算出されたスパン係数Ｋは、記憶部１２
に記憶される。
ると、 Ｋ＝Ａ／（ＷF −Ｗ0 ） ・・（３） このようにして算出されたスパン係数Ｋは、記憶部１２
に記憶される。
【００２５】以上のスパン校正動作が終了した後、制御
部１４からの指令により、上記の動作と逆に、まず基準
質量体加除機構７の支持部材７１が上方に移動して基準
質量体５が持ち上げられ、次いで秤量皿加除機構８の皿
持ち上げ部材８１が下方に移動して秤量皿１が皿受け２
上に載った状態、つまり図１に示す状態に戻される。
部１４からの指令により、上記の動作と逆に、まず基準
質量体加除機構７の支持部材７１が上方に移動して基準
質量体５が持ち上げられ、次いで秤量皿加除機構８の皿
持ち上げ部材８１が下方に移動して秤量皿１が皿受け２
上に載った状態、つまり図１に示す状態に戻される。
【００２６】そして、以後、試料Ｓが秤量皿１に載せら
れた状態での荷重感応部４の出力をＷS としたとき、そ
の試料Ｓの質量Ｍは、秤量皿上に試料が載っていない状
態での荷重感応部の出力をＷT （ゼロアジャスト時に記
憶される）としたとき、その試料Ｓの質量Ｍは、 Ｍ＝Ｋ（ＷS −ＷT ） ・・（４） によって算出され、表示器１３に表示される。
れた状態での荷重感応部４の出力をＷS としたとき、そ
の試料Ｓの質量Ｍは、秤量皿上に試料が載っていない状
態での荷重感応部の出力をＷT （ゼロアジャスト時に記
憶される）としたとき、その試料Ｓの質量Ｍは、 Ｍ＝Ｋ（ＷS −ＷT ） ・・（４） によって算出され、表示器１３に表示される。
【００２７】以上の本発明の実施の形態によると、秤量
皿１上に試料Ｓが載っている状態でも、スパン校正指令
の発生によってその試料Ｓは秤量皿１とともに荷重感応
部４から切り離されるため、スパン校正時に試料Ｓを秤
量皿１から試料Ｓを降ろすことなく、正確なスパン校正
を行うことができる。
皿１上に試料Ｓが載っている状態でも、スパン校正指令
の発生によってその試料Ｓは秤量皿１とともに荷重感応
部４から切り離されるため、スパン校正時に試料Ｓを秤
量皿１から試料Ｓを降ろすことなく、正確なスパン校正
を行うことができる。
【００２８】ここで、ある種の天びんにおいては、秤量
皿１を皿受け２から切り離した状態では、荷重感応部４
により発生する電磁力が天びん機構をバランスさせ得な
い構成のものがある（例えば秤量皿１のみの負荷状態を
ゼロ荷重としたとき、マイナス側にバランスコントロー
ルできない構成の天びん等がこれに相当する）。このよ
うな天びんに対して本発明を適用する場合には、図３に
その要部のメカニズムを例示するような構成を採用すれ
ばよい。
皿１を皿受け２から切り離した状態では、荷重感応部４
により発生する電磁力が天びん機構をバランスさせ得な
い構成のものがある（例えば秤量皿１のみの負荷状態を
ゼロ荷重としたとき、マイナス側にバランスコントロー
ルできない構成の天びん等がこれに相当する）。このよ
うな天びんに対して本発明を適用する場合には、図３に
その要部のメカニズムを例示するような構成を採用すれ
ばよい。
【００２９】すなわち、図３の例においては、上記した
実施の形態の構成に加えて、皿相当錘３０と、その錘３
０を荷重感応部４に対して加除する加除機構３１を設
け、スパン校正指令の発生時に秤量皿１を切り離したと
きに、この皿相当錘３０を荷重感応部４に負荷すればよ
い。この皿相当錘３０の質量は、秤量皿１の質量と略同
等とされる。ただし、これらは厳密に等しい必要はな
く、要は荷重感応部４に対する負荷が、この荷重感応部
４が天びん機構をバランスさせ得る範囲内となれば足
り、従って皿相当錘３０の質量は、例えば秤量皿１の質
量よりも僅かに重くすることが望ましい。そして、秤量
皿１を切り離して皿相当錘３０を負荷した状態での荷重
感応部４の出力をゼロ荷重出力として記憶し、その状態
から基準質量体５を負荷した後の出力を用いて、前記
（３）式に準じてスパン係数を算出すれば、先の実施の
形態と同等の作用効果を奏することができる。
実施の形態の構成に加えて、皿相当錘３０と、その錘３
０を荷重感応部４に対して加除する加除機構３１を設
け、スパン校正指令の発生時に秤量皿１を切り離したと
きに、この皿相当錘３０を荷重感応部４に負荷すればよ
い。この皿相当錘３０の質量は、秤量皿１の質量と略同
等とされる。ただし、これらは厳密に等しい必要はな
く、要は荷重感応部４に対する負荷が、この荷重感応部
４が天びん機構をバランスさせ得る範囲内となれば足
り、従って皿相当錘３０の質量は、例えば秤量皿１の質
量よりも僅かに重くすることが望ましい。そして、秤量
皿１を切り離して皿相当錘３０を負荷した状態での荷重
感応部４の出力をゼロ荷重出力として記憶し、その状態
から基準質量体５を負荷した後の出力を用いて、前記
（３）式に準じてスパン係数を算出すれば、先の実施の
形態と同等の作用効果を奏することができる。
【００３０】なお、以上の実施の形態におけるスパン係
数Ｋの算出式、並びに試料Ｓの質量の算出式について
は、特に前記した式（３），（４）に限定されず、他の
公知の式を用い得ることは勿論である。
数Ｋの算出式、並びに試料Ｓの質量の算出式について
は、特に前記した式（３），（４）に限定されず、他の
公知の式を用い得ることは勿論である。
【００３１】また、基準質量体加除機構７および秤量皿
加除機構８の具体的なメカニズムについては、上記した
ものに限定されることなく、皿相当錘加除機構３１とと
もに、これらの機能を全うし得る他の任意のメカニズム
を採用し得ることは言うまでもない。
加除機構８の具体的なメカニズムについては、上記した
ものに限定されることなく、皿相当錘加除機構３１とと
もに、これらの機能を全うし得る他の任意のメカニズム
を採用し得ることは言うまでもない。
【００３２】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、秤量皿
上に試料や風袋等が載っていても、スパン校正指令の発
