JPH0933836A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JPH0933836A
JPH0933836A JP18554195A JP18554195A JPH0933836A JP H0933836 A JPH0933836 A JP H0933836A JP 18554195 A JP18554195 A JP 18554195A JP 18554195 A JP18554195 A JP 18554195A JP H0933836 A JPH0933836 A JP H0933836A
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JP
Japan
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light
light source
scanning device
scanning direction
optical scanning
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Withdrawn
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JP18554195A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Akatsu
和宏 赤津
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Koki Holdings Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Koki Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】光入射光学系のビーム幅の比率を変えること
で、走査するビームスポットの走査方向と副走査方向の
大きさの比率を変え、結果的に印刷する線幅の走査方向
と副走査方向の太さの比率を変える。 【解決手段】レーザ等の光源1と、コリメータレンズ2
と、シリンダレンズ3からなる回転多面鏡4への光入射
光学系と、回転多面鏡4、Fθ1レンズ5、Fθ2レン
ズ6、感光体8からなる走査光学系からなり、光入射光
学系の中に変形可能な、ビーム整形手段をいれるか、光
の拡がりが楕円の半導体レーザ等の光源1を光軸を中心
として回転させられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザビームプリン
タ、コピー装置等に使用される光走査装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来の光走査装置の図である。
従来の光走査装置の問題点は、走査するビームスポット
径の大きさが固定であり、自由に変られないということ
である。印刷する走査方向の線幅と副走査方向の線幅の
比率が何らかの原因で所定の値に成っていない場合に、
従来は、この対策ができない構造であった。従来の光走
査装置は、レーザ等の光源1から発生した光は、コリメ
ータレンズ2によって平行光にされ、そのあとシリンダ
レンズ3によって、副走査方向のみ回転多面鏡4上へ絞
り込まれる。この回転多面鏡4によって偏向走査された
光は、5と6のFθレンズを通り、感光体8上へ光を結
像させるような構成になっている。この感光体上のスポ
ット9の大きさについて以下に詳しく説明する。
【0003】走査方向のスポット径aは、Fθレンズ
5、6の焦点距離Fと、回転多面鏡4へ入射させる光の
走査方向のビーム幅Aと、光源の波長λと、円周率πで
表され、式(1)の様になる。 a=4λF/πA ・・・ (1) 一方、副走査方向のスポット径bは、Fθレンズ5、6
の横倍率をm、シリンダレンズ3直前の光の副走査方向
のビーム幅をB、シリンダレンズ3の焦点距離をfとす
ると、式(2)のように表せる。 b=4λfm/πB ・・・ (2) 印刷される線幅は、スポット径に影響を受ける。特に走
査方向の線幅は、図3のように副走査方向スポット径b
の大きさにそのまま対応する。副走査方向の線幅は図4
のようになり、1ドットを感光体上に書く時間で走査す
る距離をcとすると、副走査方向線幅は、(a+c)と
なる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の光走査装置で
は、λ、F、Aが変えられないので、走査方向スポット
径aを変えることができなかった。よって、副走査方向
の線幅はcの値を変えて行っていた。この場合、線幅を
小さくしようと、cの値を小さくしていくと感光体へ光
を照射する時間が減り、全体の光の量が減ってしまうこ
とになる。そのため、感光体全面に光を照射する場合な
どに、充分感光体上へ光を当てることができなくなるの
で、印刷濃度が低下してしまい問題となっていた。同様
に、従来の光走査装置では、λ、f、m、Bが変えられ
ないので、副走査方向スポット径bを変えることができ
なったので、走査方向線幅を変えることができなかっ
た。
【0005】レーザビームプリンタ等の印刷品質を高め
るにあたり、印刷品質の一つである線幅、特に走査方向
線幅と副走査方向線幅の比率をそろえるということが、
重要な課題となっており、また走査方向と副走査方向の
線幅の比率を自由に変えたいという要求もあるので、本
発明はこれを実現させるものである。
【0006】本発明の目的は、従来構成の光走査装置で
はできなかった印刷品質の一つである線幅の比率を変え
ることを可能にすることである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、レーザ等
の光源と、そこから発生する光をコリメートするコリメ
ータレンズと、そこから出た光を副走査方向にのみ絞り
回転多面鏡上に結像するように配置したシリンダレンズ
と、その光を偏向走査する回転多面鏡と、その偏向され
た光を、感光体上の所定の位置に結像させるFθレンズ
からなる光走査装置において、光源と回転多面鏡の間に
調整可能なビーム整形素子を設けることにより達成され
る。
【0008】
【作用】レーザ等の光源と、回転多面鏡の間に光を光軸
を中心として回転させる素子をいれるか、半導体レーザ
等の光源そのものを光軸を中心として回転できるように
しているので、回転多面鏡へいれるビームの幅を変えら
れるので、走査面上での光スポット径を変えることがで
き、結果的に、走査方向の線幅と副走査方向の線幅の比
率を自由に設定することができるようになる。
【0009】
【実施例】本発明による実施例を図1に示す。図1にお
いて、1はレーザ等の光源で光の拡がりが楕円であるも
ので、ここから発生した光は、そのあとのコリメータレ
ンズ2を通ったあと光は平行光に変えられる。この光は
シリンダレンズ3によって、回転多面鏡4の反射面上に
副走査方向のみ絞り込まれる。そして、この光は回転多
面鏡4にて偏向走査され、Fθレンズ5、6によって感
光体8上に絞り込まれる。
【0010】本発明の第1の実施例では、図1のように
半導体レーザ等の光源本体を矢印12の様に回転できる
ように構成しており、回転多面鏡へいれるビームの幅を
変えられるので、感光体8上でのビームスポット9を変
えることができ、印刷線幅を変えられるようにしてい
る。これについて以下に詳しく説明する。図5は、半導
体レーザ等の光源の近くを示した図である。図5のよう
に楕円の拡がりを持つ半導体レーザ等の光源1の光をコ
リメータレンズ2でコリメートした直後の光の走査方向
のビーム幅をA、副走査方向のビーム幅をBとする。こ
の図では、A>Bとしている。このとき半導体レーザ等
の光源1を図5の矢印13の方向へθだけ回転したとす
る。この時の感光体8上のスポット9を考える。まず、
この時の走査方向のビームスポット径をαとすると、楕
円の光源がθ回転したので、コリメータレンズ2の直後
の光の走査方向の幅はAcosθになる。この後は、従来
の光走査装置と同様になり、Fθレンズ5、6を通っ
て、感光体8上に結像するので、式(3)の様に求めら
れる。ただし、λは光源の光の波長、FはFθレンズの
焦点距離、πは円周率である。 α=4λF/πAcosθ ・・・ (3) 次に、副走査方向について考える。副走査方向のビーム
スポット径をβとすると、半導体レーザ等の光源1がθ
回転したので、コリメータレンズ直後の光の副走査方向
の幅は、(B+Acosθ)になる。このあとは従来と同
じになり、式(4)の様に求められる。 β=4λfm/π(B+Acosθ) ・・・ (4) ただし、fはシリンダレンズの焦点距離、mはFθレン
ズの横倍率である。以上のことから線幅について考える
と走査方向線幅は、走査方向ビーム径と同じβ、副走査
方向線幅は、1ドットを走査する時間で走査される距離
をcとすると、(α+c)と表すことができる。実際に
数値をいれて考えてみる。λ=780nm、F=400
mm、π=3.1415927、A=8mm、B=4m
m、f=100mm、m=3倍、c=10μm、とした
とき、θを0から20度まで変えたときの走査方向線幅
と副走査方向線幅の変化を計算し、その結果を図6に示
す。図6に示すように回転角度θを変えることで、明ら
かに線幅及び線幅の比率を自由に変化させることができ
ることがわかる。
【0011】走査方向と副走査方向のレーザの幅が異な
るレーザ光の回転機構の第1の実施例を図7に示す。図
7のように例えばモータ16を用いて半導体レーザなど
の光源1を保持したホルダ15を回転させる方法であ
る。このときの全体の構成は図1と同じとなる。
【0012】第2の実施例は、図8の様な全体図とな
り、半導体レーザ等の光源1とコリメータレンズ2を一
体化したユニット17全体を矢印18のように回転させ
るようにしたものである。つまり、半導体レーザ等の光
源1とコリメータレンズ2をいっしょに回転させるよう
にしたものである。半導体レーザ等の光源1とコリメー
タレンズ2の距離は敏感なので高精度に調整する必要が
ある。第2の実施例のようにすることにより、半導体レ
ーザ等の光源1とコリメータレンズ2の位置が正しく保
持されたままにしやすくなる。よって、半導体レーザ等
の光源1単体を回転させる場合よりも半導体レーザ等の
光源1とコリメータレンズ2の距離を乱しにくい構成に
なる。この場合も、回転させる機構は、第1の実施例と
同じように、図7のようにモータ等を用いればよく、ビ
ーム回転角と線幅の関係は、第1の実施例のときと同じ
になる。
【0013】第3の実施例は、図9のようにレーザなど
の光源1と回転多面鏡4の間のビームの走査方向と副走
査方向の幅が異なるところにダブプリズム等の光を光軸
を中心として回転させることのできる素子20をいれ、
これを矢印21のように回転させるという方法をとるも
のである。この場合も、回転させる機構は、第1の実施
例と同じように、図7のようにモータ等を用いればよ
く、ビーム回転角と線幅の関係は、第1の実施例のとき
と同じになる。
【0014】第4の実施例は、図10のようにレーザな
どの光源1と回転多面鏡4の間ににスリット22をい
れ、これを矢印23のように回転させるという方法をと
るものである。この場合も、回転させる機構は、第1の
実施例と同じように、図7のようにモータ等を用いれば
よく、ビーム回転角と線幅の関係は、第1の実施例のと
きと同じになる。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば、楕円のビームの回転が
できるので、感光体上のスポットの走査方向の径と副走
査方向の径の比率を変えることができるので、印刷線幅
の比率を自由に変えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図である。
【図2】従来の光走査装置を示す図である。
【図3】走査方向の線幅の説明図である。
【図4】副走査方向の線幅の説明図である。
【図5】半導体レーザ等の光源の近くの様子を示した図
である。
【図6】ビームの回転角度と、線幅の関係を示すグラフ
である。
【図7】半導体レーザ等の光源の回転機構の例を示した
図である。
【図8】本発明の第2の実施例を示す図である。
【図9】本発明の第3の実施例を示す図である。
【図10】本発明の第4の実施例を示す図である。
【符号の説明】
1は光源、2はコリメータレンズ、3はシリンダレン
ズ、4は回転多面鏡、5、6はFθレンズ、8は感光
体、15はホルダ、16はモータ、20は素子、22は
スリットである。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザ等の光源と、そこから発生する光を
    コリメートするコリメータレンズと、そこから出た光を
    副走査方向にのみ絞り回転多面鏡上に結像するように配
    置したシリンダレンズと、その光を偏向走査する回転多
    面鏡と、その偏向された光を、感光体上の所定の位置に
    結像させるFθレンズからなる光走査装置において、光
    源と回転多面鏡の間に調整可能なビーム整形素子を設け
    たことを特徴とする光走査装置。
  2. 【請求項2】前記ビーム整形素子として、光軸中心に回
    転可能なように配置したダブプリズムを用いることを特
    徴とする請求項1記載の光走査装置。
  3. 【請求項3】前記ビーム整形素子として、光軸中心に回
    転可能なように配置したスリットを用いることを特徴と
    する請求項1記載の光走査装置。
  4. 【請求項4】前記ビーム整形素子の回転を、外部から遠
    隔操作可能に設け、印刷を見ながら調整することを特徴
    とする請求項1記載の光走査装置。
  5. 【請求項5】半導体レーザ等の光の拡がりが楕円の光源
    と、そこから発生する光をコリメートするコリメータレ
    ンズと、そこから出た光を副走査方向にのみ絞り、回転
    多面鏡上に結像するように配置したシリンダレンズと、
    その光を偏向走査する回転多面鏡と、その偏向された光
    を感光体上の所定位置に結像させるFθレンズからなる
    光走査装置において、上記光走査装置において、光源が
    光軸中心に回転できるようにすることを特徴とする光走
    査装置。
  6. 【請求項6】前記光源とコリメータレンズを一体にし、
    これ全体を光軸中心に回転できるようにすることを特徴
    とする請求項5記載の光走査装置。
  7. 【請求項7】前記光源の回転を、外部から遠隔操作可能
    に設け、印刷を見ながら調整することを特徴とする請求
    項5記載の光走査装置。
JP18554195A 1995-07-21 1995-07-21 光走査装置 Withdrawn JPH0933836A (ja)

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JP18554195A JPH0933836A (ja) 1995-07-21 1995-07-21 光走査装置

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JP18554195A Withdrawn JPH0933836A (ja) 1995-07-21 1995-07-21 光走査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007047354A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Seiko Epson Corp 光走査装置及び画像表示装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007047354A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Seiko Epson Corp 光走査装置及び画像表示装置
US8040332B2 (en) 2005-08-09 2011-10-18 Seiko Epson Corporation Light scan device and image display device

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Effective date: 20021001