JPH09320512A - 質量分析装置用直接試料導入プローブのフィラメント - Google Patents
質量分析装置用直接試料導入プローブのフィラメントInfo
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- JPH09320512A JPH09320512A JP8156090A JP15609096A JPH09320512A JP H09320512 A JPH09320512 A JP H09320512A JP 8156090 A JP8156090 A JP 8156090A JP 15609096 A JP15609096 A JP 15609096A JP H09320512 A JPH09320512 A JP H09320512A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 質量分析における試料のイオン化を脱離型化
学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う質量
分析装置において、試料を直接導入するための直接試料
導入プローブの先端に備えたフィラメントに、試料を容
易にサンプリングできるようにし、且つサンプリングし
た試料を安定的に保持できるようにする。 【解決手段】 質量分析における試料のイオン化を脱離
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置に試料を直接導入するための直接試料導入
プローブの先端に備えられ、試料ホルダーとして機能し
且つ試料加熱手段として機能するフィラメント１におい
て、その表面の少なくとも一部に試料を保持するための
凹部１ｂを設ける。
学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う質量
分析装置において、試料を直接導入するための直接試料
導入プローブの先端に備えたフィラメントに、試料を容
易にサンプリングできるようにし、且つサンプリングし
た試料を安定的に保持できるようにする。 【解決手段】 質量分析における試料のイオン化を脱離
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置に試料を直接導入するための直接試料導入
プローブの先端に備えられ、試料ホルダーとして機能し
且つ試料加熱手段として機能するフィラメント１におい
て、その表面の少なくとも一部に試料を保持するための
凹部１ｂを設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、質量分析における
試料のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝
撃イオン化により行う質量分析装置に関する。特に、質
量分析装置に試料を導入するための直接試料導入プロー
ブ並びにその先端に設けられ、試料ホルダーとして且つ
試料加熱手段として機能するフィラメントに関する。
試料のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝
撃イオン化により行う質量分析装置に関する。特に、質
量分析装置に試料を導入するための直接試料導入プロー
ブ並びにその先端に設けられ、試料ホルダーとして且つ
試料加熱手段として機能するフィラメントに関する。
【０００２】
【従来の技術】質量分析装置は様々な物質を高感度分析
（１０-9〜１０-10ｇオーダー）できる分析装置である
が、最高感度付近での極微量分析においては試料の全量
を無駄なくイオン源内に導入できる直接試料導入プロー
ブが用いられる。中でも、脱離型化学イオン化プローブ
あるいは脱離型電子衝撃イオン化プローブは、試料をイ
オン源内のイオン化領域にまで直接導入することができ
るため、極微量試料の分析に適している。
（１０-9〜１０-10ｇオーダー）できる分析装置である
が、最高感度付近での極微量分析においては試料の全量
を無駄なくイオン源内に導入できる直接試料導入プロー
ブが用いられる。中でも、脱離型化学イオン化プローブ
あるいは脱離型電子衝撃イオン化プローブは、試料をイ
オン源内のイオン化領域にまで直接導入することができ
るため、極微量試料の分析に適している。
【０００３】ここで、脱離型化学イオン化プローブを用
いて試料を脱離型化学イオン化して質量分析する場合を
図３を参照しながら説明する。
いて試料を脱離型化学イオン化して質量分析する場合を
図３を参照しながら説明する。
【０００４】まず、試料ホルダーとして且つ試料加熱手
段として機能するフィラメント１が先端に設けられた脱
離型化学イオン化プローブ２ａを、内圧が高真空度（１
０-3〜１０-4Ｐａ）に設定されているイオン源３に挿入
する。ここでフィラメント１は、約１００μｍ径の白金
ワイヤーから構成されており、イオン源３の内部の高真
空度（１０-3〜１０-4Ｐａ）に設定されているイオン化
室４に挿入されている。イオン化室４には、反応ガスを
イオン化室４に導入するためのガス管５が接続されてい
