JPS6013224A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
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- JPS6013224A JPS6013224A JP12215483A JP12215483A JPS6013224A JP S6013224 A JPS6013224 A JP S6013224A JP 12215483 A JP12215483 A JP 12215483A JP 12215483 A JP12215483 A JP 12215483A JP S6013224 A JPS6013224 A JP S6013224A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/18—Indicating devices, e.g. for remote indication; Recording devices; Scales, e.g. graduated
- G01G23/36—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells
- G01G23/37—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting
- G01G23/3707—Indicating the weight by electrical means, e.g. using photoelectric cells involving digital counting using a microprocessor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G23/00—Auxiliary devices for weighing apparatus
- G01G23/01—Testing or calibrating of weighing apparatus
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は電子天びんに関し、更に詳しくは、スパン較正
用の分銅を内蔵した電子天びんに関する・（ロ）従来技
術 高精度の電子天びんにおいては、使用する部品の温度依
存性等の特性から、その精度を維持するには随時較正が
必要であり、その為、質量が既知の分銅を内蔵して、そ
の分銅を荷重検出部に負荷したときの出力とその既知の
質量とから、荷重検出部出力を質量に換算する為の係数
（スパン係数）を更新する、いわゆるスパン較正機能を
備えたものが一般的となっている。
用の分銅を内蔵した電子天びんに関する・（ロ）従来技
術 高精度の電子天びんにおいては、使用する部品の温度依
存性等の特性から、その精度を維持するには随時較正が
必要であり、その為、質量が既知の分銅を内蔵して、そ
の分銅を荷重検出部に負荷したときの出力とその既知の
質量とから、荷重検出部出力を質量に換算する為の係数
（スパン係数）を更新する、いわゆるスパン較正機能を
備えたものが一般的となっている。
従来のこの種電子天びんでは、上述の内蔵分銅を、公称
質量に合致するよう厳密に質量調整するか、あるいは、
特開昭５７−１１３３２５にて既に提案されているよう
に、内蔵分銅の質量が公称質量に対して多少の誤差があ
っても良いように、内蔵分銅質量の公称質量に対する誤
差をあらかじめ計測して（器差付け）、その値を電子天
びんに記憶させておくかの方法を採っていた。前者の方
法では、内蔵分銅の製作に生産性を損い、電子天びんの
コストアンプの大きな要因となっていた。また、後者の
方法では、内蔵分銅製作は容易で番よある力（、あらか
じめ別の天びんによって内蔵分銅の誤差を計測しておく
必要があって、手間がかかるとともに器差付けされた内
蔵分銅の管理は困難で、結局この方法によっても実質的
にば電子天びんのコストアップを解消するまでには至っ
ていない。
質量に合致するよう厳密に質量調整するか、あるいは、
