JPH0943306A - 集積回路の検査治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多品種少量生産向けのＩＣの性能検査を手動
で簡易にしかも安全確実に行なうことのできるできるよ
うにした集積回路の検査治具を提供する。 【構成】 検査対象の集積回路が検査位置に固定される
検査台２６と、検査位置にある集積回路のリードと接触
可能な位置に接触子３５が位置する接触式コンダクタ３
４と、集積回路の両側のリードがそれぞれ接触子３５に
対して押圧される方向に弾性体５４により付勢されかつ
揺動自在に支持された一対の揺動クランプ部材３０と、
検査台２６の前後両端部に配設され、前記揺動クランプ
部材３０を開閉可能なように摺接するだ円カム３１と、
このだ円カム３１に連結されるハンドル３２とから構成
される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、各種ＩＣなどの電子デ
バイスについて実施する検査工程で、ＩＣを検査位置に
固定する手動式のＩＣ検査治具に係り、特に、ＩＣの性
能検査を簡易に効率良く実施できるように構成した集積
回路の検査治具に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７に、ＩＣの検査工程に従来から用い
られている手動式の治具を示す。１が検査に供されるＩ
Ｃである。このＩＣ検査用治具２は、押えリング３の上
に脚４、４を介してベースプレート５を水平に支持し、
このベースプレート５の上に一組のソケット６を取り付
けた簡単な構造のものである。ソケット６は、この種の
ＩＣの検査に適用される接触式コンダクタなどの検査装
置に接続され、ＩＣ１のリード１ａを挿入できるように
なっている。検査員は一個、一個のＩＣ１について、手
作業でリード１ａをソケット６に挿入して、所定の性能
検査項目について検査を行ない、検査の終ったＩＣ１を
ソケット６から取り外して次に検査するＩＣをソケット
６に装着するというように、一つ一つ手作業で検査して
いる。

【０００３】このような手動式のＩＣ検査治具は、自動
ＩＣ検査装置に較べて検査治具の構造自体は、極めて簡
素であるから、安価に製作することができ、また、多品
種少量生産向けの集積回路の性能検査に適しているもの
である。他方、最近では、手作業による検査に代えて、
ＩＣの検査を効率良く、自動検査するための自動ＩＣ検
査装置が開発されており、主として、大量生産されるＩ
Ｃの性能検査に用いられている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の手動式の検査治
具では、検査治具のソケットへのＩＣの着脱が煩雑であ
り、効率の悪さが指摘されているとともに、特に、ソケ
ットにＩＣを挿着するときに、ＩＣのリードが曲り易い
という大きな欠点があった。

【０００５】そこで、本発明の目的は、前記従来技術の
有する問題点を解消し、多品種少量生産向けのＩＣの性
能検査を手動で簡易にしかも安全確実に行なうことので
きるできるようにした集積回路の検査治具を提供するこ
とにある。

【０００６】また、本発明の他の目的は、集積回路の手
動による性能検査を効率良く実施できるようにした集積
回路の検査治具を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、検査対象の集積回路が検査位置に固定
される検査台と、検査位置にある集積回路のリードと接
触可能な位置に接触子が位置する接触式コンダクタと、
集積回路の両側のリードがそれぞれ前記接触子に対して
押圧される方向に弾性体により付勢されかつ揺動自在に
支持された一対の揺動クランプ部材と、前記検査台の前
後両端部に配設され、前記揺動クランプ部材を開閉可能
なように摺接するだ円カムと、前記だ円カムに連結され
るハンドルとを具備したことを特徴とするものである。

【０００８】また、前記の目的を達成するために、本発
明は、前記検査台の上流側と下流側に搬入側レールと搬
出側レールとを設け、前記搬出側レール側のだ円カムＩ
集積回路の前端面が当接して検査位置に位置決めされる
ようにだ円カムが検査台から突出するようにだ円カムを
弾性的にフロート支持し、さらに、搬入位置でストッパ
に当接するピンをだ円カムの側面に設けたことを特徴と
するものである。

【０００９】

【作用】請求項１に記載した発明によれば、集積回路を
一個一個手で検査台上に送り込み、ハンドルを操作して
だ円カムを回転させと、だ円カムの短軸が水平になる位
置で、検査台上の集積回路のリードが接触式コンダクタ
の接触子に対して揺動クランプ部材により押し付けられ
るので、集積回路の検査をすることができる。検査が終
了すると、だ円カムの長軸が水平になる位置までハンド
ルを操作することにより、揺動クランプが押し広げら
れ、集積回路を治具から排出することができる。