る。また、イオン化室４には、イオン化された試料を検
出器（図示せず）方向へ通過させるための穴６が設けら
れており、その穴６の上方にはレンズ系を構成する電極
群７が設けられている。
段として機能するフィラメント１が先端に設けられた脱
離型化学イオン化プローブ２ａを、内圧が高真空度（１
０-3〜１０-4Ｐａ）に設定されているイオン源３に挿入
する。ここでフィラメント１は、約１００μｍ径の白金
ワイヤーから構成されており、イオン源３の内部の高真
空度（１０-3〜１０-4Ｐａ）に設定されているイオン化
室４に挿入されている。イオン化室４には、反応ガスを
イオン化室４に導入するためのガス管５が接続されてい
る。また、イオン化室４には、イオン化された試料を検
出器（図示せず）方向へ通過させるための穴６が設けら
れており、その穴６の上方にはレンズ系を構成する電極
群７が設けられている。
【０００５】次に、フィラメント１を加熱してフィラメ
ント１に保持されていた試料を気化させ、その気化した
試料とガス管５からイオン化室４に導入される反応ガス
（例えば、メタン、イソブタン、アンモニア等）とを反
応させることにより試料をイオン化する。生成イオン
は、イオン化室４の穴６を通過し、電極群７により収束
されて検出器（図示せず）へ到達し、その質量が分析さ
れる。
ント１に保持されていた試料を気化させ、その気化した
試料とガス管５からイオン化室４に導入される反応ガス
（例えば、メタン、イソブタン、アンモニア等）とを反
応させることにより試料をイオン化する。生成イオン
は、イオン化室４の穴６を通過し、電極群７により収束
されて検出器（図示せず）へ到達し、その質量が分析さ
れる。
【０００６】また、脱離型電子衝撃イオン化プローブを
用いて試料を脱離型電子衝撃イオン化して質量分析する
場合を図４を参照しながら説明する。
用いて試料を脱離型電子衝撃イオン化して質量分析する
場合を図４を参照しながら説明する。
【０００７】まず、図３の場合と同様に、試料ホルダー
として且つ試料加熱手段として機能するフィラメント１
が先端に設けられた脱離型電子衝撃化学イオン化プロー
ブ２ｂを、内圧が高真空度（１０-3〜１０-4Ｐａ）に設
定されているイオン源３に挿入する。ここでフィラメン
ト１は、イオン源３の内部の高真空度（１０-3〜１０-4
Ｐａ）に設定されているイオン化室４に挿入されてい
る。イオン化室４には、気化した試料を電子衝撃により
イオン化するための熱電子を発生するイオン源フィラメ
ント８が設けられている。また、イオン化室４には、図
３の場合と同様に、イオン化された試料を検出器（図示
せず）方向へ通過させるための穴６が設けられており、
その穴６の上方にはレンズ系を構成する電極群７が設け
られている。
として且つ試料加熱手段として機能するフィラメント１
が先端に設けられた脱離型電子衝撃化学イオン化プロー
ブ２ｂを、内圧が高真空度（１０-3〜１０-4Ｐａ）に設
定されているイオン源３に挿入する。ここでフィラメン
ト１は、イオン源３の内部の高真空度（１０-3〜１０-4
Ｐａ）に設定されているイオン化室４に挿入されてい
る。イオン化室４には、気化した試料を電子衝撃により
イオン化するための熱電子を発生するイオン源フィラメ
ント８が設けられている。また、イオン化室４には、図
３の場合と同様に、イオン化された試料を検出器（図示
せず）方向へ通過させるための穴６が設けられており、
その穴６の上方にはレンズ系を構成する電極群７が設け
られている。
【０００８】次に、フィラメント１を加熱し、保持して
いた試料を気化させ、その気化した試料に、イオン源フ
ィラメント８から放出された熱電子を衝突させてイオン
化する。生成イオンは穴６を通過し電極群７により収束
されて検出器（図示せず）へ到達し、その質量が分析さ
れる。
いた試料を気化させ、その気化した試料に、イオン源フ
ィラメント８から放出された熱電子を衝突させてイオン
化する。生成イオンは穴６を通過し電極群７により収束
されて検出器（図示せず）へ到達し、その質量が分析さ
れる。
【０００９】このようなプローブを用いて極微量試料を
質量分析する際には、これらのプローブに設けられたフ
ィラメントに試料をサンプリングすることが必要となる
が、この場合、極微量の試料をマニュピュレーターの針
先に採取し、その針先に採取した試料をフィラメントの
先端に擦りつけることによりサンプリングが行われてい
る。
質量分析する際には、これらのプローブに設けられたフ
ィラメントに試料をサンプリングすることが必要となる
が、この場合、極微量の試料をマニュピュレーターの針
先に採取し、その針先に採取した試料をフィラメントの
先端に擦りつけることによりサンプリングが行われてい
る。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５に
示すように、プローブに設けられたフィラメント１の先
端部１ａ近傍の平面図（同図（ａ））におけるｘ−ｘ断
面が、非常に小さな直径の円形（同図（ｂ））なので、
その上に試料を擦りつけてサンプリングすることが困難