特開昭５７−１１３３２５にて既に提案されているよう
に、内蔵分銅の質量が公称質量に対して多少の誤差があ
っても良いように、内蔵分銅質量の公称質量に対する誤
差をあらかじめ計測して（器差付け）、その値を電子天
びんに記憶させておくかの方法を採っていた。前者の方
法では、内蔵分銅の製作に生産性を損い、電子天びんの
コストアンプの大きな要因となっていた。また、後者の
方法では、内蔵分銅製作は容易で番よある力（、あらか
じめ別の天びんによって内蔵分銅の誤差を計測しておく
必要があって、手間がかかるとともに器差付けされた内
蔵分銅の管理は困難で、結局この方法によっても実質的
にば電子天びんのコストアップを解消するまでには至っ
ていない。
（ハ）目的
本発明は上記に鑑みてなされたもので、内蔵分銅に高精
度の分銅を用いず、比較的低コストの粗分鋼を用いると
ともに、その質量をあらかじめ別の天びんで計測せずと
も、すなわち器差付けをせずとも、高い較正精度を得る
ことのできる電子天びんの提供を目的としている。
度の分銅を用いず、比較的低コストの粗分鋼を用いると
ともに、その質量をあらかじめ別の天びんで計測せずと
も、すなわち器差付けをせずとも、高い較正精度を得る
ことのできる電子天びんの提供を目的としている。
（ニ）構成
本発明の構成を第１図に示す・機能ブロック図に基づい
て説明する。
て説明する。
荷重検出部１は、外部荷重又は内蔵分銅２が負荷された
とき、その荷重に対応する電気信号を出力して演算処理
手段３に供給する。内蔵分銅２の質量は、公称質量に対
して任意の誤差を有し、か□ つ、その誤差はあらかじめ計測しておく必要はない。演
算処理手段３は、荷重検出部１からの出力信号を、メモ
リ４に記憶されたＡ、Ｂ、Ｃの３つの演算モードのうち
、モード選択手段５によって選択された演算モードに従
って演算処理する。モードＡは、外部荷重として所定の
公称質量の外部基準分銅を負荷したときと、内蔵分銅２
を負荷したときの荷重検出部１出力から、内蔵分銅２の
公称質量に対する差を算出して記憶するモードである。
とき、その荷重に対応する電気信号を出力して演算処理
手段３に供給する。内蔵分銅２の質量は、公称質量に対
して任意の誤差を有し、か□ つ、その誤差はあらかじめ計測しておく必要はない。演
算処理手段３は、荷重検出部１からの出力信号を、メモ
リ４に記憶されたＡ、Ｂ、Ｃの３つの演算モードのうち
、モード選択手段５によって選択された演算モードに従
って演算処理する。モードＡは、外部荷重として所定の
公称質量の外部基準分銅を負荷したときと、内蔵分銅２
を負荷したときの荷重検出部１出力から、内蔵分銅２の
公称質量に対する差を算出して記憶するモードである。
モードＢは、荷重検出部１へ外部荷重を負荷したとき、
荷重検出部１の出力を、記憶しているスパン係数を用い
て質量に換算し、計量値として表示させるモードである
。またモードＣは、内蔵分銅２を荷重検出部１に負荷し
たときの出力信号と、公称質量およびモードＡでめた差
を用いてスパン係数を算出し、モードＢにおいて用いる
スパン係数を更新するモードである。
荷重検出部１の出力を、記憶しているスパン係数を用い
て質量に換算し、計量値として表示させるモードである
。またモードＣは、内蔵分銅２を荷重検出部１に負荷し
たときの出力信号と、公称質量およびモードＡでめた差
を用いてスパン係数を算出し、モードＢにおいて用いる
スパン係数を更新するモードである。
（ホ）実施例
以下、本発明実施例を図面に基づいて説明する。
第２図は本発明実施例の構成図である。
荷重検出部１１は、秤皿１１ａ上への外部荷重又は、カ
ム１２ａおよびレバー１２ｂ等からなる分銅加除機構１
２により内蔵分銅１３が負荷されたとき、その荷重に対
応する電気信号を発生してＡ−Ｄ変換器１４を介して制
御部１５に供給する。
ム１２ａおよびレバー１２ｂ等からなる分銅加除機構１
２により内蔵分銅１３が負荷されたとき、その荷重に対
応する電気信号を発生してＡ−Ｄ変換器１４を介して制
御部１５に供給する。
制御部１５はマイクロコンピュータによって構成され、
各種演算やプログラムの実行および各周辺装置を制御す
