JPH0943316A - アナログ入力試験装置 - Google Patents
アナログ入力試験装置Info
- Publication number
- JPH0943316A JPH0943316A JP7193467A JP19346795A JPH0943316A JP H0943316 A JPH0943316 A JP H0943316A JP 7193467 A JP7193467 A JP 7193467A JP 19346795 A JP19346795 A JP 19346795A JP H0943316 A JPH0943316 A JP H0943316A
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- Japan
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- test
- terminal block
- arithmetic processing
- current
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- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【解決手段】 本発明のアナログ入力試験装置は、アナ
ログ信号入力の端子台情報を解析して空きポイントを判
定し試験処理を実行する演算処理装置４と、演算処理装
置４によって指定された試験電流または試験電圧を出力
する電流電圧発生装置６と、演算処理装置４から出力さ
れた回路選択信号によって試験回路を切り替えて選択す
る切替装置８と、切替装置８が選択した試験回路の区別
を音によって知らせる音声発報装置９と、切替装置８が
選択した試験回路に対応した試験電流または試験電圧を
端子台１０に印加する端子台接続装置７とを備えたこと
を特徴としている。 【効果】 本発明によりアナログ入力試験の信頼性を向
上させることができる。
ログ信号入力の端子台情報を解析して空きポイントを判
定し試験処理を実行する演算処理装置４と、演算処理装
置４によって指定された試験電流または試験電圧を出力
する電流電圧発生装置６と、演算処理装置４から出力さ
れた回路選択信号によって試験回路を切り替えて選択す
る切替装置８と、切替装置８が選択した試験回路の区別
を音によって知らせる音声発報装置９と、切替装置８が
選択した試験回路に対応した試験電流または試験電圧を
端子台１０に印加する端子台接続装置７とを備えたこと
を特徴としている。 【効果】 本発明によりアナログ入力試験の信頼性を向
上させることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、現場からのアナログ入
力を受ける端子台と、入力された値を変換する処理装置
を通し、表示する表示装置を有するアナログ入力試験装
置に関する。
力を受ける端子台と、入力された値を変換する処理装置
を通し、表示する表示装置を有するアナログ入力試験装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、試験員は、アナログ入力の１点、
１点に対してドライバ（ねじ回わし）を用いてねじを緩
め、発生器からのコード（接続線）を接続し、ねじをし
め、試験し、１点が終わると、また同じことを繰り返す
という方法で全点試験が行なわれている。
１点に対してドライバ（ねじ回わし）を用いてねじを緩
め、発生器からのコード（接続線）を接続し、ねじをし
め、試験し、１点が終わると、また同じことを繰り返す
という方法で全点試験が行なわれている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この方法では、アナロ
グ入力が多い時、非常に時間がかかるという問題があ
る。さらに、ねじを締めるトルクが一定でない場合、特
に緩い場合には、接触不良から適正な値が測定できない
ということがある。また、実入力のない空ポイント（場
所）に接続するという誤りも発生しやすい。
グ入力が多い時、非常に時間がかかるという問題があ
る。さらに、ねじを締めるトルクが一定でない場合、特
に緩い場合には、接触不良から適正な値が測定できない
ということがある。また、実入力のない空ポイント（場
所）に接続するという誤りも発生しやすい。
【０００４】本発明は、上記実情を鑑みてなされたもの
で、アナログ入力のループ（環状）試験において、ねじ
を緩める、締めるという作業を排し、試験時間を短縮す
るとともに、上記作業を排することにより、接触不良な
どをなくし適正な値を測定することのできるアナログ入
力試験装置を提供することを目的としている。
で、アナログ入力のループ（環状）試験において、ねじ
を緩める、締めるという作業を排し、試験時間を短縮す
るとともに、上記作業を排することにより、接触不良な
どをなくし適正な値を測定することのできるアナログ入
力試験装置を提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のアナログ入力試
験装置は、アナログ信号入力の端子台情報を読み込むデ