【００１０】また、請求項２に記載した発明によれば、
検査対象の集積回路を搬入用レールを滑らせて検査台を
兼ねる検査用レールに搬入すると、カムが押上げられ
て、集積回路の前端面を規制して集積回路を検査位置に
位置決める。検査の終了した集積回路を排出するときに
は、だ円カムのピンをストッパに当接させてレバーを押
し下げることにより、集積回路を規制していただ円カム
が下がるので、集積回路を搬出側レールに手で排出する
ことができる。

【００１１】

【実施例】以下、本発明による集積回路の検査治具の一
実施例について添付の図面を参照して説明する。図１
は、実施例による集積回路の検査治具の正面を表わす
図、図２は、同検査治具の平面図、図３はその縦断面構
造を表わした図である。これらの図において、集積回路
の検査治具の全体を符号２０で示す。２１は、押えリン
グであり、ベース２２は、押えリング２１上に平行に取
り付けられているフレーム２３、２３によって支持され
ている。

【００１２】また、フレーム２３、２３の上部には、搬
入側レール２４と、搬出側レール２５が直線上に位置す
るように取り付けられている。この場合、搬入側レール
２４と、搬出側レール２５は、被検査対象のＩＣを乗せ
て手で滑らせることのできるもので、搬入側レール２４
の終端と、搬出側レール２５の先端との間には、ＩＣを
固定する検査台として用いる検査用レール２６と、実施
例の検査治具２０が配設されるようになっている。

【００１３】検査治具２０では、検査対象のＩＣは、搬
入側レール２４から検査用レール２６に挿入されると、
ＩＣの両側にそれぞれあるリードが揺動クランプ板３
０、３０によって各々クランプされるようになってい
る。この揺動クランプ板３０、３０の開閉操作は、検査
用レール２６の前後両端部側に設けられただ円カム３
１、３１をハンドルレバー３２により操作して、手動で
簡単に行なえるように構成されている。

【００１４】次に、図１において、符号３４は、ＩＣ部
品の検査に用いる接触式コンダクタを示している。この
接触式コンダクタ３４からは、検査対象のＩＣの両側か
ら出たリードに対応した一対の接触子３５、３５が立ち
上がるようになっており、この接触子３５、３５には、
検査用レール２６上に位置決めされたＩＣのリードに接
触可能なようになっている。このような接触式コンダク
タ３４は、絶縁板３６によって絶縁されて台３７を介し
て基板３８に取り付けられている。

【００１５】次に、だ円カム３１について説明する。こ
のだ円カム３１は、シャフト４０を回転軸にして回転す
るものであり、ハンドルレバー３２の先端部は、このシ
ャフト４０に連結されている。この実施例では、ベース
２２上に取り付けられた支持板４１には、だ円カム３１
のシャフト４０の末端が遊嵌し、上下の動きを許容でき
るようなガイド孔４２が形成されている。また、シャフ
ト４０は、ブロック４３を介してばね４４によって弾性
的にフロート支持されるようになっており、ばね４４に
よって押上げられると、だ円カム３１の上部は、検査用
レール２６の上面から突出するようになっている。ま
た、図４に示すように、だ円カム３１の側面には、支点
用ピン４５が固着され、この支点用ピン４５には、だ円
カム３１の短軸が略水平になった回転位置で、ストッパ
４６に当接するようになっている。この状態で、ハンド
ルレバー３２を押し下げると、だ円カム３１をばね４４
に抗して押し下げることができる。

【００１６】次に、揺動クランプ板３０、３０は、ピン
５０、５０を支点に揺動できるように側ブロック５１に
取り付けられるものである。この側ブロック５１に穿設
されている長穴５２には、ばねガイド用シャフト５３が
上下に動けるように遊嵌されており、このばねガイド用
シャフト５３の一端は、揺動クランプ板３０に連結され
ている。この場合、揺動クランプ板３０は、常時、揺動
クランプ板３０と、側ブロック５１の間で、前記ばねガ
イドシャフト５３に装着されたばね５４によって、内
側、すなわち検査対象のＩＣ側に付勢され、だ円カム３
１に摺接するように構成されている。なお、５５は、Ｉ
Ｃの浮き上がりを防止する浮き上がり防止板を示す。

【００１７】本実施例は、以上のように構成されるもの
であり、次に、その作用について説明する。図６は、Ｉ
Ｃを検査用レール２６上に搬入できる状態または搬出で
きる状態を示す図で、図５は、検査レール２６上でＩＣ
がクランプされている状態で、この時、クランプされて
いるＩＣについて性能検査が行なわれる。

【００１８】そこで、図３に示すように、搬入側レール
２４の上に一列に並んで待機しているＩＣのうちから、
先頭にあるＩＣを検査員が検査用レール２６の上に片手
で滑らせて挿入できるように、図６において、他方の手
でハンドルレバー３２を押し下げる。このとき、ハンド
ルレバー３２と連結しているだ円カム３１は、その支点
用ピン４５がストッパブロック４６に当接するまで回転
し、だ円カム３１の長軸が水平になるので、図６に示す
ように揺動クランプ板３０、３０は押し広げられる。

【００１９】こうしておいて、ＩＣを検査用レール２６
に滑り込ませてから、ハンドルレバー３２を押し下げる
のをやめると、だ円カム３１がブロック４３とともにば
ね４４の弾性力によって押上げられ、ＩＣの前端面が搬
出側レール２５側のだ円カム３１の位置決め面３１ａに
当接する。こうして位置決めされた状態では、ＩＣの各
リードは、接触式コンダクタ３４の接触子３５、３５と
ピッチが合うようになっている。

【００２０】次に、図１において、ハンドルレバー３２
をさらに時計回りにだ円カム３１の短軸が水平になるま
で回転させる。これにより、図５に示すように、揺動ブ
ロック３０、３０は、接近する方向に閉じ、ばね５４、
５４の弾性力によって接触式コンダクタ３４の接触子３
５、３５をＩＣのリードに押し付け、ＩＣはクランプさ
れる。このあと、接触式コンダクタ３４を使ってＩＣに
通電し、所定の性能検査が行なわれる。

【００２１】ＩＣの性能検査を終了したあとは、ハンド
ルレバー３２を最初の図６の位置まで戻すと、ＩＣのク
ランプ状態は解除される。このとき、ハンドルレバー３
２をさらに、支点用ピン４５をストッパブロック４６に
当接させながら押し下げると、ばね４４の弾性力に抗し
て、ＩＣの前端面を規制していただ円カム３１の突出部
分が検査用レール４６の上面より下の位置に下がるの
で、検査用レール２６上にあるＩＣを搬出側レール２５
に排出することができる。

【００２２】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、ハンドルを片手が操作しながら、他方の手で
ＩＣを取り扱いながら、ＩＣの搬入、位置決め、排出の
操作を簡単かつ効率的に行なうことができ、しかもＩＣ
のリードを曲げることなく安全確実にＩＣの検査を実施
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による検査治具の一実施例を示す一部切
欠き正面図。

【図２】同実施例による検査治具の平面図。

【図３】同実施例による検査治具の一部切欠き側面図。

【図４】だ円カムに設けたピンとストッパを示す説明
図。

【図５】測定状態にある検査治具の作用を示す構成説明
図。

【図６】集積回路を搬入、搬出可能な状態にある検査治
具の構成説明図。

【図７】従来の検査治具を表わした図。

【符号の説明】

２０ 検査治具 ２４ 搬入側レール ２５ 搬出側レール ２６ 検査用レール（検査台） ３０ 揺動クランプ ３１ だ円カム ３２ ハンドルレバー ３４ 接触式コンダクタ ３５ 接触子 ４０ シャフト ４４ ばね ５３ ばねシャフト

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】検査対象の集積回路が検査位置に固定され
   る検査台と、 検査位置にある集積回路のリードと接触可能な位置に接
   触子が位置する接触式コンダクタと、 集積回路の両側のリードがそれぞれ前記接触子に対して
   押圧される方向に弾性体により付勢されかつ揺動自在に
   支持された一対の揺動クランプ部材と、 前記検査台の前後両端部に配設され、前記揺動クランプ
   部材を開閉可能なように摺接するだ円カムと、 前記だ円カムに連結されるハンドルとを具備したことを
   特徴とする集積回路の検査治具。
2. 【請求項２】前記検査台の上流側と下流側に搬入側レー
   ルと搬出側レールとを設け、前記搬出側レール側のだ円
   カムＩ集積回路の前端面が当接して検査位置に位置決め
   されるようにだ円カムが検査台から突出するようにだ円
   カムを弾性的にフロート支持し、さらに、搬入位置でス
   トッパに当接するピンをだ円カムの側面に設けたことを
   特徴とする請求項１に記載の集積回路の検査治具。