であり、また、うまくサンプリングできたとしても、し
っかりとフィラメント１上に試料が固定されていないの
で、質量分析装置のイオン源にプローブを挿入する以前
に試料を紛失してしまうこともある。
示すように、プローブに設けられたフィラメント１の先
端部１ａ近傍の平面図（同図（ａ））におけるｘ−ｘ断
面が、非常に小さな直径の円形（同図（ｂ））なので、
その上に試料を擦りつけてサンプリングすることが困難
であり、また、うまくサンプリングできたとしても、し
っかりとフィラメント１上に試料が固定されていないの
で、質量分析装置のイオン源にプローブを挿入する以前
に試料を紛失してしまうこともある。
【００１１】本発明は、以上のような従来の技術の課題
を解決しようとするものであり、質量分析における試料
のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イ
オン化により行う質量分析装置に、試料を直接導入する
ための直接試料導入プローブの先端に備えたフィラメン
トに、試料を容易にサンプリングできるようにし、しか
もサンプリングした試料を安定的に保持できるようにす
ることを目的とする。
を解決しようとするものであり、質量分析における試料
のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イ
オン化により行う質量分析装置に、試料を直接導入する
ための直接試料導入プローブの先端に備えたフィラメン
トに、試料を容易にサンプリングできるようにし、しか
もサンプリングした試料を安定的に保持できるようにす
ることを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明者は、直接試料導
入プローブの先端に備えたフィラメントに試料を擦りつ
けたときに試料が容易にフィラメントに付着し且つ付着
した試料が安定的に保持されるようにするためには、フ
ィラメントの表面の少なくとも一部に凹部を形成すれば
よいことを見出し、本発明を完成させるに至った。
入プローブの先端に備えたフィラメントに試料を擦りつ
けたときに試料が容易にフィラメントに付着し且つ付着
した試料が安定的に保持されるようにするためには、フ
ィラメントの表面の少なくとも一部に凹部を形成すれば
よいことを見出し、本発明を完成させるに至った。
【００１３】即ち、本発明は、質量分析における試料の
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置に試料を直接導入するため
の直接試料導入プローブの先端に備えられ、試料ホルダ
ーとして機能し且つ試料加熱手段として機能するフィラ
メントにおいて、その表面の少なくとも一部に試料を保
持するための凹部が設けられていることを特徴とするフ
ィラメントを提供する。
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置に試料を直接導入するため
の直接試料導入プローブの先端に備えられ、試料ホルダ
ーとして機能し且つ試料加熱手段として機能するフィラ
メントにおいて、その表面の少なくとも一部に試料を保
持するための凹部が設けられていることを特徴とするフ
ィラメントを提供する。
【００１４】また、本発明は、質量分析における試料の
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置に試料を直接導入するため
の直接試料導入プローブであって、その先端に試料ホル
ダーとして機能し且つ試料加熱手段として機能するフィ
ラメントが備えられている直接試料導入プローブにおい
て、フィラメントの表面の少なくとも一部に試料を保持
するための凹部が設けられていることを特徴とする直接
試料導入プローブを提供する。
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置に試料を直接導入するため
の直接試料導入プローブであって、その先端に試料ホル
ダーとして機能し且つ試料加熱手段として機能するフィ
ラメントが備えられている直接試料導入プローブにおい
て、フィラメントの表面の少なくとも一部に試料を保持
するための凹部が設けられていることを特徴とする直接
試料導入プローブを提供する。
【００１５】更に、本発明は、質量分析における試料の
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置であって、試料ホルダーと
して機能し且つ試料加熱手段として機能するフィラメン
トが先端に設けられた直接試料導入プローブを備えた質
量分析装置において、フィラメントの表面の少なくとも
一部に試料を保持するための凹部が設けられていること
を特徴とする質量分析装置を提供する。
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置であって、試料ホルダーと
して機能し且つ試料加熱手段として機能するフィラメン
トが先端に設けられた直接試料導入プローブを備えた質
量分析装置において、フィラメントの表面の少なくとも
一部に試料を保持するための凹部が設けられていること
を特徴とする質量分析装置を提供する。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を参照しなが
ら詳細に説明する。
ら詳細に説明する。
【００１７】本発明のフィラメントは、機能的には従来
のフィラメントと同様に、その先端部に試料を保持する
試料ホルダーとして機能するとともに、電気を導通する
ことにより自ら発熱し、試料を加熱気化させるための加
熱手段として機能する。このため、本発明のフィラメン
ト１は、導電性の細いワイヤーを、図１（ａ）の平面図
に示すように、屈曲させてその先端部１ａに試料を保持
するような構造となっており、しかもそのｘ−ｘ断面図
（図１（ｂ））に示すように、その表面の少なくとも一
部に試料を保持するための凹部１ｂが設けられている。
このような凹部１ｂを設けることにより、その部分に、
マニュピュレーターの針先で極微量の試料を擦りつけた
場合に、容易にサンプリングすることができ、しかもサ
ンプリングした試料の保持性が向上し、質量分析装置の
イオン源にプローブを挿入する以前に試料を紛失してし
まうことを防止することができる。
のフィラメントと同様に、その先端部に試料を保持する
試料ホルダーとして機能するとともに、電気を導通する
ことにより自ら発熱し、試料を加熱気化させるための加
熱手段として機能する。このため、本発明のフィラメン
ト１は、導電性の細いワイヤーを、図１（ａ）の平面図
に示すように、屈曲させてその先端部１ａに試料を保持
するような構造となっており、しかもそのｘ−ｘ断面図
（図１（ｂ））に示すように、その表面の少なくとも一
部に試料を保持するための凹部１ｂが設けられている。
このような凹部１ｂを設けることにより、その部分に、
マニュピュレーターの針先で極微量の試料を擦りつけた
場合に、容易にサンプリングすることができ、しかもサ
ンプリングした試料の保持性が向上し、質量分析装置の
イオン源にプローブを挿入する以前に試料を紛失してし
まうことを防止することができる。
【００１８】なお、フィラメント１の材料としては、試
料を汚染せず、耐久性に優れた白金ワイヤーを使用する
ことが好ましい。
料を汚染せず、耐久性に優れた白金ワイヤーを使用する
ことが好ましい。
【００１９】ここで、凹部１ｂの形状には、試料のサン
プリングと保持とを容易にするような形状であるかぎり
特に制限はない。例えば、図１（ａ）におけるｘ−ｘ断
面形状に関し、図１（ｂ）の場合には凹部１ｂが三角形
状となっているが、図２（ａ）に示すように半円形状で
もよく、矩形形状（図２（ｂ））でもよい。また、凹部
１ｂが複数存在してもよい（図２（ｃ））。更に、凹部
１ｂの表面を平坦にしてもよい（図２（ｄ））。また、
試料をサンプリングしやすくするために、図１（ｂ）や
図２（ａ）〜（ｄ）等に示すように、凹部１ｂの先端部
１ｃが、角をもつように形成することが好ましいが、図
２（ｅ）に示すように、滑らかな曲線に形成することも
できる。
プリングと保持とを容易にするような形状であるかぎり
特に制限はない。例えば、図１（ａ）におけるｘ−ｘ断
面形状に関し、図１（ｂ）の場合には凹部１ｂが三角形
状となっているが、図２（ａ）に示すように半円形状で
もよく、矩形形状（図２（ｂ））でもよい。また、凹部
１ｂが複数存在してもよい（図２（ｃ））。更に、凹部
１ｂの表面を平坦にしてもよい（図２（ｄ））。また、
試料をサンプリングしやすくするために、図１（ｂ）や
図２（ａ）〜（ｄ）等に示すように、凹部１ｂの先端部
１ｃが、角をもつように形成することが好ましいが、図
２（ｅ）に示すように、滑らかな曲線に形成することも
できる。
【００２０】なお、図１及び図２の態様において、凹部
１ｂとして、ｘ−ｘ方向に直交する方向のライン状の凹
部を例示したが、図１（ａ）のｙ−ｙ方向に直交するラ
イン状の凹部を形成してもよく、またｘ−ｘ方向あるい
はｙ−ｙ方向に対して斜めの方向のライン状凹部（図示
せず）としてもよい。また、それらを組み合わせて十文
字形状の凹部や格子状の凹部を形成してもよい（図示せ
ず）。ライン状以外にも、曲線状あるいは円形ホール状
の凹部を形成してもよい（図示せず）。また、凹部の深
さや幅についても、特に制限はなく、使用する導電性ワ
イヤーの材料の種類や、分析対象となる試料の量などに
より適宜選択することができる。
１ｂとして、ｘ−ｘ方向に直交する方向のライン状の凹
部を例示したが、図１（ａ）のｙ−ｙ方向に直交するラ
イン状の凹部を形成してもよく、またｘ−ｘ方向あるい
はｙ−ｙ方向に対して斜めの方向のライン状凹部（図示
せず）としてもよい。また、それらを組み合わせて十文
字形状の凹部や格子状の凹部を形成してもよい（図示せ
ず）。ライン状以外にも、曲線状あるいは円形ホール状
の凹部を形成してもよい（図示せず）。また、凹部の深
さや幅についても、特に制限はなく、使用する導電性ワ
イヤーの材料の種類や、分析対象となる試料の量などに
より適宜選択することができる。
【００２１】本発明のフィラメントへの凹部の形成は、
カミソリを用いて人の手で行うこともでき、マイクロ加
工機械を使用して行うこともできる。
カミソリを用いて人の手で行うこともでき、マイクロ加
工機械を使用して行うこともできる。
【００２２】以上の利点を有する本発明のフィラメント
は、質量分析における試料のイオン化を脱離型化学イオ
ン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う質量分析装
置に試料を直接導入するための直接試料導入プローブの
フィラメントとして、非常に有用である。なお、この直
接試料導入プローブの構造は、本発明のフィラメントを
使用する以外は、従来の直接試料導入プローブと同様の
構造とすることができる。
は、質量分析における試料のイオン化を脱離型化学イオ
ン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う質量分析装
置に試料を直接導入するための直接試料導入プローブの
フィラメントとして、非常に有用である。なお、この直
接試料導入プローブの構造は、本発明のフィラメントを
使用する以外は、従来の直接試料導入プローブと同様の
構造とすることができる。
【００２３】更に、この直接試料導入プローブを質量分
析装置に使用することにより、極微量分析が容易とな
る。なお、この質量分析装置の構造は、本発明のフィラ
メントを備えた直接試料導入プローブを使用する以外
は、従来の質量分析装置と同様の構造とすることができ
る。
析装置に使用することにより、極微量分析が容易とな
る。なお、この質量分析装置の構造は、本発明のフィラ
メントを備えた直接試料導入プローブを使用する以外
は、従来の質量分析装置と同様の構造とすることができ
る。
【００２４】
【実施例】以下、本発明を実施例により具体的に説明す
る。
る。
【００２５】実施例１ １００μｍ径の白金ワイヤーからなる図１（ａ）の形状
のフィラメント１に、カミソリを用いて人の手で、図１
（ｂ）に示すような深さ５０μｍで幅７０μｍのライン
状の凹部１ｂを形成した。
のフィラメント１に、カミソリを用いて人の手で、図１
（ｂ）に示すような深さ５０μｍで幅７０μｍのライン
状の凹部１ｂを形成した。
【００２６】このフィラメント１の凹部１ｂに、直径２
０〜３０μｍの高分子有機化合物粒子をマニュピュレー
ターの針先で擦り付けた。その結果、凹部に試料を容易
にサンプリングでき、しかも安定的に保持することがで
きた。
０〜３０μｍの高分子有機化合物粒子をマニュピュレー
ターの針先で擦り付けた。その結果、凹部に試料を容易
にサンプリングでき、しかも安定的に保持することがで
きた。
【００２７】比較例１ 凹部を設けないフィラメントを使用する以外は、実施例
１同様にサンプリングを試みた。その結果、うまくサン
プリングすることができず、わずかにサンプリングでき
た試料も質量分析装置のイオン源に挿入する前に粉失し
てしまった。
１同様にサンプリングを試みた。その結果、うまくサン
プリングすることができず、わずかにサンプリングでき
た試料も質量分析装置のイオン源に挿入する前に粉失し
てしまった。
【００２８】
【発明の効果】本発明によれば、質量分析における試料
のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イ
オン化により行う質量分析装置において、試料を直接導
入するための直接試料導入プローブの先端に備えたフィ
ラメントに、試料を容易にサンプリングでき、しかもサ
ンプリングした試料を安定的に保持できる。
のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イ
オン化により行う質量分析装置において、試料を直接導
入するための直接試料導入プローブの先端に備えたフィ
ラメントに、試料を容易にサンプリングでき、しかもサ
ンプリングした試料を安定的に保持できる。
【図１】本発明のフィラメントの先端部分近傍の平面図
（同図（ａ））とそのｘ−ｘ断面図（同図（ｂ））であ
る。
（同図（ａ））とそのｘ−ｘ断面図（同図（ｂ））であ
る。
【図２】本発明のフィラメントの先端部分近傍の断面図
（同図（ａ）〜（ｅ））である。
（同図（ａ）〜（ｅ））である。
【図３】脱離型化学イオン化プローブを用いて試料をイ
オン化して質量分析する場合の概略説明図である。
オン化して質量分析する場合の概略説明図である。
【図４】脱離型電子衝撃イオン化プローブを用いて試料
をイオン化して質量分析する場合の概略説明図である。
をイオン化して質量分析する場合の概略説明図である。
【図５】従来の直接試料導入プローブに設けられたフィ
ラメントの先端部近傍の平面図（同図（ａ））と、その
ｘ−ｘ断面図（同図（ｂ））である。
ラメントの先端部近傍の平面図（同図（ａ））と、その
ｘ−ｘ断面図（同図（ｂ））である。
１…フィラメント ２ａ…脱離型化学イオン化プロー
ブ ２ｂ…脱離型電 子衝撃イオン化プローブ ３…イオン源 ４…イオ
ン化室 ５…ガス管 ６…穴 ７…電極群 ８……イオン源フィラメント
ブ ２ｂ…脱離型電 子衝撃イオン化プローブ ３…イオン源 ４…イオ