ータ読込装置と、データ読込装置で読み込んだアナログ
信号入力の端子台情報を表示する表示装置と、アナログ
信号入力の端子台情報を記憶する記憶装置と、アナログ
信号入力の端子台情報を解析して空きポイントを判定し
試験処理を実行する演算処理装置と、演算処理装置によ
って指定された試験電流または試験電圧を出力する電流
電圧発生装置と、演算処理装置から出力された回路選択
信号によって試験回路を切り替えて選択する切替装置
と、切替装置が選択した試験回路の区別を音によって知
らせる音声発報装置と、切替装置が選択した試験回路に
対応した試験電流または試験電圧を端子台に印加する端
子台接続装置とを備えたことを特徴としている。
験装置は、アナログ信号入力の端子台情報を読み込むデ
ータ読込装置と、データ読込装置で読み込んだアナログ
信号入力の端子台情報を表示する表示装置と、アナログ
信号入力の端子台情報を記憶する記憶装置と、アナログ
信号入力の端子台情報を解析して空きポイントを判定し
試験処理を実行する演算処理装置と、演算処理装置によ
って指定された試験電流または試験電圧を出力する電流
電圧発生装置と、演算処理装置から出力された回路選択
信号によって試験回路を切り替えて選択する切替装置
と、切替装置が選択した試験回路の区別を音によって知
らせる音声発報装置と、切替装置が選択した試験回路に
対応した試験電流または試験電圧を端子台に印加する端
子台接続装置とを備えたことを特徴としている。
【０００６】
【作用】本発明のアナログ入力試験装置においては、ア
ナログ信号入力の端子台情報を読み込み、データ読込装
置で読み込んだアナログ信号入力の端子台情報を表示
し、アナログ信号入力の端子台情報を記憶し、アナログ
信号入力の端子台情報を解析して空きポイントを判定し
試験処理を実行し、演算処理装置によって指定された試
験電流または試験電圧を出力し、演算処理装置から出力
された回路選択信号によって試験回路を切り替えて選択
し、切替装置が選択した試験回路の区別を音によって知
らせ、切替装置が選択した試験回路に対応した試験電流
または試験電圧を端子台に印加することを特徴としてい
る。
ナログ信号入力の端子台情報を読み込み、データ読込装
置で読み込んだアナログ信号入力の端子台情報を表示
し、アナログ信号入力の端子台情報を記憶し、アナログ
信号入力の端子台情報を解析して空きポイントを判定し
試験処理を実行し、演算処理装置によって指定された試
験電流または試験電圧を出力し、演算処理装置から出力
された回路選択信号によって試験回路を切り替えて選択
し、切替装置が選択した試験回路の区別を音によって知
らせ、切替装置が選択した試験回路に対応した試験電流
または試験電圧を端子台に印加することを特徴としてい
る。
【０００７】
【実施例】次に本発明のアナログ入力試験装置の一実施
例を説明する。図１において、データ読込装置１はアナ
ログ信号入力の端子台情報を読み込む装置である。表示
装置２はデータ読込装置１で読み込んだアナログ信号入
力の端子台情報を表示する装置である。記憶装置３はア
ナログ信号入力の端子台情報を記憶する装置である。演
算処理装置４はデータ読込装置１、表示装置２および記
憶装置３に接続され、アナログ信号入力の端子台情報を
解析して空きポイントを判定し試験処理を実行する装置
である。電流電圧発生装置６は演算処理装置４に接続さ
れ、演算処理装置４によって指定された試験電流または
試験電圧を出力する装置である。切替装置８は演算処理
装置４に接続され、演算処理装置４から出力された回路
選択信号によって試験回路を切り替えて選択する装置で
ある。音声発報装置９は切替装置８が選択した試験回路
の区別を音によって知らせる装置である。端子台接続装
置７は切替装置８が選択した試験回路に対応した試験電
流または試験電圧を端子台１０に印加する装置であり、
試験回路に対応した試験電流または試験電圧は演算処理
装置４に接続されたパラメータ設定入力装置５によって
調整することができる。
例を説明する。図１において、データ読込装置１はアナ
ログ信号入力の端子台情報を読み込む装置である。表示
装置２はデータ読込装置１で読み込んだアナログ信号入
力の端子台情報を表示する装置である。記憶装置３はア
ナログ信号入力の端子台情報を記憶する装置である。演
算処理装置４はデータ読込装置１、表示装置２および記
憶装置３に接続され、アナログ信号入力の端子台情報を
解析して空きポイントを判定し試験処理を実行する装置
である。電流電圧発生装置６は演算処理装置４に接続さ
れ、演算処理装置４によって指定された試験電流または
試験電圧を出力する装置である。切替装置８は演算処理
装置４に接続され、演算処理装置４から出力された回路
選択信号によって試験回路を切り替えて選択する装置で
ある。音声発報装置９は切替装置８が選択した試験回路
の区別を音によって知らせる装置である。端子台接続装
置７は切替装置８が選択した試験回路に対応した試験電
流または試験電圧を端子台１０に印加する装置であり、
試験回路に対応した試験電流または試験電圧は演算処理
装置４に接続されたパラメータ設定入力装置５によって
調整することができる。
【０００８】即ち、データ読込装置１はアナログ入力端
子台情報を読込むための手段であり、ここから読込まれ
る情報は特別に作成されたものではなく、既存の入出力
端子台リストからである。
子台情報を読込むための手段であり、ここから読込まれ
る情報は特別に作成されたものではなく、既存の入出力
端子台リストからである。
【０００９】そして、データ読込装置１から読込まれた
情報が演算処理装置４で加工され、必要な情報のみ記憶
される。パラメータ設定入力装置５は対象端子台番号、
各端子台点において何点データを測定するかなどのパラ
メータを設定するための入力手段である。電流電圧発生
装置６は電流または電圧を発生する装置であり、パラメ
ータ設定入力装置５において、各端子点において何点デ
ータを測定するか決定された値に従い、演算処理装置４
の制御を受け、電流・電圧の値をある一定の設定された
間隔で連続的に変化させる。また、電圧・電流発生装置
６は端子台接続装置７にケーブルで接続される。図２乃
至図３に端子台接続装置７の外観を示す。
情報が演算処理装置４で加工され、必要な情報のみ記憶
される。パラメータ設定入力装置５は対象端子台番号、
各端子台点において何点データを測定するかなどのパラ
メータを設定するための入力手段である。電流電圧発生
装置６は電流または電圧を発生する装置であり、パラメ
ータ設定入力装置５において、各端子点において何点デ
ータを測定するか決定された値に従い、演算処理装置４
の制御を受け、電流・電圧の値をある一定の設定された
間隔で連続的に変化させる。また、電圧・電流発生装置
６は端子台接続装置７にケーブルで接続される。図２乃
至図３に端子台接続装置７の外観を示す。
【００１０】図２は側面図であり、２１は端子接続装置
本体、２２は接続ピン、２３は固定部、２４は電流電圧
発生装置６への接続ケーブルである。また図３は平面
図、図４は正面図を示している。
本体、２２は接続ピン、２３は固定部、２４は電流電圧
発生装置６への接続ケーブルである。また図３は平面
図、図４は正面図を示している。
【００１１】次に、切替装置８は演算処理装置４と電流
電圧発生装置６の間に入る場合と、電流電圧発生装置６
と端子台接続装置７の間に入る場合がある。音声発報装
置９は音声にてポイントを認識するための手段であり、
端子台ポイントが切替わる場合、現在何ポイント目かと
いうこととそのポイントのアナログ入力名称を音声にて
発報する。
電圧発生装置６の間に入る場合と、電流電圧発生装置６
と端子台接続装置７の間に入る場合がある。音声発報装
置９は音声にてポイントを認識するための手段であり、
端子台ポイントが切替わる場合、現在何ポイント目かと
いうこととそのポイントのアナログ入力名称を音声にて
発報する。
【００１２】次に本実施例の処理の流れを図５を用いて
説明する。まず、ループ試験用データ準備作業として、
ステップ４１においてアナログ入力端子台情報を読込
み、ステップ４２において記憶装置に格納する。次にパ
ラメータ設定手段より、試験する端子台の番号と各端子
台ポイントに対して何点測定するかを設定する。ここで
設定された試験する端子台の番号に対するアナログ入力
端子台情報をステップ４３で呼び出し、ステップ４４で
該当端子台の空きポイントを検索する。また、ステップ
４５で端子台に接続する装置を試験する端子台に固定す
る。図２に示されている様に端子台接続装置は端子台の
各ポイントに対してすべてにピンが接続されているた
め、測定ポイントの切替えに際して、端子のねじを締め
る、緩めるという作業が必要ない。これはループ試験に
おいて大幅な時間短縮となる。
説明する。まず、ループ試験用データ準備作業として、
ステップ４１においてアナログ入力端子台情報を読込
み、ステップ４２において記憶装置に格納する。次にパ
ラメータ設定手段より、試験する端子台の番号と各端子
台ポイントに対して何点測定するかを設定する。ここで
設定された試験する端子台の番号に対するアナログ入力
端子台情報をステップ４３で呼び出し、ステップ４４で
該当端子台の空きポイントを検索する。また、ステップ
４５で端子台に接続する装置を試験する端子台に固定す
る。図２に示されている様に端子台接続装置は端子台の
各ポイントに対してすべてにピンが接続されているた
め、測定ポイントの切替えに際して、端子のねじを締め
る、緩めるという作業が必要ない。これはループ試験に
おいて大幅な時間短縮となる。
【００１３】上記より、ループ試験に必要なデータがそ
ろい、ステップ４６で試験を開始する。まず、ステップ
４７で試験する端子台のポイントに対するアナログ入力
名称を表示装置に表示するとともに、音声にて発報す
る。これより、今、どのポイントを試験しているかとい
う事が認識され誤りを防ぎ、効率を上げることができ
る。次にステップ４８で演算処理装置を用いて、該当ポ
イントが空きポイントかどうか判定する。空きポイント
である場合には、端子台接続ポイントを切替手段を用い
て次のポイントに切替える。空きポイントでない場合に
は、ステップ４９で電流・電圧発生装置から出力される
値を上記設定された値に従い、変化させる。ステップ５
０で測定を終了した後、ステップ５１で最終ポイントか
否かを判定し、ステップ５２において端子台接続ポイン