生時に秤量皿とともに荷重感応部から切り離されてその
荷重が伝達されない状態とされ、その状態で基準質量体
が荷重感応部に負荷されてスパン係数が算出されるか
ら、特に、例えば風袋を常に秤量皿上に載せた状態で使
用される電子天びんや、質量変化測定のために長時間に
わたって試料を秤量皿上に載せた状態で使用される電子
天びんにおいても、スパン校正時に風袋ないしは試料を
秤量皿から降ろすという手間を省くことができ、また、
このような使用状態にある電子天びんで、かつ、一定時
間の経過や一定の温度変化等によって自動的にスパン校
正指令を発生する機能を持つものにあっては、スパン校
正を実質的に完全自動化することが可能となる。
上に試料や風袋等が載っていても、スパン校正指令の発
生時に秤量皿とともに荷重感応部から切り離されてその
荷重が伝達されない状態とされ、その状態で基準質量体
が荷重感応部に負荷されてスパン係数が算出されるか
ら、特に、例えば風袋を常に秤量皿上に載せた状態で使
用される電子天びんや、質量変化測定のために長時間に
わたって試料を秤量皿上に載せた状態で使用される電子
天びんにおいても、スパン校正時に風袋ないしは試料を
秤量皿から降ろすという手間を省くことができ、また、
このような使用状態にある電子天びんで、かつ、一定時
間の経過や一定の温度変化等によって自動的にスパン校
正指令を発生する機能を持つものにあっては、スパン校
正を実質的に完全自動化することが可能となる。
【図１】本発明の実施の形態の構成図で、要部のメカニ
ズムを示す模式図と、電気的構成を併記して示す図
ズムを示す模式図と、電気的構成を併記して示す図
【図２】そのスパン校正時における動作説明図
【図３】本発明の他の実施の形態の要部のメカニズムを
示す模式図
示す模式図
１ 秤量皿 ２ 皿受け ２１ 貫通孔 ３ 皿受け軸 ４ 荷重感応部 ５ 基準質量体 ６ 受け部 ７ 基準質量体加除機構 ７１ 支持部材 ８ 秤量皿加除機構 ８１ 皿持ち上げ部材 １１ 演算部 １２ 記憶部 １４ 制御部
Claims (1)
- 【請求項１】 スパン校正用の質量既知の基準質量体を
内蔵するとともに、その基準質量体を荷重感応部に対し
て加除する基準質量体加除機構と、上記基準質量体を負
荷したときの荷重感応部の出力と当該基準質量体の質量
値を用いてスパン係数を求める演算手段を備えた電子天
びんにおいて、被測定試料を載置するための秤量皿を上
記荷重感応部に対して加除する秤量皿加除機構と、この
秤量皿加除機構および上記基準質量体加除機構を駆動制
御する制御手段を備え、この制御手段は、スパン校正指
令の発生時に荷重感応部から秤量皿を切り離した後、そ
の状態で荷重感応部に基準質量体を負荷するとともに、
上記演算手段は、その基準質量体負荷状態における荷重
感応部の出力と、秤量皿を切り離した状態での荷重感応
部の出力を用いて、スパン係数を算出することを特徴と
する電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13532396A JPH09318427A (ja) | 1996-05-29 | 1996-05-29 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13532396A JPH09318427A (ja) | 1996-05-29 | 1996-05-29 | 電子天びん |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09318427A true JPH09318427A (ja) | 1997-12-12 |
Family
ID=15149079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13532396A Pending JPH09318427A (ja) | 1996-05-29 | 1996-05-29 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09318427A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1098177A3 (en) * | 1999-11-05 | 2002-01-16 | Secretary of Agency of Industrial Science and Technology | Automatic submultiple and multiple test weight calibration apparatus |
| CN108072442A (zh) * | 2017-11-17 | 2018-05-25 | 长沙开元仪器股份有限公司 | 可自动校准的电子天平 |
-
1996
- 1996-05-29 JP JP13532396A patent/JPH09318427A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1098177A3 (en) * | 1999-11-05 | 2002-01-16 | Secretary of Agency of Industrial Science and Technology | Automatic submultiple and multiple test weight calibration apparatus |
| CN108072442A (zh) * | 2017-11-17 | 2018-05-25 | 长沙开元仪器股份有限公司 | 可自动校准的电子天平 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20040420 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20040817 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |