JPH0933609A

JPH0933609A - チップ状電子部品の自動選別装置

Info

Publication number: JPH0933609A
Application number: JP20738295A
Authority: JP
Inventors: Masayuki Shirota; 正之代田; Kanji Suganuma; 幹二菅沼; Yasukazu Shiozawa; 泰和塩沢; Tomoyuki Kojima; 智幸小島; Seiji Yoshizawa; 誠二吉沢
Original assignee: Seiwa Sangyo Co Ltd
Current assignee: Seiwa Sangyo Co Ltd
Priority date: 1995-07-24
Filing date: 1995-07-24
Publication date: 1997-02-07
Anticipated expiration: 2015-07-24
Also published as: JP2905425B2

Abstract

(57)【要約】【目的】チップ状電子部品の電気的特性の測定に電気
絶縁性が要求されるディスクを用いる必要がなく、した
がって、低コスト化を図るとともに、チップ状電子部品
の製造効率の向上、ランニングコストの低下等を図るこ
とができる。【構成】チップ状電子部品であるチップ状抵抗器を搬
送路６に沿って直線状で連続的に搬送する。搬送される
チップ状抵抗器を分離手段１５により１個ずつ分離す
る。分離されたチップ状抵抗器の電気的特性である抵抗
値を測定手段１６により測定する。測定結果に基づき
良、不良のチップ状抵抗器を選別手段１７により選別す
る。必要に応じ、測定後のチップ状抵抗器Ｒを測定手段
１８と選別手段１９により再び、測定、選別する。チッ
プ状抵抗器を直線状に搬送する間に分離して抵抗値を測
定するので、電気絶縁性が要求されるディスクを用いる
必要がない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、パーツフィーダ等
から連続的に供給されるリードレスの角板形チップ状抵
抗器等のチップ状電子部品を１個ずつ分離し、その抵抗
値等の電気的特性を測定して良、不良を選別し、良品で
あるチップ状電子部品をテーピング等の次工程へ供給す
るためなどに用いるチップ状電子部品の自動選別装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の自動選別装置の一例とし
て、実開平１−１０９０１６号公報に記載されているよ
うな構成が知られている。この従来例の概略について説
明すると、チップ状電子部品がパーツフィーダの吐出圧
力により直線状の供給路に連続的に供給されると、先頭
のチップ状電子部品を第１のストッパの前進により停止
させる。この先頭のチップ状電子部品に間歇回転する選
別用ディスクの収納凹部が対向すると、２個目のチップ
状電子部品を第２のストッパの前進により停止させ、第
１のストッパの後退により先頭のチップ状電子部品を解
放する。この解放したチップ状電子部品は真空装置によ
る吸引等により選別用ディスクの収納凹部に供給する。
供給後、第１のストッパを前進させるとともに、第２の
ストッパを後退させ、２個目のチップ状電子部品を解放
してパーツフィーダの吐出圧力により前進させ、第１の
ストッパにより停止させる。

【０００３】以下、上記動作を繰り返すことにより、チ
ップ状電子部品を間歇回転する選別用ディスクの収納凹
部に順次供給することができる。そして、搬送用ディス
クの間歇回転により収納凹部に供給されたチップ状電子
部品を搬送する途中で、その抵抗値等の電気的特性を測
定し、不良品であるチップ状電子部品を収納凹部から排
出し、良品であるチップ状電子部品のみをテーピング等
の次工程へ供給する。

【０００４】上記のように第１と第２のストッパにより
１個ずつに分離したチップ状電子部品は外周に収納凹部
を有する選別用ディスクを用いることにより、電気的特
性の測定位置に容易に搬送することができる。そして、
このような電気的特性の測定の用途に用いる選別用ディ
スクは、電気絶縁性が要求されるため、ガラス繊維を配
合したエポキシ樹脂、若しくはジルコニアを代表とする
セラミック材により形成している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】選別用ディスクとし
て、ガラス繊維を配合したエポキシ樹脂を用いる場合、
機械加工により切削して製作するため、容易に加工する
ことができる。しかしながら、精度を確保するのが困難
であり、結局、コストを低減することができない。しか
も、摩耗が早く、一日７時間使用すると約一週間が寿命
とされている。

【０００６】一方、選別用ディスクとして、セラミック
材を用いる場合、焼成後、研磨加工するか、研磨プレー
トをレーザ加工して製作する。いずれの場合にも精度を
確保することはできるが、難削材加工であるため、加工
費が高価となり、コストを低減することができない。ま
た、摩耗し難いが、脆弱であり、ディスク外周が比較的
小さな外力で破損するため、メンテナンス等の取扱いに
注意を要する。

【０００７】また、選別用ディスクとして、上記いずれ
の材料を用いた場合にも摩耗、破損、精度不良等に際
し、捨てるしかなく、その交換サイクルは、通常の使用
で７〜１５日であり、非経済的である。しかも、交換に
要する時間も１０〜３０分となり、この間、製造ライン
を停止させなければならず、製造現場における大きな問
題となっている。