るＣＰＵ１５ａ、後述するプログラムや各種演算結果等
を格納するエリアを備えたメモリ１５ｂ、および外部の
周辺機器と当該制御部１５を接続する為のインターフェ
イス回路１５Ｃ等から構成されている。制御部１５には
、テンキーや後述する３つのモードを選択する為の選択
キー等を備えた操作キ一群１６、および制御部１５の指
令に基づいて計量値を表示する表示器１７が接続されて
いる。
各種演算やプログラムの実行および各周辺装置を制御す
るＣＰＵ１５ａ、後述するプログラムや各種演算結果等
を格納するエリアを備えたメモリ１５ｂ、および外部の
周辺機器と当該制御部１５を接続する為のインターフェ
イス回路１５Ｃ等から構成されている。制御部１５には
、テンキーや後述する３つのモードを選択する為の選択
キー等を備えた操作キ一群１６、および制御部１５の指
令に基づいて計量値を表示する表示器１７が接続されて
いる。
次に作用を述べる。第３図は本発明実施例のメモリ１５
ｂに書き込まれたデータ処理用プログラムの全体を示す
フローチャートである。プログラムハ、Ａ、Ｂ、Ｃの３
つのモード実行ルーチンによって構成され、操作キ一群
１６の操作によって選択されたモードに対応するルーチ
ンが実行される。すなわち、モードＡを選択すると、ス
パン係数にと内蔵分銅１３の器差を算出する器差算出ル
ーチンが、モードＢを選択すると、記憶されているスパ
ン係数Ｋを用いて秤皿１１ａ上の質量をめて計量値を表
示する測定ルーチンが、またモードＣを選択すると、内
蔵分銅１３を負荷して新たにスパン係数に′をめ、それ
まで記憶されているスパン係数Ｋをその値に更新するス
パン較正ルーチンがそれぞれ実行される。
ｂに書き込まれたデータ処理用プログラムの全体を示す
フローチャートである。プログラムハ、Ａ、Ｂ、Ｃの３
つのモード実行ルーチンによって構成され、操作キ一群
１６の操作によって選択されたモードに対応するルーチ
ンが実行される。すなわち、モードＡを選択すると、ス
パン係数にと内蔵分銅１３の器差を算出する器差算出ル
ーチンが、モードＢを選択すると、記憶されているスパ
ン係数Ｋを用いて秤皿１１ａ上の質量をめて計量値を表
示する測定ルーチンが、またモードＣを選択すると、内
蔵分銅１３を負荷して新たにスパン係数に′をめ、それ
まで記憶されているスパン係数Ｋをその値に更新するス
パン較正ルーチンがそれぞれ実行される。
次に、これらＡ、Ｂ、Ｃのモードに対応する各種のルー
チンの詳細を説明する。
チンの詳細を説明する。
第４図は器差算出ルーチンを示すフローチャートである
。このルーチンは、製作時の工場での較正、あるいはユ
ーザーが手持ちの基準とする分銅を用いての較正の際に
選択されるルーチンである。
。このルーチンは、製作時の工場での較正、あるいはユ
ーザーが手持ちの基準とする分銅を用いての較正の際に
選択されるルーチンである。
まず秤皿１１ａへの無負荷時においてゼロ点がチェック
され（ＳＴＩ ｌ） 、ずれていると較正動作に入らず
警告表示してその旨を報知する（ＳＴＩＩ。
され（ＳＴＩ ｌ） 、ずれていると較正動作に入らず
警告表示してその旨を報知する（ＳＴＩＩ。
５Ｔ１２）。ゼロ点が正常であれば、その無負荷時にお
ける荷重検出部１１０出力ＸＯを記憶し、基準分銅が秤
皿１１ａ上に載せられるのを待つ（ＳＴ１４）。この基
準分銅は、公称質量Ｗｒに対してこの電子天びんの読み
取り限度以下の誤差のものか、あるいは読み取り限度の
値まで正確に器差ｅが付けられた分銅でなければならな
い。基準分銅を載せると（ＳＴ１５）、オーバーロード
のチェックがなされ、何らかの理由でオーバーロードし
ているときには較正を中止して警告表示する（ＳＴ１６
．５Ｔ１７，５Ｔ１８）。基準分銅に器差ｅがある場合
には、その値を操作キ一群１６のテンキーによって入力
しておく （ＳＴ１９）。
ける荷重検出部１１０出力ＸＯを記憶し、基準分銅が秤
皿１１ａ上に載せられるのを待つ（ＳＴ１４）。この基
準分銅は、公称質量Ｗｒに対してこの電子天びんの読み
取り限度以下の誤差のものか、あるいは読み取り限度の
値まで正確に器差ｅが付けられた分銅でなければならな
い。基準分銅を載せると（ＳＴ１５）、オーバーロード
のチェックがなされ、何らかの理由でオーバーロードし
ているときには較正を中止して警告表示する（ＳＴ１６
．５Ｔ１７，５Ｔ１８）。基準分銅に器差ｅがある場合
には、その値を操作キ一群１６のテンキーによって入力
しておく （ＳＴ１９）。
そうすると基準分銅を載せたときの荷重検出部１１出力
ＸＩが記憶され（ＳＴ２０）、そのＸｌと無負荷時の出
力Ｘｏとの差Ｘ２と、基準分銅の公称質量Ｗｒおよび器
差ｅにより、スパン係数Ｋが、Ｋ ＝ （Ｗ ｒ ＋
ｅ ） ／ Ｘ ２−（ｌ）によって算出される（Ｓ’
ｌ’２１）。その後基準分銅を降ろすと再度ゼロ点がチ
ェックされ（ＳＴ２２゜５Ｔ２３）、ずれている場合に
は較正を中止して警告表示される（ＳＴ２４，５Ｔ２５
）。ゼロ点がずれていない場合には、その時点の荷重検
出部１１出力Ｘｏ ’ （＃Ｘｏ）を記憶しく５Ｔ２６
）、内蔵分銅１３の負荷を待ち、内蔵分銅１３を分銅加
除機構１２によって負荷すると、その負荷時の荷重検出
部１１出力Ｘ３を記憶する（ＳＴ２７゜５Ｔ２８）。そ
して、そのＸａと無負荷時の出力ＸＯ’との差Ｘ４と、
５Ｔ２１で算出したスパン係数に、および基準分銅負荷
時の無負荷時に対する出力差ｘ２とから、内蔵分銅１３
の公称質量Ｗｒに対する質量差（器差）ΔＷが、 ΔＷ＝Ｋ・ （Ｘ ４− Ｘ ２ ） −（２）によっ
て算出されてメモリ１５ｂに格納され（ＳＴ２９）、器
差算出ルーチンを終了する。
ＸＩが記憶され（ＳＴ２０）、そのＸｌと無負荷時の出
力Ｘｏとの差Ｘ２と、基準分銅の公称質量Ｗｒおよび器
差ｅにより、スパン係数Ｋが、Ｋ ＝ （Ｗ ｒ ＋
ｅ ） ／ Ｘ ２−（ｌ）によって算出される（Ｓ’
ｌ’２１）。その後基準分銅を降ろすと再度ゼロ点がチ
ェックされ（ＳＴ２２゜５Ｔ２３）、ずれている場合に
は較正を中止して警告表示される（ＳＴ２４，５Ｔ２５
）。ゼロ点がずれていない場合には、その時点の荷重検
出部１１出力Ｘｏ ’ （＃Ｘｏ）を記憶しく５Ｔ２６
）、内蔵分銅１３の負荷を待ち、内蔵分銅１３を分銅加
除機構１２によって負荷すると、その負荷時の荷重検出
部１１出力Ｘ３を記憶する（ＳＴ２７゜５Ｔ２８）。そ
して、そのＸａと無負荷時の出力ＸＯ’との差Ｘ４と、
５Ｔ２１で算出したスパン係数に、および基準分銅負荷
時の無負荷時に対する出力差ｘ２とから、内蔵分銅１３
の公称質量Ｗｒに対する質量差（器差）ΔＷが、 ΔＷ＝Ｋ・ （Ｘ ４− Ｘ ２ ） −（２）によっ
て算出されてメモリ１５ｂに格納され（ＳＴ２９）、器
差算出ルーチンを終了する。
第５図は測定ルーチンを示すフローチャートである。こ
のルーチンは通常の測定時に選択されるルーチンである
。ゼロ点がずれているときには警告を表示し、適正であ
れば測定動作が実行される（Ｓｒ１０．Ｓｒ１１．Ｓｒ
１２）。このルーチンでは、被測定物を秤皿１１ａ上に
載せると（ＳＴ３３）、その負荷による荷重検出部１１
出力Ｘｗが採取され（ＳＴ３４）、その値がメモリ１５
ｂに格納されているスノぐン係数Ｋによって質量Ｗに、
Ｗ＝ Ｋ −Ｘ ｗ−（３） によって換算され（ＳＴ３５）、風袋重量Ｗｔが記憶さ
れているときにはその値が減じられて風袋引処理が行な
われて計量値ＷＯが決定され（ＳＴ３６）、表示器１７
に表示される（ＳＴ３７）。
のルーチンは通常の測定時に選択されるルーチンである
。ゼロ点がずれているときには警告を表示し、適正であ
れば測定動作が実行される（Ｓｒ１０．Ｓｒ１１．Ｓｒ
１２）。このルーチンでは、被測定物を秤皿１１ａ上に
載せると（ＳＴ３３）、その負荷による荷重検出部１１
出力Ｘｗが採取され（ＳＴ３４）、その値がメモリ１５
ｂに格納されているスノぐン係数Ｋによって質量Ｗに、
Ｗ＝ Ｋ −Ｘ ｗ−（３） によって換算され（ＳＴ３５）、風袋重量Ｗｔが記憶さ
れているときにはその値が減じられて風袋引処理が行な
われて計量値ＷＯが決定され（ＳＴ３６）、表示器１７
に表示される（ＳＴ３７）。
第６図はスパン較正ルーチンを示すフローチャートであ
る。このルーチンは、内蔵分銅１３を用いてスパン係数
Ｋを更新する、スパン較正時に選択されるルーチンであ
る。まず、無負荷時のゼロ点がチェックされ、ずれてい
るときには警告表示し、ずれていないときにのみ較正動
作に入る（ＳＴ３Ｂ、５Ｔ３９，５Ｔ４０）。較正動作
に入ると、無負荷時の荷重検出部１１出力ＸＯと内蔵分
銅１３負荷時の出力Ｘ３が記憶され（ＳＴ４１，５Ｔ４
２゜Ｓｒ１３） 、ＸａとＸｏとの差Ｘ４と、公称質量
Ｗｒ、および器差算出ルーチンでめられた内蔵分銅１３
の器差ΔＷとにより、スパン係数に′かに’−（Ｗｒ＋
ΔＷ ） ／ Ｘ ４−ｃ４）によって算出され（ＳＴ
４４．）、それまで記憶されているスパン係数Ｋがその
値に′に更新され（ＳＴ４５）、以後の測定ルーチンで
はその更新後のスパン係数Ｋを用いて質量が算出される
。
る。このルーチンは、内蔵分銅１３を用いてスパン係数
Ｋを更新する、スパン較正時に選択されるルーチンであ
る。まず、無負荷時のゼロ点がチェックされ、ずれてい
るときには警告表示し、ずれていないときにのみ較正動
作に入る（ＳＴ３Ｂ、５Ｔ３９，５Ｔ４０）。較正動作
に入ると、無負荷時の荷重検出部１１出力ＸＯと内蔵分
銅１３負荷時の出力Ｘ３が記憶され（ＳＴ４１，５Ｔ４
２゜Ｓｒ１３） 、ＸａとＸｏとの差Ｘ４と、公称質量
Ｗｒ、および器差算出ルーチンでめられた内蔵分銅１３
の器差ΔＷとにより、スパン係数に′かに’−（Ｗｒ＋
ΔＷ ） ／ Ｘ ４−ｃ４）によって算出され（ＳＴ
４４．）、それまで記憶されているスパン係数Ｋがその
値に′に更新され（ＳＴ４５）、以後の測定ルーチンで
はその更新後のスパン係数Ｋを用いて質量が算出される
。
なお、以上の実施例では、器差算出ルーチンにおいて、
内蔵分銅１３の器差ΔＷを算出する前にスパン係数Ｋを
算出し、その値を用いて（２）式で器差ΔＷをめる場合
について述べたが、スパン係数を用いずに下記の（２）
′式により直接器差ΔＷをめることもできる。
内蔵分銅１３の器差ΔＷを算出する前にスパン係数Ｋを
算出し、その値を用いて（２）式で器差ΔＷをめる場合
について述べたが、スパン係数を用いずに下記の（２）
′式により直接器差ΔＷをめることもできる。
ΔＷ＝ （Ｗｒ＋ｅ）／ （Ｘ４ ／Ｘ２−１）−１２
）’この場合、器差算出ルーチンではスパン係数Ｋをめ
る必要がなく、第４図の５Ｔ２１および５Ｔ２９に替え
て、それぞれ第７図（ａ）、 （ｂ）に示す５Ｔ２１′
および５Ｔ２９’を挿入しけおけばよい。
）’この場合、器差算出ルーチンではスパン係数Ｋをめ
る必要がなく、第４図の５Ｔ２１および５Ｔ２９に替え
て、それぞれ第７図（ａ）、 （ｂ）に示す５Ｔ２１′
および５Ｔ２９’を挿入しけおけばよい。
また、基準分銅に器差が読み取り限度以内のものを用い
る条件では、操作キ一群のうち器差を入力するためのテ
ンキーが不要となることは云うまでもない。
る条件では、操作キ一群のうち器差を入力するためのテ
ンキーが不要となることは云うまでもない。
（へ）効果
以上説明したように、本発明によれば、スパン較正用の
内蔵分銅に高精度の分銅を必要とせず、電子天びんのコ
ストを著しく低減させることができる。このコスト低減
は、高精度の電子天びんになる程顕著となる。また、内
蔵分銅の器差は、製造時や検査時において計測、較正さ
れ、前もって別の大びんによって計測して管理しておく
等の手間を必要とせず、上述のコスト低減は実質的なも
のとなる。更に、本発明によれば、基準分銅の質量又は
公称質量と内蔵分銅の質量との差が相当大きな値であっ
ても、高いスパン較正精度を得ることができるので、内
蔵分銅はもはや単に寸法的に所定の大きさに加工するだ
けでその質量は全く測定する必要がなくなった。また、
ユーザーが手持ちの基準分銅を用いて質量管理を行って
いる場合においても、製造時と同様の器差算出ルーチン
を選択できるので、有効に活用することができる。
内蔵分銅に高精度の分銅を必要とせず、電子天びんのコ
ストを著しく低減させることができる。このコスト低減
は、高精度の電子天びんになる程顕著となる。また、内
蔵分銅の器差は、製造時や検査時において計測、較正さ
れ、前もって別の大びんによって計測して管理しておく
等の手間を必要とせず、上述のコスト低減は実質的なも
のとなる。更に、本発明によれば、基準分銅の質量又は
公称質量と内蔵分銅の質量との差が相当大きな値であっ
ても、高いスパン較正精度を得ることができるので、内
蔵分銅はもはや単に寸法的に所定の大きさに加工するだ
けでその質量は全く測定する必要がなくなった。また、
ユーザーが手持ちの基準分銅を用いて質量管理を行って
いる場合においても、製造時と同様の器差算出ルーチン
を選択できるので、有効に活用することができる。
第１図は本発明の構成を示す機能ブロック図、第２図は
本発明実施例の構成図、第３図はそのデータ処理用プロ
グラムの全体を示すフローチャート、第４図、第５図お
よび第６図はその各ルーチンの詳細を示すフローチャー
１−１第７図は本発明の他の実施例の器差算出ルーチン
のフローチャートの要部である。 １１−荷重検出部 １１ａ−・秤皿 １２・−分銅加除機構 １３−内蔵分銅１５−・・制御
部 １５ ａ−ＣＰ Ｕ１５ｂ・−メモリ １６−操作
キ一群 １７−表示器 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西１）新 第６図 第７図 （ａ） （ｂ）
本発明実施例の構成図、第３図はそのデータ処理用プロ
グラムの全体を示すフローチャート、第４図、第５図お
よび第６図はその各ルーチンの詳細を示すフローチャー
１−１第７図は本発明の他の実施例の器差算出ルーチン
のフローチャートの要部である。 １１−荷重検出部 １１ａ−・秤皿 １２・−分銅加除機構 １３−内蔵分銅１５−・・制御
部 １５ ａ−ＣＰ Ｕ１５ｂ・−メモリ １６−操作
キ一群 １７−表示器 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西１）新 第６図 第７図 （ａ） （ｂ）
Claims (3)
- （１）負荷された荷重に対応した電気信号を出力する荷
ＭＩ＊出部と、メモリ゛に記憶された複数の演算モード
と、その複数の演算モードのうち任意のモードを選択す
るモード選択手段と、そのモード選択手段により選択さ
れた演算モードに従って上記荷重検出部出力を演算処理
する演算処理手段と、公称質量に対して任意の誤差を有
するスパン較正用の内蔵分銅を有し、上記複数の演算モ
ードが下記のＡ、Ｂ、Ｃの３つのモードであることを特
徴とする電子天びん。 モードＡ；所定の公称質量の外部基準分銅の負荷時およ
び上記内蔵分銅の負荷時における上記荷重検出部出力が
ら、上記内蔵分銅の上記公称質量に対する差を算出して
記憶するモード。 モードＢ；上記荷重検出部の出力を、記憶されているス
パン係数を用いて質量に換算し、計量値を決定して表示
させるモード。 モードＣ：上記内蔵分銅の負荷時における上記荷重検出
部出力と、上記公称質量および上記モードＡでめた上記
差を用いてスパン係数を算出し、上記モードＢにおいて
用いるスパン係数を更新するモード。 - （２）上記モードＡの実行時において、上記外部基準分
銅の負荷時における上記荷重検出部出力から、スパン係
数を算出し、その値を用いて上記内蔵分銅の上記差を算
出するよう構成したことを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の電子天びん。 - （３）上記モードＡにおける上記外部基準分銅に上記公
称質量に対する器差があるとき、その器差を入力するこ
とにより上記外部基準分銅の質量と上記公称質量との差
を補正して、上記内蔵分銅の上記差を算出するよう構成
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項又は第２項
記載の電子天びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12215483A JPS6013224A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12215483A JPS6013224A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6013224A true JPS6013224A (ja) | 1985-01-23 |
| JPH0550691B2 JPH0550691B2 (ja) | 1993-07-29 |
Family
ID=14828936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12215483A Granted JPS6013224A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013224A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6243796A (ja) * | 1985-08-21 | 1987-02-25 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 自動販売機 |
| JPS6312273U (ja) * | 1986-05-29 | 1988-01-27 | ||
| JPS63111426A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-16 | Tokyo Electric Co Ltd | 電子秤 |
| JPH01152318A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-14 | A & D Co Ltd | 電子秤 |
| JPH03291533A (ja) * | 1990-04-08 | 1991-12-20 | Anritsu Corp | 重量選別装置 |
| JP2008055331A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Toyota Boshoku Corp | エアクリーナ用フィルタ及びエアクリーナ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS582638U (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-08 | 株式会社島津製作所 | 電子天びん |
| JPS5891130U (ja) * | 1981-12-15 | 1983-06-20 | 株式会社石田衡器製作所 | 電子秤 |
-
1983
- 1983-07-04 JP JP12215483A patent/JPS6013224A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS582638U (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-08 | 株式会社島津製作所 | 電子天びん |
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| JPS63111426A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-16 | Tokyo Electric Co Ltd | 電子秤 |
| JPH01152318A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-14 | A & D Co Ltd | 電子秤 |
| JPH03291533A (ja) * | 1990-04-08 | 1991-12-20 | Anritsu Corp | 重量選別装置 |
| JP2008055331A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Toyota Boshoku Corp | エアクリーナ用フィルタ及びエアクリーナ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0550691B2 (ja) | 1993-07-29 |
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