ン化室 ５…ガス管 ６…穴 ７…電極群 ８……イオン源フィラメント
Claims (6)
- 【請求項１】 質量分析における試料のイオン化を脱離
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置に試料を直接導入するための直接試料導入
プローブの先端に備えられ、試料ホルダーとして機能し
且つ試料加熱手段として機能するフィラメントにおい
て、その表面の少なくとも一部に試料を保持するための
凹部が設けられていることを特徴とするフィラメント。 - 【請求項２】 フィラメントが白金ワイヤーである請求
項１記載のフィラメント。 - 【請求項３】 質量分析における試料のイオン化を脱離
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置に試料を直接導入するための直接試料導入
プローブであって、その先端に試料ホルダーとして機能
し且つ試料加熱手段として機能するフィラメントが備え
られている直接試料直接導入プローブにおいて、フィラ
メントの表面の少なくとも一部に試料を保持するための
凹部が設けられていることを特徴とする直接試料導入プ
ローブ。 - 【請求項４】 フィラメントが白金ワイヤーである請求
項３記載の直接試料導入プローブ。 - 【請求項５】 質量分析における試料のイオン化を脱離
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置であって、試料ホルダーとして機能し且つ
試料加熱手段として機能するフィラメントが先端に設け
られた直接試料導入プローブを備えた質量分析装置にお
いて、フィラメントの表面の少なくとも一部に試料を保
持するための凹部が設けられていることを特徴とする質
量分析装置。 - 【請求項６】 フィラメントが白金ワイヤーである請求
項５記載の質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8156090A JPH09320512A (ja) | 1996-05-27 | 1996-05-27 | 質量分析装置用直接試料導入プローブのフィラメント |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8156090A JPH09320512A (ja) | 1996-05-27 | 1996-05-27 | 質量分析装置用直接試料導入プローブのフィラメント |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09320512A true JPH09320512A (ja) | 1997-12-12 |
Family
ID=15620097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8156090A Pending JPH09320512A (ja) | 1996-05-27 | 1996-05-27 | 質量分析装置用直接試料導入プローブのフィラメント |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09320512A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009092649A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-30 | Hitachi Ltd | 微小試料加熱プローブおよびその製造方法、ならびに微小試料加熱プローブを用いた分析装置および分析方法 |
| WO2012008089A1 (ja) * | 2010-07-12 | 2012-01-19 | 株式会社日立製作所 | 微小試料分析装置及び方法 |
| US8742332B2 (en) | 2009-11-27 | 2014-06-03 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
-
1996
- 1996-05-27 JP JP8156090A patent/JPH09320512A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009092649A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-30 | Hitachi Ltd | 微小試料加熱プローブおよびその製造方法、ならびに微小試料加熱プローブを用いた分析装置および分析方法 |
| US8742332B2 (en) | 2009-11-27 | 2014-06-03 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
| WO2012008089A1 (ja) * | 2010-07-12 | 2012-01-19 | 株式会社日立製作所 | 微小試料分析装置及び方法 |
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