【０００８】本発明は、上記のような従来の問題を解決
するものであり、チップ状電子部品の電気的特性の測定
に電気絶縁性が要求されるディスクを用いる必要がな
く、したがって、低コスト化を図ることができるととも
に、チップ状電子部品の製造効率の向上、ランニングコ
ストの低下等を図ることができるようにしたチップ状電
子部品の自動選別装置を提供することを目的とするもの
である。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の技術的手段は、チップ状電子部品を直線状に
搬送する搬送路と、この搬送路の途中で、連続状態で搬
送されているチップ状電子部品を分離する分離手段と、
この分離手段により１個ずつ分離されて上記搬送路を下
流側に搬送されるチップ状電子部品を停止させて電気的
特性を測定し、測定後、チップ状電子部品を解放する測
定手段と、この測定手段の測定結果に基づき良、不良の
チップ状電子部品に選別する選別手段とを備えたもので
ある。

【００１０】上記目的を達成するための本発明の他の技
術的手段は、上記技術的手段における測定手段および選
別手段が複数段に配置されたものである。

【００１１】そして、上記各技術的手段における分離手
段として、搬送路の途中で進退可能に設けられ、前進位
置で上記搬送路を搬送されるチップ状電子部品を停止さ
せ、後退位置でチップ状電子部品を解放する第１のスト
ッパと、この第１のストッパに対するチップ状電子部品
の搬送方向の上流側で進退可能に設けられ、前進位置で
上記搬送路を搬送されるチップ状電子部品を停止させ、
後退位置でチップ状電子部品を解放する第２のストッパ
と、上記第１のストッパがチップ状電子部品を解放する
前に上記第２のストッパを前進させ、上記第１のストッ
パがチップ状電子部品を停止した後に上記第２のストッ
パを後退させる駆動装置とを備えることができる。

【００１２】また、上記各技術的手段における測定手段
として、搬送路の途中で進退可能に設けられ、前進位置
で上記搬送路を搬送されるチップ状電子部品を停止さ
せ、後退位置でチップ状電子部品を解放するストッパ
と、このストッパを進退させる駆動装置と、上記ストッ
パに対するチップ状電子部品の搬送方向の上流側で進退
可能に設けられ、前進位置で上記搬送路を搬送されるチ
ップ状電子部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部
品を解放し、上記チップ状電子部品の停止状態でその電
気的特性を測定するための測定端子と、上記ストッパが
チップ状電子部品を解放する前に上記測定端子を前進さ
せ、上記ストッパがチップ状電子部品を停止した後に上
記測定端子を後退させる駆動装置とを備えることができ
る。

【００１３】また、上記各技術的手段における選別手段
として、外周にチップ状電子部品を収納する複数の収納
部を均等割位置に有し、耐摩耗性を有する非電気的絶縁
材から成る選別用ディスクと、この選別用ディスクを間
歇的に回転させる駆動装置と、上記選別用ディスクの外
周部に設けられ、電気的特性の測定結果が良好なチップ
状電子部品を通過させ、不良のチップ状電子部品を上記
選別用ディスクから排出する選別用排出装置とを備える
ことができる。

【００１４】上記選別用ディスクは耐摩耗性に優れた金
属等の非電気的絶縁材料のうち、特に、超硬合金により
形成するのが好ましい。

【００１５】また、上記各技術的手段における選別手段
として、搬送路を延長するように設けられ、チップ状電
子部品を直線状に搬送する選別用搬送路と、この選別用
搬送路の途中に設けられ、電気的特性の測定結果が良好
なチップ状電子部品を通過させ、不良のチップ状電子部
品を上記選別用搬送路から排出する選別用排出装置とを
備えることができる。

【００１６】上記選別用排出装置として、選別用搬送路
の途中に設けられた排出口と、この排出口を開閉するゲ
ートと、電気的特性の測定結果が良好なチップ状電子部
品を通過させるように上記ゲートを閉塞位置に移動させ
た状態に保持し、不良のチップ状電子部品を排出させる
ように上記ゲートを開放位置に移動させる駆動装置と、
不良のチップ状電子部品を開放された排出口から吸引し
て排出する吸引装置とを備えることができる。

【００１７】上記のように構成された本発明によれば、
チップ状電子部品が搬送路を直線状で連続的に搬送され
ると、分離手段によりチップ状電子部品を１個ずつ分離
し、続いてチップ状電子部品の電気的特性を測定し、こ
の測定結果に基づき、良、不良のチップ状電子部品に選
別することができる。このようにチップ状電子部品を直
線状に搬送する間に分離して電気的特性を測定するの
で、電気絶縁性が要求されるディスクを用いる必要がな
い。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
図面を参照しながら説明する。まず、本発明の第１の実
施形態について説明する。図１ないし図１５は本発明の
第１の実施形態におけるチップ状電子部品の自動選別装
置を示し、図１は一部破断正面図、図２は平面図、図３
は分離部の一部側面図、図４は測定部の一部破断側面
図、図５〜図１５は動作説明図である。

【００１９】本実施形態においては、チップ状電子部品
としてチップ状抵抗器Ｒを用い、抵抗値が良品であるチ
ップ状抵抗器Ｒをテーピング工程へ供給する場合につい
て説明する。チップ状抵抗器Ｒはセラミック（アルミ
ナ）から成る抵抗素体ｒ１の短辺側の両側に電極ｒ２が
設けられている（図５参照）。