トを切替手段を用いて、次のポイントに切替える。上記
操作を端子台の最終ポイントまで繰り返す。別端子台を
試験する場合は、ステップ４３から操作を開始する。こ
のように本発明を適用すると、ループ試験が一定時間で
終わることがわかるので端子台が何枚あるかがわかれ
ば、試験時間がどれくらいかがわかる。
ろい、ステップ４６で試験を開始する。まず、ステップ
４７で試験する端子台のポイントに対するアナログ入力
名称を表示装置に表示するとともに、音声にて発報す
る。これより、今、どのポイントを試験しているかとい
う事が認識され誤りを防ぎ、効率を上げることができ
る。次にステップ４８で演算処理装置を用いて、該当ポ
イントが空きポイントかどうか判定する。空きポイント
である場合には、端子台接続ポイントを切替手段を用い
て次のポイントに切替える。空きポイントでない場合に
は、ステップ４９で電流・電圧発生装置から出力される
値を上記設定された値に従い、変化させる。ステップ５
０で測定を終了した後、ステップ５１で最終ポイントか
否かを判定し、ステップ５２において端子台接続ポイン
トを切替手段を用いて、次のポイントに切替える。上記
操作を端子台の最終ポイントまで繰り返す。別端子台を
試験する場合は、ステップ４３から操作を開始する。こ
のように本発明を適用すると、ループ試験が一定時間で
終わることがわかるので端子台が何枚あるかがわかれ
ば、試験時間がどれくらいかがわかる。
【００１４】更に、空ポイントを予め調べることによ
り、接続誤りを防ぐことができる。
り、接続誤りを防ぐことができる。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次のような種々の効果を奏する。端子のねじを締める緩
めるという作業を排することができ、大幅に時間を短縮
することができるとともに、接触不良による。測定不良
を防止できる。
次のような種々の効果を奏する。端子のねじを締める緩
めるという作業を排することができ、大幅に時間を短縮
することができるとともに、接触不良による。測定不良
を防止できる。
【図１】本発明の一実施例を示すアナログ入力試験装置
の構成図である。
の構成図である。
【図２】端子台接続装置の側面図である。
【図３】図２の平面図である。
【図４】図２の正面図である。
【図５】図１の処理手順を示す説明図である。
１ データ読込装置 ２ 表示装置 ３ 記憶装置 ４ 演算処理装置 ５ パラメータ設定入力装置 ６ 電流電圧発生装置 ７ 端子台接続装置 ８ 切替装置 ９ 音声発報装置 １０ 端子台
Claims (1)
- 【請求項１】 アナログ信号入力の端子台情報を読み込
むデータ読込装置と、このデータ読込装置で読み込んだ
前記アナログ信号入力の端子台情報を表示する表示装置
と、前記アナログ信号入力の端子台情報を記憶する記憶
装置と、前記アナログ信号入力の端子台情報を解析して
空きポイントを判定し試験処理を実行する演算処理装置
と、この演算処理装置によって指定された試験電流また
は試験電圧を出力する電流電圧発生装置と、前記演算処
理装置から出力された回路選択信号によって試験回路を
切り替えて選択する切替装置と、この切替装置が選択し
た前記試験回路の区別を音によって知らせる音声発報装
置と、前記切替装置が選択した前記試験回路に対応した
試験電流または試験電圧を端子台に印加する端子台接続
装置と、を具備してなるアナログ入力試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7193467A JPH0943316A (ja) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | アナログ入力試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7193467A JPH0943316A (ja) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | アナログ入力試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0943316A true JPH0943316A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16308503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7193467A Pending JPH0943316A (ja) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | アナログ入力試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0943316A (ja) |
-
1995
- 1995-07-28 JP JP7193467A patent/JPH0943316A/ja active Pending
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