【００２０】図１ないし図４に示すように、基板１上に
絶縁材製の底面案内部材２が設けられ、基板１上に底面
案内部材２の両側部で所望の間隔を置いて絶縁材製の側
面案内部材３が設けられ、これら側面案内部材３上に跨
って絶縁材製の上面案内部材４、５が直列状に所望間隔
を存して設けられ、これら底面案内部材２、側面案内部
材３および上面案内部材４、５に囲まれた直線状の搬送
路６が形成されている。搬送路６にはパーツフィーダ
（図示省略）からの吐出圧力と後述する真空ポンプ（図
示省略）によるチップ状抵抗器Ｒの搬送方向下流側から
の吸引力により矢印Ｘで示すようにチップ状抵抗器Ｒが
一方の電極ｒ２側を前にして直線状で連続的に搬送され
る（図５〜図１５参照）。各上面案内部材４、５はその
基部が底板１上の支持台７、８に軸９、１０により上下
方向に回動可能に支持され、上方へ回動されることによ
り搬送路６が開放されて目詰り状態のチップ状抵抗器Ｒ
を除去することができるようになっている。各案内部材
４、５は支持台７、８にボルト１１、１２により離脱可
能に固定された押さえ部材１３、１４により下方へ回動
して搬送路６を閉塞した位置に固定状態に保持されてい
る。

【００２１】搬送路６の途中にはチップ状抵抗器Ｒの搬
送方向に沿ってチップ状抵抗器Ｒを１個ずつ分離する分
離手段１５と、分離されたチップ状抵抗器Ｒの抵抗値を
測定する測定手段１６と、測定されたチップ状抵抗器Ｒ
の良、不良を選別する選別手段１７と、上記測定手段１
６と同様の測定手段１８と、上記選別手段１７と同様の
選別手段１９が順次配置されている。すなわち、測定手
段１６、１８と選別手段１７、１９が二段に配置されて
チップ状抵抗器Ｒの測定、選別精度が高められるように
なっている。

【００２２】分離手段１５について説明すると、搬送路
６の途中でチップ状抵抗器Ｒの前側に係合してその前進
を規制する第１のストッパ２０が上面案内部材４に垂直
方向に形成された穴２１に垂直方向で摺動可能に支持さ
れている。第１のストッパ２０の基部大径段部と穴２１
の下端小径部との間に圧縮ばね２２が介在され、この圧
縮ばね２２の弾性により第１のストッパ２０が後方（上
方）へ付勢されている。基板１には第２のストッパ２３
が設けられる。この第２のストッパ２３は第１のストッ
パ２０により先頭のチップ状抵抗器Ｒの前進を規制した
状態で、搬送方向上流側の２番目に位置するチップ状抵
抗器Ｒを上面案内部材４、５に押し付けてその前進を規
制することができるように配置され、緩衝機能を有する
ように構成される。すなわち、第２のストッパ２３はシ
リンダにピストン状部が伸縮可能に支持されるととも
に、衝撃吸収用のばね（図示省略）が介挿されている。
この第２のストッパ２３は基板１に垂直方向に形成され
た穴２４に垂直方向で摺動可能に支持されている。第２
のストッパ２３の基部大径段部と穴２４の上端小径部と
の間には圧縮ばね２５が介在され、この圧縮ばね２５の
弾性により第２のストッパ２３が後方（下方）へ付勢さ
れている。

【００２３】上面案内部材４と基板１には垂直方向に対
向して穴２６と２７が形成され、各穴２６と２７に作動
軸２８と２９が軸受３０と３１を介し、垂直方向に移動
可能に支持され、作動軸２８の下端面と作動軸２９の上
端面とが当接されている。基板１の下側には支持フレー
ム３２が固定され、この支持フレーム３２にはソレノイ
ド３３が支持され、ソレノイド軸３４が作動軸２９の下
端に連結されている。上面案内部材４には作動軸２８の
外周において大径穴３５が形成されている。大径穴３５
内において作動軸２８に棒状の連係部材３６の基部が連
結され、連係部材３６の先端部に第１のストッパ２０の
上端面が圧縮ばね２２の弾性により当接され、作動軸２
８と第１のストッパ２０が連係部材３６を介して一体的
に移動し得るようになっている。作動軸２９の基部には
基板１の下方で円板状の連係部材３７が一体に設けら
れ、連係部材３７の外周部に第２のストッパ２３の下端
面が圧縮ばね２５の弾性により当接され、作動軸２９と
第２のストッパ２３が連係部材３７を介して一体的に移
動し得るようになっている。作動軸２８の外周におい
て、連係部材３６と上面案内部材４の上端部との間に復
帰用の圧縮ばね３８が介在され、この圧縮ばね３８の弾
性は圧縮ばね２２の弾性よりも強くなるように設定され
ている。したがって、圧縮ばね３８の弾性により作動軸
２８、第１のストッパ２０等が圧縮ばね２２の弾性に抗
して下方へ付勢され、作動軸２８の下端面が作動軸２９
の上端面に押圧され、一体的に移動し得るようになって
いる。

【００２４】そして、ソレノイド３３の励磁によりソレ
ノイド軸３４、作動軸２９、２８、第２のストッパ２３
が圧縮ばね３８の弾性に抗して上昇して第２のストッパ
２３が搬送路６内に前進するとともに、第１のストッパ
２０が第２のストッパ２３の上昇に少し遅れて圧縮ばね
２２の弾性により上昇し、搬送路６外に後退する（図
６、７、９、１０、１２、１３、１５参照）。これとは
逆に、ソレノイド３３の消磁により作動軸２８、２９、
第１のストッパ２０が圧縮ばね３８の弾性により圧縮ば
ね２２の弾性に抗して下降して第１のストッパ２０が搬
送路６内に前進するとともに、第２のストッパ２３が第
１のストッパ２０の下降に少し遅れて圧縮ばね２５の弾
性により下降し、搬送路６外に後退する。（図５、８、
１１、１４参照）。

【００２５】測定手段１６と１８は同様の構成であるの
で、同一部分には同一符号を付して説明する。搬送路６
の途中でチップ状抵抗器Ｒの前進を規制するストッパ４
０が上面案内部材４、５に垂直方向に形成された穴４１
に垂直方向で摺動可能に支持されている。ストッパ４０
の基部大径段部と穴４１の下端小径部との間に圧縮ばね
４２が介在され、この圧縮ばね４２の弾性によりストッ
パ４０が後方（上方）へ付勢されている。上面案内部材
４、５上には支持フレーム４３が固定され、支持フレー
ム４３にはソレノイド４４が支持されている。ソレノイ
ド軸４５の基部と支持フレーム４３の上端部との間には
圧縮ばね４６が介在され、圧縮ばね４６の弾性によりソ
レノイド軸４５が下方へ押圧され、ソレノイド軸４５の
下端面がストッパ４０の上端面に当接されている。圧縮
ばね４６の弾性が圧縮ばね４２の弾性より強くなるよう
に設定されている。そして、ソレノイド４４が励磁され
ることによりソレノイド軸４５が圧縮ばね４６の弾性に
抗して後退（上昇）され、これに伴い、ストッパ４０が
圧縮ばね４２の弾性に抗して上昇して搬送路６外に後退
する（図１２、１５参照）。これとは逆に、ソレノイド
４４の消磁によりソレノイド軸４５が圧縮ばね４６の反
撥弾性により前進（下降）され、これに伴い、ストッパ
４０が圧縮ばね４２の弾性に抗して下降して搬送路６内
に突出されるようになっている（図５〜図１１、図１
３、１４参照）。

【００２６】ストッパ４０に対するチップ状抵抗器Ｒの
搬送方向の上流側で、ストッパ４０から２番目のチップ
状抵抗器Ｒの抵抗値を測定する４本の測定端子４７が設
けられる。各一対の測定端子４７がチップ状抵抗器Ｒの
前後の電極ｒ２に当接し得るように配置され、その基部
がホルダ４８に固定されている。一方、基板１の下側に
は支持フレーム４９が固定され、支持フレーム４９に垂
直方向で固定された案内軸５０に可動台５１が軸受５２
を介して昇降可能に支持され、この可動台５１にホルダ
４８が一体に昇降し得るように連結されている。

【００２７】支持フレーム４９にはソレノイド５３が支
持され、ソレノイド軸５４が可動台５１に連結されてい
る。支持フレーム４９の上面板から支持軸５５が下垂さ
れ、その下部が可動台５１の中央部に凹入された大径の
ばね受け穴５６の上部に挿入され、支持軸５５の外周と
ばね受け穴５６の内周に嵌装された衝撃吸収用の圧縮ば
ね５７が支持フレーム４９の上面板の下面とばね受け穴
５６の底面との間に介在されている。そして、ソレノイ
ド５３の励磁によりソレノイド軸５４、可動台５１、ホ
ルダ４８および測定端子４７が上昇されることにより、
測定端子４７の先端が基板１および底面案内部材２の切
除部に取り付けられたプラスチック等の絶縁材５８の穴
(図示省略)に挿通され、チップ状抵抗器Ｒの前後両側の
電極ｒ２に圧接されてチップ状抵抗器Ｒを固定状態に保
持し、４端子測定法により抵抗値を測定することができ
るようになっている（図１１、１２、１４、１５参
照）。このとき、衝撃吸収用の圧縮ばね５７によりチッ
プ状抵抗器Ｒの損傷および測定端子４７の損傷を防止す
ることができる。これとは逆に、ソレノイド５３の消磁
によりソレノイド軸５４、可動台５１、ホルダ４８およ
び測定端子４７が下降されることにより、測定端子４７
がチップ状抵抗器Ｒを解放するようになっている（図５
〜図１０、図１３参照）。

【００２８】選別手段１７と１９は同様の構成であるの
で、同一部分には同一符号を付して説明する。基板１の
下面には支持部材６０が固定され、支持部材６０の穴６
１と基板１の穴６２内にディスク軸６３が軸受６４を介
して回転可能に支持され、ディスク軸６３の上方突出部
には選別用ディスク６５が一体に回転し得るように設け
られている。選別用ディスク６５は耐摩耗性に優れた金
属等の非電気的絶縁材料、特に好ましくは超硬合金によ
り形成され、外周に等分割位置で複数の収納部６６（図
２、図１２参照）が切欠により形成されている。搬送路
６を除く選別用ディスク６５の外周部にはガイド６７が
設けられ、選別用ディスク６５の外周部上にはチップ状
抵抗器Ｒの飛び出し防止用の蓋６８が設けられている。
支持部材６０の下端部にはステッピングモータ６９が支
持され、その出力軸７０がカップリング７１によりディ
スク軸６３に連結されている。そして、ステッピングモ
ータ６９の駆動により出力軸７０、ディスク軸６３、選
別用ディスク６５等が間歇回転される。

【００２９】測定手段１６、１７のストッパ４０よりも
チップ状抵抗器Ｒの搬送方向下流側で、選別用ディスク
６６の外周部下側に位置して基板１に吸引穴７２が形成
されている。吸引穴７２の上部は選別用ディスク６５の
外周部、すなわち、収納部６６の下方に位置して底面案
内部材２に形成された小穴７３に対応され、下部が真空
ポンプ（図示省略）に連通されている。そして、真空ポ
ンプの駆動により吸引穴７２、小穴７３および収納部６
６を介して吸引し、ストッパ４０から解放されたチップ
状抵抗器Ｒを収納部６６に収納することができるように
なっている。したがって、収納部６６に収納されたチッ
プ状抵抗器Ｒは上記のように選別用ディスク６５が間歇
回転されることにより、底面案内部材２上をガイド６
７、蓋６８により離脱防止されて搬送される。

【００３０】選別用ディスク６５におけるチップ状抵抗
器Ｒの供給位置と排出位置（回転方向下流側の搬送路６
位置）の中間部外周部に位置して基板１に吸引、排気穴
７４が形成されている。吸引、排気穴７４の上部は選別
用ディスク６５の外周部、すなわち、収納部６６の下方
に位置して底面案内部材２に形成された小穴７５に対応
され、下部が二股管を介して真空ポンプとコンプレッサ
（共に図示省略）に連通されている。そして、上記のよ
うに搬送されるチップ状抵抗器Ｒの抵抗値が良好である
場合には、真空ポンプの駆動により吸引、排気穴７４、
小穴７５を介して収納部６６内のチップ状抵抗器Ｒを吸
引状態に保持し、チップ状抵抗器Ｒの抵抗値が不良であ
る場合には、コンプレッサの駆動により吸引、排気穴７
４、小穴７５を介して収納部６６内にエアを噴出させ、
収納部６６内のチップ状抵抗器Ｒを外部に排出させるよ
うになっている。

【００３１】後段の選別手段１９における選別用ディス
ク６５における良好なチップ状抵抗器Ｒの排出側にはテ
ーピング用の装填テープＴが駆動手段（図示省略）によ
り底面案内部材２の下面に位置して水平方向に走行され
る。装填テープＴは装填凹所ｔ１と送り穴ｔ２が列設さ
れ、送り穴ｔ２は装填テープＴの走行に利用される。選
別用ディスク６５における良好なチップ状抵抗器Ｒの排
出側上方には装填装置７６が設けられる。この装填装置
７６の一例について説明すると、基板７７に装填ピン７
８が軸受７９を介して垂直方向に移動可能に支持され、
装填ピン７８は基部の大径段部と基板７７との間に介在
された圧縮ばね８０により後退方向（上方）へ付勢され
ている。装填ピン７８は基部から先端に開放される穴
（図示省略）が形成され、穴の基部側が基板７７上に支
持された真空ポンプ（図示省略）とホース８２により連
通されている。基板７７上には支持台８３が固定され、
支持台８３にはソレノイド８４が支持され、ソレノイド
軸８５の下端面が装填ピン７８の上端面に当接されてい
る。

【００３２】したがって、真空ポンプが駆動している状
態でソレノイド８４の励磁によりソレノイド軸８５が前
進（下降）し、これに伴い、装填ピン７８が圧縮ばね８
０の弾性に抗して前進（下降）することにより、収納部
６６に収納されているチップ状抵抗器Ｒを吸着状態に保
持して底面案内部材２の穴８６から装填テープＴの装填
凹所ｔ１に装填することができる。これとは逆に、ソレ
ノイド８４の消磁によりソレノイド軸８５が後退（上
昇）し、これに伴い、装填ピン７８が圧縮ばね８０の弾
性に抗して後退（上昇）するようになっている。

【００３３】以上の構成において、以下、その動作につ
いて図５〜図１５を参照しながら説明する。まず、図５
に示すように、分離手段１５の第１のストッパ２０を上
記のようにソレノイド３３の消磁による圧縮ばね３８の
弾性により搬送路６内に前進させ、パーツフィーダの吐
出圧力により矢印Ｘで示すように搬送路６内を連続状態
で搬送される状チップ状抵抗器Ｒのうち、先頭のチップ
状抵抗器Ｒの先端面に係合して停止させる。次に、図６
に示すように、ソレノイド３３の励磁により第２のスト
ッパ２３を前進させて２番目のチップ状抵抗器Ｒを上面
案内部材４に押圧して停止させる。このとき、内蔵され
た衝撃吸収用のばねによりチップ状抵抗器Ｒの損傷を防
止することができる。第２のストッパ２３が前進する
際、圧縮ばね３８を圧縮させるのに伴い、第１のストッ
パ２０が圧縮ばね２２の反撥弾性により第２のストッパ
２３の前進よりタイミングが少し遅れて図７に示すよう
に後退し、先頭のチップ状抵抗器Ｒを解放する。これと
同時に、第１段目の測定手段１６のストッパ４０をソレ
ノイド４４の励磁により搬送路６内に前進させる。これ
に伴い、吸引穴７２、小穴７３および収納部６６を介し
て吸引されている先頭のチップ状抵抗器Ｒを前進させ、
ストッパ４０に係合させて停止させる。

【００３４】次に、図８に示すように、ソレノイド３３
の消磁による圧縮ばね３８の弾性により第１のストッパ
２０を搬送路６内に前進させ、第２のストッパ２３を圧
縮ばね２５の反撥弾性により第１のストッパ２０の前進
よりタイミングを少し遅らせて後退させ、２番目のチッ
プ状抵抗器Ｒを解放する。これに伴い、２番目のチップ
状抵抗器Ｒを後続のチップ状抵抗器Ｒにより前進させ、
第１のストッパ２０により停止させる。次に、図９に示
すように、ソレノイド３３の励磁により第２のストッパ
２３を前進させて３番目のチップ状抵抗器Ｒを上面案内
部材４に押圧して停止させる。上記と同様に、第１のス
トッパ２０が第２のストッパ２３の前進よりタイミング
が少し遅れて図１０に示すように後退し、２番目のチッ
プ状抵抗器Ｒを解放する。これに伴い、上記と同様に、
２番目のチップ状抵抗器Ｒを吸引による前進させ、スト
ッパ４０により停止されている１番目のチップ状抵抗器
Ｒに続いて停止させる。

【００３５】次に、図１１に示すように、ソレノイド３
３の消磁による圧縮ばね３８の弾性により第１のストッ
パ２０を搬送路６内に前進させ、第２のストッパ２３を
第１のストッパ２０の前進よりタイミングを少し遅らせ
て後退させ、３番目のチップ状抵抗器Ｒを解放する。こ
れに伴い、３番目のチップ状抵抗器Ｒを後続のチップ状
抵抗器Ｒにより前進させ、第１のストッパ２０により停
止させる。この間、測定手段１６の測定端子４７をソレ
ノイド５３の励磁により圧縮ばね５７の弾性に抗して前
進させ、２番目のチップ状抵抗器Ｒの前後の電極ｒ２を
押圧し、上面案内部材４に押し付けて停止させた状態で
抵抗値を測定する。

【００３６】次に、図１２に示すように、ソレノイド３
３の励磁により第２のストッパ２３を前進させて４番目
のチップ状抵抗器Ｒを上面案内部材４に押圧して停止さ
せる。上記と同様に、第１のストッパ２０が第２のスト
ッパ２３の前進よりタイミングが少し遅れて図１３に示
すように後退し、３番目のチップ状抵抗器Ｒを解放す
る。この間、図１２に示すように、測定手段１６のスト
ッパ４０をソレノイド４４の消磁に伴う圧縮ばね４２の
反撥弾性により搬送路６外に後退させ、１番目のチップ
状抵抗器Ｒを解放して吸引により選別用ディスク６５に
おける搬送路６に一致している収納部６６に収納させ
る。続いてソレノイド４４の励磁によりストッパ４０を
圧縮ばね４２の弾性に抗して図１２に示すように搬送路
６内に前進させる。これに同時に、ソレノイド５３の消
磁に伴う圧縮ばね５７の反撥弾性により測定端子４７を
後退させ、２番目のチップ状抵抗器Ｒを解放する。これ
に伴い、図１３に示すように、２番目のチップ状抵抗器
Ｒは吸引により前進してストッパ４０により停止し、３
番目のチップ状抵抗器Ｒも上記のように第１のストッパ
２０から解放されているので、吸引により前進して２番
目のチップ状抵抗器Ｒに続いて停止する。このように測
定端子４７によりチップ状抵抗器Ｒを上面案内部材４に
押圧した固定状態で抵抗値を測定するが、このとき、後
続のチップ状抵抗器Ｒは第１のストッパ２０により停止
されており、測定端子４７に対して後方から加わるおそ
れはないので、折損等を防止することができる。

【００３７】次に、図１４に示すように、ソレノイド３
３の消磁による圧縮ばね３８の弾性により第１のストッ
パ２０を搬送路６内に前進させ、第２のストッパ２３を
第１のストッパ２０の前進よりタイミングを少し遅らせ
て後退させ、４番目のチップ状抵抗器Ｒを解放する。こ
れに伴い、４番目のチップ状抵抗器Ｒを後続のチップ状
抵抗器Ｒにより前進させ、第１のストッパ２０により停
止させる。この間、測定手段１６の測定端子４７をソレ
ノイド５３の励磁により圧縮ばね５７の弾性に抗して前
進させ、３番目のチップ状抵抗器Ｒの前後の電極ｒ２を
押圧し、上面案内部材４に押し付けて停止させた状態で
抵抗値を測定する。

【００３８】次に、図１５に示すように、ソレノイド３
３の励磁により第２のストッパ２３を前進させて５番目
のチップ状抵抗器Ｒを上面案内部材４に押圧して停止さ
せる。この間、測定手段１６のストッパ４０をソレノイ
ド４４の消磁に伴う圧縮ばね４２の反撥弾性により搬送
路６外に後退させ、２番目のチップ状抵抗器Ｒを解放し
て吸引により選別用ディスク６５における搬送路６に一
致している収納部６６に収納させる。

【００３９】以下、上記動作を繰り返すことにより、搬
送路６を連続的に直線上に搬送されるチップ状抵抗器Ｒ
を順次１個ずつに分離して抵抗値を測定することができ
る。測定後、間歇回転する選別用ディスク６５の収納部
６６に収納されたチップ状抵抗器Ｒは選別用ディスク６
５の間歇回転に伴い、下流側に順次搬送される。この
間、抵抗値が良好（正常）なチップ状抵抗器Ｒは底面案
内部材２の小穴７５の位置をそのまま通過し、下流側の
搬送路６に対応すると、上記と同様に、下流側から吸引
されて搬送路６を下流側の第２段目の測定手段１８へ搬
送される。一方、抵抗値が不良なチップ状抵抗器Ｒは底
面案内部材２の小穴７５の位置に到達すると、上記のよ
うにエアが噴出して収納部６６外へ排出される。

【００４０】第１段目の測定手段１６と選別手段１７を
通過したチップ状抵抗器Ｒは第２段目の測定手段１８と
選別手段１９により上記と同様の測定作業と選別作業が
行われる。そして、選別後の良好なチップ状抵抗器Ｒが
装填テープＴに対する装填位置まで間歇的に搬送される
と、上記のように装填装置７６の駆動により底面案内部
材２の穴８６から装填テープＴの装填凹所ｔ１に順次装
填される。

【００４１】次に、本発明の第２の実施形態について説
明する。図１６および図１７は本発明の第２の実施形態
におけるチップ状電子部品の自動選別装置に用いる選別
手段の平面図および縦断面図である。

【００４２】図１６および図１７に示すように、チップ
状抵抗器Ｒを直線状に搬送する選別用搬送路８７が搬送
路６を延長するように設けられている。選別用搬送路８
７の途中には基板１および底面案内部材２に選別用搬送
路８７に連通するように排出口８８が形成され、基板１
には排出口８８を開閉し得るゲート８９が摺動可能に支
持されている。基板１には排出口８８の開放時にこの排
出口８８に連通する吸引穴９０が形成されている。吸引
穴９０の垂直部に吸引パイプ９１の一端が挿入されて固
定され、吸引パイプ９１の他端は真空ポンプ（図示省
略）に連通されている。その他の構成については上記第
１の実施形態と同様である。

【００４３】そして、上記第１の実施形態と同様にチッ
プ状抵抗器Ｒが１個ずつに分離、測定されて選別用搬送
路８７に送られる。ここで、測定結果が良好なチップ状
抵抗器Ｒの場合には、排出口８８がゲート８９により閉
塞されたままとなって排出口８８を下流側に通過し、次
工程へ搬送される。一方、測定結果が不良なチップ状抵
抗器Ｒの場合には、ゲート８９が駆動装置（図示省略）
により下降されて排出口８８が開放され、真空ポンプの
駆動により吸引パイプ９１および吸引穴９０が負圧にな
っているので、排出口８８から吸引穴９０、吸引パイプ
９１を経て選別用搬送路８７外へ排出されるようになっ
ている。

【００４４】なお、上記各実施形態ともに分離、測定、
選別の所望の工程でチップ状抵抗器Ｒの表裏や割れ（欠
け）などを検出する手段を設け、逆向きの場合や割れ
（欠け）の場合などには不良品として選別手段により装
置外に排出するようにしてもよい。また、上記第２の実
施例における吸引穴９０、吸引パイプ９１を排気穴、排
気パイプに替え、この排気パイプをコンプレッサに連通
し、測定結果が不良なチップ状抵抗器Ｒの場合には、ゲ
ート８９を下降させ、排気パイプ、排気穴を介して排出
口８８からエアを排出してチップ状抵抗器Ｒを選別用搬
送路８７の上方（外方）へ排出するようにしてもよい。
このほか、本発明は、その基本的技術思想を逸脱しない
範囲で種々設計変更することができる。

【００４５】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、チ
ップ状電子部品が搬送路を直線状で連続的に搬送される
と、分離手段によりチップ状電子部品を１個ずつ分離
し、続いてチップ状電子部品の電気的特性を測定し、こ
の測定結果に基づき、良、不良のチップ状電子部品に選
別することができる。このようにチップ状電子部品を直
線状に搬送する間に分離して電気的特性を測定するの
で、電気絶縁性が要求されるディスクを用いる必要がな
い。したがって、低コスト化を図ることができるととも
に、チップ状電子部品の製造効率の向上、ランニングコ
ストの低下等を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態におけるチップ状電子
部品の自動選別装置を示す一部破断正面図である。

【図２】同自動選別装置を示す平面図である。

【図３】同自動選別装置の分離部を示す一部側面図であ
る。

【図４】同自動選別装置の測定部を示す一部破断側面図
である。

【図５】同自動選別装置の動作説明図である。

【図６】同自動選別装置の動作説明図である。

【図７】同自動選別装置の動作説明図である。

【図８】同自動選別装置の動作説明図である。

【図９】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１０】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１１】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１２】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１３】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１４】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１５】同自動選別装置の動作説明図である。

【図１６】本発明の第２の実施形態におけるチップ状電
子部品の自動選別装置に用いる選別手段を示す平面図で
ある。

【図１７】同選別装置を示す縦断面図である。

【符号の説明】

６搬送路１５分離手段１６測定手段１７選別手段１８測定手段１９選別手段２０第１のストッパ２３第２のストッパ３３ソレノイド４０ストッパ４４ソレノイド４７測定端子５３ソレノイド６５選別用ディスク６６収納部６９ステッピングモータ７２吸引穴７４吸引、排気穴７６装填装置Ｒチップ状抵抗器Ｔ装填テープ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者小島智幸東京都新宿区市谷本村町３番26号正和産業株式会社内 (72)発明者吉沢誠二東京都新宿区市谷本村町３番26号正和産業株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】チップ状電子部品を直線状に搬送する搬
送路と、この搬送路の途中で、連続状態で搬送されてい
るチップ状電子部品を１個ずつ分離する分離手段と、こ
の分離手段により分離されて上記搬送路を下流側に搬送
されるチップ状電子部品を停止させて電気的特性を測定
し、測定後、チップ状電子部品を解放する測定手段と、
この測定手段の測定結果に基づき良、不良のチップ状電
子部品に選別する選別手段とを備えたチップ状電子部品
の自動選別装置。
【請求項２】測定手段および選別手段が複数段に配置
された請求項１記載のチップ状電子部品の自動選別装
置。
【請求項３】分離手段が、搬送路の途中で進退可能に
設けられ、前進位置で上記搬送路を搬送されるチップ状
電子部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部品を解
放する第１のストッパと、この第１のストッパに対する
チップ状電子部品の搬送方向の上流側で進退可能に設け
られ、前進位置で上記搬送路を搬送されるチップ状電子
部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部品を解放す
る第２のストッパと、上記第１のストッパがチップ状電
子部品を解放する前に上記第２のストッパを前進させ、
上記第１のストッパがチップ状電子部品を停止した後に
上記第２のストッパを後退させる駆動装置とを備えた請
求項１または２記載のチップ状電子部品の自動選別装
置。
【請求項４】測定手段が、搬送路の途中で進退可能に
設けられ、前進位置で上記搬送路を搬送されるチップ状
電子部品を停止させ、後退位置でチップ状電子部品を解
放するストッパと、このストッパを進退させる駆動装置
と、上記ストッパに対するチップ状電子部品の搬送方向
の上流側で進退可能に設けられ、前進位置で上記搬送路
を搬送されるチップ状電子部品を停止させ、後退位置で
チップ状電子部品を解放し、上記チップ状電子部品の停
止状態でその電気的特性を測定するための測定端子と、
上記ストッパがチップ状電子部品を解放する前に上記測
定端子を前進させ、上記ストッパがチップ状電子部品を
停止した後に上記測定端子を後退させる駆動装置とを備
えた請求項１ないし３のいずれかに記載のチップ状電子
部品の自動選別装置。
【請求項５】選別手段が、外周にチップ状電子部品を
収納する複数の収納部を均等割位置に有し、耐摩耗性を
有する非電気的絶縁材から成る選別用ディスクと、この
選別用ディスクを間歇的に回転させる駆動装置と、上記
選別用ディスクの外周部に設けられ、電気的特性の測定
結果が良好なチップ状電子部品を通過させ、不良のチッ
プ状電子部品を上記選別用ディスクから排出する選別用
排出装置とを備えた請求項１ないし４のいずれかに記載
のチップ状電子部品の自動選別装置。
【請求項６】選別用ディスクが超硬合金から成る請求
項５記載のチップ状電子部品の自動選別装置。
【請求項７】選別手段が、搬送路を延長するように設
けられ、チップ状電子部品を直線状に搬送する選別用搬
送路と、この選別用搬送路の途中に設けられ、電気的特
性の測定結果が良好なチップ状電子部品を通過させ、不
良のチップ状電子部品を上記選別用搬送路から排出する
選別用排出装置とを備えた請求項１ないし４のいずれか
に記載のチップ状電子部品の自動選別装置。
【請求項８】選別用排出装置が、選別用搬送路の途中
に設けられた排出口と、この排出口を開閉するゲート
と、電気的特性の測定結果が良好なチップ状電子部品を
通過させるように上記ゲートを閉塞位置に移動させた状
態に保持し、不良のチップ状電子部品を排出させるよう
に上記ゲートを開放位置に移動させる駆動装置と、不良
のチップ状電子部品を開放された排出口から吸引して排
出する吸引装置とを備えた請求項７記載のチップ状電子
部品の自動選別装置。